SU425244A1 - Ахроматический электростатическийспектрометр с поперечным отклоняющимэлектрическим полем - Google Patents
Ахроматический электростатическийспектрометр с поперечным отклоняющимэлектрическим полемInfo
- Publication number
- SU425244A1 SU425244A1 SU1673525A SU1673525A SU425244A1 SU 425244 A1 SU425244 A1 SU 425244A1 SU 1673525 A SU1673525 A SU 1673525A SU 1673525 A SU1673525 A SU 1673525A SU 425244 A1 SU425244 A1 SU 425244A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- spectrometer
- electrodes
- achromatic
- electric field
- sector
- Prior art date
Links
Landscapes
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
1
Изобретение относитс к тем област м экспериментальной физики и техники, в которых изучаетс и используетс отклонение зар женных частиц, а также исследуютс энергетические спектры потоков зар жеппых частиц в лаборатории и космическом пространстве.
Известны электростатические спектрометры с поперечным отклон ющим электрическим полем , содержащие пару сектор-ных коаксиальных цилиндрических электродов, регистратор зар женных частиц и источник питани . Известны также ахроматические системы, в которых отсутствует радиальна дисперси на выходе, но в которых, кроме электрического пол цилиндрического конденсатора, иснольззетс еще и однородное магнитное поле, направленное вдоль оси цилиндра.
Выделение необходимого интервала энергий .Е/ЕО (EQ - равновесна энерги ) из исследуемого потока в отклон ющих системах обычно производитс как самой отклон ющей системой, так и входным окном регистратора на выходе из отклон ющей системы.
Если радиальный размер ё входного окна регистратора меньше щирины зазора Дг между отклон ющими электродами, то не все частицы , прошедщие через отклон ющую систему , попадут Б регистратор. Это объ сн етс существованием радиальной дисперсии De, из-за которой частицы с разными энерги ми.
наход щимис внутри интервала, пропускаемого отклон ющей системой, выход т из зазора на разных радиальных рассто ни х.
Дисперси но энергии после отклон ющей системы приводит также к тому, что место входа частицы в спектрометр, величина и ориентаци приемного телесного угла спектрометра сильно завис т от энергии частицы из числа энергий, наход щихс внутри всего интервала Е.
Повыщение чувствительности спектрометра путем увеличени доли потока, попадающего в регистратор, в обычных спектрометрах требует уменьщени диснерсии DE или увеличени размера б. Дисперси секторного цилиндрического конденсатора с углом сектора Ф, средним радиусом зазора го (радиус равновесной орбиты) н с АГ/ГО-С равна DE
:..(-)(1-С05|/2Ф).
Уменьщить дисперсию DE можно, уменьщив угол Ф или радиус Гд. Однако, например, в обычных электростатических спектрометрах дл исследовани малоинтенсивных потоков
частиц в присутствии фона, устанавливаемых на космических аппаратах, попытка уменьщени радиуса Го или угла Ф приводит к нежелательным последстви м.
Уменьшение угла Ф влечет за собой возрастание фона от ультрафиолетового излучени Солнца, так как при меньших углах Ф укорачиваетс длина криволинейного зазора, и ультрафиолетовое излучение меньше ослабл етс при многократных отражени х в нем. Уменьшение угла Ф увеличивает также неопределенность угла и места входа потока в зазор . Уменьшение радиуса Го влечет за собой необходимость повышени разности потенциалов между отклон юш,илш электродами дл сохранени максимальной регистрируемой прибором энергии. Уменьшение размера б тоже не всегда возможно . У таких перспективных регистраторов как канальные электронные умножители диаметр самого канала ж мм, установка же входной воронки на канальный умножитель дл увеличени апертуры приводит к необходимости учета зонной характеристики воронки , и, кроме того, увеличивает собственный фон регистратора. Поэтому в обычных спектрометрах нельз увеличить чувствительность, не ухудшив при этом других характеристик прибора. Целью изобретени вл етс повышение чувствительности и пространственной избирательности спектрометра. При этом одновременно увеличиваетс интервал Е и уменьшаетс неопределенность условий входа частиц в зазор по сравнению с обычным электростатическим спектрометром, геометрические параметры которого одинаковы с параметрами предложенного спектрометра. Дл этого отклон юш,ие электроды выполпены в виде трех пар, расположенных последовательно таким образом, что поверхности электродов в соседних парах имеют общие касательные, проведенные через обращенные друг к другу кра электродов, причем электроды , имеющие общую касательную, наход тс с нротивоположных сторон от этой касательной , углы секторов крайних пар равны между собой и св заны с углом сектора средпен пары соотношением Фс Sin /2 Фк 2-COSJ/M)K На фиг. 1 приведена схема спектрометра; на фиг. 2 - схема радиальной фокусировки траекторий частиц разных энергий, а также увеличение энергии Е в предложенном спектрометре в сравнении с известным спектрометром с такими же параметрами Ф и АГ/ГО. Ахроматический электростатический снектрометр содержит крайние 1, 2 и среднюю 3 пары электродов, регистратор 4 и источник питани 5. Спектрометр работает следующим образом. Пары электродов 1, 2, 3 подключаютс к источнику питани 5. На выходе из сектора 2 размещаетс регистратор 4, вход пары электродов 1 облучаетс исследуемым потоком зар женных частиц. Пучок траекторий отклон етс в соседних участках в противоположных направлени х. Сумма длин зазоров равна /-„Ф .:: /-„ (2ФК + Фс). На фиг. 2 приведены траектории частиц с разными энерги ми в координатах ф, р, где ср - угол с вершиной в центре кривизны поверхностей электродов, р - радиальное рассто ние частицы от равновесной орбиты, выраженное в единицах Го. Уравнение траектории в зазоре между обкладками цилиндрического конденсатора дл нерел тивистских энергий и при условии &.г/Го, обычно выполн ющемс в реальных конструкци х спектрометров рассматриваемого типа, имеет вид Р sin Y2f + (c, - 4 1 cos /2f + 4 , где индекс 1 относитс ко входу в зазор. Из (2) видно, что частица в зазоре совершает гармоническое колебание с ам1плитудой f Pi- около стабильной орбиты, радиус которой (). Отклон юща система спектрометра пропускает на выход частицы, траектории которых в нроцессе колебаний не касаютс электродов. , На фиг. 2 жирными сплошными лини ми показаны траектории частиц, которые колеблютс около соответствующих стабильных орбит с энерги ми i, 2,--, макс Р переходе в средний сектор на1правление электрического пол измен етс на противоположное и стабильные орбиты смещаютс под ось абсцисс (см. фиг. 2). Войд в средний сектор, частицы вынуждены продолжить колебани около сместившихс орбит, поэтому наклон траекторий уменьшаетс и становитс равным нулю на угловом рассто нии Фс/2 от начала среднего сектора. В случае, когда длина пр молинейного промежутка между соседними секторами мала по сравнению с зазором Дг и когда р1 р1 0, угол Фс/2 одинаков дл всех энергий в интервале и св зан с углом Фк соотношением (1). В предложенном спектрометре плоскость Ф Фк-|-Фс/2 вл етс плоскостью симметрии отклон ющей системы; траектории справа от этой плоскости будут зеркальными отражени ми траекторий слева от нее. Поэтому частиДы с энерги ми в интервале , вошедшие с рассто ни pi , выйдут из отклон ющей системы при р , что означает радиальную фокусировку по энергии, или отсутствие дисперсии. Суть изобретени состоит в выполнении отклон ющей системы спектрометра в виде трех секторов, расположенных приведенным на фиг. 1 образом, с угловыми размерами их, подобранными в соответствии с соотношением ( 1) так, чтобы траектории частиц, вход щих
с рассто ни pi , имели симметричный вид относительно плоскости ф Фк+Фс/2.
Расчеты, основанные на соотношении (2), и эксперименты с опытным образцом спектрометра показали, что дисперси по энергии в таком спектрометре практически отсутствует и при ()1, PI 0.
На фиг. 2 показан эффект увеличени макс в предложенном спектрометре по сравнению с Емаке в известном спектрометре с одной парой отклон ющих электродов при одинаковых Ф и АГ/ГО. Предельна траектори с макс показана жирной пунктирной линией, соответствуюпда ей стабильна орбита - тонкой пунктирной линией.
В предложенном спектрометре частица с макс в среднем секторе удерживаетс в зазоре из-за смещени ее стабильной орбиты под ось абсцисс, в известном спектрометре така частица попала бы на стенку.
Опытный образец спектрометра имел цилиндрические электроды с Дг/Го 0,05, Го 80 мм, Фк 26°, Фс 38°. Вход облучалс направленным пучком электронов с энергией около 5 кэв при р1 и PJ , близких к нулю. Диаметр пучка на входе в зазоре составл л йО,3 мм, выходной пучок наблюдалс по свечению на экране регистратора, отсто вшего на л;30 мм от выхода из последнего сектора.
Смещение .п тна на экране не
превышало ±0,15 мм в интервале 23%.
Предмет изобретени
Ахроматический электростатический спектрометр с поперечным отклон ющим электрическим нолем, содержащий парные секторные коаксиальные круговые цилиндрические отклон Еощие электроды, регистратор зар женных частиц и источник питани , отличающийс тем, что, с целью повышени чувствительности и пространственной избирательности , отклон ющие электроды выполнены в виде трех пар, расположенных последовательно таким образом, что поверхности электродов в соседних парах имеют общие касательные, проведенные через обращенные друг к другу кра электродов, причем электроды, имеющие общую касательную, наход тс с противоположных сторон от этой касательной, углы секторов крайних пар равны между собой и св заны с углом сектора средней пары соотношением
е sin У2Фк У2 2 - cos /2ФК
где Фк - угол сектора крайней пары, Фс - 30 угол сектора средней пары.
fc/2
f
.2
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1673525A SU425244A1 (ru) | 1971-06-28 | 1971-06-28 | Ахроматический электростатическийспектрометр с поперечным отклоняющимэлектрическим полем |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1673525A SU425244A1 (ru) | 1971-06-28 | 1971-06-28 | Ахроматический электростатическийспектрометр с поперечным отклоняющимэлектрическим полем |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU425244A1 true SU425244A1 (ru) | 1974-04-25 |
Family
ID=20480333
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU1673525A SU425244A1 (ru) | 1971-06-28 | 1971-06-28 | Ахроматический электростатическийспектрометр с поперечным отклоняющимэлектрическим полем |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU425244A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5134287A (en) * | 1988-06-01 | 1992-07-28 | Vg Instruments Group Limited | Double-focussing mass spectrometer |
-
1971
- 1971-06-28 SU SU1673525A patent/SU425244A1/ru active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5134287A (en) * | 1988-06-01 | 1992-07-28 | Vg Instruments Group Limited | Double-focussing mass spectrometer |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3445650A (en) | Double focussing mass spectrometer including a wedge-shaped magnetic sector field | |
US10692710B2 (en) | Frequency modulated radio frequency electric field for ion manipulation | |
Liebl | Design of a combined ion and electron microprobe apparatus | |
SU425244A1 (ru) | Ахроматический электростатическийспектрометр с поперечным отклоняющимэлектрическим полем | |
US3761707A (en) | Stigmatically imaging double focusing mass spectrometer | |
Varga et al. | A distorted field cylindrical mirror electron spectrometer: I. Calculation of the analyzer | |
JPS5829577B2 (ja) | 二重収束質量分析装置 | |
US10438788B2 (en) | System and methodology for expressing ion path in a time-of-flight mass spectrometer | |
Arnow et al. | Reanalysis of the trajectories of electrons in 127 cylindrical spectrometers | |
US3710103A (en) | Planar retarding grid electron spectrometer | |
Su | Multiple reflection type time-of-flight mass spectrometer with two sets of parallel-plate electrostatic fields | |
Murray | A Coaxial Static-Electromagnetic Velocity Spectrometer for High-Energy Particles | |
Leventhal et al. | Study of Calibration, Resolution, and Transmission of Electrostatic Velocity Selector | |
US3213276A (en) | Magnetic analyzing system for a mass spectrometer having bi-directional focusing | |
Steinhardt Jr et al. | X-Ray Photoelectron Spectrometer with Electrostatic Deflection | |
GB1370360A (en) | Charged particle energy analysis | |
Maeda et al. | A New Photoelectron Spectrometer: Combination of Cylindrical Mirror Analyzer with Soft X‐Ray Source | |
JPH0351054B2 (ru) | ||
Ruedenauer | Gas Scattering as a Limit to Trace Sensitivity in Analytical Mass Spectrometers | |
SU1265890A2 (ru) | Энерго-массанализатор | |
SU293504A1 (ru) | Электростатический анализатор заряженных частиц | |
SU516306A1 (ru) | Врем пролетный масс-спектрометр | |
SU828262A1 (ru) | Электростатический анализатор | |
RU2022395C1 (ru) | Электростатический спектрометр заряженных частиц | |
Devlin | OPTIK: An IBM 709 Computer Program for the Optics of High-Energy Particle Beams |