DE4011515C1 - Coating substrate with metal (alloy) - by magnetic sputtering, with substrate mounted on surface held at negative voltage - Google Patents
Coating substrate with metal (alloy) - by magnetic sputtering, with substrate mounted on surface held at negative voltageInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Beschichten von Substraten
mit einem Metall oder einer Metall-Legierung durch Magnetronzerstäubung, wobei
die Substrate auf einer an negativer Spannung liegenden Halterungsfläche an
gebracht und vor einem Target des Magnetrons zur Beschichtung wiederholt vor
bei bewegt werden.
Ein derartiges Verfahren ist aus der US-PS 44 26 267 bekannt. Um eine gleich
mäßige Beschichtung selbst auf Substraten mit komplizierter Form zu erzielen,
wird eine zweite Kathoden-Anordnung mit gleichem Target-Werkstoff wie bei der
ersten Kathoden-Anordnung vorgesehen.
Bei diesen bekannten Verfahren wurde beobachtet, daß die abgeschiedenen me
tallischen Schichten infolge ihrer zum Teil sehr porösen Stengelstruktur nicht
die geforderten Eigenschaften besitzen. Bekannt ist es, daß durch verschiedene
Abscheidungsparameter die abzuscheidende Schicht und deren Eigenschaften in
gewünschter Weise beeinflußt werden können. So ist es möglich, durch Erhöhung
der Substrattemperatur während der Abscheidung dichtere Schichten auf den
Substraten zu erzielen. Dabei kann nicht ausgeschlossen werden, daß gleich
zeitig mit der Erzielung einer verbesserten Eigenschaft andere Substrat
eigenschaften, wie Substrathärte oder die Biegefestigkeit des beschichteten
Substrats, negativ beeinflußt werden. Auch kann durch Änderung
des Druckes in der Sputteranlage während der Magnetron
zerstäubung eine Änderung des Schichtaufbaus bewirkt werden. Die Abhängigkeit
der Schichtstruktur eines beschichteten Substrates von Druck und Temperatur
ist im Thorton Diagramm (J. Vac. Sci. Technol 12 (1975) S. 830/835) wiederge
geben. Auch ein Anlegen von negativer Biasspannung an das zu beschichtende
Substrat kann zu einer günstigen Beeinflussung der Schichtstruktur auf dem
Substrat führen. In vielen Fällen gelingt es jedoch nicht durch Änderung von
Substrattemperatur, von Druck während des Beschichtens oder Anlegen einer
negativen Biasspannung die gewünschten Schichteigenschaften zu erzielen. So
erhält man beispielsweise bei der Beschichtung von Messing mit einer Sil
ber-Zinn 37-Legierung durch Magnetronzerstäubung bei Substrattemperaturen von
unterhalb 200°C und Drücken im Bereich von 5×10-3 bis 20 × 10-3 mbar und
negativen Biasspannungen von weniger als 200 V stark poröse, matte Schichten
mit geringer Korrosionsbeständigkeit und hohem Reibungskoeffizienten, wodurch
diese Schichten als Kontaktwerkstoff für Steckkontakte ungeeignet sind. Bei
der Beschichtung von Eisen-Nickel-Substraten mit Molybdän werden selbst bei
Substrattemperaturen von 500°C stark stengelförmige Schichten geringer Haft
festigkeit erhalten, die als Kontaktpartner in einem Relais ungeeignet sind.
Aus der DE-PS 35 03 398 ist eine Sputteranlage zum reaktiven Beschichten eines
Substrats mit aus Metallverbindungen bestehenden Hartstoffen, wie Titan-Nitrid
oder Titankarbid, bekannt. Bei dieser Anlage befindet sich das Substrat wäh
rend seiner Beschichtung zwischen einer zusätzlich zum Magnetron vorhandenen
Ionisationseinrichtung mit wenigstens zwei Elektroden, wovon die eine Elek
trode als Elektronenemitter dient und die andere Elektrode gegenüber dem
Emitter auf positives Potential gelegt ist. Das Substrat besteht aus einzel
nen, im Vergleich zum Target kleinen Teilen, die auf einer Halterung angeord
net sind. Die vom Elektronenemitter ausgesandten Elektronen können durch die
Zwischenräume zwischen den einzelnen Substraten zur Anode gelangen und be
wirken so durch Stoß eine Ionisationserhöhung. Bei großflächigen Substraten
wären Elektronenemitter und Anode durch das Substrat getrennt, so daß keine
Elektronen zur Anode gelangen können, wodurch die zusätzliche Ionisations
einrichtung wirkungslos wäre.
In der U.S. Patentschrift 43 89 299 wird die Magnetronaufstäubung von Metallen
mit Gleich- oder Wechselspannung beschrieben, bei der zusätzlich zum
Aufstäubungsplasma eine Ionisation mittels einer beheizten Wolframglühkathode
und einer Spannung von 15 Volt zwischen Glühkathode und Anode eingesetzt wird,
wobei der Wolframdraht auf die zur Elektronenemission erforderliche Temperatur
erhitzt wird.
Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren zum Beschichten von Substraten,
bei dem diese Substrate an großen Halterungsflächen angebracht sind, mit Me
tallen oder Metall-Legierungen bereitzustellen, mit dem die Eigenschaften der
aufgesputterten Schichten, wie Haftfestigkeit, Reibungskoeffizient, Kontakt
übergangswiderstand und Reflexion, reproduzierbar verbessert werden.
Diese Aufgabe wird für das eingangs charakterisierte Verfahren erfindungsgemäß
dadurch gelöst, daß bei Verwendung von Halterungsflächen, die größer als die
Target-Fläche sind, die Substrate einem zu dem Ionenstrom durch Magnetron
zerstäubung zusätzlichem Ionenstrom ausgesetzt werden, der durch Stoß
ionisation von aus einer im wesentlichen außerhalb des Magnetfeldes des
Magnetrons vor dessen Target angeordneten Glühkathode emittierten Elektronen
erzeugt wird, die von einer im wesentlichen außerhalb des Magnetfeldes des
Magnetron vor dem Rand des Targets angeordneten Anode abgesaugt werden, daß
als Glühkathode eine Wolfram-Kathode verwendet wird, die auf einer Temperatur
zwischen 2200°C und 3000°C gehalten wird, daß zwischen Glühkathode und
Anode eine Spannung von < 0 und 60 V aufrechterhalten wird, daß die zusätz
liche Ionenstromdichte während der Beschichtung zwischen 0,05 und 5 mA/cm2
gewählt wird, und daß während des Aufsputterns der ersten Atomlagen auf die
Substrate eine Biasspannung im Bereich von -60 bis -200 V aufrechterhalten
wird, die danach auf einen Wert von < 0 bis -60 V vermindert wird.
Vorteilhafterweise wird während des Aufsputterns der ersten Atomlagen eine
Biasspannung im Bereich von -100 bis -200 V aufrechterhalten.
Durch die erfindungsgemäßen Verfahrensmaßnahmen wird durch die Erhöhung der
Ionisation des Teilchenstroms zum Substrat ein Auftreffen von mehr hochener
getischen Teilchen auf das Substrat erreicht, was sich in einer Erhöhung des
Substratstroms bemerkbar macht. Diese hochenergetischen Teilchen bewirken ein
Absputtern von Substratmaterial und damit in der Grenzschicht eine Schicht
mischung und ein Absputtern von schwach gebundenem
Schichtmaterial. In Mikrobereichen wird durch den Aufprall und die Konden
sation der hochenergetischen Teilchen das Substrat stark erwärmt, ohne daß die
zulässige Substrattemperatur überschritten wird. Durch die Mischschichtbildung
wird eine hohe Haftfestigkeit der auf das Substrat abgeschiedenen Schicht
erzielt, durch die starke Temperaturerhöhung in Mikrobereichen und die Dif
fusion hochenergetischer Teilchen wird der Aufbau einer sehr dichten Schicht
auf dem Substrat begünstigt. In jedem Fall hat es sich als zweckmäßig er
wiesen, den günstigsten Ionisationsgrad des Plasmas zu ermitteln. Dazu ist es
erforderlich, daß der Ionisationsgrad kontinuierlich variierbar ist, was da
durch bewirkt wird, daß der Emissionsstrom der Glühkathode und/oder die
Anodenspannung erhöht wird.
Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren werden vorteilhafterweise die Glühkathode
in einem Abstand von 4 bis 5 cm vor dem Target und die Anode 3 bis 4 cm vor
dem Rand des Target angeordnet. Hierdurch ist sichergestellt, daß die
emittierten Elektronen auf ihrem Weg zur Anode in das Plasma vor dem Target
gelangen und zur Erhöhung des Ionisationsgrades beitragen.
Die Glühkathode wird bei der Durchführung des Verfahrens zweckmäßigerweise auf
einer Temperatur von 2500 bis 2800°C gehalten, daß ausreichend Elektronen zur
Verfügung stehen, um die erforderliche zusätzliche Ionenstromdichte zu er
halten.
Bewährt hat es sich zur Erzielung optimaler Ergebnisse zwischen Glühkathode
und Anode eine Spannung von 30 bis 60 V aufrechtzuerhalten.
Die zusätzliche Ionenstromdichte während der Zerstäubung wird zwischen
1,5 und 3,5 mA/cm2 verändert, um den günstigsten Ionisationsgrad des Plasmas
einzustellen.
Vorteilhafterweise wird nach Aufsputtern der ersten Atomlagen auf die Sub
strate, die Biasspannung auf -20 bis -50 V vermindert.
Als Halterungsflächen für die Substrate hat sich die Oberfläche einer Trommel
besonders bewährt.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird nachfolgend unter Bezugnahme auf
die Fig. 1 und 2 beschrieben.
Es zeigen
Fig. 1 einen Längsschnitt durch eine Sputteranlage zur Durch
führung des erfindungsgemäßen Verfahrens,
Fig. 2 einen Querschnitt durch Fig. 1 entlang der Linie A......B.
Die Sputteranlage weist ein geerdetes Gehäuse 1 auf, das über einen im Boden
bereich befindlichen Stutzen 2 evakuierbar ist. Über die Zuleitung 3 wird ein
Inertgas, beispielsweise Argon, in das Gehäuse 1 eingeleitet. In die Seiten
wandung 5 ist ein Magnetron 6 eingesetzt, das ein Target aus metallischem
Beschichtungswerkstoff aufweist. Die zu beschichtenden Substrate sind auf der
Außenoberfläche der Trommel 12 angeordnet. Die Trommel 12 ist in Isolatoren 16
an einem drehbaren Halter 13, der, wie durch Pfeil 14 angedeutet, um die
Rotationsachse 10, die in der Gehäuseachse liegt, drehbar ist. Mit 15 ist eine
Heizstation bezeichnet. Während der Rotation der Trommel 12 bewegt sich diese
mit den Substraten durch die Heizstation hindurch. Zwischen Magnetron 8 und
der Trommel 12 ist die Anode 7 und als Elektronenemitter 8 eine Wolfram-Glüh
kathode angeordnet, wobei wie aus Fig. 2 ersichtlich, die Anode vor dem Rand
des Magnetrons angeordnet ist.
Zur Beschichtung von auf der Außenoberfläche der Trommel 12 gehaltertem
Messingband mit einer Silber-Zinn-Legierung, die aus 37 Gew.-% Zinn, Rest
Silber besteht, die Legierung bildet den Target-Werkstoff des Magnetrons, wird
wie folgt vorgegangen:
Die mit Messingband bewickelte Trommel 12 wird in der Sputteranlage in die Isolatoren 16 des drehbaren Halters 13 eingesetzt. Der Abstand zwischen dem Target und dem Messingband beträgt 10 cm. Das Messingband wird während seiner Beschichtung mit Hilfe der Heizstation 15 auf einer Temperatur von 150°C ge halten. In der Anlage wird eine Argonatmosphäre von 6×10-3 mbar aufrecht erhalten; es wird eine Sputterleistung von 12 W/cm2 eingestellt, die Glüh kathode 8 auf einer Temperatur von 2600°C gehalten, sowie eine Biasspannung von -100 V für die ersten Atomlagen, aufrechterhalten, die danach auf -30 V vermindert wird. Die Trommel 12 wurde mit einer Geschwindigkeit von 2 U/min gedreht. So wurde bei einem zusätzlichen Ionenstrom von 2 mA/cm2 auf dem Messingband eine hochglänzende, sehr dichte Schicht aus Silber-Zinn 37-Le gierung, die einen Reibungskoeffizienten von 0,28 und sehr gute Korrosions beständigkeit aufweist (die Korrosionsbeständigkeit wurde mittels Auslagerung in Schadstoffklima bestimmt) erhalten. Vergleichsversuche unter identischen Bedingungen jedoch ohne zusätzlichen Ionenstrom lieferten eine sehr matte Silber-Zinn 37-Legierungs-Schicht mit stark stengeliger Struktur und einem Reibungskoeffizienten von 0,45; außerdem wies sie eine schlechte Korrosionsbeständigkeit auf, sie wurde korrosiv angegriffen.
Die mit Messingband bewickelte Trommel 12 wird in der Sputteranlage in die Isolatoren 16 des drehbaren Halters 13 eingesetzt. Der Abstand zwischen dem Target und dem Messingband beträgt 10 cm. Das Messingband wird während seiner Beschichtung mit Hilfe der Heizstation 15 auf einer Temperatur von 150°C ge halten. In der Anlage wird eine Argonatmosphäre von 6×10-3 mbar aufrecht erhalten; es wird eine Sputterleistung von 12 W/cm2 eingestellt, die Glüh kathode 8 auf einer Temperatur von 2600°C gehalten, sowie eine Biasspannung von -100 V für die ersten Atomlagen, aufrechterhalten, die danach auf -30 V vermindert wird. Die Trommel 12 wurde mit einer Geschwindigkeit von 2 U/min gedreht. So wurde bei einem zusätzlichen Ionenstrom von 2 mA/cm2 auf dem Messingband eine hochglänzende, sehr dichte Schicht aus Silber-Zinn 37-Le gierung, die einen Reibungskoeffizienten von 0,28 und sehr gute Korrosions beständigkeit aufweist (die Korrosionsbeständigkeit wurde mittels Auslagerung in Schadstoffklima bestimmt) erhalten. Vergleichsversuche unter identischen Bedingungen jedoch ohne zusätzlichen Ionenstrom lieferten eine sehr matte Silber-Zinn 37-Legierungs-Schicht mit stark stengeliger Struktur und einem Reibungskoeffizienten von 0,45; außerdem wies sie eine schlechte Korrosionsbeständigkeit auf, sie wurde korrosiv angegriffen.
Claims (8)
1. Verfahren zum Beschichten von Substraten mit einem Metall oder einer Me
tall-Legierung durch Magnetronzerstäubung, wobei die Substrate auf einer
an negativer Spannung liegenden Halterungsfläche angebracht und vor einem
Target des Magnetrons zur Beschichtung wiederholt vorbei bewegt werden,
dadurch gekennzeichnet, daß bei Verwendung von Halterungsflächen, die
größer als die Target-Fläche sind, die Substrate einem zu dem Ionenstrom
durch Magnetronzerstäubung zusätzlichem Ionenstrom ausgesetzt werden, der
durch Stoßionisation von aus einer im wesentlichen außerhalb des Ma
gnetfeldes des Magnetrons vor dessen Target angeordneten Glühkathode
emittierten Elektronen erzeugt wird, die von einer im wesentlichen außer
halb des Magnetfeldes des Magnetron vor dem Rand des Targets angeordneten
Anode abgesaugt werden, daß als Glühkathode eine Wolfram-Kathode verwendet
wird, die auf einer Temperatur zwischen 2200°C und 3000°C gehalten
wird, daß zwischen Glühkathode und Anode eine Spannung von < 0 und 60 V
aufrechterhalten wird, daß die zusätzliche Ionenstromdichte während der
Beschichtung zwischen 0,05 und 5 mA/cm2 gewählt wird, und daß während
des Aufsputterns der ersten Atomlagen auf die Substrate eine Biasspannung
im Bereich von -60 bis -200 V aufrechterhalten wird, die danach auf
einen Wert von < 0 bis -60 V vermindert wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß während des Auf
sputterns der ersten Atomlagen eine Biasspannung von -100 bis -200 V
aufrechterhalten wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Glühkathode in
einem Abstand von 4 bis 5 cm vor dem Target und die Anode 3 bis 4 cm vor
dem Rand des Targets angeordnet werden.
4. Verfahren nach den Ansprüchen 1 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß die
Glühkathode auf einer Temperatur von 2500°C bis 2800°C gehalten wird.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß
zwischen der Glühkathode und der Anode eine Spannung von 30 bis 60 V auf
rechterhalten wird.
6. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die zusätzliche
Ionenstromdichte während der Zerstäubung zwischen 1,5 und 3,5 mA/cm2
verändert wird.
7. Verfahren nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet, daß nach Aufsputtern der ersten Atomlagen auf die Sub
strate die Biasspannung auf -20 bis -50 V vermindert wird.
8. Verfahren nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet, daß als Halterungsfläche die Oberfläche einer Trommel
verwendet wird.
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| DE19904011515 DE4011515C1 (en) | 1990-04-10 | 1990-04-10 | Coating substrate with metal (alloy) - by magnetic sputtering, with substrate mounted on surface held at negative voltage |
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| Publication Number | Publication Date |
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| DE4011515C1 true DE4011515C1 (en) | 1990-12-13 |
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Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE4011515C1 (de) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19705884A1 (de) * | 1997-02-15 | 1998-08-20 | Leybold Ag | Plasma-Zündvorrichtung |
| DE4396720C1 (de) * | 1992-12-23 | 2003-07-17 | Unaxis Balzers Ag | Verfahren und Anlage zur Schichtabscheidung und Verwendung der Anlage |
| US9082595B2 (en) | 2006-03-28 | 2015-07-14 | Sulzer Metaplas Gmbh | Sputtering apparatus |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4389299A (en) * | 1980-06-23 | 1983-06-21 | Osaka Vacuum Chemical Co., Ltd. | Sputtering device |
| US4426267A (en) * | 1981-03-02 | 1984-01-17 | Leybold Heraeus Gmbh | Process and apparatus for the coating of shaped articles by cathode sputtering |
| DE3503398A1 (de) * | 1985-02-01 | 1986-08-07 | W.C. Heraeus Gmbh, 6450 Hanau | Sputteranlage zum reaktiven beschichten eines substrates mit hartstoffen |
-
1990
- 1990-04-10 DE DE19904011515 patent/DE4011515C1/de not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4389299A (en) * | 1980-06-23 | 1983-06-21 | Osaka Vacuum Chemical Co., Ltd. | Sputtering device |
| US4426267A (en) * | 1981-03-02 | 1984-01-17 | Leybold Heraeus Gmbh | Process and apparatus for the coating of shaped articles by cathode sputtering |
| DE3503398A1 (de) * | 1985-02-01 | 1986-08-07 | W.C. Heraeus Gmbh, 6450 Hanau | Sputteranlage zum reaktiven beschichten eines substrates mit hartstoffen |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| J. Vac. Sci. Technol. 12, 1975, S. 830-835 * |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4396720C1 (de) * | 1992-12-23 | 2003-07-17 | Unaxis Balzers Ag | Verfahren und Anlage zur Schichtabscheidung und Verwendung der Anlage |
| DE19705884A1 (de) * | 1997-02-15 | 1998-08-20 | Leybold Ag | Plasma-Zündvorrichtung |
| US9082595B2 (en) | 2006-03-28 | 2015-07-14 | Sulzer Metaplas Gmbh | Sputtering apparatus |
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