DE4004909C1 - - Google Patents
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- G01M11/37—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides in which light is projected perpendicularly to the axis of the fibre or waveguide for monitoring a section thereof
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- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
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- G02B6/255—Splicing of light guides, e.g. by fusion or bonding
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Description
Die Erfindung betrifft ein Spleißverfahren nach dem
Oberbegriff des Patentanspruchs 1 und ein Spleißgerät nach dem
Oberbegriff des Patentanspruchs 6.
Zur Herstellung von nicht lösbaren Lichtwellenleiter-
Verbindungen ist es bekannt, Klebeverfahren, Klemmverfahren
oder Lichtbogenverschweißung anzuwenden. Für alle Verfahren
ist es notwendig, die zu verspleißenden Lichtwellenleiterenden
genau aufeinander auszurichten. Die Justage kann mit optischen
Mitteln beobachtet oder durch Messung des durch die
Lichtwellenleiter-Verbindungen durchgehenden Lichts überwacht
werden. Bei Beobachtung mit optischen Mitteln kann die Justage
bezüglich des Manteldurchmessers der Lichtwellenleiter
geschehen. Dann entstehen jedoch Zusatzverluste durch
Außendurchmesserschwankungen und Lagetoleranzen zwischen Kern
und Mantel. Bei höheren Ansprüchen an die maximal zulässige
Dämpfung des Lichtwellenleiter-Spleißes, beispielsweise bei
Monomode-Lichtwellenleitern, muß eine Kern-Kern-Ausrichtung
durchgeführt werden. Hierzu muß zunächst der Kern sichtbar
gemacht werden, was durch Ausleuchtung mit sichtbarem,
infrarotem oder ultraviolettem Licht geschehen kann.
Aus der EP 94 125 B1 ist es bekannt, den zu positionierenden
Lichtwellenleiter mit ultraviolettem Licht zu bestrahlen und
den Kern im durch Fluoreszenz erzeugten sichtbaren Licht zu
beobachten. Auch aus der EP 1 86 819 B1 und aus der EP 2 80 562
A2 ist es bekannt, die Kerne der zu positionierenden
Lichtwellenleiter zu beobachten.
Aus der EP 2 15 145 A1 ist ein Spleißverfahren für
Monomodelichtwellenleiter bekannt. Zum Justieren der Kerne der
Lichtwellenleiter werden diese von zwei Lichtquellen
beleuchtet und können mit einem Mikroskop mit Kamerasystem und
Bildschirm beobachtet werden. Die aufgezeichneten Bilder
werden ausgewertet und die Position der Lichtwellenleiterenden
wird mittels der Ergebnisse der Auswertung gesteuert. Die
Beobachtung mit dem Kamerasystem erfolgt vor dem
Spleißvorgang. Ist die Justierung abgeschlossen wird
gespleißt. Aus der EP 2 37 426 A1 ist ebenfalls ein Verfahren
bekannt, mit dem zwei Lichtwellenleiter aufeinander
einjustiert werden können. Auch hier findet eine Beleuchtung
statt und ein Kamerasystem nimmt Bilder der
Lichtwellenleiterenden auf, die dann ausgewertet werden und
zur Steuerung von Justiereinheiten dienen.
Aus der DE 34 29 862 C1 ist ein Verfahren zum Verschweißen
zweier Lichtleitfasern bekannt, mit dem eine verbesserte
Spleißverbindung geschaffen werden soll. Dies soll dadurch
erreicht werden, daß während des Schweißvorganges Licht von
einem Sender durch die beiden Lichtleitfasern zu einem
Empfänger geleitet wird und daß ein Manipulator, der die
Lichtleitfasern in ihre Lage verfahren kann, bis zur Erhärtung
der Schweißstelle zu solchen Regelbewegungen veranlaßt wird,
daß die durch die Lichtleitfasern geleitete Lichtmenge ein
Maximum erreicht. Dieses Verfahren ist dann nicht anwendbar,
wenn es nicht möglich ist Licht in die Lichtwellenleiter ein
bzw. auszukoppeln.
Aus einem Firmenprospekt von Ericsson Cables AB "Ericsson
Fiber Splicing System FSS 900" von 1988 ist ein
Spleißverfahren bekannt, bei dem zunächst eine grobe Justage
der Lichtwellenleiter durchgeführt wird. Dann wird durch einen
schwachen Lichtbogen Schmutz auf den Lichtwellenleiterenden
verbrannt, dann die Qualität der Lichtwellenleiterenden
überprüft, danach eine Feinjustierung, die
Lichtbogenverschweißung und eine Analyse der Spleißqualität
durchgeführt. Während der Lichtbogenverschweißung werden
Video-Bilder von der kritischen Spleißzone aufgenommen, um die
Lichtwellenleiter zu beobachten, während der Lichtbogen an
ist.
Es ist Aufgabe der Erfindung, diesen Stand der Technik
weiterzuentwickeln.
Die Aufgabe wird gelöst durch das Spleißverfahren nach
Patentanspruch 1 und das Spleißgerät nach Patentanspruch 6.
Vorteilhafte Weiterbildungen sind in den Unteransprüchen
angegeben.
Durch den von Ericsson bekannten Stand der Technik ist es
möglich, die Qualität von Spleißen besser zu beurteilen. Die
Analysemöglichkeiten werden verfeinert und ein Spleiß kann als
den Qualitätsanforderungen genügend oder nicht genügend
beurteilt werden. Das Ergebnis der Qualitätsanalyse erhält
man, wenn der Spleiß fertig ist. Ist die Dämpfung zu groß,
also die Qualität schlecht, so muß ein neuer Spleiß
angefertigt werden.
Im Gegensatz dazu ist es mit dem erfindungsgemäßen
Spleißverfahren bzw. Spleißgerät möglich, direkt Einfluß auf
den Spleißvorgang zu nehmen. Die Spleißkontrolle wird während
des Spleißvorgangs durchgeführt. Es werden während des
Spleißvorgangs, also während der Lichtbogen brennt, mit einem
Kamerasystem Bilder aufgenommen, die auch während des
Spleißvorgangs ausgewertet werden und eine Steuerung des
Spleißvorgangs ermöglichen. Durch dieses erfindungsgemäße
Verfahren wird eine wesentliche Verbesserung der
Spleißqualität erreicht. Zudem ist die Zahl der Spleiße, die
als unzureichend bewertet werden und erneut hergestellt werden
müssen, wesentlich geringer.
Wenn es möglich ist, Licht in die zu verspleißenden
Lichtwellenleiter ein- bzw. auszukoppeln, kann auch mit dem in
der DE 34 29 862 C1 vorgeschlagenen Verfahren die
Spleißqualität während des Spleißvorgangs beeinflußt werden.
Diese Beeinflußung betrifft jedoch nur die Justierung. Um auch
andere Spleißparameter zu beeinflußen, genügt die durch
Messung der übertragenen Lichtmenge erhaltene Information
nicht. Durch die Beobachtung der Spleißzone der zu
verspleißenden Lichtwellenleiter während des Spleißvorganges
werden weitere Informationen zugänglich. Neben der
Information, ob die Kerne fluchten, erhält man auch die
Information ob die Kerne schmelzen, oder ob der Übergang
zwischen den Lichtwellenleiter noch sichtbar ist und kann aus
diesen und weiteren Informationen die Steuerung der
Spleißparameter ableiten.
Die Beobachtung der Kerne der zu verspleißenden
Lichtwellenleiter während dem Spleißvorgang, also wenn der
Lichtbogen gezündet ist, wird durch den Einsatz von
elektronischen oder optischen Filtern ermöglicht. Der
Lichtbogen selbst kann dabei als Beobachtungslichtquelle
dienen (siehe dazu P 39 39 497). Zur Beobachtung dient ein
Kamerasystem, vorzugsweise eine hochauflösende CCD-Kamera.
Diese kann mit einem Monitor zur visuellen Beobachtung
verbunden sein. Während des Spleißvorganges werden Bilder,
beispielsweise mit einer festen Abtastfrequenz aufgenommen.
Die Bilder werden von der kritischen Spleißzone aufgenommen.
Die Auswertung der Bilder muß sehr schnell erfolgen, da sich
die Spleißgüte sehr schnell verändern kann. Ist die
Spleißqualität optimal und eine gewisse Mindestverschweißzeit
um, so kann ein Spleißabbruch erfolgen. Eine
Mindestverschweißzeit muß eingehalten werden, um einen festen
Spleiß zu erhalten. Der Hauptbogenstrom kann erhöht oder die
Spleißdauer kann verändert werden, falls die Spleißenergie
keinen optimalen Spleiß erzeugt hat.
Bei dem beschriebenen Verfahren ist ein Erkennen von
Kernversatz und somit auch eine Nachjustage der
Lichtwellenleiter während des Spleißvorgangs möglich.
Die Spleißqualität kann aus den von der CCD-Kamera gewonnenen
Bildern während des Spleißvorgangs aktuell bestimmt werden.
Die Lage der Kerne der zu verspleißenden Lichtwellenleiter
wird erfaßt.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in den Zeichnungen
dargestellt.
Fig. 1 zeigt ein Ablaufdiagramm eines Spleißverfahrens, in
Fig. 2 ist ein Aufbau eines Spleißgerätes schematisch
dargestellt.
Das Spleißverfahren läuft wie folgt ab (Fig. 1):
Zunächst müssen Vorarbeiten, wie das Schneiden und Abisolieren der Lichtwellenleiterenden, erfolgen. Die Lichtwellenleiterenden werden dann ins Spleißgerät eingelegt und vorjustiert. Die Feinjustage erfolgt meist automatisch. Ist die Justage gut, so wird der Lichtbogen gezündet. Während der Lichtbogen brennt, werden Bilder der Spleißzone aufgenommen. Während einer Taktperiode erfolgt die Auswertung der Bilder. Diese besteht beispielsweise aus einer Erfassung von Helligkeitsunterschieden und der Ermittlung der Kernlagen der zu verbindenden Lichtwellenleiter. Es folgt ein Vergleich mit den Minimalanforderungen. Dieser Vergleich kann mehrere Kriterien beinhalten. Dabei muß man zwischen reparablen Kriterien (Versatz < a, Übergang der Lichtwellenleiterenden sichtbar) und irreparablen Kriterien (Versatz < b, Kern verschmolzen), die unmittelbar zu einem Spleißabbruch führen, unterscheiden. Bei geringem Kernversatz kann man versuchen, die Lichtwellenleiter nachzujustieren. Ist der Versatz der Kerne kleiner als a, so hat man die Minimalanforderungen erreicht. Wenn der Übergang zwischen den Lichtwellenleiterenden sichtbar ist, so muß die Spleißenergie erhöht werden. Ist eine Änderung der Spleißparameter oder der Justierung vorgenommen worden und die irreparablen Kriterien sind erfüllt, so wird ein neues Bild aufgenommen und der Vorgang der Auswertung wird wiederholt. Sind alle Minimalanforderungen erfüllt, so kann der Spleißvorgang abgebrochen werden, wenn die Mindestspleißzeit um ist. Sonst wird ein neues Bild aufgenommen und der Vorgang wiederholt.
Zunächst müssen Vorarbeiten, wie das Schneiden und Abisolieren der Lichtwellenleiterenden, erfolgen. Die Lichtwellenleiterenden werden dann ins Spleißgerät eingelegt und vorjustiert. Die Feinjustage erfolgt meist automatisch. Ist die Justage gut, so wird der Lichtbogen gezündet. Während der Lichtbogen brennt, werden Bilder der Spleißzone aufgenommen. Während einer Taktperiode erfolgt die Auswertung der Bilder. Diese besteht beispielsweise aus einer Erfassung von Helligkeitsunterschieden und der Ermittlung der Kernlagen der zu verbindenden Lichtwellenleiter. Es folgt ein Vergleich mit den Minimalanforderungen. Dieser Vergleich kann mehrere Kriterien beinhalten. Dabei muß man zwischen reparablen Kriterien (Versatz < a, Übergang der Lichtwellenleiterenden sichtbar) und irreparablen Kriterien (Versatz < b, Kern verschmolzen), die unmittelbar zu einem Spleißabbruch führen, unterscheiden. Bei geringem Kernversatz kann man versuchen, die Lichtwellenleiter nachzujustieren. Ist der Versatz der Kerne kleiner als a, so hat man die Minimalanforderungen erreicht. Wenn der Übergang zwischen den Lichtwellenleiterenden sichtbar ist, so muß die Spleißenergie erhöht werden. Ist eine Änderung der Spleißparameter oder der Justierung vorgenommen worden und die irreparablen Kriterien sind erfüllt, so wird ein neues Bild aufgenommen und der Vorgang der Auswertung wird wiederholt. Sind alle Minimalanforderungen erfüllt, so kann der Spleißvorgang abgebrochen werden, wenn die Mindestspleißzeit um ist. Sonst wird ein neues Bild aufgenommen und der Vorgang wiederholt.
Ein Spleißgerät, mit dem das Verfahren durchgeführt werden
kann, ist in Fig. 2 dargestellt. Zwei Lichtwellenleiterenden
1, 1′ liegen auf Vorrichtungen, von denen mindestens eine ein
Verschiebetisch 2 ist. Der Verschiebetisch ist in den zur
longitudinalen Achse des Lichtwellenleiters transversalen
Richtungen verschiebbar, beispielsweise mittels eines
Verstellmotors, der von der Verschiebetischsteuerung 3
gesteuert wird.
Es sind zwei Elektroden E1, E2 vorgesehen, die den Lichtbogen
zum Verschweißen erzeugen und von einer Elektroden-Steuerung
und -Stromversorgung 4 gesteuert bzw. versorgt werden. Die
Lichtwellenleiterenden 1, 1′ sind mit einer Kamera 5
beobachtbar, die im Takt eines Taktgebers 12 während des
Spleißvorgangs Bilder aufnimmt. Die Bilder werden einer
Auswerteeinheit 6 zugeführt. In dieser wird der schon oben
beschriebene Auswertevorgang durchgeführt. Die Auswerteeinheit
6 umfaßt ein Modul zur Kernlageerfassung 7, in dem die Lage
der Kerne der Lichtwellenleiterenden in bestimmten Bereichen
erfaßt wird, eine Einheit 8 zur Feststellung der Abweichung
der Lichtwellenleiter voneinander (Versatz, Winkel etc.),
einen Speicher 9, in dem die Minimalanforderungen
abgespeichert sind, eine Eingabeeinheit 10 für den Speicher 9
und einen Vergleicher 11. Im Vergleicher 11 werden die
Minimalanforderungen mit den Abweichungen der Lage der Kerne
verglichen und Änderungen der Spleißparameter werden bewirkt.
Dazu sind die Steuerungen 3 und 4 mit dem Vergleicher
verbunden.
Claims (8)
1. Spleißverfahren zum Lichtbogenverschweißen von
Lichtwellenleiterenden, wobei die kritische Spleißzone während
des Lichtbogenverschweißens mit einem Kamerasystem beobachtet
wird und dabei aufgezeichnete Bilder bezüglich der Qualität
des oder der Spleiße ausgewertet werden, dadurch
gekennzeichnet, daß die Auswertung während des
Lichtbogenverschweißens durchgeführt wird, und daß der weitere
Spleißvorgang mittels der Ergebnisse der Auswertung gesteuert
wird, indem eine Änderung der Spleißparameter oder eine
Nachjustage der Lichtwellenleiterenden vorgenommen wird.
2. Spleißverfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der Spleißvorgang mit einer festen Taktzeit aufgezeichnet
wird.
3. Spleißverfahren nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß die Auswertung eines Bildes innerhalb
einer Taktperiode durchgeführt wird.
4. Spleißverfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß der Spleißvorgang abgebrochen wird, wenn
die Auswertung eines Bildes ergibt, daß
- a) die Spleißqualität unter die Minimalanforderungen gesunken ist, oder
- b) die Spleißqualität über den Minimalanforderungen liegt und die Mindestverschweißzeit um ist.
5. Spleißverfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch
gekennzeichnet, daß es automatisch durchgeführt wird.
6. Spleißgerät, das eine Vorrichtung zum Justieren der
Lichtwellenleiterenden (1, 1′) mit einem Verschiebetisch (2)
aufweist und das ein Beobachtungssystem mit einem Kamerasystem
(5) zum Beobachten der Spleißzone und eine Auswerteeinheit (6)
zur Auswertung der gewonnenen Bilder aufweist, dadurch
gekennzeichnet, daß ein Taktgeber (12) vorgesehen ist, der die
Taktzeit zur Aufzeichnung von Bildern angibt, daß in der
Auswerteeinheit (6) innerhalb einer Taktperiode ein Ergebnis
der Auswertung vorliegt und die Auswerteeinheit (6) mit einer
Verschiebetischsteuerung (3) sowie einer Steuerung und
Stromversorgung (4) der Elektroden (E1, E2) verbunden ist, um
den weiteren Spleißvorgang zu steuern.
7. Spleißgerät nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß
die Auswerteeinheit (6) einen Speicher (9) zum Abspeichern der
Minimalanforderungen an die Spleißstelle aufweist.
8. Spleißgerät nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß
eine Eingabeeinheit (10) für die Minimalanforderungen
vorgesehen ist.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19904004909 DE4004909C1 (de) | 1990-02-16 | 1990-02-16 | |
PCT/DE1990/000893 WO1991012546A1 (de) | 1990-02-16 | 1990-11-20 | Spleissverfahren und spleissgerät |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19904004909 DE4004909C1 (de) | 1990-02-16 | 1990-02-16 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4004909C1 true DE4004909C1 (de) | 1991-01-31 |
Family
ID=6400341
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19904004909 Expired - Lifetime DE4004909C1 (de) | 1990-02-16 | 1990-02-16 |
Country Status (2)
Country | Link |
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DE (1) | DE4004909C1 (de) |
WO (1) | WO1991012546A1 (de) |
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Also Published As
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