DE4020319C2 - - Google Patents
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- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 32
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 22
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 claims description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 11
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 10
- 239000004922 lacquer Substances 0.000 claims description 9
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 claims description 9
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 9
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 7
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims 1
- 239000002966 varnish Substances 0.000 description 6
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 5
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 1
- 239000002585 base Substances 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 210000004072 lung Anatomy 0.000 description 1
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/18—Diffraction gratings
- G02B5/1847—Manufacturing methods
- G02B5/1857—Manufacturing methods using exposure or etching means, e.g. holography, photolithography, exposure to electron or ion beams
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/0005—Production of optical devices or components in so far as characterised by the lithographic processes or materials used therefor
- G03F7/001—Phase modulating patterns, e.g. refractive index patterns
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Diffracting Gratings Or Hologram Optical Elements (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1197803A JPH0361901A (ja) | 1989-07-28 | 1989-07-28 | λ/4シフト回折格子の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4020319A1 DE4020319A1 (de) | 1991-02-07 |
DE4020319C2 true DE4020319C2 (enrdf_load_stackoverflow) | 1992-07-02 |
Family
ID=16380610
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19904020319 Granted DE4020319A1 (de) | 1989-07-28 | 1990-06-26 | Verfahren zur herstellung eines um (lambda)/4-phasenverschobenen beugungsgitters |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0361901A (enrdf_load_stackoverflow) |
DE (1) | DE4020319A1 (enrdf_load_stackoverflow) |
GB (1) | GB2234364B (enrdf_load_stackoverflow) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4322163A1 (de) * | 1993-07-03 | 1995-01-12 | Ant Nachrichtentech | Auf DFB- oder DBR-Gitter basierendes optoelektronisches Bauelement mit quasi-kontinuierlich axial verteilbarer Brechungsindex-Variation, mit axial beliebig verteilbarer und variierbarer Phasenverschiebung, sowie mit axial quasi-kontinuierlich variierbarem Gitter-Kopplungskoeffizienten |
DE4322164A1 (de) * | 1993-07-03 | 1995-01-12 | Ant Nachrichtentech | Optoelektronisches Bauelement mit Rückkopplungsgitter, mit axial quasi-kontinuierlich und nahezu beliebig variierbarem Gitterkopplungs-Koeffizienten, mit quasi-kontinuierlich axial verteilbarer Brechungsindex-Variation, sowie mit axial nahezu beliebig verteilbarer und variierbarer Phasenverschiebung |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3366441B2 (ja) * | 1994-06-21 | 2003-01-14 | 三菱電機株式会社 | λ/4シフト回折格子の製造方法 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2855723C2 (de) * | 1978-12-22 | 1985-11-28 | Ibm Deutschland Gmbh, 7000 Stuttgart | Verfahren zum Herstellen eines Negativmusters einer Vorlage aus einem Positivlack |
US4826291A (en) * | 1985-07-16 | 1989-05-02 | Kokusai Denshin Denwa Kabushiki Kaisha | Method for manufacturing diffraction grating |
DE3842489A1 (de) * | 1988-12-16 | 1990-06-21 | Siemens Ag | Verfahren zur herstellung von gitterstrukturen mit um eine halbe gitterperiode gegeneinander versetzten abschnitten |
-
1989
- 1989-07-28 JP JP1197803A patent/JPH0361901A/ja active Pending
-
1990
- 1990-03-16 GB GB9006051A patent/GB2234364B/en not_active Expired - Fee Related
- 1990-06-26 DE DE19904020319 patent/DE4020319A1/de active Granted
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4322163A1 (de) * | 1993-07-03 | 1995-01-12 | Ant Nachrichtentech | Auf DFB- oder DBR-Gitter basierendes optoelektronisches Bauelement mit quasi-kontinuierlich axial verteilbarer Brechungsindex-Variation, mit axial beliebig verteilbarer und variierbarer Phasenverschiebung, sowie mit axial quasi-kontinuierlich variierbarem Gitter-Kopplungskoeffizienten |
DE4322164A1 (de) * | 1993-07-03 | 1995-01-12 | Ant Nachrichtentech | Optoelektronisches Bauelement mit Rückkopplungsgitter, mit axial quasi-kontinuierlich und nahezu beliebig variierbarem Gitterkopplungs-Koeffizienten, mit quasi-kontinuierlich axial verteilbarer Brechungsindex-Variation, sowie mit axial nahezu beliebig verteilbarer und variierbarer Phasenverschiebung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0361901A (ja) | 1991-03-18 |
GB9006051D0 (en) | 1990-05-09 |
GB2234364B (en) | 1993-03-31 |
DE4020319A1 (de) | 1991-02-07 |
GB2234364A (en) | 1991-01-30 |
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OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
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8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |