DE4438507A1 - Verfahren zur Überwachung eines elektronischen Schaltgerätes - Google Patents
Verfahren zur Überwachung eines elektronischen SchaltgerätesInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Überwachung eines elektronischen Schaltge
rätes z. B. ein es optoelektronischen, induktiven oder kapazitiven Näherungsschalters
oder eine s Strömungswächters, mit einem von außen beeinflußbaren Anwesen
heitsindikator, z. B. einem Oszillator, mit einem von dem Anwesenheitsindikator steu
erbaren elektronischen Schalter, z. B. einem Transistor, einem Thyristor oder einem
Triac, und mit einem Zustandsindikator, bei welchem der Anwesenheitsindikator dann
den Schaltzustand des elektronischen Schalters umsteuert, wenn der Beeinflussungs
zustand des Anwesenheitsindikators eine vorgegebene Ansprechschwelle über
schreitet, bei welchem durch den Zustandsindikator mindestens drei unterschiedliche
Beeinflussungszustände des Anwesenheitsindikators unterschieden werden - Anwe
senheitsindikator nicht oder nur gering beeinflußt (Beeinflussungszustand I), Anwe
senheitsindikator innerhalb eines mittleren Beeinflussungsbereichs beeinflußt
(Beeinflussungszustand II) und Anwesenheitsindikator oberhalb des mittleren Be
einflussungsbereichs beeinflußt (Beeinflussungszustand III) - und bei welchem
sowohl im Falle sehr seltener Umsteuerung des elektronischen Schalters - statischer
Betrieb - als auch im Falle häufiger Umsteuerung des elektronischen Schalters - dy
namischer Betrieb - vom Zustandsindikator ein Störsignal ausgegeben wird, wenn der
Anwesenheitsindikator zumindest kaum noch den Beeinflussungszustand I oder III
erreicht, sowie ein elektronisches Schaltgerät zur Verwirklichung dieses Verfahrens
nach dem Oberbegriff des Anspruches 21.
Elektronische Schaltgeräte der hier grundsätzlich in Rede stehenden Art sind kon
taktlos ausgeführt und werden seit nunmehr etwa fünfundzwanzig Jahren in zuneh
mendem Maße anstelle von elektrischen, mechanisch betätigten Schaltgeräten, die
kontaktbehaftet ausgeführt sind, verwendet, insbesondere in elektrischen bzw. elek
tronischen Meß-, Steuer- und Regelkreisen. Das gilt insbesondere für sog. Nähe
rungsschalter, d. h. für elektronische Schaltgeräte, die berührungslos arbeiten. Mit
solchen Schaltgeräten wird indiziert, ob sich ein Beeinflussungselement, für das der
entsprechende Näherungsschalter sensitiv ist, dem Näherungsschalter hinreichend
weit genähert hat. Hat sich nämlich ein Beeinflussungselement, für das der entspre
chende Näherungsschalter sensitiv ist, dem Näherungsschalter hinreichend weit
genähert, so steuert der einen wesentlichen Bestandteil des Näherungsschalters bil
dende Anwesenheitsindikator den elektronischen Schalter um; bei einem als Schließer
ausgeführten Schaltgerät wird der nichtleitende elektronische Schalter nunmehr lei
tend, während bei einem als Öffner ausgeführten Schaltgerät der leitende elektroni
sche Schalter nunmehr sperrt. (Mit Schaltgeräten der in Rede stehenden Art kann
auch indiziert werden, ob eine physikalische Größe eines Beeinflussungsmediums, für
die das Schaltgerät sensitiv ist, einen entsprechenden Wert überschreitet oder unter
schreitet.)
Wesentlicher Bestandteil von elektronischen Schaltgeräten der zuvor beschriebenen
Art ist also u. a. der von außen beeinflußbare Anwesenheitsindikator.
Als Anwesenheitsindikator kann z. B. ein induktiv oder kapazitiv beeinflußbarer
Oszillator vorgesehen sein; es handelt sich dann um induktive oder kapazitive Nähe
rungsschalter (vgl. z. B. die deutschen Offenlegungsschriften bzw. Auslegeschriften
bzw. Patentschriften 19 51 137, 19 66 178, 19 66 213, 20 36 840, 21 27 956,
22 03 038, 22 03 039, 22 03 040, 22 03 906, 23 30 233, 23 31 732, 23 56 490,
26 13 423, 26 16 265, 26 16 773, 26 28 427, 27 11 877, 27 44 785, 29 43 911,
30 04 829, 30 38 141, 30 38 692, 31 20 844, 32 09 673, 32 38 396, 32 50 113
33 20 975, 33 26 440, 33 27 329, 34 20 236, 34 27 498, 35 19 714, 36 05 499,
37 22 334, 37 22 335, 37 22 336, 37 23 008, 37 44 751, 37 44 756, 38 18 499,
39 11 009, 39 36 553, 40 23 502, 40 32 001, 41 14 763, 41 35 876, 42 00 207,
42 09 396, 42 25 267, 42 33 325, 42 33 488, 42 33 922, 42 38 992, 43 13 084,
43 28 366, 43 30 140).
Als Anwesenheitsindikator kann auch ein Fotowiderstand, eine Fotodiode oder ein
Fototransistor vorgesehen sein; es handelt sich dann um optoelektronische Nähe
rungsschalter (vgl. z. B. die deutschen Offenlegungsschriften bzw. Patentschriften
28 24 582, 30 38 102, 33 27 328, 35 14 643, 35 18 025, 36 05 885, 43 18 623,
43 28 553, 43 30 223).
Als Anwesenheitsindikator kann schließlich auch ein Temperaturmeßelement vorge
sehen sein; es handelt sich dann um Strömungswächter (vgl. z. B. die deutschen Of
fenlegungsschriften bzw. Patentschriften 37 13 981, 38 11 728, 38 25 059, 39 11 008,
39 43 437). Darüber hinaus sind Anwendungen des bekannten Verfahrens in Füll
standswächtern, Drehzahlwächtern und Druckwächtern möglich.
Bei induktiven Näherungsschaltern gilt für den Oszillator, solange ein Metallteil einen
vorgegebenen Abstand noch nicht erreicht hat, K×V = 1 mit K = Rückkopplungs
faktor und V = Verstärkungsfaktor des Oszillators, d. h. der Oszillator schwingt. Er
reicht das entsprechende Metallteil den vorgeschriebenen Abstand, so führt die zu
nehmende Bedämpfung des Oszillators zu einer Verringerung des Verstärkungsfak
tors V, d. h. die Amplitude der Oszillatorschwingung geht zurück bzw. der Oszillator
hört auf zu schwingen. Bei kapazitiven Näherungsschaltern gilt für den Oszillator,
solange ein Ansprechkörper die Kapazität zwischen einer Ansprechelektrode und ei
ner Gegenelektrode noch nicht beeinflußt, K×V < 1, d. h. der Oszillator schwingt
nicht. Erreicht der Ansprechkörper den vorgegebenen Abstand, so führt die stei
gende Kapazität zwischen der Ansprechelektrode und der Gegenelektrode zu einer
Vergrößerung des Rückkopplungsfaktors K, so daß K×V = 1 wird, d. h. der Oszillator
beginnt zu schwingen. Bei beiden Ausführungsformen - induktiver Näherungsschal
ter und kapazitiver Näherungsschalter - wird abhängig von den unterschiedlichen
Zuständen des Oszillators der elektronische Schalter, z. B. ein Transistor, ein Thyristor
oder ein Triac, gesteuert.
Strömungsmeßgeräte, insbesondere kalorimetrisch arbeitende Strömungswächter, ar
beiten in der Regel mit einer Differenztemperaturmessung. Ein erstes Temperatur
meßelement mißt eine durch ein Heizelement und durch ein strömendes Medium be
stimmte Temperatur, während ein zweites Temperaturmeßelement die durch das strö
mende Medium bestimmte Temperatur mißt. Bei Überschreiten einer vorgegebenen
Ansprechtemperaturdifferenz zwischen den beiden Temperaturmeßelementen wird
der elektronische Schalter umgesteuert.
Optoelektronische Näherungsschalter weisen einen Lichtsender und einen Lichtemp
fänger auf und werden auch als Lichtschranken bezeichnet. Dabei unterscheidet man
zwischen einem Lichtschrankentyp, bei dem der Lichtsender und der Lichtempfänger
auf entgegengesetzten Seiten einer Überwachungsstrecke angeordnet sind - Ein
weglichtschranke -, und einem Lichtschrankentyp, bei dem der Lichtsender und der
Lichtempfänger am gleichen Ende einer Überwachungsstrecke angeordnet sind,
während ein am anderen Ende der Überwachungsstrecke angeordneter Reflektor
den vom Lichtsender ausgehenden Lichtstrahl zum Lichtempfänger zurückreflektiert
Reflexlichtschranke. In beiden Fällen spricht der Anwesenheitsindikator an, wenn
der normalerweise vom Lichtsender zum Lichtempfänger gelangende Lichtstrahl
durch ein in die Überwachungsstrecke gelangtes Beeinflussungselement unterbro
chen wird. Es gibt jedoch auch Lichtschranken des zuletzt beschriebenen Licht
schrankentyps, bei denen der vom Lichtsender kommende Lichtstrahl nur durch ein
entsprechendes Beeinflussungselement zum Lichtempfänger zurückreflektiert wird
- Reflexlichttaster.
Im folgenden wird als Beispiel immer ein Reflexlichttaster behandelt. Gleichwohl gel
ten alle Ausführungen jedoch immer auch für andere Arten von elektronischen
Schaltgeräten der eingangs beschriebenen und zuvor erläuterten Art, insbesondere
für andere optoelektronische, induktive und kapazitive Näherungsschalter und für
Strömungswächter.
Die heutigen Anforderungen an elektronische Schaltgeräte beschränken sich nicht
mehr allein auf die Steuerung des elektronischen Schalters. Die Selbstüberwachung
spielt eine zunehmende Rolle, um eine höhere Funktionssicherheit der elektronischen
Schaltgeräte zu erreichen. Ein drohender Ausfall oder eine schlechte, aber noch aus
reichende Funktion können beispielsweise über eine von dem Zustandsindikator an
gesteuerte lichtemittierende Diode (LED) angezeigt werden, um somit einen Totalaus
fall und damit teure Standzeiten oder Fehlabläufe oder gar die Gefährdung von Be
dienungspersonal in Produktionsanlagen zu vermeiden. Ein weiterer wesentlicher
Bestandteil von elektronischen Schaltgeräten der eingangs und zuvor beschriebenen
Art ist somit der Zustandsindikator. Durch diesen Zustandsindikator werden einer
seits unterschiedliche Beeinflussungszustände des Anwesenheitsindikators bzw. un
terschiedliche Schaltzustände des elektronischen Schalters angezeigt, andererseits
Störungen oder sich anbahnende Störungen angezeigt. Solche Störungen entstehen
beispielsweise bei Reflexlichttastern dadurch, daß die Optik des Lichtsenders bzw.
des Lichtempfängers verschmutzt oder dadurch, daß eine hohe Hintergrundlichtin
tensität den Lichtempfänger beeinflußt.
Zunächst sind elektronische, berührungslos arbeitende Schaltgeräte mit einem Zu
standsindikator bekannt, bei denen der Zustandsindikator nur die dualen Informatio
nen "Ansprechschwelle unterschritten" und "Ansprechschwelle überschritten" liefert.
Ein solcher Zustandsindikator kann nur sehr eingeschränkt Informationen über eine
Störung des elektronischen Schalters liefern.
Bei elektronischen Schaltgeraten der in Rede stehenden Art ist nun die Ansprech
schwelle - leider - keine unabhängig von Umgebungseinflüssen fixierbare Größe. Sie
wird vielmehr, ausgehend von einem gewollten und bei der Herstellung mehr oder
weniger genau fixierten Wert durch Umgebungseinflüsse verändert, bei induktiven
Näherungsschaltern z. B. durch Temperatureinflüsse, bei kapazitiven Näherungs
schaltern z. B. durch Temperatureinflüsse und durch Feuchtigkeitseinflüsse, bei op
toelektronischen Näherungsschaltern z. B. durch Temperatureinflüsse und, wie be
reits erwähnt, durch mögliche Verschmutzungen der Optik. Ein dem theoretischen
Schaltpunkt benachbarter Bereich - unterhalb und oberhalb des theoretischen
Schaltpunktes - gilt deshalb als "unsicherer Bereich", dieser entspricht dem Beeinflus
sungszustand II.
Bekannte elektronische Schaltgeräte - vgl. die DE-C- 30 38 102, die DE-C- 40 23 529
und die DE-C- 41 11 297 - nutzen eine Beeinflussung des Anwesen
heitsindikators innerhalb des "unsicheren Bereiches", um eine Störung des elektroni
schen Schaltgerätes anzuzeigen. Hierbei tritt das Problem auf, daß auch bei einer un
gestörten Umsteuerung des elektronischen Schalters der "unsichere Bereich" immer
durchlaufen wird. Somit erfolgt häufig die Anzeige einer Störung, obwohl eine kor
rekte Umsteuerung des elektronischen Schaltgerätes erfolgt ist; die Signifikanz der
Anzeige der Störung ist somit herabgesetzt. Eine Variante dieser Verfahren besteht
darin, die Anzeige der Störung gemeinsam mit dem Umsteuern des Schaltzustandes
des elektronischen Schalters zu verzögern, so daß eine längere Beeinflussung des
Anwesenheitsindikators im Beeinflussungszustand II vor der Ausgabe eines Störsi
gnals sichergestellt ist. Durch diese zusätzliche Maßnahme wird die Signifikanz des
Störsignals jedoch nur geringfügig verbessert.
Ein bekanntes Verfahren zur Überwachung eines elektronischen Schaltgerätes, von
dem die Erfindung ausgeht, hier insbesondere eines Reflexlichttasters, welches in dem
Reflexlichttaster OJ 500-MIK-E 23 der Firma PEPPERL + FUCHS realisiert ist, unter
scheidet zwischen zwei Betriebszuständen des Reflexlichttasters. In dem Fall, in dem
der elektronische Schalter nur sehr selten umgesteuert wird, spricht man vom stati
schen Betrieb, beispielsweise bei der Überwachung eines etwaigen Abrisses einer
ständig laufenden Papierbahn. Im statischen Betrieb ist es von besonderer Bedeu
tung, daß ein Störsignal ausgegeben wird bevor der Schaltzustand des elektronischen
Schalteis geändert wird. Im Falle einer eher haufigen Umsteuerung des Reflex
lichttasteis spricht man vom dynamischen Betrieb, beispielsweise bei der Detektion
einzelner am Reflexlichttaster vorbeilaufender Gegenstände mit einer zumindest teil
weise reflektierenden Oberfläche. Bei dem bekannten Verfahren zur Überwachung
des Reflexlichttasters muß dieser jeweils extern auf den statischen oder dynamischen
Betrieb eingestellt werden. Ist der Reflexlichttaster für den statischen Betrieb einge
stellt, so gibt der Zustandsindikator ein Störsignal aus, sobald der Anwesenheitsindi
kator im "unsicheren Bereich" beeinflußt ist. Somit liefert das bekannte Verfahren zur
Überwachung eines Reflexlichttasters im statischen Betrieb nur eingeschränkt signi
fikante Störsignale, da beispielsweise Signale bestimmter Form mit Anteilen im "unsi
cheren Bereich", die systembedingt unregelmäßig auftauchen, das Setzen des Störsi
gnals nicht beeinflussen sollen. Auch im dynamischen Betrieb liefert das bekannte
Verfahren, welches ein Störsignal ausgibt, wenn der Spitzenwert zwischen zwei
Schaltvorgängen im "unsicheren Bereich" liegt, zur Überwachung eines Reflex
lichttasters nur eingeschränkt signifikante Störsignale, da beispielsweise bereits durch
einen schlechter reflektierenden Gegenstand, welcher im "unsicheren Bereich" de
tektiert wird, ein Störsignal ausgelöst wird. In Fig. 10a und b ist dargestellt wann
das geschilderte Verfahren im dynamischen Betrieb ein Störsignal ausgibt.
Aus der DE-A- 33 04 566 ist weiter ein Verfahren zur Ausgabe eines Störsignals im
dynamischen Betrieb bekannt, bei dem bei jedem objektbedingten Schaltvorgang ein
Zähler um eine Stufe weiter gesetzt wird, sobald der Anwesenheitsindikator im "unsi
cheren Bereich" beeinflußt wird. Der Zähler wird sofort zurückgesetzt, wenn der
Anwesenheitsindikator im Beeinflussungszustand III beeinflußt wird. Hat der Zähler
einen vorbestimmten, einstellbaren Zählerstand mit einem Schaltvorgang erreicht, so
wird mit Erreichen dieses Zählerstands ein Störsignal ausgegeben. Bei diesem be
kannten Verfahren ist die Signifikanz des Störsignals insbesondere dann gering,
wenn zwischen zwei Störsignalarten unterschieden werden soll. In den Fig. 10a und
c und 11a und b ist abhängig von einem beispielhaften Signalverlauf dargestellt,
wann das geschilderte, bekannte Verfahren ein Störsignal liefert. In Fig. 11a enthält
das Signal 1 systematische Störanteile, die bei der Ausgabe eines Störsignals nicht be
rücksichtigt werden sollen. Daraus ist ersichtlich, daß die Signifikanz des von dem ge
schilderten, bekannten Verfahren ausgegebenen Störsignals gering ist, wenn zwi
schen zwei verschiedenen Störsignalarten bzw. -verläufen unterschieden werden soll
und nur die eine der beiden Störsignalarten bzw. -verläufen zum Ausgeben des Stör
signals führen soll.
Der Erfindung liegt nun die Aufgabe zugrunde, das in Rede stehende Verfahren zur
Überwachung eines elektronischen Schaltgerätes und ein elektronisches Schaltgerät
zur Verwirklichung dieses Verfahrens so auszugestalten und weiterzubilden, daß bei
seinem Einsatz sowohl im statischen als auch im dynamischen Betrieb ein Störsignal
mit hoher Signifikanz ausgelöst wird.
Das erfindungsgemäße Verfahren zur Überwachung eines elektronischen Schaltgerä
tes, bei dem die zuvor hergeleitete und aufgezeigte Aufgabe gelöst ist, ist nun
zunächst und im wesentlichen dadurch gekennzeichnet, daß bei einem während eines
bestimmten Auswertezeitraums ein vorgegebenes Verhältnis übersteigenden Ver
hältnis von einem Zeitraum mit dem Anwesenheitsindikator im Beeinflussungszu
stand II zu einem Zeitraum mit den Anwesenheitsindikator in einem der Beeinflus
sungszustände I oder III vom Zustandsindikator ein Störsignal ausgegeben wird. Im
Hinblick auf das elektronische Schaltgerät zur Durchführung des Verfahrens wird die
aufgezeigte Aufgabe durch die Merkmale des Anspruchs 21 gelöst. Durch dieses Ver
fahren bzw. ein elektronisches Schaltgerät zur Verwirklichung dieses Verfahrens wird
gewährleistet, daß, unabhängig davon, ob das elektronische Schaltgerät im statischen
oder dynamischen Betrieb eingesetzt wird, ein Störsignal mit hoher Signifikanz aus
gegeben wird. Nur durch diese hohe Signifikanz des Störsignals kann gewährleistet
werden, daß die Einleitung eines wie auch immer gearteten Arbeitsablaufes zur Behe
bung der Störung oder zur Vermeidung von weitergehenden Schäden allein auf
grund des Störsignals erfolgen kann. Die hohe Signifikanz des Störsignals wird da
durch gewährleistet, daß ein Störsignal erst ausgegeben wird, wenn sich der Anwe
senheitsindikator beispielsweise länger im Beeinflussungszustand II - "unsicherer Be
reich" - befindet, als er sich vorher im Beeinflussungszustand III befunden hat. Durch
diese Maßnahme wird gewährleistet, daß ein Störsignal sowohl im statischen Betrieb
als auch im dynamischen Betrieb erst dann ausgegeben wird, wenn tatsächlich eine
Beeinträchtigung der Funktion des elektronischen Schaltgerätes zu befürchten ist.
Dadurch, daß das Verhältnis aus den in einem bestimmten Auswertezeitraum aufgetre
tenen Beeinflussungszuständen ermittelt wird, kann der Zeitraum bis zur Ausgabe ei
nes Störsignals bei einer Beeinträchtigung der Funktion des elektronischen Schaltge
rätes gezielt beeinflußt werden. Der Zeitraum bis zur Ausgabe eines Störsignals liegt
bei einem derart ausgestalteten Verfahren in der Größenordnung des festgelegten
Auswertezeitraums, während dessen die Beeinflussungszustände bewertet werden.
Im einzelnen gibt es nun verschiedene Möglichkeiten, die zuvor allgemein erläuterte
Lehre der Erfindung auszugestalten und weiterzubilden.
Betrachtet man die Zeiträume, während derer der Anwesenheitsindikator in einem der
Beeinflussungszustände beeinflußt ist, innerhalb eines bestimmten Auswertezeitrau
mes, so kann die erfindungsgemäße Aufgabe auch dadurch gelöst werden, daß nicht
das unmittelbare Verhältnis der Zeiträume betrachtet wird, sondern daß beispielsweise
die Differenz der Zeiträume oder ein Verhältnis von Differenz der Zeiträume zur
Summe der Zeiträume betrachtet wird. Der Begriff Verhältnis ist also im Lichte der
Lehre der Erfindung nicht allein auf seine allgemeine mathematische Definition be
schränkt.
Es besteht nun zunächst die Möglichkeit, das Verhältnis aus den in aufeinanderfol
genden Auswertezeiträumen aufgetretenen Beeinflussungszuständen am Ende des
jeweiligen Auswertezeitraumes zu ermitteln. Ein derart ausgestaltetes Verfahren be
sitzt den Vorteil, daß ein Störsignal mindestens während eines dem Auswertezeitraum
entsprechenden Zeitraumes angezeigt wird. Eine weitere Ausgestaltung des Verfah
rens kann dahingehend erfolgen, daß das Verhältnis jeweils aus den in einem zurück
liegenden Auswertezeitraum auftretenden Beeinflussungszuständen ermittelt wird.
Das bedeutet, daß nur die in einem zurückliegenden Auswertezeitraum vertretenen
Zeiträume des Anwesenheitsindikators in den betrachteten Beeinflussungszuständen
bewertet wird, - wodurch ein schnelles Ansprechen des Zustandsindikators bei einer
deutlichen Beeinträchtigung des elektronischen Schaltgerätes gewährleistet ist, da
der Auswertezeitraum quasi kontinuierlich auf der Zeitachse verschoben wird.
Die erste Möglichkeit, das Verhältnis aus den in aufeinanderfolgenden Auswerte
zeiträumen aufgetretenen Beeinflussungszuständen am Ende des jeweiligen Auswer
tezeitraumes zu ermitteln, wird dadurch ausgestaltet, daß die Auswertezeiträume mit
den Beeinflussungszuständen des Anwesenheitsindikators synchronisiert werden.
Durch eine solche Synchronisation wird gewährleistet, daß das Setzen eines Störsi
gnals unabhängig von der Lage eines Auswertezeitraums (AZ) zu einer Signalperiode
(SP) der Beeinflussungszustände des Anwesenheitsindikators ist, da die Auswerte
zeiträume auf die Signalperioden synchronisiert werden.
Ein solcher Sachverhalt ist beispielhaft in Fig. 12 dargestellt. Die in Fig. 12 darge
stellte Signalfolge mit den Signalen 1 bis 5 wiederholt sich periodisch. Nur die Flan
ken der breiten Signale 1, 2, 6, 7, liefern einen wesentlichen Beitrag der Beeinflussung
des Anwesenheitsindikators innerhalb des mittleren Beeinflussungsbereiches II. Bei
nicht synchronisierten Auswertezeiträumen wird das eine Mal ein Störsignal ausge
geben, das andere Mal nicht.
Die Synchronisation wird im einfachsten Fall dadurch gewährleistet, daß der Beginn
des jeweiligen Auswertezeitraumes aus den Beeinflussungszuständen des Anwesen
heitsindikators abgeleitet wird. In diesem Fall spricht man von einer Halbsynchroni
sation. Bei der Halbsynchronisation wird das Ende des Auswertezeitraumes durch die
vorgegebene Länge des Auswertezeitraumes bestimmt. Bei der Halbsynchronisation
ist gewährleistet, daß ein Auswertezeitraum eine definierte Länge besitzt, die nicht
unterschritten werden kann. Der Beginn des jeweiligen Auswertezeitraumes wird bei
der Halbsynchronisation vorzugsweise aus dem Übergang zwischen zwei Beeinflus
sungszuständen des Anwesenheitsindikators abgeleitet.
Falls außer dem Beginn des jeweiligen Auswertezeitraumes auch das Ende des jewei
ligen Auswertezeitraumes aus den Beeinflussungszuständen des Anwesenheitsindi
kators abgeleitet wird, spricht man von einer Vollsynchronisation. Auch bei einer
Vollsynchronisation werden Beginn und Ende eines Auswertezeitraumes vorzugs
weise vom Übergang des Anwesenheitsindikators von einem Beeinflussungszustand
in einen zweiten Beeinflussungszustand abgeleitet. Darüber hinaus kann auch die
Richtung des Übergangs zwischen zwei Beeinflussungszuständen berücksichtigt
werden. Beispielsweise beginnt, wie in Fig. 13 dargestellt, der Auswertezeitraum AZ1
wenn die dort zusätzlich eingezeichnete Schwelle SSA überschritten wird, während
der Auswertezeitraum AZ1 endet, wenn die Schwelle SSA wieder unterschritten
wird. Alternativ dazu beginnt der Auswertezeitraum AZ2 mit Überschreiten der
Schwelle SSA und endet auch wieder mit einem erneuten Überschreiten der Schwelle
SSA. Wie in Fig. 13 dargestellt, können speziell zur Vollsynchronisation der Auswer
tezeiträume spezielle Schwellen eingeführt werden, die eine sichere Synchronisation
gewährleisten. Selbstverständlich können Beginn und Ende eines Auswertezeitrau
mes auch durch das Unter- bzw. Überschreiten unterschiedlicher Schwellen gewähr
leistet werden. Zur Synchronisation eignen sich insbesondere sehr hoch angesiedelte
Schwellen, wie die in Fig. 13 dargestellte Schwelle SSE. Fehlsynchronisationen lassen
sich durch die Wahl einer solchen Schwelle nahezu ausschließen. Eine weitere Si
cherheit wird dadurch gewährleistet, daß die Länge jedes Auswertezeitraumes mit ei
ner vorgegebenen Länge verglichen wird und bei einer Abweichung von der vorge
gebenen Länge außerhalb einer bestimmten Toleranz ein Störsignal ausgegeben wird.
Unter Umständen ist es sinnvoll wenn die Synchronisation nicht anhand eines einfa
chen Übergangs zwischen zwei Beeinflussungszuständen erfolgt, sondern daß die
Synchronisation erst anhand einer "Übergangsfolge" mit bestimmten Zeitabständen,
also anhand einer bestimmten "Signalform" erfolgt.
Darüber hinaus kann das Verfahren dadurch ausgestaltet werden, daß die Auswerte
zeiträume mit externen Signalen synchronisiert werden. D. h., daß beispielsweise Vor
gänge im Ablauf des Produktionsprozesses, also etwa die Betätigung eines Hubma
gneten in einer Maschine, in den der Sensor eingebunden ist, zur Synchronisation der
Auswertezeiträume dienen können. Auf diese Art und Weise können beispielsweise
prozeßbedingte Störsignalfolgen eliminiert werden.
Durch die Synchronisation der Auswertezeiträume mit den Beeinflussungszuständen
des Anwesenheitsindikators ist gewährleistet, daß zwischen Funktionsstörungen des
Sensors und externen Störungen, beispielsweise im Produktionsprozeß, unterschie
den werden kann.
Eine weitere Ausgestaltung des erfindungsgemäßen Verfahrens besteht darin, eine
vorzugsweise automatische Umschaltung zwischen Voll-, Halb- und Nichtsynchroni
sation zu gewährleisten, wie das in den Fig. 14 und 15 dargestellt ist. Diese Umschal
tung kann ausgelöst werden
- a) durch einen Wechsel von statischem Betrieb zu dynamischem Betrieb (oder umgekehrt),
- b) durch Vorgabe eines Minimal- und/oder Maximalwertes für den Auswerte zeitraum,
- c) durch Erkennung einer bestimmten Signalform oder -folge,
- d) durch Einstellung am Gerät oder extern (Prozeßparameter) und
- e) durch Erreichen bzw. Nichterreichen eines Mindestzeitraumes während des sen sich der Anwesenheitsindikator in einem bestimmten Beeinflussungszu stand befindet.
Neben einer Synchronisation der Auswertezeiträume wird auch der Auswertemodus,
d. h. z. B. das zur Ausgabe eines Störsignals zu erreichende Verhältnis, abhängig von
den Signalformen, also der Folge von Beeinflussungszuständen des Anwesen
heitsindikators, verändert. So wird beispielsweise das Verhältnis, ab welchem ein
Störsignal ausgegeben wird, abhängig von der Signalform verändert, so daß eine
hohe Signifikanz des Störsignalausgangs gewährleistet ist (vgl. Fig. 14 und 15). Die
Synchronisation kann wiederum auch anhand externer Signale erfolgen. Selbstver
ständlich kann der Auswertemodus auch extern, also am Gerät eingestellt werden.
Insbesondere macht die Verknüpfung eines bestimmten Auswertemodus mit einer be
stimmten Synchronisation und mit einem Einsatz bei dynamischem oder statischem
Betrieb Sinn.
Je nach Anforderung ist es sinnvoll, daß das Verhältnis erst dann gebildet wird, wenn
der Zeitraum mit dem Anwesenheitsindikator im Beeinflussungszustand II und/oder
der Zeitraum mit dem Anwesenheitsindikator in einem der Beeinflussungszustände I
oder III einen jeweils festgelegten Mindestzeitraum überschritten hat. Durch diese
Ausgestaltung des erfindungsgemäßen Verfahrens kann gewährleistet werden, daß
während des statischen Betriebs des Reflexlichttasters eine kurze Beeinflussung bis
hinein in den Beeinflussungszustand I nicht zu einer dauerhaften Ausgabe eines
Störsignals führt. Wird diese Ausgestaltung des Verfahrens mit der geschilderten
Ausgestaltung der Ermittlung des Verhältnisses während eines festgelegten Auswer
tezeitraumes kombiniert, so ist es notwendig, daß der Auswertezeitraum ggf. verlän
gert wird, wenn die festgelegten Mindestzeiträume innerhalb eines Auswertezeitrau
mes nicht erreicht werden.
Die weitere Ausgestaltung des Verfahrens, nämlich daß das Verhältnis aus den in ei
nem zurückliegenden Auswertezeitraum auftretenden Beeinflussungszuständen er
mittelt wird, wird dadurch ausgestaltet, daß gesteuert von einer Zeitbasis ein Zähler im
Falle einer Beeinflussung des Anwesenheitsindikators im Beeinflussungszustand II
um eine erste Zahl erhöht oder erniedrigt wird, solange der Zähler einen bestimmten
ersten Wert nicht über- oder unterschreitet, daß der Zähler im Falle einer Beeinflus
sung des Anwesenheitsindikators in einem der Beeinflussungszustände I oder III um
eine zweite Zahl erniedrigt oder erhöht wird, solange der Zähler einen bestimmten
zweiten Wert nicht unter- oder überschreitet, daß bei Über- oder Unterschreiten eines
bestimmten ersten Grenzwertes durch den Zähler ein Störsignal ausgegeben wird und
daß bei Unter- oder Überschreiten eines bestimmten zweiten Grenzwertes durch den
Zähler das Störsignal gelöscht wird. Ein derartig ausgestaltetes erfindungsgemäßes
Verfahren ist in Fig. 16 als Flußdiagramm dargestellt. Der Vorteil der geschilderten
Ausgestaltung des erfindungsgemäßen Verfahrens liegt in dem geringen Aufwand zu
seiner Realisation. Es wird beispielsweise nur ein Zähler benötigt bzw. bei der Ver
wendung eines Microcontrollers nur sehr wenig Speicherplatz beansprucht. Diese
Ausgestaltung des erfindungsgemäßen Verfahrens kann natürlich auch analog reali
siert werden.
Die zuletzt geschilderte Ausbildung des erfindungsgemäßen Verfahrens wird weiter
dadurch ausgestaltet, daß die Zeitbasis im Falle eines diskontinuierlichen Signales von
dem Signal selbst gebildet wird. Hierdurch entfällt die Notwendigkeit einer zusätzli
chen unabhängigen Zeitbasis.
Eine weitere Ausgestaltung der erfindungsgemäßen Lehre erfolgt dadurch, daß ein
Verfahren zur Bestimmung der Zeiträume, während derer sich der Anwesenheitsindi
kator in einem der Beeinflussungszustände befindet, abhängig von dem Typ des elek
tronischen Schaltgerätes, in welchem das Verfahren eingesetzt wird, vorgeschlagen
wird.
Für elektronische Schaltgeräte mit einem diskontinuierlich arbeitenden Anwesen
heitsindikator - beispielsweise ein mit Pulslicht betriebener Reflexlichttaster - eignet
sich besonders ein Verfahren, bei dem die Beeinflussungszustände des Anwesen
heitsindikators unabhängig von dem Übergang zwischen zwei Beeinflussungszu
ständen des Anwesenheitsindikators in regelmäßigen Zeitabständen - also beim Re
flexlichttaster vorteilhafterweise in den Zeitabständen der Lichtpulse aufgenommen
werden und daß die jeweiligen Zeiträume mit dem Anwesenheitsindikator im jeweili
gen Beeinflussungszustand I, II oder III aus der Anzahl der jeweils aufgenommenen
Beeinflussungszustände I, II oder III ermittelt werden. Dieses Verfahren kann beson
ders vorteilhaft durch Verwendung eines Microcontrollers verwirklicht werden.
Hingegen ist es bei dem Einsatz eines elektronischen Schaltgerätes, welches ein kon
tinuierliches Ausgangssignal liefert, beispielsweise eines induktiven Näherungsschal
ters oder eines Strömungswächters, vorteilhaft, die jeweiligen Zeiträume mit dem An
wesenheitsindikator im jeweiligen Beeinflussungszustand I, II oder III aus den
Zeiträumen zwischen den Übergängen zwischen zwei Beeinflussungszuständen des
Anwesenheitsindikators zu ermitteln.
Das erfindungsgemäße Verfahren wird weiter dadurch ausgestaltet, daß der mittlere
Beeinflussungsbereich des Anwesenheitsindikators (Beeinflussungszustand II) in
einen unterhalb der Ansprechschwelle liegenden Beeinflussungsbereich (Beeinflus
sungszustand IIa) und in einen oberhalb der Ansprechschwelle liegenden Beeinflus
sungsbereich (Beeinflussungszustand IIb) unterteilt wird.
Dann kann das erfindungsgemäße Verfahren dadurch ausgestaltet werden, daß bei
einem ein jeweils vorgegebenes Verhältnis übersteigenden Verhältnis von einem Zeit
raum mit dem Anwesenheitsindikator im Beeinflussungszustand IIa zu dem Zeitraum
mit dem Anwesenheitsindikator im Beeinflussungszustand I oder von einem Zeitraum
mit dem Anwesenheitsindikator im Beeinflussungszustand IIb zu dem Zeitraum mit
dem Anwesenheitsindikator im Beeinflussungszustand III vom Zustandsindikator ein
Störsignal ausgegeben wird. Diese Ausgestaltung des erfindungsgemäßen Verfahrens
ermöglicht es vorteilhafterweise, Zwischenbeeinflussungen im "unsicheren Bereich"
oberhalb und unterhalb der Ansprechschwelle zu unterscheiden. Hierdurch wird ins
besondere gewährleistet, daß ein Störsignal ausgegeben wird, wenn das elektronische
Schaltgerät beispielsweise ständig von einem "sicheren Bereich" Beeinflussungszu
stand I oder III - in einen "unsicheren Bereich" jenseits der Ansprechschwelle beein
flußt und damit umgesteuert wird, obwohl sich der Anwesenheitsindikator in diesem
Fall die meiste Zeit in dem angesprochenen "sicheren Bereich" befindet. Dies ist nur
möglich, da der Zustandsindikator nunmehr zwischen den "unsicheren Bereichen"
ober- und unterhalb der Ansprechschwelle unterscheiden kann.
Alternativ zu der zuletzt geschilderten Ausgestaltung kann das Verfahren dadurch
ausgestaltet werden, daß bei einem während eines bestimmten Auswertezeitraumes
ein jeweils vorgegebenes Verhältnis von einem Zeitraum mit dem Anwesenheitsindi
kator im Beeinflussungszustand IIa oder IIb zu dem Zeitraum mit dem Anwesen
heitsindikator im Beeinflussungszustand III oder von einem Zeitraum mit dem Anwe
senheitsindikator im Beeinflussungszustand IIa zu dem Zeitraum mit dem Anwesen
heitsindikator im Beeinflussungszustand III vom Zustandsindikator ein Störsignal
ausgegeben wird.
Wie bereits im Zusammenhang mit der Synchronisation angedeutet und in den Fig. 10
und 13 dargestellt, ist es vorteilhaft das erfindungsgemäße Verfahren dadurch auszu
gestalten, daß die Beeinflussungszustände II und III des Anwesenheitsindikators in
weitere Beeinflussungszustände unterteilt werden (vgl. Fig. 17). (Mit HY wird in den
Figuren der Beeinflussungsbereich bezeichnet, der zwischen der Einschalt- und der
Ausschalt-Schwelle liegt, um eine Hysterese beim Schaltvorgang zu gewährleisten.)
Wie bereits im Zusammenhang mit der Synchronisation erwähnt, kann durch diese
Maßnahme gewährleistet werden, daß eine Synchronisation mit sehr hoher Reprodu
zierbarkeit gewährleistet ist, beispielsweise bei einer Synchronisation auf das Über
schreiten der Schwelle SSE in Fig. 17.
Wie bereits angesprochen wird das erfindungsgemäße Verfahren dadurch weiter aus
gestaltet, daß die Beeinflussung des Anwesenheitsindikators in einem der weiteren
Beeinflussungszustände zur Synchronisation der Auswertezeiträume mit den Beein
flussungszuständen des Anwesenheitsindikators verwendet werden.
Darüber hinaus wird das erfindungsgemäße Verfahren weiter dadurch ausgestaltet,
daß die Zeiten zwischen den Übergängen von einem Beeinflussungszustand in einen
anderen Beeinflussungszustand des Anwesenheitsindikators zur Bewertung der
Ausgabe eines Störsignals durch den Zustandsindikator herangezogen werden.
Die zuletzt geschilderten Ausgestaltungen des erfindungsgemäßen Verfahrens er
möglichen dann, daß ein fehlerspezifisches Störsignal ausgegeben wird. Dieses fehler
spezifische Störsignal kann beispielsweise zwischen Fehlfunktionen des Sensors und
Störungen des äußeren Produktionsprozesses unterscheiden. Innerhalb eines Aus
wertezeitraumes werden also nicht nur die Gesamtzahl von Empfangspulsen in einem
der Bereiche bzw. ihre Zeitanteile ermittelt, sondern es wird der Verlauf einzelner Si
gnale und ggf. deren Abweichungen von der Sollsignalform ermittelt (vgl. Fig. 10, 13
und 18). Bei Bedarf kann auch die richtungsabhängige zeitliche Aufeinanderfolge
der einzelnen Bestandteile eines Signals analysiert weiden. In Fig. 19 ist als Beispiel
dafür die Lageprüfung von Objekten auf einem Transportband dargestellt. Wird das
Wertepaar T1, T2, T3 mit entsprechenden Toleranzen gemessen, liegt das Objekt rich
tig, bei der Reihenfolge T3, T2, T1, liegt es, wie in Fig. 19 zuletzt dargestellt, falsch.
Durch die geschilderten Maßnahmen ist es möglich, eine oder mehrere Signalformen
von der Auswertung bezüglich der Ausgabe eines Störsignals auszuschließen. In den
Fig. 14 und 15 ist beispielsweise dargestellt, daß Signale, die vom Bereich SE in den
Bereich UE wechseln, ohne eine tieferliegende Schwelle zu erreichen und dort wäh
rend der Zeitdauer T1 verbleiben von der Auswertung bezüglich der Ausgabe eines
Störsignals ausgeschlossen werden.
Durch die geschilderten Maßnahmen ist gewährleistet, daß geringe Abweichungen
der Ist-Signalform von der Soll-Signalform bei einzelnen Signalen oder bei einer Si
gnalgruppe erkannt werden. Als Störsignale kommen somit beispielsweise in Frage,
fehlerhafte Objektform oder -abstand, falsche Transportbandgeschwindigkeit, Lin
senverschmutzung, unzulässige Änderung der Sendeleistung oder Empfindlichkeit
des Empfangsverstärkers. Es kann also zwischen Fehlerquellen unterschieden wer
den, die ihren Ursprung im Sensor oder im externen Prozeß haben. Es kann auch bei
spielsweise festgestellt werden, ob eine periodisch aufeinanderfolgende Anordnung
von drei Objekten verschiedener Form, wie z. B. in Fig. 20 dargestellt, die den Detek
tionsbereich eines Reflexlichttasters nacheinander durchlaufen, in der richtigen Rei
henfolge und im richtigen Abstand angeordnet sind und ob die Oberflächenreflektion
und/oder die Form dieser Objekte den Sollwerten entsprechen. In Fig. 19 ist außerdem
dargestellt, wie festgestellt wird, ob ein Objekt, das auf einem Förderband steht, rich
tig ausgerichtet ist oder z. B. um 180° gedreht werden muß.
Darüber hinaus ermöglichen die geschilderten Ausgestaltungen des erfindungsgemä
ßen Verfahrens es selbst bei einer Hintergrundreflexion, die in ihrer Intensität ständig
schwankt, festzustellen, ob deren mittlere Intensität oder der Amplitudenwert einzel
ner Reflexionsimpulse sich unzulässig erhöht (vgl. Fig. 18). Dabei ist es möglich
nicht störende periodische oder nicht periodische Hintergrundreflexionen eines oder
mehrerer bestimmter Typen bei der Ausgabe eines Störsignals unberücksichtigt zu
lassen. Es können also fehlerspezifische Störsignale ausgegeben werden, die zwi
schen einer zu hohen Hintergrundreflexion, spiegelnden Oberflächen, d. h. Oberflä
chenfehlern, unterscheiden und somit eine entsprechend differenzierte Störsignal
auswertung erlauben.
Im folgenden wird die Bedeutung der Verwendung mehrerer Schwellwerte weiter
erläutert.
Mit Hilfe von mindestens zwei Schwellen wird der zeitliche Verlauf der Beeinflus
sungszustände des Anwesenheitsindikators analysiert, indem die Zeit oder das ent
sprechende Äquivalent, also bei einem Reflexlichttaster mit Störaustastung die An
zahl der Empfangspulse mit bestimmter Amplitude, gemessen wird, in welchen sich
das Signal in den einzelnen Beeinflussungszuständen befindet (vgl. hierzu Fig. 13).
Bei drei Beeinflussungszuständen, d. h. zwei Schwellen, werden z. B. zwei Beeinflus
sungszustände ausgewertet. Hierdurch ist es möglich, bestimmte einzelne Signalfor
men oder Signalfolgen, d. h. mehrere gleiche oder unterschiedliche aufeinanderfol
gende Signale, die sich periodisch oder nicht periodisch wiederholen, zu erkennen.
Diese Signalformen charakterisieren bestimmte Objekte bzw. Reflektionsverhältnisse,
z. B. bei einem Reflexlichttaster, oder Prozeßphasen, z. B. bei einem Druckwächter.
Abweichungen von der Sollsignalform werden gemessen und führen bei Überschrei
ten eines Grenzwertes zur Ausgabe eines Störsignales.
Ein weiterer wichtiger Vorteil des erfindungsgemäßen Verfahrens und seiner Ausge
staltungen besteht darin, daß zur Ermittlung von internen Störungen des Sensors und
von, durch externe Störungen, beispielsweise Prozeßstörungen, hervorgerufenen
Abweichungen von der Sollsignalform der Meßgröße statt zwei Sensoren nunmehr
ein Sensor benötigt wird. Dieser Sensor weist außer den Ansprechschwellen SE und
SA mindestens eine weitere Schwelle unter und/oder über den Ansprechschwellen
auf, so daß das zeit- und richtungsabhängige Durchlaufen der einzelnen Schwellen
ausgewertet wird, wobei vorzugsweise der Beginn und die Dauer des Auswertezeit
raumes an den Signalverlauf, d. h. an das richtungsabhängige Durchlaufen bestimmter
Schwellen, bzw. das Auftreten bestimmter Signalformen, gekoppelt ist.
Vorzugsweise ist eine oder mehrere der Schwellen, die für die Signalformerkennung
benutzt werden, mit der Ansprechschwelle und/oder einer oder mehreren Schwellen
identisch, die den "unsicheren Bereich" definieren. Im einfachsten Fall wird mit nur
zwei Schwellen gearbeitet, der Ansprechschwelle und einer weiteren Schwelle für die
Definition des "unsicheren Bereichs" die über oder unterhalb der Ansprechschwelle
liegt.
Die einzelnen Signale werden analysiert, indem die richtungsabhängigen Verweilzei
ten (TB, TC, TW1, TEA1, TEA1′, vgl. Fig. 21) in den einzelnen Bereichen SE, UE usw.
ermittelt und für die Auswertung herangezogen werden.
Beginn und Ende oder nur der Beginn oder nur das Ende des Auswertezeitraumes
AZ wird vom Durchlaufen einer der Schwellen SUE, SE, SA usw. abhängig gemacht
(vgl. Fig. 13, 14 und 15).
Der Auswertezeitraum kann entweder nur jeweils ein Signal (vgl. Fig. 13), d. h. Aus
wertezeitraum AZ = Signalperiode SP, oder auch mehrere Signale umfassen, wie z. B.
in Fig. 20 der Auswertezeitraum AZ123. Wird mit zwei oder mehreren verschiedenen
Auswertezeiträumen gearbeitet, so kann z. B. ein Auswertezeitraum, z. B. in Fig. 20
der Auswertezeitraum AZ1, für die Erkennung eines Einzelsignals, in Fig. 20 bei
spielsweise das Signal 1 verwendet werden, das wiederum Beginn, in Fig. 20 Signal 1,
oder Ende, beispielsweise in Fig. 20 Signal 4, eines größeren Auswertezeitraumes, in
Fig. 20 AZ123, definiert.
Die Anzahl der Signale je Auswertezeitraum kann konstant, wie z. B. in Fig. 20 im
Auswertezeitraum AZ123, oder in Fig. 12 die synchronisierte Signalfolgeperiode SP1,
oder auch variabel sein, z. B. abhängig vom Signalverlauf und der Definition des
Auswertezeitraumes, von der Betriebsweise, statisch oder dynamisch, von der Syn
chronisationsart oder von externen Parametern.
Es ist möglich, daß bestimmte Arten von Störungen mit den Schwellen SUE, SE und
SA nicht sicher erkannt werden können, da diese Schwellen dicht beieinander liegen
und Umwelteinflüsse, wie z. B. Temperatur oder Bauelementealterung, zu einer Ver
schiebung der Schwellen relativ zueinander führen und somit bei einem in der Praxis
üblichen geringen Abstand dieser Schwellen leicht Fehlergebnisse auftreten können.
In diesem Fall ist es günstig, eine oder mehrere weitere Schwellen, z. B. SSE und/oder
SSA, zu definieren, vorzugsweise oberhalb der Schwelle SUE und/oder unterhalb der
Schwelle SUA.
Diese weiteren Schwellen sind besonders dann sinnvoll, wenn es darum geht, be
stimmte Signalformen bzw. Signalformveränderungen mit hoher Sicherheit festzustel
len, die z. B. auf eine Verschmutzung der Optik des Reflexlichttasters oder fehlerhafte
Prozeßabläufe zurückzuführen sind oder auch um Beginn und/oder Ende eines Aus
wertezeitraumes in zufriedenstellender Weise definieren zu können, wie z. B. bei Re
flexlichttastern durch die hochliegende Schwelle SSE, wie in Fig. 13 dargestellt, so
daß die Wahrscheinlichkeit von fehlerhaft synchronisierten Auswertezeiträumen ge
ring ist.
Innerhalb eines Auswertezeitraumes werden die Zeiträume der Signalanteile in den
einzelnen Beeinflussungszuständen registriert und ausgewertet. Ein Beeinflussungs
zustand wird durch zwei benachbarte Schwellen festgelegt, z. B. der Beeinflussungs
zustand SE durch die Schwellen SUE und SSE (vgl. Fig. 18).
Wie bereits angesprochen, sind verschiedene Auswertemodi zur Bestimmung der
Bedingungen, ob und wann ein Störsignal ausgegeben bzw. gelöscht wird, möglich,
z. B. bei einem Reflexlichttaster
- a) die Anzahl der Empfangspulse im Beeinflussungszustand UE,
- b) die Anzahl der Empfangspulse im Beeinflussungszustand UA,
- c) die Anzahl der Empfangspulse im Beeinflussungszustand UE und UA und
- d) das Verhältnis der Empfangspulse in den Beeinflussungszuständen UE und UA zu der Anzahl der Empfangspulse im Beeinflussungszustand SE.
Die Auswertemodi werden auch, wie bereits angesprochen, in Abhängigkeit von der
Synchronisationsart, der Reihenfolge der Synchronisationsarten, von statischem oder
dynamischem Betrieb oder externen Parametern gewechselt.
Durch eine weitere Schwelle oberhalb des Beeinflussungszustandes UE ergibt sich
die Möglichkeit Fehler in der Oberflächenbeschaffenheit des zu detektierenden Ge
genstandes zu erkennen. Dies ist in Fig. 18 dargestellt, wo z. B. das Signal 5 eine
spiegelnde Stelle mit zu großer Reflexion bei einem Gegenstand mit ansonsten matter
Oberfläche anzeigt. Somit kann die Größe oder die Anzahl der Fehler ermittelt und bei
einer Überschreitung einer bestimmten Fehlergröße ein allgemeines oder auch ein
fehlerspezifisches Störsignal ausgegeben werden.
Durch eine weitere Schwelle SSA unterhalb des Beeinflussungszustandes SA ist es
bei Reflexlichttastern möglich, frühzeitig eine zu hohe Hintergrundreflexion zu er
kennen und durch Gegenmaßnahmen ein evtl. Schalten zu verhindern.
Darüber hinaus ist es auch möglich, eine periodische von einer nicht periodischen
hohen Hintergrundreflexion zu unterscheiden oder festzustellen, ob sich die Breite,
Anzahl oder mittlere Amplitude der Hintergrundreflexionssignale innerhalb eines be
stimmten Auswertezeitraumes ändert oder einen Grenzwert überschreitet.
Die beschriebenen Ausgestaltungen des erfindungsgemäßen Verfahrens können, wie
bereits angedeutet, nicht nur zur Realisierung eines elektronischen Schaltgerätes
verwendet werden, das innere und äußere Funktionsstörungen des Gerätes, wie z. B.
bei einem Reflexlichttaster eine Linsenverschmutzung, durch Ausgabe eines Störsi
gnals mit hoher Signifikanz anzeigt, sondern auch zur Detektion von Störungen in
Produktionsprozessen eingesetzt werden, wie z. B. der Überwachung einer periodi
schen Bewegung eines Kolbens in einem Hydraulikzylinder durch einen induktiven
Näherungsschalter oder zur Überwachung der Einhaltung eines periodischen Druck
verlaufs in pneumatischen Störungen durch einen kapazitiven Sensor oder auch zur
Überwachung des Transports von Gegenständen unterschiedlicher Form in bestimm
ter Reihenfolge auf einem Transportband durch einen Reflexlichttaster.
Im folgenden wird die Erfindung anhand einer lediglich ein Ausführungsbeispiel dar
stellenden Verwirklichung in einem Reflexlichttaster in Verbindung mit einer Zeich
nung nochmals erläutert; es zeigt
Fig. 1 ein Blockschaltbild eines Reflexlichttasters,
Fig. 2 eine erste graphische Darstellung der Beeinflussungszustände des
Reflexlichttasters,
Fig. 3 ein Blockschaltbild einer ersten Ausführungsform eines Zustandsindika
tors zur Verwirklichung des erfindungsgemäßen Verfahrens,
Fig. 4 ein Flußdiagramm des in der ersten Ausführungsform des Zustandsindi
kators realisierten erfindungsgemäßen Verfahrens,
Fig. 5 einen Signalverlauf beim statischen Betrieb des Reflexlichttasters gemäß
der ersten Ausführungsform des Zustandsindikators,
Fig. 6 einen Signalverlauf beim dynamischen Betrieb des Reflexlichttasters
gemäß der ersten Ausführungsform des Zustandsindikators,
Fig. 7 ein Blockschaltbild einer zweiten Ausführungsform eines Zustandsindi
kators zur Verwirklichung des erfindungsgemäßen Verfahrens,
Fig. 8 ein Blockschaltbild einer dritten Ausführungsform eines Zustandsindika
tors zur Verwirklichung des erfindungsgemäßen Verfahrens,
Fig. 9 einen Signalverlauf beim dynamischen Betrieb des Reflexlichttasters
gemäß der zweiten Ausführungsform des Zustandsindikators,
Fig. 10a-c einen ersten beispielhaften Signalverlauf und die Ausgabe von Störsi
gnalen nach bekannten Verfahren zur Überwachung elektronischer
Schaltgeräte,
Fig. 11a, b einen zweiten beispielhaften Signalverlauf und die Ausgabe eines Stör
signals nach einem bekannten Verfahren zur Überwachung elektroni
scher Schaltgeräte,
Fig. 12 einen dritten beispielhaften Signalverlauf in Verbindung mit verschie
denen Auswertezeiträumen und Signalperioden,
Fig. 13 einen vierten beispielhaften Signalverlauf in Verbindung mit verschie
denen Auswertezeiträumen und Signalperioden,
Fig. 14a, b einen fünften beispielhaften Signalverlauf mit prozeßbedingten Störun
gen und die Ausgabe von Störsignalen nach dem erfindungsgemäßen
Verfahren,
Fig. 15a, b einen sechsten beispielhaften Signalverlauf mit systembedingten Stö
rungen und die Ausgabe von Störsignalen nach dem erfindungsgemä
ßen Verfahren
Fig. 16 ein Flußdiagramm einer alternativen Verwirklichung des erfindungsge
mäßen Verfahrens,
Fig. 17 eine zweite graphische Darstellung der Beeinflussungszustände eines
elektronischen Schaltgerätes,
Fig. 18 einen siebten bei spielhaften Signalverlauf,
Fig. 19 einen achten beispielhaften Signalverlauf,
Fig. 20 einen neunten beispielhaften Signalverlauf,
Fig. 21 einen zehnten beispielhaften Signalverlauf,
Fig. 22 einen elften beispielhaften Signalverlauf mit verschiedenen Auswerte
zeiträumen und bei spielhaften Störungen und
Fig. 23 einen zwölften beispielhaften Signalverlauf.
Das erfindungsgemäße Verfahren wird im weiteren in einer beispielhaften Ausgestal
tung, realisiert in einem Reflexlichttaster, geschildert und erläutert. Dies ist nicht im
Sinne einer Einschränkung zu verstehen, sondern soll lediglich dem Verständnis und
der Übersichtlichkeit der Erläuterung dienen.
In Fig. 1 ist ein Blockschaltbild eines an sich bekannten Reflexlichttasters 1 darge
stellt. Das elektronische Schaltgerät, also der Reflexlichttaster 1, weist einen von auß
en beeinflußbaren Anwesenheitsindikator 2 auf. Der Anwesenheitsindikator 2 be
steht bei einem Reflexlichttaster 1 aus einem Lichtsender 3 und einem Lichtempfän
ger 4. Wird der Anwesenheitsindikator 2, beispielsweise durch einen in den Strahlen
gang eingebrachten reflektierenden Gegenstand, beeinflußt, so wird, im allgemeinen
über einen Schaltverstärker 5, ein elektronischer Schalter 6, z. B. ein Transistor, ein
Thyristor oder ein Triac, umgesteuert, wenn der Beeinflussungszustand des Anwe
senheitsindikators 2 eine vorgegebene Ansprechschwelle überschreitet.
Weiter weist der Reflexlichttaster 1 einen Zustandsindikator 7 auf. Im vorliegenden
Beispiel können durch den Zustandsindikator 7 unterschiedliche Beeinflussungszu
stände des Anwesenheitsindikators 2 unterschieden werden - vgl. Fig. 2. Ist der An
wesenheitsindikator 2 nicht oder nur gering beeinflußt, so befindet er sich im Beein
flussungszustand I, ist er innerhalb eines mittleren "unsicheren" Beeinflussungsbe
reichs unterhalb der Ansprechschwelle beeinflußt, so befindet er sich im Beeinflus
sungszustand IIa, ist der Anwesenheitsindikator 2 innerhalb eines mittleren "unsiche
ren" Beeinflussungsbereichs oberhalb der Ansprechschwelle beeinflußt, so befindet
sich der Anwesenheitsindikator 2 im Beeinflussungszustand IIb, ist schließlich der
Anwesenheitsindikator oberhalb des mittleren "unsicheren" Beeinflussungsbereichs
beeinflußt, so befindet sich der Anwesenheitsindikator 2 im Beeinflussungszu
stand III.
In Fig. 3 ist ein Blockschaltbild einer ersten Ausführungsform eines Zustandsindika
tors 7 zur Verwirklichung des erfindungsgemäßen Verfahrens dargestellt, wobei die
wesentlichen Funktionen des Zustandsindikators 7 von einer Komparatorkaskade 8
und einem Microcontroller 9 gebildet werden. Der Microcontroller 9 nimmt in der
vorliegenden Ausführungsform des Zustandsindikators 7 außerdem noch die Funk
tion des Schaltverstärkers 5 wahr. Sein Schaltausgang 10 ist somit unmittelbar mit
dem elektronischen Schalter 6 verbunden. Das nach dem erfindungsgemäßen Verfah
ren ermittelte Störsignal wird über einen Funktionskontrollausgang 11 ausgegeben.
Die Komparatorkaskade 8 in der vorliegenden ersten Ausführungsform des Zustands
indikators 7 wird von drei die Begrenzungen der Beeinflussungsbereiche I, IIa, IIb, III
überwachenden Komparatoren 12, 13, 14 gebildet. Die Referenzspannungen der
Komparatoren 12, 13, 14 werden über eine Reihenschaltung von drei Widerständen
15, 16, 17 gebildet. Somit erhält der Microcontroller 9 ein 3-Bit-Wort, welches ihm an
zeigt, in welchem Beeinflussungszustand sich der Anwesenheitsindikator 2 befindet.
Der Microcontroller 9 arbeitet nun beispielsweise nach dem in Fig. 4 durch ein Fluß
diagramm dargestellten Algorithmus. Es ist eine Vielzahl anderer Algorithmen zur
Verwirklichung des erfindungsgemäßen Verfahrens denkbar, wie sich bereits aus den
einleitenden Ausführungen ergibt.
Im vorliegenden Beispiel wird nur das Verhältnis zwischen den Zeiträumen mit dem
Anwesenheitsindikator 2 im Beeinflussungszustand IIb zu dem Zeitraum mit dem
Anwesenheitsindikator 2 im Beeinflussungszustand III überprüft. Die von der Lehre
der Erfindung ebenfalls umfaßten Prüfungen des Verhältnisses der Zeiträume mit dem
Anwesenheitsindikator 2 in anderen Beeinflussungszuständen wird hier zum einfa
cheren Verständnis nicht mitbehandelt.
Das dargestellte Flußdiagramm wird nach jedem Sende- bzw. Empfangspuls des Re
flexlichttasters 1 durchlaufen. Die Synchronisation mit den Sende- bzw. Emp
fangspulsen des Reflexlichttasters I ist besonders einfach, wenn der Microcontrol
ler 9 die Sendepulse des Reflexlichttasters 1 steuert.
Der Empfangspuls des Reflexlichttasters 1 liegt an der Komparatorkaskade 8 an, und
somit kann der Microcontroller 9 entscheiden, ob das Signal des Empfangspulses sich
im oberen "sicheren Bereich" (Beeinflussungszustand III) oder im oberen "unsicheren
Bereich" (Beeinflussungszustand IIb) befindet. Entsprechend erhöht der Microcon
troller 9 dann den Zähler SB für den "sicheren Bereich" oder den Zähler UB für den
"unsicheren Bereich". Anschließend wird jeweils ein Impulszähler NI, der die Gesamt
anzahl der betrachteten Beeinflussungszustände ermittelt, um 1 erhöht. Befindet sich
das Signal des Sendepulses - und somit der Anwesenheitsindikator 2 - weder im Be
einflussungszustand III noch im Beeinflussungszustand IIb, so wird nur der Impuls
zähler NI erhöht. Im nächsten Schritt wird von dem Microcontroller 9 überprüft, ob
der Impulszähler NI eine bestimmte Anzahl NI_MAX überschritten hat. Ist dies nicht
der Fall, so wird der Algorithmus abgeschlossen und er beginnt beim nächsten einlau
fenden Empfangspuls wieder von vorne. Erreicht schließlich der Impulszähler NI die
Zahl NI_MAX, ist also der festgelegte Ausweitezeitraum, während dessen die Beein
flussungszustände betrachtet werden sollen, überschritten, so findet der Vergleich der
Zähler SB und UB statt.
Bei dem Vergleich der Zähler SB und UB wird zunächst festgestellt, ob beide Zähler
bestimmte Mindestwerte (UB_MIN, SB_MIN) überschritten haben. Ist dies nicht der
Fall, haben also der Zeitraum mit dem Anwesenheitsindikator 2 im Beeinflussungszu
stand IIb und der Zeitraum mit dem Anwesenheitsindikator 2 im Beeinflussungszu
stand III jeweils einen festgelegten Mindestzeitraum nicht überschritten, so wird der
Impulszähler NI für die Sendepulse zurückgesetzt und das geschilderte Verfahren
wird so lange fortgesetzt, d. h. der Auswertezeitraum, während dessen die Beeinflus
sungszustände betrachtet werden, wird entsprechend verlängert, bis mindestens einer
der geforderten Mindestzeiträume für die Beeinflussungszustände III oder IIb über
schritten worden ist. Statt beide Zählerstände der Zähler SB und UB mit Mindestwer
ten zu vergleichen, ist es unter Umständen sinnvoll, die Summe beider Zählerstände
mit einem Mindestwert zu vergleichen, um so eine höhere Ansprechgeschwindigkeit
zu erreichen.
Zunächst soll der Fall betrachtet werden, daß der Zähler UB die geforderte Min
destanzahl UB_MIN nicht überschritten hat, aber der Zähler SB die geforderte Min
destanzahl SB_MIN überschritten hat. In diesem Fall wird das Störsignal zurückge
setzt bzw. gelöscht. Der Reflexlichttaster 1 ist häufiger im "sicheren Bereich" beein
flußt worden als im "unsicheren Bereich", und somit ist es nicht notwendig, eine Stö
rung zu indizieren. Anschließend werden noch die Zähler SB und UB zurückgesetzt,
um nach Zurücksetzung des Impulszählers das Verfahren von neuem zu beginnen.
Erreicht nun der Zähler UB die Mindestanzahl UB_MIN, so wird der Stand des Zäh
lers UB mit dem Stand des Zählers SB verglichen. Wählt man beispielsweise einen
Faktor k = 1, so wird, wenn UB kleiner oder gleich SB ist, ebenfalls das Störsignal
gelöscht. Ist hingegen UB größer als SB, überwiegen also die Anzahl bzw. der Zeit
raum der Beeinflussung des Anwesenheitsindikators 2 im Beeinflussungszustand IIb,
so wird das Störsignal ausgegeben. Anschließend werden, wie bereits geschildert, die
Zähler SB und UB sowie der Impulszähler NI zurückgesetzt.
Über das geschilderte Verfahren wird somit die Ausgabe eines signifikanten Störsi
gnals gewährleistet.
In Fig. 5 ist ein beispielhafter Signalverlauf bei einem statischen Betrieb des Reflex
lichttasters 1 gemäß der ersten Ausführungsform des Zustandsindikators 7 dargestellt.
Wie bereits angesprochen, ist ein Beispiel für den statischen Betrieb eines Reflex
lichttasters 1 die Überwachung einer Papierbahn auf Abriß. Bei dem in Fig. 5 darge
stellten Signalverlauf wird ein Störsignal gemäß dem in Fig. 4 dargestellten Algorith
mus eines erfindungsgemäßen Verfahrens ausgegeben. Bei dem dargestellten Signal
verlauf ist NI_MAX = 20, UB_MIN = 3, SB_MIN = 3 und k = 1. In der oberen Hälfte
von Fig. 5 sind die Beeinflussungszustände 18 des Anwesenheitsindikators 2 inner
halb eines Beispielzeitraums dargestellt. Hierbei nehmen im Laufe der Zeit die Beein
flussungszustände 18 des Anwesenheitsindikators 2 im Beeinflussungszustand IIb
durch eine zunehmende Verschmutzung der Optik des Reflexlichttasters 1 zu. Nach
einer Reinigung der Optik des Reflexlichttasters 1 wird der Anwesenheitsindikator 2
wieder weit überwiegend im Beeinflussungszustand III beeinflußt. Weiter ist in Fig. 5
der zeitliche Verlauf des Schaltsignals 19 dargestellt. Man erkennt, daß der Reflex
lichttaster 1 im gesamten Beobachtungszeitraum geschaltet ist. Außerdem ist in Fig. 5
ein Störsignalverlauf 20 nach dem erfindungsgemäßen Verfahren dargestellt. Man er
kennt deutlich, daß ein signifikantes Störsignal erst nach einem gewissen Zeitraum,
während dessen der Anwesenheitsindikator 2 überwiegend im Beeinflussungszu
stand IIb beeinflußt worden ist, jedoch bevor die Ansprechschwelle erreicht wird,
ausgegeben wird. Nach der Reinigung der Optik des Reflexlichttasters 1 wird das
Störsignal nach Ablauf eines gewissen Zeitraumes wieder zurückgesetzt, da der An
wesenheitsindikator 2 nur noch im Beeinflussungszustand III beeinflußt wird.
In Fig. 6 sind schließlich die Beeinflussungszustände 18, das Schaltsignal 19 und der
Störsignalverlauf 20 während eines bestimmten Zeitraumes, mit derselben Parameter
wahl, dargestellt, wobei der Reflexlichttaster 1 im dynamischen Betrieb durch mehrere
nacheinander detektierte Gegenstände betätigt wird. Auch in dem in Fig. 6 darge
stellten Beispiel nimmt die Beeinflussung des Anwesenheitsindikators 2 durch zu
nehmende Verschmutzung der Optik des Reflexlichttasters 1 ab. Auch in Fig. 6 wird
die Optik des Reflexlichttasters 1 nach der Ausgabe eines Störsignals gereinigt. Auch
in dem in Fig. 6 dargestellten Beispiel ist deutlich zu erkennen, daß die Signifikanz
des nach dem erfindungsgemäßen Verfahren ausgegebenen Störsignals sehr groß ist
und daß gewährleistet ist, daß auch nach der Ausgabe des Störsignals der Reflex
lichttaster 1 noch für einen gewissen Zeitraum das korrekte Schaltsignal 19 liefert.
Aus der Zusammenschau von Fig. 5 und Fig. 6 ergibt sich die tatsächliche sehr hohe
Signifikanz des nach dem erfindungsgemäßen Verfahren ausgegebenen Störsignals
unabhängig von der Betriebsweise des elektronischen Schaltgerätes, hier des Reflex
lichttasters 1.
Bei dem Einsatz eines Microcontrollers 9 in dem Zustandsindikator 7 kann das erfin
dungsgemäße Verfahren besonders vorteilhaft dadurch weitergebildet werden, daß
der Microcontroller 9 auch bei anderen Fehlfunktionen des elektronischen Schaltge
rätes ein Störsignal ausgibt.
Liefert beispielsweise die Komparatorkaskade 8 nicht schlüssige 3-Bit-Worte an den
Microcontroller 9, so gibt der Microcontroller 9 ein entsprechendes Störsignal aus.
Ein solches nichtschlüssiges 3-Bit-Wort der Komparatorkaskade 8 entsteht bei
spielsweise, wenn der mittlere oder der untere Komparator 13, 14 defekt sind, also
kein Signal anliegt, und am nächsthöheren Komparator 12 ein Signal anliegt. Wenn
solch ein nichtschlüssiges 3-Bit-Wort beispielsweise häufiger als einer bestimmten
Minimalzahl entsprechend aufgetreten ist, wird ein entsprechendes Störsignal ausge
geben.
Weiter kann das erfindungsgemäße Verfahren dadurch ausgestaltet werden, daß der
Microcontroller 9 bei kurzgeschlossenem elektronischem Schalter 6 ein Störsignal
ausgibt und gleichzeitig den elektronischen Schalter 6 öffnet, um so eine Beschädi
gung des Reflexlichttasters 1 zu verhindern.
Eine weitere Ausgestaltung erfährt das erfindungsgemäße Verfahren dadurch, daß der
Microcontroller 9 bei defektem flüchtigem Speicher ein Störsignal ausgibt. Hierdurch
wird verhindert, daß der Microcontroller 9 aufgrund eines defekten flüchtigen Spei
chers etwa trotz Verschmutzung der Optik des Reflexlichttasters 1 kein Störsignal
ausgibt.
Besonders vorteilhaft ist es, wenn der Microcontroller 9 die aus unterschiedlichen
Gründen ausgegebenen Störsignale unterschiedlich codiert, so daß dem Betriebsper
sonal unmittelbar die Ursache der Störung angezeigt wird.
Der Microcontroller 9 als Bestandteil des Zustandsindikators 7 kann auch alternativ
durch eine analoge Auswerteschaltung ersetzt werden. Solche analogen Auswerte
schaltungen sind u. a. in den Fig. 7 und 8 dargestellt. Sie sind wie eine den elektroni
schen Schalter 6 betätigende Schaltlogik 21 mit der Komparatorkaskade 8 verbun
den. Die analoge Auswerteschaltung ist grundsätzlich als beidseitig ansteuerbare In
tegratorschaltung mit nachgeschaltetem Komparator ausgebildet.
Die in den Fig. 7 und 8 dargestellten analogen Auswerteschaltungen sollen ein Stör
signal liefern, wenn von den Zeiträumen mit dem Anwesenheitsindikator 2 im Beein
flussungszustand IIb zu den Zeiträumen mit dem Anwesenheitsindikator 2 im Beein
flussungszustand III ein vorgegebenes Verhältnis überstiegen wird.
Beiden analogen Auswerteschaltungen ist gemeinsam, daß sie von den Signalen, die
anzeigen, daß sich der Anwesenheitsindikator 2 im Beeinflussungszustand III befin
det, in die entgegengesetzte Richtung beeinflußt werden wie von den Signalen, die
anzeigen, daß sich der Anwesenheitsindikator 2 im Beeinflussungszustand IIb befin
det. Die Signale, die anzeigen, daß sich der Anwesenheitsindikator 2 im Beeinflus
sungszustand III befindet, lassen sich einfach aus dem Ausgang des Komparators 12
ableiten. Die Signale, die anzeigen, daß sich der Anwesenheitsindikator 2 im Beein
flussungszustand IIb befindet, werden über ein EXKLUSIV-ODER-Gatter 22, wel
ches mit seinen Eingängen an die Ausgänge der Komparatoren 12 bzw. 13 ange
schlossen ist, abgeleitet.
In der in Fig. 7 dargestellten ersten analogen Auswerteschaltung 23 laden die Signa
le, die eine Beeinflussung des Anwesenheitsindikators 2 im Beeinflussungszustand
IIb anzeigen, über einen ersten Ladewiderstand 24 einen ersten Speicherkondensa
tor 25 auf. Die Spannung des ersten Speicherkondensators 25 liegt an einem gleich
zeitig den Komparator bildenden ersten Impedanzwandler 26 an. Die Referenzspan
nung des gleichzeitig als Komparator dienenden ersten Impedanzwandlers 26 wird
über zwei in Reihe geschaltete Widerstände 27, 28 aus einer Versorgungsspannung
zur Verfügung gestellt. Treten nun Signale auf, die eine Beeinflussung des Anwesen
heitsindikators 2 im Beeinflussungszustand III anzeigen, so wird durch diese Signale
ein erster elektronischer Entladeschalter 29 betätigt, welcher über einen ersten Entla
dewiderstand 30 den ersten Speicherkondensator 25 entlädt.
Die Funktionsweise der in Fig. 8 dargestellten zweiten analogen Auswerteschalt
ung 31 ist in weiten Teilen identisch, weshalb auch dieselben Bezugszeichen ver
wendet werden. Ein Unterschied besteht darin, daß bei der zweiten analogen Aus
werteschaltung 31 die Signale, die eine Beeinflussung des Anwesenheitsindikators 2
im Beeinflussungszustand III anzeigen, erst dann zu einer Entladung des ersten Spei
cherkondensators 25 führen, wenn diese Signale aufintegriert einen bestimmten Wert
übersteigen. Hierzu sind ein zweiter Ladewiderstand 32, ein zweiter Speicherkon
densator 33, ein zweiter, gleichzeitig als Komparator dienender Impedanzwandler 34
und zwei die Referenzspannung für den gleichzeitig als Komparator dienenden zwei
ten Impedanzwandler 34 zur Verfügung stellende Widerstände 35, 36 und ein zwei
ter Entladewiderstand 37 vorgesehen. Eine Besonderheit liegt nun darin, daß auch
der zweite Speicherkondensator 33 von einem zweiten elektronischen Entladeschal
ter 38 entladen wird, wenn ein Störsignal am Ausgang des ersten Impedanzwandlers
26 anliegt. Hierdurch wird erreicht, daß, wenn einmal ein Störsignal ausgegeben wird,
das Löschen des Störsignals erschwert ist.
In Fig. 9 sind nunmehr einige beispielhafte Beeinflussungszustände 18 des Anwe
senheitsindikators 2 dargestellt. Weiter ist in einem Spannungsverlauf 39 dargestellt,
wie sich die Spannung über dem ersten Speicherkondensator 25 der ersten analogen
Auswerteschaltung 23 in Abhängigkeit von den Beeinflussungszuständen 18 ver
hält. Überschreitet die Spannung über dem ersten Speicherkondensator 25 den
Schwellwert 40 des ersten Impedanzwandlers 26, so wird ein Störsignal ausgegeben,
wie der Störsignalverlauf 20 zeigt.
Die in den Fig. 7 und 8 dargestellten Auswerteschaltungen 23, 31 sind weiter da
durch ausgestaltet, daß der Komparator eine Hysterese aufweist. Durch diese Maß
nahme ist gewährleistet, daß eine instabile Ausgabe des Störsignals durch wechselnde
Auf- und Endladung der Kondensatoren 25, 33 nicht auftritt. Der Komparator wird
durch die geschilderte Maßnahme zum Schmitt-Trigger. Die Ein- und Ausschalt
schwelle des Komparators wird vorteilhaft in die Nähe der Betriebsspannungsgren
zen gelegt. Ist z. B. der Kondensator 25, 33 voll aufgeladen und wird ein Störsignal
ausgegeben, so kann das Störsignal erst dadurch wieder gelöscht werden, daß der
Kondensator 25, 33 nahezu vollständig entladen wird.
Eine weitere bevorzugte Ausgestaltung erfährt das erfindungsgemäße elektronische
Schaltgerät durch die gemeinsame Anordnung von zwei Leuchtdioden. Dabei zeigt
eine Leuchtdiode sofort an, daß der Anwesenheitsindikator 2 im "unsicheren Be
reich" beeinflußt ist, während die zweite Leuchtdiode nur dann betätigt wird wenn
ein Fehler vorliegt, d. h. ein Störsignal ausgegeben wird.
Im folgenden werden eine Reihe von Realisationsmöglichkeiten des erfindungsge
mäßen Verfahrens bei verschiedenen Sensoren im einzelnen beschrieben.
Zunächst soll anhand der Fig. 20 dargestellt werden, welche Signale ein Reflex
lichttaster liefert, wenn Objekte unterschiedlicher Form mit konstantem Abstand und
konstanten Reflexionseigenschaften an einem Reflexlichttaster auf einem Band vor
beitransportiert werden. In diesem Fall kann z. B. geprüft werden, ob die Objekte in
einer vorgegebenen Objektformreihenfolge auf dem Band transportiert werden oder
bestimmte Objektformen fehlen oder vertauscht sind.
Um den unerwünschten Einfluß unterschiedlicher Entfernungen bei Objekten mit
gleicher Form auf das Meßergebnis zu unterdrücken, wird das Meßergebnis entfer
nungsabhängig korrigiert. Zur Ermittlung der Korrekturwerte kann ein zusätzliches
Gerät oder ein Reflexlichttaster, der nach dem Triangulationsverfahren arbeitet, ver
wendet werden.
Beginn und/oder Ende eines Auswertezeitraumes, der sich über mehrere Signalperi
oden erstreckt, beispielsweise drei Signalperioden bei dem in Fig. 20 dargestellten
Auswertezeitraum AZ123, kann man durch das Erkennen einer bestimmten Objekt
form, die sich periodisch wiederholt, auslösen. Wie bereits erwähnt, kann auch die
ordnungsgemäße Reihenfolge der Objekte überwacht werden (vgl. Fig. 19 und 20).
Bei wechselnder oder schwankender Bandgeschwindigkeit kann es nützlich sein,
den Auswertemodus so zu wählen, daß der Einfluß der Bandgeschwindigkeit wei
testgehend eliminiert wird.
Wie eingangs bereits erläutert, besteht ein Anwendungsgebiet des erfindungsgemä
ßen Verfahrens auch in dem Einsatz des erfindungsgemäßen Verfahrens in einem
Druckwächter. In Fig. 22 ist nun ein periodischer Druckverlauf eines Druckwächters
mit einer Unterteilung der Beeinflussungszustände des Druckwächters durch nur drei
Schwellen, nämlich die Ansprechschwellen SE bzw. SA und die Schwelle SUE darge
stellt. Der Übersichtlichkeit halber sind die Signalverläufe 1 bis 3 nicht nacheinander
dargestellt, sondern ineinander verschachtelt. Der Auswertezeitraum ist mit dem Si
gnalverlauf synchronisiert, er beginnt bei SE und endet bei SA.
Es ist deutlich zu erkennen, daß die Steigung der Flanken der Signalkurven 1 bis 3 im
Beeinflussungszustand UE mit der Zeit geringer wird. Eine Abweichung von der
vorgegebenen Druckanstiegsgeschwindigkeit bzw. der maximalen Verweilzeit im
Beeinflussungsbereich UE läßt sich sehr genau feststellen. Eine alleinige Auswertung
der Flankensteilheit in diesem Bereich (1a, 2a, 3a, 3c, 2c, 1c) würde bei Signal 4 kein
Setzen Störsignalausganges bewirken, sondern erst die Berücksichtigung der Stö
rungen 5 und 5a nach Erreichen des Plateaus 4b. Will man kein fehlerspezifisches
Störsignal ausgeben, so müßte man also die Summe der Zeiten im Beeinflussungsbe
reich UE je Auswertezeitraum ermitteln oder auch die Signalanteile des Beeinflus
sungsbereichs UE zu den Signalanteilen des Beeinflussungsbereichs SE ins Verhält
nis setzen.
Tritt nun aber z. B. immer oder unregelmäßig kurz nach einer bestimmten Signalflanke
4a ein nicht störendes Signal 5a mit bestimmter Dauer im Beeinflussungsbereich UE
auf, so führt dies beim Stand der Technik zur Ausgabe eines Störsignals, die Signifi
kanz dieses Störsignals wäre also gering.
Einen Ausweg könnte die aus dem Stand der Technik bekannte Verzögerung der
Ausgabe eines Störsignals bieten. Jedoch ist eine solche Verzögerung unter Umstän
den unvereinbar mit der minimal zulässigen Flankenanstiegs- bzw. Flankenabfallsge
schwindigkeit in den Bereichen 1a bis 4a und 1c bis 4c. Durch die erfinderische Aus
gestaltung des Verfahrens zur Überwachung eines elektronischen Schaltgerätes kann
der Wert für die minimal zulässige Flankenanstiegs- bzw. Flankenabfallsgeschwin
digkeit unverändert gelassen werden und trotzdem gleichzeitig die Signale 5a von
der Auswertung ausgeschlossen werden.
Die geringen Störungen 5 in Kombination mit steilen Signalflanken führen nicht zur
Ausgabe eines Störsignals. Nimmt der zeitliche Anteil der Störungen 5 aber zu und
überschreitet einen bestimmten Grenzwert, so wird ein Störsignal ausgegeben.
Variiert die Gesamtzeit jedes Signals im Beeinflussungsbereich UE um einen bestimm
ten Mittelwert, so kann es vorteilhaft sein, einen größeren Auswertezeitraum zu defi
nieren, der z. B. fünf oder sechs Signale umfaßt. Auf diese Art und Weise müssen grö
ßere zulässige Abweichungen bei einem Signal noch nicht zur Ausgabe eines Störsi
gnals führen, sondern erst Abweichungen vom vorgegebenen Mittelwert über fünf
oder sechs Signale.
Ist der Anteil der Signale in den Beeinflussungsbereichen SE oder UE, wie in Fig. 23
für einen Druckwächter dargestellt, zu klein oder erreicht deren Summe, Differenz
oder Verhältnis innerhalb eines Auswertezeitraumes AZ4 einen bestimmten Wert
nicht, so kann der Auswertezeitraum verlängert werden, bis der vorgegebene Wert er
reicht ist. In diesem Fall handelt es sich um eine Halbsynchronisation des Auswerte
zeitraumes AZ4.
Vorzugsweise wird der Auswertezeitraum um ein geradzahliges Vielfaches seines ur
sprünglichen Wertes verlängert, falls die Sollsignalform gleich bleibt. Die den Beginn
des Auswertezeitraumes AZ4 definierende Schwelle SSA liegt über dem Minimal
druck des Druckwächters.
In Fig. 14 ist der Signalverlauf eines Druckwächters im statischen Betrieb mit kon
stanten und nicht konstanten Auswertezeiträumen dargestellt.
Eine unzulässige Erhöhung der Signalanteile im Beeinflussungsbereich UE soll durch
Ausgabe eines Störsignal es angezeigt werden, bevor eine der Ansprechschwellen SA
bzw. SE erreicht wird. Die Ausgabe des Störsignals soll eine hohe Signifikanz auf
weisen, obwohl systembedingt nicht periodische Signalverläufe vom Beeinflus
sungsbereich SE in den Beeinflussungsbereich UE mit der Dauer T1 und dem mimma
len Amplitudenwert S1 auftreten, die keinen Einfluß auf die Ausgabe des Störsignales
haben sollen.
Ein solches Störsignal mit hoher Signifikanz wird durch die Verwirklichung der fol
genden Maßnahmen gewährleistet. Es wird zunächst eine T1-Signalerkennung
durchgeführt, bei der das richtungsabhängige Durchlaufen der Schwelle SUE und die
Signalverweildauer in den Beeinflussungsbereichen SE und UE ausgewertet wird.
Weiter wird eine Vollsynchronisation des Auswertezeitraumes AZ mit dem Signalver
lauf über das T1-Signal durchgeführt, wobei der Auswertezeitraum mit dem rich
tungsabhängigen Durchlaufen der Schwelle SUE vom Beeinflussungsbereich UE
zum Beeinflussungsbereich SE und gleichzeitiger Erkennung des TI-Signals beginnt
und wobei der Auswertezeitraum mit dem richtungsabhängigen Durchlaufen in um
gekehrter Reihenfolge und dem gleichzeitigen Erkennen des T1-Signals endet. Dar
über hinaus werden innerhalb eines Auswertezeitraumes die Gesamtanteile des Si
gnals abzüglich des T1-Signals jeweils für die Beeinflussungsbereiche SE und UE
addiert und zueinander ins Verhältnis gesetzt, wobei bei Überschreiten eines kriti
schen Verhältnisses ein Störsignal ausgegeben wird. Weiter erfolgt eine automatische
Umschaltung zwischen Voll-, Halb- und Nichtsynchronisation, indem ein Minimalwert
und ein Maximalwert für den Auswertezeitraum vorgegeben wird. Ist der Auswerte
zeitraum kleiner als der Minimalwert, wie z. B. in Fig. 14 AZ7, so wird er automatisch
um einen weiteren Auswertezeitraum, hier AZ8, verlängert und die Werte werden
zwischengespeichert. Wird beispielsweise ab t19 in Fig. 14 innerhalb des Maximal
wertes des Auswertezeitraumes kein T1-Signal erkannt, so erfolgt der Übergang von
Halbsynchronisation, wie im Auswertezeitraum AZ6, zu Nichtsynchronisation, wie in
den Auswertezeiträumen AZ7 und 8. Die Signifikanz der Ausgabe des Störsignals
läßt sich noch weiter erhöhen, indem der Auswertezeitraum in Abhängigkeit von der
jeweils vorliegenden Synchronisationsart, die durch den Ist-Signalverlauf bestimmt
wird, geändert wird. D. h., wenn Vollsynchronisation, wie in den Auswertezeiträumen
AZ1 bis 5, vorliegt, wird ein Störsignal bei tUE/tSE < 1 gesetzt, während wenn
Halbsynchronisation vorliegt, wie im Auswertezeitraum AZ6, während dessen das T1-
Signal bei t17 bzw. t18 nicht erkannt werden kann, da bei t18 die Schwelle SUE nicht
mehr erreicht wird, gilt z. B. tUE/tSE < 1,5.
Ist nun der zeitliche Abstand zwischen zwei T1-Signalen größer als der Maximalwert
für den Auswertezeitraum, so wird der Auswertezeitraum auf seinen Maximalwert be
grenzt, d. h. zunächst findet eine Halbsynchronisation des ersten Typs statt, nach der
Auswertezeitraum nach Erkennung des T1-Signals beginnt und nach einer bestimm
ten Zeitdauer oder beispielsweise bei Reflexlichttastern einer bestimmten Anzahl von
Empfangspulsen endet. Erfolgt weiterhin innerhalb einer Zeitspanne die dem Maxi
malwert eines Auswertezeitraumes entspricht kein T1 Signal, so liegt Nichtsynchroni
sation vor. Alle drei Synchronisationsarten können dauerhaft auftreten. Zwischen
Nicht und Vollsynchronisation liegt immer Halbsynchronisation des einen oder ande
ren Typs vor. Unter Umständen könnte es auch sinnvoll sein, für jeden der beiden
Halbsynchronisationstypen einen eigenen Auswertemodus vorzusehen. Eine auto
matische Umschaltung von zwischen zwei oder allen drei Synchronisationsarten
kann auch sinnvoll sein, wenn der Signalanteil in einem bestimmten Beeinflussungs
bereich, z. B. im Beeinflussungsbereich UE kleiner als ein vorgegebener Mindestwert
ist. Nimmt man beispielsweise an, daß der Signalanteil im Beeinflussungsbereich UE
im Auswertezeitraum AZ1 unterhalb eines Schwellwertes liegt, so würde dieser Aus
wertezeitraum um einen weiteren verlängert. Dieser weitere Auswertezeitraum ist voll
synchronisiert falls sich seine Länge zwischen dem Minimal- und dem Maximalwert
für einen Auswertezeitraum bewegt. Es kann aber auch günstig sein, in einem sol
chen Fall automatisch auf Halbsynchronisation umzuschalten auch wenn rechtzeitig
ein T1-Signal erscheint und sich somit die Länge des Auswertezeitraumes zwischen
dem vorgegebenen Minimal- und Maximalwert für einen Auswertezeitraum bewegt.
In Fig. 15 ist nun eine weiter ausgestaltete Variante des in Fig. 14 dargestellten erfin
dungsgemäßen Verfahrens dargestellt.
Während eines bestimmten Zeitraumes arbeitet ein hier nur beispielsweise betrachte
ter Druckwächter zunächst während der Auswertezeiträume AZ1 bis 4 im statischen
Betrieb, dann während der Auswertezeiträume AZ5 und 6 im dynamischen Betrieb
und schließlich wieder während der Auswertezeiträume AZ7 und 8 im statischen Be
trieb.
Die Dauer des jeweiligen statischen oder dynamischen Betriebs soll nicht konstant
und nicht vorhersagbar sein. Es wird automatisch erkannt, ob der Druckwächter im
statischen oder dynamischen Betrieb arbeitet, um entsprechend mindestens einen
spezifischen Auswertemodus zuordnen zu können, der eine hohe Signifikanz der
Ausgabe eines Störsignals sichert.
Die Ausgestaltung des Verfahrens zur Überwachung eines elektronischen Schaltgerä
tes gemäß dem Grundgedanken der vorliegenden Erfindung würde in diesem Falle
kein ausreichend signifikantes Störsignal liefern, da das kritische Verhältnis tUE/tSE,
welches die Ausgabe des Störsignals bestimmt, für statischen und dynamischen Be
trieb unterschiedlich gewählt bzw. automatisch erkannt werden muß ob statischer
oder dynamischer Betrieb vorliegt. Unter Umständen kann es auch notwendig sein,
wie bei Fig. 14 erläutert, bei dynamischem und/oder statischem Betrieb in Abhängig
keit von der Art der Synchronisation des Ausweitezeitraumes mit dem Signalverlauf
unterschiedliche kritische Werte für die Ausgabe eines Störsignals und/oder die Ver
längerung eines Auswertezeitraumes bei Unterschreitung eines Mindestwertes für die
Signalanteile in einem Beeinflussungsbereich, z. B. im Beeinflussungsbereich UE,
festzulegen und/oder die Definition, d. h. die Berechnungsmethode, für diese Werte
zu ändern.
Um einen Wechsel von statischem zu dynamischem Betrieb automatisch feststellen zu
können, wird das Durchlaufen der Ansprechschwelle SA ausgewertet, ggf. in Kombi
nation mit weiteren Kriterien, z. B. der Verweilzeit in den einzelnen Bereichen, z. B.
der Verweilzeit im Beeinflussungsbereich UE.
Ein Anzeichen für den Wechsel von dynamischem zu statischem Betrieb kann z. B.
ein Überschreiten, z. B. zwischen t30 und t31, der zulässigen Verweildauer der Si
gnalspitze im Beeinflussungsbereich SE sein, die etwas größer als die Zeitspannen
zwischen t19 und t20 bzw. t25 und t26 gewählt wird, und/oder das Erkennen des
T1-Signals.
Nach t15 wird erkannt daß die Schwelle SA unterschritten wurde und es wird der
Auswertemodus für den dynamischen Betrieb aktiviert. Beginn und Ende eines
Auswertezeitraumes werden jetzt vom richtungsabhängigen Durchlaufen der An
sprechschwelle abhängig gemacht. Jetzt gelten andere Werte für das richtungsab
hängige Durchlaufen der Schwellen insbesondere für die Dauer der Signalspitze zwi
schen t19 und t20 bzw. t25 und t26 und das Durchlaufen des Beeinflussungsbe
reichs UE. Da die Differenz zwischen t27 und t26 absolut oder im Verhältnis zu einer
anderen Größe außerhalb der zulässigen Toleranz liegt, wird zum Zeitpunkt t27 ein
Störsignal ausgegeben. Durch Überschreiten des zulässigen Werts der Verweildauer
der Spitze im Beeinflussungsbereich SE bei t31 und/oder das Auftreten eines T1-Si
gnals wird der statische Betrieb erkannt und auf den entsprechenden Auswertemo
dus zurückgeschaltet.
Welche Parameter und welche Verknüpfungen gewählt werden, hängt vom Soll- und
dem möglichen Ist-Signalverlauf und dem Aufwand ab, den man betreiben will, um
eine hohe Signifikanz der Ausgabe des Störsignals zu erreichen.
Claims (26)
1. Verfahren zur Überwachung eines elektronischen Schaltgerätes, z. B. eines opto
elektronischen, induktiven oder kapazitiven Näherungsschalters oder eines Strö
mungswächters, mit einem von außen beeinflußbaren Anwesenheitsindikator (2), z. B.
einem Oszillator, mit einem von dem Anwesenheitsindikator (2) steuerbaren elektroni
schen Schalter (6), z. B. einem Transistor, einem Thyristor oder einem Triac, und mit
einem Zustandsindikator (7), bei welchem der Anwesenheitsindikator (2) dann den
Schaltzustand des elektronischen Schalters (6) um steuert, wenn der Beeinflussungs
zustand des Anwesenheitsindikators (2) eine vorgegebene Ansprechschwelle über
schreitet, bei welchem durch den Zustandsindikator (7) mindestens drei unterschied
liche Beeinflussungszustände des Anwesenheitsindikators (2) unterschieden werden
- Anwesenheitsindikator (2) nicht oder nur gering beeinflußt (Beeinflussungszustand
I), Anwesenheitsindikator (2) innerhalb eines mittleren Beeinflussungsbereichs be
einflußt (Beeinflussungszustand II) und Anwesenheitsindikator (2) oberhalb des
mittleren Beeinflussungsbereichs beeinflußt (Beeinflussungszustand III) - und bei
welchem sowohl im Falle sehr seltener Umsteuerung des elektronischen Schalters (6)
- statischer Betrieb - als auch im Falle häufiger Umsteuerung des elektronischen
Schalters (6) - dynamischer Betrieb - vom Zustandsindikator (7) ein Störsignal ausge
geben wird, wenn der Anwesenheitsindikator (2) zumindest kaum noch den Beein
flussungszustand I oder III erreicht dadurch gekennzeichnet, daß bei einem während
eines bestimmten Auswertezeitraumes ein vorgegebenes Verhältnis übersteigenden
Verhältnis von einem Zeitraum mit dem Anwesenheitsindikator (2) im Beeinflus
sungszustand II zu einem Zeitraum mit dem Anwesenheitsindikator (2) in einem der
Beeinflussungszustände I oder III vom Zustandsindikator (7) ein Störsignal ausgege
ben wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Verhältnis aus den
in aufeinanderfolgenden Auswertezeiträumen aufgetretenen Beeinflussungszustän
den am Ende des jeweiligen Auswertezeitraumes ermittelt wird.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Auswertezeiträume
mit den Beeinflussungszuständen des Anwesenheitsindikators (2) synchronisiert
werden.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Beginn des jeweili
gen Auswertezeitraums aus den Beeinflussungszuständen des Anwesenheitsindika
tors (2) abgeleitet wird.
5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß das Ende des jeweiligen
Auswertezeitraumes aus den Beeinflussungszuständen des Anwesenheitsindikators
(2) abgeleitet wird.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 2 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die
Auswertezeiträume mit externen Signalen synchronisiert werden.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß das
Verhältnis dann gebildet wird, wenn der Zeitraum mit dem Anwesenheitsindikator (2)
im Beeinflussungszustand II und/oder der Zeitraum mit dem Anwesenheitsindikator
in einem der Beeinflussungszustände I oder III einen jeweils festgelegten Mindest
zeitraum überschritten hat.
8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß der Auswertezeitraum
ggf. verlängert wird.
9. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Verhältnis jeweils
aus den in einem zurückliegenden Auswertezeitraum aufgetretenen Beeinflussungs
zuständen ermittelt wird.
10. Verfahren nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß gesteuert von einer
Zeitbasis ein Zähler im Falle einer Beeinflussung des Anwesenheitsindikators (2) im
Beeinflussungszustand II um eine erste Zahl erhöht oder erniedrigt wird, solange der
Zähler einen bestimmten ersten Wert nicht über- oder unterschreitet, daß der Zähler
im Falle einer Beeinflussung des Anwesenheitsindikators (2) in einem der Beeinflus
sungszustände I oder III um eine zweite Zahl erniedrigt oder erhöht wird, solange der
Zähler einen bestimmten zweiten Wert nicht unter- oder überschreitet, daß bei Über-
oder Unterschreiten eines bestimmten ersten Grenzwertes durch den Zähler ein Stör
signal ausgegeben wird und daß bei Unter- oder Überschreiten eines bestimmten
zweiten Grenzwertes durch den Zähler das Störsignal gelöscht wird.
11. Verfahren nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Zeitbasis im Falle
eines diskontinuierlichen Signales von dem Signal selbst gebildet wird.
12. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß die
Beeinflussungszustände des Anwesenheitsindikators (2) unabhängig von dem Über
gang zwischen zwei Beeinflussungszuständen des Anwesenheitsindikators (2) in re
gelmäßigen Zeitabständen aufgenommen werden und daß die jeweiligen Zeiträume
mit dem Anwesenheitsindikator (2) im jeweiligen Beeinflussungszustand I, II oder III
aus der Anzahl der jeweils aufgenommenen Beeinflussungszustände I, II oder III er
mittelt werden.
13. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß die
jeweiligen Zeiträume mit dem Anwesenheitsindikator (2) im jeweiligen Beeinflus
sungszustand I, II oder III aus den Zeiträumen zwischen den Übergängen zwischen
zwei Beeinflussungszuständen des Anwesenheitsindikators (2) ermittelt werden.
14. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 13, dadurch gekennzeichnet, daß der
mittlere Beeinflussungsbereich des Anwesenheitsindikators (2) (Beeinflussungszu
stand II) in einen unterhalb der Ansprechschwelle liegenden Beeinflussungsbereich
(Beeinflussungszustand IIa) und in einen oberhalb der Ansprechschwelle liegenden
Beeinflussungsbereich (Beeinflussungszustand IIb) unterteilt wird.
15. Verfahren nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß bei einem während
eines bestimmten Auswertezeitraumes ein jeweils vorgegebenes Verhältnis überstei
genden Verhältnis von einem Zeitraum mit dem Anwesenheitsindikator (2) im Beein
flussungszustand IIa zu dem Zeitraum mit dem Anwesenheitsindikator (2) im Beein
flussungszustand I oder von einem Zeitraum mit dem Anwesenheitsindikator (2) im
Beeinflussungszustand IIb zu dem Zeitraum mit dem Anwesenheitsindikator (2) im
Beeinflussungszustand III vom Zustandsindikator (7) ein Störsignal ausgegeben
wird.
16. Verfahren nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß bei einem während
eines bestimmten Auswertezeitraumes ein jeweils vorgegebenes Verhältnis überstei
genden Verhältnis von einem Zeitraum mit dem Anwesenheitsindikator (2) im Beein
flussungszustand IIa oder IIb zu dem Zeitraum mit dem Anwesenheitsindikator (2) im
Beeinflussungszustand III oder von einem Zeitraum mit dem Anwesenheitsindika
tor (2) im Beeinflussungszustand IIa zu dem Zeitraum mit dem Anwesenheitsindikator
(2) im Beeinflussungszustand III vom Zustandsindikator (7) ein Störsignal ausgege
ben wird.
17. Verfahren nach einem der Ansprüche 14 bis 16, dadurch gekennzeichnet, daß die
Beeinflussungszustände II und III des Anwesenheitsindikators (2) in weitere Beein
flussungszustände unterteilt werden.
18. Verfahren nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, daß die Beeinflussung des
Anwesenheitsindikators (2) in einem der weiteren Beeinflussungszustände zur Syn
chronisation der Auswertezeiträume mit den Beeinflussungszuständen des Anwesen
heitsindikators (2) verwendet werden.
19. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 18, dadurch gekennzeichnet, daß die
Zeiten zwischen den Übergängen von einem Beeinflussungszustand in einen ande
ren Beeinflussungszustand des Anwesenheitsindikators (2) zur Bewertung der Aus
gabe eines Störsignals durch den Zustandsindikator (7) herangezogen werden.
20. Verfahren nach einem der Ansprüche 17 bis 19, dadurch gekennzeichnet, daß ein
fehlerspezifisches Störsignal ausgegeben wird.
21. Elektronisches Schaltgerät, z. B. optoelektronischer, induktiver oder kapazitiver
Näherungsschalter oder Strömungswächter, zur Verwirklichung des Verfahrens nach
einem der Ansprüche 1 bis 20, mit einem von außen beeinflußbaren Anwesenheitsin
dikator (2), mit einem von dem Anwesenheitsindikator (2) steuerbaren elektronischen
Schalter (6), z. B. einem Transistor, einem Thyristor oder einem Triac, und mit einem
Zustandsindikator (7), dadurch gekennzeichnet, daß der Zustandsindikator (7) aus
einer mindestens zwei die Begrenzungen der Beeinflussungsbereiche überwachen
den Koinparatoren (12, 13, 14) aufweisenden Komparatorkaskade (8) und einen
Microcontroller (9) oder einer analogen Auswerteschaltung (23, 31) besteht.
22. Elektronisches Schaltgerät nach Anspruch 21, dadurch gekennzeichnet, daß der
Microcontroller (9) bei nichtschlüssigen Signalen der Komparatorkaskade (8) ein
Störsignal ausgibt.
23. Elektronisches Schaltgerät nach Anspruch 21 oder 22, dadurch gekennzeichnet,
daß der Microcontroller (9) bei kurzgeschlossenem elektronischem Schalter (6) ein
Störsignal ausgibt.
24. Elektronisches Schaltgerät nach einem der Ansprüche 21 bis 23, dadurch gekenn
zeichnet, daß der Microcontroller (9) bei defektem flüchtigem Speicher ein Störsignal
ausgibt.
25. Elektronisches Schaltgerät nach Anspruch 21, dadurch gekennzeichnet, daß die
analoge Auswerteschaltung (23, 31) als von den Ausgangssignalen der Komparato
ren (12, 13, 14) des Zustandsindikators (7) beidseitig - also mit unterschiedlichen Vor
zeichen - ansteuerbare Integratorschaltung mit nachgeschaltetem Komparator aus
gebildet ist.
26. Elektronisches Schaltgerät nach Anspruch 25, dadurch gekennzeichnet, daß der
Komparator eine Hysterese aufweist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4438507A DE4438507C2 (de) | 1993-11-03 | 1994-10-30 | Verfahren zur Überwachung eines elektronischen Schaltgerätes |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19934337518 DE4337518C1 (de) | 1993-11-03 | 1993-11-03 | Verfahren zur Überwachung eines elektronischen Schaltgerätes |
DE4438507A DE4438507C2 (de) | 1993-11-03 | 1994-10-30 | Verfahren zur Überwachung eines elektronischen Schaltgerätes |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4438507A1 true DE4438507A1 (de) | 1995-07-27 |
DE4438507C2 DE4438507C2 (de) | 1996-11-21 |
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Cited By (2)
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---|---|---|---|---|
WO2000004640A1 (de) * | 1998-07-16 | 2000-01-27 | Micronas Gmbh | Integrierte schaltungsanordnung mit einem sensorelement |
WO2004034067A1 (de) * | 2002-09-11 | 2004-04-22 | Continental Teves Ag & Co. Ohg | Verfahren zum betreiben eines sensors und auswerteeinrichtung zur durchführung des verfahrens |
Families Citing this family (6)
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---|---|---|---|---|
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DE19620065C2 (de) * | 1996-05-20 | 2001-03-01 | Ifm Electronic Gmbh | Schaltungsanordnung zur Überwachung des fehlerfreien und/oder zur Erkennung eines fehlerbehafteten Zustands einer Anlage |
DE19640478A1 (de) * | 1996-09-30 | 1998-04-02 | Siemens Ag | Verfahren zum Betreiben eines Bewegungsmelders |
DE19913872C2 (de) * | 1999-03-26 | 2001-07-12 | Siemens Ag | Sensor mit Ausfallüberwachungssystem |
DE19956055C2 (de) * | 1999-11-22 | 2001-09-13 | Ifm Electronic Gmbh | Verfahren zum Betrieb eines optoelektronischen Näherungsschalters |
DE10119659C2 (de) * | 2001-04-20 | 2003-12-18 | Siemens Ag | Verfahren für optische Näherungsschalter zur Erkennung von Verschmutzung der Optik und/oder des Reflektors bzw. einer Dejustage des Betätigungsobjekts |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3038102C2 (de) * | 1980-10-09 | 1982-07-15 | Robert Ing.(grad.) 7995 Neukirch Buck | Elektronisches, berührungslos arbeitendes Schaltgerät |
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3038102C2 (de) * | 1980-10-09 | 1982-07-15 | Robert Ing.(grad.) 7995 Neukirch Buck | Elektronisches, berührungslos arbeitendes Schaltgerät |
DE4023529C2 (de) * | 1990-06-11 | 1992-07-09 | Ifm Electronic Gmbh, 4300 Essen, De | |
DE4111297C1 (de) * | 1991-04-08 | 1992-06-17 | Ifm Electronic Gmbh, 4300 Essen, De |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000004640A1 (de) * | 1998-07-16 | 2000-01-27 | Micronas Gmbh | Integrierte schaltungsanordnung mit einem sensorelement |
US6847206B1 (en) | 1998-07-16 | 2005-01-25 | Micronas Gmbh | Integrated circuit with a sensor element for providing an encoded output signal |
WO2004034067A1 (de) * | 2002-09-11 | 2004-04-22 | Continental Teves Ag & Co. Ohg | Verfahren zum betreiben eines sensors und auswerteeinrichtung zur durchführung des verfahrens |
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