DE4409869A1 - Verfahren zum Beschichten eines Werkstückes aus Kunststoffmaterial mit einer Metallschicht - Google Patents
Verfahren zum Beschichten eines Werkstückes aus Kunststoffmaterial mit einer MetallschichtInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Beschichten
eines Werkstückes aus Kunststoffmaterial mit einer metalli
schen Schicht, wobei die Beschichtung auf das Werkstück aus
Kunststoffmaterial mit Hilfe des bekannten Kathodenzerstäu
bungsverfahrens in einer Vakuumkammer aufgebracht wird.
Diese Art von Beschichtungen findet insbesondere Anwendung
bei der Herstellung optischer Datenspeicherscheiben. Um In
formation auf solche Scheiben aufzubringen werden bei
spielsweise magneto-optische- oder phasenändernde Speicher
verfahren verwendet, wo die Information in der Beschichtungs
schicht selbst gespeichert wird, oder bei anderen optischen
Speicherverfahren wird die Information in den Scheibenkörper,
welcher unter der Beschichtung liegt, durch Spritzgußtechnik
eingeformt, und dann der Scheibenkörper mit einer hochreflek
tierenden Beschichtung beschichtet, so daß ein Laserstrahl
die Information entsprechend abtasten kann.
Aus Kostengründen wird der Scheibenkörper heutzutage aus
Kunststoffmaterial gefertigt. Die Beschichtung eines solchen
Kunststoffmaterials muß jedoch in einer Weise erfolgen, daß
die Beschichtung mit ausreichend großer Haftungskraft am
Scheibenkörper hält und so daß das Beschichtungsverfahren den
Scheibenkörper nicht beschädigt, insbesondere wenn Informa
tion auf diesem selbst vorhanden ist. In Hinsicht auf diese
Erfordernisse sind Kunststoffmaterialien besonders schwer zu
beschichten. Solche Kunststoffmaterialien wie beispielsweise
PMMA (Polymethylmetalcrylate) werden heute üblicherweise für
die Herstellung von beispielsweise Laservideoscheiben (LD)
verwendet.
Es sind bereits verschiedene Behandlungsverfahren zum Erhöhen
der Stabilität gegen Umwelteinflüsse und der Haftung von zer
stäubung-aufgetragenen Schichten auf solche Kunststoffkörper
bekannt. Die Stabilität gegen Umwelteinflüsse wird im allge
meinen dadurch getestet, daß das beschichtete Stück erhöhten
Temperatur- und Feuchtigkeitsbedingungen ausgesetzt wird, wie
unten erläutert wird.
Die Behandlung der Oberfläche von Kunststoffmaterial mit
Hilfe eines Plasmas ist beispielsweise aus dem Vortrag vom G.
Legeay, "Surface Modification of natural or synthetic poly
mers by cold Plasmas" bekannt, der auf der zweiten Conf.
Plasma Chem. Tech. 1984 gehalten wurde. Dabei wird die Ober
fläche eines Kunststoffmaterialkörpers durch Plasmabehandlung
in einer solchen Weise modifiziert, daß eine anschließend ab
gelagerte Schicht besser haftet. Die zur Plasmaerzeugung ver
wendeten Gase sind beispielsweise Gase, welche Sauerstoff,
Helium und Kohlenstoff enthalten. Die Verwendung von Helium-
oder Sauerstoffplasmaentladungen zur Behandlung einer Kunst
stoffoberfläche ist ebenso aus der technischen Schrift von J.
Hall aus J. Appl. Polym. Sci. Vol. 13, 1969 bekannt. Die Auf
gabe der Plasmabehandlung ist es dabei, eine verbesserte
Hafthalteeigenschaft an Kunststoffmaterialien zu erzielen.
Ein weiterer technischer Artikel von J. Hollahan aus J. Appl.
Polym. Sci. Vol. 13, 1969, offenbart eine Kunststoffmate
rialoberfläche einer Plasmabehandlung mit Gas auszusetzen,
welches Ammoniak, Stickstoff und Wasserstoff enthält, um die
Oberflächenhaftungseigenschaft und die Benetzbarkeit zu ver
bessern. Dafür wird eine Hochfrequenz-Plasmaentladung verwen
det.
Die US-A 4 957 603 beschreibt ein Beschichtungsverfahren für
optische Speicherscheiben aus PMMA. Es wird darin erwähnt,
daß PMMA (Polymethylmetalcrylat) Kunststoffmaterialien beson
ders schwierig durch Kathodenzerstäubung beschichtbar sind.
Dabei wird festgestellt, daß Kathodenzerstäubung für die au
tomatische Massenproduktion vorteilhafter wäre, als Bedamp
fung, aber daß die Probleme mit der Stabilität gegen Um
welteinflüsse und der Haftung an zerstäubungs-beschichteten
Substratkörpers die Verwendung der Kathodenzerstäubung prak
tisch verunmöglicht.
Der Autor des genannten Patentes hat eine beträchtliche Ver
besserung der Haftung einer zerstäubungs-beschichteten Me
tallschicht auf PMMA festgestellt, wenn ein Polymer dazwi
schen vorgesehen wird, welches offenbar die Haftungsverluste
zwischen einer zerstäubungs-abgelegten Metallschicht und dem
PMMA Substrat vermindert. Es wird vorgeschlagen, daß vor dem
Zerstäubungs-Ablegern der Metallschicht die zu beschichtende
Oberfläche in einer Gasatmosphäre vorbehandelt wird, welche
eine Gasmischung mit Argon und kohlenstoffhaltigem Gas um
fast.
Obwohl dieser Autor in einer Ausführungsform vorgeschlagen
hat, die Zerstäubung von Nickel selbst unter Verwendung eines
Methan-Argon-Zerstäubungs-Gasgemisches auszuführen, so daß
die vorteilhafte Oberflächenmodifikation und die Zerstäu
bungs-Beschichtung gleichzeitig stattfinden, geht aus der zi
tierten Druckschrift nur hervor, daß wegen der sehr niedrigen
Beschichtungsrate des für diese Arbeit verwendeten Systems,
die Vorbehandlung der Substratoberfläche in einer Vorbehand
lungs-Gasmischatmosphäre noch bevor die metallische
Zerstäubungs-Beschichtung stattfindet, wichtig ist.
Dies steht in vollständiger Übereinstimmung mit dem Mechanis
mus, der nach der Vorstellung dieses Autors stattfindet, ge
mäß welchem vermutet wird, daß der Kohlstoffüberschuß, wäh
rend des Aussetzens des Körpermaterials einem Hochenergie
plasma, die Polymeroberfläche in einer solchen Weise verän
dert, daß die Anhaftung des nachfolgend zerstäubungs-abgela
gerten Metallfilms verbessert wird.
Die beschriebene Technik hat den einzigen, aber ernsthaften
Nachteil, daß er als wesentliches in der Praxis einen vorbe
reitenden Verfahrensschritt erfordert, um die Substratober
fläche so vorzubehandeln, daß eine maximale Metallbeschich
tungsrate nicht gleich zu Beginn des Prozesses einsetzen
kann, aufgrund der Begrenztheit der Systemgeschwindigkeit.
Die kleine Beschichtungsrate erlaubt es, daß das Kunststoff
substrat dem Mischgas-Plasma für eine Zeitdauer ausgesetzt
wird, die damit eigentlich einen Vorbehandlungsschritt dar
stellt. Dies verlängert die Gesamtverarbeitungszeit solcher
Werkstücke.
Es sind außerdem Mehrschritt-Magnetron-Zerstäubungs-Be
schichtungsverfahren für PMMA-Körper mit einer metallischen
Schicht mit anderen Gasmischungen bekannt. So ist beispiels
weise aus der deutschen Offenlegungsschrift OS 40 04 116 be
kannt, zuerst die Metallbeschichtung durch Kurzzeitzerstäu
bung in einer Argon-Atmosphäre durchzuführen, und dann in ei
ner Gasatmosphäre von Argon und Helium fortzusetzen und
schließlich den Beschichtungsprozeß in einer reinen Argon-At
mosphäre abzuschließen.
In der europäischen Patentanmeldung EP 0 422 323 wird ein
PMMA-Substrat durch Magnetron-Zerstäubung beschichtet mit ei
ner Aluminiumschicht in einer Gasatmosphäre, welche Helium
enthält.
Die zusammengefaßten Nachteile der bekannten Techniken sind:
- - Eine Vorbehandlungsphase mindestens bei verminderter Zer stäubungsrate des Metalls in einer Argon/Methan-Atmo sphäre zum Vorbereiten der Oberfläche des Kunststoffmate rialsubstrates oder -körpers vor der Metallbeschichtung bei voller Zerstäubungsrate verlängert die Gesamtverar beitungszeit;
- - längere Bearbeitungszeit bei Magnetron-Zerstäubungs beschichtung solcher Kunststoffmaterialoberflächen in einer heliumhaltigen Atmosphäre, weil Helium die Ausbeute des zerstäubten Materials vermindert. Außerdem zeigen solche Beschichtungen eine relativ niedrige Stabilität gegen Umwelteinflüsse.
Aus J. Vac. Sci. Technal. A, Vol. 10, N04, Jul/Aug 1992, S.
Schulz et al "Thin-film development and methods for compact
disk and laser disk manufacturing" ist eine Zykluszeit von
dreizehn Sekunden für das Zerstäubungsbeschichten von PMMA-
LDs bekannt.
Es ist Aufgabe der Erfindung, die Metallbeschichtung von
Kunststoffmaterial in einer Vakuumkammer mit Hilfe von
Kathodenzerstäubung wirtschaftlicher zu gestalten, und dabei
eine gute Haftung der Schichten und eine gute Stabilität
dieser Schichten gegen Umwelteinflüsse zu erreichen.
Eine spezielle Anwendung ist die Metallisierung von Laser
Disks, insbesondere von PMMA Laser Disks.
Dies wird durch ein Verfahren nach dem Wortlaut von Anspruch
1 erreicht.
Unter magnetfeldunterstützter Zerstäubung sind alle Arten von
RF, DC, DC-AC-Zerstäubung zu verstehen, bei denen Magnet
felder mit tunnelförmigem Muster des Magnetfeldflusses auf
und nahe der zu beschichtenden Oberfläche eingesetzt werden
und/oder ein Flußmuster zwischen der genannten Oberfläche und
anderen Teilen der Zerstäubungsanordnung gebildet wird.
Obwohl es erfindungsgemäß möglich ist, jede
magnetfeldunterstützte Zerstäubungstechnik zu verwenden und
dabei ein Material zu zerstäuben, welches eine predominate
Komponente der Metallschicht bildet, ist die beste
Ausführungsform, welche den Erfindern heute bekannt ist, die
Magnetran-Zerstäubung und/oder die Zerstäubung eines Metalls
oder einer Metallegierung.
Es wurde von den Erfindern erkannt, daß vor allem die Gesamt
verarbeitungszeit durch magnetfeldunterstütztes Zerstäuben des
Materials direkt in einem kohlenstoffhaltigen Gasplasma ver
kürzt wird.
Im Ergebnis wird die Stabilität gegen Umwelteinflüsse und die
Verarbeitungszeit der Beschichtung in Bezug auf solche
Schichten verbessert, welche gleich, aber in einem Helium
enthaltenden Gasplasma aufgetragen werden. In Hinsicht auf
die Tatsache, daß die US-A 4 957 603 eine Vorbehandlung der
Kunststoffmaterialoberfläche lehrt, bevor die Metallschicht
abgelagert wird und im Lichte der darin gegebenen Erklärun
gen, sind die erfindungsgemäßen Ergebnisse, die ohne Vorbe
handlung erzielt werden, erstaunlich.
In einer vorteilhaften Ausführungsform wird bei dem erfin
dungsgemäßen Verfahren die Plasmaentladung der Zerstäubung
mit einem Argon/Methangasgemisch betrieben.
Gemäß der Aufgabe der Erfindung, das Beschichtungsverfahren
zu verkürzen und wirtschaftlich zu vereinfachen, wird weiter
hin vorgeschlagen, das Gasmischungsverhältnis während der Be
schichtung im wesentlichen konstant zu halten, so daß keine
Mischungsverhältnisverstellung und keine entsprechende Steue
rung während des Beschichtungsvorganges vorgenommen werden
muß.
Zusätzlich oder alternativ zum Beibehalten eines konstanten
Gasmischungsverhältnisses kann die zuletzt erwähnte Aufgabe
durch Beibehaltung des Druckes in der Vakuumkammer auf einem
im wesentlichen konstanten Wert während des Beschichtungsvor
ganges gelöst werden, was per se oder zusätzlich zum Beibe
halten des genannten im wesentlichen konstanten Verhältnis
ses, die Gesamtprozeßführung wesentlich vereinfacht.
In einer weitern vorteilhaften Ausführungsform der Erfindung
wird das Verfahren mit einem kohlenstoffhaltigen Gas durchge
führt, welches 3-10% Methan (beide Grenzen eingeschlossen)
enthält, wodurch die Stabilität gegen Umwelteinflüsse, die
Haftung und die Prozeßdauer optimiert werden.
Zusätzlich oder alternativ zum Beibehalten des Gasmischungs
verhältnisses und/oder des Druckes in der Gaskammer auf einen
im wesentlichen konstanten Wert, wird vorgeschlagen, die
elektrische Leistung der Zerstäubervorrichtung während des
Beschichtungsvorganges im wesentlichen konstant zu halten.
Es ist eine wichtige weitere Aufgabe der Erfindung, das
Verfahren an einem PMMA-Kunststoffmaterial durchzuführen.
Dies gilt insbesondere für ein PMMA-Materialwerkstück,
welches als optische Speicherplatte strukturiert ist.
Es wird dabei außerdem vorgeschlagen, ein hochreflektierendes
Metall, vorzugsweise Aluminium oder eine Aluminiumlegierung,
auf dem optischen Speicherscheiben-Werkstück aus PMMA zer
stäubungsaufzutragen.
Es ist weiter ein wichtiger Vorteil der Erfindung, daß die
Wirtschaftlichkeit des Bearbeitungsvorganges zum metallischen
Beschichten eines optischen Speicherscheibenkörpers aus PMMA
mit einem hochreflektierenden Metall z. B. mit einer Metall
schicht aus vorzugsweise Aluminium oder einer Aluminumlegie
rung, durch eine Zykluszeit von weniger als 10 Sekunden, vor
zugsweise zwischen 5 bis 6 Sekunden, verbessert werden kann.
Die erwähnte Verkürzung der Prozeßzeit beträgt mehr als 30%
gegenüber bekannten Zykluszeiten und führt dennoch zu be
schichteten PMMA optischen Scheiben, welche die Normen IEC
856 und 857 erfüllen.
(IEC 856, S. 15, 5.1 bis 5.3; p 17, 6 / IEC 857, S. 15, 5.1
bis 5.3; p. 17, 6)
Solche kurzen Prozeßzeiten erhöhen den Produktionsausstoß we
sentlich und wirken daher kostenvermindernd.
Es ist eine weitere Aufgabe der Erfindung, eine optische
Speicherscheibe mit Aluminium oder einer Aluminiumlegierung
beschichteten PMMA′s zur Verfügung zu stellen, wobei die
metallische Beschichtung in einer Gasatmosphäre mit einem
Gasgemisch durch Zerstäubung abgelegt wurde, welches Gemisch
Argon und ein kohlenstoffhaltiges Gas enthält. Eine solche
optische Speicherscheibe weist eine hervorragende
Beschichtungsstabilität bezüglich des PMMA-Kunststoffkörpers
der Scheibe auf und ist sehr kostengünstig herstellbar, einem
der die Kosten solcher Scheiben bestimmenden Parameter.
Als eine bevorzugte Ausführungsform der Erfindung wird eine
optische Speicherscheibe vorgeschlagen, welche durch Aufbrin
gen einer Aluminium- oder Aluminiumlegierungs-Beschichtung in
weniger als 10 Sekunden, vorzugsweise in 5 bis 6 Sekunden,
hergestellt ist und trotzdem der IEC 867 und 857 Norm genügt.
Aufgrund der kurzen Dauer des Beschichtungsvorganges sind
solche Scheiben besonders wirtschaftlich herstellbar wobei
der höhere Produktionsausstoß eine Senkung der Herstellungs
kosten erlaubt.
Eine weitere Aufgabe der Erfindung ist es eine Vorrichtung
zum wirtschaftlichen Hochrate/Beschichten mindestens eines
Werkstückes aufs mal vorzuschlagen, das aus Kunststoffmate
rial besteht, mit einer metallischen Schicht z. B. einer Me
tallschicht, welche ausgezeichnet haftet und gegen Umweltein
flüsse stabil ist. Eine solche Vorrichtung umfaßt eine Vakuum
kammer mit mindestens einer magnetfeldunterstützten Zerstäu
bungsquelle aus einer prädominanten Komponente der Schicht,
wobei die Vakuumkammer mit einer steuerbaren Gaszufuhrein
richtung mit einem Gasgemischtank versehen ist, welcher Argon
und kohlenstoffhaltiges Gas enthält, oder mit mindestens zwei
Tanks versehen ist, welche jeweils Argon und kohlenstoffhal
tiges Gas enthalten und wobei diese Vorrichtung weiter eine
Evakuierungspumpeneinheit, Einrichtungen zum Zuführen von
mindestens einem Werkstück in diese Kammer und Einrichtungen
zum Entfernen von mindestens einem Werkstück aus dieser Kam
mer umfaßt.
Durch Vorsehen einer magnetfeldunterstützten Zerstäubungs
quelle wie beispielsweise und vorzugsweise eine Magnetron-
Zerstäubungsquelle für besagte Komponente, wird die Beschich
tungseffizienz wesentlich erhöht, wobei das Vorsehen der
Gastanks die Verwirklichung einer Zerstäubungsplasma-Atmo
sphäre erlaubt, welche eine verbesserte Schichthaftung und
Stabilität gegen Umwelteinflüsse unter Vermeidung einer zeit
aufwendigen Vorbehandlung der Oberfläche der Kunst
stoffmaterialkorpus vor der Schichtablagerung bei voller Zer
stäuberrate erlaubt.
Als eine vorteilhafte Ausführungsform der vorliegenden
Erfindung wird vorgeschlagen den Gasgemischtank oder einen
der mindestens zwei Tanks mit Methan als kohlenstoffhaltige
Gaskomponente vorzusehen, um die Zerstäubungsbeschichtungs-
Plasma-Gasatmosphäre zu verwirklichen.
Eine weitere vorteilhaften Ausführungsfarm der erfindungsge
mäßen Vorrichtung umfaßt separat einen Tank mit Argon und
einen Tank mit Methan, wobei diese Vorrichtung mit einer
steuerbaren Mischeinrichtung versehen ist, womit der Vakuum
kammer eine Gasmischung aus den zwei Tanks zugeführt wird. Es
wurde festgestellt, daß eine Gasmischung zum Zerstäuben der
besagten Komponente mit 3 bis 10% Methan, vorzugsweise mit um
5% Methan, zu einer verbesserten Prozeßzeit, sowie einer ver
besserten Haftung und Stabilität gegen Umwelteinflüsse führt.
Es wird weiter vorgeschlagen, um an der Vorrichtung eine hohe
Ausstoßrate an Werkstücken zu realisieren, diese mit einer
Zeitgebereinheit zu versehen, und die Einrichtung zum Zufüh
ren und zum Entfernen des Werkstückes in einer Zeitspanne
zwischen dem Einführen und Entfernen in und aus der Vakuum
kammer von weniger als 10 Sekunden anzusteuern.
Ausführungsbeispiele der Erfindung werden nun anhand von
Zeichnungen beschrieben. Es zeigen:
Fig. 1 einen schematischer Querschnitt einer Vorrichtung ge
mäß der Erfindung zum Ausführen des erfindungsgemäßen
Beschichtungsverfahrens, insbesondere zur Herstellung
von optischen Speicherscheiben gemäß der vorliegenden
Erfindung; und
Fig. 2 einen schematischen Querschnitt einer bevorzugten er
findungsgemäßen Vorrichtung in einer zweiten Ausfüh
rungsform.
Fig. 1 zeigt im Querschnitt eine sehr einfache Konfiguration
einer erfindungsgemäßen Vorrichtung, in welcher das
erfindungsgemäße Verfahren realisiert wird, insbesondere zum
Erzeugen
von optischen Speicherscheiben aus PMMA-Material gemäß einer
Ausführungsform der Erfindung.
Die Vorrichtung umfaßt eine Vakuumkammer 2, an welcher eine
magnetfeldunterstützte Zerstäubungsquelle, z. B. eine
Planarmagnetronquelle 1 vakuumdicht angeordnet ist. Die
Vakuumkammer 2 umfalt weiter gegenüber dem Target 2a der
Planarmagnetronquelle 1, eine Zugriffsöffnung 7, durch welche
ein einzelnes Kunststoffmaterial-Werkstück 4 in die oder aus
der Vakuumkammer 2 eingeführt bzw. entfernt wird.
Um das Werkstück 4 aus Kunststoffmaterial zu handhaben, ist
eine angetriebene Hebeeinrichtung 3 vorgesehen. Zum Einführen
des Werkstücks 4 in die Vakuumkammer 2 wird die Hebeeinrich
tung 3 in Richtung "cl" hochgeführt, womit auch ein vakuum
dichter Verschluß die Öffnung 7 erreicht wird.
Eine Pumpeneinheit 5 ist über ein Steuerventil 6 mit dem In
neren der Kammer 2 verbunden. Eine Gaseinlaßanordnung 8, die
mit dem Inneren der Kammer 2 in Verbindung steht, ist mit
einem ersten Gastank 10 und einem zweiten Gastank 12 über
jeweilige Steuerventile V10 und V12 verbunden.
Die Hebeeinrichtung 3 wird durch eine Antriebseinrichtung 14
- beispielsweise einen pneumatischen Antriebszylinder -
angetrieben, welche durch eine steuerbare Zeitgebereinheit 16
zeitgesteuert wird.
Die Gastanks 10 und 12 enthalten Gase, die ermöglichen eine
Gasmischung aus Argon und kohlenstoffhaltigem Gas in das
Innere der Vakuumkammer einzuführen, wobei die Vakuumkammer
aus der Kammer 2, Magnetron-Zerstäuberquelle 1 und
Schließeinrichtung 3 gebildet wird. Diese Gasmischung wird
vorzugsweise in einem gewählten Verhältnis durch die Ventile
V10 und V12 aus den jeweiligen getrennten Tanks 10 und 12 für
Argon und das besagte Kohlenstoff enthaltende Gas gemischt.
Es ist jedoch möglich, nur einen Gastank vorzusehen, welcher
die Mischung aus Argon und dem kohlenstoffenthaltenden Gas
bereits enthält, und wobei der Masse-Fluß 2b der Gasmischung
pro Zeiteinheit, welcher in die Vakuumkammer geführt wird,
mit Hilfe eines einzigen Steuerventils (nicht gezeigt)
bemessen wird.
Die bevorzugte Betriebsart dieser Vorrichtung gemäß Fig. 1
zum Herstellen optischer Speicherscheiben, welche ein PMMA-
Substrat bzw. -Scheibenkörper als Werkstück 4 umfassen und mit
einer Metallschicht, vorzugsweise aus Aluminium oder einer
Aluminiumlegierung beschichtet sind, wird nun beschrieben.
Das Target 2a der Planarmagnetron-Zerstäuberquelle 1 besteht
aus dem Metall, welches auf dem PMMA-Substrat 4 abgelagert
werden soll, wobei Aluminium oder eine Aluminiumlegierung ein
bevorzugtes Material darstellt. Zuerst wird die Hebeeinrich
tung 3 in Richtung "op" gemäß Fig. 1 abgesenkt und das PMMA-
Substrat 4 wird, vorzugsweise durch eine Robotereinrichtung,
an der Hebeeinrichtung 3 abgelegt.
Wegen der Anforderungen bzgl. der Reinheit der Atmosphäre in
der Vakuumkammer 2 wird die Hebeeinrichtung 3 nicht in die
umgebende Atmosphäre angehoben, sondern öffnet die Öffnung 7
der Behandlungsvakuumkammer 2 in eine weitere Vakuumkammer,
welche schematisch in Teilen ihrer Wand 2c in Fig. 1 gezeigt
ist. Die Hebeeinrichtung 3 kann Teil einer Handhabungs- und
Verteileinrichtung in der Vorkammer 2c bilden, durch welche
mehr als eine Behandlungskammer 2 mit zu beschichtenden
Substraten 4 bedient wird. Solche Behandlungskammern in Ver
bindung mit der Vorkammer 2c können noch andere Behand
lungskammern umfassen, wie beispielsweise eine Heizkammer
oder die Vorkammer 2c kann selber zum Entgasen des Substrates
ausgebildet sein. Die Evakuierung der Vorkammer, welche durch
die Wände 2c gebildet ist, kann durch dieselbe Evakuierungs
pumpe 5 wie die Kammer 2 oder durch eine eigens dafür
vorgesehene Evakuierungsvorrichtung durchgeführt werden. Zu
sätzlich kann die Gaseinlaßanordnung 8 verwendet werden, um
die Kammer 2 zu spülen, sobald die Hebeeinrichtung 3 von
ihrem Sitz an Öffnung 7 rückgeholt ist, um so zu verhindern,
daß die Atmosphäre in der Vorkammer 2c die Behandlungsatmo
sphäre in Kammer 2 beeinflußt.
In einem zweiten Schritt wird die Einrichtung 3 in Richtung
"cl" unter der Steuerung der Zeitgebereinheit 16 geschlossen
und durch die Antriebseinrichtung 14 angetrieben, welche Teil
einer Handhabungseinrichtung in der Vorkammer sein kann, wie
beispielsweise ein Antrieb für eine bestimmte Hebeeinrichtung
3 eines Hebeeinrichtungs-Sternes, der gesteuert in der
Vorkammer dreht, um zwei oder mehrere Öffnungen durch einen
oder durch mehrere Hebearme zu bedienen. Das Vorsehen einer
drehbaren Sternanordnung 3b mit einer Dreiarmhebeeinrichtung
ist schematisch in Fig. 1 gestrichelt gezeigt. Nach dem
Verschließen des Inneren der Kammer 2 durch die
Aufwärtsbewegung der Hebeeinrichtung 3, welche mit einem zu
beschichtenden Substrat 4 geladen wurde, wird die
Vakuumpumpeneinrichtung 5 betätigt, wodurch das Innere 2b der
Vakuumkammer 2 auf das Betriebsdruckniveau von einigen Mikro
bars abgepumpt wird.
Nach Erreichen des gewünschten Drucks wird Argon und Kohlen
stoff enthaltendes Gas aus den Tanks 10 und 12 gesteuert
durch die Ventile V10 und V12 eingeleitet. Wenn eine vorbe
stimmte Gasmischung mit einem vorbestimmten Partialdruck
und/oder ein vorbestimmter Betriebsdruck in der Kammer 2 er
reicht ist, wird die elektrische Speisung für die Magnetron
quelle 1 aktiviert und das Material des Targets 2a, nämlich
Aluminium oder eine Aluminiumlegierung magnetranzerstäubt.
Das im Gasgemischplasma, wobei das Gasmischungsverhältnis von
Argon und kohlenstoffenthaltenden Gas, vorzugsweise Methan,
vorzugsweise konstant gehalten wird.
Nachdem das Substrat 4 aus PMMA-Material mit Aluminium oder
einer Aluminiumlegierungsschicht oberflächenbeschichtet ist,
kann die Evakuierungspumpe 5 gegebenenfalls abgeschaltet
werden, wobei der Druck in der Vakuumkammer 2 beispielsweise
auf Betätigung eines Lüftungsventils (nicht gezeigt) hin
ansteigt. Danach wird die Einrichtung 3 in Richtung "op" in
die Vorkammer unter der Steuerung der Zeitgebereinheit 16
abgesenkt.
Das Verhältnis von Argon und vorzugsweise Methan kann über
einen weiten Bereich gewählt werden. Jedoch wurden sehr gute
Ergebnisse mit einem Gasmischungsverhältnis von 3 bis 20
Vol.-% (beide Grenzen eingeschlossen) Methan in Argon
erreicht, vorzugsweise von 3 bis 10 Vol.-% (beide Grenzen
eingeschlossen) und noch mehr bevorzugt von ungefähr 5 Vol.-%
Methan in Argon. Die Zeitgebereinheit 16, die zur Steuerung
des Schließens und Öffnens der Einrichtungen 3 einstellbar
ist, wird vorzugsweise für eine Zeitdauer zwischen dichtendem
Schließen der Hebeeinrichtung 3 und Öffnen dieser Einrichtung
zum Entfernen des nun beschichteten Werkstücks 4, von weniger
als 10 Sekunden, vorzugsweise von 5 bis 6 Sekunden
eingestellt. Optische Speicherscheiben aus PMMA mit
Aluminium- oder einer Aluminiumlegierungs-Beschichtung,
welche mit der oben beschriebenen Vorrichtung von Fig. 1 oder
mit der Vorrichtung von Fig. 2, die später beschrieben wird,
hergestellt wurden, erfüllen im vollen Umfang den IEC 856 und
857 Standard für bespielte optische Reflektionsvideoscheiben.
Eine Vorrichtung gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der
Erfindung nach Fig. 2, die das erfindungsgemäße Verfahren zum
Herstellen insbesondere von optischen Speicherscheiben
ausführt, ist im wesentlichen wie die Vorrichtung von Fig. 1
aufgebaut, umfaßt nämlich ein Planarmagnetron 1, eine
Vakuumkammer 2, und ein Metalltarget 2a, vorzugsweise aus
Aluminium oder einer Aluminiumlegierung zum Herstellen der
erfindungsgemäßen PMMA optischen Speicherplatte auf dem PMMA
Substrat 4.
Das Innere der Vakuumkammer 2 ist wieder mit der
Evakuierungspumpe 5 über ein Steuerventil verbunden. Die
Gasmischung wird weiter über einen Einlaß 8 zugeführt, sowie
durch Steuerventile V10 und V12 von jeweiligen Tanks 10 und
12, die in Fig. 1 zu sehen sind, nicht aber in Fig. 2, oder
von einem einzigen Gasmischungstank, über ein
Bemessungssteuerventil.
Die Vorrichtung von Fig. 2 umfaßt eine Schleusenvorkammer 18,
zum Laden von unbeschichteten PMMA-Substraten 4 in die Kammer
2 und zum Entladen von beschichteten PMMA-Substraten 4 aus
dieser Kammer. Die Schleusenvorkammer 18 umfaßt
Schleusenventile 20 und 22 und ist mit einer
Schleusenpumpeinheit 24, über ein Steuerventil 26, verbunden.
Sie ist mit einem zusätzlichen Gaseinlaß 28 versehen, welcher
durch ein weiteres Steuerventil 30 gesteuert wird, welches
als Lüftungsventil zum Fluten der Kammer 18 vor dem Öffnen
des Ventils 20 dient.
Gemäß Fig. 2 geht das Beladen, Überführen und Entfernen des
Werkstücks horizontal vor sich, doch kann es ebenso mit einer
Vertikalkomponente oder ganz vertikal durchgeführt werden.
Diese Bewegung kann linear, bogen- oder kreisförmig sein. In
der Kammer 2 werden die Werkstücke, welche durch die
Schleusenvorkammer 18 eingeführt werden, auf einen Träger 32
abgelegt.
Der Betrieb der Vorrichtung von Fig. 2 woran, wie für den
Fachmann offensichtlich, eine Zeitgebereinheit in Analogie
zur Einheit 16 von Fig. 1 vorgesehen ist, die das Zuführen
der Werkstücke durch die Schleusenkammer 18 in die Kammer 2
und das Entfernen des Werkstückes 4 aus der Kammer 2 steuert,
wird mit Hilfe von Robotertransporteinrichtungen durchge
führt, wodurch der Transport der Werkstücke in und aus der
Kammer 2 (nicht in Fig. 2 gezeigt) erfolgt. Solche Roboter
transporteinrichtungen sind aus dem Stand der Technik wohlbe
kannt.
Die Verarbeitung erfolgt in Analogie zur Verarbeitung, welche
in Verbindung mit Fig. 1 erklärt wurde. Auch hier ist die
wichtige Zykluszeit T zum Beschichten der PMMA-Substrate 4,
welche in Hinsicht auf die Wirtschaftlichkeit des
Produktionsausstoßes wichtig ist, unter 10 Sekunden gehalten
und liegt vorzugsweise zwischen 5 und 6 Sekunden, wobei hier
T definiert ist als die Zeit vom Eintreten in Ventil 20 bis
zum Verlassen des Ventils 20, erst durch eine unbeschichtete,
dann durch die beschichtete Scheibe.
Eine bevorzugte Ausführungsform der Schleusenkammer 18,
selbst nun wie schematisch in Fig. 2 gezeigt, ist in US Pa
tent Nr. 5,017,073 von Balzers AG beschrieben, und durch Be
zugnahme auf diese US-PS in die die Offenbarung der vorlie
genden Beschreibung integriert.
Eine weitere bevorzugte Vorrichtung, welche erfindungsgemäß
verwendet wird, ist in der deutschen Offenlegungsschrift Nr.
41 17 969 A1 offenbart, die der US-Anmeldung Nr. 07/888 111
vom 26. Mai 1992, beide von Balzers AG, zugrunde liegt.
In der folgenden Tabelle sind die Charakteristiken der PMMA-
basierenden optischen Speicherscheiben gemäß der Erfindung im
Vergleich mit PMMA basierenden optischen Speicherscheiben,
gemäß dem Stand der Technik hergestellt, aufgeführt.
Das erfinderische Verfahren erlaubt die Metallisierung von
Laserscheiben in der Weise, daß die Normen IEC 856 und IEC
857 erfüllt sind mit einer Vorrichtung nach Fig. 2 oder mit
einer Schleusenanordnung gemäß dem US-Patent 5 017 073, wie
es oben erwähnt wurde oder wie schematisch in den Fig. 1 und
2 gezeigt ist, wobei weniger als 10 Sekunden vom Laden einer
unbeschichteten Scheibe in die Vorrichtung bis zum Verlassen
der Vorrichtung durch die nun beschichteten Scheibe vergehen.
Das Endprodukt zeigt zudem eine überragende Stabilität gegen
Umwelteinflüsse, was von großer Bedeutung ist. Dies soll
anhand von Tabelle 1 gezeigt werden, anhand von Ergebnissen
eines Vergleichs von Testwerten eines beschleunigten
Umgebungstests für Proben von beschichteten Scheiben A bis C,
welche vom Markt bezogen wurden. Die Proben D und E wurden
durch Batch-Bedampfen unter Verwendung verschiedener PMMA-
Sorten erstellt, Probe F nach dem erfindungsgemäßen Verfahren
mit einer Vorrichtung gemäß Fig. 2 auf Scheiben aus dem
selben PNMA-Material wie die Scheiben der Probe E.
In Zeile Δ SNR ist die Signal-Verminderung zu Rausch-
Verhältnis der getesteten Scheiben zusammengestellt nach
Ausführung des Umgebungstests, mit Bezug auf den Wert, welcher
vor dem Umgebungstest erhalten wurde. In Zeile Δ pp ist die
Reduktion des Laserfolgesignals (laser tracking signal)
dargestellt, wiederum nach dem Umgebungstest mit Bezug zu
diesem Wert vor dem Umgebungstest.
In der Zeile Δ BLER ist die Zunahme der Blockfehlerratenstö
rung (black-error rate deterioratian) aufgelistet in Bezug zu
dem Wert, der vor der Ausführung des Umgebungstests erzielt
wurde. Alle Messungen wurden mit mindestens zwei der
jeweiligen Scheiben und mit höchstens vier der jeweiligen
Scheiben mit Mittelwertsbildung durchgeführt.
Das SNR ist definiert:
IEC 856, S. 29, 12.2.2
IEC 857, S. 31, 12.2.2
IEC 856, S. 29, 12.2.2
IEC 857, S. 31, 12.2.2
Der pp (push-pull tracking) ist definiert:
IEC 856 Änderungen, S. 3, 12.1.4 bis 12.1.4.5.2
IEC 857 Änderungen, S. 3, 12.1.4 bis 12.1.4.5.2.
IEC 856 Änderungen, S. 3, 12.1.4 bis 12.1.4.5.2
IEC 857 Änderungen, S. 3, 12.1.4 bis 12.1.4.5.2.
Der BLER ist definiert:
IEC 856 Änderungen item 1, S. 2, 2.6 bis 2.6.3
IEC 857 Änderungen item 2, S. 2, 2.6 bis 2.6.3.
IEC 856 Änderungen item 1, S. 2, 2.6 bis 2.6.3
IEC 857 Änderungen item 2, S. 2, 2.6 bis 2.6.3.
Der folgende beschleunigte Umgebungstest wurde verwendet:
Die Scheiben wurden getestet um das Vor-Umgebungstest-
Verhalten zu bestimmen und dabei das Videosignal zu
Rauschverhältnis, die Digital-Audio-Block-Fehlerrate und das
Push-Pull-Tracking A-B-Signal für jede Scheibe vor dem
Umgebungstest aufgenommen.
Die Scheiben wurden dann in eine Umgebungstestkammer einge
führt und den folgenden Bedingungen ausgesetzt:
18 Stunden bei 70°C und 60% relative Feuchtigkeit;
8 Stunden bei Raumtemperatur und -feuchtigkeit;
228 Stunden bei 60°C und 90% rel. Feuchtigkeit.
18 Stunden bei 70°C und 60% relative Feuchtigkeit;
8 Stunden bei Raumtemperatur und -feuchtigkeit;
228 Stunden bei 60°C und 90% rel. Feuchtigkeit.
Die Scheiben konnten sich dann bei Raumtemperatur und
-feuchtigkeit für 24 Stunden stabilisieren, bevor das
jeweilige Nach-Umgebungstesten durchgeführt wurde.
Zerstäubungsprozeß-Parameter:
Gesamtdruck | |
1,6 Pa (1,6 × 10-2mbar) | |
Zerstäubungsleistung | 18 kW |
Zerstäubungszeit | 5,5 sec |
Strömungsverhältnis CH4/Ar | 5,8% |
Aus Tabelle 1 wird ersichtlich, daß die erfindungsgemäß
hergestellten PMMA-Scheiben eine beträchtlich höhere Stabili
tät bei Umgebungsaussetzungen aufweisen. Die Verminderung
ihrer Eigenschaften mit Bezug auf alle drei gemessenen Test
parameter ist beträchtlich besser im Vergleich zu herkömmlich
hergestellten Scheiben, beispielsweise A bis E.
Claims (24)
1. Verfahren zum Beschichten von Werkstücken aus einem
Kunststoffmaterial mit einer metallischen Schicht in
einer Vakuumkammer, mit Hilfe magnetfeld-unterstützter
Zerstäubung einer überwiegenden Materialkomponente
dieser Schicht, dadurch gekennzeichnet, daß die Zer
stäubung in einer Gasatmosphäre aus einer Gasmischung
von Argon und kohlenstoffhaltigem Gas ausgeführt wird,
mindestens für die Dauer einer überwiegenden Zeitspanne
des Beschichtens des Werkstücks mit der metallischen
Schicht.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
die Zerstäubung als Magnetron-Zerstäubung durchgeführt
wird.
3. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß ein Metall oder eine Metallegierung
zerstäubt wird.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß das Zerstäuben in einer
Argon/Methangasmischung durchgeführt wird.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch
gekennzeichnet, daß das Verhältnis der Gasmischung
während der Beschichtung im wesentlichen konstant
gehalten ist.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch
gekennzeichnet, daß der Druck in der Vakuumkammer
während der Beschichtung im wesentlichen konstant
gehalten ist.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch
gekennzeichnet, daß die Mischung 3 bis 20 Vol.-% Methan
(beide Grenzen eingeschlossen), vorzugsweise 3 bis 10
Vol.-% Methan (beide Grenzen eingeschlossen), weiter
vorzugsweise ungefähr 5 Vol.-% Methan enthält.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch
gekennzeichnet, daß die elektrische Leistung der
Zerstäubung während der Beschichtung im wesentlichen
konstant gehalten ist.
9. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch
gekennzeichnet, daß das Werkstück aus PMMA-Material
besteht.
10. Verfahren nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß
das PMMA-Werkstück als Speicherscheibe ausgebildet ist.
11. Verfahren nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß
das Werkstück als optische Speicherscheibe
strukturiert ist.
12. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß
das Beschichten weniger als 10 Sekunden, vorzugsweise
zwischen 5 und 6 Sekunden, dauert und zu beschichteten
PMMA-optischen Scheiben führt, die die IEC 856 und 857
Normen erfüllen.
13. Optische Speicherscheibe aus PMMA mit einer Beschich
tung aus Aluminium oder aus einer Aluminiumlegierung,
dadurch gekennzeichnet, daß die Beschichtung durch ma
gnetfeld-unterstützte Zerstäubung in einer
Gasatmosphäre einer Gasmischung mit Argon und
kohlenstoffhaltigem Gas aufgebracht ist.
14. Scheibe nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß
die Beschichtung durch Magnetron-Zerstäubung
aufgebracht ist.
15. Scheibe nach Anspruch 13 oder 14, dadurch
gekennzeichnet, daß die Beschichtung in weniger als 10
Sekunden, vorzugsweise in 5 bis 6 Sekunden aufgebracht
ist und mit der IEC 856 und 857 Norm verträglich ist.
16. Vorrichtung zum Beschichten von mindestens einem Werk
stück aus Kunststoffmaterial mit einer metallischen
Schicht, gekennzeichnet durch
eine Vakuumkammer (2) mit mindestens einer magnetfeld- unterstützten Zerstäubungsquelle (1) für eine überwiegende Komponente der Schicht, wobei die Vakuumkammer (2) über steuerbare Gaszufuhreinrichtungen (8) mit mindestens einem Gasgemischtank (10, 12), welcher Argon und ein kohlenstoffhaltiges Gas enthält, oder mit mindestens zwei Tanks (10, 12) verbunden ist, die jeweils Argon und ein kohlenstoffhaltiges Gas enthalten,
eine Evakuierungspumpeneinheit (5),
eine Einrichtung (3) zum Zuführen von mindestens einem Werkstück in die Kammer und eine Einrichtung (3) zum Entfernen von mindestens einem Werkstück aus der Kammer,
einer Einrichtung (16) zum Steuern der Zerstäubungsquelle (1) und der Gaszufuhreinrichtung (8), so daß die Zerstäubungsquelle betätigt wird, wenn die Gaszufuhreinrichtung Argon und das kohlen stoffhaltige Gas in die Vakuumkammer eingelassen hat.
eine Vakuumkammer (2) mit mindestens einer magnetfeld- unterstützten Zerstäubungsquelle (1) für eine überwiegende Komponente der Schicht, wobei die Vakuumkammer (2) über steuerbare Gaszufuhreinrichtungen (8) mit mindestens einem Gasgemischtank (10, 12), welcher Argon und ein kohlenstoffhaltiges Gas enthält, oder mit mindestens zwei Tanks (10, 12) verbunden ist, die jeweils Argon und ein kohlenstoffhaltiges Gas enthalten,
eine Evakuierungspumpeneinheit (5),
eine Einrichtung (3) zum Zuführen von mindestens einem Werkstück in die Kammer und eine Einrichtung (3) zum Entfernen von mindestens einem Werkstück aus der Kammer,
einer Einrichtung (16) zum Steuern der Zerstäubungsquelle (1) und der Gaszufuhreinrichtung (8), so daß die Zerstäubungsquelle betätigt wird, wenn die Gaszufuhreinrichtung Argon und das kohlen stoffhaltige Gas in die Vakuumkammer eingelassen hat.
17. Vorrichtung nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet,
daß die Zerstäubungsquelle (1) ein Magnetron ist.
18. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 16 oder 17,
dadurch gekennzeichnet, daß die Zerstäubungsquelle (1)
ein Metall oder eine Metallegierungszerstäubungsquelle
ist.
19. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 16 bis 18, dadurch
gekennzeichnet, daß der eine Tank (10) oder einer der
beiden Tanks (10, 12) Methan enthält.
20. Vorrichtung nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet,
daß ein Tank (12) Argon und ein Tank (10) Methan ent
hält und weiterhin umfassend eine steuerbare
Mischungseinrichtung (V10, V12), um ein Gas, welches in
die Vakuumkammer (2) von den zwei Tanks zugeführt wird
so zu mischen, daß eine Gasmischung mit 3-10 Vol.-%
Methan (beide Grenzen eingeschlossen) vorzugsweise mit
um 5 Vol.-% Methan entstehen.
21. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 16 bis 19, dadurch
gekennzeichnet, daß ein Gastank Argon und 3-20 Vol.-%
Methan (beide Grenzen eingeschlossen) vorzugsweise 3-
10 Vol.-% (beide Grenzen eingeschlossen) Methan und
weiter vorzugsweise mit um 5% Methan enthält.
22. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 16 bis 21,
dadurch gekennzeichnet, daß eine Zeitgebereinheit (16)
vorgesehen ist, die die Einrichtung (3) und der
Entferneinrichtung (3) so ansteuert, daß die Zufuhr und
das Entfernen des Werkstücks in und aus der Kammer in
weniger als 10 Sekunden erfolgt.
23. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 16 bis 22, dadurch
gekennzeichnet, daß die Zerstäubungsquelle eine
Zerstäubungsquelle für ein hochreflektierendes Metall
ist, vorzugsweise für Aluminium oder eine Aluminiumle
gierung.
24. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 16 bis 23, mit
mindestens einem Werkstück (4) darin, dadurch
gekennzeichnet, daß das Werkstück eine optische
Speicherplatte aus PMMA ist.
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