DE4239532C1 - Verwendung von Mikro-Carbonfasern - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft die Verwendung von Mikro-Carbonfasern
zum Prüfen der elektrischen Leitfähigkeit des Strukturgrundes
von mikrostrukturierten Körpern, bei denen sich auf einem
elektrisch leitfähigen Strukturgrund Mikrostrukturelemente aus
elektrisch nicht leitfähigem Material erheben.
Bei dem Verfahren gemäß der DE-PS 37 12 268 wird auf eine me
tallische Trägerschicht. z. B. Chrom-Nickel-Stahl, eine für
Röntgenstrahlen empfindliche Resistschicht aufgebracht, die
über eine Röntgenmaske partiell mit Synchronstrahlung be
lichtet wird. Die belichteten Bereiche werden mit einem flüs
sigen Entwickler herausgelöst, wodurch den Mikrostrukturen
entsprechende Hohlräume entstehen. Mit diesem Verfahren können
Mikrostrukturen mit sehr hohen Aspektverhältnissen bei klein
sten, lateralen Abmessungen im µm-Bereich erzeugt werden.
Aus der EP 0 328 161 A2 ist ein Verfahren bekannt, bei dem
Werkzeug, das auf einer Grundplatte Mikrostrukturen trägt, ab
geformt wird. Hierzu wird auf die Stirnflächen der Mikrostruk
turen des Werkzeugs nacheinander eine Trennmittelschicht und
eine elektrisch leitende Schicht aus niedermolekularem Poly
methylmethacrylat (PNMA), gemischt mit 20 bis 50 Gew.-% Ruß
aufgetragen. Danach wird das Werkzeug mit einer elektrisch
isolierenden Abformmasse, z. B. einem Gießharz, ausgefüllt und
überschichtet. Nach der Warmhärtung der Abformmasse, bei der
das elektrisch leitende Material mit der aushärtenden Abform
masse eine feste Verbindung eingeht, wird das Werkzeug von der
ausgehärteten Abformmasse getrennt. Dabei bleibt das elek
trisch leitende Material auf dem Strukturgrund der Mikrostruk
turen haften.
Aus der DE 40 10 669 C1 ist eine hierzu alternatives Verfahren
zur Herstellung mikrostrukturierter, plattenförmige Körper
bekannt, wobei deren Strukturgrund eine zusammenhängende Flä
che bilden muß, bei dem auf einer elektrisch nicht leitenden
Thermoplast-Schicht ein Film des elektrisch leitenden Materi
als aufgebracht wird, danach ein Werkzeug bei einer Tempera
tur, die oberhalb der Erweichungstemperatur des Thermoplasten
liegt, durch den Film des elektrisch leitenden Materials hin
durch in die Thermoplast-Schicht eingedrückt wird, Formeinsatz
und Thermoplast-Schicht auf eine Temperatur unterhalb der Er
weichungstemperatur des Thermoplasten abgekühlt werden und der
Formeinsatz entfernt wird.
Aus der DE 39 37 308 C1 ist ein Verfahren zur Herstellung von
metallischen Mikrostrukturkörpern bekannt, bei dem auf einer
elektrisch leitfähigen Grundplatte Mikrostrukturen aus Kunst
stoff erzeugt werden, wobei im Zuge der Erzeugung der Mi
krostrukturen eine Restschicht des Kunststoffes auf der elek
trisch leitfähigen Grundplatte belassen wird und erst an
schließend die Restschicht des Kunststoffes durch reaktives
Ionenätzen mittels senkrecht gegen die Oberfläche der Grund
platte beschleunigter Ionen entfernt wird.
Allen diesen Verfahren ist gemeinsam, daß mikrostrukturierte
Körper hergestellt werden, bei denen sich auf einem elektrisch
leitfähigen Strukturgrund Mikrostrukturelemente aus elektrisch
nicht leitfähigem Material erheben. Bei allen Verfahren sollen
die mikrostrukturierten Körper in nachfolgenden Schritten gal
vanisch mit einem Metall abgeformt werden, wobei entweder die
Grundplatte oder der elektrisch leitfähig gemachte Struktur
grund als Kathode geschaltet wird.
Für eine einwandfreie galvanische Abformung ist es unabding
bar, daß die galvanischen Abscheidung an allen Stellen des
Strukturgrunds gleichmäßig einsetzt und nicht in einzelnen Be
reichen durch elektrisch schlecht- oder nicht leitende Fehl
stellen im Strukturgrund behindert oder vollständig gehemmt
wird.
Solche Fehlstellen können beim erstgenannten Verfahren bei
spielsweise dadurch entstehen, daß die mit Röntgenstrahlen be
lichteten Bereiche vom Entwickler nicht vollständig herausge
löst werden, so daß die elektrisch leitfähige Trägerschicht
nicht freigelegt ist. Fehlerquellen bei den an zweiter und
dritter Stelle genannten Verfahren sind beispielsweise, daß
die elektrisch leitfähige Schicht unzureichend vom Werkzeug
auf den mikrostrukturierten Körper übertragen oder in den
Strukturgrund gepreßt wird. Bei dem an vierter Stelle genann
ten Verfahren kann schließlich eine Kontrollmessung zweckmäßig
sein, mit der festgestellt wird, ob die Restschicht bereits
vollständig entfernt ist.
Erfindungsgemäß soll eine Möglichkeit geschaffen werden, Fehl
stellen dieser Art erkennen zu können.
Es ist allgemein bekannt, daß die elektrische Leitfähigkeit
von Körpern dadurch gemessen werden kann, daß eine erste
Stelle des Körpers mit der ersten elektrischen Leitung eines
Durchgangsprüfers kontaktiert und eine beliebige weitere
Stelle des Körpers mit einer Tasterspitze, die mit der zweiten
elektrischen Leitung des Durchgangsprüfers verbunden ist, be
rührt wird. Eine solche erste Stelle ist bei allen mikrostruk
turierten Körpern vorhanden, die nach Verfahren der oben ge
nannten Art hergestellt werden, denn eine solche Stelle wird
bei der Kontaktierung für die anschließende galvanische Abfor
mung benötigt.
Es ist jedoch problematisch, den Strukturgrund von mikrostruk
turierten Körpern abzutasten. Wie erwähnt, kann mit den oben
genannten Verfahren ein hohes Aspektverhältnis erreicht wer
den; dies bedeutet, daß der Strukturgrund eine bis zwei
Größenförderungen kleiner ist als die Höhe der Mikrostrukturele
mente. Beispielsweise können einige hundert Mikrometer hohe
Mikrostrukturelemente durch Gräben, die lediglich etwa 10 µm
breit sind, voneinander getrennt sein. Soll an solchen mi
krostrukturierten Körpern der Strukturgrund abgetastet werden,
so ist es nahezu unvermeidlich, daß die Mikrostrukturelemente
berührt und zerstört werden.
Aus der EP 0 483 579 A2 ist eine Abtastnadel mit einer Größe
im Nanometer-Bereich für ein Raster-Tunnel-Elektronenmikroskop
bekannt, die in eine Spitze ausläuft. Die Abtastnadel besteht
aus einer Carbon-Matrixstruktur mit eingelagerten
Metallteilchen; sie weist entsprechend ihrer Verwendung eine
starre Struktur auf.
Bei der erfindungsgemäß zu schaffenden Möglichkeit, Fehlstel
len im Strukturgrund erkennen zu können, muß die Gefahr, daß
dabei Mikrostrukturelemente zerstört werden, so weit wie mög
lich minimiert werden. Wegen ihrer starren Struktur ist die
bekannte Abtastnadel hierfür nicht geeignet.
Die Lösung dieses Problems gelingt durch die eingangs ange
sprochene Verwendung von Mikro-Carbonfasern zum Prüfen der
elektrischen Leitfähigkeit des Strukturgrundes von mikrostruk
turierten Körpern, bei denen sich auf einem elektrisch leit
fähigen Strukturgrund Mikrostrukturelemente aus elektrisch
nicht leitfähigem Material erheben.
Mikro-Carbonfasern eignen sich wegen ihrer hohen Elastizität,
ihrer Formsteifheit und ihrer guten elektrischen Leitfähigkeit
in besonderem Maß zum Prüfen der elektrischen Leitfähigkeit
des Strukturgrundes. Selbst wenn mit Mikro-Carbonfasern Mi
krostrukturelemente berührt werden, besteht nicht die Gefahr
der Zerstörung, da sich Mikro-Carbonfasern elastisch verbie
gen.
Unter Mikro-Carbonfasern sollen im folgenden Carbonfasern mit
einem Durchmesser von weniger als 100 µm verstanden werden.
Ihre elektrische Leitfähigkeit soll möglichst hoch sein.
Mikro-Carbonfasern sind im Handel erhältlich.
Beispielsweise werden Mikro-Carbonfasern mit einer Dicke von
ca. 5-10 µm als Garne mit einer Filamentzahl zwischen 1000
und 24000 und einer Länge bis zu mehreren 1000 Metern angebo
ten. Solche Filamente können aus einem Abschnitt eines Garns
herausgezogen und verwendet werden. Daneben werden Kurz
schnittfasern mit einigen Millimetern Länge angeboten, die
ebenfalls brauchbar sind.
Der elektrische Widerstand solcher Fasern liegt im Bereich von
1,5·10-3 Ωcm (ca. eine Größenordnung unter der Leitfähigkeit
von Quecksilber).
Ein kommerzieller Anbieter ist die Fa. Akzo Faser AG, Wupper
tal.
Selbstverständlich werden zum erfindungsgemäßen Prüfen der
elektrischen Leitfähigkeit solche Mikro-Carbonfasern ausge
wählt, die kleiner sind als die Fläche des Strukturgrunds, die
kontaktiert werden soll. Ihre Länge muß außerdem die Höhe der
benachbarten Mikrostrukturelemente übersteigen. Für die übli
cherweise hergestellten mikrostrukturierten Körper können
Mikro-Carbonfasern mit einem Durchmesser von weniger als
20 µm, insbesondere von 10 µm bis 5 µm eingesetzt werden. Es
ist für die erfindungsgemäße Verwendung völlig ausreichend,
wenn eine Mikro-Carbonfaser einer Länge, die die Höhe der be
nachbarten Mikrostrukturelemente um das 1,5- bis 2fache über
steigt, mit dem Ende eines üblichen elektrischen Leitungsdraht
verbunden ist. Dieser Leitungsdraht und eine elektrische Lei
tung, die mit der für die Galvanik vorgesehenen Kontaktstelle
verbunden ist, werden mit einem üblichen elektrischen Durch
gangsprüfer verbunden.
Wegen der normalerweise geringen Größe der Mikrostruktur
elemente und deren geringem Abstand zueinander wird die Kon
taktierung der Mikro-Carbonfaser mit dem Strukturgrund häufig
unter dem Mikroskop kontrolliert werden müssen. Die Länge der
eingesetzten Mikro-Carbonfaser wird in diesen Fällen so ge
wählt, daß zumindest das freie Faserende unter dem Mikroskop
sichtbar ist. Hierbei ist zu berücksichtigen, daß der elektri
sche Leitungsdraht im allgemeinen um Größenordnungen dicker
ist als die Mikro-Carbonfaser, so daß er die Sicht auf die Fa
ser verdeckt.
Es hat sich gezeigt, daß bei elektrischen Leitungsdrähten von
ca. 1 mm Durchmesser die Faser ca. 5 mm lang sein sollte, da
mit das Faserende auch bei höheren Vergrößerungen und einem
entsprechend eingeengten Sichtfeld im Mikroskop sichtbar
bleibt. Vorzugsweise wird die Faser am Leitungsdraht nicht
rechtwinklig, sondern leicht abgewinkelt angebracht, so daß
der Winkel zwischen Leitungsdraht und Faser etwas größer ist
als 90°.
Da ein solcher Winkel im allgemeinen nicht exakt einstellbar
ist, wird man eine längere Mikro-Carbonfaser am Ende des Lei
tungsdrahtes anbringen und die Faser entsprechend den gegebe
nen Sichtverhältnissen unter dem Mikroskop entsprechend kür
zen.
Die Verbindung zwischen Mikro-Carbonfasern und einem konven
tionellen Leitungsdraht kann durch Leitlacke, z. B. durch Sil
berleitlack hergestellt werden. Bei Bedarf können die Mikro-
Carbonfasern leicht ausgetauscht werden. Als Durchgangsprüfer
eignet sich ein üblicher Galvaniktester.
Ein besonderer Vorteil der Mikro-Carbonfasern ist, daß sie
durch spezielle Behandlungsschritte, z. B. durch elektrochemi
sche Verfahren, z. B. elektrochemisches Ätzen der Spitze,
verjüngt und zugespitzt werden können. Außerdem können die
Mikro-Carbonfasern durch chemische Verfahren modifiziert wer
den. Solche Behandlungsschritte sind bei der Verwendung von
Kohlefasern als Mikroelektroden in der analytischen Elektro
chemie bekannt.
Die Erfindung wird im folgenden anhand eines Ausführungsbei
spiels und einer Figur näher erläutert.
In der Figur ist der Meßaufbau dargestellt.
Der zu untersuchende mikrostrukturierte Körper 1 wird an der
für die Galvanik vorgesehenen Kontaktfläche 2 elektrisch kon
taktiert und auf dem Arbeitstisch eines Mikroskops (nicht dar
gestellt) fixiert. Die elektrische Ableitung 3 vom mikrostruk
turierten Körper 1 wird mit einem (nicht dargestellten) elek
tronischen Leitfähigkeitstester, einem Durchgangsprüfer mit
eigener Stromversorgung (UNITEST Typ V1X ohmvariant), verbun
den. Das andere Kabel des Leitfähigkeitstesters ist mit einem
Draht 4 verbunden, der durch einen (nicht dargestellten) Mi
kromanipulator bewegt werden kann. Am freien Ende dieses
Drahtes 4 befindet sich eine Mikro-Carbonfaser 6, die senk
recht zur Grundplatte 5 des mikrostrukturierten Körpers 1 ju
stiert ist. Die Mikro-Carbonfaser 6 ist ca. 5 mm lang, 7 µm
dick und wurde durch Kleben mit Silberleitlack mit dem Draht 4
verbunden.
Mit Hilfe des Mikromanipulators wird nun die Mikro-Carbonfaser
6 unter das Objektiv 7 und über den mikrostrukturierten Körper
1 gebracht, so daß die Mikro-Carbonfaser sichtbar ist. Durch
Anheben des Arbeitstisches oder durch Absenken der Faser ist
es nun möglich, mit der Faser in die Räume 8 zwischen den Mi
krostrukturelementen 9 des mikrostrukturierten Körpers 1 zu
gelangen, bis der elektrisch leitfähige Strukturgrund 10 des
mikrostrukturierten Körpers kontaktiert ist. Ist der Struktur
grund 10 an dieser Stelle frei von elektrisch isolierenden
Restschichten, so wird dies durch ein optisches oder akkusti
sches Signal im Leitfähigkeitstester angezeigt. Ist dagegen
eine elektrisch isolierende Restschicht vorhanden, so fließt
zwischen der Mikro-Carbonfaser 6 und der Kontaktfläche 2 kein
oder nur ein geringer Strom.
Mit Hilfe dieser Methode wurden bisher mehrere unterschiedlich
gestaltete mikrostrukturierte Körper untersucht. Sie hat sich
dabei als sehr nützlich erwiesen. Probleme bezüglich einer me
chanischen Schädigung von Mikrostrukturelementen durch Berüh
rungen mit der Mikro-Carbonfaser traten dabei nicht auf, so
daß eine zerstörungsfreie Prüfmethode vorliegt. Dies ist vor
allem den oben erwähnten besonderen Eigenschaften von Mikro-
Carbonfasern zuzuschreiben. Für schnellere Untersuchungen kann
die Meßanordnung mit Hilfe eines geeigneten, programmierbaren
Mikromanipulators automatisiert werden.
Mit dem erfindungsgemäß zu verwendenden Mikro-Carbonfasern
konnten mikrostrukturierte Körper mit unterschiedlichen late
ralen Abmessungen untersucht werden. Es wurde der Struktur
grund zwischen 120 µm hohen Mikrostrukturelementen kontak
tiert, wobei der Strukturgrund Breiten zwischen 200 µm bis
herunter zu 20 µm aufwies.
Die mikrostrukturierten Körper hatten teilweise die Form von
Zahnrädern, teilweise die Form von eng benachbarten Kunst
stoffsäulen auf einem metallischen Strukturgrund.
Claims (2)
1. Verwendung von Mikro-Carbonfasern zum zerstörungsfreien
Prüfen der elektrischen Leitfähigkeit des Strukturgrundes
von mikrostrukturierten Körpern, bei denen sich auf einem
elektrisch leitfähigen Strukturgrund Mikrostrukturelemente
aus elektrisch nicht leitfähigem Material erheben.
2. Verwendung von in eine Spitze auslaufenden Mikro-Carbon
fasern nach Anspruch 1.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4239532A DE4239532C1 (de) | 1992-11-25 | 1992-11-25 | Verwendung von Mikro-Carbonfasern |
AT93116853T ATE191794T1 (de) | 1992-11-25 | 1993-10-19 | Verwendung von mikro-carbonfasern |
DE59310006T DE59310006D1 (de) | 1992-11-25 | 1993-10-19 | Verwendung von Mikro-Carbonfasern |
EP93116853A EP0599049B1 (de) | 1992-11-25 | 1993-10-19 | Verwendung von Mikro-Carbonfasern |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4239532A DE4239532C1 (de) | 1992-11-25 | 1992-11-25 | Verwendung von Mikro-Carbonfasern |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4239532C1 true DE4239532C1 (de) | 1994-02-10 |
Family
ID=6473568
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4239532A Expired - Fee Related DE4239532C1 (de) | 1992-11-25 | 1992-11-25 | Verwendung von Mikro-Carbonfasern |
DE59310006T Expired - Fee Related DE59310006D1 (de) | 1992-11-25 | 1993-10-19 | Verwendung von Mikro-Carbonfasern |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE59310006T Expired - Fee Related DE59310006D1 (de) | 1992-11-25 | 1993-10-19 | Verwendung von Mikro-Carbonfasern |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0599049B1 (de) |
AT (1) | ATE191794T1 (de) |
DE (2) | DE4239532C1 (de) |
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EP0599049B1 (de) | 2000-04-12 |
DE59310006D1 (de) | 2000-05-18 |
ATE191794T1 (de) | 2000-04-15 |
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