DE4042289A1 - Verfahren und vorrichtung zum reaktiven beschichten eines substrats - Google Patents
Verfahren und vorrichtung zum reaktiven beschichten eines substratsInfo
- Publication number
- DE4042289A1 DE4042289A1 DE4042289A DE4042289A DE4042289A1 DE 4042289 A1 DE4042289 A1 DE 4042289A1 DE 4042289 A DE4042289 A DE 4042289A DE 4042289 A DE4042289 A DE 4042289A DE 4042289 A1 DE4042289 A1 DE 4042289A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- electrically
- target
- anode
- cathode
- chamber
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/34—Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
- H01J37/3411—Constructional aspects of the reactor
- H01J37/3438—Electrodes other than cathode
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/0021—Reactive sputtering or evaporation
- C23C14/0036—Reactive sputtering
- C23C14/0068—Reactive sputtering characterised by means for confinement of gases or sputtered material, e.g. screens, baffles
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/34—Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
- H01J37/3402—Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering using supplementary magnetic fields
- H01J37/3405—Magnetron sputtering
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/32—Processing objects by plasma generation
- H01J2237/33—Processing objects by plasma generation characterised by the type of processing
- H01J2237/332—Coating
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum reaktiven
Beschichten eines Substrats, beispielsweise mit Silizi
umdioxid (SiO2), bestehend aus einer Stromquelle, die mit
einer in einer evakuierbaren Beschichtungskammer angeord
neten Elektrode verbunden ist, die elektrisch mit einem
Target in Verbindung steht, das zerstäubt wird und dessen
zerstäubte Teilchen sich auf dem Substrat niederschlagen,
wobei in die Beschichtungskammer ein Prozeßgas und ein
Reaktivgas einbringbar sind.
Bei bekannten Verfahren zum Beschichten von Substraten
mit Hilfe von Kathodenzerstäubung und Materialien mit
einer hohen Affinität zum Reaktivgas besteht das Problem,
daß neben dem Substrat selbst auch Teile der Vorrichtung,
wie die Innenwand der Prozeßkammer oder Teile von Blenden
mit elektrisch nicht oder schlecht leitenden Materialien
beschichtet werden, was die häufige Änderung der Prozeß
parameter während eines einzigen Beschichtungsprozesses
oder auch eine häufige Unterbrechung des Prozesses und
auch eine häufige Reinigung oder einen Austausch von
Teilen der Vorrichtung erforderlich macht, insbesondere
aber zu den gefürchteten elektrischen Entladungen
(Arcing) führt.
Der vorliegenden Erfindung liegt deshalb die Aufgabe
zugrunde, eine Vorrichtung zum Sputtern von Materialien
mit hoher Affinität zu einem Reaktivgas zu schaffen, die
einen gleichmäßigen, stabilen bzw. Arcing-freien Prozeß
ermöglicht und eine Reinigung der Teile der Vorrichtung
überflüssig macht, und zwar ohne daß herkömmliche bzw.
bereits vorhandene Vorrichtungen oder Anlagen hierfür
ungeeignet sind bzw. ohne daß an diesen wesentliche oder
kostspielige Umbauten oder Änderungen vorgenommen werden
müssen. Darüber hinaus soll die Vorrichtung insbesondere
bei langen Betriebszeiten störungsfrei arbeiten und dies
auch bei reaktiver Abscheidung isolierender Schichten,
wie z. B. SiO2, Al2O3, NiSi2-Oxid, ZrO2, TiO2, ZnO,
Ta2O3, SnO2.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch zwei elektrisch
voneinander und von der Sputterkammer getrennte Elektro
den gelöst, wobei die eine Elektrode eine Magnetronkatho
de ist, bei der der Kathodenkörper und das Material des
Targets elektrisch miteinander verbunden sind und die
andere Elektrode als Anode bei der Plasmaentladung wirkt,
und wobei eine Gleichstromversorgung (D.C. SSV) mit einem
elektrisch hängenden (floatenden) Ausgang versehen ist,
die mit ihrem negativen Pol - unter Zwischenschaltung
einer Drossel - mit der Kathode und mit ihrem positiven
Pol mit der Anode verbunden ist, wobei parallel zur Dros
sel ein Widerstand angeordnet ist und wobei zwischen der
Kathode und der Anode eine erste induktionsarme, HF-taug
liche Kapazität und zwischen Anode und der elektrisch ge
trennten Vakuumkammer eine zweite induktionsarme Kapazi
tät und zwischen dieser zweiten Kapazität und dem Masse
anschluß ein zweiter Widerstand eingeschaltet ist.
Bei einer alternativen Ausführungsform mit einer Kathode
mit einem ringförmigen oder ovalen Target ist erfindungs
gemäß eine elektrisch von der Vakuumkammer und von der
Anode getrennte, als Magnetronkathode ausgebildete, aus
zwei elektrisch voneinander getrennten Teilen bestehende
Kathode vorgesehen, bei der der Targetgrundkörper mit
Joch und Magneten als der eine Teil - unter Zwischen
schaltung einer Kapazität - an den negativen Pol einer
Gleichstrom-Spannungsversorgung und das Target als der
andere Teil über eine Leitung und unter Zwischenschaltung
einer Drossel und einem dieser parallel liegenden Wider
stand an die Stromversorgung angeschlossen ist, wobei das
Target über eine weitere Kapazität mit dem Pluspol der
Stromversorgung und mit der Anode verbunden ist, die
ihrerseits - unter Zwischenschaltung einer Kapazität und
einem dieser nachgeschalteten Widerstand - auf Masse
liegt.
Weitere Einzelheiten und Merkmale sind in den Patentan
sprüchen näher charakterisiert und gekennzeichnet.
Die Erfindung läßt die verschiedensten Ausführungsmög
lichkeiten zu; zwei davon sind in den anhängenden zwei
Zeichnungen schematisch näher dargestellt, die den
Schnitt durch Sputteranlagen mit unterschiedlichen Magne
tron-Sputterkathoden zeigen.
In der Zeichnung (Fig. 1) ist ein Substrat 1 darge
stellt, das mit einer dünnen Schicht 2 aus einem Oxid
(z. B. Siliziumdioxid oder Aluminiumoxid) versehen werden
soll. Diesem Substrat 1 liegt ein Target 3 gegenüber, das
zu zerstäuben ist. Das Target 3 steht über eine Platte 4
mit einer Elektrode 5 in Verbindung, die auf einem Joch 6
ruht, das zwischen sich und dem Element 4 Magnete 7, 8,
9, einschließt.
Die auf das Target 3 gerichteten Polaritäten der Pole der
Magnete 7, 8, 9 wechseln sich ab, so daß jeweils die Süd
pole der beiden äußeren Magnete 7, 8 mit dem Nordpol des
innenliegenden Magnets 8 etwa kreisbogenförmige Magnet
felder durch das Target 3 bewirken. Diese Magnetfelder
verdichten das Plasma vor dem Target 3, so daß es dort,
wo die Magnetfelder das Maximum ihrer Kreisbögen aufweisen,
seine größte Dichte hat. Die Ionen im Plasma werden durch
ein elektrisches Feld beschleunigt, das sich aufgrund
einer Gleichspannung aufbaut, die von einer Gleichstrom
quelle 10 abgegeben wird. Diese Gleichstromquelle 10 ist
mit ihrem negativen Pol über die Leitung 28 mit der Elek
trode 5 - unter Zwischenschaltung einer Drossel 45 und
einem zur Drossel parallel geschalteten Widerstand 46 -
verbunden. Das elektrische Feld steht senkrecht auf der
Oberfläche des Targets 3 und beschleunigt die positiven
Ionen des Plasmas in Richtung auf dieses Target 3. Hier
durch werden mehr oder weniger viele Atome oder Partikel
aus dem Target 3 herausgeschlagen, und zwar insbesondere
aus den Gebieten 13, 14. Die zerstäubten Atome oder
Partikel wandern vorwiegend in Richtung auf das Substrat
1 zu, wo sie sich als dünne Schicht 2 niederschlagen.
Bei der Vorrichtung nach Fig. 1 ist die Leitung 28
außerdem über eine Zweigleitung 29 und einen in diese
eingeschalteten Kondensator 34 und einen diesem parallel
geschalteten weiteren Kondensator 48 an die Leitung 40
angeschlossen, die den Pluspol der Gleichstromquelle 10
mit der Anode 44 verbindet. Über eine weitere Zweiglei
tung 41 mit einem in diese eingeschalteten Kondensator 35
und einem diesem nachgeschalteten Widerstand 47 sind die
Vakuumkammer 25 und die Leitung 40 an Erde gelegt.
Das Target 3 kann beispielsweise aus einem Material hoher
Affinität zum Reaktivgas bestehen, beispielsweise Si.
Während des Sputterprozesses tragen nun diese Konfigura
tion und Werkstoffauswahl, die entsprechenden Magnet
felder und ein abgestimmtes Verhältnis von Sauerstoff zu
Argon dafür Sorge, daß sich die Schicht 2 auf dem Sub
strat 1 aus SiO2 (Silixiumdioxid) aufbaut.
Für die Steuerung der dargestellten Anordnung kann ein
Prozeßrechner vorgesehen werden, der Meßdaten verarbeitet
und Steuerungsbefehle abgibt. Diesem Prozeßrechner können
beispielweise die Werte des gemessenen Partialdrucks in
der Prozeßkammer 15, 15a zugeführt werden. Aufgrund die
ser und anderer Daten kann er zum Beispiel den Gasfluß
aus den Behältern 16, 17 über die Ventile 18, 18 regeln
und die Spannung an der Kathode 5 einstellen. Der Prozeß
rechner ist auch in der Lage, alle anderen Variablen,
z. B. den Kathodenstrom und die magnetische Feldstärke,
zu regeln. Da derartige Prozeßrechner bekannt sind, wird
auf eine Beschreibung ihres Aufbaus verzichtet.
Bei der Ausführungsform nach Fig. 2 weist die Kathode 30
ein ovales Target 32, 32′ auf, das über die Leitung 28
bzw. die Zweigleitungen 28a, 28b - unter Zwischenschal
tung einer Drossel 45 und einem dieser Drossel parallel
gelegten Widerstand 46 - mit dem negativen Pol der
Gleichstromquelle 10 verbunden ist. Eine weitere Zweig
leitung 42 mit einer in diese eingeschalteten Kapazität
38 und einer weiteren, dieser Kapazität parallelgeschal
teten Kapazität 48 ist an die Leitung 43 angeschlossen,
die den Pluspol der Gleichstromquelle 10 mit der Anode 44
verbindet und die ihrerseits über einen in die Zweiglei
tung 41 eingeschalteten Kondensator 35 an Erde liegt,
wobei der Kapazität 35 noch der Widerstand 47 nachge
schaltet ist.
Zur Lösung der obengenannten Aufgabe sind also (Fig. 1)
bei einer Sputteranlage zwei elektrisch voneinander und
von der Sputterkammer 25 getrennte Elektroden 5 bzw. 44
vorgesehen, wobei die eine Elektrode eine Magnetronkatho
de 5 ist und die andere Elektrode als Anode 44 bei der
Plasmaentladung benutzt wird. Außerdem weist die Sputter
anlage
- a) eine Gleichstrom-SSV 10 mit einem elektrisch hängen den (floatenden) Ausgang auf, wobei diese SSV mit ihrem negativen Pol über eine Drossel 45 an die Kathode 5 und mit ihrem positiven Pol an die Anode 44 angeschlossen ist und
- b) parallel zu der Drossel 45 einen Widerstand 46 und
- c) zwischen Kathode 5 und Anode 44 eine induktions arme, HF-taugliche Kapazität 34 und
- d) zwischen Anode 44 und der elektrisch getrennten Sputterkammer 25 eine Kapazität 35 und einen zu dieser in Reihe liegenden Widerstand 47.
In einer alternativen Ausführungsform einer Sputteranlage
(Fig. 2), bei der die Kathode aus zwei elektrisch
getrennten Teilen konstruiert ist, nämlich aus einem
Teil, das die eigentliche Elektrode darstellt (z. B. das
Targetmaterial 32, 32′ zusammen mit dem Targetträger),
und aus einem zweiten Teil, einer Targetumgebung 31, 36,
(z. B. einer Zwischen-Pol-Target-Kathode, bei der das
eigentliche Target von Jochen, Magneten und Polschuhen
elektrisch getrennt ist), ist außerdem noch zwischen (dem
ovalen) Target 32, 32′ und der elektrisch getrennten Tar
getumgebung 31, 36 eine induktionsarme Kapazität 37 ein
geschaltet.
Die Aufgabe der Kapazität 34 bzw. 38 besteht darin, die
durch den Sputterprozeß induzierte Hochfrequenzspannungs-
und Stromschwingungen, die zu Überschlägen und Bogenent
ladungen (Arcing) führen, kurzzuschließen.
In einem D.C.-Sputterprozeß können Plasmaschwingungen bei
sehr hohen Frequenzen (MHz bis GHz) entstehen, die zu
einer momentanen und lokalen Spannungserhöhung führen,
die teilweise höher als die sogenannte Durchbruchsspan
nung für die gegebene Kathode-Anode-Konfiguration sein
können. Diese lokalen Spannungsüberhöhungen führen zu
elektrischen Überschlägen und Bogenzündungen. Die Kapazi
tät 34 bzw. 38 soll diese Spannungsüberhöhungen kurz
schließen.
Die Aufgabe der Drosselinduktivität 45 besteht darin, die
Kathodenspannung während des Kurzschlußverlaufs drastisch
zu reduzieren und damit die Löschung des eventuellen
Bogens zu ermöglichen.
Die Induktivität 45, die Kapazität 34 bzw. 38 und dazu
gehörenden elektrischen Bauelemente stellen einen elek
trischen Schwingkreis dar. Das elektrische Schwingen ist
unerwünscht und wird deshalb mit Hilfe des Widerstands 46
gedämpft.
Die Kapazität 35 ist insbesondere dann wichtig, wenn bei
einer reaktiven Abscheidung eine elektrisch isolierende
Schicht erzeugt wird, die auch auf der Gegenelektrode
(Anode) wächst. Eine mit der Sputterzeit wachsende Bedek
kung der positiven Elektrode mit einer elektrisch isolie
renden Schicht kann eine Neuzündung des Sputterplasmas
bedeutend erschweren. Die Aufgabe dieses Kondensators 35
ist eine Wiederzündung des Sputterplasmas nach einer
beabsichtigten oder unbeabsichtigten Abschaltung der SSV
zu erleichtern.
Eine Bedeckung mit einer elektrisch isolierenden Schicht
der der Kathode am nächsten liegenden Teile der Oberflä
che der Anode 44 führt in einer Sputteranlage mit von der
Kammer 25 elektrisch getrennten Elektroden 5, 30 zu einer
Erhöhung der Zündspannung. Je größer die bedeckte Fläche
wird, desto höher wird die Zündspannung, und ab einer
bestimmten Bedeckung wird diese höher als die SSV-Span
nungsgrenze. Da es immer eine endliche Wahrscheinlichkeit
einer zufälligen Abschaltung der Kathodenspannung gibt,
wird dies nach einer bestimmten Sputterzeit zum Abbruch
des Plasmaprozesses führen. Schaltet man eine Kapazität
35 zwischen Anode 44 und Masse, d. h. zwischen Anode 44
und Kammerwände 25 (die auf Masse liegen), so wird im
Zündmoment die ganze Kammer 25 als eine Anode wirksam.
Bei Einschaltung einer Gleichstrom-SSV findet in einer
sehr kurzen Zeit eine schnelle Steigung der Spannung an
der Kapazität 35 statt, was zu einem Verschiebungsstrom
fluß durch diesen Kondensator führt (eine Kapazität wird
für hohe Frequenzen kurzgeschlossen). Dieser Effekt setzt
die Zündspannung praktisch auf einen Wert, der bei einer
direkten Verbindung der Anode 44 mit der Kammerwand 25
zustande kommen würde.
Der Kondensator 35 stellt mit seiner Eigeninduktivität
und den Kapazitäten und Induktivitäten der Zuleitungen
43, 41 ebenfalls einen Schwingkreis dar. Dieser Schwing
kreis wird durch den Widerstand 47 gedämpft.
Um einen langfristig stabilen Sputterprozeß zu erreichen,
sind also Maßnahmen unvermeidlich, die es erschweren oder
sogar verhindern, die Anode 44 mit einer isolierenden
Schicht zu bedecken.
Schließlich besteht die Aufgabe der Kapazität 37 darin,
die Häufigkeit der zufälligen elektrischen Überschläge,
die zwischen dem Target 32, 32′ und der Targetumgebung 31
entstehen, zu mindern oder sogar vollständig zu beseiti
gen.
Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 1 | |
Standard-Planar-Magentronkathode | |
Kathodenlänge|750 mm | |
Kathodenbreite | 280 mm |
LH-SSV | 30 kW |
Dimensionierung der elektrischen Bauteile | |
45|1 mH | |
46 | 100 Ω |
34 | 2 µF |
47 | 100 Ω |
35 | 2 µF |
48 | 20 nF |
In der Praxis kann eine relativ große Kapazität (einige
µF) bei hohen Frequenzen ihre kapazitive Eigenschaft ver
lieren und besitzt auch oft eine sehr hohe Eigenindukti
vität. Die Aufgabe des Kondensators 48 ist es deshalb,
die hohe Eigeninduktivität und den damit verbundenen
großen induktiven Widerstand des Kondensators 34 her
unterzusetzen.
Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 2 | |
ZPT-(Zwischen-Pol-Target)Kathode | |
Kathodenlänge|750 mm | |
Kathodenbreite | 260 mm |
LH-SSV | 30 kW |
Dimensionierung der elektrischen Bauteile | |
45|1 mH | |
46 | 100 Ω |
38 | 3 µF |
47 | 100 Ω |
35 | 2 µF |
37 | 1 µF |
48 | 20 nF |
Bezugszeichenliste
1 Substrat
2 Schicht
3, 3a, 3b Target
4 Platte, Kupferplatte
5 Kathode
6 Joch
7 Magnet
8 Magnet
9 Magnet
10 Gleichstromquelle, Gleichstrom- Spannungsversorgung
11 Kathodenkörper
13 Sputtergraben (Gebiet)
14 Sputtergraben (Gebiet)
15, 15a Beschichtungskammer, Rezipient
16 Gasbehälter
17 Gasbehälter
18 Ventil
19 Ventil
20 Einlaßstutzen, Argoneinlaß
21 Einlaßstutzen, Reaktivgaseinlaß
22 Gaszuführungsleitung
23 Gaszuführungsleitung
24 Blenden
25 Behälter, Vakuumkammer
27 elektrischer Anschluß (Masseleitung)
28, 28a, 28b elektrischer Anschluß
29 Zweigleitung
30 Kathode
31 Kathodenkörper
32, 32′ Target
34 Kapazität, Kondensator
35 Kapazität, Kondensator
36 Joch
37 Kapazität
38 Kapazität
40 Plus-Leitung, Leitung
41 Zweigleitung
42 Zweigleitung
43 Zweigleitung
44 Elektrode
45 Drossel
46 Widerstand
47 Widerstand
48 Kapazität, HF-tauglicher Kondensator
2 Schicht
3, 3a, 3b Target
4 Platte, Kupferplatte
5 Kathode
6 Joch
7 Magnet
8 Magnet
9 Magnet
10 Gleichstromquelle, Gleichstrom- Spannungsversorgung
11 Kathodenkörper
13 Sputtergraben (Gebiet)
14 Sputtergraben (Gebiet)
15, 15a Beschichtungskammer, Rezipient
16 Gasbehälter
17 Gasbehälter
18 Ventil
19 Ventil
20 Einlaßstutzen, Argoneinlaß
21 Einlaßstutzen, Reaktivgaseinlaß
22 Gaszuführungsleitung
23 Gaszuführungsleitung
24 Blenden
25 Behälter, Vakuumkammer
27 elektrischer Anschluß (Masseleitung)
28, 28a, 28b elektrischer Anschluß
29 Zweigleitung
30 Kathode
31 Kathodenkörper
32, 32′ Target
34 Kapazität, Kondensator
35 Kapazität, Kondensator
36 Joch
37 Kapazität
38 Kapazität
40 Plus-Leitung, Leitung
41 Zweigleitung
42 Zweigleitung
43 Zweigleitung
44 Elektrode
45 Drossel
46 Widerstand
47 Widerstand
48 Kapazität, HF-tauglicher Kondensator
Claims (2)
1. Vorrichtung zum reaktiven Beschichten eines Sub
strats (1) mit einem elektrisch leitfähigen Werk
stoff, beispielsweise mit Siliziumdioxid (SiO2) ,
bestehend aus einer Stromquelle (10), die mit einer
in einer evakuierbaren Beschichtungskammer (15, 15a)
angeordneten, Magnete (7, 8, 9) einschließende Ka
thode (5) verbunden ist, die elektrisch mit einem
Target (3) zusammenwirkt, das zerstäubt wird und
dessen zerstäubte Teilchen sich auf dem Substrat (1)
niederschlagen, wobei in die Beschichtungskammer
(15, 15a) ein Prozeßgas und ein Reaktivgas, z. B.
Argon mit Sauerstoff, einbringbar sind, gekennzeich
net durch zwei elektrisch voneinander und von der
Sputterkammer (25) getrennte Elektroden (44, 5),
wobei die eine Elektrode eine Magnetronkathode (5)
ist, bei der der Kathodenkörper (11) und das Mate
rial des Targets (3) elektrisch miteinander verbun
den sind und die andere Elektrode als Anode (44) bei
der Plasmaentladung wirkt, und wobei eine Gleich
stromversorgung (10) mit einem elektrisch hängenden
(floatenden) Ausgang vorgesehen ist, die mit ihrem
negativen Pol - unter Zwischenschaltung einer Dros
sel (45) - mit der Kathode (5) und mit ihrem positi
ven Pol mit der Anode (44) verbunden ist, wobei
parallel zur Drossel (45) ein Widerstand (46) ange
ordnet ist und wobei zwischen der Kathode (5) und
der Anode (44) eine erste induktionsarme Kapazität
(34) und zwischen Anode (44) und der elektrisch
getrennten Vakuumkammer (25) eine zweite induktions
arme Kapazität (35) und zwischen dieser zweiten
Kapazität (35) und dem Masseanschluß ein zweiter
Widerstand (47) eingeschaltet ist.
2. Vorrichtung zum reaktiven Beschichten eines Sub
strats (1) mit einem elektrisch leitfähigen Werk
stoff, beispielsweise mit Siliziumdioxid (SiO2),
bestehend aus einer Stromquelle (10), die mit einer
in einer evakuierbaren Beschichtungskammer (15, 15a)
angeordneten, Magnete (7, 8, 9) einschließende Ka
thode (30) verbunden ist, die elektrisch mit einem
Target (32, 32′) zusammenwirkt, das zerstäubt wird
und dessen zerstäubte Teilchen sich auf dem Substrat
(1) niederschlagen, wobei in die Beschichtungskammer
(15, 15a) ein Prozeßgas und ein Reaktivgas, z. B.
Argon und Sauerstoff, einbringbar sind, gekennzeich
net durch eine elektrisch von der Vakuumkammer (25)
und von der Anode (44) getrennte, als Magnetronka
thode ausgebildete, aus zwei elektrisch voneinander
getrennten Teilen bestehende Kathode (30), bei der
der Targetgrundkörper (31) mit Joch (36) und Magne
ten (7, 8, 9) als der eine Teil - unter Zwischen
schaltung einer Kapazität (37) - an den negativen
Pol einer Gleichstrom-Spannungsversorgung (10) und
das Target (32, 32′) als der andere Teil über eine
Leitung (28) und unter Zwischenschaltung einer Dros
sel (45) und einem dieser parallel liegenden Wider
stand (46) an die Stromversorgung (10) angeschlossen
ist, und wobei das Target (32, 32′) über eine weite
re Kapazität (38) mit dem Pluspol der Stromversor
gung (10) und mit der Anode (44) verbunden ist, die
ihrerseits - unter Zwischenschaltung einer Kapazität
(35) und einem dieser nachgeschalteten Widerstand
(47) - auf Masse liegt.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4042289A DE4042289A1 (de) | 1990-12-31 | 1990-12-31 | Verfahren und vorrichtung zum reaktiven beschichten eines substrats |
US07/660,476 US5126032A (en) | 1990-12-31 | 1991-02-25 | Process and apparatus for reactively coating a substrate |
DE19914136655 DE4136655C2 (de) | 1990-12-31 | 1991-11-07 | Vorrichtung zum reaktiven Beschichten eines Substrats |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4042289A DE4042289A1 (de) | 1990-12-31 | 1990-12-31 | Verfahren und vorrichtung zum reaktiven beschichten eines substrats |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4042289A1 true DE4042289A1 (de) | 1992-07-02 |
Family
ID=6421727
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4042289A Withdrawn DE4042289A1 (de) | 1990-12-31 | 1990-12-31 | Verfahren und vorrichtung zum reaktiven beschichten eines substrats |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5126032A (de) |
DE (1) | DE4042289A1 (de) |
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4202425A1 (de) * | 1992-01-29 | 1993-08-05 | Leybold Ag | Verfahren und vorrichtung zum beschichten eines substrats, insbesondere mit elektrisch nichtleitenden schichten |
DE4223505C1 (de) * | 1992-07-17 | 1993-11-04 | Fraunhofer Ges Forschung | Einrichtung zum aufbringen elektrisch schlecht leitender oder isolierender schichten durch reaktives magnetronsputtern |
EP0593924A1 (de) * | 1992-10-17 | 1994-04-27 | Leybold Aktiengesellschaft | Vorrichtung zum Erzeugen eines Plasmas mittels Kathodenzerstäubung |
DE4239218A1 (de) * | 1992-11-21 | 1994-05-26 | Leybold Ag | Anordnung zur Vermeidung von Überschlägen in Plasmakammern |
DE4239843A1 (de) * | 1992-11-27 | 1994-06-01 | Leybold Ag | Vorrichtung für die Erzeugung von Plasma, insbesondere zum Beschichten von Substraten |
EP0618606A1 (de) * | 1993-04-02 | 1994-10-05 | Applied Materials, Inc. | Vorrichtung zur reaktiven Plasmagasphasenabscheidung eines elektrisch nichtleitenden Materials unter Verwendung einer abgeschirmten Sekundäranode |
US5415757A (en) * | 1991-11-26 | 1995-05-16 | Leybold Aktiengesellschaft | Apparatus for coating a substrate with electrically nonconductive coatings |
DE4138793C2 (de) * | 1991-11-26 | 2001-03-01 | Leybold Ag | Verfahren und Vorrichtung zum Beschichten eines Substrats, insbesondere mit elektrisch nichtleitenden Schichten |
DE4326100B4 (de) * | 1993-08-04 | 2006-03-23 | Unaxis Deutschland Holding Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Beschichten von Substraten in einer Vakuumkammer, mit einer Einrichtung zur Erkennung und Unterdrückung von unerwünschten Lichtbögen |
DE19651811B4 (de) * | 1996-12-13 | 2006-08-31 | Unaxis Deutschland Holding Gmbh | Vorrichtung zum Belegen eines Substrats mit dünnen Schichten |
EP2091067A1 (de) | 2008-02-14 | 2009-08-19 | Applied Materials, Inc. | Vorrichtung zur Verarbeitung eines Substrats |
US8083911B2 (en) | 2008-02-14 | 2011-12-27 | Applied Materials, Inc. | Apparatus for treating a substrate |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5334142A (en) * | 1991-09-09 | 1994-08-02 | New York University | Selective aortic perfusion system |
US5240584A (en) * | 1991-11-07 | 1993-08-31 | Leybold Aktiengesellschaft | Apparatus for the reactive coating of a substrate |
CH689767A5 (de) * | 1992-03-24 | 1999-10-15 | Balzers Hochvakuum | Verfahren zur Werkstueckbehandlung in einer Vakuumatmosphaere und Vakuumbehandlungsanlage. |
DE4237517A1 (de) * | 1992-11-06 | 1994-05-11 | Leybold Ag | Vorrichtung zum Beschichten eines Substrats, insbesondere mit elektrisch nichtleitenden Schichten |
US5698082A (en) * | 1993-08-04 | 1997-12-16 | Balzers Und Leybold | Method and apparatus for coating substrates in a vacuum chamber, with a system for the detection and suppression of undesirable arcing |
US5584972A (en) * | 1995-02-01 | 1996-12-17 | Sony Corporation | Plasma noise and arcing suppressor apparatus and method for sputter deposition |
US5812405A (en) * | 1995-05-23 | 1998-09-22 | Viratec Thin Films, Inc. | Three variable optimization system for thin film coating design |
US20020160620A1 (en) * | 2001-02-26 | 2002-10-31 | Rudolf Wagner | Method for producing coated workpieces, uses and installation for the method |
US7464581B2 (en) * | 2004-03-29 | 2008-12-16 | Tokyo Electron Limited | Vacuum apparatus including a particle monitoring unit, particle monitoring method and program, and window member for use in the particle monitoring |
US7820020B2 (en) * | 2005-02-03 | 2010-10-26 | Applied Materials, Inc. | Apparatus for plasma-enhanced physical vapor deposition of copper with RF source power applied through the workpiece with a lighter-than-copper carrier gas |
WO2009040406A2 (de) * | 2007-09-25 | 2009-04-02 | Von Ardenne Anlagentechnik Gmbh | Verfahren und anordnung zum redundanten anoden-sputtern mit einer dual-anoden-anordnung |
TWI400996B (zh) * | 2008-02-14 | 2013-07-01 | Applied Materials Inc | 基板處理裝置 |
JP5429772B2 (ja) * | 2008-06-30 | 2014-02-26 | 株式会社アルバック | 電源装置 |
PE20171549A1 (es) * | 2015-03-18 | 2017-10-27 | Vision Ease Lp | Protector de anodo |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DD221202A1 (de) * | 1983-12-15 | 1985-04-17 | Fi Manfred V Ardenne | Einrichtung zur verhinderung von ueberschlaegen beim hochratezerstaeuben |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3887451A (en) * | 1972-12-29 | 1975-06-03 | Ibm | Method for sputtering garnet compound layer |
US4131533A (en) * | 1977-12-30 | 1978-12-26 | International Business Machines Corporation | RF sputtering apparatus having floating anode shield |
DE3821207A1 (de) * | 1988-06-23 | 1989-12-28 | Leybold Ag | Anordnung zum beschichten eines substrats mit dielektrika |
-
1990
- 1990-12-31 DE DE4042289A patent/DE4042289A1/de not_active Withdrawn
-
1991
- 1991-02-25 US US07/660,476 patent/US5126032A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DD221202A1 (de) * | 1983-12-15 | 1985-04-17 | Fi Manfred V Ardenne | Einrichtung zur verhinderung von ueberschlaegen beim hochratezerstaeuben |
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5415757A (en) * | 1991-11-26 | 1995-05-16 | Leybold Aktiengesellschaft | Apparatus for coating a substrate with electrically nonconductive coatings |
DE4138793C2 (de) * | 1991-11-26 | 2001-03-01 | Leybold Ag | Verfahren und Vorrichtung zum Beschichten eines Substrats, insbesondere mit elektrisch nichtleitenden Schichten |
DE4202425A1 (de) * | 1992-01-29 | 1993-08-05 | Leybold Ag | Verfahren und vorrichtung zum beschichten eines substrats, insbesondere mit elektrisch nichtleitenden schichten |
DE4223505C1 (de) * | 1992-07-17 | 1993-11-04 | Fraunhofer Ges Forschung | Einrichtung zum aufbringen elektrisch schlecht leitender oder isolierender schichten durch reaktives magnetronsputtern |
EP0593924A1 (de) * | 1992-10-17 | 1994-04-27 | Leybold Aktiengesellschaft | Vorrichtung zum Erzeugen eines Plasmas mittels Kathodenzerstäubung |
DE4239218A1 (de) * | 1992-11-21 | 1994-05-26 | Leybold Ag | Anordnung zur Vermeidung von Überschlägen in Plasmakammern |
DE4239218C2 (de) * | 1992-11-21 | 2000-08-10 | Leybold Ag | Anordnung zum Verhindern von Überschlägen in einem Plasma-Prozeßraum |
DE4239843A1 (de) * | 1992-11-27 | 1994-06-01 | Leybold Ag | Vorrichtung für die Erzeugung von Plasma, insbesondere zum Beschichten von Substraten |
EP0618606A1 (de) * | 1993-04-02 | 1994-10-05 | Applied Materials, Inc. | Vorrichtung zur reaktiven Plasmagasphasenabscheidung eines elektrisch nichtleitenden Materials unter Verwendung einer abgeschirmten Sekundäranode |
US6296743B1 (en) | 1993-04-02 | 2001-10-02 | Applied Materials, Inc. | Apparatus for DC reactive plasma vapor deposition of an electrically insulating material using a shielded secondary anode |
DE4326100B4 (de) * | 1993-08-04 | 2006-03-23 | Unaxis Deutschland Holding Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Beschichten von Substraten in einer Vakuumkammer, mit einer Einrichtung zur Erkennung und Unterdrückung von unerwünschten Lichtbögen |
DE19651811B4 (de) * | 1996-12-13 | 2006-08-31 | Unaxis Deutschland Holding Gmbh | Vorrichtung zum Belegen eines Substrats mit dünnen Schichten |
EP2091067A1 (de) | 2008-02-14 | 2009-08-19 | Applied Materials, Inc. | Vorrichtung zur Verarbeitung eines Substrats |
US8083911B2 (en) | 2008-02-14 | 2011-12-27 | Applied Materials, Inc. | Apparatus for treating a substrate |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5126032A (en) | 1992-06-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE4042289A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum reaktiven beschichten eines substrats | |
DE4042287C2 (de) | Vorrichtung zum reaktiven Aufstäuben von elektrisch isolierendem Werkstoff | |
EP0502242B1 (de) | Reaktive Zerstäubungsvorrichtung | |
DE4042288A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum reaktiven beschichten eines substrats | |
DE19651811B4 (de) | Vorrichtung zum Belegen eines Substrats mit dünnen Schichten | |
DE4022708C2 (de) | ||
DE4117518C2 (de) | Vorrichtung zum Sputtern mit bewegtem, insbesondere rotierendem Target | |
EP0459137B1 (de) | Vorrichtung zur Beschichtung von Substraten | |
DE2148933A1 (de) | HF-Zerstaeubungsvorrichtung | |
EP0416241B1 (de) | Vorrichtung zum Beschichten eines Substrats | |
DE3802852C2 (de) | ||
DE4136655C2 (de) | Vorrichtung zum reaktiven Beschichten eines Substrats | |
EP0504477B1 (de) | Vorrichtung zum Beschichten eines Substrats | |
EP0767483A1 (de) | Vorrichtung zum Beschichten von Substraten im Vakuum | |
EP0316523B1 (de) | Zerstäubungskatode nach dem Magnetronprinzip | |
DE4239218C2 (de) | Anordnung zum Verhindern von Überschlägen in einem Plasma-Prozeßraum | |
DE68909262T2 (de) | Vorrichtung für RF-Plasma-Verarbeitung. | |
EP0612097A1 (de) | Vorrichtung zum Beschichten eines Substrats | |
DE4025231C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum reaktiven Beschichten eines Substrats | |
EP0607787A2 (de) | Vorrichtung zum Beschichten oder Ätzen von Substraten | |
CH695807A5 (de) | Quelle für Vakuumbehandlungsprozess. | |
DE19830404B4 (de) | Vorrichtung zur Sputterbeschichtung mit variierbarem Plasmapotential | |
DE102012111186A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Erzeugen einer Magnetron-Entladung | |
CH702969A2 (de) | Segmentierte Anode. | |
DE102010007516A1 (de) | Großflächige Kathode für Plasmaprozesse mit hohem Ionisierungsgrad |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OM8 | Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law | ||
AG | Has addition no. |
Ref country code: DE Ref document number: 4136655 Format of ref document f/p: P |
|
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: BALZERS UND LEYBOLD DEUTSCHLAND HOLDING AG, 63450 |
|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8130 | Withdrawal |