DE4236822A1 - - Google Patents
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- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K7/00—Constructional details common to different types of electric apparatus
- H05K7/02—Arrangements of circuit components or wiring on supporting structure
- H05K7/10—Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets
- H05K7/1015—Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets having exterior leads
- H05K7/1023—Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets having exterior leads co-operating by abutting, e.g. flat pack
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- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Connecting Device With Holders (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf elektri
sche Fassungen, die ein mit hoher Geschwindigkeit
erfolgendes Testen sowie Einbrennen der nun entste
henden großen und komplizierten integrierten Schal
tungs-Chips vor deren Unterbringung in Gehäusen
gestatten.
Da integrierte Schaltungs-Chips größer und komple
xer werden, werden die darin befindlichen Schaltun
gen immer enger beieinander untergebracht, so daß
die nächste Generation von Chips Bondverbindungs-
Kontaktflächen mit einer Mittenbeabstandung von ca.
0,075 mm (0,003 Inch) besitzen werden. Daher wird
nun die Schaffung einer Testfassung vorgeschlagen,
die in der Lage ist, diese nächste Generation blan
ker bzw. noch gehäuseloser Chips mit voller Ge
schwindigkeit zu testen sowie einzubrennen.
Gemäß der vorliegenden Erfindung ist eine elektri
sche Fassung zum Verbinden von Schaltungen eines
integrierten Schaltungs-Chips mit Schaltungen auf
einem Substrat geschaffen. Die Fassung beinhaltet
einen Basisabschnitt und einen oberen Abschnitt,
der einen Kontaktstift-Haltebereich, in dem Halte
bereich vorgesehene Kontaktstifte mit einem ersten
und einem zweiten Ende, die über die einander ent
gegengesetzten Oberflächen des Haltebereichs
hinausragen, sowie einen Rahmen aufweist, der mit
einer Öffnung zur Aufnahme eines Chips versehen
ist, wobei die darauf befindlichen Schaltungen an
den ersten Enden der jeweiligen Kontaktstifte an
greifen. Weiterhin beinhaltet die Fassung eine
Membran, die eine dielektrische Basisschicht mit
Schaltungs-Leiterbahnen auf der einen Oberfläche
aufweist. Ein innerer Bereich der Membran ist
zwischen dem Basisabschnitt und dem oberen Ab
schnitt derart positioniert, daß innere Enden der
Schaltungs-Leiterbahnen an den zweiten Enden der
Kontaktstifte angreifen, und ein äußerer Bereich
der Membran erstreckt sich von der Fassung nach
außen weg, wobei äußere Enden der Schaltungs-Lei
terbahnen an Schaltungen auf einem Substrat angrei
fen.
Bevorzugte Weiterbildungen der Erfindung ergeben
sich aus den Unteransprüchen.
Die Erfindung und Weiterbildungen der Erfindung
werden im folgenden anhand der zeichnerischen
Darstellungen eines Ausführungsbeispiels noch näher
erläutert. In den Zeichnungen zeigen:
Fig. 1 eine Schnittansicht einer Fassung gemäß
einem Ausführungsbeispiel der vorliegen
den Erfindung;
Fig. 2 eine von oben gesehene Draufsicht auf
einen Kontaktstift-Haltebereich der
Fassung;
Fig. 3 eine von oben gesehene Draufsicht auf
eine metallisierte Kunststoffmembran der
Fassung; und
Fig. 4 eine Schnittansicht entlang der Linien
IV-IV der Fig. 1.
Wie in Fig. 1 zu sehen ist, umfaßt eine Fassung 10
gemäß der vorliegenden Erfindung eine Basisab
schnitt 12, eine metallisierte Kunststoffmembran 14
und einen oberen Abschnitt 16. Die Fassung 10 ist
auf einem Substrat 20 positioniert gezeigt, wobei
sich die Membran 14 mit darauf vorhandenen Schal
tungskontaktflächen 22 in elektrischem Eingriff
befindet. Außerdem besitzt das Substrat 20 Befesti
gungslöcher 24.
Der Basisabschnitt 12 umfaßt eine Basisplatte 26,
die durch Formen eines dielektrischen Kunststoffma
terials, wie z. B. VALOX 420 SEO (Wz) der Firma
General Electric oder aus einem anderen geeigneten
Material gebildet ist. Eine Freiraum-Aussparung 28
ist in der Fläche 30 der Basisplatte 26 vorgesehen,
und Befestigungslöcher 32 erstrecken sich nahe
jeder Ecke durch die Basisplatte 26 hindurch. Jedes
Loch 32 besitzt eine Schulter 33.
Ein weiterer Teil des Basisabschnitts 12 ist gebil
det durch einen Stapel 34, der eine zentrale Öff
nung 36 aufweist und aus einer Mehrzahl dünner
Federstahlbleche 38 gebildet ist. Der äußere Be
reich 40 des Stapels 34 ist massiv, während der
innere Bereich 42 geschlitzt ist, um nach innen
wegstehende Federfinger 44 zu bilden, wobei jeder
Federfinger 44 dazu ausgelegt ist, unter einer
einzelnen Schaltungs-Leitungsbahn 72 (Fig. 3) auf
der Membran 14 angeordnet zu werden und diese in
federnd nachgiebiger Weise zu tragen. Außerdem
erstrecken sich Befestigungslöcher 46 nahe jeder
Ecke durch den Stapel 34 hindurch. Der Stapel 34
ist zwar aus mehreren Flachstücken 38 bestehend
dargestellt, jedoch versteht es sich, daß wenig
stens ein Flachstück 38 erforderlich ist.
Die metallisierte Kunststoffmembran 14 wird später
unter Bezugnahme auf Fig. 3 beschrieben.
Der obere Abschnitt 16 umfaßt einen Kontaktstift-
Haltebereich 50, Kontaktstifte 52 sowie einen
Rahmen 54. Der Haltebereich 50 ist aus einer oder
mehreren Schichten 56 aus Glas oder Keramikmaterial
gebildet. Löcher 58 erstrecken sich in einem vorbe
stimmten Muster sowie mit einer vorbestimmten
Mittenlinienbeabstandung durch den Haltebereich 50
hindurch. Gesichtspunkte hinsichtlich des genannten
Musters sowie der genannten Beabstandung werden im
folgenden unter Bezugnahme auf Fig. 2 beschrieben.
Die Löcher 58 können geringfügig konisch zulaufend
ausgebildet sein, so daß bei einem zweischichtigen
Bereich der dargestellten Art jedes Loch 58 an dem
Mittelpunkt des zweischichtigen Bereichs einen
größeren Durchmesser als an den jeweiligen Enden
dieses Bereichs besitzt. Befestigungslöcher 60 sind
in dem Haltebereich 50 nahe jeder Ecke desselben
ausgebildet.
Die Kontaktstifte 52, die in den Löchern 58 ange
ordnet sind, sind aus einem beliebigen, geeigneten,
niedrigen Widerstand aufweisenden, leitfähigen
Material gebildet, das sich in extrem kleine Größen
formen läßt. Bei dem bevorzugten Ausführungsbei
spiel sind die Kontaktstifte 52 aus Palliney 7 (Wz)
oder ORO 28 A (Wz) der J. M. Ney Company in Hart
ford, Connecticut, USA hergestellt.
Der Rahmen 54, der vorzugsweise aus Keramikmaterial
oder einem anderen verschleißbeständigen Material
hergestellt ist, ist mit einer zentral angeordneten
Öffnung 62 sowie mit Ausrichtungslöchern 64 nahe
jeder Ecke versehen.
Fig. 2 zeigt eine Oberfläche des Haltebereichs 50,
der als Fassung für einen speziellen Mikroprozessor
maßstabsgetreu gezeichnet ist. Die Löcher 58, die
in einem bestimmten Muster angeordnet sind, sind
mit einer Mittenlinienbeabstandung von ca. 0,130
bis 0,025 mm (0,0051 bis 0,001 Inch) vorgesehen und
besitzen einen Durchmesser von ca. 0,0635 mm
(0,0025 Inch). Bei diesem speziellen dargestellten
Ausführungsbeispiel sind insgesamt 480 Löcher 58
vorhanden.
Die Kontaktstifte 52 zur Verwendung in den Löchern
58 besitzen je nach dem einen Durchmesser von ca.
0,050 mm (0,002 Inch) oder ca. 0,025 mm (0,001
Inch).
Wie unter Bezugnahme auf die Fig. 1 und 3 zu sehen
ist, handelt es sich bei der metallisierten Kunst
stoffmembran 14 um ein Verbundelement mit einer
Basisschicht 70 aus einem Kunststoffmaterial wie
z. B. dem Material "KAPTON" (Wz) der Firma DuPont,
mit Schaltungs-Leiterbahnen 72 auf der Oberfläche
74 sowie mit einer Erdungsebene 76 auf der entge
gengesetzten Oberfläche 78. Nahe jeder Ecke sind
Befestigungslöcher 80 vorgesehen.
Die inneren Enden 82 der Leiterbahnen 72 definieren
ein rechtwinkliges Muster, das mit dem in Fig. 2
gezeigten Muster der Löcher 58 in dem Haltebereich
50 identisch ist. In dieser Zone hoher Dichte
liegt die Breite jedes inneren Endes 82 bei ca.
0,050 bis ca. 0,025 mm (0,002 bis 0,001 Inch). Die
Leiterbahnen 72 erstrecken sich fächerartig nach
außen zu äußeren Enden 84 längs der Ränder der
Membran 14.
Die Leiterbahnen 72, die eine durchschnittliche
Dicke von ca. 0,03 mm (0,0013 Inch) aufweisen, sind
vorzugsweise aus Kupfer gebildet, das auflaminiert,
aufgestäubt (sputtern) oder additiv auf die Fläche
74 der Basisschicht 70 aufgebracht werden kann. Es
können auch andere Verfahrensweisen zur Schaffung
der Leiterbahnen 72 verwendet werden. Außerdem
können die Leiterbahnen 72 wahlweise mit Gold oder
anderen Edelmetallen plattiert sein.
Bei der Erdungsebene 76 kann es sich um ein massi
ves Flachstück aus Kupfer handeln, das die Fläche
78 bedeckt. Alternativ hierzu kann die Erdungsebene
76 als Spiegelbild der Leiterbahnen 72 ausgebildet
sein, wobei die äußeren Enden 88 in bezug auf die
äußeren Enden 84 der Leiterbahnen 72 seitlich ver
setzt angeordnet sind. Dadurch sind in der in Fig.
4 gezeigten Weise die äußeren Enden 84 und 88 an
den Lötstellen auf dem Substrat 20 in einander
abwechselnder Weise angeordnet.
Die Fassung 10 wird in der in Fig. 1 gezeigten
Weise zusammengebaut, wobei die mehreren Komponen
ten stapelartig übereinander angeordnet und durch
irgendein geeignetes Mittel aneinander befestigt
werden. Wie für den Fachmann offensichtlich ist,
sind die inneren Enden 82 der Leiterbahnen 72 mit
den über die Aussparung 28 in der Basisplatte 26
herausstehenden Federfingern 44 fluchtend angeord
net und außerdem mit den jeweiligen Kontaktstiften
52 ausgerichtet. Es ist zwar nicht gezeigt, doch
sind die Löcher 58 zusätzlich zu der in diesen
erfolgenden Aufnahme der Stifte 52 vorzugsweise mit
einer geeigneten viskosen Masse versehen, wie z. B.
Dimethylsiloxan, wobei dieses Material jedoch nur
als Beispiel angegeben wird und keinerlei Ein
schränkung darstellt. Diese Masse verhindert ein
Herausfallen der Kontaktstifte 52, sie verhindert
jedoch nicht die Ausführung einer Gleitbewegung
unter Kraftbeaufschlagung. Außerdem schafft die
Masse eine Dichtung gegen Verunreinigungen sowie
einen Schutz für die Übergangsfläche zwischen den
Stiften 52 und den inneren Enden 82 der Leiterbah
nen 72.
Die äußeren Enden 84 der Leiterbahnen 72 sind mit
den Schaltungskontaktflächen 22 auf dem Substrat 20
verlötet oder anderweitig in elektrisch verbinden
der Weise an diesen angebracht. In ähnlicher Weise
ist die Erdungsebene 76 - entweder als massives
Flachstück oder in Form von Leiterbahnen - an Er
dungskontaktflächen 90 (Fig. 4) auf dem Substrat 20
in elektrisch verbundener Weise angebracht.
Die Fassung 10 läßt sich unter Verwendung herkömm
licher Befestigungseinrichtungen in Verbindung mit
den Befestigungslöchern 32, 46, 60, 64 und 80 zu
sammenhalten sowie an dem Substrat 20 befestigen.
In dieser Hinsicht läßt sich die Fassung 10 unter
Verwendung von Bolzen mit Gewindeschäften an den
entgegengesetzten Enden sowie einer dazwischen
vorhandenen Ausbauchung bzw. Kragen vormontieren
(nicht gezeigt). Der Kragen greift an der Schulter
33 in dem Loch 32 an, und ein Gewindeschaft er
streckt sich durch die Fassung 10 zur Aufnahme
einer nicht gezeigten Mutter hindurch, wodurch die
Fassung zusammengeschraubt wird. Anschließend kann
man die Fassung 10 auf dem Substrat 20 montieren,
indem man die entgegengesetzten Gewindeschäfte
durch die Substratlöcher 24 hindurchführt und eine
nicht gezeigte Mutter auf diese aufschraubt, wo
durch die Fassung 10 an dem Substrat 20 befestigt
ist.
Wie in Fig. 1 gezeigt ist, wird ein integrierter
Schaltungs-Chip 94 in der Öffnung 62 plaziert,
wobei die nicht ausführlicher gezeigten Bondverbin
dungs-Kontaktflächen an den Kontaktstiften 52 zum
Zweck des Testens und zum Einbrennen angreifen, je
nachdem, wie dies erforderlich ist.
Nicht gezeigt sind dabei Abdeckungen oder andere
Mittel zum Ausüben einer Kraft auf den Chip 94, da
solche Einrichtungen im Stand der Technik allgemein
bekannt sind.
Fig. 4 zeigt eine Schnittansicht unter Darstellung
der abwechselnd aufeinanderfolgenden äußeren Lei
terbahnenden 84 und 88, die mit den Kontaktflächen
22 bzw. 90 auf dem Substrat 20 verlötet sind.
Die Fassung 10 ist zur Verwendung beim Testen
blanker bzw. gehäuseloser Chips entwickelt worden.
Es versteht sich jedoch, daß die Fassung 10 auch
zum Testen anschlußleitungsloser Chip-Träger sowie
auch im allgemeinen in anderen als Testumgebungen
verwendet werden kann.
Unter Bezugnahme auf die Zeichnungen ist vorstehend
eine Testfassung zum Testen blanker integrierter
Schaltungs-Chips offenbart worden. Diese Fassung
beinhaltet einen Basisabschnitt mit Federfingern
zum Aufbringen einer Federkraft auf die Angreif-
Kontaktflächen von Schaltungs-Leiterbahnen auf
einer metallisierten Kunststoffmembran sowie auf
die unteren Enden von Kontaktstiften, die sich in
einem oberen Bereich der Fassung befinden. Die
äußeren Enden der Kontaktstifte greifen an Bondver
bindungs-Kontaktflächen auf dem Chip an. Die Schal
tungs-Leiterbahnen auf der Membran sind mit Schal
tungskontaktflächen auf einem Substrat elektrisch
verbunden, so daß der Chip in der erforderlichen
Weise getestet und eingebrannt werden kann.
Claims (10)
1. Elektrische Fassung (10) zur Verbindung von
Schaltungen auf einem integrierten Schaltungs-Chip
mit Schaltungen (22) auf einem Substrat (20), wobei
die Fassung (10) einen Basisabschnitt (12) auf
weist,
dadurch gekennzeichnet, daß ein oberer Abschnitt
(16) vorgesehen ist, der einen Kontaktstift-Halte
bereich (50), in dem Haltebereich (50) vorgesehene
leitfähige Kontaktstifte (52) mit einem ersten und
einem zweiten Ende, die über die einander entgegen
gesetzten Oberflächen des Haltebereichs (50)
hinausragen, sowie einen über dem Festhaltebereich
(50) liegenden Rahmen (54) aufweist, der eine sich
durch diesen hindurcherstreckende Öffnung (62) zur
Aufnahme eines integrierten Schaltungs-Chips (94)
aufweist, wobei Schaltungen auf dem Chip an den
ersten Enden der jeweiligen Kontaktstifte (52)
angreifen, und daß eine Membran (14) vorgesehen
ist, die eine dielektrische Basisschicht (70) mit
leitfähigen Schaltungs-Leiterbahnen (72) auf ihrer
einen Oberfläche (74) aufweist, wobei die Membran
(14) einen zwischen dem Basisabschnitt (12) und dem
oberen Abschnitt (16) positionierten inneren Be
reich, in dem innere Enden (82) der Schaltungs-
Leiterbahnen (72) an den zweiten Enden der Kontakt
stifte (52) angreifen, sowie einen sich von der
Fassung (10) nach außen wegerstreckenden äußeren
Bereich aufweist, in dem äußere Enden (84) der
Schaltungs-Leiterbahnen (72) an Schaltungen (22)
auf einem Substrat (20) angreifen.
2. Fassung nach Anspruch 1,
gekennzeichnet durch unter den inneren Enden (82)
der Schaltungs-Leiterbahnen (72) liegende Federein
richtungen (38) zum Ausüben von federnd nachgiebi
gen Gegenkräften auf die inneren Enden (82).
3. Fassung nach Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet, daß die Federeinrichtungen
(38) Federfinger (38) beinhalten, wobei jeder
Federfinger unter einer jeweiligen Schaltungs-Lei
terbahn (72) liegt.
4. Fassung nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet, daß der Haltebereich (50)
sich durch diesen hindurcherstreckende Löcher (58)
zur Aufnahme der Kontaktstifte (52) sowie zur
Aufnahme einer viskosen Masse besitzt.
5. Fassung nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet, daß der Haltebereich (50)
auf zwei Glasschichten gebildet ist.
6. Fassung nach einem der Ansprüche 1 bis 5,
dadurch gekennzeichnet, daß die Kontaktstifte (72)
aus Palliney 7 gebildet sind.
7. Fassung nach einem der Ansprüche 1 bis 5,
dadurch gekennzeichnet, daß die Kontaktstifte (52)
aus ORO 28 A gebildet sind.
8. Fassung nach einem der vorausgehenden Ansprüche,
gekennzeichnet durch eine Erdungsebeneneinrichtung
(76) auf der der Oberfläche (74) entgegengesetzten
Oberfläche der Membran-Basisschicht (70).
9. Fassung nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet, daß die Erdungsebenenein
richtung (76) Leiterbahnen beinhaltet, die im we
sentlichen ein Spiegelbild der Schaltungs-Leiterbah
nen (72) darstellen.
10. Fassung nach Anspruch 9,
dadurch gekennzeichnet, daß die äußeren Enden der
Erdungsebenen-Leiterbahnen relativ zu den jeweili
gen äußeren Enden (84) der Schaltungsplatten-Lei
terbahnen (72) seitlich versetzt sind.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/786,642 US5158467A (en) | 1991-11-01 | 1991-11-01 | High speed bare chip test socket |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4236822A1 true DE4236822A1 (de) | 1993-05-06 |
Family
ID=25139193
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4236822A Withdrawn DE4236822A1 (de) | 1991-11-01 | 1992-10-30 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5158467A (de) |
JP (1) | JPH06194412A (de) |
DE (1) | DE4236822A1 (de) |
FR (1) | FR2683397A1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1998001906A1 (en) * | 1996-07-05 | 1998-01-15 | Formfactor, Inc. | Floating lateral support for ends of elongate interconnection elements |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5273440A (en) * | 1992-05-19 | 1993-12-28 | Elco Corporation | Pad array socket |
US5322446A (en) * | 1993-04-09 | 1994-06-21 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Top load socket and carrier |
US5495667A (en) * | 1994-11-07 | 1996-03-05 | Micron Technology, Inc. | Method for forming contact pins for semiconductor dice and interconnects |
US5498970A (en) * | 1995-02-06 | 1996-03-12 | Minnesota Mining And Manufacturing | Top load socket for ball grid array devices |
WO1997003482A1 (en) * | 1995-07-07 | 1997-01-30 | Minnesotta Mining And Manufacturing Company | Separable electrical connector assembly having a planar array of conductive protrusions |
US5629837A (en) * | 1995-09-20 | 1997-05-13 | Oz Technologies, Inc. | Button contact for surface mounting an IC device to a circuit board |
US6046597A (en) * | 1995-10-04 | 2000-04-04 | Oz Technologies, Inc. | Test socket for an IC device |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3806801A (en) * | 1972-12-26 | 1974-04-23 | Ibm | Probe contactor having buckling beam probes |
US3885173A (en) * | 1973-10-09 | 1975-05-20 | Magnavox Co | Apparatus and method for coupling an acoustical surface wave device to an electronic circuit |
US3951495A (en) * | 1974-09-23 | 1976-04-20 | Advanced Memory Systems, Inc. | Leadless package receptacle |
US4189825A (en) * | 1975-06-04 | 1980-02-26 | Raytheon Company | Integrated test and assembly device |
US4079511A (en) * | 1976-07-30 | 1978-03-21 | Amp Incorporated | Method for packaging hermetically sealed integrated circuit chips on lead frames |
US4089575A (en) * | 1976-09-27 | 1978-05-16 | Amp Incorporated | Connector for connecting a circuit element to the surface of a substrate |
US4374003A (en) * | 1980-02-28 | 1983-02-15 | General Dynamics, Pomona Division | Fine line circuitry probes and method of manufacture |
US4426769A (en) * | 1981-08-14 | 1984-01-24 | Amp Incorporated | Moisture getter for integrated circuit packages |
US4513353A (en) * | 1982-12-27 | 1985-04-23 | Amp Incorporated | Connection of leadless integrated circuit package to a circuit board |
US4560826A (en) * | 1983-12-29 | 1985-12-24 | Amp Incorporated | Hermetically sealed chip carrier |
US4684184A (en) * | 1986-01-14 | 1987-08-04 | Amp Incorporated | Chip carrier and carrier socket for closely spaced contacts |
US4699593A (en) * | 1986-01-14 | 1987-10-13 | Amp Incorporated | Connector having contact modules for a substrate such as an IC chip carrier |
US4873615A (en) * | 1986-10-09 | 1989-10-10 | Amp Incorporated | Semiconductor chip carrier system |
US4832612A (en) * | 1986-10-31 | 1989-05-23 | Amp Incorporated | Protective carrier and securing means therefor |
US4744009A (en) * | 1986-10-31 | 1988-05-10 | Amp Incorporated | Protective carrier and securing means therefor |
US4880386A (en) * | 1988-11-18 | 1989-11-14 | Amp Incorporated | Socketing a semiconductor device |
-
1991
- 1991-11-01 US US07/786,642 patent/US5158467A/en not_active Expired - Fee Related
-
1992
- 1992-10-29 FR FR9212953A patent/FR2683397A1/fr active Pending
- 1992-10-30 DE DE4236822A patent/DE4236822A1/de not_active Withdrawn
- 1992-10-30 JP JP4314404A patent/JPH06194412A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1998001906A1 (en) * | 1996-07-05 | 1998-01-15 | Formfactor, Inc. | Floating lateral support for ends of elongate interconnection elements |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH06194412A (ja) | 1994-07-15 |
US5158467A (en) | 1992-10-27 |
FR2683397A1 (fr) | 1993-05-07 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
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