DE4011231A1 - Schaltung zum ueberpruefen einer halbleiterdiode - Google Patents

Schaltung zum ueberpruefen einer halbleiterdiode

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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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DD242492A1 (de) * 1985-10-31 1987-01-28 Liebknecht Mikroelektron Verfahren zur pruefung der sperreigenschaften von halbleiterbauelementen

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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