DE4228691A1 - Vorrichtung für die elektrische Funktionsprüfung von Verdrahtungsfeldern, insbesondere von Leiterplatten - Google Patents
Vorrichtung für die elektrische Funktionsprüfung von Verdrahtungsfeldern, insbesondere von LeiterplattenInfo
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Description
Die weitergehende Integration und Miniaturisierung bei elek
tronischen Bauelementen erfordert Leiterplatten mit verrin
gerten Rasterabständen, feineren Leiterbahnen und einer er
höhten Lagenzahl. Im Sinne einer frühzeitigen Fehlerelimi
nierung in der Flachbaugruppenfertigung müssen Leiterplatten
vor der Bestückung vollständig auf ihre elektrische Funktion
geprüft werden, wobei die elektrische Funktionsprüfung so
wohl eine Durchgangsprüfung als auch eine Isolationsprüfung
umfaßt. Voraussetzung für eine derartige elektrische Funkti
onsprüfung der Leiterplatten ist die Kontaktierung an den
relevanten Meßstellen. Diese Kontaktierung erfolgt in der
Praxis mechanisch durch Kontaktiernadeln, wobei jedoch einer
derartigen Nadelkontaktierung durch die Verringerung der Ra
stermaße bei gleichzeitig großen Leiterplattenformaten sehr
deutliche Grenzen hinsichtlich der feinwerktechnischen Mach
barkeit sowie einer Realisierung unter wirtschaftlichen Ge
sichtspunkten gesetzt sind. Weitere Probleme resultieren bei
feinen Rastern aus der Kontaktierzuverlässigkeit bedingt
durch die hohe Anzahl von Nadelkontakten sowie aus der me
chanischen Beschädigung der Kontaktierfelder als Folge der
notwendigen Kontaktierkraft.
Aus der EP-A-0 102 565 ist eine Vorrichtung für die elektri
sche Funktionsprüfung von Verdrahtungsfeldern bekannt, bei
der die vorstehend beschriebene Kontaktierung der Meßstellen
mittels Kontaktiernadeln durch eine berührungslose Kontak
tierung mittels Gasentladungsstrecken ersetzt wird. Hierzu
wird in eine auf die Verdrahtungsfelder aufsetzbare Träger
platte aus elektrisch isolierendem Material eine Vielzahl
von mit Elektroden versehenen Gasentladungskanälen einge
bracht, wobei die im Raster der Verdrahtungsfelder angeord
neten Gasentladungskanäle zu den Meßstellen hin offen sind.
Legt man diese Anordnung in einen Unterdruck und legt an die
Elektroden eine Spannung, so zünden in den entsprechenden
Gasentladungskanälen zwei Gasentladungen in Serie, sofern
zwischen den beiden zugeordneten Meßstellen eine elektrisch
leitende Verbindung besteht und sofern die Spannung minde
stens doppelt so hoch ist wie die Zündspannung einer Einzel
entladung. Bei einem hinreichend hohen Isolationswiderstand
zwischen den Meßstellen unterbleibt diese Zündung. Dieses
Prinzip ermöglicht somit ohne mechanische Berührung der Meß
stellen von Verdrahtungsfeldern, einen Prüfstrom auf eine
Leiterbahn zu bringen und wieder abzunehmen. Die Stärke des
über die Gasentladungsstrecken fließenden Stromes gibt Auf
schluß über den Durchgangs- bzw. Isolationswiderstand.
Der im Anspruch 1 angegebenen Erfindung liegt das Problem
zugrunde, bei der elektrischen Funktionsprüfung durchkontak
tierter Verdrahtungsfelder eine beidseitige berührungsfreie
Kontaktierung der Meßstellen mittels Gasentladungsstrecken
zu ermöglichen.
Die mit der Erfindung erzielten Vorteile bestehen insbeson
dere darin, daß mit der beidseitig berührungsfreien Kontak
tierung von Verdrahtungsfeldern eine elektrische Prüfung al
ler Verbindungen einschließlich Durchkontaktierungen ermög
licht wird. Liegen zwei ausgewählte Meßstellen auf verschie
denen Seiten eines zu prüfenden Verdrahtungsfeldes und sind
sie elektrisch leitend miteinander verbunden, so bilden die
zugeordneten Gasentladungskanäle in den einander gegenüber
liegenden Trägerplatten zwei in Serie geschaltete Gasentla
dungsstrecken, die durch Anlegen einer hinreichend hohen
Spannung an die entsprechenden Elektroden gezündet werden
können. Der hierbei einsetzende Stromfluß von einer Seite
der Verdrahtungsfelder zu der gegenüberliegenden Seite kann
nachgewiesen und zu Prüfzwecken ausgewertet werden. Liegen
zwei Meßstellen auf der selben Seite eines Verdrahtungsfel
des, so kann die Prüfung von Verbindungen zwischen diesen
beiden Meßstellen auf die aus der EP-A-0 102 565 bekannte
Weise über die Gasentladungskanäle der einzelnen auf dieser
Seite angeordneten Trägerplatte durchgeführt werden.
Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind in den An
sprüchen 2 bis 8 angegeben.
Die Weiterbildung nach Anspruch 2 ermöglicht eine verein
fachte Adressierung ausgewählter Meßstellen über die zuge
ordneten Sammelleitungen. Falls erforderlich, kann die ein
deutige Ansteuerung eines Gasentladungskanals zusätzlich zu
der Ansteuerung über eine Sammelleitung durch die Beauf
schlagung des Gasentladungskanals mit einer ionisierenden
Strahlung oder durch die Verwendung einer die Kontaktierung
nicht ausgewählter Meßstellen verhindernden Zwischenmaske
realisiert werden.
Die Ausgestaltung nach Anspruch 3 ermöglicht eine besonders
einfache und zuverlässige Ansteuerung ausgewählter Meßstel
len durch die Zündung von Steuergasentladungen in den zuge
ordneten Gasentladungskanälen. Sind dabei die zusätzlichen
Elektroden gemäß Anspruch 4 über Sammelleitungen ansteuer
bar, so kann die Ansteuerung ausgewählter Meßstellen mittels
einer Matrixadressierung vorgenommen werden.
Die Weiterbildung nach Anspruch 5 ermöglicht auch eine zu
verlässige elektrische Funktionsprüfung von Verdrahtungsfel
dern, die beispielsweise im Bereich von Bauteilanschlußstel
len kleinste Rasterabstände unterhalb 100 µm aufweisen.
Die Ausgestaltung nach Anspruch 6 ermöglicht eine besonders
einfache und wirtschaftliche Prüfung von Durchkontaktierun
gen.
Die Weiterbildung nach Anspruch 7 ermöglicht eine flexible
Anpassung einer oder beider Trägerplatten an eventuelle Ver
wölbungen eines Verdrahtungsfeldes und damit eine wesentli
che Steigerung der Kontaktierzuverlässigkeit der beidseiti
gen Kontaktierung. Derartige Verwölbungen, die insbesondere
mit zunehmender Größe der Verdrahtungsfelder auftreten, wer
den bei der bislang bekannten einseitigen Kontaktierung mit
tels Gasentladungsstrecken durch eine flexible Anpassung der
Verdrahtungsfelder an die starren Trägerplatten ausgegli
chen.
Gemäß Anspruch 8 ist Polyimid als Material für flexible Trä
gerplatten besonders gut geeignet, da Polyimid sich durch
seine hohe Elastizität und seine sehr guten elektrischen
Isolationseigenschaften auszeichnet.
Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in der Zeichnung
dargestellt und werden im folgenden näher beschrieben.
Es zeigen:
Fig. 1 das Grundprinzip einer erfindungsgemäßen Vorrichtung
für die beidseitige Kontaktierung von Leiterplatten durch
Gasentladungsstrecken,
Fig. 2 eine erste Variante, bei welcher die Ansteuerung
ausgewählter Gasentladungskanäle über Steuergasentladungen
vorgenommen wird,
Fig. 3 eine zweite Variante, bei welcher in kleinsten Ra
sterabständen angeordnete Meßstellen über eine Gruppen-Elek
trode angesteuert werden,
Fig. 4 eine dritte Variante, bei welcher die Ansteuerung
sämtlicher Meßstellen einer Leiterplattenseite über eine
einzige, durch eine elektrisch leitfähige Platte gebildete
Elektrode vorgenommen wird und
Fig. 5 eine nach dem in Fig. 1 dargestellten Prinzip ar
beitende Vorrichtung zur beidseitigen Kontaktierung von Lei
terplatten durch Gasentladungsstrecken.
Fig. 1 zeigt in stark vereinfachter schematischer Darstel
lung die prinzipielle Wirkungsweise einer Vorrichtung für
die elektrische Funktionsprüfung von Leiterplatten auf der
Basis einer berührungslosen Kontaktierung der auf gegenüber
liegenden Seiten angeordneten Meßstellen über Gasentladungs
kanäle. Es ist ein Teil einer mit Lp bezeichneten Leiter
platte zu erkennen, auf deren Oberseite die Enden einer Lei
terbahn Lb Meßstellen M11 und M12 bilden. Auf der Unterseite
der Leiterplatte Lp befinden sich Meßstellen M21 und M22,
deren Raster im dargestellten Beispiel dem Raster der Meß
stellen M11 und M12 entspricht. Grundsätzlich können die
Meßstellen auf der Oberseite und Unterseite der Leiterplatte
Lp jedoch auch stark unterschiedliche Raster aufweisen.
Auf die Oberseite der Leiterplatte Lp ist eine Trägerplatte
T1 aus einem flexiblen, elektrisch isolierenden Material wie
z. B. Polyimid aufgesetzt, in welche in Form von Sacklöchern
eine Vielzahl von Gasentladungskanälen Gk1 eingebracht ist.
Im dargestellten Ausschnitt sind dabei nur die den Meßstel
len M11 und M12 zugeordneten Gasentladungskanäle Gk1 zu er
kennen. Auf den den Meßstellen gegenüberliegenden Seiten der
Gasentladungskanäle Gk1 befinden sich Elektroden E1.
Auf die Unterseite der Leiterplatte Lp ist eine Trägerplatte
T2 aufgesetzt, die ebenfalls aus einem flexiblen, elektrisch
isolierenden Material wie z. B. Polyimid besteht. In die
Trägerplatte T2 ist in Form von Sachlöchern eine Vielzahl
von Gasentladungskanälen Gk2 eingebracht, wobei im darge
stellten Ausschnitt nur die den Meßstellen M21 und M22 zuge
ordneten Gasentladungskanäle Gk2 zu erkennen sind. Auf den
den Meßstellen gegenüberliegenden Seiten der Gasentladungs
kanäle Gk2 befinden sich Elektroden E2.
Werden nun bei der elektrischen Funktionsprüfung der Leiter
platte Lp die Meßstelle M11 auf der Oberseite und die Meß
stelle M22 auf der Unterseite ausgewählt, so wird an die
Elektroden E1 und E2 der zugeordneten Gasentladungskanäle
Gk1 und Gk2 eine Spannung angelegte die die Zündung von zwei
Gasentladungen in Serie bewirkt. Die entsprechenden Gasent
ladungsstrecken in den Gasentladungskanälen Gk1 und Gk2 sind
durch Pfeile Gs1 bzw. Gs2 angedeutet. Voraussetzungen für
die Zündung der Gasentladungen sind das Bestehen einer in
der Zeichnung nicht erkennbaren elektrisch leitenden Verbin
dung zwischen den beiden ausgewählten Meßstellen M11 und M22
und das Anlegen einer Spannung, die mindestens doppelt so
hoch ist wie die Zündspannung einer Einzelentladung. Nach
dem Zünden der Gasentladungen wird eine mit Up bezeichnete
Prüfspannung an die Elektroden E1 und E2 angelegt, wobei die
Stärke eines über einen Vorwiderstand Rp und über die Ga
sentladungsstrecken Gs1 und Gs2 fließenden Stromes Ip Auf
schluß über den Durchgangs- bzw. Isolationswiderstand der
eine Durchkontaktierung einschließenden Verbindung zwischen
den Meßstellen M11 und M22 gibt.
Die Möglichkeit einer Ansteuerung der Elektroden E1 bzw. E2
über Sammelleitungen wird an späterer Stelle im Zusammenhang
mit dem in Fig. 5 dargestellten Ausführungsbeispielen näher
erläutert.
Fig. 2 zeigt eine erste Variante des in Fig. 1 dargestell
ten Prinzips, bei welcher die Gasentladungskanäle Gk1 und
Gk2 mit zusätzlichen Elektroden E10 bzw. E20 ausgerüstet
sind. Der der ausgewählten Meßstelle M11 zugeordnete Gasent
ladungskanal Gk1 kann nun über in Fig. 2 nicht näher darge
stellte Sammelleitungen und die entsprechenden Elektroden E1
und E10 in Form einer Matrixadressierung angesteuert werden.
Dabei wird an die Elektroden E1 und E10 eine Zündspannung Uz
angelegt, die im Gasentladungskanal Gk1 die Zündung einer
mit Se bezeichneten Steuergasentladung bewirkt. Mit Rv ist
ein in den Stromkreis der Steuergasentladung Se eingeschal
teter Vorwiderstand bezeichnet. Die Ansteuerung des der aus
gewählten Meßstelle M22 zugeordneten Gasentladungskanals Gk2
erfolgt in analoger Weise durch die Zündung einer Steuerga
sentladung Se zwischen den Elektroden E2 und E20. Durch die
Steuergasentladungen Se werden in den angesteuerten Gasent
ladungskanälen Gk1 und Gk2 ständig freie Ladungsträger er
zeugt. Bei Bestehen einer elektrisch leitenden Verbindung
zwischen den ausgewählten Meßstellen M11 und M22 bewirkt das
Anlegen einer wieder mit Up bezeichneten Prüfspannung an die
Elektroden E1 und E2 das Fließen eines Prüfstromes Ip, der
zu Prüfzwecken ausgewertet wird. Analog zu dem in Fig. 1
dargestellten Beispiel sind die Gasentladungsstrecken in den
angesteuerten Gasentladungskanälen Gk1 und Gk2 wieder mit
Gs1 bzw. Gs2 bezeichnet. Auch der in den Prüfstromkreis ein
geschaltete Vorwiderstand ist wieder mit Rv bezeichnet.
Nähere Einzelheiten über die Ansteuerung ausgewählter Ga
sentladungskanäle durch Steuergasentladungen gehen aus der
EP-A-0 322 607 hervor.
Fig. 3 zeigt eine zweite Variante des in Fig. 1 darge
stellten Prinzips, bei welcher in die untere Trägerplatte T2
neben den im normalen Raster angeordneten Gasentladungskanä
len Gk2 mindestens ein Gasentladungskanal Gk20 in Form eines
mit einer Gruppen-Elektrode GE versehenen Gruppen-Ga
sentladungskanals eingebracht ist. Über den Gasentladungska
nal Gk20 und die Gruppen-Elektrode GE können dann auf der
Unterseite der Leiterplatte Lp mit kleinsten Rasterabständen
unter 100 µm angeordnete Meßstellen M210 angesteuert werden.
Im dargestellten Ausführungsbeispiel ist der Gruppen-Elek
trode GE eine Gruppe von sechs Meßstellen M210 zugeordnet,
wobei die zweite von links gesehene Meßstelle M210 mit der
Meßstelle M11 auf der Oberseite der Leiterplatte Lp elek
trisch leitend verbunden sein soll. Die Kontaktierung dieser
beiden elektrisch leitend miteinander verbundenen Meßstellen
M11 und M210 erfolgt dann über Gasentladungsstrecken, die
wieder durch Pfeile Gs1 bzw. Gs2 angedeutet sind.
Bei dem in Fig. 3 dargestellten Ausführungsbeispiel erfolgt
die Ansteuerung der Gasentladungskanäle Gk1 und Gk2 über
Steuergasentladungen Se gemäß dem in Fig. 2 dargestellten
Ausführungsbeispiel. Insbesondere für die Gasentladungskanäle
Gk2 der unteren Trägerplatte T2 kommt jedoch auch eine An
steuerung über Einzelelektroden gemäß dem in Fig. 1 darge
stellten Prinzip in Frage. Für die Gasentladungskanäle Gk1
der oberen Trägerplatte T1 wird eine Ansteuerung über Steu
ergasentladungen bevorzugt.
Nähere Einzelheiten über die Ansteuerung von mit kleinsten
Rasterabständen angeordneten Meßstellen über Gruppen-Gasent
ladungskanäle und Gruppen-Elektroden gehen aus der
WO91/02986 hervor.
Fig. 4 zeigt eine dritte Variante des in Fig. 1 darge
stellten Prinzips, bei welcher sämtlichen Gasentladungskanä
len Gk2 der unteren Trägerplatte T2 nur eine einzige, durch
eine elektrisch leitfähige Platte gebildete Elektrode PE zu
geordnet ist. Diese plattenförmige Elektrode PE ist auf die
Trägerplatte T2 aufgesetzt und bildet gleichzeitig auch den
unteren Abschluß der Gasentladungskanäle Gk2. Im dargestell
ten Ausführungsbeispiel wird die Meßstelle M11 auf der Ober
seite der Leiterplatte Lp gemäß der in Fig. 2 dargestellten
Variante über eine Steuergasentladung Se angesteuert. Beim
Anlegen einer hinreichend hohen Spannung an die der Meß
stelle M11 zugeordnete Elektrode E1 und die plattenförmige
Elektrode PE zünden zwei Gasentladungen in Serie, sofern die
Meßstelle M11 mit einer der Meßstellen auf der Unterseite
der Leiterplatte Lp elektrisch leitend verbunden ist. Im
dargestellten Ausführungsbeispiel sind die Meßstellen M11
und M22 elektrisch leitend verbunden. Die Gasentladungs
strecken in den entsprechenden Gasentladungskanälen Gk1 und
Gk2 sind wieder durch Pfeile Gs1 bzw. Gs2 angedeutet.
Die anhand der Fig. 4 erläuterte dritte Variante ist für
Leiterplatten Lp geeignet, die beliebige Verbindungsstruktu
ren aber - wie dargestellt - beidseitig gleiche Raster der
Meßstellen aufweisen. Wird die zu prüfende Leiterplatte Lp
im Testverlauf einmal gewendet, so können sämtliche Verbin
dungen einschließlich Durchkontaktierungen geprüft werden.
Fig. 5 zeigt in stark vereinfachter auseinandergezogener
Darstellung eine Vorrichtung für die Funktionsprüfung von
Leiterplatten Lp, die beidseitig über Gasentladungsstrecken
kontaktiert werden. Die stark vereinfacht dargestellte Lei
terplatte Lp trägt auf der Oberseite Meßstellen M11 und M12
und auf der Unterseite Meßstellen M21 und M22, wobei die
Meßstellen M11 und M21 und die Meßstellen M12 und M22 je
weils durch Leiterbahnen Lb und eine Durchkontaktierung D
elektrisch leitend miteinander verbunden sind. Das Raster
der auf der Oberseite der Leiterplatte Lp angeordneten Meß
stellen M11 und M12 ist dabei deutlich größer als das Raster
der auf der Unterseite angeordneten Meßstellen M21 und M22.
In der auseinandergezogenen Darstellung ist oberhalb der
Leiterplatte Lp eine Trägerplatte T1 aus elektrisch isolie
rendem Material zu erkennen, in die entsprechend dem Raster
maß der auf der Oberseite angeordneten Meßstellen M11, M12
nach oben und unten offene Gasentladungskanäle Gk1 einge
bracht sind. Oberhalb der Trägerplatte T1 befindet sich eine
ebenfalls aus isolierendem Material bestehende Deckplatte
D1, in deren Unterseite in Form von Sammelleitungen ausge
bildete Elektroden E1 eingelassen bzw. eingesteckt sind. Die
streifenförmigen Elektroden E1 sind dabei so angeordnet, daß
sie jeweils diagonale Reihen zugeordneter Gasentladungskanä
le Gk1 überqueren.
Unterhalb der Leiterplatte Lp ist in der auseinandergezoge
nen Darstellung eine Trägerplatte T2 aus elektrisch isolie
rendem Material zu erkennen, in die entsprechend dem Raster
maß der auf der Unterseite angeordneten Meßstellen M21, M22
nach oben und unten offene Gasentladungskanäle Gk2 einge
bracht sind. Unterhalb der Trägerplatte T2 befindet sich ei
ne ebenfalls aus isolierendem Material bestehende Deckplatte
D2, in deren Oberseite in Form von Sammelleitungen Elektro
den E2 eingelassen bzw. eingesteckt sind. Die streifenförmi
gen Elektroden E2 sind dabei so angeordnet, daß sie jeweils
diagonale Reihen zugeordnet er Gasentladungskanäle Gk2 über
queren.
Die Trägerplatten T1 und T2 sowie die Deckplatten D1 und D2
bestehen vorzugsweise aus einem elastischem Material, insbe
sondere Polyimid, das eine flexible Anpassung an eventuelle
Verwölbungen der zu prüfenden Leiterplatte Lp ermöglicht.
Werden bei der elektrischen Funktionsprüfung von Leiterplat
ten Lp die Meßstelle M12 auf der Oberseite und die Meßstelle
M22 auf der Unterseite ausgewählt, so wird an die Elektroden
E1 und E2 der zugeordneten Gasentladungskanäle Gk1 und Gk2
eine Spannung angelegt, die die Zündung von zwei Gasentla
dungen in Serie bewirkt. Die entsprechenden Gasentladungs
strecken sind wieder durch Pfeile Gs1 und Gs2 angedeutet.
Die Vorgänge bei der elektrischen Funktionsprüfung entspre
chen im übrigen dem in Fig. 1 dargestellten Prinzip. Bei
einem Vergleich der Fig. 1 und 5 ist jedoch aus der
jeweiligen Richtung der Pfeile Gs1 und Gs2 erkennbar, daß
die Prüfspannung Up in den dargestellten Beispielen mit ver
schiedener Polarität angelegt ist.
Die in Fig. 5 dargestellte Vorrichtung kann bei einfacher
Verbindungsstruktur einer zu prüfenden Leiterplatte, wie z. B.
bei steckernahen Rangierlagen von Mikroverdrahtungen,
ohne zusätzliche Maßnahmen eingesetzt werden. Bei kompli
zierten Verbindungsstrukturen kann die eindeutige Ansteue
rung der den ausgewählten Meßstellen zugeordneten Gasentla
dungskanäle durch eine zusätzliche Beaufschlagung der ent
sprechenden Gasentladungskanäle mit ionisierender Strahlung
oder durch Zwischenmasken vorgenommen werden, welche die
Kontaktierung nicht ausgewählter Meßstellen verhindern. Bei
dem in Fig. 5 dargestellten vereinfachten Fall würde zwi
schen der Trägerplatte T1 und der Leiterplatte Lp beispiels
weise eine Zwischenmaske angeordnet, die lediglich ein der
Meßstelle M12 zugeordnetes Loch trägt. In entsprechender
Weise würde zwischen der Trägerplatte T2 und der Leiter
platte Lp eine zweite Zwischenmaske angeordnet, die ledig
lich ein der Meßstelle M22 zugeordnetes Loch trägt.
Weitere Einzelheiten über die Ansteuerung ausgewählter Meß
stellen durch Sammelleitungen und durch die Kontaktierung
nicht ausgewählter Meßstellen verhindernder Zwischenmasken
gehen aus der EP-A-0 285 799 hervor.
Beim praktischen Einsatz der erfindungsgemäßen Vorrichtungen
werden die Trägerplatten T1 und T2 gegebenenfalls zusammen
mit den in Fig. 5 dargestellten Deckplatten D1 bzw. D2 in
eine Hubeinrichtung eingesetzt, die eine Relativbewegung
zwischen den Trägerplatten T1 und T2 in vorjustierter Lage
ermöglicht. Nach dem Einlegen einer zu prüfenden Leiter
platte Lp werden dann durch Betätigung der Hubeinrichtung
die Trägerplatten T1 und T2 an die Oberseite bzw. Unterseite
der Leiterplatte Lp angelegt, wobei gleichzeitig eine
flexible Anpassung an eventuelle Verwölbungen der Leiter
platte Lp erfolgt.
Claims (8)
1. Vorrichtung für die elektrische Funktionsprüfung von
Verdrahtungsfeldern, insbesondere von Leiterplatten
(Lp), die auf einer Seite erste Meßstellen (M11, M12)
und auf der anderen Seite zweite Meßstellen (M21, M22;
M210) aufweisen, mit
- - einer auf die eine Seite der Verdrahtungsfelder auf setzbaren ersten Trägerplatte (T1), in welchen den ersten Meßstellen (M11, M12) zugeordnete und mit er sten Elektroden (E1) versehene erste Gasentladungs kanäle (Gk1) eingebracht sind,
- - einer auf die andere Seite der Verdrahtungsfelder aufsetzbaren zweiten Trägerplatte (T2), in welche den zweiten Meßstellen (M21, M22; M210) zugeordnete und mit zweiten Elektroden (E2; GE; PE) versehene zweite Gasentladungskanäle (Gk2, Gk20) eingebracht sind, wobei
- - eine ausgewählte erste Meßstelle (M11, M12) und eine ausgewählte, mit der ersten Meßstelle (M11, M12) elektrisch leitend verbundene zweite Meßstelle (M21, M22; M210) durch eine erste Gasentladungsstrecke (Gs1) im zugeordneten ersten Gasentladungskanal (Gk1) und eine in Serie dazu geschaltete zweite Ga sentladungsstrecke (Gs2) im zugeordneten zweiten Ga sentladungskanal (Gk2; Gk20) kontaktierbar sind, die durch Anlegen einer hinreichend hohen Spannung an die zugeordnete erste Elektrode (E1) und die zuge ordnete zweite Elektrode (E2; GE; PE) gezündet wer den.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die ersten Elektroden (E1) und/oder die zweiten
Elektroden (E2) reihenweise in Form von Sammelleitungen
elektrisch leitend miteinander verbunden sind.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß die ersten Gasentladungskanäle (Gk1) und/oder die
zweiten Gasentladungskanäle (Gk2) zumindest teilweise
mit zusätzlichen Elektroden (E10, E20) ausgerüstet sind,
wobei diese Gasentladungskanäle (Gk1, Gk2) durch das
Zünden von Steuergasentladungen (Se) zwischen der zuge
ordneten Elektrode (E1, E2) und der zugeordneten zusätz
lichen Elektrode (E10, E20) ansteuerbar sind.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß die zusätzlichen Elektroden (E10, E20) reihenweise
in Form von Sammelleitungen elektrisch leitend miteinan
der verbunden sind.
5. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß mindestens ein Gasentladungskanal (Gk20) in Form ei
nes mit einer Gruppen-Elektrode (GE) versehenen Gruppen-
Gasentladungskanals mehreren mit kleinsten Rasterabstän
den angeordneten Meßstellen (M210) zugeordnet ist.
6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet,
daß die zweiten Elektroden (PE) durch eine einzige auf
die zweite Trägerplatte (T2) aufsetzbare, elektrisch
leitfähige Platte gebildet sind.
7. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß zumindest eine Trägerplatte (T1, T2) aus einem ela
stischen Material besteht und flexibel an Verwölbungen
des Verdrahtungsfeldes angepaßt werden kann.
8. Vorrichtung nach Anspruch 7,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Trägerplatte (T1, T2) aus Polyimid besteht.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19924228691 DE4228691A1 (de) | 1992-08-28 | 1992-08-28 | Vorrichtung für die elektrische Funktionsprüfung von Verdrahtungsfeldern, insbesondere von Leiterplatten |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19924228691 DE4228691A1 (de) | 1992-08-28 | 1992-08-28 | Vorrichtung für die elektrische Funktionsprüfung von Verdrahtungsfeldern, insbesondere von Leiterplatten |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4228691A1 true DE4228691A1 (de) | 1994-03-03 |
Family
ID=6466673
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19924228691 Withdrawn DE4228691A1 (de) | 1992-08-28 | 1992-08-28 | Vorrichtung für die elektrische Funktionsprüfung von Verdrahtungsfeldern, insbesondere von Leiterplatten |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4228691A1 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1999056137A1 (en) * | 1998-04-27 | 1999-11-04 | Exsight Electro-Optical Systems Ltd. | Method and apparatus for testing interconnect networks |
WO1999056136A1 (en) * | 1998-04-27 | 1999-11-04 | Exsight Electro-Optical Systems Ltd. | Method and apparatus for testing interconnect networks using guided electric currents |
-
1992
- 1992-08-28 DE DE19924228691 patent/DE4228691A1/de not_active Withdrawn
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1999056137A1 (en) * | 1998-04-27 | 1999-11-04 | Exsight Electro-Optical Systems Ltd. | Method and apparatus for testing interconnect networks |
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