DE4007321C2 - Vorrichtung zur Messung der Wellenfront einer elektromagnetischen Welle - Google Patents
Vorrichtung zur Messung der Wellenfront einer elektromagnetischen WelleInfo
- Publication number
- DE4007321C2 DE4007321C2 DE19904007321 DE4007321A DE4007321C2 DE 4007321 C2 DE4007321 C2 DE 4007321C2 DE 19904007321 DE19904007321 DE 19904007321 DE 4007321 A DE4007321 A DE 4007321A DE 4007321 C2 DE4007321 C2 DE 4007321C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- detector
- array
- converging lens
- electromagnetic wave
- detectors
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 7
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 5
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 2
- 239000002241 glass-ceramic Substances 0.000 claims 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 3
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 3
- 230000003044 adaptive effect Effects 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 238000002372 labelling Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
- 230000036962 time dependent Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/0252—Constructional arrangements for compensating for fluctuations caused by, e.g. temperature, or using cooling or temperature stabilization of parts of the device; Controlling the atmosphere inside a photometer; Purge systems, cleaning devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
- G01J1/0407—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
- G01J1/0411—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings using focussing or collimating elements, i.e. lenses or mirrors; Aberration correction
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J9/00—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J9/00—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
- G01J2009/002—Wavefront phase distribution
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung gemäß dem
Oberbegriff des Anspruches 1.
Eine derartige Vorrichtung ist in der US 4,141,652 beschrieben.
In ihm wird der auf seine Wellenfront-Verzerrungen zu untersuchende,
etwa von einem Reflektor stammende Strahl mit
einer Subapertur aus nebeneinander angeordneten Sammellinsen
in Teilstrahlen aufgegliedert, die jeweils auf einen
Vierquadranten-Detektor fokussiert sind. Bei korrekter
Justage erzeugt die ebene Wellenfront eines Referenzstrahles
Teilstrahlen, die jeweils genau das Zentrum eines
Vierquadranten-Detektors anregen. Bei durch Phasenstörungen
im zu untersuchenden Strahl auftretenden Wellenfrontverzerrungen
dagegen führen die einzelnen Teilstrahlen
nicht zu gleichmäßiger Anregung aller vier Quadranten
ihrer jeweiligen Detektoren, sondern die Anregung und demzufolge
das Ausgangssignal jeweils wenigstens eines
Quadranten unterscheidet sich signifikant von denjenigen
anderer Quadranten. Diese Verstimmung der Ausgangssignale
der Vierquadranten-Detektoren sind ein Maß für die Wellenfront-Verformung
der zu untersuchenden, einfallenden Welle
im optischen oder infraroten Spektralbereich.
Apparativ und schaltungstechnisch aufwendiger, dabei störanfälliger
ist es, gemäß US 4,413,909 nicht einfach die
relative Lage der einzelnen Teilstrahl-Brennpunkte zu ermitteln,
sondern eine zeitabhängige Interferenzmuster-Verschiebung
über die einzelnen Detektor-Quadranten. Dafür
müssen die Ebenen des Linsenarrays und des Detektorarrays
eines Hartmannsensors soweit auseinander gezogen werden,
daß dazwischen eine Sammellinse und eine Kollimationslinse,
mit gemeinsamem Brennpunkt, im Strahlengang hintereinander
positioniert werden können, mit Anordnung gekreuzt
verlaufender Beugungsgitter im gemeinsamen Linsen-Brennpunkt.
Für eine hinreichend feine Teilstrahlen-Auflösung
der zu untersuchenden Welle ergibt die Hintereinanderschaltung
der beiden Sammellinsen in Strahlengangrichtung
einen außerordentlich großen Aufbau, dessen konstruktive
Stabilisierung (gegen mechanische und thermische Störeinflüsse)
kaum möglich erscheint. Von grundsätzlichem
Nachteil ist bei einer derartigen Meßanordnung
ferner, daß aufgrund der bekannten nicht-idealen Eigenschaften
einer Linse abseits ihres Zentrums nur für die
mittleren Teilstrahlen der zu untersuchenden Welle hinreichend
präzise Abbildungsverhältnisse erreichbar sind, während
für die äußeren Teilstrahlen wegen der Abbildungsmängel
auch keine aussagekräftigen Beugungs-Interferenzmuster
mehr erwartet werden dürfen.
Dagegen handelt es sich nicht mehr um einen Wellenfrontsensor
des Hartmann-Typs, wenn gemäß der US 4,438,330 die
zu untersuchende Welle im Brennpunkt hinter einer Sammellinse
zerhackt wird, um mittels in Zerhacker-Wirkrichtung
nebeneinander angeordneter Detektoren jenseits des Brennpunktes,
die von der Wellenfront-Verformung abhängige
zeitliche Verschiebung der Chopper-Impulse ermitteln zu
können. Abgesehen vom auch hierfür relativ großen meßtechnischen
Aufwand sind auch hier wieder wegen der Abbildungsfehler
einer bikonvexen Linse nur für den zentralen
Bereich des Eingangsstrahles aussagekräftige Meßwerte zu
erwarten. Und auch für diese Anordnung gilt wieder, daß
der Strahlengang durch eine Sammellinse einen in Strahlenrichtung
sehr großen mechanischen Aufbau erfordert, dessen
hinreichende Stabilität gegen mechanische und thermische
Einflüsse auf das Meßergebnis sehr kritisch ist.
Dagegen handelt es sich nicht um einen gattungsgemäßen
oder um einen gattungsähnlichen Wellenfrontsensor, wenn
gemäß US 4,591,266 die strahlenaufnehmende oder strahlenabgebende
Probe für eine optisch-spektroskopische Untersuchung
im gemeinsamen Brennpunkt zweier aufeinander
orientierter Parabolspiegel angeordnet wird, um reproduzierbare
Verhältnisse beim Probenwechsel sowie für
aktiven und passiven Strahlungsbetrieb zu ermöglichen.
Der Erfindung liegt deshalb die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung
gattungsgemäßer Art zu schaffen, die
mittels eines konstruktiv
sehr stabilen und kompakten Aufbaus eine einfache meßtechnische
Auswertung zur Wellenfrontbestimmung eröffnet.
Diese Aufgabe ist erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die Vorrichtung
gattungsgemäßer Art gemäß dem Kennzeichnungsteil
des Anspruchs 1 ausgestaltet ist.
Der über Parabolspiegel gefaltete Strahlengang
ermöglicht
kurze axiale Abmessungen
bei lichter und dadurch gegen Aufheizeffekte aus
hochenergetischen Strahlen heraus unempfindlicher Bauweise.
Die Verbindungsstäbe
lassen sich aus thermisch hochstabilen
Materialien
leicht herstellen. Die reflektive Fokussierung (an
Parabolspiegeln) ist leichter zu kühlen als ein Linsenaufbau
und erbringt den wesentlichen zusätzlichen Vorteil,
für alle Teilstrahlen des zu untersuchenden Wellenquerschnitts
gleiche Abbildungsverhältnisse
und somit auch für die äußere Querschnittsbereiche
der interessierenden Wellenfront aussagekräftige
Meßergebnisse zu erzielen. Deren Auswertung ist unproblematisch,
da es sich nun nicht mehr um Gleichspannungssignale,
sondern um modulierte Signale handelt, wobei der
hierfür vorgesehene Modulator im gemeinsamen Brennpunkt
der beiden Parabolspiegel liegt und somit nur eine sehr
kleine wirksame Fläche aufzuweisen braucht, die sowohl
einfach realisierbar wie auch unproblematisch hochfrequent
betreibbar ist.
So läßt sich ein sehr
kompakter Wellenfrontsensor erstellen, dessen mechanische
Stabilität derjenigen eines Laserresonators vergleichbar
ist, wie es beispielsweise durch hintereinander angeordnete
Sammellinsen kaum realisierbar erschiene.
Vorzugsweise ist jeder Quadrantendetektor
dafür ausgelegt, Strahlungsenergie in zwei
Spektralbereichen des elektromagnetischen Spektrums
verarbeiten zu können, so daß gleichzeitig zwei einlaufende
Wellen auf ihre Phasenfronten analysiert werden
können, nämlich insbesondere der an einem Ziel reflektierte
Laserstrahl und gleichzeitig die vom, mittels des Laserstrahls
aufgeheizten, Reflektor ausgehende thermische
Strahlung. Das ist insbesondere bei Einsatz eines solchen
Wellenfrontsensors in einer Nachführeinrichtung nach der
DE 34 22 232 C2 von Vorteil, weil dann der
Zielkontakt nicht verloren geht, wenn durch eine plötzliche
Ausweichbewegung des Zieles zwar der reflektierte
Laserstrahl momentan nicht mehr erfaßt wird, wohl aber die
vom Ziel ausgehende weniger stark gebündelte thermische
Strahlung erfaßt bleibt und danach der Laser-Tracker
erneut ausgerichtet werden kann. Für einen solchen auch
sogenannten Zweifarben-Betrieb der einzelnen Quadranten
des Detektorarrays können Detektorelemente unterschiedlicher
spektraler Empfindlichkeit übereinander angeordnet
sein. Derartige Detektionsmaterialien sind beispielsweise
in den Prospekten der deutschen Firma Laser Components
GmbH (1989/90, S. 470) oder der amerikanischen Firma
EG Judson (1988, Seiten 26/27) beschrieben. Für das vorerwähnte
Zielverfolgungs-Anwendungsbeispiel würden dann
Materialien gewählt, mittels derer Simultanmessungen in
Spektralbereichen der Größenordnungen zwischen 3 und 5 µm
und zwischen 8 und 12 µm liegen. Eine andere für die
Praxis interessante Gruppierung wären Messungen in den
Spektralbereichen einerseits zwischen etwa 0,6 und 0,9 µm
und andererseits zwischen etwa 1,1 und 1,8 µm.
Die Erfindung ist nachfolgend anhand
eines in der Zeichnung schematisch
angedeuteten Ausführungsbeispiels
näher erläutert. Es zeigt
Fig. 1 als Blockschaltbild die Einbeziehung der erfindungsgemäßen
Vorrichtung in den Regelkreis zwischen
einem Sender und einem davon angestrahlten
reflektierenden Ziel,
Fig. 2 teilweise aufgeschnitten in Seitenansicht den
mechanischen Aufbau der Vorrichtung,
Fig. 3 die in Fig. 2 am Ende des Strahlenweges gelegene
Detektoreinrichtung und
Fig. 4 einen Ausschnitt aus
der
Detektoreinrichtung.
Gemäß Fig. 1 emittiert ein Sender 10 eine elektromagnetische
Welle 12, deren wirksame Phasen- oder Wellenfront
mittels einer adaptiven Optik 14 einstellbar ist, wie sie
etwa in der DE 34 22 232 C2 als deformierbare Spiegelfläche
näher beschrieben ist. Die Welle 12 wird an einem
Ziel 16 reflektiert und läuft als hinsichtlich ihrer aktuellen
Wellen- oder Phasenfront zu untersuchende Welle 18
in eine Meßvorrichtung 20 ein.
Dessen Detektoreinrichtung 22 weist einen Ausgang 24
auf,
der mit der adaptiven Optikeinrichtung 14 wirkverbunden ist.
Diese Wirkverbindung ist durch den Pfeil 26 angedeutet.
Fig. 2 zeigt eine Seitenansicht der Vorrichtung 20 zur
Messung der Wellen- bzw. Phasenfront einer
elektromagnetischen Welle. Die Vorrichtung 20 weist eine
Einkoppeloptikeinrichtung 28 für die elektromagnetische Welle
18 auf, deren Wellen- bzw. Phasenfront gemessen werden soll.
Außerdem ist die Vorrichtung 20 mit der Detektoreinrichtung
22 versehen, die weiter unten in Verbindung mit den Fig. 3
und 4 detailliert beschrieben wird. Mit der Bezugsziffer 24
ist auch in Fig. 2 der Ausgang der Detektoreinrichtung 22
bezeichnet. Die Einkoppeloptikeinrichtung 28 und die
Detektoreinrichtung 22 sind an einer Montageeinrichtung 30
angeordnet, die passiv thermisch stabilisiert ist.
Selbstverständlich wäre es auch möglich, die
Montageeinrichtung 30 aktiv thermisch zu stabilisieren, d. h.
mit mindestens einer Kühleinrichtung zwangszukühlen. Die
Montageeinrichtung 30 weist Plattenelemente 32, 34, 36, 38
und 40 auf, wobei das Plattenelement 32 mit einer
Einlaßöffnung 42 für die elektromagnetische Welle 18
ausgebildet ist. Das Plattenelement 36 weist ein
Parabolspiegelelement 44 und das Plattenelement 38 weist ein
Parabolspiegelelement 46 auf. Die Parabolspiegelelemente 44
und 46 sind gegeneinander seitlich versetzt und voneinander
so weit beabstandet, daß ihre Brennpunkte 48 genau
zusammenfallen. Das Parabolspiegelelement 44 fluchtet mit der
Einlaßöffnung 42 im Plattenelement 32 und die
Detektoreinrichtung 22 fluchtet mit dem am Plattenelement 38
vorgesehenen Parabolspiegelelement 46. Im gemeinsamen
Brennpunkt 48 ist ein Modulator 50 vorgesehen, der an der
Montageeinrichtung 30 befestigt ist. Der Modulator 50 kann
eine mechanische Zerhackereinrichtung bspw. in Gestalt eines
Chopper-Blattes, eines Spiegels, einer Blende o. dgl., oder
eine elektrooptische Zerhackereinrichtung aufweisen, bei der
es sich bspw. um eine Kerrzelle o. dgl. handeln kann.
Die Plattenelemente 32, 34, 36, 38 und 40 der
Montageeinrichtung 30 sind miteinander durch Verbindungsstäbe
52 verbunden. Auf diese Weise ergibt sich eine
Montageeinrichtung 30, die in vorteilhafter Weise sehr gut
kühlbar ist.
In Fig. 3 ist teilweise aufgeschnitten die
Detektoreinrichtung 22 gezeichnet, die ein hülsenförmiges
Gehäuse 54 und zwei im Gehäuse 54 angeordnete Teile 56 und 58
aufweist. Das Teil 56 ist mit Durchgangslöchern 60
ausgebildet, die mit Löchern 62 im zweiten Teil 58 der
Detektoreinrichtung 22 axial fluchten. In den
Durchgangslöchern 60 des ersten Teiles 56 sind Sammellinsen
64 befestigt. In den Löchern 62 des zweiten Teils 58 sind
Detektoren 66 angeordnet, deren Ausgänge zu dem Ausgang 24
zusammengefaßt sind, wie er auch in Fig. 1 schematisch
angedeutet ist.
Fig. 4 zeigt längsgeschnitten in einem vergrößerten Maßstab
einen Abschnitt des ersten Teiles 56 mit einem der
Durchgangslöcher 60 und mit einer der Sammellinsen 64, sowie
einen Abschnitt des zweiten Teiles 58 mit einem der Löcher 62
und einem der Detektoren 66 mit seinem Ausgang 24′. Eine
Justiereinrichtung 68 im entsprechenden Loch 62 des zweiten
Teiles 58 ist dazu vorgesehen, den entsprechenden Detektor 66
in bezug auf die zugehörige Sammellinse 64 wunschgemäß in
axialer Richtung einzustellen, was durch den Doppelpfeil 70
angedeutet ist. Jeder der Detektoren 66 der
Detektoreinrichtung 22 ist mit einer eigenen
Justiereinrichtung 68 ausgebildet, so daß es wunschgemäß
möglich ist, jeden Detektor 66 zur zugehörigen Sammellinse 64
axial passend einzustellen. Bei den Justiereinrichtungen 68
handelt es sich vorzugsweise um piezoelektrische Elemente,
die mit Anschlüssen versehen sind, die durch die Pfeile 72
angedeutet sind. Wird eine derartige piezoelektrische
Elemente aufweisende Justiereinrichtung 68 über die
Anschlüsse 72 mit einer elektrischen Spannung beaufschlagt,
so ergibt sich eine Abmessungsänderung der piezoelektrischen
Elemente der entsprechenden, zwischen dem entsprechenden
Detektor 66 und dem zweiten Teil 58 festgelegten
Justiereinrichtung 68 und folglich eine entsprechende
Verstellung des Detektors 66 in bezug auf die zugehörige
Sammellinse 64.
Aus Fig. 4 ist auch deutlich ersichtlich, daß jede
Sammellinse 64 und der zugehörige Detektor 66 miteinander in
axialer Richtung fluchten. Entsprechend fluchten die
einzelnen Durchgangslöcher 60 des ersten Teiles 56 mit den
zugehörigen Löchern 62 im zweiten Teil 58 der
Detektoreinrichtung 22.
Claims (7)
1. Vorrichtung zur Messung der Wellenfront einer elektromagnetischen
Welle
- - mit einer Detektoreinrichtung (22), die ein Sammellinsenarray und ein Detektorarray aufweist, wobei
- - jeder Sammellinse (64) des Sammellinsenarrays ein Detektor (66) des Detektorarrays zugeordnet ist,
- - das Detektorarray vom Sammellinsenarray einen Abstand aufweist, der der Brennweite jeder Sammellinse (64) des Sammellinsenarrays entspricht, und
- - jeder Detektor (66) des Detektorarrays ein Vierquadrantendetektor
ist,
dadurch gekennzeichnet, - - daß eine thermisch stabile Montageeinrichtung (30) vorgesehen ist, die miteinander durch Verbindungsstäbe (52) verbundene Plattenelemente (32, 34, 36, 38, 40) aufweist,
- - daß an der Montageeinrichtung (30) die Detektoreinrichtung (22) und eine der Detektoreinrichtung (22) vorgeschaltete Einkoppeloptikeinrichtung (28) für die elektromagnetische Welle angeordnet sind,
- - daß die Einkoppeloptikeinrichtung (28) zwei seitlich gegeneinander versetzte Parabolspiegel (44, 46) aufweist, die einander zugewandt und derartig ausgerichtet sind, daß ihre Brennpunkte zusammenfallen,
- - daß im gemeinsamen Brennpunkt (48) der Parabolspiegel (44, 46) ein Modulator (50) angeordnet ist und
- - daß die Detektoren (66) bezüglich der zugeordneten Sammellinsen (64) justierbar angeordnet sind.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß von den seitlich gegeneinander versetzten Parabolspiegeln
(44, 46) einer, in Richtung der einfallenden
elektromagnetischen Welle gesehen, hinter einer Eintrittsöffnung
(42) in einem Plattenelement (32) angeordnet
ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Detektoreinrichtung (22) zwei miteinander verbundene
Teile (56, 58) aufweist und
daß die Sammellinse (64) und die Vierquadranten-Detektoren
(66) in jeweils miteinander fluchtenden Löchern
(60, 62) angeordnet sind.
4. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Vierquadranten-Detektoren (66) von piezo-elektrischen
Justiereinrichtungen (68) gehaltert sind.
5. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß für zwei voneinander verschiedene Spektralbereiche
geeignete Vierquadranten-Detektoren (66) vorgesehen
sind.
6. Vorrichtung nach Anspruch 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß die beiden Teile (56, 58) der Detektoreinrichtung
(22) aus einem Material mit vernachlässigbar kleinem
thermischen Ausdehnungskoeffizienten bestehen.
7. Vorrichtung nach Anspruch 6,
dadurch gekennzeichnet,
daß als Material mit vernachlässigbar kleinem Wärmeausdehnungskoeffizienten
Glaskeramik verwendet ist.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19904007321 DE4007321C2 (de) | 1990-03-08 | 1990-03-08 | Vorrichtung zur Messung der Wellenfront einer elektromagnetischen Welle |
FR9102650A FR2659443B1 (fr) | 1990-03-08 | 1991-03-06 | Dispositif de mesure du front d'onde ou du front de phase d'une onde electromagnetique. |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19904007321 DE4007321C2 (de) | 1990-03-08 | 1990-03-08 | Vorrichtung zur Messung der Wellenfront einer elektromagnetischen Welle |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4007321A1 DE4007321A1 (de) | 1991-09-12 |
DE4007321C2 true DE4007321C2 (de) | 1993-11-25 |
Family
ID=6401699
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19904007321 Expired - Fee Related DE4007321C2 (de) | 1990-03-08 | 1990-03-08 | Vorrichtung zur Messung der Wellenfront einer elektromagnetischen Welle |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4007321C2 (de) |
FR (1) | FR2659443B1 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19624421B4 (de) * | 1995-06-30 | 2008-07-10 | Carl Zeiss Ag | Vorrichtung und Verfahren zur ortsaufgelösten Vermessung von Wellenfrontdeformationen |
DE102007029923A1 (de) | 2007-06-28 | 2009-01-02 | Trumpf Werkzeugmaschinen Gmbh + Co. Kg | Verfahren und Vorrichtung zur Wellenfrontvermessung von Laserstrahlung |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4141652A (en) * | 1977-11-25 | 1979-02-27 | Adaptive Optics Associates, Inc. | Sensor system for detecting wavefront distortion in a return beam of light |
US4234790A (en) * | 1979-02-01 | 1980-11-18 | The Perkin-Elmer Corporation | Photodetector heat stabilizer |
US4413909A (en) * | 1981-06-01 | 1983-11-08 | Lockheed Missiles & Space Co., Inc. | Wavefront tilt measuring apparatus |
US4591266A (en) * | 1981-08-10 | 1986-05-27 | Laser Precision Corporation | Parabolic focusing apparatus for optical spectroscopy |
US4438330A (en) * | 1982-03-01 | 1984-03-20 | Itek Corporation | Wavefront sensor employing a modulation reticle |
DE3413420C2 (de) * | 1984-04-10 | 1986-06-26 | Messerschmitt-Bölkow-Blohm GmbH, 8012 Ottobrunn | Sensor zur Ermittlung von Bildfehlern |
DE3422232A1 (de) * | 1984-06-15 | 1985-12-19 | Diehl GmbH & Co, 8500 Nürnberg | Verfahren und einrichtung zur ziel-suche und ziel-nachfuehrung mittels eines fokussierbaren strahles |
-
1990
- 1990-03-08 DE DE19904007321 patent/DE4007321C2/de not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-03-06 FR FR9102650A patent/FR2659443B1/fr not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19624421B4 (de) * | 1995-06-30 | 2008-07-10 | Carl Zeiss Ag | Vorrichtung und Verfahren zur ortsaufgelösten Vermessung von Wellenfrontdeformationen |
DE102007029923A1 (de) | 2007-06-28 | 2009-01-02 | Trumpf Werkzeugmaschinen Gmbh + Co. Kg | Verfahren und Vorrichtung zur Wellenfrontvermessung von Laserstrahlung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2659443A1 (fr) | 1991-09-13 |
FR2659443B1 (fr) | 1994-01-21 |
DE4007321A1 (de) | 1991-09-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0734518B1 (de) | Vorrichtung zum photothermischen prüfen einer oberfläche | |
EP0618439B1 (de) | Bildgebender optischer Aufbau zur Untersuchung stark streuenden Medien | |
DE2901738C2 (de) | Spektralphotometer | |
DE3880854T2 (de) | Optische Achsenverschiebungsfühler. | |
DE2814006A1 (de) | Abtastinterferometer | |
DE2323593C3 (de) | Laser-Doppler-Anemometer | |
DE4015893C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Untersuchung der inneren Struktur eines absorptionsfähigen Prüflings | |
DE2251080A1 (de) | Michelson-interferometer | |
DE112017008083B4 (de) | Ferninfrarotlichtquelle und ferninfrarotspektrometer | |
DE4007321C2 (de) | Vorrichtung zur Messung der Wellenfront einer elektromagnetischen Welle | |
EP0264360B1 (de) | Einrichtung zum Erfassen der räumlichen Orientierung von unzulässig erwärmten Stellen | |
DE102007032576A1 (de) | Verfahren und Anordnung zur Messung der Form und Brechkraft eines scheibenförmigen Lasermediums | |
DE102014010667B4 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Form einer Wellenfront eines optischen Strahlungsfeldes | |
DE102007029923A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Wellenfrontvermessung von Laserstrahlung | |
WO2006092444A1 (de) | Optischer multiplexer/demultiplexer | |
EP3654062A1 (de) | Distanzmessvorrichtung mit hoher signaldynamik und daran angepasstem referenzlichtweg | |
DE4243146C1 (de) | Spiegeloptik mit streifender Reflexion | |
DE2628836C3 (de) | Optischer Phasendiskriminator | |
DE4343345A1 (de) | Verfahren und Vorrichtungen zur Messung der reflektiven bzw. transmittierenden optischen Eigenschaften einer Probe | |
WO1997000430A1 (de) | Messvorrichtung für kurze und ultrakurze lichtimpulse | |
EP1049559B1 (de) | Werkstückbestrahlungsanlage | |
DE102012008477B3 (de) | Terahertz-Strahlungsempfänger mit konkav geformter Detektoroberfläche | |
DE2646972C2 (de) | Akusto-optischer Wandler zum Empfang von Ultraschallwellen bei der zerstörungsfreien Werkstoffprüfung | |
DE3919571C2 (de) | ||
DE102021125813B4 (de) | Doppelspiegel-Shear-Interferometer und Verfahren zum zerstörungsfreien Messen einer Oberfläche mittels interferometrischer Messverfahren |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8125 | Change of the main classification |
Ipc: G01J 9/00 |
|
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: DIEHL STIFTUNG & CO., 90478 NUERNBERG, DE |
|
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |