DE3990613C2 - Massenspektrometer mit variabler Dispersion - Google Patents
Massenspektrometer mit variabler DispersionInfo
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Description
Diese Erfindung betrifft ein doppelfokussierendes Massenspektrometer
gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
Ein derartiges doppelfokussierendes Massenspektrometer ist aus
einem Artikel von Münzenberg und Ewald in International Journal
of Mass Spektrometry and Ion Physics, 8 (1972), Seiten 293-310,
bekannt, in denen ein Teilchenspektrometer
mit Massen- und Energiedispersion beschrieben wird,
das aus einer doppelfokussierenden (d. h. energie- und richtungsfokussierenden)
Kombination eines magnetischen und eines
elektrischen Feldes in Verbindung mit einem austrittsseitig angeordneten
Magnetfeld besteht, wobei letzteres senkrecht zur
gemeinsamen mittleren Umlenkebene der beiden ersten Felder ablenkt.
In dem Artikel ist auch beschrieben, daß das Teilchenspektrometer
bei abgeschaltetem austrittsseitigem Magnetfeld als normales doppelfokussierendes
Massenspektrometer arbeitet.
Obwohl derartige Spektrometer
eine hohe Empfindlichkeit und Auflösung besitzen, sind sie insofern
unzulänglich, als während eines Durchlaufs in einem beliebigen
Moment nur ein kleiner Bruchteil der von einer Probe
emittierten Ionen nachgewiesen wird. Durch Verwendung eines
Vielkanaldetektors, der einen beträchtlichen Teil des Spektrums
gleichzeitig aufnehmen kann, kann die Effizienz verbessert
werden. Solche Detektoren umfassen typischerweise einen
oder mehrere Mikrokanalplatten-Elektronenvervielfacher, gefolgt
von einem Phosphorschirm und entweder einem Photodiodenfeld
oder einer Vidiconkamera, die die Position der Elektronenstöße
auf dem Schirm ermitteln. Üblicherweise wird zwischen dem Phosphorschirm
und dem Feld oder der Kamera eine Lichtleitfaserverbindung
vorgesehen. Vergleiche z. B. Fig. 2 auf S. 839 in "Advances in Moss-
spectrometry", Vol. 7B (1978).
Wenn Vielkanaldetektoren in Spektrometern mit Geometrien, die
für ein Scanning ausgelegt sind, eingebaut werden, treten ernste
Leistungsbeschränkungen auf. Im allgemeinen ist das Ausmaß
des Spektrums, das abgebildet werden kann, begrenzt, während
die Auflösung oftmals wegen des begrenzten Abstandes der einzelnen
Kanäle im Kanal-Elektronenvervielfacher oder wegen der
Auflösung des Photodiodenfeldes oder der Fernsehkamera verschlechtert
wird. Die Beschränkungen entstehen wenigstens zum
Teil deshalb, weil die Vergrößerung und die Dispersion des Spektrometers
ohne Rücksicht auf die Anforderungen des Multikanaldetektors
gewählt werden. Selbst für einfach fokussierende Instrumente
wurde erkannt, daß eine variable Dispersion und Vergrößerung
vorgesehen werden muß, um aus dem Vielkanaldetektor den
vollen Nutzen zu ziehen.
Im Falle doppelt fokussierender Instrumente ist es notwendig,
daß die Geschwindigkeitsfokalfläche und die Richtungsfokalfläche
(die auch als Energie- bzw. Winkelfokalfläche bekannt sind)
miteinander koinzidieren und über den gesamten Bereich des Detektors
im wesentlichen flach sind. Diese Bedingungen sind
nicht notwendig für ein Massenspektrometer, in dem der Kollektorspalt
sehr schmal ist. Sie stellen jedoch charakteristische
Merkmale des doppelt fokussierenden Mattauch-Herzog-Spektrometers
dar, aber unglücklicherweise sind die meisten derartigen
Instrumente für den Photoplattennachweis ausgelegt, wobei
die Fokalebene einerseits sehr ausgedehnt ist und sich andererseits
sehr nahe an den Polen des Magneten befindet. Es ist
nicht kostengünstig, einen Vielkanaldetektor zu bauen, der
sich über die gesamte Fokalebene eines derartigen Instrumentes
erstreckt, so daß folglich der Massenbereich,
der nachgewiesen werden kann, sehr begrenzt ist.
Die Leistung des Detektors wird unter diesen Bedingungen
auch durch das Vorhandensein des Streumagnetfeldes verschlechtert.
Ein weiterer Nachteil der Mattauch-Herzog-
Geometrie besteht darin, daß der Massenabstand entlang
der Fokalebene nichtlinear ist. Im Falle der Nier-Johnson-
Geometrien ist die Abmessung der Fokalebene durch die
physikalische Größe des Analysators inhärent begrenzt und
kann aufgrund der Krümmung weiter verringert werden. Die
Auflösung kann ebenfalls beschränkt sein, weil die Dispersion
des Spektrometers in bezug auf den Kanalabstand des
Detektors nicht groß genug ist. Offensichtlich ist es
möglich, Spektrometer zu konzipieren, die eine angemessene
Dispersion oder einen angemessenen Massenbereich besitzen,
es ist aber unmöglich, in momentan erhältlichen
Detektoren beides zugleich vorzusehen. In der Praxis muß
stets ein Kompromiß zwischen der Auflösung und dem Massenbereich
geschlossen werden, so daß beispielsweise ein
kleiner Teil des Spektrums gleichzeitig mit hoher Auflösung
aufgenommen werden kann oder aber ein viel größerer Teil
mit niedriger Auflösung. Eine solche Wahl muß bis heute
getroffen werden, wenn das Instrument konzipiert wird.
Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein doppelfokussierendes
Massenspektrometer mit veränderlicher Dispersion
zu schaffen.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe gelöst durch ein doppelfokussierendes
Massenspektrometer der eingangs genannten Art,
das sich durch die im kennzeichnenden Teil des Anspruchs 1
aufgeführten Merkmale auszeichnet.
Für dieses Massenspektrometer kann gezeigt
werden, daß die Doppelfokussierungsbedingung
erhalten bleibt für verschiedene
Gesamtvergrößerungen und Abstände zwischen dem
magnetischen und dem elektrostatischen Sektor.
Folglich kann die
Gesamtvergrößerung (und daher die Dispersion in der
Fokalfläche eines erfindungsgemäßen Spektrometers variiert
werden, indem die Brennweite
des elektrostatischen Analysators geändert wird, ohne
daß am magnetischen Analysator kompensatorische Einstellungen vorgenommen
werden müssen, um die Doppelfokussierung aufrechtzuerhalten.
Ein doppelt fokussierendes Spektrometer
mit leicht veränderbarer Massendispersion ist insbesondere
dann vorteilhaft, wenn es mit einem Vielkanaldetektor
versehen wird.
Da sich
die Position des Vielkanaldetektors in Abhängigkeit von der
gewählten Dispersion des elektrostatischen Analysators ändert,
können zwei oder mehrere derartiger Detektoren an den verschiedenen Positionen vorgesehen werden.
Der erste dieser Detektoren muß dann zurückgezogen
werden können, um den Ionen den Durchgang zum
zweiten Detektor zu ermöglichen, falls dies erforderlich
ist. Alternativ dazu kann ein Detektor vorgesehen werden,
der zwischen zwei oder mehr Positionen verschiebbar ist.
Erfindungsgemäß
weist der elektrostatische Analysator eine
Mehrzahl von einzelnen Analysatorsegmenten auf.
Dabei sind
die Segmente vorteilhafterweise so beschaffen, daß
der Ionenstrahl unabgelenkt durch sie hindurchgehen kann,
wenn sie nicht angeregt sind, z. B. durch die Sicherstellung,
daß der Spalt zwischen den Elektroden eines jeden
Segmentes in bezug zur Krümmung ausreichend groß ist.
In einer Ausführungsform kann der
elektrostatische Analysator ein Mittelsegment und ein
oder mehrere Paare von Außensegmenten umfassen, wobei die
Außensegmente jeweils eines Paars zu beiden Seiten des
Mittelsegmentes angeordnet sind. Das Mittelsegment kann
einen Analysator mit einer ersten Dispersion bilden;
jedes Paar von Außensegmenten ist in Beziehung
zum Mittelsegment und zu irgendwelchen anderen Außensegmenten,
die sich zwischen diesem Segmentpaar und dem
Mittelsegment befinden, angeordnet und bildet dann einen Analysator
mit einer zweiten Dispersion mit im wesentlichen
dem gleichen Sektorwinkel wie der erstgenannte Analysator.
Vorzugsweise sind die Außensegmente symmetrisch um
das Mittelsegment angeordnet.
Jedes Analysatorsegment umfaßt ein Paar von Zylindersektorelektroden,
Toroidsektorelektroden oder geraden Plattenelektroden,
die jeweils zu beiden Seiten des Ionenstrahls
ebenso wie bei herkömmlichen Einzelsegmentanalysatoren
angeordnet sind. Am einfachsten umfaßt jedes
Segment ein Paar von im wesentlichen parallelen, geradlinigen
Elektroden, wobei sämtliche Elektroden auf derselben
Seite des Ionenstrahls vorzugsweise in derselben
Ebene angeordnet sind.
Typischerweise besitzen die Elektroden des Mittelsegmentes
unterschiedliche Längen,
während die in einem Außensegment enthaltenen
Elektroden die gleichen Längen haben, so daß bei entsprechender Wahl der Potentiale ein
das Mittelsegment und zwei symmetrisch angeordnete Außensegmente
umfassender Analysator den gleichen Sektorwinkel besitzt
wie ein Analysator, der nur das Mittelsegment
umfaßt.
Alternativ dazu können insbesondere dann, wenn ein großer
Ablenkungswinkel erforderlich ist, die Elektroden der Außensegmente
in bezug auf die Elektroden des Mittelsegmentes
so geneigt werden, daß die physikalische Anordnung
der Elektroden einem Zylindersektoranalysator angenähert wird, in
dem die Elektroden jeweils mehrere geradlinige Elektroden
von relativ kurzer Länge umfassen.
In weiteren bevorzugten Ausführungsformen kann wenigstens
eines der Segmente des Analysators ein Paar von Hauptelektroden,
die jeweils zu beiden Seiten des Ionenstrahls
angeordnet sind, und zwei Gruppen von Hilfselektroden,
die jeweils oberhalb und unterhalb des Strahls in einem
gegenseitigen Abstand zwischen den Hauptelektroden angeordnet
sind, umfassen. Typischerweise besitzen die Hilfselektroden
eine ähnliche Form wie die Hauptelektroden (z. B.
ebene Platten im Fall eines "Parallelplatten"-Segments
oder Kreisbögen im Fall eines zylindrischen Sektors) und
befinden sich zwischen den Hauptelektroden im gleichen
Abstand. Die oberen und unteren Gruppen von Hilfselektroden
können im wesentlichen identisch sein und die gleiche Anzahl,
den gleichen Typ und den gleichen Abstand der Hilfselektroden
aufweisen. Entsprechende Hilfselektroden einer jeden
Gruppe können dann elektrisch verbunden werden, so daß
wie in einem herkömmlichen zylindrischen Sektoranalysator
entlang der zu den Ebenen der Hilfselektroden senkrechten
Achse (d. h. entlang der "z"-Achse des Analysators) kein
elektrisches Feld herrscht. Jedes Paar von Hilfselektroden
wird auf einem unterschiedlichen Potential gehalten,
wodurch das elektrostatische Feld im Analysatorsegment mitbestimmt
wird. Bei Abwesenheit der Hilfselektroden würde
sich das Potential zwischen zwei parallelen, ebenen Elektroden
linear mit ihrem gegenseitigen Abstand ändern;
wenn die Hilfselektrodenpotentiale so gewählt werden, daß
sie dieser Veränderung entsprechen, besteht ihre einzige
Wirkung darin, daß sie die Wirkung der durch das Analysator-
Vakuumgehäuse hervorgerufenen Streufelder verringert,
die anderenfalls zwischen die Hauptelektroden eindringen
und die Feldhomogenität zerstören könnten. Wenn die
Hilfselektroden auf diese Weise verwendet werden, dienen
sie dem nützlichen Zweck, daß die Hauptelektroden ohne
Störung durch Streufelder durch einen größeren Abstand
voneinander getrennt werden können, wodurch es wiederum
möglich wird, daß ein größerer Teil des Massenspektrums
gleichzeitig auf einem Fokalebenendetektor abgebildet
werden kann.
Ein weiterer wichtiger Nutzen der Hilfselektroden besteht
darin, daß sie die Inhomogenität des Feldes zwischen den
Hauptelektroden durch die Einstellung der Elektrodenpotentiale
zu verändern gestattet. Z. B. kann das
Potential so festgesetzt
werden, daß es sich entsprechend der Polynomgleichung
VE = VM(1 + axE + bxE² + cxE³ + . . .)
ändert, wobei VE das Potential einer im Abstand xE von
der Mittelbahn des Analysators angeordneten Hilfselektrode,
VM das Potential der Mittelelektrode und a, b
und c Konstanten sind, die je nach Erfordernis gewählt
werden. Auf diese Weise können in das Feld zwischen den
Hauptelektroden einfach durch Anlegen geeigneter Potentiale
an die Hilfselektroden Feldänderungen zweiter
und dritter Ordnung eingeführt werden, die zur Optimierung
der Fokussierung eines vollständigen Analysators
verwendet werden können. Es ist sehr wichtig, daß die
Konstanten a, b und c für jedes Segment einzeln variiert
werden können, um unabhängig von der gewählten Dispersion
die Fokussierung zu optimieren.
Die Hilfselektrodenpaare können vorteilhaft von einem geeignet
gewählte Widerstandswerte aufweisenden Potentialteilernetzwerk
oder, falls viele verschiedene Gruppen
von Koeffizienten erforderlich sind, individuell durch
computergesteuerte Digital/Analog-Wandler versorgt werden.
Man kann auch, wenn sich die
Hilfselektrodenstruktur ausreichend weit von der Mittelbahn
des Analysators weg ausdehnt, die
Hauptelektroden weglassen und das elektrostatische Feld
im Analysatorsegment nur mittels der an die Hilfselektroden
angelegten Potentiale definieren. Offensichtlich
wird die Weglassung der Hauptelektroden starke Streufelder
an den Enden der Elektrodenstruktur zur Folge haben;
unter der Vorraussetzung, daß eine ausreichende Anzahl von
Elektroden vorgesehen wird, ist es jedoch noch immer möglich,
das Feld in der Umgebung des Ionenstrahls ausreichend
gleichmäßig zu definieren.
Die Hilfselektroden sollten so
dünn wie möglich sein, um die Länge des
"konstanten Potentials" im Analysatorfeld in der Nähe einer
jeden Elektrode zu minimieren, und ihr Abstand sollte
klein genug sein, um sicherzustellen, daß die Abweichung
vom idealen Potentialgradienten zwischen den
Elektroden nicht so groß ist, daß bedeutende Aberrationen
hervorgerufen werden.
Nun wird mit Bezug auf die folgenden Figuren eine bevorzugte
Ausführungsform der Erfindung beschrieben; es zeigen:
Fig. 1 eine schematische Darstellung eines erfindungsgemäßen
Spektrometers;
Fig. 2 eine schematische Darstellung eines elektrostatischen
Analysators, der für den Einsatz im Spektrometer
von Fig. 1 geeignet ist;
Fig. 3 eine schematische Darstellung des Spektrometers
von Fig. 1, in der die Auflösung des Ionenstrahls
in Komponenten hoher und niedriger Masse gezeigt ist; und
Fig. 4 einen Querschnitt entlang der in Fig. 3 gezeigten
Ebene A-A eines elektrostatischen Analysators,
der für den Einsatz im Spektrometer der Fig. 1
und 3 geeignet ist.
Wie zunächst in Fig. 1 gezeigt, erzeugt eine schematisch
bei 1 gezeigte Ionenquelle einen Ionenstrahl 2, der durch
einen Quellenspalt 3 austritt. Der Strahl 2 geht durch
einen Magnetsektoranalysator 4, der einen Magneten umfaßt,
der den Ionenstrahl entsprechend den Massen/Ladungs-
Verhältnissen der ihn konstituierenden Ionen
ablenkt. Ionen eines ausgewählten Massen/Ladungs-Verhältnisses
verlassen den Magnetsektor-Analysator in einem im
wesentlichen parallelen Strahl 5 und treten in einen
elektrostatischen Analysator 6 ein, der sowohl eine Energiefilterung
vornimmt als auch die Ionen in einen Strahl
7 fokussiert, der auf dem Kollektorspalt 8 ein Bild
schafft. Nachdem die Ionen durch den Spalt 8 gegangen
sind, werden sie von einem Ionendetektor empfangen. Alternativ
kann anstelle des Spaltes 8 ein Vielkanaldetektor
vorgesehen werden.
Im folgenden wird das herkömmliche Koordinatensystem verwendet,
d. h. x ist die Bewegungsrichtung der Ionen, y liegt in der
Ablenkebene des Analysators (senkrecht zu x) und z ist
die Achse, die sowohl zu x als auch zu y senkrecht steht.
Wenn definiert wird, daß
y₀ = Positionsverschiebung eines den Quellenspalt
3 verlassenden Ions,
y₀′ = Winkelverschiebung eines den Quellenspalt 3 verlassenden Ions,
y = Positionsverschiebung eines in das erste Analysatorfeld (d. h. dasjenige des Magneten 4) eintretenden Ions, und
y₁′ = Winkelverschiebung des in das erste Analysatorfeld eintretenden Ions,
so gilt:
y₀′ = Winkelverschiebung eines den Quellenspalt 3 verlassenden Ions,
y = Positionsverschiebung eines in das erste Analysatorfeld (d. h. dasjenige des Magneten 4) eintretenden Ions, und
y₁′ = Winkelverschiebung des in das erste Analysatorfeld eintretenden Ions,
so gilt:
y₁ = y₀ + l′y₀′ (1)
und
y₁′ = y₀′ (2)
wobei l′ der Abstand zwischen dem Spalt 3 und dem Beginn
des ersten Analysatorfeldes 4 ist.
Entsprechend herkömmlicher Verfahren ist die Transformationsmatrix
erster Ordnung, die die Positions- und Winkelverschiebungen
des Ions vorhersagt, wenn es das erste
Analysatorfeld verläßt (y₂ bzw. y₂′), durch
gegeben, wobei β die relative Geschwindigkeitsabweichung
des Ions darstellt und A11 bis A23 die
Matrixelemente sind, die durch die Geometrie des Magnetfeldes
(siehe unten) bestimmt werden. Folglich gilt:
y₂ = A11 y₁ + A12 y₁′ + A13 β (3)
und
y₂′ = A21 y₁ + A22 y₁′ + A23 β (4)
An dem Punkt, an dem die Ionen in das zweite Analysatorfeld
6 eintreten,
sind die Positions- und Winkelverschiebungen
(y₃ bzw. y₃′) durch
y₃ = y₂ + d · y₂′ (5)
und
y₃′ = y₂′ (6)
gegeben, wobei d der Abstand zwischen dem ersten und dem
zweiten Analysatorfeld (siehe Fig. 1) ist.
Am Ende des zweiten Analysatorfeldes sind die Positions-
und Winkelverschiebungen (y₄, y₄′) durch die Gleichungen
(7) und (8) gegeben, die aus einer Matrix, die derjenigen
des ersten Analysatorfeldes ähnlich ist, abgeleitet werden,
wobei jedoch die Elemente A11 bis A23 durch die Elemente
B11 bis B23 ersetzt sind. Die Elemente B11 bis B23
sind auf die Geometrie des zweiten Analysatorfeldes
(siehe unten) bezogen.
y₄ = B11 y₃ + B12 y₃′ + B13 β (7)
y₄′ = B21 y₃ + B22 y₃′ + B23 β (8)
Schließlich sind die Positions- und Winkelverschiebungen
am Kollektorspalt 8 durch
y₅ = y₄ + l″ · y₄′ (9)
y₅′ = y₄′ (10)
gegeben, wobei l″ der Abstand zwischen dem Ende des zweiten
Analysatorfeldes und dem Kollektorspalt 8 (siehe Fig. 1)
ist.
Allgemein ist die Bedingung für einfache Fokussierung
durch y₅ = 0 gegeben, wenn β = 0 und y₀′ ≠ 0 ist, während
die Bedingung für doppelte Fokussierung durch y₅ = 0 gegeben
ist, wenn β ≠0 und y₀′ ≠ 0 ist.
Im vorliegenden Fall ist
der Quellenspalt 3 so angeordnet, daß die den Strahl 5
umfassenden Bahnen der Ionen im wesentlichen parallel
sind, so daß das durch das erste Analysatorfeld erzeugte
Bild im wesentlichen im Unendlichen liegt. In
diesem Fall muß y₂′ unabhängig von y₀′ sein,
so daß aus den Gleichungen (1) und (4) folgt:
A21 l′ + A22 = 0 (11)
y₂′ = A23 β (12)
Gleichung (11) definiert eine allgemeine Beziehung zwischen
dem Objektabstand l′ und den geometrischen Parametern
des ersten Analysatorfeldes, die für ein erfindungsgemäßes
Spektrometer erfüllt sein muß, damit sich ein
Brennpunkt erster Ordnung ergibt.
Als nächstes wird das zweite Analysatorfeld betrachtet.
Das zweite Analysatorfeld fokussiert den Parallelstrahl
5 am Kollektorspalt 8.
Am Spalt 8 ist y₅ = 0, so daß aus Gleichung
(9) folgt:
y₄ + l″y₄′ = 0 (13)
Wenn β = 0, ergibt sich aus den Gleichungen (6) und (7):
y₃′ = y₂′ = 0
y₄ = B11 y₃ + B12 y₃′ = B11 y₃ (14)
y₄ = B11 y₃ + B12 y₃′ = B11 y₃ (14)
während aus Gleichung (8) folgt:
y₄′ = B21 y₃ + B22 y₃′ = B21 y₃ (15)
Substitution in Gleichung (13) ergibt:
B11 y₃ + l″ B21 y₃ = 0
so daß
B11 + l″ B21 = 0 (16)
Gleichung (16) definiert die allgemeine Beziehung zwischen
der Bildweite l″ und den geometrischen Parametern
des zweiten Analysatorfeldes, die für das erfindungsgemäße
Spektrometer erfüllt sein muß, damit sich ein
Brennpunkt erster Ordnung ergibt.
Damit das Spektrometer
doppelt fokussiert, muß außerdem die Bedingung
y₅ = 0 erfüllt sein, wenn β ≠ 0.
Wenn y₁ = 0 und y₁′ = 0 gilt, folgt aus den vorhergehenden
Gleichungen:
y₁ = 0 y₁′ = 0
y₂ = A13 β
y₂′ = A23 β
y₃ = (A13 + d · A23) β (aus Gleichung (5))
y₃′ = y₂′ = A23 β
y₂ = A13 β
y₂′ = A23 β
y₃ = (A13 + d · A23) β (aus Gleichung (5))
y₃′ = y₂′ = A23 β
Aus (7)
y₄ = (B11 (A13 + d · A23) + B12 A23 + B13) β
und aus (8)
y₄′ = (B21 (A13 + d · A23) + B22 A23 + B23) β
Mit Formel (9) ergibt sich
y₅ = (B11 + l″ B21) (A13 + d · A23) β +
(B12 + l″ B22) A23 β +
(B13 + l″ (B23) β
Für die Fokussierung erster Ordnung muß auch Gleichung
(16) erfüllt werden, d. h.
(B11 + l″ B21) = 0 (16)
so daß
y₅ = (B12 + l″ B22) A23 β + (B13 + l″ B23) β =
[B12 - B11 B22/B21] · A23 · β + [B13 - B11 B23/B21] · β
Folglich
[B12 - B11 B22/B21] · A23 + [B13 - B11 B23/B21] = 0 (17)
Gleichung (17) definiert die Beziehung zwischen den geometrischen
Parametern der Analysatorfelder, die für das
doppelt fokussierende Spektrometer
erfüllt sein muß. Es wird sich herausstellen,
daß die Bedingungen unabhängig von d sind, so daß sowohl
die Einfachfokussierungs- als auch die Doppelfokussierungsbedingungen
unabhängig vom Abstand zwischen den Analysatorfeldern
sind.
Der herkömmlichen Praxis folgend, können die Koeffizienten
A₁₁ bis A₂₃ und B₁₁ bis B₂₃ als Satz von dimensionslosen
Koeffizienten a₁₁ bis a₂₃ und b₁₁ bis b₂₃ geschrieben
werden, wobei z. B. der Faktor (wenn er vorliegt), der
die Koeffizienten relativ zur Größe des Analysatorfeldes
skaliert, heraussepariert ist. Wenn beispielsweise die
Bahnen der Ionen durch beide Felder kreisförmig sind,
können die Koeffizienten wie folgt geschrieben werden:
A₁₁ = (y₂/y₃) = a₁₁
A₁₂ = (y₂/y₁′) = a₁₂ · ra
A₁₃ = (y₂/β) = a₁₃ · ra
A₂₁ = (y₂′/y₁′) = a₂₁/ra
A₂₂ = (y₂′/y₁′) = a₂₂
A₂₃ = (y₂′/β) = a₂₃
A₁₂ = (y₂/y₁′) = a₁₂ · ra
A₁₃ = (y₂/β) = a₁₃ · ra
A₂₁ = (y₂′/y₁′) = a₂₁/ra
A₂₂ = (y₂′/y₁′) = a₂₂
A₂₃ = (y₂′/β) = a₂₃
und
B₁₁ = (y₄/y₃) = b₁₁
B₁₂ = (y₄/y₃′) = b₁₂ · rb
B₁₃ = (y₄/β) = b₁₃ · rb
B₂₁ = (y₄′/y₃′) = b₂₁/rb
B₂₂ = (y₄′/y₃′) = b₂₂
B₂₃ = (y₄′/β) = b₂₃
B₁₂ = (y₄/y₃′) = b₁₂ · rb
B₁₃ = (y₄/β) = b₁₃ · rb
B₂₁ = (y₄′/y₃′) = b₂₁/rb
B₂₂ = (y₄′/y₃′) = b₂₂
B₂₃ = (y₄′/β) = b₂₃
wobei ra und rb die effektiven Radien der Bahnen durch
das erste bzw. das zweite Analysatorfeld sind.
Der Ausdruck "effektiver Radius" hat die Bedeutung des
Radius eines Kreisbogens, der an den Punkten, an denen
die Ionen in das Feld eintreten bzw. aus
ihm austreten, tangential zur mittleren Bahn dieser Ionen
verläuft, unabhängig von der tatsächlichen Form der Bahn
durch den Analysator.
(Die Gültigkeit
dieser Darstellung wird durch die Betrachtung der
Gleichungen für die verschiedenen Koeffizienten, die unten
für besondere Analysatoren angegeben werden, deutlicher
gemacht.) Wenn das zweite Analysatorfeld ein elektrostatischer
Analysator mit parallelen Platten ist, in
der die Ionenbahn eher parabolisch als kreisförmig ist,
wird rb einfach durch lb (die Länge der Analysatorplatten)
ersetzt.
Substitution in Gleichung (17) ergibt:
[b₁₂rb - b₁₁b₂₂rb/b₂₁]a₂₃+[b₁₃rb - b₁₁b₂₃rb/b₂₁] = 0
so daß:
[[b₁₂ - b₁₁b₂₂/b₂₁]a₂₃+[b₁₃ - b₁₁b₂₃/b₂₁]] · rb = 0.
Daher tritt unabhängig von den Werten von ra, rb und d
Doppelfokussierung auf, sofern die Bedingung
[b₁₂ - b₁₁b₂₂/b₂₁] a₂₃+[b₁₃ - b₁₁b₂₃/b₂₁] = 0
erfüllt ist.
Nun wird die Massendispersion des Spektrometers
betrachtet. Die Transformationsmatrix für den
ersten Analysator A kann folgendermaßen geschrieben werden:
wobei γ=Δm/m, so daß am Ausgang des ersten Analysators
gilt:
y₂ = A₁₁y₁+A₁₂y₁′+A₁₃β+A₁₄γ
und
y₂′= A₂₁y₁+A₂₂y₁′+A₂₃β+A₂₄γ
Wenn wie in der obigen Diskussion angenommen wird, das
y₀ = y₀′ = β = y₁ = y₁′ = 0
dann
y₂ = A₁₄γ und y₂′ = A₂₄γ.
Am Eingang des zweiten Analysators gilt:
y₃ = y₂+d · y₂′ = (A₁₄+d · A₂₄)γ
und
y₃′ = y₂′ = A₂₄γ
Die Transformationsmatrix für den zweiten Analysator B
kann folgendermaßen geschrieben werden:
so daß
y₄ = B₁₁(A₁₄+d · A₂₄)γ+B₁₂A₂₄γ+B₁₄γ
y₄′ = B₂₁(A₁₄+d · A₂₄)γ+B₂₂A₂₄γ+B₂₄γ
Am Kollektorspalt 8 gilt y₅=y₄+l′′y₄′, so daß
y₅ = (B₁₁+l′′B₂₁)(A₁₄+d · A₂₃)γ+
(B₁₂+l′′B₂₂)A₂₄γ+
(B₁₄+l′′B₂₄)γ (18)
Substitution von Gleichung (16) in Gleichung (18) ergibt:
y₅ = [(B₁₂ - B₁₁B₂₂/B₂₁)A₂₄+
(B₁₄ - B₁₁B₂₄/B₂₁)]γ (19)
Ersetzung der Koeffizienten B₁₁ bis B₂₃ in (19) durch die
oben angegebenen dimensionslosen Koeffizienten ergibt bei
Berücksichtigung von a₂₄=A₂₄ und b₂₄=B₂₄:
y₅ = [(b₁₂ - b₁₁b₂₂/b₂₁)a₂₄+
(b₁₄ - b₁₁b₂₄/b₂₁)]rbγ (20)
Aus Gleichung (20) ist ersichtlich, daß im allgemeinen
Fall y₅ (effektiv die Massenstreuung) mit dem Radius des
zweiten Analysators rb in Beziehung steht und von ra und
d unabhängig ist. Da der erste Analysator ein Magnet
und der zweite Analysator ein elektrostatischer Analysator
ist, gilt für die Koeffizienten B₁₄=b₁₄=0 und
B₂₄=b₂₄=0, so daß sich Gleichung (20) vereinfacht zu
y₅ = (b₁₂ - b₁₁b₂₂/b₂₁)a₂₄rbγ
Es ist die Eigenschaft derartiger Spektrometer,
die es erlaubt, ein doppelt fokussierendes Instrument
mit variabler Dispersion einfach durch Veränderung
des effektiven Radius rb des elektrostatischen Analysatorfeldes
und durch Einstellung der
Position des Detektors gemäß Gleichung (16) für die Praxis
zu konstruieren. Selbstverständlich wird für einen
bestimmten Wert des effektiven Radius des elektrostatischen
Analysators ein bestimmter Bereich des Massenspektrums
mit einer bestimmten Dispersion und also Auflösung
gleichzeitig auf den Detektor abgebildet. Durch Änderung
des effektiven Radius und damit der Dispersion kann entweder
ein großer Bereich des Spektrums mit niedriger Auflösung
oder ein kleiner Bereich mit hoher Auflösung abgebildet
werden.
Für einen Magnetsektor-Analysator mit homogenem Feld stehen
die Werte der Koeffizienten a₁₁ bis a₂₄ mit den geometrischen
Parametern wie folgt in Beziehung:
A₁₁ = cos (Φm - ε′)/cos ε′
A₁₂ = ra sin Φm
A₁₃ = ra (1 - cos Φm)
A₂₁ = -sin (Φm - ε′ - ε′′)/(cos ε′ · cos ε′′)ra
A₂₂ = cos (Φm - ε′′)/cos ε′′
A₂₃ = tan ε′′+sin (Φ - ε′′)/cos ε′′
A₁₄ = ra (1 - cos Φ)/2
A₂₄ = (tan ε′′+sin (Φm - ε′′))/2 cos ε′′
A₁₂ = ra sin Φm
A₁₃ = ra (1 - cos Φm)
A₂₁ = -sin (Φm - ε′ - ε′′)/(cos ε′ · cos ε′′)ra
A₂₂ = cos (Φm - ε′′)/cos ε′′
A₂₃ = tan ε′′+sin (Φ - ε′′)/cos ε′′
A₁₄ = ra (1 - cos Φ)/2
A₂₄ = (tan ε′′+sin (Φm - ε′′))/2 cos ε′′
wobei Φm, ε′ und ε′′ der effektive Sektorwinkel des Magnetanalysators
bzw. die Neigungen seiner Polflächen sind (s. Fig. 1
für die genaue Definition).
Für einen zylindrischen elektrostatischen Analysator sind
die Koeffizienten b₁₁ bis b₂₄ durch
gegeben, wobei Φe der effektive Sektorwinkel des elektrostatischen
Analysators ist.
Für einen elektrostatischen Analysator vom Parallelplattentyp
sind die Koeffizienten b₁₁ bis b₂₄ durch
B₁₁ = 2 cos Φe - 1
B₁₂ = 2rb cos Φe/(1+cos Φe)
B₁₃ = 2rb sin Φe/(1+cos Φe)
B₂₁ = -2 sin² Φe/rb
B₂₂ = 2 cos Φe - 1
B₂₃ = 2 sin Φe
B₁₄ = 0
B₂₄ = 0
B₁₂ = 2rb cos Φe/(1+cos Φe)
B₁₃ = 2rb sin Φe/(1+cos Φe)
B₂₁ = -2 sin² Φe/rb
B₂₂ = 2 cos Φe - 1
B₂₃ = 2 sin Φe
B₁₄ = 0
B₂₄ = 0
gegeben.
Die Ausdrücke für diese Koeffizienten zeigen
deutlich, wie aus den Koeffizienten A₁₁ bis A₂₄ und B₁₁
bis B₂₄ die Werte von ra und rb entnommen werden können,
um die dimensionslosen Koeffizienten a₁₁ bis a₂₄ und b₁₁
bis b₂₄, die nur von den Sektorwinkeln Φm und Φe und den
Polflächenneigungen ε′ und ε′′ abhängen, zu erhalten.
Da die Doppelfokussierungsbedingung auch vom Abstand zwischen
den Analysatoren unabhängig ist, ist es möglich,
einen elektrostatischen Analysator mit variablem Radius rb
auf die folgende Weise zu konstruieren. Wie in Fig. 2 gezeigt,
umfaßt ein elektrostatischer Analysator,
der für eine erfindungsgemäße Verwendung geeignet
ist, ein Mittelsegment (Elektroden 13 und 18) und zwei
Paare von Außensegmenten (Elektroden 12, 17, 14, 19 bzw.
11, 16, 15, 20). Die Elektroden sind symmetrisch
zu einer Mittellinie 31 angeordnet. Die Elektroden
11, 15, 16 und 20 sind im allgemeinen geerdet und werden
nur als Führungselektroden verwendet. Die Längen der Mittelsegmentelektroden
13 und 18 werden so gewählt, daß sie
einen Analysator vom Parallelplattentyp mit einem effektivem
Radius re1 und einem Sektorwinkel Φe definieren, dessen
Feldgrenzen ungefähr durch die Linien 21 und 22 gekennzeichnet
sind. Dabei sind auch
die Elektroden 12, 14, 17 und 19 geerdet, während die Elektroden
13 und 18 mit geeigneten Spannungen angeregt
werden. Die auf der Mittelbahn 23 sich bewegenden Ionen
des Ionenstrahls 5 setzen daher ihren Weg entlang der geraden
Bahn 24 fort, bis sie bei der Linie 21 in das elektrostatische
Feld eintreten und bewegen sich dann entlang
einer gekrümmten Bahn 25 mit dem effektivem Radius re1 fort.
Bei der Linie 22 verlassen sie das Feld, um sich entlang
der geraden Bahn 26 und der Mittelbahn 27 des Ionenstrahls
7 fortzubewegen.
Wenn ein Radius re2 gewählt wird, werden
die Elektroden 12, 13
und 14 auf einem ersten Potential und die Elektroden
17, 18 und 19 auf einem zweiten Potential gehalten,
um ein elektrostatisches Feld zu definieren, das angenähert
durch die Linien 28 und 29 begrenzt wird und einen
Sektorwinkel Φe und einen Radius re2 besitzt. Die Ionen
treten entlang der Bahn 23 ein, bis die Linie 28 erreicht
wird, dann setzen sie ihre Bewegung entlang der gekrümmten
Bahn 30 (mit effektivem Radius re2) so lange fort, bis
sie die Linie 29 erreichen, und treten wie vorhin entlang
der Bahn 27 aus. Die Linien 21 und 28 und 22 und 29 sind
parallel, so daß der Sektorwinkel Φe unabhängig vom gewählten
Wert von re gleichbleibt. (Dies ist notwendig,
weil sämtliche Koeffizienten b₁₁ bis b₁₃ von Φe abhängen.)
Es wird festgestellt, daß sich die Linien 21 und 28
(die den Beginn der Felder definieren) beabstandet sind,
was aber keine Auswirkung hat, weil die Fokussierungsbedingungen
unabhängig von d sind. Entsprechend
enden die elektrostatischen Felder in Abhängigkeit vom
gewählten Radius an einem anderen Ort, was jedoch bei der
Berechnung von l′′ ohne weiteres erlaubt ist.
Es wird bemerkt, daß die zwischen re1 und re2
liegenden Werte von re unter Verwendung eines elektrostatischen
Analysators gemäß Fig. 2 durch das Halten
der Außensegmentelektroden 12, 14, 17 und 19 auf geeigneten
Potentialen, die zwischen Masse und denjenigen, die
für den Betrieb mit Radius re2 erforderlich sind, liegen,
erhalten werden können. Diese Situation entsteht, weil
weder die Position der Feldgrenzen (die durch die Linien
28, 21, 22 und 29 angegeben werden) noch die tatsächliche
Form der Bahn eine Auswirkung auf die Doppelfokussierungseigenschaften
eines erfindungsgemäßen Spektrometers
haben. Folglich können elektrostatische Analysatoren mit
mehr Elektroden als in Fig. 2 gezeigt konstruiert werden,
wobei die einfache Einstellung des Wertes von re1 durch
einfaches Ändern der elektrostatischen Potentiale dazu
verwendet werden kann, das Massenspektrum exakt auf eine
bestimmte Position des Detektors zu "fokussieren".
Die praktische Konstruktion eines elektrostatischen Analysators
gemäß Fig. 2 bereitet keine Schwierigkeiten und
ist tatsächlich bezüglich der Ausrichtung weniger kritisch
als herkömmliche elektrostatische Analysatoren, die
gegenwärtig in doppelt fokussierenden Massenspektrometern
verwendet werden.
In einer weiteren Abänderung können die Elektroden 11 bis
15 und 16 bis 20 tangential an zwei Kreisbögen, die um
einen Punkt
zentriert sind, tangential angeordnet
werden, wodurch ein Analysator ausgebildet wird, der eine
Hybride zwischen einem zylindrischen Analysator und einem
Parallelplatten-Analysator darstellt. Obwohl die genauen
Werte der Koeffizienten b₁₁ bis b₂₃ für einen derartigen
Analysator nicht bekannt sind, hat dies keine Bedeutung,
weil der Wert des Radius elektrisch leicht geändert werden
kann.
Wie in Fig. 4 gezeigt, ist ein für eine erfindungsgemäße
Verwendung geeigneter elektrostatischer Analysator in einem
Vakuumgehäuse 35 eingeschlossen, das durch einen mit
einem "O"-Ring 37 abgedichteten und durch Schrauben 38
befestigten Deckel 36 verschlossen ist. Eine Öffnung 39,
die durch einen mit einem "O"-Ring abgedichteten Flansch
40, der eine Anzahl von elektrischen Durchführungen 41
trägt, verschlossen ist, ist dazu vorgesehen, die elektrische
Verbindung, die mit den im Analysator enthaltenen
Elektroden hergestellt werden soll (z. B. die Leitung 42)
zu ermöglichen.
Der in Fig. 4 gezeigte Querschnitt ist durch das Mittelsegment
des Analysators (d. h. in der Ebene A-A in Fig. 3)
ausgeführt, die anderen Segmente des Analysators sind jedoch
im wesentlichen von identischer Konstruktion.
Die Hauptelektroden 13 und 18 des Mittelsegmentes umfassen
gerade Platten mit einer Länge, die so gewählt wird,
daß der erforderliche Sektorwinkel Φe wie oben erläutert
definiert wird. Sie werden von Trägern 44, die am Boden
des Vakuumgehäuses 35 mittels Schrauben 45 befestigt
sind, an vier isolierten Halterungen 43 (zwei für jede
Elektrode) getragen. Jede Elektrode (13 oder 18) ist von
Trägern 44 durch ein Keramikrohr 46 getrennt und durch
eine Schraube 47, die in eine Keramikbuchse 48 eingesetzt
ist, befestigt, wobei, wie gezeigt, unter dem Kopf der
Schraube 47 ein kurzes Keramikrohr 49 eingesetzt ist.
Eine obere Gruppe 50 und eine untere Gruppe 51 von Hilfselektroden
(z. B. 52) werden jeweils an zwei Keramikstäben
53 gehalten, die in in die Hauptelektroden 13 und 18 gebohrten
Löchern angeordnet sind. Die Hilfselektroden 52
sind durch Keramikbuchsen 54 getrennt. Jede Elektrode 52
besteht aus einer dünnen (z. B. 0.5 mm), rechtwinkligen
metallischen Platte, die angenähert die gleiche Länge wie
die Hauptelektroden besitzt. Die Höhe der Elektroden
sollte einige Male, vorzugsweise fünf- bis zehnmal so
groß wie ihr gegenseitiger Abstand sein, damit die Wirkung
der Streufelder vernachlässigbar ist.
Um die Anzahl der elektrischen Verbindungen an die Hilfselektroden
zu minimieren, werden entsprechende Elektroden
in der oberen Gruppe 50 und in der unteren Gruppe 51 miteinander
verbunden. Genauso werden auch die Hilfselektroden
in den Außensegmenten, die ebenfalls im Gehäuse 35
angeordnet sind, verbunden. Um die Anzahl der benötigten
Durchführungen weiter zu verringern, werden sämtliche
Hilfselektroden, die dem die Hauptelektroden 12 und 15
umfassenden Segment zugeordnet sind, intern mit den entsprechenden
Hilfselektroden, die den Hauptelektroden 14
und 19 zugeordnet sind, verbunden, so daß für die Hilfselektroden
des Mittelsegments nur 11 Durchführungen und
weitere 11 für sämtliche Hilfselektroden der umgebenden
Segmente erforderlich sind. Wie oben erläutert, sind
sämtliche Elektroden, die den äußersten Außensegmenten
(einschließlich der Hauptelektrode 11, 15, 16 und 20) zugeordnet
sind, geerdet und erfordern keinerlei Durchführungen.
Obwohl also der vollständige Analysator mit fünf
Segmenten 110 Hilfselektroden besitzt, sind insgesamt nur
22 Durchführungen (plus 4 für die Hauptelektroden) erforderlich.
Jede der zwei Gruppen von Hilfselektroden (d. h. das Mittelsegment
und die symmetrischen Außensegmente) wird
durch Potentialteilernetzwerke, die Widerstände umfassen,
die so gewählt werden, daß der gewünschten Potentialgradient
zwischen den Hauptelektroden erzielt wird, versorgt.
Das Potential der Mittelelektrode liegt selbstverständlich
auf Massepotential (unter der Annahme, daß der Eingangsspalt
des Analysators ebenfalls auf Massepotential
liegt, wie dies herkömmlicherweise der Fall ist), während
die zwei Hauptelektroden 18 und 13 in bezug auf Masse auf
positivem bzw. auf negativem Potential liegen, wie dies auch
in einem herkömmlichen Analysator der Fall wäre. Dieses
Verfahren für die Versorgung der Elektroden ist wohl bekannt.
Um den Potentialgradienten zu ändern, werden die
Elektroden einfach an ein anderes Paar von Potentialteilern
geschaltet.
Es sind mehrere Typen von Vielkanaldetektoren für die
Verwendung in einem erfindungsgemäßen Spektrometer geeignet,
so daß sie nicht im einzelnen beschrieben werden
müssen. Es ist vorteilhaft, einen oder mehrere Kanalplatten-
Elektronenvervielfacher vorzusehen, gefolgt von einem
Phosphorschirm. Das vom Phosphor emittierte Licht wird
durch ein Lichtleitfaserbündel an einen positionsempfindlichen
Photodetektor wie etwa ein Feld von
Photodioden übertragen.
Vorzugsweise wird wenigstens ein weiterer Detektor
(kein Vielkanaldetektor) außerhalb der Achse des
Hauptdetektors vorgesehen. Mittels einer Ablenkelektrode
werden Ionen wiederum auf herkömmliche Weise in diesen
abgelenkt.
Wie in Fig. 3 gezeigt, umfaßt der Strahl 2 Ionen mit zwei
verschiedenen m/e-Verhältnissen, die durch den Magneten 4
in zwei massenaufgelöste Strahlen 32 (Ionen mit hoher
Masse und 33 (Ionen mit niedriger Masse) getrennt werden,
die an verschiedenen Punkten eines Vielkanaldetektors
34 fokussiert werden. Der Detektor muß mit der Fokalebene
des Spektrometers ausgerichtet sein, so daß die
beiden Strahlen 32 und 33 gleichzeitig fokussiert werden.
Im allgemeinen bildet die Fokalebene genauso wie in herkömmlichen
Spektrometern zur Mittelachse keinen Winkel
von 90°, der erforderliche Winkel kann jedoch gemäß herkömmlicher
Verfahren aus den oben angegebenen Basis-Fokussierungsgleichungen
errechnet werden. Unglücklicherweise
verändert sich die Neigung der Fokalebene in Abhängigkeit
von unterschiedlichen Werten von re. Dies kann
kompensiert werden, indem ein Mechanismus für die Einstellung
der Oberfläche des Detektors auf den richtigen Winkel
bei einer ausgewählten Bildweite l′′ vorgesehen wird;
da jedoch die Neigung der Fokalebene durch Aberrationen zweiter
Ordnung im elektrostatischen Feld beeinflußt wird, kann sie durch die
Einstellung der Hilfselektrodenpotentiale beeinflußt werden.
Ähnlich kann die
Krümmung der Fokalebene über eine Veränderung der Aberration dritter Ordnung,
die durch Einführung einer Komponente dritter Ordnung in
den Potentialgradienten erfolgt, korrigiert werden.
Es ist schwierig, die Werte der erforderlichen Elektrodenpotentiale
direkt zu berechnen, so daß das praktischste
Verfahren für deren Auswahl in der Verwendung eines
Computerprogramms für die "Strahlenverfolgung" (ray tracing)
in ionenoptischen Systemen besteht. Durch die Aufzeichnung
einer Gruppe von Ionenbahnen für einen gegebenen
Satz von Elektrodenpotentialen können der Winkel und
die Krümmung der Fokalebene berechnet werden, so daß
die geeignetsten Werte der Potentiale durch "trial and
error" gewählt werden. Die endgültige Einstellung der Potentiale
kann dann an einem fertigen Spektrometer
vorgenommen werden, beispielsweise durch ein Trimmen der
einzelnen Widerstandswerte im Potentialteiler, um die Auflösung
über die gesamte Fokalebene zu maximieren. In der
Praxis kann es für jeden ausgewählten Wert von re wünschenswert
sein, eine gewisse Fokalebenendrehung mittels
der Hilfselektroden zu schaffen oder den Detektor
physikalisch zu drehen.
Damit kann verhindert werden, daß andere Aberrationen
zu groß werden, die die Auflösung verringern.
Als Alternative zur Bewegung eines einzelnen Detektors
zwischen mehreren Positionen können zwei oder mehr Detektoren
an den gewünschten Orten vorgesehen werden. Außerdem
werden Mittel zum Zurückziehen der nicht in Gebrauch
befindlichen Detektoren vorgesehen, um dem Ionenstrahl
den Durchgang durch den ausgewählten Detektor zu ermöglichen.
Claims (11)
1. Doppelfokussierendes Massenspektrometer, bei dem die von
einer Ionenquelle (1) erzeugten Ionen einen magnetischen Analysator
und anschließend einen elektrostatischen Analysator eine Vergrößerung
im wesentlichen des Werts Null aufweist und die Ionen
in einer Fokalfläche fokussiert, in der ein Detektor angeordnet
ist,
dadurch gekennzeichnet,
daß der elektrostatische Analysator eine Vielzahl voin Analysatorsegmenten
umfaßt, die entlang der Flugrichtung der Ionen
durch den elektrostatischen Analysator hintereinanderliegend
angeordnet sind, wobei die Analysatorsegmente mit einer Spannungsversorgungsvorrichtung
verbundene Elektroden
aufweisen und wobei die Elektroden der Analysatorsegmente
mit geeigneten Spannungen durch die Spannungsversorgungsvorrichtung
beaufschlagbar sind zur Veränderung der Dispersion
der durch den elektrostatischen Analysator hindurchtretenden
Ionen.
2. Doppelfokussierendes Massenspektrometer gemäß
Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Detektor
ein Vielkanaldetektor ist.
3. Doppelfokussierendes Massenspektrometer gemäß Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet, daß eine erste Dispersion des elektrostatischen
Analysators (6) festlegbar ist durch Auswahl
eines einzigen Analysatorsegments und Anlegen geeigneter
Potentiale an die Elektroden dieses Analysatorsegments.
4. Doppelfokussierendes Massenspektrometer gemäß Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet, daß eine zweite Dispersion festlegbar
ist durch Auswahl von wenigstens zwei
Analysator-Segmenten
und durch Anlegen
geeigneter Potentiale an die Elektroden dieser Segmente.
5. Doppelfokussierendes Massenspektrometer gemäß Anspruch 1, 2
oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß der elektrostatische Analysator
(6) ein Mittelsegment (13, 18) und ein oder mehrere Paare von
Außensegmenten (12, 14, 17, 19) umfaßt, die so angeordnet
sind, daß sich die Ionen nacheinander durch ein
Außensegment, das Mittelsegment und das andere Außensegment
eines jeden Paares bewegen, und daß das Mittelsegment einen Analysator
mit erster Dispersion bildet und alle Außensegmente
(12, 17 oder 14, 19) in Verbindung mit dem Mittelsegment
einen Analysator
mit einer zweiten Dispersion und einem Sektorwinkel,
der im wesentlichen gleich demjenigen des nur das Mittelsegment
umfassenden Analysators ist, bildet.
6. Doppelfokussierendes Massenspektrometer gemäß Anspruch 5,
dadurch gekennzeichnet, daß wenigstens eines der Segmente
zwei Gruppen (50, 51) von Hilfselektroden
(52), die oberhalb bzw. unterhalb des in das Segment
eintretenden Ionenstrahls angeordnet sind, umfaßt, wobei die
Potentiale der in jeder der Gruppe enthaltenen Hilfselektroden von
einer Hilfselektrode (52) zur nächsten progressiv zunehmen.
7. Doppelfokussierendes Massenspektrometer gemäß Anspruch 6,
dadurch gekennzeichnet, daß die Gruppen (50, 51) von Hilfselektroden
(52) im wesentlichen identisch sind und jede Hilfselektrode in
einer der Gruppen auf demselben Potential wie die Hilfselektrode
in einer entsprechenden Position in der anderen Gruppe
gehalten wird.
8. Doppelfokussierendes Massenspektrometer gemäß Anspruch 7,
dadurch gekennzeichnet, daß jede der Hilfselektroden (52), die in
jeder Gruppe (50, 51) enthalten ist, auf einem Potential VE
gehalten wird, das durch den Polynomausdruck der Form
VE = VM (1+axE+bxE²+cxE³+. . .)gegeben ist, wobei VE das an eine bestimmte Hilfselektrode angelegte
Potential, VM das Potential einer mittleren Hilfselektrode, xE der
Abstand der Elektrode von der Mittelbahn (positiv in der einen
Richtung, negativ in der anderen Richtung) und a, b und c
Konstanten sind.
9. Doppelfokussierendes Massenspektrometer gemäß Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet, daß als Detektor ein ebener Vielkanaldetektor vorgesehen ist und
die Konstanten a, b und c so gewählt
werden, daß sich für wenigstens einen gewählten Wert
der Dispersion eine Ausrichtung der Fokalfläche des elektrostatischen
Analysators mit der Ebene des Vielkanaldetektors
(34) für wenigstens einen wesentlichen Abschnitt der
Länge des Detektors ergibt.
10. Doppelfokussierendes Massenspektrometer gemäß einem der
Ansprüche 6, 7, 8 oder 9, dadurch gekennzeichnet, daß der
elektrostatische Analysator (6) auf wenigstens zwei verschiedene
Dispersionen einstellbar ist, die Gruppen (50, 51)
der Hilfselektroden (52) für wenigstens drei der Segmente vorgesehen
werden und sämtliche Hilfselektroden (52), die in den Gruppen
(50, 51) enthalten sind, auf einem ersten Satz von Potentialen
gehalten werden, wenn eine erste Dispersion gewählt
wird, und auf einem zweiten Satz von Potentialen gehalten
werden, wenn eine zweite Dispersion gewählt wird.
11. Doppelfokussierendes Massenspektrometer gemäß einem der
vorherigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß jedes Segment
zwei im wesentlichen parallele, ebene Hauptelektroden
(13, 18) umfaßt, die von einer Ebene, in der sich die Ionen
bewegen, geschnitten werden,
wobei zwischen den Hauptelektroden eine Potentialdifferenz
aufrechterhalten wird, um dadurch in der Ebene
ein elektrostatisches Feld zu schaffen, das die Ionen entlang
verschiedener gekrümmter Bahnen entsprechend ihrer Energie
ablenken kann, und in dem sämtliche Hauptelektroden auf der
gleichen Seite des Ionenstrahls in einer
gemeinsamen Ebene angeordnet sind.
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: FISONS PLC, IPSWICH, SUFFOLK, GB |
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8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: MICROMASS LTD., WYTHENSHAWE, MANCHESTER, GB |
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D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: MICROMASS UK LTD., MANCHESTER, GB |