DE4338433C2 - Mikro-Betätigungsglied und Verfahren zu dessen Herstellung - Google Patents
Mikro-Betätigungsglied und Verfahren zu dessen HerstellungInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Mikro-Betätigungsglied und be
zieht sich insbesondere auf ein Mikro-Betätigungsglied mit
einem piezoelektrischen Material sowie ein Verfahren zu
dessen Herstellung.
Mit der Entwicklung der Automation und hochpräziser Meß
technik gewinnen in den letzten Jahren Betätigungsglieder
zur Bewegung kleiner Objekte zu beliebigen Positionen oder
in beliebige Richtungen an Bedeutung. Dabei werden in hohem
Maße auch kompakte Betätigungsglieder im Rahmen der vorste
hend genannten Entwicklung gefordert.
Ein Piezo-Betätigungsglied aus einem Material mit pie
zoelektrischem Effekt zur Verwendung in einem Tunneleffekt-
Rastermikroskop (Scanning-Tunneling-Microscope, STM) stellt
ein typisches Beispiel eines hochpräzisen Bewegungs- oder
Positionierungs-Antriebsmechanismus dar. Das Tunneleffekt-
Rastermikroskop mißt einen Tunnelstrom zwischen der Ober
fläche eines als Probe dienenden leitfähigen Materials und
einer Sonde bzw. einem Tastkopf mit einem empfindlichen En
de. Ein Antriebsmechanismus des Tunneleffekt-Rastermikro
skops bringt die Sonde in eine wenige 10 Ångström oder we
niger von der Oberfläche des leitfähigen Materials ent
fernte Position und muß daher eine Antriebspräzision in der
Größenordnung von Ångström für eine Bewegungs- oder Posi
tioniergenauigkeit der Sonde aufweisen. Bekannte große
Piezo-Betätigungsglieder umfassen ein dreifußförmiges
Piezo-Betätigungsglied (G. Binnig et al., IBM Technical
Disclosure Bulletin, Band 27, Nr. 10B, 1985, pp. 5976-5977)
oder ein rohrförmiges Piezo-Betätigungsglied (G. Binnig et
al., "Single-tube Three-dimensional Scanner for Scanning
Tunneling Microscopy", Rev. Sci. Instrum., 57(8), 1986, pp.
1688-1689). Ein als Grundbestandteil dienendes piezoelek
trisches Material wird im allgemeinen gebildet durch Mi
schen von Rohmaterialien und Durchführen eines Mischungs-
/Pulverisierungsvorganges (Zermahlen, crush), durch Kalzi
nieren, Pulverisieren (Zerkleinern, crush), Untermischen
eines Bindemittels, Formpressen, Sintern, Bearbeiten, Aus
gestalten der Elektroden und Polarisieren (Tadashi Shiozaki
ed., "Manufacturing and Applications of Piezoelectric Mate
rials", CMC, 1985, pp. 19-21). Den in Massenfertigung her
gestellten Piezo-Betätigungsgliedern sind bezüglich der
Herstellungsverfahren und der Bearbeitungsgenauigkeit Gren
zen gesetzt, da sie durch Polieren, Schneiden, und ähnliche
Bearbeitungsvorgänge hergestellt werden.
Die Technik der Mikromechanik unter Verwendung eines Sili
zium-Planarprozesses gewinnt zunehmend an Bedeutung als ei
ne Technik zur Herstellung eines kompakten Betätigungsglie
des. Dabei wird eine Vielzahl von Betätigungsgliedern vor
geschlagen, bei denen diese Technik Verwendung findet. Die
wichtigsten bekannten Mikro-Betätigungsglieder benutzen den
piezoelektrischen Effekt eines piezoelektrischen Dünnfilms
und einer elektrostatischen Kraft als Antriebskraft. Von
allen Mikro-Betätigungsgliedern erfordert das den pie
zoelektrischen Effekt nutzende Mikro-Betätigungsglied keine
Nullpunkteinstellung, die erforderlich ist für die elektro
statische Kraft, und weist eine eigenständige gewünschte
Deformation auf. Ein Beispiel dafür ist ein piezoelektri
sches Betätigungsglied vom bimorphen bzw. zweikristallinen
Typ (S. Akamine et al., "Microfabricated Scanning Tunneling
Microscope" IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, Band 10, Nr. 11
pp. 490-492 (1989)).
Bei einer Mikrofabrikation, bei der im wesentlichen der Si
lizium-Planarprozeß verwendet wird, sind die Freiheitsgrade
im Design durch die Bearbeitung der zweidimensionalen Ober
fläche des Substrats begrenzt Die Ursache liegt in der
Schwierigkeit begründet, eine wenige bis zu einigen zehn
Mikrometer umfassende dicke vertikale Schicht auf einem Substrat herzustellen, um auf
dieser eine dünne Schicht Betätigungsglied-Material, wie
beispielsweise ein piezoelektrisches Material aufzubrin
gen, wobei die Aufbringungsrichtung senkrecht zur Normalen auf die Substratoberfläche ist.
Als Verfahren zur Verbesserung der Prozess-Freiheitsgrade
wurde durch W. Ehrfeld et al. vom Kernforschungszentrum
Karlsruhe (IEEE Solid-state Sensor and Actuator Workshop,
Hilton Head. SG, 1988, Technical Digest pp. 1-4) eine Syn
chrotron-Strahlungslicht verwendende LIGA-Technik
(Lithografie, Galvanoformung, Abformung) vorgeschlagen.
Darüber hinaus wurde ferner eine zur Herstellung einer
freien dreidimensionalen Struktur in der LIGA-Technik durch
Ausgestalten einer Hilfs- bzw. Verlustschicht geeignete
Technik vorgeschlagen (H. Guckel et al., "Fabrication and
Testing of the Planar Magnetic Micromotor", J. Micromech.
Microeng., 1. 1991. pp. 135-138).
Als Betätigungsglieder vorgeschlagene Aufbauformen, bei der
die LIGA-Technik verwendet wird, erfordern Energiefelder
wie beispielsweise elektrostatische und magnetische Felder,
bzw. Kräfte und bedingen die Verwendung von Antriebsein
richtungen mit Rückstellung. Eine unabhängige Betriebs
weise, wie sie durch Verwendung des piezoelektrischen Ef
fektes erhalten wird, kann nicht erreicht werden.
In der US-Patentschrift Nr. 4 912 822 wird ein
piezoelektrischer Transducer vorgeschlagen, der mittels
Planartechnologie hergestellt wird und bei dem eine Bewegung
parallel zur Substratoberfläche möglich ist. Solch ein
Transducer umfaßt mehrere Schichten aus piezoelektrischem
Material mit entsprechenden Ansteuerungselektroden. Durch
Auswahl geeigneter Spannungen an den einzelnen
Ansteuerungselektroden kann die Raster-Abtastbewegung der
Sonde in der Richtung parallel zum Substrat gesteuert werden.
Es ist offensichtlich, daß es mit solch einer Anordnung
schwierig ist, die Sonde parallel zur Substratoberfläche
exakt und mit im Vergleich zur senkrechten Bewegungsrichtung
großen Verschiebungsmengen zu bewegen.
Es ist daher Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein
Verfahren zu schaffen, mit dem eine einfache Herstellung
eines Mikro-Betätigungselements ermöglicht wird, das zum
Erzeugen einer großen und hochpräzisen Verschiebung in einer
Richtung parallel zur Substratoberfläche unter Verwendung des
piezoelektrische Effekts geeignet ist.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß gelöst durch ein Verfah
ren zur Herstellung eines Mikro-Betätigungsglieds mit einem
piezoelektrischen Material und einer benachbart zum pie
zoelektrischen Material angeordneten Ansteuerungselektrode,
gekennzeichnet durch die Verfahrensschritte des Ausbildens
einer galvanisch oberflächenbehandelten Elektrode auf einem
Substrat, des Aufbringens einer Schicht aus photoempfindli
chem Material auf dem Substrat, auf dem die galvanisch
oberflächenbehandelte Elektrode aufgebracht ist, des Be
lichtens der photoempfindlichen Schicht in einem vorgegebe
nen Muster, des Entwickelns der belichteten photoempfindli
chen Schicht zur teilweisen Entfernung der photoempfindli
chen Schicht, des galvanischen Einbringens von Metall in
einen Substratbereich, von dem die photoempfindliche
Schicht entfernt ist und Ausbilden einer Ansteuerungselek
trode, des Entfernens der verbleibenden photoempfindlichen
Schicht, und des Einbringens eines piezoelektri
schen Materials in einen zur Ansteuerungselektrode benach
barten Bereich des Substrats.
Die bevorzugten, beispielhaft grundlegende Verfahren der
Herstellung von Mikro-Betätigungsgliedern, bimorphen Betä
tigungsgliedern, Betätigungsgliedern in Stapelbauweise, so
wie einer Tunneleffekt-Rastermikroskop-Sonde und eines X-Y-
Objekttischs erläuternden Ausführungsbeispiele, die durch
Anwendung von Mikro-Betätigungsgliedern gemäß den beschrie
benen Ausführungsbeispielen auf Tunneleffekt-Rastermikro
skopen erzielbar sind, werden nachstehend unter Bezugnahme
auf die Zeichnung näher beschrieben.
Es zeigen:
Fig. 1A-1F schematische Querschnittsansichten zur Erläute
rung eines Verfahrens zur Herstellung eines Mikro-Betäti
gungsglieds gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel,
Fig. 2 eine schematische perspektivische Ansicht eines er
sten durch das Verfahren gemäß dem ersten Ausführungsbei
spiel hergestellten Mikro-Betätigungsglieds,
Fig. 3 eine schematische Darstellung zur Erläuterung des
Verschiebungsvorgangs bei dem Mikro-Betätigungsglied,
Fig. 4 eine schematische Teilansicht eines Verfahrens des
Einbringens eines piezoelektrischen Werkstoffs,
Fig. 5A-5F schematische Querschnittsansichten zur Erläute
rung des Verfahrens zur Herstellung eines Mikro-Betäti
gungsglieds gemäß einem zweiten Ausführungsbeispiel,
Fig. 6 eine schematische perspektivische Ansicht eines
zweiten nach dem Verfahren gemäß den beschriebenen Ausfüh
rungsbeispielen hergestellten Mikro-Betätigungsglieds,
Fig. 7 eine schematische perspektivische Ansicht eines
dritten nach dem Verfahren gemäß den beschriebenen Ausfüh
rungsbeispielen hergestellten Mikro-Betätigungsglieds,
Fig. 8A-8E schematische Querschnittsansichten zur Erläute
rung des Verfahrens zur Herstellung eines Mikro-Betäti
gungsglieds gemäß einem dritten Ausführungsbeispiel,
Fig. 9 eine schematische perspektivische Ansicht eines
vierten nach dem Verfahren gemäß den beschriebenen Ausfüh
rungsbeispiel hergestellten Mikro-Betätigungsglieds,
Fig. 10 eine schematische perspektivische Ansicht einer ein
Mikro-Betätigungsglied verwendenden Tunneleffekt-Rastermi
kroskop-Sonde,
Fig. 11 eine schematische Aufsicht eines ein Mikro-Betäti
gungsglied verwendenden X-Y-Objekttisches, und
Fig. 12 eine schematische Teilansicht des X-Y-Objekttisches
aus Fig. 11.
Fig. 1A bis 1F zeigen schrittweise ein Verfahren zur Her
stellung eines Mikro-Betätigungsglieds gemäß einem ersten
Ausführungsbeispiel. Galvanisch oberflächenbehandelte Elek
troden 11 werden auf ein Substrat 10 aufgebracht, auf wel
chen wiederum ein licht- oder photoempfindliches Material
aufgebracht wird. Das Substrat kann als Halbleitersubstrat
bestehend aus Si, GaAs oder dergleichen, als aus Aluminium,
Quarz oder dergleichen bestehendes keramisches Substrat,
oder als Glassubstrat ausgeführt sein. Es kann jede Art von
Substrat verwendet werden. Die galvanisch oberflächenbehan
delte Metallschicht-Elektrode kann durch jedes beliebige,
zur Erzeugung eines leitenden dünnen Films geeignete Ver
fahren wie beispielsweise ein Vakuum-Dünnfilm-Erzeugungs
verfahren (Vakuumverdampfung, Vakuumbedampfung und Elek
tronenstrahlabscheidung), oder ein Verfahren zur galvani
schen Behandlung von Metallen hergestellt werden. Das pho
toempfindliche Material kann derart aufgebracht werden, daß
ein Beschichtungsvorgang mittels einem in der Halbleiter
herstellung bei der Fotolithografie verwendeten Abdecklack
bzw. Resist durch schnelle Rotation, Tauchverfahren, Gießen
oder dergleichen ausgeführt wird, daß ein Trockenresistfilm
auf das Substrat aufgeklebt wird, oder daß ein Abdecklack
mittels Beschichtung durch galvanische Abscheidung nieder
geschlagen wird.
Licht 2 beleuchtet, wie in Fig. 1B gezeigt, mittels Foto
lithografie über eine Fotomaske das unter Verwendung eines
beliebigen der oben genannten Verfahren erzeugte und in
Fig. 1A gezeigte photoempfindliche Material 12, wodurch ein
gewünschter Teilabschnitt des photoempfindlichen Materials
12 belichtet wird. Wie in Fig. 1C dargestellt, wird ein
belichteter oder unbelichteter Teilabschnitt in Überein
stimmung mit den Eigenschaften des photoempfindlichen Mate
rials entfernt, wodurch Strukturen 13 und 13' gebildet wer
den. Gemäß diesem Ausführungsbeispiel wird ein positiv
lichtempfindliches Material verwendet, dessen belichteter
Teilabschnitt bei der Entwicklung entfernt wird. Ebenso
kann jedoch ein negativ lichtempfindliches Material, dessen
nicht belichteter Teilabschnitt bei der Entwicklung ent
fernt wird, verwendet werden.
Wie in Fig. 1D gezeigt, wird ein Metall durch elektrolyti
sche Ausscheidung in die Strukturen 13 und 13' ein- und auf
die galvanisch oberflächenbehandelten Elektroden aufge
bracht, wodurch Ansteuerungselektroden 14 und 14' gebildet
werden. Wie in Fig. 1E gezeigt wird, wird das verbleibende
lichtempfindliche Material bei der Entwicklung zur Erzeu
gung eines Substrats mit als Ansteuerungselektroden 14 und
14' dienenden metallischen Strukturen entfernt. Schließlich
wird ein piezoelektrisches Material 16, wie in Fig. 1F ge
zeigt, in einen gewünschten Einbring-Abschnitt 15 zwischen
die metallischen Strukturen eingebracht.
Fig. 2 zeigt ein piezoelektrisches Betätigungsglied, das
gemäß dem vorstehend beschriebenen Ausführungsbeispiel her
gestellt wird. In diesem Betätigungsglied wird über die An
steuerungselektroden 14 und 14' eine Spannung angelegt, die
das piezoelektrische Material 16 veranlaßt, sich bezüglich
der Ansteuerungselektroden 14 und 14' auszudehnen oder zu
sammenzuziehen. Das piezoelektrische Betätigungsglied wird
auf diese Weise in Richtung der durch in Fig. 3 angedeutete
Pfeile verschoben. Ein herkömmliches piezoelektrisches bi
morphes ZnO-Betätigungsglied bzw. ein ZnO-Aktuator (S. Aka
mine et al.) weist aufgrund seiner Struktur eine kleine
Verschiebung in einer Richtung parallel zur Oberfläche des
Substrats und eine maximale Verschiebung in einer Richtung
senkrecht zum Substrat auf. Demgegenüber ist das Betäti
gungsglied gemäß den beschriebenen Ausführungsbeispielen
ein piezoelektrisches Betätigungsglied mit einer maximalen
Verschiebung in der Richtung parallel zur Oberfläche des
Substrats.
Der Betrag der Verschiebung des durch das beschriebene Ver
fahren hergestellten piezoelektrischen Betätigungsglieds
wird durch die in der Richtung senkrecht zur Substratober
fläche vorhandene Ausdehnung in Längsrichtung bestimmt,
d. h. durch die Schichtdicke des photoempfindlichen Materi
als, der elastischen Konstanten des einzubringenden pie
zoelektrischen Materials und der Ansteuerungselektroden,
der Dicke der in der Richtung parallel zum Substrat liegen
den Schichten, und den piezoelektrischen Koeffizienten des
einzubringenden piezoelektrischen Materials.
Die Dicke des photoempfindlichen Materials variiert in Ab
hängigkeit der bei der Fotolithografie durch die Mikro
strukturen gegebenen Erfordernisse. Bei einer kleinsten Li
nienbreite von einigen Mikrometern wird ein durch Bruno
Frazier et al. ("Design and Fabrication of Electroplatet
Micromotor Structures" Micromechanical Sensors, Actuators
and Systems ASME 1991, pp. 135-146. (1991)) beschriebenes
lichtempfindliches Polyimid Verwendet, um einen aus einem
photoempfindlichen Material bestehenden Aufbau mit der
Dicke von einigen 10 µm unter Verwendung eines ultraviolet
ten Lichts zu erzeugen. Es ist ebenso möglich, einen Halb
leiter-Dickfilm-Abdecklack wie beispielsweise einen AZ4000-
Abdecklack, wie er von Hoechst erhältlich ist, zu verwen
den, um eine Mikrostruktur aus photoempfindlichem Material
der gewünschten Dicke von einigen bis zu einigen 10 µm zu
formen. Soll eine Mikrostuktur aus photoempfindlichem Mate
rial mit einer Dicke von 100 µm oder mehr erzeugt werden,
werden die in Fig. 1A, 1B, 1C, und 1D erläuterten Verfah
rensschritte wiederholt ausgeführt. Um die Ausdehnung in
einer zum Substrat des Betätigungsglieds senkrecht verlau
fenden Längsrichtung durch einen Einfach-Belich
tungs/Entwicklungszyklus zur Erzeugung einer hochpräzisen
Mikrostruktur zu vergrößern, wird die Dicke des photoemp
findlichen Materials im Bereich zwischen 100 µm und 1000 µm
gewählt, und zur Erzeugung einer näherungsweise 1 µm-Mikro
struktur durch ein Synchrotron erzeugtes und ausgesandtes
Strahlungslicht verwendet.
Als piezoeiektrisches Zusatzmaterial kann jeder Stoff ver
wendet werden, sofern dieser in die Mikrostruktur der An
steuerungselektrode eingebracht werden kann, wie beispiels
weise ein piezoelektrisches Polymer, ein Verbundmaterial
(Kitayama, "Nature and Applications of Piezoelectric Poly
mers", Denki Yon Gakkai Rengo Taikai, 1971, pp. 476-479),
welches durch Dispergieren feiner piezoelektrischer Parti
kel in ein Polymer oder gummiartiges Material erhalten
wird, ein durch Sol-Gel-Abscheideverfahren vorbehandelter
piezoelektrischer Körper, oder dergleichen. Ein piezoelek
trisches Polymer wird im allgemeinen gedehnt oder ge
streckt, um die piezoelektrischen Eigenschaften zu verbes
sern. Bei dem vorliegenden Betätigungsglied wird bevorzug
terweise ein Material eingesetzt, welches ferroelektrische
piezoelektrische Eigenschaften durch Polarisierung ohne
Dehnung zeigt. Ein Werkstoff mit ferroelektrischen pie
zoelektrischen Eigenschaften, wie beispielsweise ein Kopo
lymer (P-(VDF-TrFE)) aus Vinylidenfluorid und Äthylentrif
luorid wird bevorzugterweise verwendet.
Fig. 4 und 5A-5F zeigen ein Verfahren zum selektiven Ein
bringen eines piezoelektrischen Materials in den gewünsch
ten Einbring- oder Füllabschnitt 15 zwischen den metalli
schen Strukturen. Ein erstes Verfahren ist ein Verfahren,
bei dem eine Platte 18 mit einem dem zu befüllenden Ab
schnitt auf der Elektrode entsprechenden Einspritzanschluß
17 positioniert und der piezoelektrische Werkstoff durch
den Einspritzanschluß eingebracht wird.
Ein zweites Verfahren ist ein Verfahren, bei dem während
der Entfernung der photoempfindlichen Substanz eine Hemm
schicht 19 auf dem photoempfindlichen Werkstoff erzeugt
wird, mittels der die Entfernung photoempfindlicher Sub
stanz lediglich in einem zu befüllendem Abschnitt verhin
dert und auf diese Weise das Einbringen der photoempfindli
chen Substanz vorgenommen wird. Gemäß diesem Verfahren wird
in der gleichen Weise wie bereits anhand der Fig. 1A-1D
gezeigt wurde, ein Metall auf eine galvanisch oberflächen
behandelte Elektrode aufgebracht und zum Erhalt eines Auf
baus gemäß Fig. 5B die Hemmschicht 19 gebildet. Das nach
der Entwicklung noch verbleibende Material wird entfernt,
um zu dem in Fig. 5C gezeigten Aufbau zu gelangen. Ein
Hemmungs-Füllmaterial 21 wird in einem Nichteinbring-Ab
schnitt 20 versenkt eingebracht, um dort während des Füll
vorgangs das Einbringen eines piezoelektrischen Materials
zu verhindern. Wie in Fig. 5D gezeigt, wird die Hemmschicht
19 und die photoempfindliche Substanz im Einbringabschnitt
15 entfernt, und die piezoelektrische Substanz wird gemäß
Fig. 5E als Schicht in den zu befüllenden Abschnitt einge
bracht. Darauf folgend wird, wie in Fig. 5F gezeigt, das
Hemmungs-Füllmaterial entfernt, um das selektive Einbringen
des piezoelektrische Materials abzuschließen. Der pie
zoelektrische Werkstoff kann unter Verwendung einer Klinge
im Bereich außerhalb des befüllten Abschnitts auf mechani
sche Weise entfernt werden, wodurch das in Bereichen außer
halb des Einbring-Abschnitts haftende piezoelektrische Ma
terial abgetragen wird. Für die Hemmschicht kann ein Mate
rial verwendet werden, welches bei der Entfernung des pho
toempfindlichen Materials während der Entwicklung die Ent
fernung des lichtempfindlichen Materials vom Einbring-Ab
schnitt verhindert. Als Hemmungs-Füllmaterial können belie
bige Werkstoffe wie beispielsweise ein Metall, ein Isola
tor, ein Halbleiter oder ein Polymer, falls die Ansteue
rungselektroden und das eingebrachte piezoelektrische Mate
rial bei der Entfernung des Einbring-Hemmaterials nicht ge
trennt werden, verwendet werden. Als Verfahren zum versenk
ten Einbringen des Hemmungs-Füllmaterials ist ein Verfahren
zur Beschichtung eines polymerischen Werkstoffes oder ein
Verfahren zum elektrolytischen Ausfällen bzw. Ausscheiden
eines Metalls geeignet. Wird das durch elektrolytische Aus
fällung erhaltene Metall als Hemmungs-Füllmaterial verwen
det, wird als Hemmschicht vorzugsweise ein elektrischer
Isolator eingesetzt. Im Vergleich zum Verfahren nach Fig. 4
erfordert das Verfahren gemäß den Fig. 5A-5F kein Ausrich
ten der Platte 18, da eine Musterbildung unter Verwendung
fotolithografischer Verfahren durchgeführt werden kann. So
mit ist ein Einbringen von Material in eine Mikrostruktur
durchführbar. Insbesondere kann ein in einem organischen
Lösungsmittel lösliches polymerisches Material als Hem
mungs-Füllmaterial verwendet werden, wenn P-(VDF-TrFE) oder
Verbundmaterial, das durch feinstes Verteilen feiner fer
roelektrischer, aus Bleizirkonat-Titanat bestehender Parti
kel in PVDF erhalten wird, verwendet wird, da dieses Ver
bundmaterial gegenüber organischen Lösungsmitteln eine hohe
Widerstandsfähigkeit besitzt.
Fig. 6 zeigt eine schematische Ansicht eines bimorphen Be
tätigungsglieds, welches gemäß den in Fig. 1A-1F darge
stellten Verfahrensschritten hergestellt wird. Dieses Betä
tigungsglied ermöglicht das Erzielen eines größeren Ver
schiebungsbetrags, als beim Betätigungsglied gemäß Fig. 2
möglich ist. Große Verschiebungen in den X-, Y-, und Z-
Richtungen sind durch die Anordnung der Ansteuerungselek
troden gemäß Fig. 6 erzielbar. Insbesondere ist ein großer
Betrag der Verschiebung in der X-Richtung nahezu parallel
zum Substrat erzielbar.
Die zur Herstellung des bimorphen Betätigungsglieds gemäß
Fig. 6 anzuwendenden Schritte werden nachstehend näher be
schrieben. Ein Halbleiter-Resist AZ4620
(Handelsbezeichnung) der Firma Hoechst wird unter Verwen
dung eines Tauchverfahrens mit einer Dicke von 50 µm auf
ein Siliziumsubstrat mit einer 0,3 µm dicken, aus Titan be
stehenden galvanisch oberflächenbehandelten Elektrode be
schichtet. Der Resist wird belichtet und fotolithografisch
entwickelt. Zur Ausbildung einer Ansteuerungselektrode wird
auf den entwickelten Strukturabschnitt Ni elektrolytisch
abgeschieden. Die Breite der Elektrodenstruktur beträgt 4 µm,
die Breite der Struktur des Einbring-Abschnitts 6 µm.
Die Einzelschritte zwischen Beschichtung und elektrolyti
scher Ausfällung von Ni werden wiederholt, bis die Höhe der
Ansteuerungselektrode gegenüber der Substrat-Oberfläche 400
µm erreicht. Siliziumdioxid wird mit einer Dicke von 1 µm
durch Vakuum-Elektronenstrahl-Abscheidung aufgebracht, und
eine Hemmschichtstruktur aus SiO2 auf der Ansteuerungselek
trode und dem zu befüllenden Abschnitt mittels Fotolithogr
afie erzeugt. Der Abdecklack wird mittels Aceton entfernt,
und Au wird elekrolytisch auf den belichteten Abschnitt
ausgefällt. Auf der Ansteuerungselektrode wird kein Au
elektrolytisch ausgeschieden, da sich auf der Ansteuerung
selektrode der als elektrischer Isolator wirkende SiO2-Film
befindet. Die SiO2-Hemmschicht wird mittels einer wässrigen
Lösung von Fluorwasserstoffsäure, der Abdecklack durch Ace
ton vom zu befüllenden Abschnitt entfernt. Eine durch Mi
schen und feinstes Verteilen von feinen ferroelektrischen
Bleizirkonat-Titanat-Partikeln (PZT) in PVDF hergestellte
Suspension wird auf das Substrat aufgeschmolzen und mittels
einer Klinge außerhalb der zu befüllenden Abschnitte ent
fernt. Ebenso wird ferner das während des Aufschmelzens
verwendete Lösungsmittel entfernt.
Daraufhin wird der aus Au bestehende Belag mittels einer
aus Jod und Kaliumjodid bestehenden wäßrigen Lösung ver
flüssigt und entfernt und dadurch das bimorphe Betätigungs
glied gemäß Fig. 6 dargestellt. An dieses Betätigungsglied
wird zur Polarisation des piezoelektrischen Materials eine
hohe Gleichspannung angelegt, wodurch ein hoher piezoelek
trischer Beiwert bzw. Koeffizient resultiert. Wird eine
Spannung von 200 V an das resultierende Betätigungsglied
angelegt, so ist eine Verschiebung von
± 0,12 µm in der X-Richtung möglich.
Ein zweites Ausführungsbeispiel des Betätigungsglieds vom
bimorphen Typ ist in Fig. 7 dargestellt. Wie bei dem Betä
tigungsglied gemäß Fig. 6 ist die Längsrichtung des Betäti
gungsglieds eine zum Substrat parallele Richtung. Die Dicke
des photoempfindlichen Materials braucht nicht übermäßig
erhöht werden, und es kann eine größere Verschiebung in ei
ner zum Substrat parallelen Richtung erzielt werden.
Die einzelnen Schritte zur Herstellung des Betätigungs
glieds vom bimorphen Typ gemäß Fig. 7 werden nachstehend
unter Bezugnahme auf die Fig. 8A bis 8E näher beschrieben,
in denen die Stufen dieser Herstellungsschritte anhand ei
nes Schnittes entlang der Linie A-A' aus Fig. 7 veranschau
licht sind. Wie in Fig. 8A gezeigt, wird eine Hilfsschicht
40 auf ein Substrat 30 aufgebracht und galvanisch oberflä
chenbehandelte Elektroden 31, 31' und 31" unter Verwendung
einer Schablone ausgebildet. Ein photoempfindliches Materi
al wird auf den resultierenden Aufbau beschichtet. Das
Substrat besteht aus geschmolzenem Quarz, ein durch Auf
spritzen gebildeter ZnO-Film repräsentiert die Hilfs
schicht, und lediglich ein gewünschter Abschnitt wurde der
fotolithographischen Strukturbildung unterzogen. Eine wäß
rige Lösung von Essigsäure wurde als Lösung zum Ätzen der
ZnO-Schicht verwendet. Das Material der Elektrode und das
photoempfindliche Material sind dieselben, wie sie auch bei
der Herstellung des Betätigungsglieds nach Fig. 6 Verwen
dung finden. Der Resistfilm besitzt eine Dicke von 30 µm.
Das photoempfindliche Material 32 wird zur Ausbildung von
Strukturen 33, 33' und 33" gemäß Fig. 8B belichtet, entwik
kelt und entfernt. Wie ferner in Fig. 8C gezeigt wird, wird
Ni zur Bildung von Ansteuerungselektroden 34, 34' und 34"
elektrolytisch auf die galvanisch oberflächenbehandelte
Elektrode abgeschieden. Unter Anwendung derselben Prozedu
ren wie bei dem Betätigungsglied gemäß Fig. 6 werden, wie
in Fig. 8D dargestellt, Schichten aus piezoelektrischem Ma
terial 36 und 36' eingebracht. Schließlich wird gemäß Fig.
8E die Hilfsschicht 40 mittels einer wäßrigen Essigsäurelö
sung entfernt. Nach der Polarisation wird durch den resul
tierenden Aufbau das bimorphe Betätigungsglied gemäß Fig. 7
dargestellt. Die Breite der Ansteuerungselektroden beträgt
3 µm, die Breite der aufgefüllten Abschnitte 5 µm, und die
Länge der Hilfsschicht in der zum Substrat des Betätigungs
glieds parallelen Richtung 1 µm. Als piezoelektrisches Ma
terial wird P(VDF-TrFE) verwendet. Wird eine Spannung von
100 V an das resultierende Betätigungsglied angelegt, be
trägt die Verschiebung in der X-Richtung ± 0,3 µm. Die Ver
schiebung in X-Richtung kann auf diese Weise durch die Ver
wendung der Hilfsschicht vergrößert werden, ohne dabei die
Dicke des photoempfindlichen Materials in der zum Substrat
lotrechten Richtung zu erhöhen, und Mikrostrukturen können
aufgrund der relativ geringen Dicke des photoempfindlichen
Materials erzeugt werden.
Vorstehend wurde das Verfahren zur Herstellung des Betäti
gungsglieds mittels ultravioletten Lichts und das durch das
Verfahren hergestellte Betätigungsglied beschrieben. Alter
nativ kann jedoch zur Verringerung der Breite der Ansteue
rungselektroden als Lichtquelle zur Belichtung Synchrotron-
Strahlungslicht verwendet werden. Ferner können die struk
turellen Breiten der Ansteuerungselektroden und des befüll
ten Abschnitts zum Betreiben des Betätigungsglieds mit ei
ner kleinen Spannung verringert werden.
Fig. 9 zeigt eine perspektivische Ansicht eines gestapelten
Betätigungsglieds gemäß einem vierten Ausführungsbeispiel.
Das gestapelte Betätigungsglied wird unter Anwendung der
selben Prozeduren wie bei dem Betätigungsglied gemäß Fig. 7
unter Verwendung einer Hilfsschicht hergestellt. Obwohl
nicht dargestellt, sind Elektroden wechselseitig sowie auf
elektrische Weise mittels galvanisch oberflächenbehandelten
Elektroden verbunden und angeschlossen. Bei dem Betäti
gungsglied gemäß dem vorliegenden Ausführungsbeispiel be
trägt der piezoelektrische Koeffizient d33, so daß die mit
der Erzeugung von Mikrostrukturen mittels fotolithografi
scher Verfahren zusammenhängenden Erfordernisse, wie bei
spielsweise die Strukturbreite der Ansteuerungselektroden
und die Dicke des photoempfindlichen Materials weniger ein
schränkend sind. Die strukturelle Breite der Ansteuerungse
lektrode beträgt 5 µm, die strukturelle Breite der Ein
bring-Abschnitte 10 µm, und die Anzahl der Einbring-Ab
schnitte 100. Ein durch Dispergieren feiner ferroelektri
scher PZT-Partikel in PVDF erhaltener Grundstoff wird als
einzubringendes piezoelektrisches Material verwendet. Dies
mal kann bei Anlegen einer Spannung von 170 V eine Ver
schiebung von ± 0,5 µm erzielt werden.
Fig. 10 zeigt eine Darstellung zur Erläuterung einer bei
einem STM verwendbaren STM-Sonde. Die STM-Sonde wird durch
Verbinden einer einen Tunnelstrom erzeugenden Sonden-Elek
trode 50 mit dem freien Ende einer bimorphen, freitragenden
Tragfläche gemäß Fig. 7 gebildet. Das herkömmliche bimorphe
ZnO-Betätigungsglied nach S. Akamine et al. besitzt eine
maximale Verschiebung in der zur Substratoberfläche recht
winkligen Richtung. Bei der STM-Sonde gemäß dem vorliegen
den Ausführungsbeispiel ist die zur Maximierung der Ver
schiebung anzusteuernde Richtung eine Richtung parallel zur
Substratoberfläche. Eine STM-Überwachung kann durchgeführt
werden, während die Abtastung der zu messenden Oberfläche
einer zu messenden Probe aufrecht erhalten wird. Werden ei
ne Vielzahl von STM-Sonden auf einer Substratoberfläche an
geordnet, können eine Vielzahl von Lageorten auf der Probe
zeitgleich bzw. auf simultane Weise betrachtet werden.
Fig. 11 zeigt eine Aufsicht einer weiteren Anwendung bei
einem X-Y-Objekttisch gemäß einem sechsten Ausführungsbei
spiel. Fig. 12 zeigt eine Querschnittsansicht entlang einer
Linie B-B' aus Fig. 11. Eine Vielzahl von in Stapelbauweise
angeordneten Betätigungsgliedern 100 gemäß Fig. 9 wird auf
einem Objekttisch 203 befestigt, wobei eine zum Substrat
parallele zweidimensionale Verschiebung mittels Drehein
richtungen 202 erhalten wird. Die Gelenke 202 und der Ob
jekttisch 203 werden als einige der Ansteuerungselektroden
bei der Herstellung der gestapelten Betätigungsglieder auf
den Hilfsschichten angebracht. Abschnitte 101 und 201 re
präsentieren Kontaktabschnitte zwischen dem Substrat an den
Elektroden des gestapelten Betätigungsglieds und den Endab
schnitten der Gelenke. Bei herkömmlichen X-Y-Objekttischen
werden der Objekttisch-Teil und der Betätigungsglied-Teil
unabhängig voneinander hergestellt und montiert und darauf
hin miteinander verbunden. Gemäß dem vorliegenden Ausfüh
rungsbeispiel wird demgegenüber der Objekttisch mittels der
Fotolithografie in integraler Bauweise hergestellt, wodurch
Montagefehler grundlegend und darüber hinaus zusätzlich
durch selbständige Ausrichtung eliminiert werden. Ein in
einem Anschlußbereich von durch die Verwendung eines Klebe
materials verursachten mechanischen Streuungen und Absorp
tion einer Verschiebung freier X-Y-Objekttisch kann erhal
ten werden, da keine Anschlußbereiche verwendet werden.
Wie obenstehend beschrieben wurde, wird der piezoelektri
sche Effekt in Übereinstimmung mit dem Betätigungsglied ge
mäß den vorstehenden Ausführungsbeispielen sowie dessen
Herstellungsverfahren zur Vergrößerung einer Verschiebung
in einer Richtung parallel zur Oberfläche eines Substrats
eingesetzt. Strukturen können auf simultane Weise mittels
fotolithografischer Verfahren aufgebaut werden, um ein von
mechanischen Streuungen und Montagefehlern freies Betäti
gungsglied darzustellen.
Somit wird ein ein Mikro-Betätigungsglied mit einem pie
zoelektrischen Material und einer benachbart zu dem pie
zoelektrischen Material angeordneten Ansteuerungselektrode
wie folgt hergestellt. Eine galvanisch oberflächenbehandel
te Elektrode wird auf einem Substrat gebildet. Eine pho
toempfindliche Schicht wird auf dem Substrat, auf dem die
galvanisch oberflächenbehandelte Elektrode angeordnet ist,
aufgebracht. Die photoempfindliche Schicht wird mit einem
gewünschten Muster belichtet. Die photoempfindliche Schicht
wird zur teilweisen Entfernung der photoempfindlichen
Schicht entwickelt. Ein Metall wird galvanisch in einen von
der photoempfindlichen Schicht befreiten Substratbereich
eingebracht, so daß eine Ansteuerungselektrode ausgebildet
wird. Eine verbleibende photoempfindliche Schicht wird ent
fernt. Zum Abschluß wird ein piezoelektrisches Material se
lektiv in einen zur Ansteuerungselektrode benachbarten
Substratbereich eingebracht.
Claims (12)
1. Verfahren zur Herstellung eines Mikro-Betätigungs
glieds mit einem piezoelektrischen Material und einer be
nachbart zum piezoelektrischen Material angeordneten An
steuerungselektrode,
gekennzeichnet durchdie Verfahrensschritte:
- - Ausbilden einer galvanisch oberflächenbehandelten Elektrode (11; 31, 31', 31") auf einem Substrat (19; 30),
- - Aufbringen einer Schicht (12; 32) aus photoempfindli chem Material auf dem Substrat (10; 30), auf dem die galva nisch oberflächenbehandelte Elektrode (11; 31, 31', 31") aufgebracht ist,
- - Belichten der photoempfindlichen Schicht (12; 32) in einem vorgegebenen Muster,
- - Entwickeln der belichteten photoempfindlichen Schicht (12; 32) zur teilweisen Entfernung der photoempfindlichen Schicht (12; 32),
- - galvanisches Einbringen von Metall in einen Substrat bereich, von dem die photoempfindliche Schicht entfernt ist, und Ausbilden einer Ansteuerungselektrode (14, 14'; 34, 34', 34"),
- - Entfernen der verbleibenden photoempfindlichen Schicht, und
- - Einbringen eines piezoelektrischen Materi als (16; 36, 36') in einen zur Ansteuerungselektrode (14, 14'; 34, 34', 34") benachbarten Bereich des Substrats (19; 30).
2. Verfahren nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch die
Bildung einer Hilfsschicht (40) auf dem Substrat (10, 30)
vor der Ausbildung der galvanisch oberflächenbehandelten
Elektrode (11; 31, 31', 31") und Entfernen der Hilfsschicht
nach dem Einbringen des piezoelektrischen Materials.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzei
chent, daß das Entfernen der photoempfindlichen Schicht die
folgenden Verfahrensschritte umfaßt:
- - Entfernen der photoempfindlichen Schicht mit Ausnahme eines zur Ansteuerungselektrode benachbarten Bereichs,
- - versenktes Einbringen eines Hemmungs-Füllmaterials (21) in einem Bereich mit Ausnahme des zur Ansteuerungse lektrode benachbarten Bereichs,
- - Entfernen der photoempfindlichen Schicht im zur An steuerungselektrode benachbarten Bereich, und
- - Entfernen des Hemmungs-Füllmaterials nach dem Ein bringen des piezoelektrischen Materials.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß die photoempfindliche Schicht mit Rönt
genstrahlen belichtet wird.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß die photoempfindliche Schicht mit Syn
chrotron-Lichtstrahlen belichtet wird.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß die Belichtung der photoempfindlichen
Schicht die folgenden Verfahrensschritte umfaßt:
- - Anordnen einer Maske (1) mit einer gemusterten Öff nung auf der photoempfindlichen Schicht, und
- - Abstrahlen des hochenergetischen Lichts (2) durch die Maske (1) auf die photoempfindliche Schicht.
7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet,
daß das hochenergetische Licht eine Wellenlänge von nicht
mehr als 400 nm aufweist.
8. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß das piezoelektrische Material im wesentlichen aus einem
piezoelektrischen Polymer besteht.
9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet,
daß das piezoelektrische Polymer im wesentlichen aus einem
Kopolymer von Vinyliden-Fluorid und Äthylen-Trifluorid be
steht.
10. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch
gekennzeichnet, daß das piezoelektrische Material im we
sentlichen aus einem Material besteht, das durch Verteilen
feiner ferroelektrischer Teilchen in einem Polymer oder in
Gummi erhalten wird.
11. Mikro-Betätigungsglied mit einem piezoelektrischen
Material (16, 36, 36') und einer benachbart zu dem
piezoelektrischen Material angeordneten Ansteuerungselektrode
(14, 14'; 34, 34', 34"), das nach einem der Ansprüche 1 bis
7 hergestellt worden ist.
12. Mikro-Betätigungsglied nach Anspruch 11, dadurch
gekennzeichnet, daß die Ansteuerungselektrode (14, 14'; 34,
34', i34") aus einer Vielzahl von parallel zueinander ange
ordneten Elektroden besteht.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30125492A JP3140223B2 (ja) | 1992-11-11 | 1992-11-11 | マイクロアクチュエータおよびその作製方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4338433A1 DE4338433A1 (de) | 1994-06-09 |
DE4338433C2 true DE4338433C2 (de) | 1998-04-16 |
Family
ID=17894616
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19934338433 Expired - Fee Related DE4338433C2 (de) | 1992-11-11 | 1993-11-10 | Mikro-Betätigungsglied und Verfahren zu dessen Herstellung |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5454146A (de) |
JP (1) | JP3140223B2 (de) |
DE (1) | DE4338433C2 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102021128880B3 (de) | 2021-11-05 | 2022-09-08 | Infineon Technologies Ag | Integriertes energy-harvesting-system |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6420819B1 (en) * | 1994-01-27 | 2002-07-16 | Active Control Experts, Inc. | Packaged strain actuator |
JP2924664B2 (ja) * | 1994-09-28 | 1999-07-26 | 住友電気工業株式会社 | 微細セラミックス構造体の形成方法 |
JP3576655B2 (ja) * | 1995-09-14 | 2004-10-13 | キヤノン株式会社 | 微小探針の製造方法及びその製造用雌型基板、並びにその微小探針を有するプローブの製造方法 |
JP3838381B2 (ja) * | 1995-11-22 | 2006-10-25 | 株式会社アドバンテスト | プローブカード |
JPH10282130A (ja) * | 1997-04-01 | 1998-10-23 | Canon Inc | プローブとそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 |
US6265139B1 (en) * | 1998-12-30 | 2001-07-24 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Method for fabricating piezoelectric/electrostrictive ceramic micro actuator using photolithography |
DE69931370T2 (de) | 1999-10-01 | 2007-02-01 | Stmicroelectronics S.R.L., Agrate Brianza | Verfahren zur Herstellung eines aufgehängten Elements für elektrische Verbindungen zwischen zwei Teilen eines Micromechanismus, welche relativ zueinander beweglich sind |
EP1122721A1 (de) * | 2000-02-02 | 2001-08-08 | STMicroelectronics S.r.l. | Verfahren zur Herstellung einer microintegrierten Struktur welche geschützt ist gegen Verunreinigungsteilen, und Erhaltung solch einer microintegrierten Struktur |
US7296329B1 (en) * | 2000-02-04 | 2007-11-20 | Agere Systems Inc. | Method of isolation for acoustic resonator device |
JP2001326999A (ja) * | 2000-05-18 | 2001-11-22 | Olympus Optical Co Ltd | 圧電構造体の加工方法および複合圧電体の製造方法 |
US6494433B2 (en) | 2000-06-06 | 2002-12-17 | The Regents Of The University Of Michigan | Thermally activated polymer device |
US20040125509A1 (en) * | 2002-12-27 | 2004-07-01 | Kr Precision Public Company Limited | Method for fabricating multilayered thin film PZT structures for small form factors |
AU2003300775A1 (en) * | 2003-09-03 | 2005-04-21 | Midwest Research Institute | Zno/cu(inga)se2 solar cells prepared by vapor phase zn doping |
US7565723B2 (en) * | 2004-03-30 | 2009-07-28 | Brother Kogyo Kabushik Kaisha | Piezoelectric actuator and method of fabricating piezoelectric actuator |
EP2018673B1 (de) * | 2006-05-17 | 2014-01-08 | MicroGaN GmbH | Mikromechanische aktoren aus halbleiterverbindungen auf basis von nitriden von hauptgruppe-iii-elementen |
US9608589B2 (en) * | 2010-10-26 | 2017-03-28 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Method of forming acoustic resonator using intervening seed layer |
DE102016225671A1 (de) * | 2016-12-20 | 2018-06-21 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Piezoelektrischer Stapelaktuator und Verfahren zur Herstellung desselben |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4912822A (en) * | 1988-01-27 | 1990-04-03 | Stanford University | Method of making an integrated scanning tunneling microscope |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5187367A (en) * | 1990-08-14 | 1993-02-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Cantilever type probe, scanning tunneling microscope and information processing device equipped with said probe |
-
1992
- 1992-11-11 JP JP30125492A patent/JP3140223B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1993
- 1993-11-10 DE DE19934338433 patent/DE4338433C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1993-11-10 US US08/149,903 patent/US5454146A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4912822A (en) * | 1988-01-27 | 1990-04-03 | Stanford University | Method of making an integrated scanning tunneling microscope |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
US-Z.: IEEE Electronic Device Letters, Vol. 10, Nr. 11, 1989, S. 490-492 * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102021128880B3 (de) | 2021-11-05 | 2022-09-08 | Infineon Technologies Ag | Integriertes energy-harvesting-system |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5454146A (en) | 1995-10-03 |
DE4338433A1 (de) | 1994-06-09 |
JPH06151998A (ja) | 1994-05-31 |
JP3140223B2 (ja) | 2001-03-05 |
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