DE4335303A1 - Vorrichtung zum Messen von Oberflächenrauhigkeit - Google Patents
Vorrichtung zum Messen von OberflächenrauhigkeitInfo
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- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 title claims description 16
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 30
- 238000000034 method Methods 0.000 description 23
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 15
- 230000008569 process Effects 0.000 description 10
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 9
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 6
- 230000004044 response Effects 0.000 description 4
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 3
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 3
- 230000001174 ascending effect Effects 0.000 description 2
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 238000004439 roughness measurement Methods 0.000 description 2
- 230000003044 adaptive effect Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000011438 discrete method Methods 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 210000003608 fece Anatomy 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000000844 transformation Methods 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Messen von
Oberflächenrauhigkeit, und insbesondere eine Verbesserung eines Tiefpaß
filters zum Extrahieren von Kurvenkomponenten eines Welligkeitsprofils
aus einer detektierten Profilkurve.
Eine Oberflächenrauhigkeit-Meßvorrichtung wird zum Auswerten der
Oberflächenbearbeitungsgenauigkeit von verschieden bearbeiteten Werk
stücken benutzt. Eine Oberflächenrauhigkeit-Meßvorrichtung vom Stift-
Typ besitzt einen Abtaster, der einen Stift (Stylus) zum Nachzeichnen
einer zu messenden Oberfläche eines Gegenstands und einen Detektor
zum Umwandeln einer von dem Stift detektierten Vibration in ein
elektrisches Signal und zum Verstärken des umgewandelten Signals,
aufweist. An einer Endstufe des Abtasters sind vorgesehen: ein Analog
filter zum Filtern des Signals von dem Abtaster; ein A/D-Wandler zum
Umwandeln des gefilterten Signals in digitale Daten; und eine Datenver
arbeitungseinheit zum Verarbeiten der umgewandelten digitalen Daten.
Auf eine von dem Abtaster detektierte Wellenform eines elektrischen
Signals wird als eine Original-Profilkurve Bezug genommen. Diese
Original-Profilkurve beinhaltet eine Welligkeitsprofilkurve, die aus Nieder
frequenz-Komponenten und aus einer aus Hochfrequenz-Komponenten
zusammengesetzten Rauhigkeitskurve zusammengesetzt ist. Die Rauhig
keitskurve entspricht kleinen, die Oberflächenrauhigkeit bildenden Unre
gelmäßigkeitskomponenten. Ein Tiefpaßfilter wird dazu verwendet, die
Welligkeitsprofilkurve aus der ungefilterten Original-Profilkurve zu erhal
ten und ein Hochpaßfilter wird dazu benutzt, die Rauhigkeitskurve aus
der ungefilterten Profilkurve zu erhalten. Die Rauhigkeitskurve kann
ebenso durch Subtrahieren des Ausgangs des Tiefpaßfilters (die Wellig
keitsprofilkurve) von dem Originalsignal (ungefilterte Profilkurve) erhalten
werden. Das oben beschriebene Analogfilter wird benutzt, den oben
beschriebenen Filtervorgang auszuführen. Ähnliche Filtervorgänge können
auch mittels der Datenverarbeitungseinheit ohne Verwendung des Analog
filters auf digitale Weise durchgeführt werden.
Wie oben beschrieben wird die Genauigkeitskurve aus der ungefilterten
Profilkurve durch Abtrennen der Welligkeitsprofilkurven-Komponenten mit
längeren Wellenlängen als einer vorgegebenen Wellenlänge, gewonnen.
Die vorbestimmte Wellenlänge wird als Grenzwert bezeichnet. Die
Charakteristik eines Tiefpaßfilters zum Extrahieren der für die Oberflä
chenrauhigkeitsmessung benutzten Welligkeitsprofilkurve hat sowohl
nationale als auch internationale Standards. Diese Standards spezifizieren,
daß der Fehler zwischen der Frequenzcharakteristik des Tiefpaßfil
ters und der Frequenzcharakteristik eines Gauss-Filters innerhalb eines
vorbestimmten Bereichs liegt. Das Gauss-Filter ist ein Filter, in dem
sowohl eine Impulsantwort des Filters (eine Fensterfunktion) als auch die
Frequenzcharakteristik die Gauss-Funktion (eine Normal-Verteilungsfunk
tion) aufweisen.
Es war bekannt, daß ein Analogfilter, das aus unendlich kaskadiert-
verbundenen CR-Filtern mit jeweils identischer Zeitkonstante gebildet ist,
eine an den idealen Gauss-Filter unendlich angenäherte Filtercharak
teristik besitzt.
In den letzten Jahren ist ein digitales Filterverfahren populär geworden,
bei dem der Filtervorgang durch Computersoftware anstelle des Analogfil
ters ausgeführt wird. Zum Beispiel offenbart das deutsche Patent DE 30
02 185 ein Verfahren zur ungefähren Realisierung des Gauss-Filters
durch Kaskadenverbindung von zwei Filtern mit begrenzter Impulsantwort
(FIR-Filter), wobei jedes ein Dreiecksfenster hat, oder einem sekundären
Filter mit unendlicher Impulsantwort (IIR-Filter bzw. rekursiver digitaler
Filter).
Jedoch weist das Verfahren gewöhnliche IIR-Filter als sekundäre Filter
zu verwenden, einen großen Fehler auf. Die Verwendung des FIR-
Filters erlaubt, den Fehler zu reduzieren, benötigt aber umfangreiche
arithmetische Operationen, die zu extrem zunehmender Operationszeit
führen.
Eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, eine Vorrichtung zum
Messen von Oberflächenrauhigkeit zu schaffen, die einen Filterprozeß mit
einer vergleichsweise kürzeren Operationsdauer und einem reduzierten
Fehler im Hinblick auf das Gauss-Filter zuläßt, durch Einführung eines
für eine Übertragungsfunktion eines Tiefpaßfilters passenden Einstell
koeffizienten.
Nach einem ersten, bevorzugten Gesichtspunkt der vorliegenden Erfin
dung weist eine Oberflächenrauhigkeit-Meßvorrichtung einen Abtaster
(pick-up) zum Abtasten der Oberfläche eines zu messenden Gegenstands
und Ausgeben eines einer Original-Profilkurve entsprechenden elektrischen
Signals, und einer Tiefpaßfilter-Einrichtung zum Extrahieren einer der
Welligkeits-Profilkurve eines Ausgangssignals des Abtasters entsprechenden
Niederfrequenz-Komponente auf, wobei die Tiefpaßfilter-Einrichtung zwei
kaskadenförmig verbundene, durch die Übertragungsfunktion G(s) der
folgenden Gleichung (1), die einen Einstellkoeffizienten ζ hat, definierte
Filter aufweist:
G(s) = 1/{(αs/ωc)2 + 2ζ(αs/ωc)+1} . . . (1)
wobei ζ in den Bereich von 0,7134 bis 1,1083 fällt, s = jω, ωc eine
Grenzfrequenz ist und α eine Konstante ist.
Nach dem ersten bevorzugten Gesichtspunkt der vorliegenden Erfindung
wird der Einstellkoeffizient ζ vorzugsweise innerhalb des Bereichs von
0,7760 bis 0,8918 gesetzt. Weiter ist die Konstante α vorzugsweise zur
Erfüllung der folgenden Gleichung (2) gesetzt, um den absoluten Betrag
der Übertragungsfunktion G(s) bei der Grenzfrequenz ωc auf 0,5 zu
setzen, d. h., das Amplituden-Übertragungsverhältnis auf 50% zu setzen.
α2 = {(2ζ2-1)2+1}1/2-(2ζ2-1) . . . (2).
Nach einem zweiten bevorzugten Gesichtspunkt der vorliegenden Erfin
dung weist eine Oberflächenrauhigkeit-Meßvorrichtung einen Abtaster zum
Abtasten der Oberfläche eines zu messenden Gegenstands und Ausgeben
eines einer Original-Profilkurve entsprechenden elektrischen Signals, und
einer Tiefpaßfilter-Einrichtung zum Extrahieren einer der Welligkeits-
Profilkurve eines Ausgangssignals des Abtasters entsprechenden Nieder
frequenz-Komponente auf, wobei die Tiefpaßfilter-Einrichtung zwei kaska
denförmig verbundene, durch die Übertragungsfunktion G(s) der folgen
den Gleichung (3), die zwei Einstellkoeffizienten ζ und β hat, definierte
Filter aufweist:
G(s) = 1/{(αs/ωc)2 + 2ζ(αs/ωc)+1}{(βs/ωc)+1} . . . (3).
Nach dem zweiten bevorzugten Gesichtspunkt der vorliegenden Erfindung
sind die Einstellkoeffizienten vorzugsweise innerhalb der Bereiche von ζ
= von 0,482 bis 0,966 bzw. β = von 0,000 bis 1,343. Die Einstell
koeffizienten ζ und β haben eine derartige Beziehung, daß wenn einer
der Einstellkoeffizienten einen großen Wert hat, der andere einen gerin
gen Wert hat. Besonders bevorzugt sind die Einstellkoeffizienten ζ und
β innerhalb der Bereiche von ζ = 0,632 bis 0,722 und β = von 0,789
bis 0,986 und haben eine derartige Beziehung, daß wenn ein Koeffizient
einen großen Wert hat, der andere einen geringen Wert hat. Weiter ist
die Konstante α vorzugsweise zur Erfüllung der Gleichung (4) gesetzt,
um so den absoluten Wert der Übertragungsfunktion auf 0,5 beim
Grenzwert (ω=ωc) zu setzen.
α2 = (1-2ζ2)+{(1-2ζ2)2+(1-β2)/(1+β2)}1/2 . . . (4).
Weitere Vorteile, Merkmale und Anwendungsmöglichkeiten der vorliegen
den Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung von
Ausführungsbeispielen in Verbindung mit den Zeichnungen.
Fig. 1 zeigt eine Anordnung einer Oberflächenrauhigkeit-Meßvorrichtung
gemäß einer ersten bevorzugten Ausführungsform der vorliegen
den Erfindung;
Fig. 2 ist eine Ansicht zur Erläuterung eines Prinzips zur Messung von
Oberflächenrauhigkeit;
Fig. 3 ist ein Ablaufdiagramm des Filterverfahrens in der ersten bevor
zugten Ausführungsform;
Fig. 4 zeigt eine Beziehung zwischen Absolutwerten von Fehlern der
Filtercharakteristik und Einstellkoeffizienten in der ersten bevor
zugten Ausführungsform;
Fig. 5 zeigt ein Digitalfilter gemäß einer zweiten Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung;
Fig. 6 zeigt ein Digitalfilter gemäß einer dritten Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung;
Fig. 7 zeigt ein Analogfilter gemäß einer vierten Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung;
Fig. 8 zeigt ein Analogfilter gemäß einer fünften Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung;
Fig. 9 zeigt eine Anordnung einer Oberflächenrauhigkeit-Meßvorrichtung
gemäß einer sechsten Ausführungsform der vorliegenden Erfin
dung;
Fig. 10 ist ein Flußdiagramm, das ein Filterverfahren gemäß einer
siebten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt;
Fig. 11 zeigt einen Einstellbereich der Einstellkoeffizienten um den
Fehler der Filtercharakteristik in der siebten Ausführungsform
auf 5% oder weniger zu setzen; und
Fig. 12 zeigt einen Einstellbereich des Einstellkoeffizienten um den
Fehler der Filtercharakteristik der siebten Ausführungsform auf
1% oder weniger zu setzen.
Wie in Fig. 1 gezeigt ist die Meßvorrichtung gemäß der ersten bevorzug
ten Ausführungsform mit einem Abtaster versehen, der aus einem Stift
11 und einem Detektor 12 gebildet ist. Der Stift 11 erkennt eine Ober
fläche eines zu messenden Gegenstands, um Vibration zu detektieren und
der Detektor 12 setzt die durch den Stift 11 detektierte Vibration in ein
elektrisches Signal um und verstärkt das Signal. Ein Ausgang des
Detektors 12 ist mit einem A/D-Wandler verbunden, der das elektrische
Eingangssignal in ein Digitalsignal umwandelt. Das umgewandelte Digi
talsignal wird an eine datenverarbeitende Schaltung 14 gesendet. Die
Digitalverarbeitungsschaltung 14 ist beispielsweise durch einen Mikro
computer gebildet, der mit einem Tiefpaßfilter versehen ist, das aus zwei
kaskadenförmig verbundenen IIR-Filtern 151 und 152 besteht, die durch
Software gebildet sind. Das Tiefpaßfilter gewinnt Komponenten der
Welligkeits-Profilkurve aus ungefilterten Profilkurven-Daten. Weiter
werden die Komponenten der Welligkeits-Profilkurve vom Originalsignal
(ungefilterte Profilkurven-Daten) subtrahiert, um damit eine Rauhigkeits
kurve zu erhalten.
Fig. 2 zeigt eine Beziehung der ungefilterten durch den Abtaster erhal
tenen Profilkurve, der durch das Tiefpaßfilter extrahierten Welligkeits-
Profilkurve und der durch Subtrahieren der Welligkeits-Profilkurve von
der ungefilterten Profilkurve erhaltenen Rauhigkeitskurve.
Das Digitalfilterverfahren mittels der IIR-Filter 151 und 152 ist genauso
wie das Analogfilterverfahren, das durch die Übertragungsfunktion, die
den Einstellkoeffizienten ζ, wie in Gleichung (1) gezeigt, darstellt. Vor
Erläuterung des Digitalverfahrens wird nun die Filtercharakteristik in dem
Ausführungsbeispiel beschrieben. Wenn zwei Filter, die jeweils die
Übertragungsfunktion, in der der oben beschriebene Einstellkoeffizient ζ
eingeführt ist, besitzen, kaskadenförmig verbunden werden, wird der Ab
solutwert der Übertragungsfunktion (Amplituden-Übertragungs-Verhältnis)
in Gleichung (5) ausgedrückt.
|G(ω)|2 = 1/[{1-(αω/ωc)2}2 + 4ζ2(αω/ωc)2] . . . (5).
Aus dieser Gleichung (5) wird eine in Gleichung (2) gezeigte Beziehung
zwischen α und ζ unter der Bedingung erhalten, daß der Absolutwert
der Übertragungsfunktion auf 0,5 bei dem Grenzwert ω=ωc gesetzt ist.
Dann wird die in Gleichung (1) definierte Übertragungsfunktion durch
verschiedentliches Ändern des Einstellkoefizienten ζ berechnet, um
Fehler zwischen der Übertragungsfunktion und dem Gauss-Filter zu
erhalten. Die berechneten Werte sind beispielhaft gezeigt.
Fig. 4 zeigt eine Beziehung zwischen dem Fehler des absoluten Fehler
wertes |E|max und dem Einstellkoefizienten ζ. Die Ergebnisse der
Berechnung offenbaren, daß der Fehler 0,05 (d. h. 5%) oder weniger ist,
wenn ζ in einem Bereich von 0,7760 bis 0,8918 ist. Weiter ist der
Fehler 0,10 (d. h. 10%) oder weniger; wenn ζ innerhalb eines Bereichs
von 0,7134 bis 1,1083 ist. Weiter wird der minimale Fehler 0,029065
erhalten, wenn ζ = 0,8133.
Wenn der Einstellkoeffizient ζ wie oben erwähnt gewählt wird, ist der
Koeffizient für den Entwurf des durch diese Übertragungsfunktion durch
den Analogfilter ausgedrückten Filters wie folgt:
Wenn
Antriebsgeschwindigkeit: v = 0,5 mm/sec
Grenzwert (Wellenlänge): λc = 0,8 mm
Amplituden-Übertragungsrate beim Grenzwert: 50%
Anzahl der Abtastpunkte pro Grenzwert: 1000
gegeben sind,
dann wird
Grenzfrequenz: fc = 0,625 Hz
Abtast-Intervall: 1,6 msec erhalten.
Wenn
Antriebsgeschwindigkeit: v = 0,5 mm/sec
Grenzwert (Wellenlänge): λc = 0,8 mm
Amplituden-Übertragungsrate beim Grenzwert: 50%
Anzahl der Abtastpunkte pro Grenzwert: 1000
gegeben sind,
dann wird
Grenzfrequenz: fc = 0,625 Hz
Abtast-Intervall: 1,6 msec erhalten.
Wenn die Übertragungsfunktion des Analogfilters
durch G(s) = G/(s2 + b1·s+b0), ausgedrückt ist, werden die Koeffizien
ten G, b1 und b0 wie folgt sein:
G = ωc2/α2 = 22,22827993
b1 = ωc/α = 7,8150663
b0 = ωc2/α2 = 22,22827993.
G = ωc2/α2 = 22,22827993
b1 = ωc/α = 7,8150663
b0 = ωc2/α2 = 22,22827993.
Gemäß dem ersten Ausführungsbeispiel wird der wie oben beschrieben
entworfene, analoge Tiefpaßfilter wie oben beschrieben durch Software
auf digitale Weise implementiert. Der Filtervorgang wird im Ablaufdia
gramm von Fig. 3 gezeigt. Wenn der Tiefpaßfilter durch einen rekursi
ven digitalen Filter (IIR-Filter) angenähert wird, wird die Gleichung wie
folgt lauten:
y/x = G(a0+a1z-1+a2 z-2)/(b0+b1 z-1+b2 z-2) . . . (6)
wobei x und y Eingangs- bzw. Ausgangsdaten des Filters sind. z-1·x
zeigt weiter "x" an, dem "i"-Dateneinheiten vorausgehen. G, a0, a1, a2,
b0, b1 und b2 sind konstant.
Die Koeffizienten des Digitalfilters können, wie aus den Koeffizienten
des Analogfilters folgt, durch Invarianz des Eingangsimpulses gewonnen
werden.
a0 = 0
a1 = 1,590023199
a2 = 0
b0 = 1,0
b1 = -1,987517195
b2 = 9,87573745
G = 3,55641654.
a1 = 1,590023199
a2 = 0
b0 = 1,0
b1 = -1,987517195
b2 = 9,87573745
G = 3,55641654.
Da a0 = a2 = 0, wie oben erwähnt, kann die Gleichung (7) aus der
Gleichung (6) eingeführt werden.
yi = G·a1·xi-1-b1·yi-1-b2·yi-2 . . . (7).
Die Schritte S1 bis einschließlich S7 in Fig. 3 entsprechen dem Ver
fähren des IIR-Filters 151 in der ersten Stufe, in der die Eingabedaten
von n Dateneinheiten durch x ausgedrückt werden und in der die dazwischenliegenden
Ausgabedaten durch y ausgedrückt werden. In dem
Schritt S1 werden die Koeffizienten k1 (G·al), k2 (=b1) und k3 (=b2)
berechnet. In Schritten S2 bis einschließlich S4 werden der erste bis
einschließlich dritte Term auf der rechten Seite der Gleichung (7) be
rechnet. In dem Schritt S5 werden die dazwischenliegenden Ausgabe
daten yi aus der Gleichung 7 erhalten. Die obigen Schritte werden
wiederholend und sequentiell ausgeführt, was n Dateneinheiten (S7) in
aufsteigender Reihenfolge betrifft.
Die Schritte S8 bis einschließlich S13 entsprechen dem Verfahren des
IIR-Filters 152 in der zweiten Stufe. Dann werden die erhaltenen Daten
diesmal in umgekehrter Reihenfolge gemäß der Gleichung (7) berechnet,
um die Ausgangsdatensequenz zi zu erhalten. Diese Ausgabedatense
quenz zi dient als die phasenkompensierte Ausgabe des Tiefpaßfilters.
Als ein Ergebnis der Tiefpaßfilter-Prozesse durch das IIR-Filter 151 in
der ersten Stufe und das IIR-Filter 152 in der zweiten Stufe, wird die
Welligkeits-Profilkurve erhalten. Weiter wird durch Subtrahieren der
Tiefpaß-Filter-Ausgabe von den Originaldaten mittels der Datenverarbei
tungsschaltung 14 der phasenkompensierte Hochpaß-Filtervorgang ausge
führt, um damit die Oberflächenrauhigkeit zu erhalten.
Im obigen Ausführungsbeispiel wird der Digitalfilter dort durch Software
implementiert aufgebaut, wo die zweistufigen Filter sind. Jedoch ist die
vorliegende Erfindung nicht auf das obige Ausführungsbeispiel beschränkt.
Zum Beispiel können die sekundären Zweistufenfilter, die durch die oben
beschriebene Übertragungsfunktion dargestellt werden, durch Hardware
auf digitale oder analoge Weise aufgebaut werden. Eine solche Aus
führungsform wird nun beschrieben.
Fig. 5 zeigt eine Anordnung eines Digitalfilters, die gemäß eines zweiten
bevorzugten Ausführungsbeispiels der vorliegende Erfindung bilineare
Transformation anwendet. Dieses Digitalfilter weist eine durch z-1
bezeichnete Verzögerungsschaltung, durch a0, a1, a2, b1 und b2 bezeich
nete Bewertungsschaltungen und Addierer/Subtrahierer auf. Wenn die
Grenzwellenlänge und das Abtastintervall durch λc bzw. λs dargestellt
werden, kann jeder Bewertungs- (bzw. gewichtende) Koeffizient wie folgt
durch Einführen des Einstellkoeffizienten ζ ausgedrückt werden.
a0 = λs2/A
a1 = 2a0
a2 = a0
b1 = {2λs2-2(2αλc)2}/A
b2 = {λs2-4ζαλcλs + (2αλc)2}/A
wobei A = λs2 + 4ζαλcλs + (2αλc)2.
a1 = 2a0
a2 = a0
b1 = {2λs2-2(2αλc)2}/A
b2 = {λs2-4ζαλcλs + (2αλc)2}/A
wobei A = λs2 + 4ζαλcλs + (2αλc)2.
Fig. 6 zeigt eine Anordnung eines Digitalfilters gemäß einer dritten
Ausführungsform der vorliegenden Erfindung, die impulsinvariante Trans
formation (impulse response invariance transformation) benutzt.
In diesem Ausführungsbeispiel werden die Bewertungs-Koeffizienten in
jeder Bewertungsschaltung, wenn der Einstellkoefizient ζ 1 ist, wie
folgt ausgedrückt.
a1 = 1+b1+b2
b1 = -2exp(-ζλs/αλc)·cos{(1-ζ2)1/2λs/αλc}
b2 = exp(-2ζλs/αλc).
b1 = -2exp(-ζλs/αλc)·cos{(1-ζ2)1/2λs/αλc}
b2 = exp(-2ζλs/αλc).
Fig. 7 zeigt eine Anordnung des Tiefpaßfilters, die gemäß einer vierten
bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung mit einer
analogen CR-Schaltung aufgebaut ist. Die Werte der Widerstände und
der Kondensatoren werden durch Einführung des Einstellkoeffizienten ζ
wie folgt gesetzt.
R1 = R2 = R (geeigneter Wert)
C1 = (αλc)/(ζR)
C2 = (ζλc)/(αR).
C1 = (αλc)/(ζR)
C2 = (ζλc)/(αR).
Fig. 8 zeigt eine Anordnung eines Tiefpaßfilters gemäß einer fünften
bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. In diesem
Ausführungsbeispiel werden die Werte der Widerstände und der Kon
densatoren wie folgt gesetzt
R1 = R2 = R3 = R (geeigneter Wert)
C1 = (2ζλc)/(3αR)
C2 = (3αλc)/(2ζR).
C1 = (2ζλc)/(3αR)
C2 = (3αλc)/(2ζR).
Gemäß der vorliegenden Erfindung können die zwei sekundären, den
Tiefpaßfilter bildenden Filter vorzugsweise auch durch eine Kombination
des Analogfilters und des Digitalfilters aufgebaut sein. Fig. 9 zeigt eine
solche Anordnung gemäß einem sechsten bevorzugten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung. Wie in Fig. 9 gezeigt, ist das Sekundärfilter
in der ersten Stufe durch einen Analogfilter 16 gebildet und dem A/D-
Wandler 13 vorgeschaltet plaziert. Der Sekundärfilter in der zweiten
Stufe ist als IIR-Filter 15 innerhalb der digital verarbeitenden Schaltung
14 aufgebaut. In diesem Fall sind die Einstellkoeffizienten des ersten
und zweiten Filters miteinander identisch, können aber jeweils geändert
werden.
Gemäß der ersten bis sechsten Ausführungsform der vorliegenden Erfin
dung gestattet die Einführung des optimalen Einstellkoeffizienten ζ in die
Übertragungsfunktion der Sekundärfilter; die in zwei Stufen anzuordnen
sind, ein Tiefpaßfilterverfahren, das den Fehler von dem Gauss-Filter auf
einen sehr kleinen Wert bringen kann.
Besonders, wenn der Tiefpaßfilter mit der durch Gleichung (1) ausge
drückten Übertragungsfunktion durch das IIR-Filter implementiert wird,
kann der Filtervorgang in einer kürzeren Zeit und mit einer kleineren
Abweichung vom Gauss-Filter durchgeführt werden.
In den obigen Ausführungsbeispielen wird ein quaternärer Filter durch
Kaskaden-Verbinden des Sekundärfilters in zwei Stufen geschaffen. Eine
siebte bevorzugte Ausführungsform, die den Fehler weiter reduzieren
kann, wird jetzt beschrieben. In der siebten bevorzugten Ausführungs
form wird der Tiefpaßfilter als ein Filter sechster Ordnung mittels
Verwendung zweier Filter dritter Ordnung aufgebaut, in die zwei Einstell
koeffizienten eingeführt werden. Die grundlegende Anordnung der
Vorrichtung ist dieselbe wie in Fig. 1 gezeigt. Der digitale Filtervorgang
durch die IIR-Filter 151 und 152 ist derselbe wie der, des analogen
Filters, das durch die Übertragungsfunktion, in der die Einstellkoeffizien
ten ζ und β wie in Gleichung (3) eingeführt, definiert ist. Wenn solche
Filter mit der Übertragungsfunktion, in der die Einstellkoeffizienten ζ
und β eingeführt sind, kaskadenförmig in zwei Stufen verbunden sind,
wird der Absolutwert der Übertragungsfunktion (Amplituden-Übertragungs
verhältnis) durch Gleichung (8) ausgedrückt.
|G(ω)|2 = 1/{1-(αω/ωc)2)2+4ζ2(αω/ωc2}{1+(βω/ωc)2} . . . (8).
Aus der Gleichung (8) wird die Beziehung zwischen α, ζ und β, die in
der Gleichung (4) gezeigt ist, als Bedingung erhalten, daß der Absolut
wert der Übertragungsfunktion beim Grenzwert ωc 0,5 ist.
Durch Berechnen der Übertragungsfunktion der Gleichung (3) durch
verschiedentliches Ändern der Einstellkoeffizienten ζ und β wird die
Abweichung (Fehler) der Übertragungsfunktion von dem Gauss-Filter
erhalten. Das Berechnungsergebnis wird genauer gezeigt.
Der schraffierte Abschnitt in Fig. 11 zeigt die Bereiche der Einstell
koeffizienten ζ und β, die eine maximale Abweichung von dem Gauss-
Filter von 0,05 (5%) oder weniger, aufweisen. Konkreter kann der
Fehler auf 5% oder weniger unter der Bedingung, daß ζ innerhalb des
Bereichs von 0,482 bis 0,966 fällt und β innerhalb eines Bereichs von
0,000 bis 1,343 fällt, durch derartige Auswahl der Einstellkoeffizienten ζ
und 6 begrenzt werden, daß wenn ein Koeffizient einen großen Wert
hat, der andere einen geringen Wert hat.
Der schraffierte Abschnitt in Fig. 12 zeigt Bereiche der Einstellkoeffizien
ten ζ und β, die die maximale Abweichung vom Gauss-Filter auf 1%
oder weniger beschränken. Konkreter kann der Fehler auf 1% oder
weniger unter der Bedingung, daß ζ innerhalb des Bereichs von 0,632
bis 0,722 fällt und β innerhalb des Bereichs von 0,789 bis 0,986 fällt,
durch derartiges Auswählen der Einstellkoeffizienten ζ und β begrenzt
werden, daß, wenn ein Koeffizient einen großen Wert besitzt, der andere
einen kleinen Wert besitzt.
Konkreter zeigt der maximale Fehler den minimalen Wert von 0,75%,
wenn ζ = 0,650 und β = 0,951.
Wenn die Einstellkoeffizienten ζ und β und die Konstante α wie oben
beschrieben gewählt werden, werden die Koeffizienten für den Aufbau
des Filters, das durch diese Übertragungsfunktion durch das Analogfilter
definiert ist, erhalten. Der so entworfene analoge Tiefpaßfilter wird in
dieser Ausführungsform durch Software auf digitale Art und Weise
implementiert. Genauer wird die durch Gleichung (3) ausgedrückte
Übertragungsfunktion des analogen Filters in die Übertragungsfunktion
des digitalen IIR-Filters, wie in Gleichung (9) gezeigt, umgewandelt,
indem ein bekanntes diskretes Verfahren wie die adaptive z-Transforma
tion angewendet wird.
G(z) = a0/(1+b11z-1+b12z-2) (1+b21z-1) = a0/(1+b1z-1+b2z-2+b3z-3) . . . (9)
b11 = -2 exp (-ζωc Ts/α) cos {(1-ζ2)1/2ωc Ts/α}
b12 = exp(-2ζωc Ts/α)
b21 = -exp(-ωc Ts/β)
a0 = (1+b11+b12) (1+b21)
b1 = b11+b21
b2 = b12+b11b21
b3 = b12b21.
b11 = -2 exp (-ζωc Ts/α) cos {(1-ζ2)1/2ωc Ts/α}
b12 = exp(-2ζωc Ts/α)
b21 = -exp(-ωc Ts/β)
a0 = (1+b11+b12) (1+b21)
b1 = b11+b21
b2 = b12+b11b21
b3 = b12b21.
In der Gleichung (9) ist Ts eine Abtastperiode und Ts = λc/(v·m),
wobei λc die Grenzwellenlänge ist, v eine Antriebsgeschwindigkeit ist und
m eine Zahl von Abtastpunkten pro Grenzwellenlänge ist. Die Koeffi
zienten a0, b1, b2 und b3 des digitalen IIR-Filters können durch Sub
stituieren der Grenzeckfrequenz ωc, der Abtastperiode Ts, der Einstell
koeffizienten ζ, β und der Konstanten α berechnet werden.
Fig. 10 zeigt ein Ablaufdiagramm in dieser Ausführungsform, und es wird
angenommen, daß x, y und z ungefilterte Profilkurven, das Zwischen
ergebnis bzw. das Welligkeitsprofil sein sollen. In Fig. 10 entsprechen
die Schritte S1 bis einschließlich S9 dem Verfahren des IIR-Filters 151
in der ersten Stufe. In Schritt S1 werden die Koeffizienten a0, b1, b2
und b3 berechnet. In dem Schritt S2 wird der Index k initialisiert. In
den Schritten S3 bis einschließlich S7 wird die Gleichung (9) berechnet,
um das Zwischenergebnis y zu erhalten. Der obige Vorgang wird im
Hinblick auf n Dateneinheiten in aufsteigender Reihenfolge aus den
ersten Daten der ungefilterten Profilkurve (S8, S9) sich wiederholend
ausgeführt.
Die Schritte S10 bis einschließlich S17 entsprechen dem Verfahren des
IIR-Filters 152 in der zweiten Stufe. Dasselbe Verfahren wird im
Hinblick auf das Zwischenergebnis y, dieses Mal in absteigender Reihen
folge, gemäß Gleichung (9) ausgeführt, um damit die Welligkeits-Profil
kurve z zu erhalten.
Dann wird die Oberflächenrauhigkeitskurve durch Subtrahieren der oben
erhaltenen Welligkeits-Profilkurve z von den Ausgangsdaten x (ungefilterte
Profilkurve) mittels des datenverarbeitenden Abschnitts 14 erhalten.
Gemäß dieser bevorzugten Ausführungsform kann die Tiefpaßfiltercharak
teristik mit geringerer Abweichung vom Gauss-Filter durch Einführen der
zwei Einstellkoeffizienten erhalten werden. Demgemäß läßt die Anwen
dung dieses Tiefpaßfilters die Oberflächenrauhigkeits-Messung mit hoher
Genauigkeit zu.
Claims (10)
1. Vorrichtung zum Messen von Oberflächenrauhigkeit, welche aufweist:
einen Abtaster zum Abtasten einer Oberfläche eines zu messenden Gegenstands und zum Ausgeben eines einer ungefilterten Profilkurve entsprechenden elektrischen Signals; und
eine Tiefpaßfilter-Einrichtung zum Extrahieren von Niederfrequenz komponenten, die einer Welligkeits-Profilkurve aus dem vom Ab taster ausgegebenen elektrischen Signal entsprechen, wobei die Tief paßfiltereinrichtung zwei kaskadenförmig verbundene Filter aufweist, die durch die Übertragungsfunktion G(s) mit einem Einstellkoeffi zienten ζ ausgedrückt wird: G(s) = 1/{(αs/ωc)2 + 2ζ(αs/ωc) + 1}wobei s = jω, ωc eine Grenzfrequenz ist, ζ innerhalb eines Bereichs von 0,7134 bis 1,1083 fällt und α eine Konstante ist.
einen Abtaster zum Abtasten einer Oberfläche eines zu messenden Gegenstands und zum Ausgeben eines einer ungefilterten Profilkurve entsprechenden elektrischen Signals; und
eine Tiefpaßfilter-Einrichtung zum Extrahieren von Niederfrequenz komponenten, die einer Welligkeits-Profilkurve aus dem vom Ab taster ausgegebenen elektrischen Signal entsprechen, wobei die Tief paßfiltereinrichtung zwei kaskadenförmig verbundene Filter aufweist, die durch die Übertragungsfunktion G(s) mit einem Einstellkoeffi zienten ζ ausgedrückt wird: G(s) = 1/{(αs/ωc)2 + 2ζ(αs/ωc) + 1}wobei s = jω, ωc eine Grenzfrequenz ist, ζ innerhalb eines Bereichs von 0,7134 bis 1,1083 fällt und α eine Konstante ist.
2. Vorrichtung gemäß Anspruch 1, wobei sich der Einstellkoeffizient ζ
von 0,7760 bis 0,8918 erstreckt.
3. Vorrichtung gemäß Anspruch 1, wobei die Konstante α so gesetzt
wird, um folgende Gleichung zu erfüllen:
a2 = {(2ζ2-1)2+1}1/2-(2ζ2-1).
4. Vorrichtung gemäß Anspruch 1, wobei die zwei Filter Digitalfilter
sind.
5. Vorrichtung gemäß Anspruch 1, wobei die zwei Filter Analogfilter
sind.
6. Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei der Filter in der ersten Stufe
ein Analogfilter ist und der Filter in der zweiten Stufe ein Digital
filter ist.
7. Vorrichtung zum Messen von Oberflächenrauhigkeiten, welche auf
weist:
einen Abtaster zum Abtasten einer Oberfläche eines zu messenden Gegenstands und zum Ausgeben eines einer ungefilterten Profilkurve entsprechenden elektrischen Signals; und
eine Tiefpaßfilter-Einrichtung zum Extrahieren von Niederfrequenz komponenten, die einer Welligkeits-Profilkurve aus dem vom Ab taster ausgegebenen elektrischen Signal entsprechen, wobei die Tief paßfilter-Einrichtung zwei kaskadenförmig verbundene Filter aufweist, die durch die Übertragungsfunktion G(s) mit Einstellkoeffizienten ζ und β ausgedrückt werden: G(s) = 1/{(αs/ωc)2+2ζ(αs/ωc)+1}{(βs/ωc)+1}wobei s = jω, ωc eine Grenzfrequenz ist und α eine Konstante ist.
einen Abtaster zum Abtasten einer Oberfläche eines zu messenden Gegenstands und zum Ausgeben eines einer ungefilterten Profilkurve entsprechenden elektrischen Signals; und
eine Tiefpaßfilter-Einrichtung zum Extrahieren von Niederfrequenz komponenten, die einer Welligkeits-Profilkurve aus dem vom Ab taster ausgegebenen elektrischen Signal entsprechen, wobei die Tief paßfilter-Einrichtung zwei kaskadenförmig verbundene Filter aufweist, die durch die Übertragungsfunktion G(s) mit Einstellkoeffizienten ζ und β ausgedrückt werden: G(s) = 1/{(αs/ωc)2+2ζ(αs/ωc)+1}{(βs/ωc)+1}wobei s = jω, ωc eine Grenzfrequenz ist und α eine Konstante ist.
8. Vorrichtung gemäß Anspruch 7, wobei die Einstellkoeffizienten ζ
sich von 0,482 bis 0,966 und 6 von 0,000 bis 1,343 erstrecken.
9. Vorrichtung gemäß Anspruch 7, wobei die Einstellkoeffizienten ζ
sich von 0,632 bis 0,722 und 6 von 0,789 bis 0,986 erstrecken.
10. Vorrichtung gemäß Anspruch 7, wobei die Konstante α so gewählt
ist, daß folgende Gleichung erfüllt wird:
α2 = (1-2ζ2)+{(1-2ζ2)2+(1-β2)/
(1+β2)}1/2.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30641492A JP2576007B2 (ja) | 1992-10-20 | 1992-10-20 | 表面粗さ測定装置 |
JP5107669A JP2777525B2 (ja) | 1993-04-09 | 1993-04-09 | 表面粗さ測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4335303A1 true DE4335303A1 (de) | 1994-04-21 |
DE4335303C2 DE4335303C2 (de) | 1996-06-27 |
Family
ID=26447698
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4335303A Expired - Fee Related DE4335303C2 (de) | 1992-10-20 | 1993-10-15 | Vorrichtung zum Messen von Oberflächenrauhigkeit |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5390536A (de) |
DE (1) | DE4335303C2 (de) |
GB (1) | GB2272059B (de) |
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JP3246723B2 (ja) | 1997-11-28 | 2002-01-15 | 株式会社ミツトヨ | 位相遅れ補正方式 |
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GB9320780D0 (en) | 1993-12-01 |
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GB2272059A (en) | 1994-05-04 |
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DE4335303C2 (de) | 1996-06-27 |
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