DE4338907C2 - Meßeinrichtung zur Bestimmung von Schichtdicken - Google Patents
Meßeinrichtung zur Bestimmung von SchichtdickenInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Meßeinrichtung, welche die geometrische Dicke
aufgedampfter oder gesputterter Schichten über lange Zeiträume während des Beschichtungsprozesses
messen kann. Die Anwendung liegt insbesondere bei der Rolle-zu-Rolle Bedampfung
von Kunststoff-Folien, Papier und Blechen.
Es sind verschiedene Einrichtungen zur Schichtdickenmessung für diesen Zweck bekannt.
Zur Messung der elektrischen Leitfähigkeit benutzt die DE 34 45 717 A1 eine Drahtwendel,
die in den Dampfgang eingebracht wird. Das auf ihr kondensierende Material, welches leitfähig
sein muß, erniedrigt den elektrischen Widerstand der Drahtwendel. Die Messung ist
ortsgebunden. Werden über eine Bahnbreite mehrere Meßpunkte verlangt, so müssen
ebenso viele Drahtwendeln eingesetzt werden. Bei typischen technischen Bedampfungen von
Rollenmaterial scheidet sich in ca. 30 Minuten eine etwa 4 mm dicke Metallschicht ab. Der
elektrische Widerstand der Drahtwendel beträgt dann nur noch wenige Mikro-Ohm. Spätestens
nach jeder Charge müssen die Wendeln erneuert werden. Die Änderung des spezifischen
Widerstandes der aufgedampften Schicht mit der Temperatur, bedingt durch die von der
Verdampferquelle ausgehenden Wärmestrahlung, beeinflußt das Meßergebnis beträchtlich.
Nach der DD 2 69 660 A1 lassen sich Dicken und Schichtdicken ebenfalls berührungslos
messen, indem ein paralleler Lichtstrahl am Meßobjekt, z. B. einem Draht einen Schatten auf
eine CCD-Kamera wirft. Dort erfolgt ein Abzählen der voll belichteten und der schwächer
belichteten Zeilen. Die Auflösung liegt im Bereich des Zeilenabstandes von CCD-Kameras.
Unvermeidbare Schwingungen des bewegten Drahtes führen zu Signalverwischungen. Die
Signalauswertung bedarf einer umfangreichen Zählelektronik, da dunkle und helle Pixels
abgezählt werden müssen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Meßeinrichtung zu schaffen, welche fast ohne
zeitliche Begrenzung und unabhängig vom Aufdampfmaterial berührungslos während des
Prozesses geometrische Schichtdicken messen kann. Die Messung soll nicht nur eine Mittelung
über die Bedampfungsbreite des bandförmigen Materials wiedergeben, sondern eine größere
Anzahl von Meßpunkten quer zur Bahnrichtung liefern.
Diese Aufgabe wird durch eine Einrichtung mit den Merkmalen im Anspruch 1 gelöst.
Der Vorteil der Einrichtung ist die kontaktlose Messung. Kontaktbehaftete Sensoren
erfordern wegen ihrer
geringeren Meßgenauigkeit längere Verweilzeiten und Aufdampfdicken von mindestens 100
Mikrometern.
Ein weiterer Vorteil der hier beschriebenen Meßeinrichtung ist, daß dünne Drähte
kostengünstig sind, keine wesentliche Schattenwirkung auf dem zu bedampfenden Gut
erzeugen und keiner Kühlung bedürfen. Je nach Lage des Drahtes im Verdampfungsraum und
abhängig vom Verdampfungsmaterial nimmt der Draht unterschiedliche Temperaturen an. Bei
der Aluminiumverdampfung werden bei Verweilzeiten von 10 Sekunden Temperaturen von
etwa 500°C erreicht. Bei der Verdampfung von Silizium-Monoxid liegt die Temperatur bei
gleicher Verweilzeit bei ca. 600°C. Geeignete Drahtmaterialien sind Stahl, Nickel, Molybdän,
Wolfram. Drähte im Dickenbereich von 0.1-0.4 mm Dicke sind kommerziell erhältlich in
Spulenlängen von über 10.000 Laufmetern. Diese Länge reicht aus, um im 20-Sekunden-Takt
Meßzeiten von 27.6 Stunden zu verwirklichen, bei einem Drahtverbrauch von nur 0.6 bis 6 kg.
Ausgestaltungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen gekennzeichnet.
Die Erfindung wird nachstehend in Verbindung mit der Zeichnung an einem Ausführungs
beispiel erläutert.
Fig. I zeigt die Gesamtansicht der Meßeinrichtung.
Fig. II zeigt die Teilansicht der Meßeinrichtung, in Blickrichtung senkrecht zum Draht (3).
Nach Fig. I wird der Draht 3 von einer Abwickelspule 4 kontinuierlich zu einer Aufwickelspule
5 mit konstanter Geschwindigkeit gewickelt. Vor dem Aufwickeln wird die Dicke des
bedampften Drahtes 3 gemessen, indem ein durch einen rotierenden Polygonspiegel in
Oszillation versetzter Laserstrahl den Draht 3 trifft. Die Messung des unbeschichteten Drahtes
3 erfolgt mittels eines zweiten Meßsensors 11. Die gemessenen Durchmesser D1 und D2 nach
Gl. I sind proportional der Zeit, in der der Photosensor 10 eine Verminderung der Lichtintensität
mißt. Die Dickenmessung wird demnach auf eine Zeitmessung zurückgeführt.
Bei bekannter Geometrie des Verdampfers 1 und nach einmal erfolgter Eichung läßt sich aus
der Dickenzunahme, der Drahtgeschwindigkeit und der Bahngeschwindigkeit die aufgedampfte
Dicke integral bestimmen nach der Beziehung:
d: Aufdampfdicke auf der Bahn [nm]
c1: Geometriefaktor [m²/s²]
D1: Dicke des bedampften Drahtes [nm]
D2: Dicke des unbedampften Drahtes [nm]
vd: Transportgeschwindigkeit des Drahtes [m/s]
vb: Transportgeschwindigkeit des Bandes [m/s]
B: Bahnbreite [m]
c1: Geometriefaktor [m²/s²]
D1: Dicke des bedampften Drahtes [nm]
D2: Dicke des unbedampften Drahtes [nm]
vd: Transportgeschwindigkeit des Drahtes [m/s]
vb: Transportgeschwindigkeit des Bandes [m/s]
B: Bahnbreite [m]
Diese Meßeinrichtung würde zwar bereits materialunabhängige Ergebnisse über extrem lange
Meßzeiten liefern können, jedoch läge keine Aussage über die örtliche Verteilung der
Schichtdicke quer zum bandförmigen Material 2 vor. Eine solche Meßeinrichtrung hätte
demnach keine Vorteile gegenüber der in der DD 2 69 660 A beschriebenen bekannten Methode.
Nach diesem Prinzip läßt sich eine Messung der Schichtdicke an einer Vielzahl von
Meßpunkten quer zur Bahnrichtung erreichen, wenn der Draht 3 nicht kontinuierlich, sondern
in genauen Zeitabständen hubweise transportiert wird. Vor der Aufwickelspule 5, jedoch nach
dem Laserlicht-Sender 6 ist ein Wegsensor 7 eingebaut, welcher an die Auswerteeinheit 8
jeweils einen Zählimpuls liefert, wenn ein Teilstück des Drahtes 3 durch die Laserlicht-Strecke
läuft. Dadurch ist es möglich, die Dickenmessung am Draht um jeweils eine Bahnbreite örtlich
versetzt durchzuführen. Allerdings entsteht hierdurch auch eine zeitliche Versetzung der
Messung. Diese ist jedoch von keinem Nachteil, da bei kontinuierlichen Bedampfungsprozessen
nicht mit schnellen zeitlichen Änderungen der Verdampfungsgeschwindigkeit zu rechnen ist. Es
läßt sich nun feststellen, an welcher Stelle quer zur Bahnrichtung sich ein gemessenes
Teilstück des Drahtes bei der Bedampfung befunden hat und wie groß an diesem Teilstück die
Bedampfungsdicke ist. Bei der Durchführung der Messung zeigt sich, daß auch hoch
transparentes Aufdampfmaterial ebenso gut meßbar ist. Der Grund ist darin zu suchen, daß
der Laserstrahl auf der Beschichtung am Draht streifend auftrifft und durch Streuung oder
Lichtbrechung aus seiner ursprünglichen Richtung abgelenkt wird.
Die Breite der Bahn beträgt 2000 mm. Der ruhende Draht wird 10 Sekunden lang dem Dampf
des Verdampfers ausgesetzt. Danach erfolgt der Weitertransport des Drahtes um eine Länge
von 2000 mm. Während dieses Weitertransportes liefert der Wegesensor 7 20 Schaltimpulse in
gleichen Abständen von 2000/20=100 mm, während jeweils die Gesamtdicke, bestehend aus
der Aufdampfschicht und der Dicke des unbedampften Drahtes gemessen wird. (Fig. II).
Die Berechnung der aufgedampften Schichtdicke weicht von Gl. I ab, dadurch bedingt, daß die
Transportgeschwindigkeit des Drahtes nicht beliebig schnell sein kann. Es ist daher bei der
Auswertung der Messung zu berücksichtigen, daß der Draht noch während des Transportes
bedampft wird. Hierbei ist die dem Laserlicht-Sender 6 abgewandten Seite dem Dampf um eine Zeit B/
vb länger ausgesetzt als die ihm zugewandte Seite. Die Verweilzeit des Drahtes soll hingegen
nicht mehr als 10-30 Sekunden betragen, da verzögerte Istwert-Messungen für
nachgeschaltete Regelkreise der Verdampfer ungünstig sind.
tb: Bedampfungszeit des Drahtes [s]
n: Zahl der Meßstellen [-]
b: = B/n [m]
Abstand zwischen Meßstellen
n: Zahl der Meßstellen [-]
b: = B/n [m]
Abstand zwischen Meßstellen
Dies führt zu einer neuen Gleichung, die nun die Messung der Schichtdicke über die Bahnbreite
ermöglicht.
Die korrigierte Gleichung lautet:
c2: Eichkonstante [m²/s²]
t-hub: Hubzeit des Drahtes über die Bandbreite [s]
tb: Verweilzeit des Drahtes in der Aufdampfzone [s]
n: Zähler (1 < n < N) [-]
N: Zahl der Meßpositionen über die Bandbreite [-]
t-hub: Hubzeit des Drahtes über die Bandbreite [s]
tb: Verweilzeit des Drahtes in der Aufdampfzone [s]
n: Zähler (1 < n < N) [-]
N: Zahl der Meßpositionen über die Bandbreite [-]
Gl. II läßt sich umschreiben auf
Der Geometriefaktor c1 aus Gl. I ist durch einen neuen Faktor c2 zu ersetzen, welcher einmalig
durch Eichung zu bestimmen ist. Ferner ist die Verweilzeit des Drahtes in der Aufdampfzone
und die Zeit zu berücksichtigen, die der Draht für einen Vollhub über eine Bandbreite benötigt.
Die Auswerteeinheit 8, welche ein PC, eine speicherprogrammierbare Steuerung oder ein
Analogrechenbauteil sein kann, verarbeitet laufend 5 Meßvariable D1, D2, vb, vd, tb, sowie die
Konstanten c2, B, N und den laufenden Zähler n.
Die Aufnahme der Variablen vb und vd erfolgt normalerweise über an den entsprechenden
Antrieben angebaute Tachogeneratoren oder Inkrementalzählern, die Variable tb über einen
Zeitzähler. Die Signale werden in analoger oder digitaler Form den Eingängen der
Auswerteeinheit zugeführt. Die Konstanten können fest programmiert sein oder ebenfalls wie
Variable veränderlich eingegeben werden.
Zur Messung von D1 und D2 wird ein mit fester Frequenz oszillierender
Laserstrahl 9 benutzt, dessen Richtung senkrecht zur Drahtrichtung und senkrecht zur
Aufdampfrichtung steht. Ein schneller Meßsensor, zum Beispiel ein Photosensor 10 mißt die
Zeit, in welcher der Laserstrahl unterbrochen wird, als Maß für die Dicke des bedampften
Drahtes. Diese Meßeinrichtung erlaubt eine hohe Auflösung bis zur Wellenlänge des
Laserlichtes von ca. 7000 Angström. Die typische Dicke des verwendeten Drahtes beträgt 0.2 mm.
Bei Verweilzeiten von 20 s ist bei technischen Bedampfungsprozessen mit einem
Schichtaufbau am Draht von ca. 24-40 Mikrometern zu rechnen, bei der Zink- oder
Aluminiumbedampfung von Blechbändern mit bis zu 0.2 mm. Die Auflösung liegt demnach
zwischen 0,4 bis 3%.
Technische Drähte haben Dickentoleranzen. Deshalb ist vorgesehen, einen zweiten Laserlicht-
Sender als Meßsensor 11 einzusetzen, welcher die jeweilige Drahtdicke vor dem Eintritt in den
Bedampfungsbereich mißt und der Berechnung als eine weitere Variable zuführt.
Weiter ist vorgesehen, die Ab- und Aufwickelspulen des Drahtes außerhalb des Vakuums
anzuordnen. Gepumpte Druckstufen bekannter Bauweise erlauben das Ein- und Ausfahren des
Drahtes.
Wird die Zahl der Messungen über eine Hublänge des Drahtes, welche der Bandbreite des zu
bedampfenden bandförmigen Materials 2 entspricht, wesentlich erhöht, läßt sich statt einzelner
Schichtdicken-Säulen eine komplette Kurve der Schichtdicke über der Bandbreite darstellen.
Auch eine Darstellung als Zahlenreihe ist möglich.
Claims (9)
1. Meßeinrichtung zur Bestimmung der geometrischen Dicke von aufgedampften Schichten auf
bandförmigem Material unter Vakuum, bei der ein Draht (3) von einer Abwickelspule (4)
durch den Dampfraum zwischen dem Verdampfer (1) und dem bewegten, bandförmigen
Material (2) zu einer Aufwickelspule (5) transportiert wird und der Draht (3) nach einer
Verweilzeit im Dampfstrom vor seiner Aufwicklung durch einen Wegsensor (7) und einen
Dickensensor (9) transportiert wird, wobei ersterer in vorgegebenen Abständen jeweils
Messungen auslöst und diese Messungen den Orten zugeordnet werden, an welchen sich die
bedampften Zonen des Drahtes (3) relativ zur Bahnbreite des bewegten, bandförmigen
Materials (2) während der Verweilzeit des Drahtes (3) befunden hatten.
2. Meßeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als Dickensensor (9) ein
quer zur Drahtrichtung oszillierender Laserstrahl verwendet wird, welcher auf einen schnellen
Photosensor (10) gerichtet ist und die Unterbrechungszeit des Strahls als ein der Dicke des
Drahtes (3) und der darauf haftenden Bedampfungsschicht proportionales Zeitsignal mißt.
3. Meßeinrichtung nach Anspruch 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Messungen am
Draht (3) während des Beschichtungsprozesses erfolgen und aus ihnen die Schichtdicke auf
der bewegten Bahn berechnet und angezeigt wird.
4. Meßeinrichtung nach Anspruch 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Zahl der Meßstellen
über die Bahnbreite zwischen 3 und 1000 beträgt.
5. Meßeinrichtung nach Anspruch 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Darstellung der
errechneten Schichtdicken auf der Bahn an den Orten in Querrichtung zur Bewegungsrichtung
des Bandes auf einem Bildschirm als ein Diagramm aus Säulen, als Zahlenreihe oder als
fortlaufende Kurve erfolgt.
6. Meßeinrichtung nach Anspruch 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß Abweichung von
einer Soll-Schichtdicke quer zur Bahnrichtung als Regelgröße für die Veränderung der
örtlichen Verdampfungsleistung verwendet werden.
7. Meßeinrichtung nach Anspruch 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß der noch unbedampfte
Draht (3) von einem zweiten Meßsensor (11) in seiner Dicke gleichzeitig gemessen wird, so
daß sich die auf dem Draht (3) aufgedampfte Dicke unabhängig von Dickenschwankungen des
Drahtes (3) aus der Differenz der Meßergebnisse vor und nach der Bedampfung bestimmen
läßt.
8. Meßeinrichtung nach Anspruch 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Ab- (4) und
Aufwickelspulen (5) des Drahtes (3) außerhalb des Vakuums angeordnet sind und das Ein-
und Ausfahren des Drahtes (3) über gepumpte Druckstufen erfolgt.
9. Meßeinrichtung nach Anspruch 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß Drähte (3) aus Stahl,
Nickel, Wolfram oder Molybdän im Dickenbereich von 0.1 bis 1 mm verwendet werden.
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Cited By (2)
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Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19844357C2 (de) * | 1998-09-28 | 2001-04-05 | Hilmar Weinert | Bandbedampfungsanlage und Verfahren zur Herstellung von planparallelen Plättchen |
| EP1190209B1 (de) * | 1999-06-28 | 2004-05-26 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Verfahren und vorrichtung zur messung der schichtdicke |
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Family Cites Families (2)
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|---|---|---|---|---|
| GB8333355D0 (en) * | 1983-12-14 | 1984-01-18 | Rolls Royce | Metallic coating layer thickness |
| DD269660A1 (de) * | 1987-12-28 | 1989-07-05 | Oberspree Kabelwerke Veb K | Verfahren zur beruehrungslosen durchmesser- bzw. wanddickenmessung strangfoermiger objekte |
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1993
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10345064A1 (de) * | 2003-09-26 | 2005-04-14 | Giesecke & Devrient Gmbh | Vorrichtung zur Messung der Dicke von Blattgut |
| DE102004045170A1 (de) * | 2004-09-17 | 2006-03-23 | Giesecke & Devrient Gmbh | Verfahren und Vorrichtung für die Messung der Dicke von Banknoten |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE4338907A1 (de) | 1995-05-18 |
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| DE3330092C2 (de) | ||
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