DE4337518C1 - Verfahren zur Überwachung eines elektronischen Schaltgerätes - Google Patents

Verfahren zur Überwachung eines elektronischen Schaltgerätes

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DE4337518C1 DE19934337518 DE4337518A DE4337518C1 DE 4337518 C1 DE4337518 C1 DE 4337518C1 DE 19934337518 DE19934337518 DE 19934337518 DE 4337518 A DE4337518 A DE 4337518A DE 4337518 C1 DE4337518 C1 DE 4337518C1
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Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Überwachung eines elektronischen Schaltgerätes, z B. eines optoelektronischen, induktiven oder kapazitiven Näherungsschalters oder eines Strömungswächters, mit einem von außen beein­ flußbaren Anwesenheitsindikator, z. B. einem Oszillator, mit einem von dem Anwesenheitsindikator steuerbaren elektronischen Schalter, z. B. einem Tran­ sistor, einem Thyristor oder einem Triac, und mit einem Zustandsindikator, bei welchem der Anwesenheitsindikator dann den Schaltzustand des elektro­ nischen Schalters umsteuert, wenn der Beeinflussungszustand des Anwesen­ heitsindikators eine vorgegebene Ansprechschwelle überschreitet, bei welchem durch den Zustandsindikator mindestens drei unterschiedliche Beeinflussungs­ zustände des Anwesenheitsindikators unterschieden werden - Anwesenheitsindi­ kator nicht oder nur gering beeinflußt (Beeinflussungszustand I), Anwesen­ heitsindikator innerhalb eines mittleren Beeinflussungsbereichs beeinflußt (Beeinflussungszustand II) und Anwesenheitsindikator oberhalb des mittleren Beeinflussungsbereichs beeinflußt (Beeinflussungszustand III) - und bei welchem sowohl im Falle seltener Umsteuerung des elektronischen Schalters - statischer Betrieb - als auch im Falle häufiger Umsteuerung des elektro­ nischen Schalters - dynamischer Betrieb - vom Zustandsindikator ein Stör­ signal ausgegeben wird, wenn der Anwesenheitsindikator zumindest kaum noch den Beeinflussungszustand I oder III erreicht, sowie ein elektronisches Schaltgerät zur Verwirklichung dieses Verfahrens nach dem Oberbegriff des Anspruchs 10.
Elektronische Schaltgeräte der hier grundsätzlich in Rede stehenden Art sind kontaktlos ausgeführt und werden seit nunmehr etwa fünfundzwanzig Jahren in zunehmendem Maße anstelle von elektrischen, mechanisch betätigten Schalt­ geräten, die kontaktbehaftet ausgeführt sind, verwendet, insbesondere in elektrischen bzw. elektronischen Meß-, Steuer- und Regelkreisen. Das gilt insbesondere für sog. Näherungsschalter, d. h. für elektronische Schaltge­ räte, die berührungslos arbeiten. Mit solchen Schaltgeräten wird indiziert, ob sich ein Beeinflussungselement, für das der entsprechende Näherungs­ schalter sensitiv ist, dem Näherungsschalter hinreichend weit genähert hat. Hat sich nämlich ein Beeinflussungselement, für das der entsprechende Näherungsschalter sensitiv ist, dem Näherungsschalter hinreichend weit ge­ nähert, so steuert der einen wesentlichen Bestandteil des Näherungsschal­ ters bildende Anwesenheitsindikator den elektronischen Schalter um; bei einem als Schließer ausgeführten Schaltgerät wird der nichtleitende elek­ tronische Schalter nunmehr leitend, während bei einem als Öffner ausge­ führten Schaltgerät der leitende elektronische Schalter nunmehr sperrt. (Mit Schaltgeräten der in Rede stehenden Art kann auch indiziert werden, ob eine physikalische Größe eines Beeinflussungsmediums, für die das Schalt­ gerät sensitiv ist, einen entsprechenden Wert überschreitet oder unter­ schreitet.)
Wesentlicher Bestandteil von elektronischen Schaltgeräten der zuvor beschrie­ benen Art ist also u. a. der von außen beeinflußbare Anwesenheitsindikator.
Als Anwesenheitsindikator kann z. B. ein induktiv oder kapazitiv beeinfluß­ barer Oszillator vorgesehen sein; es handelt sich dann um induktive oder kapazitive Näherungsschalter (vgl. z. B. die deutschen Offenlegungsschriften bzw. Auslegeschriften bzw. Patentschriften 19 51 137, 19 66 178, 19 66 213, 20 36 840, 21 27 956, 22 03 038, 22 03 039, 22 03 040, 22 03 906, 23 30 233, 23 31 732, 23 56 490, 26 13 423, 26 16 265, 26 16 773, 26 28 427, 27 11 877, 27 44 785, 29 43 911, 30 04 829, 30 38 141, 30 38 692, 31 20 844, 32 09 673, 32 38 396, 32 50 113, 33 20 975, 33 26 440, 33 27 329, 34 20 236, 34 27 498, 35 19 714, 36 05 499, 37 22 334, 37 22 335, 37 22 336, 37 23 008, 37 44 751, 37 44 756, 38 18 499, 39 11 009, 39 36 553, 40 23 502, 40 32 001, 41 14 763, 41 35 876, 42 00 207, 42 09 396, 42 25 267, 42 33 325, 42 33 488, 42 33 922, 42 38 992, 43 13 084, 43 28 366, 43 30 140).
Als Anwesenheitsindikator kann auch ein Fotowiderstand, eine Fotodiode oder ein Fototransistor vorgesehen sein; es handelt sich dann um optoelektronische Näherungsschalter (vgl. z. B. die deutschen Offenlegungsschriften bzw. Patent­ schriften 28 24 582, 30 38 102, 33 27 328, 35 14 643, 35 18 025, 36 05 885, 43 18 623, 43 28 553, 43 30 223).
Als Anwesenheitsindikator kann schließlich auch ein Temperaturmeßelement vorgesehen sein; es handelt sich dann um Strömungswächter (vgl. z. B. die deutschen Offenlegungsschriften bzw. Patentschriften 37 13 981, 38 11 728, 38 25 059, 39 11 008, 39 43 437).
Bei induktiven Näherungsschaltern gilt für den Oszillator, solange ein Metallteil einen vorgegebenen Abstand noch nicht erreicht hat, K × V = 1 mit K = Rückkopplungsfaktor und V = Verstärkungsfaktor des Oszillators, d. h. der Oszillator schwingt. Erreicht das entsprechende Metallteil den vorgeschriebenen Abstand, so führt die zunehmende Bedämpfung des Oszil­ lators zu einer Verringerung des Verstärkungsfaktors V, d. h. die Ampli­ tude der Oszillatorschwingung geht zurück bzw. der Oszillator hört auf zu schwingen. Bei kapazitiven Näherungsschaltern gilt für den Oszillator, solange ein Ansprechkörper die Kapazität zwischen einer Ansprechelektrode und einer Gegenelektrode noch nicht beeinflußt, K × V < 1, d. h. der Oszillator schwingt nicht. Erreicht der Ansprechkörper den vorgegebenen Abstand, so führt die steigende Kapazität zwischen der Ansprechelektrode und der Gegenelektrode zu einer Vergrößerung des Rückkopplungsfaktors K, so daß K × V = 1 wird, d. h. der Oszillator beginnt zu schwingen. Bei bei­ den Ausführungsformen - induktiver Näherungsschalter und kapazitiver Nähe­ rungsschalter - wird abhängig von den unterschiedlichen Zuständen des Oszil­ lators der elektronische Schalter, z. B. ein Transistor, ein Thyristor oder ein Triac, gesteuert.
Strömungsmeßgeräte, insbesondere kalorimetrisch arbeitende Strömungswächter, arbeiten in der Regel mit einer Differenztemperaturmessung. Ein erstes Temperaturmeßelement mißt eine durch ein Heizelement und durch ein strömendes Medium bestimmte Temperatur, während ein zweites Temperaturmeßelement die durch das strömende Medium bestimmte Temperatur mißt. Bei Überschreiten einer vorgegebenen Ansprechtemperaturdifferenz zwischen den beiden Tempera­ turmeßelementen wird der elektronische Schalter umgesteuert.
Optoelektronische Näherungsschalter weisen einen Lichtsender und einen Licht­ empfänger auf und werden auch als Lichtschranken bezeichnet. Dabei unter­ scheidet man zwischen einem Lichtschrankentyp, bei dem der Lichtsender und der Lichtempfänger auf entgegengesetzten Seiten einer Überwachungsstrecke angeordnet sind - Einweglichtschranke -, und einem Lichtschrankentyp, bei dem der Lichtsender und der Lichtempfänger am gleichen Ende einer Überwa­ chungsstrecke angeordnet sind, während ein am anderen Ende der Überwachungs­ strecke angeordneter Reflektor den vom Lichtsender ausgehenden Lichtstrahl zum Lichtempfänger zurückreflektiert - Reflexlichtschranke. In beiden Fäl­ len spricht der Anwesenheitsindikator an, wenn der normalerweise vom Licht­ sender zum Lichtempfänger gelangende Lichtstrahl durch ein in die Überwa­ chungsstrecke gelangtes Beeinflussungselement unterbrochen wird. Es gibt jedoch auch Lichtschranken des zuletzt beschriebenen Lichtschrankentyps, bei denen der vom Lichtsender kommende Lichtstrahl nur durch ein entspre­ chendes Beeinflussungselement zum Lichtempfänger zurückreflektiert wird - Reflexlichttaster.
Im folgenden wird als Beispiel immer ein Reflexlichttaster behandelt. Gleich­ wohl gelten alle Ausführungen jedoch immer auch für andere Arten von elek­ tronischen Schaltgeräten der eingangs beschriebenen und zuvor erläuterten Art, insbesondere für andere optoelektronische, induktive und kapazitive Näherungsschalter und für Strömungswächter.
Die heutigen Anforderungen an elektronische Schaltgeräte beschränken sich nicht mehr allein auf die Steuerung des elektronischen Schalters. Die Selbstüberwachung spielt eine zunehmende Rolle, um eine höhere Funktionssi­ cherheit der elektronischen Schaltgeräte zu erreichen. Ein drohender Aus­ fall oder eine schlechte, aber noch ausreichende Funktion können beispiels­ weise über eine von dem Zustandsindikator angesteuerte lichtemittierende Diode (LED) angezeigt werden, um somit einen Totalausfall und damit teure Standzeiten oder Fehlabläufe oder gar die Gefährdung von Bedienungspersonal in Produktionsanlagen zu vermeiden. Ein weiterer wesentlicher Bestandteil von elektronischen Schaltgeräten der eingangs und zuvor beschriebenen Art ist somit der Zustandsindikator. Durch diesen Zustandsindikator werden einerseits unterschiedliche Beeinflussungszustände des Anwesenheitsindika­ tors bzw. unterschiedliche Schaltzustände des elektronischen Schalters ange­ zeigt, andererseits Störungen oder sich anbahnende Störungen angezeigt. Sol­ che Störungen entstehen beispielsweise bei Reflexlichttastern dadurch, daß die Optik des Lichtsenders bzw. des Lichtempfängers verschmutzt oder dadurch, daß eine hohe Hintergrundlichtintensität den Lichtempfänger beeinflußt.
Zunächst sind elektronische, berührungslos arbeitende Schaltgeräte mit einem Zustandsindikator bekannt, bei denen der Zustandsindikator nur die dualen Informationen "Ansprechschwelle unterschritten" und "Ansprechschwelle über­ schritten" liefert. Ein solcher Zustandsindikator kann nur sehr eingeschränkt Informationen über eine Störung des elektronischen Schalters liefern.
Bei elektronischen Schaltgeräten der in Rede stehenden Art ist nun die An­ sprechschwelle - leider - keine unabhängig von Umgebungseinflüssen fixier­ bare Größe. Sie wird vielmehr, ausgehend von einem gewollten und bei der Herstellung mehr oder weniger genau fixierten Wert durch Umgebungseinflüsse verändert, bei induktiven Näherungsschaltern z. B. durch Temperatureinflüsse, bei kapazitiven Näherungsschaltern z. B. durch Temperatureinflüsse und durch Feuchtigkeitseinflüsse, bei optoelektronischen Näherungsschaltern z. B. durch Temperatureinflüsse und, wie bereits erwähnt, durch mögliche Ver­ schmutzungen der Optik. Ein dem theoretischen Schaltpunkt benachbarter Bereich - unterhalb und oberhalb des theoretischen Schaltpunktes - gilt des­ halb als "unsicherer Bereich", dieser entspricht dem Beeinflussungszustand III.
Bekannte elektronische Schaltgeräte - vgl. die DE-C 30 38 102, die DE-C 40 23 529 und die DE-C 41 11 297 - nutzen eine Beeinflussung des Anwesen­ heitsindikators innerhalb des "unsicheren Bereiches", um eine Störung des elektronischen Schaltgerätes anzuzeigen. Hierbei tritt das Problem auf, daß auch bei einer ungestörten Umsteuerung des elektronischen Schalters der "unsichere Bereich" immer durchlaufen wird. Somit erfolgt häufig die Anzeige einer Störung, obwohl eine korrekte Umsteuerung des elektronischen Schalt­ gerätes erfolgt ist; die Signifikanz der Anzeige der Störung ist somit herabgesetzt.
Ein bekanntes Verfahren zur Überwachung eines elektronischen Schaltgerätes, von dem die Erfindung ausgeht, hier insbesondere eines Reflexlichttasters, welches in dem Reflexlichttaster OJ 500-M1K-E 23 der Firma PEPPERL + FUCHS realisiert ist, unterscheidet zwischen zwei Betriebszuständen des Reflexlichttasters. In dem Fall, daß der elektronische Schalter nur selten umgesteuert wird, spricht man vom statischen Betrieb, beispielsweise bei der Überwachung eines etwaigen Abrisses einer ständig laufenden Papierbahn. Im Falle einer eher häufigen Umsteuerung des Reflexlichttasters spricht man vom dynamischen Betrieb, bei­ spielsweise bei der Detektion einzelner am Reflexlichttaster vorbeilaufender Gegenstände mit einer zumindest teilweise reflektierenden Oberfläche. Bei dem bekannten Verfahren zur Überwachung des Reflexlichttasters muß dieser jeweils extern auf den statischen oder dynamischen Betrieb eingestellt werden. Ist der Reflexlichttaster für den statischen Betrieb eingestellt, so gibt der Zu­ standsindikator ein Störsignal aus, sobald der Anwesenheitsindikator im "unsicheren Bereich" beeinflußt ist. Somit liefert das bekannte Verfahren zur Überwachung eines Reflexlichttasters im statischen Betrieb nur einge­ schränkt signifikante Störsignale, da beispielsweise durch eine nur kurz­ zeitige Veränderung der Papierbahn ein Störsignal ausgelöst wird. Auch im dynamischen Betrieb liefert das bekannte Verfahren zur Überwachung eines Reflexlichttasters nur eingeschränkt signifikante Störsignale, da beispiels­ weise bereits durch einen schlechter reflektierenden Gegenstand, welcher im "unsicheren Bereich" detektiert wird, ein Störsignal ausgelöst wird.
Der Erfindung liegt nun die Aufgabe zugrunde, das in Rede stehende Verfahren zur Überwachung eines elektronischen Schaltgerätes und ein elektronisches Schaltgerät zur Verwirklichung dieses Verfahrens so auszugestalten und weiterzubilden, daß bei seinem Einsatz, ohne Umschaltung zwischen statischem und dynamischem Betrieb, ein Störsignal mit hoher Signifikanz ausgelöst wird.
Das erfindungsgemäße Verfahren zur Überwachung eines elektronischen Schalt­ gerätes, bei dem die zuvor hergeleitete und aufgezeigte Aufgabe gelöst ist, ist nun zunächst und im wesentlichen dadurch gekennzeichnet, daß bei einem ein jeweils vorgegebenes Verhältnis übersteigenden jeweiligen Verhältnis von einem Zeitraum mit dem Anwesenheitsindikator im Beeinflussungszustand II zu einem Zeitraum mit den Anwesenheitsindikator in jeweils einem der Beein­ flussungszustände I oder III vom Zustandsindikator ein Störsignal ausgege­ ben wird. Im Hinblick auf das elektronische Schaltgerät zur Durchführung des Verfahrens wird die aufgezeigte Aufgabe durch die Merkmale des Anspruchs 10 gelöst. Durch dieses Verfahren bzw. ein elektronisches Schaltgerät zur Verwirklichung dieses Verfahrens wird gewährleistet, daß, unabhängig davon, ob das elektronische Schaltgerät im statischen oder dynamischen Betrieb eingesetzt wird, ein Störsignal mit hoher Signifikanz ausgegeben wird. Nur durch diese hohe Signifikanz des Störsignals kann gewährleistet werden, daß die Einleitung eines wie auch immer gearteten Arbeitsablaufes zur Behebung der Störung oder zur Vermeidung von weitergehenden Schäden allein aufgrund des Störsignals erfolgen kann. Die hohe Signifikanz des Störsignals wird dadurch gewährleistet, daß ein Störsignal erst ausgegeben wird, wenn sich der Anwe­ senheitsindikator beispielsweise länger im Beeinflussungszustand II - "un­ sicherer Bereich" - befindet, als er sich vorher im Beeinflussungszustand III befunden hat. Durch diese Maßnahme wird gewährleistet, daß ein Störsig­ nal sowohl im statischen Betrieb als auch im dynamischen Betrieb erst dann ausgegeben wird, wenn tatsächlich eine Beeinträchtigung der Funktion des elektronischen Schaltgerätes zu befürchten ist.
Im einzelnen gibt es nun verschiedene Möglichkeiten, die zuvor allgemein erläuterte Lehre der Erfindung auszugestalten und weiterzubilden.
Dadurch, daß das Verhältnis aus den im einem festgelegten Gesamtzeitraum auf­ getretenen Beeinflussungszuständen ermittelt wird, kann der Zeitraum bis zur Ausgabe eines Störsignals bei einer Beeinträchtigung der Funktion des elektronischen Schaltgerätes gezielt beeinflußt werden. Der Zeitraum bis zur Ausgabe eines Störsignals liegt bei einem derart ausgestalteten Ver­ fahren in der Größenordnung des festgelegten Gesamtzeitraums, während dessen die Beeinflussungszustände bewertet werden. Es besteht nun zunächst die Mög­ lichkeit, das Verhältnis aus den in aufeinanderfolgenden Gesamtzeiträumen aufgetretenen Beeinflussungszuständen am Ende des jeweiligen Gesamtzeitrau­ mes zu ermitteln. Ein derart ausgestaltetes Verfahren besitzt den Vorteil, daß ein Störsignal mindestens während eines dem Gesamtzeitraum entsprechen­ den Zeitraumes angezeigt wird. Eine weitere Ausgestaltung des Verfahrens kann dahingehend erfolgen, daß das Verhältnis jeweils aus den in einem zu­ rückliegenden Gesamtzeitraum auftretenden Beeinflussungszuständen ermittelt wird. Das bedeutet, daß nur die in einem zurückliegenden Zeitraum vertre­ tenen Zeiträume des Anwesenheitsindikators in den betrachteten Beeinflussungs­ zuständen bewertet wird, - wodurch ein schnelles Ansprechen des Zustandsindi­ kators bei einer deutlichen Beeinträchtigung des elektronischen Schaltgerä­ tes gewährleistet ist.
Betrachtet man also die Zeiträume, während derer der Anwesenheitsindikator in einem der Beeinflussungszustände beeinflußt ist, innerhalb eines festgelegten Gesamtzeitraumes, so kann die erfindungsgemäße Aufgabe auch dadurch gelöst werden, daß nicht das unmittelbare Verhältnis der Zeiträume betrachtet wird, sondern daß beispielsweise die Differenz der Zeiträume oder ein Verhältnis von Differenz der Zeiträume zur Summe der Zeiträume betrachtet wird. Der Begriff Verhältnis ist also im Lichte der Lehre der Erfindung nicht allein auf seine allgemeine mathematische Definition beschränkt.
Je nach Anforderung ist es sinnvoll, daß das Verhältnis erst dann gebildet wird, wenn der Zeitraum mit dem Anwesenheitsindikator im Beeinflussungszu­ stand II und/oder der Zeitraum mit dem Anwesenheitsindikator in einem der Beeinflussungszustände I oder III einen jeweils festgelegten Mindestzeitraum überschritten hat. Durch diese Ausgestaltung des erfindungsgemäßen Verfah­ rens kann gewährleistet werden, daß während des statischen Betriebs des Reflexlichttasters eine kurze Beeinflussung bis hinein in den Beeinflussungs­ zustand I nicht zu einer dauerhaften Ausgabe eines Störsignals führt. Wird diese Ausgestaltung des Verfahrens mit der geschilderten Ausgestaltung der Ermittlung des Verhältnisses während eines festgelegten Gesamtzeitraumes kombiniert, so ist es notwendig, daß der Gesamtzeitraum ggf. verlängert wird, wenn die festgelegten Mindestzeiträume innerhalb eines Gesamtzeitraumes nicht erreicht werden.
Eine weitere Ausgestaltung der erfindungsgemäßen Lehre erfolgt dadurch, daß ein Verfahren zur Bestimmung der Zeiträume, während derer sich der Anwesen­ heitsindikator in einem der Beeinflussungszustände befindet, abhängig von dem Typ des elektronischen Schaltgerätes, in welchem das Verfahren eingesetzt wird, vorgeschlagen wird.
Für elektronische Schaltgeräte mit einem diskontinuierlich arbeitenden An­ wesenheitsindikator - beispielsweise ein mit Pulslicht betriebener Reflex­ lichttaster - eignet sich besonders ein Verfahren, bei dem die Beeinflus­ sungszustände des Anwesenheitsindikators unabhängig von dem Übergang zwischen zwei Beeinflussungszuständen des Anwesenheitsindikators in regelmäßigen Zeitabständen - also beim Reflexlichttaster vorteilhafterweise in den Zeit­ abständen der Lichtpulse - aufgenommen werden und daß die jeweiligen Zeit­ räume mit dem Anwesenheitsindikator im jeweiligen Beeinflussungszustand I, II oder III aus der Anzahl der jeweils aufgenommenen Beeinflussungszustän­ de I, II oder III ermittelt werden. Dieses Verfahren kann besonders vorteil­ haft durch Verwendung eines Microcontrollers verwirklicht werden.
Hingegen ist es bei dem Einsatz eines elektronischen Schaltgerätes, welches ein kontinuierliches Ausgangssignal liefert, beispielsweise eines induktiven Näherungsschalters oder eines Strömungswächters, vorteilhaft, die jeweiligen Zeiträume mit dem Anwesenheitsindikator im jeweiligen Beeinflussungszustand I, II oder III aus den Zeiträumen zwischen den Übergängen zwischen zwei Beein­ flussungszuständen des Anwesenheitsindikators zu ermitteln.
Das erfindungsgemäße Verfahren wird weiter dadurch ausgestaltet, daß der mittlere Beeinflussungsbereich des Anwesenheitsindikators (Beeinflussungs­ zustand II) in einen unterhalb der Ansprechschwelle liegenden Beeinflus­ sungsbereich (Beeinflussungszustand IIa) und in einen oberhalb der Ansprech­ schwelle liegenden Beeinflussungsbereich (Beeinflussungszustand IIb) unter­ teilt wird und daß bei einem ein jeweils vorgegebenes Verhältnis überstei­ genden Verhältnis von einem Zeitraum mit dem Anwesenheitsindikator im Beeinflussungszustand IIa zu dem Zeitraum mit dem Anwesenheitsindikator im Beeinflussungszustand I oder von einem Zeitraum mit dem Anwesenheitsindika­ tor im Beeinflussungszustand IIb zu dem Zeitraum mit dem Anwesenheitsindi­ kator im Beeinflussungszustand III vom Zustandsindikator ein Störsignal ausgegeben wird. Diese Ausgestaltung des erfindungsgemäßen Verfahrens er­ möglicht es vorteilhafterweise, Zwischenbeeinflussungen im "unsicheren Bereich" oberhalb und unterhalb der Ansprechschwelle zu unterscheiden. Hier­ durch wird insbesondere gewährleistet, daß ein Störsignal ausgegeben wird, wenn das elektronische Schaltgerät beispielsweise ständig von einem "siche­ ren Bereich" - Beeinflussungszustand I oder III - in einen "unsicheren Be­ reich" jenseits der Ansprechschwelle beeinflußt und damit umgesteuert wird, obwohl sich der Anwesenheitsindikator in diesem Fall die meiste Zeit in dem angesprochenen "sicheren Bereich" befindet. Dies ist nur möglich, da der Zustandsindikator nunmehr zwischen den "unsicheren Bereichen" ober- und unterhalb der Ansprechschwelle unterscheiden kann.
Die zuletzt beschriebene Ausgestaltung des erfindungsgemäßen Verfahrens kann insbesondere dadurch weitergestaltet werden, daß weitere, von dem Zu­ standsindikator unterscheidbare Beeinflussungszustände eingeführt werden, daß verschiedene Verhältnisse zwischen einzelnen Beeinflussungszuständen dieser Vielzahl von Beeinflussungszuständen gebildet werden und daß anhand dieser Verhältnisse eine Vielzahl weiterer Störungen signalisiert werden kann.
Im folgenden wird die Erfindung anhand einer lediglich ein Ausführungsbei­ spiel darstellenden Verwirklichung in einem Reflexlichttaster in Verbindung mit einer Zeichnung nochmals erläutert; es zeigt
Fig. 1 ein Blockschaltbild eines Reflexlichttasters,
Fig. 2 eine grafische Darstellung der Beeinflussungszustände des Re­ flexlichttasters,
Fig. 3 ein Blockschaltbild einer ersten Ausführungsform eines Zustands­ indikators zur Verwirklichung des erfindungsgemäßen Verfahrens,
Fig. 4 ein Flußdiagramm des in der ersten Ausführungsform des Zustands­ indikators realisierten erfindungsgemäßen Verfahrens,
Fig. 5 einen Signalverlauf beim statischen Betrieb des Reflexlicht­ tasters gemäß der ersten Ausführungsform des Zustandsindikators,
Fig. 6 einen Signalverlauf beim dynamischen Betrieb des Reflexlicht­ tasters gemäß der ersten Ausführungsform des Zustandsindikators,
Fig. 7 ein Blockschaltbild einer zweiten Ausführungsform eines Zustands­ indikators zur Verwirklichung des erfindungsgemäßen Verfahrens,
Fig. 8 ein Blockschaltbild einer dritten Ausführungsform eines Zustands­ indikators zur Verwirklichung des erfindungsgemäßen Verfahrens und
Fig. 9 einen Signalverlauf beim dynamischen Betrieb des Reflex­ lichttasters gemäß der zweiten Ausführungsform des Zustandsindi­ kators.
Das erfindungsgemäße Verfahren wird im weiteren in einer beispielhaften Aus­ gestaltung, realisiert in einem Reflexlichttaster, geschildert und erläutert. Dies ist nicht im Sinne einer Einschränkung zu verstehen, sondern soll ledig­ lich dem Verständnis und der Übersichtlichkeit der Erläuterung dienen.
In Fig. 1 ist ein Blockschaltbild eines an sich bekannten Reflexlichttasters 1 dargestellt. Das elektronische Schaltgerät, also der Reflexlichttaster 1, weist einen von außen beeinflußbaren Anwesenheitsindikator 2 auf. Der Anwe­ senheitsindikator 2 besteht bei einem Reflexlichttaster 1 aus einem Licht­ sender 3 und einem Lichtempfänger 4. Wird der Anwesenheitsindikator 2, bei­ spielsweise durch einen in den Strahlengang eingebrachten reflektierenden Gegenstand, beeinflußt, so wird, im allgemeinen über einen Schaltverstärker 5, ein elektronischer Schalter 6, z. B. ein Transistor, ein Thyristor oder ein Triac, umgesteuert, wenn der Beeinflussungszustand des Anwesenheitsindika­ tors 2 eine vorgegebene Ansprechschwelle überschreitet.
Weiter weist der Reflexlichttaster 1 einen Zustandsindikator 7 auf. Im vor­ liegenden Beispiel können durch den Zustandsindikator 7 unterschiedliche Beeinflussungszustände des Anwesenheitsindikators 2 unterschieden werden - vgl. Fig. 2. Ist der Anwesenheitsindikator 2 nicht oder nur gering beeinflußt, so befindet er sich im Beeinflussungszustand I, ist er innerhalb eines mittle­ ren "unsicheren" Beeinflussungsbereichs unterhalb der Ansprechschwelle be­ einflußt, so befindet er sich im Beeinflussungszustand IIa, ist der Anwe­ senheitsindikator 2 innerhalb eines mittleren "unsicheren" Beeinflussungsbe­ reichs oberhalb der Ansprechschwelle beeinflußt, so befindet sich der Anwe­ senheitsindikator 2 im Beeinflussungszustand IIb, ist schließlich der Anwesen­ heitsindikator oberhalb des mittleren "unsicheren" Beeinflussungsbereichs beeinflußt, so befindet sich der Anwesenheitsindikator 2 im Beeinflussungszu­ stand III.
In Fig. 3 ist ein Blockschaltbild einer ersten Ausführungsform eines Zu­ standsindikators 7 zur Verwirklichung des erfindungsgemäßen Verfahrens dar­ gestellt, wobei die wesentlichen Funktionen des Zustandsindikators 7 von einer Komparatorkaskade 8 und einem Microcontroller 9 gebildet werden. Der Microcontroller 9 nimmt in der vorliegenden Ausführungsform des Zustands­ indikators 7 außerdem noch die Funktion des Schaltverstärkers 5 wahr. Sein Schaltausgang 10 ist somit unmittelbar mit dem elektronischen Schalter 6 ver­ bunden. Das nach dem erfindungsgemäßen Verfahren ermittelte Störsignal wird über einen Funktionskontrollausgang 11 ausgegeben.
Die Komparatorkaskade 8 in der vorliegenden ersten Ausführungsform des Zu­ standsindikators 7 wird von drei die Begrenzungen der Beeinflussungsbereiche I, IIa, IIb, III überwachenden Komparatoren 12, 13, 14 gebildet. Die Referenz­ spannungen der Komparatoren 12, 13, 14 werden über eine Reihenschaltung von drei Widerständen 15, 16, 17 gebildet. Somit erhält der Microcontroller 9 ein 3-Bit-Wort, welches ihm anzeigt, in welchem Beeinflussungszustand sich der Anwesenheitsindikator 2 befindet.
Der Microcontroller 9 arbeitet nun beispielsweise nach dem in Fig. 4 durch ein Flußdiagramm dargestellten Algorithmus. Es ist eine Vielzahl anderer Algorithmen zur Verwirklichung des erfindungsgemäßen Verfahrens denkbar, wie sich bereits aus den einleitenden Ausführungen ergibt.
Im vorliegenden Beispiel wird nur das Verhältnis zwischen den Zeiträumen mit dem Anwesenheitsindikator 2 im Beeinflussungszustand IIb zu dem Zeitraum mit dem Anwesenheitsindikator 2 im Beeinflussungszustand III überprüft. Die von der Lehre der Erfindung ebenfalls umfaßte Prüfung des Verhältnisses der Zeiträume mit dem Anwesenheitsindikator 2 im Beeinflussungszustand IIa und im Beeinflussungszustand I wird hier zum einfacheren Verständnis nicht mitbehan­ delt.
Das dargestellte Flußdiagramm wird nach jedem Sende- bzw. Empfangspuls des Reflexlichttasters 1 durchlaufen. Die Synchronisation mit den Sende- bzw. Empfangspulsen des Reflexlichttasters 1 ist besonders einfach, wenn der Microcontroller 9 die Sendepulse des Reflexlichttasters 1 steuert.
Der Empfangspuls des Reflexlichttasters 1 liegt an der Komparatorkaskade 8 an, und somit kann der Microcontroller 9 entscheiden, ob das Signal des Empfangspulses sich im oberen "sicheren Bereich" (Beeinflussungszustand III) oder im oberen "unsicheren Bereich" (Beeinflussungszustand IIb) befindet. Entsprechend erhöht der Microcontroller 9 dann den Zähler SB für den "siche­ ren Bereich" oder den Zähler UB für den "unsicheren Bereich". Anschließend wird jeweils ein Impulszähler NI, der die Gesamtanzahl der betrachteten Beein­ flussungszustände ermittelt, um 1 erhöht. Befindet sich das Signal des Sendepulses - und somit der Anwesenheitsindikator 2 - weder im Beeinflussungs­ zustand III noch im Beeinflussungszustand IIb, so wird nur der Impulszähler NI erhöht. Im nächsten Schritt wird von dem Microcontroller 9 überprüft, ob der Impulszähler NI eine bestimmte Anzahl NI MAX überschritten hat. Ist dies nicht der Fall, so wird der Algorithmus abgeschlossen und er beginnt beim nächsten einlaufenden Empfangspuls wieder von vorne. Erreicht schließlich der Impulszähler NI die Zahl NI_MAX, ist also der festgelegte Gesamtzeitraum, während dessen die Beeinflussungszustände betrachtet werden sollen, über­ schritten, so findet der Vergleich der Zähler SB und UB statt.
Bei dem Vergleich der Zähler SB und UB wird zunächst festgestellt, ob beide Zähler bestimmte Mindestwerte (UB_MIN, SB_MIN) überschritten haben. Ist dies nicht der Fall, haben also der Zeitraum mit dem Anwesenheitsindikator 2 im Be­ einflussungszustand IIb und der Zeitraum mit dem Anwesenheitsindikator 2 im Beeinflussungszustand III jeweils einen festgelegten Mindestzeitraum nicht überschritten, so wird der Impulszähler NI für die Sendepulse zurückgesetzt und das geschilderte Verfahren wird so lange fortgesetzt, d. h. der Gesamt­ zeitraum, während dessen die Beeinflussungszustände betrachtet werden, wird entsprechend verlängert, bis mindestens einer der geforderten Mindestzeit­ räume für die Beeinflussungszustände III oder IIb überschritten worden ist.
Zunächst soll der Fall betrachtet werden, daß der Zähler UB die geforderte Mindestanzahl UB_MIN nicht überschritten hat, aber der Zähler SB die gefor­ derte Mindestanzahl SB_MIN überschritten hat. In diesem Fall wird das Störsig­ gnal zurückgesetzt bzw. gelöscht. Der Reflexlichttaster 1 ist häufiger im "sicheren Bereich" beeinflußt worden als im "unsicheren Bereich", und somit ist es nicht notwendig, eine Störung zu indizieren. Anschließend werden noch die Zähler SB und UB zurückgesetzt, um nach Zurücksetzung des Impulszählers das Verfahren von neuem zu beginnen.
Erreicht nun der Zähler UB die Mindestanzahl UB_MIN, so wird der Stand des Zählers UB mit dem Stand des Zählers SB verglichen. Wählt man beispiels­ weise einen Faktor k = 1, so wird, wenn UB kleiner oder gleich SB ist, eben­ falls das Störsignal gelöscht. Ist hingegen UB größer als SB, überwiegen also die Anzahl bzw. der Zeitraum der Beeinflussung des Anwesenheitsindika­ tors 2 im Beeinflussungszustand IIb, so wird das Störsignal ausgegeben. An­ schließend werden, wie bereits geschildert, die Zähler SB und UB sowie der Impulszähler NI zurückgesetzt.
Über das geschilderte Verfahren wird somit die Ausgabe eines signifikanten Störsignals gewährleistet.
In Fig. 5 ist ein beispielhafter Signalverlauf bei einem statischen Betrieb des Reflexlichttasters 1 gemäß der ersten Ausführungsform des Zustandsindika­ tors 7 dargestellt. Wie bereits angesprochen, ist ein Beispiel für den stati­ schen Betrieb eines Reflexlichttasters 1 die Überwachung einer Papierbahn auf Abriß. Bei dem in Fig. 5 dargestellten Signalverlauf wird ein Störsignal gemäß dem in Fig. 4 dargestellten Algorithmus eines erfindungsgemäßen Ver­ fahrens ausgegeben. Bei dem dargestellten Signalverlauf ist NI_MAX = 20, UB_MIN = 3, SB_MIN = 3 und k = 1. In der oberen Hälfte von Fig. 5 sind die Beeinflussungszustände 18 des Anwesenheitsindikators 2 innerhalb eines Bei­ spielzeitraums dargestellt. Hierbei nehmen im Laufe der Zeit die Beeinflus­ sungszustände 18 des Anwesenheitsindikators 2 im Beeinflussungszustand IIb durch eine zunehmende Verschmutzung der Optik des Reflexlichttasters 1 zu. Nach einer Reinigung der Optik des Reflexlichttasters 1 wird der Anwesenheits­ indikator 2 wieder weit überwiegend im Beeinflussungszustand III beeinflußt. Weiter ist in Fig. 5 der zeitliche Verlauf des Schaltsignals 19 dargestellt. Man erkennt, daß der Reflexlichttaster 1 im gesamten Beobachtungszeitraum geschaltet ist. Außerdem ist in Fig. 5 ein Störsignalverlauf 20 nach dem erfindungsgemäßen Verfahren dargestellt. Man erkennt deutlich, daß ein signifikantes Störsignal erst nach einem gewissen Zeitraum, während dessen der Anwesenheitsindikator 2 überwiegend im Beeinflussungszustand IIb beeinflußt worden ist, ausgegeben wird. Nach der Reinigung der Optik des Reflexlichttasters 1 wird das Störsignal nach Ablauf eines gewissen Zeit­ raumes wieder zurückgesetzt, da der Anwesenheitsindikator 2 nur noch im Beeinflussungszustand III beeinflußt wird.
In Fig. 6 sind schließlich die Beeinflussungszustände 18, das Schaltsignal 19 und der Störsignalverlauf 20 während eines bestimmten Zeitraumes, mit dersel­ ben Parameterwahl, dargestellt, wobei der Reflexlichttaster 1 im dynamischen Betrieb durch mehrere nacheinander detektierte Gegenstände betätigt wird. Auch in dem in Fig. 6 dargestellten Beispiel nimmt die Beeinflussung des Anwesenheitsindikators 2 durch zunehmende Verschmutzung der Optik des Reflex­ lichttasters 1 ab. Auch in Fig. 6 wird die Optik des Reflexlichttasters 1 nach der Ausgabe eines Störsignals gereinigt. Auch in dem in Fig. 6 darge­ stellten Beispiel ist deutlich zu erkennen, daß die Signifikanz des nach dem erfindungsgemäßen Verfahren ausgegebenen Störsignals sehr groß ist und daß gewährleistet ist, daß auch nach der Ausgabe des Störsignals der Reflexlicht­ taster 1 noch für einen gewissen Zeitraum das korrekte Schaltsignal 19 lie­ fert.
Aus der Zusammenschau von Fig. 5 und Fig. 6 ergibt sich die tatsächliche sehr hohe Signifikanz des nach dem erfindungsgemäßen Verfahren ausgegebenen Stör­ signals unabhängig von der Betriebsweise des elektronischen Schaltgerätes, hier des Reflexlichttasters 1.
Bei dem Einsatz eines Microcontrollers 9 in dem Zustandsindikator 7 kann das erfindungsgemäße Verfahren besonders vorteilhaft dadurch weitergebildet werden, daß der Microcontroller 9 auch bei anderen Fehlfunktionen des elek­ tronischen Schaltgerätes ein Störsignal ausgibt.
Liefert beispielsweise die Komparatorkaskade 8 nicht schlüssige 3-Bit-Worte an den Microcontroller 9, so gibt der Microcontroller 9 ein entsprechendes Störsignal aus. Ein solches nichtschlüssiges 3-Bit-Wort der Komparatorkaskade 8 entsteht beispielsweise, wenn der mittlere oder der untere Komparator 13, 14 defekt sind, also kein Signal anliegt, und am nächsthöheren Komparator 12 ein Signal anliegt. Wenn solch ein nichtschlüssiges 3-Bit-Wort beispielsweise häufiger als einer bestimmten Minimalzahl entsprechend aufgetreten ist, wird ein entsprechendes Störsignal ausgegeben.
Weiter kann das erfindungsgemäße Verfahren dadurch ausgestaltet werden, daß der Microcontroller 9 bei kurzgeschlossenem elektronischem Schalter 6 ein Störsignal ausgibt und gleichzeitig den elektronischen Schalter 6 öffnet, um so eine Beschädigung des Reflexlichttasters 1 zu verhindern.
Eine weitere Ausgestaltung erfährt das erfindungsgemäße Verfahren dadurch, daß der Microcontroller 9 bei defektem flüchtigem Speicher ein Störsignal ausgibt. Hierdurch wird verhindert, daß der Microcontroller 9 aufgrund eines defekten flüchtigen Speichers etwa trotz Verschmutzung der Optik des Reflex­ lichttasters 1 kein Störsignal ausgibt.
Besonders vorteilhaft ist es, wenn der Microcontroller 9 die aus unterschied­ lichen Gründen ausgegebenen Störsignale unterschiedlich codiert, so daß dem Betriebspersonal unmittelbar die Ursache der Störung angezeigt wird.
Der Microcontroller 9 als Bestandteil des Zustandsindikators 7 kann auch alternativ durch eine analoge Auswerteschaltung ersetzt werden. Solche ana­ logen Auswerteschaltungen sind u. a. in den Fig. 7 und 8 dargestellt. Sie sind wie eine den elektronischen Schalter 6 betätigende Schaltlogik 21 mit der Komparatorkaskade 8 verbunden. Die analoge Auswerteschaltung ist grund­ sätzlich als beidseitig ansteuerbare Integratorschaltung mit nachgeschalte­ tem Komparator ausgebildet.
Die in den Fig. 7 und 8 dargestellten analogen Auswerteschaltungen sollen ein Störsignal liefern, wenn von den Zeiträumen mit dem Anwesenheitsindi­ kator 2 im Beeinflussungszustand IIb zu den Zeiträumen mit dem Anwesenheits­ indikator 2 im Beeinflussungszustand III ein vorgegebenes Verhältnis über­ stiegen wird.
Beiden analogen Auswerteschaltungen ist gemeinsam, daß sie von den Signalen, die anzeigen, daß sich der Anwesenheitsindikator 2 im Beeinflussungszustand III befindet, in die entgegengesetzte Richtung beeinflußt werden wie von den Signalen, die anzeigen, daß sich der Anwesenheitsindikator 2 im Beeinflus­ sungszustand IIb befindet. Die Signale, die anzeigen, daß sich der Anwesen­ heitsindikator 2 im Beeinflussungszustand III befindet, lassen sich einfach aus dem Ausgang des Komparators 12 ableiten. Die Signale, die anzeigen, daß sich der Anwesenheitsindikator 2 im Beeinflussungszustand IIb befindet, wer­ den über ein EXKLUSIV-ODER-Gatter 22, welches mit seinen Eingängen an die Ausgänge der Komparatoren 12 bzw. 13 angeschlossen ist, abgeleitet.
In der in Fig. 7 dargestellten ersten analogen Auswerteschaltung 23 laden die Signale, die eine Beeinflussung des Anwesenheitsindikators 2 im Beein­ flussungszustand IIb anzeigen, über einen ersten Ladewiderstand 24 einen ersten Speicherkondensator 25 auf. Die Spannung des ersten Speicherkonden­ sators 25 liegt an einem gleichzeitig den Komparator bildenden ersten Impe­ danzwandler 26 an. Die Referenzspannung des gleichzeitig als Komparator dienenden ersten Impedanzwandlers 26 wird über zwei in Reihe geschaltete Widerstände 27, 28 aus einer Versorgungsspannung zur Verfügung gestellt. Treten nun Signale auf, die eine Beeinflussung des Anwesenheitsindikators 2
im Beeinflussungszustand III anzeigen, so wird durch diese Signale ein erster elektronischer Entladeschalter 29 betätigt, welcher über einen ersten Entladewiderstand 30 den ersten Speicherkondensator 25 entlädt.
Die Funktionsweise der in Fig. 8 dargestellten zweiten analogen Auswerte­ schaltung 31 ist in weiten Teilen identisch, weshalb auch dieselben Bezugs­ zeichen verwendet werden. Ein Unterschied besteht darin, daß bei der zwei­ ten analogen Auswerteschaltung 31 die Signale, die eine Beeinflussung des Anwesenheitsindikators 2 im Beeinflussungszustand III anzeigen, erst dann zu einer Entladung des ersten Speicherkondensators 25 führen, wenn diese Signale aufintegriert einen bestimmten Wert übersteigen. Hierzu sind ein zweiter Ladewiderstand 32, ein zweiter Speicherkondensator 33, ein zweiter, gleichzeitig als Komparator dienender Impedanzwandler 34 und zwei die Refe­ renzspannung für den gleichzeitig als Komparator dienenden zweiten Impe­ danzwandler 34 zur Verfügung stellende Widerstände 35, 36 und ein zweiter Entladewiderstand 37 vorgesehen. Eine Besonderheit liegt nun darin, daß auch der zweite Speicherkondensator 33 von einem zweiten elektronischen Entlade­ schalter 38 entladen wird, wenn ein Störsignal am Ausgang des ersten Impe­ danzwandlers 26 anliegt. Hierdurch wird erreicht, daß, wenn einmal ein Stör­ signal ausgegeben wird, das Löschen des Störsignals erschwert ist.
In Fig. 9 sind nunmehr einige beispielhafte Beeinflussungszustände 18 des Anwesenheitsindikators 2 dargestellt. Weiter ist in einem Spannungsverlauf 39 dargestellt, wie sich die Spannung über dem ersten Speicherkondensator 25 der ersten analogen Auswerteschaltung 23 in Abhängigkeit von den Beeinflussungs­ zuständen 18 verhält. Überschreitet die Spannung über dem ersten Speicherkon­ densator 25 den Schwellwert 40 des ersten Impedanzwandlers 26, so wird ein Störsignal ausgegeben, wie der Störsignalverlauf 20 zeigt.

Claims (15)

1. Verfahren zur Überwachung eines elektronischen Schaltgerätes, z. B. eines optoelektronischen, induktiven oder kapazitiven Näherungsschalters oder eines Strömungswächters, mit einem von außen beeinflußbaren Anwesen­ heitsindikator (2), z. B. einem Oszillator, mit einem von dem Anwesen­ heitsindikator (2) steuerbaren elektronischen Schalter (6), z. B. einem Transistor, einem Thyristor oder einem Triac, und mit einem Zustandsindi­ kator (7), bei welchem der Anwesenheitsindikator (2) dann den Schaltzu­ stand des elektronischen Schalters (6) umsteuert, wenn der Beeinflussungs­ zustand des Anwesenheitsindikators (2) eine vorgegebene Ansprechschwelle überschreitet, bei welchem durch den Zustandsindikator (7) mindestens drei unterschiedliche Beeinflussungszustände des Anwesenheitsindikators (2) un­ terschieden werden - Anwesenheitsindikator (2) nicht oder nur gering be­ einflußt (Beeinflussungszustand I), Anwesenheitsindikator (2) innerhalb eines mittleren Beeinflussungsbereichs beeinflußt (Beeinflussungszustand II) und Anwesenheitsindikator (2) oberhalb des mittleren Beeinflussungsbereichs beeinflußt (Beeinflussungszustand III) - und bei welchem sowohl im Falle seltener Umsteuerung des elektronischen Schalters (6) - statischer Betrieb - als auch im Falle häufiger Umsteuerung des elektronischen Schalters (6) - dynamischer Betrieb - vom Zustandsindikator (7) ein Störsignal ausgegeben wird, wenn der Anwesenheitsindikator (2) zumindest kaum noch den Beeinflus­ sungszustand I oder III erreicht, dadurch gekennzeichnet, daß bei einem ein jeweils vorgegebenes Verhältnis übersteigenden jeweiligen Verhältnis von einem Zeitraum mit dem Anwesenheitsindikator (2) im Beeinflussungszu­ stand II zu einem Zeitraum mit dem Anwesenheitsindikator (2) in jeweils einem der Beeinflussungszustände I oder III vom Zustandsindikator (7) ein Störsignal ausgegeben wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Verhältnis aus den in einem festgelegten Gesamtzeitraum aufgetretenen Beeinflussungs­ zuständen ermittelt wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Ver­ hältnis aus den in aufeinanderfolgenden Gesamtzeiträumen aufgetretenen Beeinflussungszuständen am Ende des jeweiligen Gesamtzeitraumes ermittelt wird.
4. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Ver­ hältnis jeweils aus den in einem zurückliegenden Gesamtzeitraum aufgetre­ tenen Beeinflussungszuständen ermittelt wird.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß das Verhältnis dann gebildet wird, wenn der Zeitraum mit dem Anwesenheits­ indikator (2) im Beeinflussungszustand II und/oder der Zeitraum mit dem An­ wesenheitsindikator in einem der Beeinflussungszustände I oder III einen jeweils festgelegten Mindestzeitraum überschritten hat.
6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Gesamtzeit­ raum ggf. verlängert wird.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Beeinflussungszustände des Anwesenheitsindikators (2) unabhängig von dem Übergang zwischen zwei Beeinflussungszuständen des Anwesenheitsindika­ tors (2) in regelmäßigen Zeitabständen aufgenommen werden und daß die jewei­ ligen Zeiträume mit dem Anwesenheitsindikator (2) im jeweiligen Beeinflus­ sungszustand I, II oder III aus der Anzahl der jeweils aufgenommenen Beein­ flussungszustände I, II oder III ermittelt werden.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die jeweiligen Zeiträume mit dem Anwesenheitsindikator (2) im jeweiligen Beeinflussungszustand I, II oder III aus den Zeiträumen zwischen den Über­ gängen zwischen zwei Beeinflussungszuständen des Anwesenheitsindikators (2) ermittelt werden.
9. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß der mittlere Beeinflussungsbereich des Anwesenheitsindikators (2) (Beein­ flussungszustand II) in einen unterhalb der Ansprechschwelle liegenden Beeinflussungsbereich (Beeinflussungszustand IIa) und in einen oberhalb der Ansprechschwelle liegenden Beeinflussungsbereich (Beeinflussungszustand IIb) unterteilt wird und daß bei einem ein jeweils vorgegebenes Verhältnis über­ steigenden Verhältnis von einem Zeitraum mit dem Anwesenheitsindikator (2) im Beeinflussungszustand IIa zu dem Zeitraum mit dem Anwesenheitsindikator (2) im Beeinflussungszustand I oder von einem Zeitraum mit dem Anwesenheitsindi­ kator (2) im Beeinflussungszustand IIb zu dem Zeitraum mit dem Anwesenheits­ indikator (2) im Beeinflussungszustand III vom Zustandsindikator (7) ein Störsignal ausgegeben wird.
10. Elektronisches Schaltgerät, z. B. optoelektronischer, induktiver oder kapazitiver Näherungsschalter oder Strömungswächter, zur Verwirklichung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 9, mit einem von außen be­ einflußbaren Anwesenheitsindikator (2), mit einem von dem Anwesenheitsindika­ tor (2) steuerbaren elektronischen Schalter (6), z. B. einem Transistor, einem Thyristor oder einem Triac, und und mit einem Zustandsindikator (7), dadurch gekennzeichnet, daß der Zustandsindikator (7) aus einer mindestens zwei die Begrenzungen der Beeinflussungsbereiche überwachenden Komparatoren (12, 13, 14) aufweisenden Komparatorkaskade (8) und einen Microcontroller (9) oder einer analogen Auswerteschaltung (23, 31) besteht.
11. Elektronisches Schaltgerät nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß der Microcontroller (9) bei nichtschlüssigen Signalen der Komparatorkaskade (8) ein Störsignal ausgibt.
12. Elektronisches Schaltgerät nach Anspruch 10 oder 11, dadurch gekennzeich­ net, daß der Microcontroller (9) bei kurzgeschlossenem elektronischem Schal­ ter (6) ein Störsignal ausgibt.
13. Elektronisches Schaltgerät nach einem der Ansprüche 10 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daß der Microcontroller (9) bei defektem flüchtigem Speicher ein Störsignal ausgibt.
14. Elektronisches Schaltgerät nach einem der Ansprüche 10 bis 13, dadurch gekennzeichnet, daß der Microcontroller (9) die unterschiedlich ausgelösten Störsignale unterschiedlich codiert.
15. Elektronisches Schaltgerät nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß die analoge Auswerteschaltung (23, 31) als von den Ausgangssignalen der Komparatoren (12, 13, 14) des Zustandsindikators (7) beidseitig - also mit unterschiedlichen Vorzeichen - ansteuerbare Integra­ torschaltung mit nachgeschaltetem Komparator ausgebildet ist.
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