DE4004986C2 - - Google Patents
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- G—PHYSICS
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- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
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-
- G—PHYSICS
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Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19904004986 DE4004986A1 (de) | 1990-02-19 | 1990-02-19 | Verfahren zur bestimmung der intensitaet der von einer strahlungsquelle unter einem bestimmten winkel zu ihrer symmetrieachse abgegebenen elektromagnetischen strahlung |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19904004986 DE4004986A1 (de) | 1990-02-19 | 1990-02-19 | Verfahren zur bestimmung der intensitaet der von einer strahlungsquelle unter einem bestimmten winkel zu ihrer symmetrieachse abgegebenen elektromagnetischen strahlung |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE4004986A1 DE4004986A1 (de) | 1991-08-29 |
| DE4004986C2 true DE4004986C2 (cg-RX-API-DMAC7.html) | 1991-11-28 |
Family
ID=6400381
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19904004986 Granted DE4004986A1 (de) | 1990-02-19 | 1990-02-19 | Verfahren zur bestimmung der intensitaet der von einer strahlungsquelle unter einem bestimmten winkel zu ihrer symmetrieachse abgegebenen elektromagnetischen strahlung |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE4004986A1 (cg-RX-API-DMAC7.html) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109764813B (zh) * | 2018-12-20 | 2024-10-25 | 西安交通大学 | 一种量程可调的反射光强调制式光纤位移传感探头 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1474370A (en) * | 1973-05-22 | 1977-05-25 | Plessey Co Ltd | Light detecting arrangements |
| CH664015A5 (de) * | 1983-02-16 | 1988-01-29 | Bartenbach Christian | Verfahren zur messung der leuchtdichte und einrichtung zur durchfuehrung desselben. |
| DE3818229C1 (cg-RX-API-DMAC7.html) * | 1988-05-28 | 1989-12-07 | Messerschmitt-Boelkow-Blohm Gmbh, 8012 Ottobrunn, De |
-
1990
- 1990-02-19 DE DE19904004986 patent/DE4004986A1/de active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE4004986A1 (de) | 1991-08-29 |
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