DE3921406C2 - Optische integrierte Schaltung zur Ein- und Auskopplung von Licht - Google Patents

Optische integrierte Schaltung zur Ein- und Auskopplung von Licht

Info

Publication number
DE3921406C2
DE3921406C2 DE3921406A DE3921406A DE3921406C2 DE 3921406 C2 DE3921406 C2 DE 3921406C2 DE 3921406 A DE3921406 A DE 3921406A DE 3921406 A DE3921406 A DE 3921406A DE 3921406 C2 DE3921406 C2 DE 3921406C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
grating
integrated circuit
optical integrated
substrate
grating coupler
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE3921406A
Other languages
English (en)
Other versions
DE3921406A1 (de
Inventor
Atsuko Fukushima
Yasuo Hira
Hidemi Sato
Kazumi Kawamoto
Kenchi Ito
Masataka Shiba
Akira Arimoto
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from JP63159105A external-priority patent/JP2624783B2/ja
Priority claimed from JP1141015A external-priority patent/JP2728502B2/ja
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Publication of DE3921406A1 publication Critical patent/DE3921406A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3921406C2 publication Critical patent/DE3921406C2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/24Coupling light guides
    • G02B6/42Coupling light guides with opto-electronic elements
    • G02B6/4201Packages, e.g. shape, construction, internal or external details
    • G02B6/4246Bidirectionally operating package structures
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/10Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type
    • G02B6/12Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type of the integrated circuit kind
    • G02B6/122Basic optical elements, e.g. light-guiding paths
    • G02B6/124Geodesic lenses or integrated gratings
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/24Coupling light guides
    • G02B6/26Optical coupling means
    • G02B6/34Optical coupling means utilising prism or grating
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/24Coupling light guides
    • G02B6/42Coupling light guides with opto-electronic elements
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/29Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the position or the direction of light beams, i.e. deflection
    • G02F1/33Acousto-optical deflection devices
    • G02F1/335Acousto-optical deflection devices having an optical waveguide structure
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/123Integrated head arrangements, e.g. with source and detectors mounted on the same substrate
    • G11B7/124Integrated head arrangements, e.g. with source and detectors mounted on the same substrate the integrated head arrangements including waveguides
    • G11B7/1245Integrated head arrangements, e.g. with source and detectors mounted on the same substrate the integrated head arrangements including waveguides the waveguides including means for electro-optical or acousto-optical deflection
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/125Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/135Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
    • G11B7/1384Fibre optics

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Optical Couplings Of Light Guides (AREA)
  • Optical Head (AREA)
  • Optical Integrated Circuits (AREA)

Description

Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine optische integrierte Schaltung zur Ein- und Auskopplung von Licht.
Konventionelle, in Bereichen wie der optischen Informationsverarbeitung und bei optischen Übertragungssystemen verwendete optische Komponenten weisen massive Elemente wie Linsen, Prismen und Gitter auf, die mechanisch zusammengebaut werden. Da die genannten optischen Komponenten große Außenabmessungen besitzen, können sie der Forderung nach Größenverkleinerung nicht entsprechen. Weiter sind sie teuer. Weil außerdem der Zusammenbau durch mechanisches Verbinden erfolgt, sind die genannten optischen Komponenten im Langzeitgebrauch nicht betriebssicher, und auch ihre Zuverlässigkeit ist unzureichend. Wegen dieser verschiedenen Probleme ist in den letzten Jahren die Idee einer optischen integrierten Schaltung (optische IC) mit einer Vielzahl von integrierten Einheiten auf einem einzelnen Substrat in die Diskussion gebracht worden, um eine ins Gewicht fallende Reduktion der Abmessungen und der Kosten optischer Komponenten zu erforschen. Dabei umfaßt eine optische IC optische Komponenten, die durch Integration einer Fotodetektorvorrichtung, einer Lichtemissionsvorrichtung, einer Linse des Wellenleitertyps (Dünnfilmtyp) und eines Gitters auf einem einzelnen Substrat erzeugt werden.
Eine der Komponenten des optischen IC ist ein Gitterkoppler, bei dem es sich um ein in einem Lichtleiter gebildetes Wellenleiterbeugungsgitter handelt. Der Gitterkoppler wirkt in der Weise, daß er einen Lichtstrahl auf den Lichtleiter einfallen sowie den Lichtstrahl aus dem Lichtleiter austreten läßt. Der Gitterkoppler ist somit ein Schlüsselelement des optischen IC.
Konkrete Entwurfsverfahren für den vorerwähnten Gitterkoppler werden diskutiert beispielsweise bei: J. H. Harris, et al. "Theory and Design of Periodic Couplers", Appl. Opt., 11, 10 (1972), and T. Tamir and S. T. Peng, "Analysis and Design of Grating Couplers", Appl. Phys., 14, (1977). Was die in einen optischen IC integrierten optischen Komponenten mit Verwendung eines Gitterkopplers anbetrifft, werden Beispiele für deren Anwendung im optischen Kopf von optischen Plattengeräten in den Dokumenten JP-A-61-85641 und JP-A-61-296540 beschrieben.
Aus DE 36 25 327 ist eine lichtelektrische Positionsmeßeinrichtung bekannt, bei der zur Messung der relativen Lage von zwei Objekten zwischen eine feststehende Strahlungsquelle und eine feststehende optisch integrierte Schaltung ein bewegbares Gitter angeordnet ist. Die optisch integrierte Schaltung dieser Positionsmeßeinrichtung hat zwei in Längsrichtung des beweglichen Gitters versetzte Einkoppelgitter, über die vom Gitter gebeugte Teilstrahlenbündel in einen Koppler eingespeist und dort zur Interferenz gebracht werden. Die interferierenden Teilstrahlenbündel werden von den Ausgängen des Kopplers über Lichtwellenleiter den Detektoren zugeführt, die sie in zueinander phasenverschobene elektrische Signals umwandeln. Die Auswertung der Phasenverschiebung dieser elektrischen Signale liefert das Maß der Bewegung des Gitters und damit der Positionsänderung von relativ zueinander verschiebbaren Maschinenbauteilen.
Wenn als Lichtquelle ein Halbleiterlaser benutzt wird, tritt bei Vorrichtungen gemäß dem genannten Stand der Technik das folgende Problem auf. Die Wellenlänge des von einem Halbleiterlaser emittierten Lichts ändert sich typischerweise wegen der Ungleichmäßigkeit der Betriebstemperatur und des Herstellungsverfahrens bei der Fabrikation des Halbleiterlasers. Wenn die ausgesandte Wellenlänge nicht eine einzelne ist, wird der Einfallswinkel, mit dem der Strahl in den Lichtleiter eintreten kann, durch den Gitterkoppler geändert, was das Problem der Verringerung des Wirkungsgrades der Einfallskopplung zur Folge hat. Weiter tritt das Problem auf, daß sich der Strahlungswinkel in der gleichen Weise wie oben beschrieben ändert, wenn ein Gitterkoppler an der Austrittsseite verwendet wird.
Ein Ziel der vorliegenden Erfindung ist es, eine optische integrierte Schaltung zu schaffen, bei der sich die Schaltungseigenschaften nicht sehr verändern und der Wirkungsgrad der Ein- bzw. Auskopplung auch dann hoch ist, wenn sich die Wellenlänge des Laserlichts ändert und/oder wenn ein Mehrmoden-Halbleiterlaser verwendet wird.
Dieses Ziel der vorliegenden Erfindung wird durch Beugung von Laserlicht mit einem eigens zum Zwecke der Aberrationskorrektur vorgesehenen Gitter erreicht. Gemäß einem besonderen Merkmal der vorliegenden Erfindung wird die Gitterperiode des oben beschriebenen Gitters zur Aberrationskorrektur vorzugsweise so festgesetzt, daß sie annähernd die Bragg'sche Bedingung in bezug auf eine bestimmte Wellenlänge des Halbleiterlaserlichtes erfüllt.
Aufgrund der charakteristischen Konfiguration gemäß der vorliegenden Erfindung werden die folgenden betrieblichen Wirkungen erreicht. Im Falle der Änderung der Wellenlänge λ des Halbleiterlaserstrahls von λ (0) nach λ (1) (wobei λ (0)<λ (1), wird eine starke Kopplung des Lichtes an den Lichtleiter nur dann verursacht, wenn der Einfallswinkel α zum Gitterkoppler jeweils α (0) und α (1) entsprechend λ (0) und λ (1) ist. Ist kein Aberrationskorrekturgitter vorhanden, nimmt die Wirksamkeit der Einfallskopplung ab, weil sich der Einfallswinkel zum Gitterkoppler selbst dann nicht ändert, wenn sich die Wellenlänge ändert. Deshalb ist ein Gitter zur Aberrationskorrektur vorhanden, um die Gitterperiode D und den Neigungswinkel δ passend zu machen. Für Strahlen mit Wellenlängen von jeweils λ (0) und λ (1) können daher die Beugungswinkel des Aberrationskorrekturgitters jeweils auf bestimmte spezifische Winkel δ (0) und δ (1) festgesetzt werden. Die Winkel δ (0) und δ (1) brechen an der Übergangsfläche zum Substrat, was Einfallswinkel α (0) und α (1) zum Gitterkoppler zur Folge hat. Auch wenn sich die Wellenlänge des Halbeiterlaserlichtes ändert, können deshalb die Einfallswinkel zum Gitterkoppler auf die Werte α (0) bzw. α (1) entsprechend λ (0) und λ (1) gebracht werden, so daß eine durch die Veränderung der Wellenlänge des Laserstrahls verursachte Verringerung der Wirksamkeit der Einfallskopplung verhindert werden kann. Ferner kann auch eine Aberration, wie die chromatische Aberration, verhindert werden. Um Licht hoher Lichtstärke zu erzielen ist es wichtig, die Größe D so zu definieren, daß das Aberrationskorrekturgitter die Bragg'sche Bedingung in bezug auf mindestens eine Wellenlänge bei Strahlen von λ (0) bis λ (1) befriedigt, weil andernfalls eine Beugung in der Nähe der Bragg'schen Bedingung eintritt.
Im folgenden wird die Erfindung anhand von Ausführungsbeispielen ausführlicher erläutert:
Fig. 1 stellt ein Aufbaudiagramm dar, das eine Ausführungsform eines optischen integrierten Schaltkreises gemäß der vorliegenden Erfindung zeigt.
Fig. 2 stellt eine Schnittansicht durch ein Aberrationskorrekturgitter dar, das in einem optischen integrierten Schaltkreis gemäß der Erfindung verwendet wird.
Fig. 3 stellt eine Schnittansicht eines anderen Aberrationskorrekturgitters dar, das in einem optischen integrierten Schaltkreis gemäß der vorliegenden Erfindung verwendet wird.
Fig. 4 bis 6 zeigen eine zweite Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Dabei stellt Fig. 4 eine Schrägansicht eines optischen integrierten Schaltkreises mit Fokussierungseinrichtung in hybrider Form, Fig. 5 eine Schrägansicht eines linearen orthogonalen Koordinatensystems zur Erläuterung der Ausführungsform und Fig. 6 eine Schrägansicht zur Veranschaulichung eines Lichtablenkungseffektes dar, der durch einen optischen Deflektor bewirkt wird.
Fig. 7a und 7b zeigen eine dritte Ausführungsform der vorliegenden Erfindung, bei der es sich um eine optische integrierte Schaltung handelt, die eine Kombination eines Gitterkopplers und einer Fresnel-Linse umfaßt. Dabei stellt Fig. 7a eine Schnittansicht der dritten Ausführungsform, und Fig. 7b eine Draufsicht auf die dritte Ausführungsform dar.
Fig. 8 bis 11 veranschaulichen eine vierte Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Dabei zeigt Fig. 8 eine Schnittansicht eines Eingangsgitterkopplers, der eine rechteckige Gitterform besitzt. Fig. 9 stellt eine Schnittansicht eines Eingangsgitterkopplers mit einer gezackten Gitterform dar. Fig. 10 stellt eine Schnittansicht eines Austrittsgitterkopplers dar, der eine rechteckige Gitterform besitzt. Fig. 11 stellt eine Schnittansicht eines Ausgangsgitterkopplers dar, der eine gezackte Gitterform besitzt.
Bevorzugte Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung werden nun unter Bezugnahme auf die Zeichnungen genauer beschrieben.
Bezugnehmend auf Fig. 1 werden als Substrat 1 LiNbO₃-Kristalle verwendet. In der Nähe einer Oberfläche des Substrates werden ein Lichtleiter 2 und ein Gitterkoppler 3 mit einem Brechungsindex geformt, der etwas größer als derjenige des Substrates ist. Anschließend werden parallele Glasblöcke 5 und 5′ so geformt, daß ein von einem Halbleiterlaser emittierter Strahl auf das Substrat 1 einfällt. Ein Gitter 6 zur Korrektur der Aberration wird zwischen die Glasblöcke 5 und 5′ eingefügt.
Nachfolgend wird die Betriebsweise der in Fig. 1 dargestellten optischen integrierten Schaltung gemäß der Erfindung beschrieben. Gemäß Fig. 1 ist der Gitterkoppler 3 ein Beugungsgitter mit geradlinigen gleichmäßigen Formen. Ein Einfallswinkel α des auf den Gitterkoppler 3 einfallenden Laserstrahls steht mit der Gitterteilung Λ des Gitters, dem effektiven Brechungsindex N des Lichtleiters 2, dem Brechungsindex ns des Substrates 1 und der Wellenlänge λ des Halbleiterlasers 4 wie folgt in Beziehung:
Gemäß dieser Beziehung ist der Einfallswinkel α einzig in bezug auf die Wellenlänge λ definiert. Gemäß der vorliegenden Erfindung ist daher das Aberrationskorrekturgitter 6 dazu bestimmt, die Verringerung der Wirksamkeit der Einfallskopplung zu vermeiden, selbst dann, wenn sich die Wellenlänge des Halbleiterlasers 4 ändert. Das bedeutet, daß die Gitterperiode d und der Einfallswinkel δ des Aberrationskorrekturgitters 6 passend gemacht werden, wenn sich die Wellenlänge des Halbleiterlasers 4 von λ (0) nach λ (1) verändert hat (wobei λ (0)<λ (1) ist). Infolgedessen können die Beugungswinkel des Aberrationsgitters 6 in bezug auf Strahlen mit Wellenlängen von jeweils λ (0) und λ (1) auf jeweils spezifische Winkel γ (0) und γ (1) festgesetzt werden. Selbst wenn sich die Wellenlänge des Halbleiterlasers 4 ändert, können die Einfallswinkel des Gitterkopplers den Werten von α (0) bzw. α (1) entsprechend λ (0) und λ (1) gleichgemacht werden. Es ist somit möglich, das Absinken des Wirkungsgrades der Einfallskopplung sowie die Aberration, wie etwa die chromatische Aberration, zu vermeiden, die durch eine Veränderung der Wellenlänge des Laserlichtes verursacht wird. Im folgenden werden konkrete Beispiele für die Gitterperiode d und den Einfallswinkel δ des Aberrationskorrekturgitters beschrieben.
Zuerst wird an d die Bedingung gestellt, die Gleichungen (2) und (3) so zu erfüllen, daß Licht mit der Wellenlänge λ (0) durch das Aberrationskorrekturgitter 6 gemäß der Bragg'schen Bedingung oder im engen Bereich der Bragg'schen Bedingung gebeugt wird:
darin bedeutet:
β (0) = der Einfalls-(Eingangs)-Winkel in bezug auf das Beugungsgitter bei Wellenlänge λ (0)
γ (0) = der Strahlungs-(Ausgangs)-Winkel in bezug auf das Beugungsgitter bei Wellenlänge λ (0).
Zusätzlich ist d so gewählt, daß es die Gleichung (4) erfüllt, so daß Licht mit einer Wellenlänge λ (1) im engen Bereich der Bragg'schen Bedingung gebeugt wird:
darin bedeutet:
β (1) = der Einfallswinkel in bezug auf das Beugungsgitter bei Wellenlänge λ (1) (β (0)=β (1))
γ (1) = der Strahlungswinkel in bezug auf das Beugungsgitter bei Wellenlänge λ (1).
Weiter sind die Größen d, δ und R so definiert, daß die nachfolgenden Gleichungen (5) bis (12) befriedigt werden:
darin bedeutet:
α₀ (0) = der Einfallswinkel zum Gitterkoppler, bei λ (0)
α₀ (1) = der Einfallswinkel zum Gitterkoppler, bei λ (1)
α₁ (0) = der Brechungswinkel vom Glasblock zum Substrat, bei λ (0)
α₁ (1) = der Brechungswinkel vom Glasblock zum Substrat, bei λ (1)
α₂ (0) = der Einfallswinkel zum Substrat, bei λ (0)
α₂ (1) = der Einfallswinkel zum Substrat, bei λ (1)
Λ = die Gitterperiode des Gitterkopplers
d = die Gitterperiode des Aberrationskorrekturgitters
R = der Schnittwinkel der Endfläche des Substrates
δ = der Neigungswinkel des Aberrationskorrekturgitters 6
m = der Ordnungsgrad der durch das Aberrationskorrekturgitter bewirkten Beugung, das auf -1 eingestellt ist
N = der effektive Brechungsindex des Lichtleiters 2
ns = der Brechungsindex des Substrates 1
np = der Brechungsindex des Glasblocks.
Fig. 2 zeigt eine bevorzugte Querschnittsform des Aberrationskorrekturgitters 6 gemäß der vorliegenden Erfindung. Zur Erzielung gebeugten Lichtes hoher Lichtstärke ist es wünschenswert, ein Beugungsgitter mit einer Form zu verwenden, die die bereits beschriebene Bragg'sche Bedingung erfüllt.
Nachfolgend wird ein konkretes Beispiel eines Beugungsgitters beschrieben, das die genannte Bedingung erfüllt. Es wird ein Halbleiterlaser mit λ (0) äquivalent 0,78 µm und λ (1) äquivalent 0,776 µm verwendet. Auf einem Ti-Diffusionslichtleiter mit LiNbO₃-Kristallen mit ns=2,2 und N=2,209 wird ein Gitterkoppler mit Λ=4 µm gebildet. Ein aus BK-7 mit np=1,45 bestehender Glasblock wird fest an eine Endseite gefügt, auf die ein Hauptlaserstrahl einfällt. Im vorliegenden Falle nehmen R, δ und d jeweils annähernd die Werte 56°, 100° und 1,6 µm an. Obwohl im vorliegenden Falle die Einfallswinkel der Strahlen in bezug auf das Beugungsgitter mit jeweils λ (0) und λ (1) untereinander äquivalent sind, beträgt der Unterschied des Strahlungs-(Ausgang)-Winkels ungefähr 0,1°. In diesem Falle erreicht der Wirkungsgrad des gebeugten Strahles (d. h., des vom Aberrationskorrekturgitters 6 ausgesandten Strahles) 90% oder mehr, wenn T annähernd 11 µm ist.
Nachfolgend wird ein Beispiel für ein Aberrationskorrekturgitter 6 beschrieben. Als Substrat wird das BK-7-Glas 8 benutzt. Auf dem Glas wird eine SiO₂-Schicht 9 mit einer Dicke von annähernd 11 µm unter Anwendung einer Filmerzeugungsmethode, wie z. B. der CVD-Methode, aufgebracht. Die SiO₂-Schicht wird durch Einsatz der Fotolithographie feinbearbeitet, um eine vorherbestimmte Form zu erzielen. Die Glasblöcke 5 und 5′ aus BK-7 sowie das oben beschriebene Beugungsgitter 6 werden dann durch ein Bindemittel, das einen Beugungsindex besitzt, der demjenigen des BK-7 nahezu äquivalent ist, fest miteinander verbunden. Auf der beschriebenen SiO₂-Schicht 9 mit dem Bindemittel wird eine periodische Struktur erzeugt, die als Aberrationsgitter 6 dient.
Wie im Falle der Form des bei der vorliegenden Erfindung verwendeten Beugungsgitters kann ein Beugungsgitter des Reflexionstyps mit einem wie in Fig. 3 gezeigten Reflexionsfilm 10 anstelle des Beugungsgitters vom Transmissionstyp nach Fig. 1 und 2 verwendet werden.
Zu den Materialien, aus denen die oben beschriebene optische integrierte Schaltung aufgebaut ist, gehören Quarz, ein SiO₂-Glassubstrat, ein dielektrisches Kristallsubstrat, ein Lichtleiter aus SiO₂-Glas und ein Metalldiffusionslichtleiter. Zu den Baustoffen für die Vorrichtungen 3 und 3′ gehören Chalcogenglas, TiO₂, ZnO und ZnS. Aufbaumaterialien für das Aberrationskorrekturgitter 6 umfassen SiO₂-Glas und eine Polymermasse. Zu den Aufbaumaterialien für den Glasblock 10 gehört SiO₂-Glas. Im allgemeinen können die üblichen, zur Herstellung optischer Vorrichtungen, Lichtleiter und optischer Dünnfilmvorrichtungen benutzte Materialien verwendet werden. Die aus diesen Materialien hergestellten Vorrichtungen können auch mit der in der Halbleiterherstellung verwendeten Lithographie- und Vakuumtechnik bearbeitet werden. Weiter kann der oben beschriebene, als optische integrierte Schaltung ausgeführte optische Kopf als optischer Kopf für einen Laserstrahldrucker verwendet werden.
Fig. 4 zeigt eine zweite Ausführungsform der vorliegenden Erfindung.
In Fig. 4 bezeichnen die Bezugszeichen: 1 - ein Substrat aus einem Dielektrikum oder aus Glas; 2 - einen Lichtleiter, der auf einer ersten Hauptebene des Substrates 1 mit einem höheren Brechungsindex als demjenigen des Substrates 1 gebildet ist; 3′ - ein Gitterkoppler, der auf dem Lichtleiter mit geradlinigen gleichmäßigen Gitterformen gebildet ist; 7 - ein geführter Lichtstrahl, der sich innerhalb des Lichtleiters 2 ausbreitet; 14 - eine Linse zum Fokussieren des vom Substrat ausgesandten Strahles; und 21 - ein Fokussierungspunkt (im folgenden der Einfachheit halber als Brennpunkt bezeichnet) des ausgesandten Strahles, erzeugt durch die Linse. Der geführte Strahl 7 muß parallel gerichtete Strahlen umfassen.
Es sei nun angenommen, daß die Wellenlänge des von der Lichtquelle emittierten Laserstrahls den Wert λ, der effektive Brechungsindex des Lichtleiters 2 in bezug auf den geführten Strahl 7 den Wert N; der Brechungsindex des Substrates 1 den Wert ns und die Periode des linearen, gleichförmigen Gitterkopplers 3′ den Wert λ besitzen. Um unter Verwendung des Gitterkopplers 3′ einen m-ten Strahl auf das Substrat in einer Richtung auszusenden, die einen Winkel R mit einer Substratoberfläche einschließt, muß die folgende Bedingung erfüllt werden:
Als gebeugter Strahl wird im allgemeinen ein (-1)-ter Strahl verwendet.
Falls die Vorschrift:
zusätzlich zur Bedingungsgleichung (13) erfüllt ist, wird der geführte Strahl nur in die Substratrichtung gesandt und nicht in die Luft, woraus sich ein hoher Wirkungsgrad ergibt.
Nunmehr sei angenommen, daß m=-1 und R=30° ist, so daß die Gitterperiode Λ durch die folgende Formel bestimmt ist:
Beispielshalber wird nun angenommen, daß als Substrat 1 der Stoff LiNbO₃ mit ns=2,177 benutzt wird, während der Lichtleiter durch thermische Diffusion von Ti so hergestellt wird, daß er die Beziehung N=2,187 erfüllt. Wird weiter angenommen, daß als Lichtquelle ein Halbleiterlaser mit λ=0,78 µm benutzt wird, so folgt, daß Λ=2,59 µm ist, so daß die optische integrierte Schaltung infolgedessen in befriedigender Weise unter Verwendung der fotolithographischen Technik hergestellt werden kann.
Da hier auch die Bedingung (14) erfüllt wird, kann der geführte Strahl tatsächlich nur in der Substratrichtung ausgesandt werden.
Als weiteres Beispiel wird nunmehr angenommen, daß als Substrat 1 Pyrexglas mit ns=1,472 verwendet wird und daß Corning-7059-Glas als Lichtleiter 2 mit einem Brechungsindex von 1,544 durch Aufstäuben in Form eines Filmes so hergestellt wird, daß die Beziehung N 1,520 erfüllt wird. Wird ferner angenommen, daß auch in diesem Fall ein Halbleiterlaser mit λ=0,78 µm als Lichtquelle benutzt wird, ergibt sich, daß Λ=3,18 µm wird und die optische integrierte Schaltung infolgedessen in befriedigender Weise ebenfalls durch Anwendung der fotolithographischen Technik hergestellt werden kann. Da weiter die Bedingung (14) ebenfalls befriedigt wird, kann der geführte Strahl effektiv nur in die Substratrichtung gesandt werden.
Wie oben beschrieben, kann bei optischen integrierten Schaltungen gemäß der vorliegenden Erfindung im Vergleich zu Schaltungen des Standes der Technik eine große Wirkung erzielt werden.
Im folgenden werden Aberrationen beschrieben, die bei der obengenannten Wellenlängenabweichung Δλ des Laserstrahls, der Abweichung ΔN des effektiven Brechungsindexes und der Abweichung δ des Laserstrahls von der optischen Achse auftreten.
Es wird angenommen, daß in einem linksorientierten linearen orthogonalen Koordinatensystem die Z-Achse in die Ausbreitungsrichtung des erhaltenen Strahles fällt, wenn δ=0 ist, wie in Fig. 5 dargestellt. Weiter ist angenommen, daß ein weiteres linksgerichtetes lineares orthogonales Koordinatensystem den Ausstrahlungs-(Ausgangs)-Punkt des Strahles zum Ursprungspunkt hat und daß die Z′-Achse in diejenige Richtung fällt, in der Strahl bei δ=0 gesandt wird. Die Ursprungspunkte beider Koordinatensysteme werden in einem einzigen Punkt zusammengebracht. Weiter schließen die Z-Achse und die Z′-Achse einen Winkel R ein.
Zunächst gilt, daß wenn parallel einfallende Strahlen in eine von der Z-Achse um einen Winkel δ abweichende Richtung einfallen, die Phasenanpassungsbedingung im xyz-System dargestellt wird durch:
darin ist k₀=2Π/λ, und Px, Py und Pz sind Komponenten des Strahlungsvektors im xyz-System. Da die Vektoren des xyz-Systems und des x′y′z′-Systems miteinander durch die Transformation:
gekoppelt sind, wird der Strahlungsvektor in x′y′z′-System dargestellt durch:
Es sei nun angenommen, daß die Richtung des ausgesandten Strahles und die Z′-Achse einen Winkel Φ für den Fall einschließen, daß als Substrat das obengenannte LiNbO₃ benutzt wird und daß die Näherungsbeziehung |δ|≈Φ im Bereich |δ|<0,01 rad gilt. Ferner wird als Ergebnis der Brechung an der Grenzfläche zwischen Substrat und Luft die Beziehung Φ≈2|δ| für Luft als zutreffend angenommen. Das bedeutet, daß der geführte Strahl in einer gegen die Z′-Achse um fast 2δ geneigten Richtung als Parallelstrahlbündel ausgesandt wird.
Wenn als fokussierende Linse 14 eine herkömmliche Linse für optische Aufnehmer verwendet wird, besitzt der ausgesandte Strahl Parallelstrahlen. Falls δ, wie oben beschrieben, genügend klein ist, wird die Aberration so klein, daß kaum ein Problem auftritt.
Unter der Voraussetzung, daß die Brennweite einer Linse beispielsweise 3 mm beträgt, verschiebt sich der Brennpunkt 21 um etwa 30 µm, wenn δ≈0,01 ist. Durch positive Ablenkung des geführten Strahles 7 mit Hilfe von SAW (akustische Oberflächenwellen), die im optischen SAW-Deflektor 15 angeregt werden, kann somit die Zugangs- und Spurverfolgungskorrektur mehrerer Spuren durchgeführt werden, wie in Fig. 6 gezeigt ist.
Dadurch, daß die Form des Gitterkopplers linear ausgebildet wird, wie oben beschrieben, ist es möglich, ein Aufnehmer-Objektivlinsensystem aufzubauen, das durch die Ablenkung des geführten Strahles 7 nicht signifikant von der optischen Achse Z beeinträchtigt wird.
Andererseits wird, wenn eine Abweichung ΔN des effektiven Brechungsindexes und eine Wellenlängenabweichung der Laserlichtquelle eintritt, die Richtung des ausgesandten Strahles in der xz (x′z′)-Ebene um einen Winkel ΔR abgelenkt. Der ausgesandte Strahl besitzt aber Parallelstrahlen. Ihre Stärke wird annähernd durch die folgende Gleichung dargestellt:
Wenn ΔN oder Δλ im vorerwähnten Falle, bei dem LiNbO₃ als Substrat verwendet wird, einzeln auftreten, ergibt sich:
ΔR ∼ -0,92 ΔN rad
ΔR ∼ 0,35 Δλ rad. (20)
Unter angemessener Berücksichtigung des Brechungseffektes wird die Beziehung |Δ|<0,01 rad in einem Bereich erfüllt, der dargestellt werden kann, durch:
| ΔN | ≦ 5,0 × 10-3
| Δλ | ≦ 1,3 × 10-2 µm (21)
Diese Werte sind im Vergleich zu denen des Standes der Technik ausreichend groß.
Bei der oben beschriebenen optischen integrierten Schaltung gemäß der vorliegenden Erfindung wird im Gitterkoppler ein Beugungsgitter mit geradlinigen Formen verwendet. Auch wenn Δλ, ΔN und δ relativ große Werte besitzen, weist der ausgesandte Strahl Parallelstrahlen auf. Wenn als Aufnehmer eine Hochleistungsobjektivlinse verwendet wird, kann daher eine entstehende Aberration verringert werden.
Fig. 7 zeigt eine optische integrierte Schaltung, die eine dritte Ausführungsform der vorliegenden Erfindung darstellt. Dabei gibt Fig. 7a eine Schnittansicht und Fig. 7b eine Draufsicht wieder.
In den Fig. 7a und 7b kennzeichnet das Bezugszeichen 1 ein Substrat, das ein optisches Material, wie etwa niobsaures Lithium (LiNbO₃), mit einem Brechungsindex von 2,177 aufweist. Das Bezugszeichen 2 kennzeichnet einen Lichtleiter mit einem Brechungsindex, der größer als derjenige des Substrates ist. Im vorliegenden Beispiel wurde Titan in der Dampfphase auf das LiNbO₃ aufgebracht und durch Wärme, zur Bildung eines Lichtleiters, in einer Dicke von ungefähr 1,5 µm eindefundiert. Das Bezugszeichen 3′ kennzeichnet einen Gitterkoppler, der so auf dem Lichtleiter ausgebildet ist, daß er geradlinige gleichförmige Formen besitzt. Der Gitterkoppler 3′ besteht aus einem optischen Material mit einem Brechungsindex, der größer als derjenige des Lichtleiters ist. Im vorliegenden Falle wurde eine Titaniumoxidschicht (TiO₂) mit einem Brechungsindex von 2,4 auf dem Lichtleiter aufgebracht. Mit Hilfe einer ein Muster bildenden lithographischen Technik wurde ein geradliniger Gitterkoppler mit einer Periode von 2,59 µm über eine Länge von 4 mm in Lichtausbreitungsrichtung hergestellt. Das Bezugszeichen 22 kennzeichnet Linsen, die auf dem Lichtleiter an der Vorderseite des Brechungsgitters 3′ angeordnet sind. Im vorliegenden Falle wurde auf dem Lichtleiter mit Hilfe der üblichen Technik eine Fresnel-Linse vom Transmissionstyp mit einer Apertur von ungefähr 2 mm angebracht. Die Apertur der Linse ist gleich groß oder größer als die Breite des geführten Strahles. Wenn auch als Linse eine Massivlinse verwendet werden kann, wird die Fresnel-Linse im Hinblick auf die Integration der Linse mit dem Substrat und die Erzielung einer kompakten Konfiguration bevorzugt. Das Bezugszeichen 23 kennzeichnet eine Substratendfläche, die poliert ist und einen Reflektionsflächenschnitt unter einem Winkel von 30°, bezogen auf die Substratoberfläche, besitzt. Dieser Neigungswinkel ist genau so groß wie der Strahlungs(Ausgangs)-Winkel des geführten Strahles 7 gewählt. Das Bezugszeichen 21 kennzeichnet einen Brennpunkt f des Lichtes. Der in Fig. 7b dargestellte geführte Strahl 7 umfaßt gebündelte parallelgerichtete Strahlen.
Im folgenden werden die Dicke des das Brechungsgitter bildenden Titaniumoxyds (TiO₂) sowie die Brennlänge f und die Apertur D der Fresnel-Linse im einzelnen beschrieben. Wenn als Objektivlinse eine Fresnel-Linse verwendet wird, muß die numerische Apertur NA annähernd gleich 0,5 gewählt werden. Die wahre numerische Apertur dieser Linse hängt von der numerischen Apertur des Beugungsgitters ab. Es sei nun angenommen, daß die Aperturlänge des Beugungsgitters in der x-Richtung die Größe Lx und die Aperturlänge des Beugungsgitters in der y-Richtung die Größe Ly besitzt, wie in Fig. 7b dargestellt ist. Wenn der vom Beugungsgitter ausgesandte Strahl in eine Richtung gesandt wird, die einen Winkel R in bezug auf die Oberfläche des Substrats 1 bildet, beträgt die Fläche des auf die Fresnel-Linse 22 einfallenden Strahlenbündels LxcosR×Ly. Unter der Annahme, daß R=30° und f=2 mm ist, wie beispielsweise im Falle der vorliegenden Ausführungsform, müssen die Bedingungen Lx=2,30 mm, Ly=1,15 mm erfüllt werden. Um in diesem Falle alle Strahlenbündel abzudecken, muß die Apertur D der Fresnel-Linse die folgende Beziehung erfüllen:
Der Strahl wird vom Gitterkoppler 3′ in der x-Achsrichtung mit einer Amplitude ausgesandt, die abhängig ist von exp(-ªx), wobei ª als Strahlungsverlustkoeffizient bezeichnet wird. Um die numerische Apertur zu verwirklichen, muß die Bedingung ªLx<1 erfüllt werden. Im Falle des obigen Beispiels ergibt sich, daß:
Der Wert von ª hängt vom Brechungsindex und der Dicke des Substrates 1, des Lichtleiters 2 und des Gitterkopplers 3′ ab. Wenn LiNbO₃ mit einem Brechungsindex ns=2,177 und der Lichtleiter 2 mit einem Brechungsindex N=2,187 verwendet werden, und wenn TIO₂ mit einem Brechungsindex ns=2,4 als Füllschichtmaterial des Gitterkopplers verwendet wird, wird das Verhältnis ª≈0,4 dadurch erfüllt, daß die Dicke von TiO₂ annähernd der Dicke 30 nm äquivalent gemacht wird.
Zurückkehrend zur Beschreibung der optischen integrierten Schaltung gemäß den Fig. 7a und 7b sollen nun die Parameter der entsprechenden optischen Systeme beschrieben werden.
Es wird jetzt angenommen, daß die Wellenlänge des Laserstrahls der Lichtquelle (in den Fig. 7a und 7b nicht dargestellt) den Wert λ, der effektive Brechungsindex des Lichtleiters 2 den Wert N, der Brechungsindex des Substrates 1 den Wert ns und die Periode des linearen gleichförmigen Gitterkopplers 3′ den Wert Λ besitzt.
In der Annahme, daß die Einfallsrichtung des vom Gitterkoppler 3′ ausgesandten Strahles und die Richtung der Normalen der polierten Fläche 23 der Substratendseite einen Winkel Φ einschließen, tritt totale Reflexion ein, sofern gilt:
ns sinΦ<1 (22)
Die vorliegende Ausführungsform der Erfindung fällt in den durch den Ausdruck (22) dargestellten Totalreflexionsbereich, weil ns=2,177 und Φ=30° ist.
Es sei nun angenommen, daß die Brennweite der Fresnel-Linse 22 den Wert f besitzt und daß ein Koordinatensystem den Mittelpunkt der Fresnel-Linse als ihren Ursprungspunkt besitzt, wie in Fig. 7b dargestellt ist. Der Ausdruck für die Form der Fresnel-Linse wird durch die nachfolgende Formel wiedergegeben:
(wobei m′ ganzzahlig ist).
Da die vorliegende Fresnel-Linse in bezug auf die optische Achse achssymmetrisch gestaltet ist, hat der geringste Aberrationsgrad den Wert 3. Wie bei Meier, J. Opt. Sco. Amer., Vol. 55, Nr. 8 (1965, S. 987-992) dargestellt ist, wird die Aberrationsfunktion der dritten Wellenfront wie folgt formuliert:
Die Funktion ist unter Verwendung der Beziehungen x=rcosR, y=rsinR in Polarkoordinaten dargestellt worden. Weiter bedeutet λ′ die Wellenlänge der tatsächlichen Lichtquelle.
Nimmt man eine Aberration fünfter oder höherer Ordnung als genügend klein an und vernachlässigt sie bei der vorliegenden Ausführungsform der Erfindung, können zulässige obere Grenzwerte von Δn, Δλ und δ abgeleitet werden, die die Marechal-Bedingung erfüllen. Das heißt, daß die oberen Grenzwerte von |Δn|, |Δλ| und |δ| wie folgt dargestellt werden:
Wenn man die oben angegebenen Werte des Standes der Technik mit dem Ausdruck (25) vergleicht, stellt man fest, daß die oberen Grenzwerte der vorliegenden Erfindung, dargestellt durch den Ausdruck (25), im Vergleich zum Gitterkoppler des Standes der Technik mit fokussierender Funktion erheblich weniger streng sind. Im Vergleich zum fokussierenden Gitterkoppler des hybriden Typs, der eine konventionelle fokussierende Massivlinse verwendet, liegt der Ausdruck (25) bei |Δn| etwas niedriger, ist aber im Falle von |δ| und |Δλ| besser. Wenn im Ausdruck (25) der Wert |Δλ| zugelassen wird, ist die tatsächliche Wellenlängenveränderung bis zu ±4 nm erlaubt, falls ein Halbleiterlaser mit einer Wellenlänge von λ=0,78 µm verwendet wird, was ein praktikabler Wert ist. Auch in bezug auf |Δn| beträgt die tatsächliche Veränderung des effektiven Brechungsindexes 0,0035, wenn LiNbO₃ mit Brechungsindex ns=2,177 als Substrat verwendet wird und wenn die geführte Welle 7 mit einem effektiven Brechungsindex N=2,187 benutzt wird. Da der Veränderungswert im üblichen Herstellungsverfahren wie etwa der thermischen Diffusion und der Filmbildung ausreichend gesteuert werden kann, ergibt sich kein Problem.
Die Fig. 8 bis 11 zeigen eine vierte Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Wie weiter oben beschrieben, wird hier ein auf dem Lichtleiter gebildetes Wellenleitergitter als Gitterkoppler benutzt, um einen Halbleiterlaserstrahl auf den Wellenleiter einfallen zu lassen. Als Baumaterial für den Gitterkoppler kann ein Dielektrikum wie TiO₂, SiO₂ oder Si-N verwendet werden. Alternativ kann der Lichtleiter selbst so bearbeitet werden, daß er Nuten aufweist. Der Querschnitt des Gitterkopplers kann, wie in Fig. 8 gezeigt, rechteckig sein. In diesem Falle entsteht jedoch das Problem, daß der Wirkungsgrad der Einfallskopplung des Halbleiterlaserstrahls in bezug auf den Lichtleiter abnimmt, wenn das Verhältnis der Gitterbreite Λa bei der in Fig. 8 dargestellten Gitterteilung Λ zur Breite Λb eines Bereichs, in welchem kein Gitter ist, d. h. Λa/Λb, von Eins abweicht. Eine Möglichkeit zur Lösung dieses Problems bietet die Methode, den Gitterkoppler mit einer gezackten Querschnittsform auszustatten. Das Wort "auszacken" bedeutet, daß die Querschnittsform der Gitterteilung nahezu dreieckig gemacht wird. Das bevorzugteste Dreieck ist das rechtwinklige Dreieck (Fig. 9). Es sei nun angenommen, daß der durch das rechtwinklige Dreieck in bezug auf die Eintrittsfläche des Lichtleiters gebildete Winkel ein gezackter Winkel ªBA ist. Dann ist es wünschenswert, daß ªBA ein Winkel ist, der folgende Beziehung befriedigt:
N cosαBA = ns (sinA₀sinαBA + cosA₀cosαBA) (27)
darin ist:
ªBA = der gezackte Winkel des Gitterkopplers
A₀ = der Einfallswinkel des Laserstrahls zum Gitterkoppler
N = der effektive Brechungsindex des Lichtleiters
ns = der Brechungsindex des Substrats der optischen integrierten Schaltung.
Dann wird die Beziehung zwischen Λ und A₀ dargestellt durch die Gleichung:
Durch Bestimmen von Λ und der Wellenlänge λ (0) des Halbleiterlaserstrahls ist A₀ definiert, so daß ªBA aus der Gleichung (27) ermittelt wird. Um konkret zu sein sei bemerkt, daß ªBA annähernd 14° wird, wenn Λ=3 µm, λ (0)=0,78 µm, N=2,209 und ns=2,2 ist. Ein gezackter Gitterkoppler kann typischerweise durch Anwendung der Ionenmahltechnik (ion milling technique) und durch schräges Auftreffenlassen von Ionen auf ein Substrat zur Bildung einer optischen integrierten Schaltung erzeugt werden. Das Auftreten von Fabrikationsfehlern bei einem gezackten Gitter hängt bei der Ionenmahltechnik vom Einfallswinkel der Ionen ab. Selbst wenn ªBA die Gleichung (27) nicht vollständig erfüllt, tritt der Effekt auf. Wenn der Wirkungsgrad der Einfallskopplung eines Gitterkopplers mit rechteckigen Formen beispielsweise gleich Eins gemacht wird, steigert die Zackenbildung den Einfallswirkungsgrad um das Zweifache oder mehr. Auch wenn der Fehler von ªBA bei ±10% liegt, wird der Einfallswirkungsgrad nur um annähernd 10% verringert.
Der oben beschriebene Effekt der Zackenbildung beim Eingangsgitterkoppler für Lichtleiter erweist sich auch im Falle eines Gitterkopplers von Vorteil, der zum Beugen oder Einleiten eines Strahls aus dem Lichtleiter in das Substrat dient. In Fig. 10 ist ein Gitterkoppler mit rechteckigen Formen dargestellt. Bei Anwendung eines Gitterkopplers mit gezackten Formen, wie in Fig. 11 dargestellt, wird der Wirkungsgrad der Beugung oder Einstrahlung in das Substrat bedeutend verbessert. In diesem Falle wird der optimale Zackungswinkel ª′BA durch folgende Gleichung dargestellt:
N cosα′BA = ns(sinα₀sinα′BA + cosα₀cosα′BA) (29)
darin ist:
a₀ = der Strahlungswinkel oder der Beugungswinkel eines Laserstrahls aus dem Gitterkoppler.
Die Beziehung zwischen der Gitterperiode Λ′ des Gitterkopplers und ª₀ wird durch die Gleichung (30) dargestellt. Durch Festsetzen von Λ′ und der Wellenlänge λ (0) des Halbleiterlaserstrahls ist ª′BA definiert:
Im allgemeinen sind die oben angegebenen Größen Λ und Λ′ einander äquivalent. Daher werden auch die Größen ªBA und ª′BA einander äquivalent. Im Falle eines Gitterkopplers mit rechteckigen Formen können die Beziehungen zwischen dem Ausbreitungsvektor des geführten Strahls, dem Ausbreitungsvektor des gebeugten Strahls und dem Gittervektor des Gitterkopplers die Bragg'sche Bedingung nicht vollständig erfüllen. Da somit ein gebeugter Strahl höherer Ordnung (±2 oder höher) erzeugt wird, wird kein Gitterkoppler mit hohem Wirkungsgrad erzielt. Andererseits wird Beugung typischerweise nur in der Nähe der Bragg'schen Bedingung durch Zackenbildung des Querschnitts der Gitterkopplers ausgelöst. In diesem Falle wird das Entstehen gebeugter Strahlen höherer Ordnung verhindert, so daß der Wirkungsgrad des Gitterkopplers auf annähernd das Zweifache gesteigert wird. Ein passender typischer Wert für ª′BA liegt bei annähernd 14°. In gleicher Weise wie beim im beschriebenen Falle der Größe ªBA wird der Effekt jedoch nicht signifikant verringert, selbst wenn die Herstellungsgenauigkeit um ungefähr ±2° schwankt. Wie vorher beschrieben, ist es möglich, den Einfallswirkungsgrad und den Wirkungsgrad der Strahlungskopplung durch Anbringen von Zacken am Gitterkoppler beträchtlich zu steigern. Die Bildung von Zacken am Gitterkoppler berührt nicht das bei den vorausgehenden Ausführungsformen offenbarte Gitter zur Aberrationskorrektur.

Claims (10)

1. Optische integrierte Schaltung mit einem Halbleiterlaser (4) zur Einkopplung eines Laserstrahls in einen auf einem Substrat (1) angeordneten Wellenleiter (2) mit Hilfe eines Gitterkopplers (3), wobei zur Verringerung von Aberration ein Aberrationskorrekturgitter (6) zwischen den Eingang der Schaltung und den Gitterkoppler (3) geschaltet ist.
2. Optische integrierte Schaltung zur Auskopplung eines Laserstrahles aus einem auf einem Substrat (1) angeordneten Wellenleiter (2) mit Hilfe eines Gitterkopplers (3), wobei zur Verringerung von Aberration ein Aberrationskorrektursignal (6′) zwischen den Gitterkoppler (3) und den Ausgang der Schaltung geschaltet ist.
3. Optische integrierte Schaltung, auf der eine optische integrierte Schaltung gemäß Anspruch 1 und eine optische integrierte Schaltung gemäß Anspruch 2 integriert sind.
4. Optische integrierte Schaltung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, die folgende Stoffe aufweist:
SiO₂-Glas, das als Substrat (1) für das Aberrationskorrekturgitter (6, 6′) dient,
SiO₂-Glas und eine Polymermasse, die als Herstellungsmaterial für den Gitterkoppler (3) benutzt werden.
5. Optische integrierte Schaltung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, welche umfaßt:
ein Substrat (1), das Lithiumniobatkristall (LiNbO₃) aufweist; und
einen Protonenaustausch-Lichtleiter (2), der derart auf der Oberfläche des Substrates (1) ausgebildet ist, daß er durch Austausch eines Teils der Lithiumionen innerhalb des Substrates (1) gegen Protonen einen höheren Brechungsindex als das Substrat (1) besitzt, wobei er eine Zusammensetzung gemäß der Formel HxLi₁-xNbO₃ besitzt, und das Substitutionsverhältnis x der Lithiumionen zu den Protonen gemäß der Beziehung 0,4<x<0,55 erfüllt ist.
6. Optische integrierte Schaltung nach Anspruch 1, bei der ein vom Halbleiterlaser (4) ausgesandter Strahl auf einen auf dem Lichtleiter (2) gebildeten Gitterkoppler (3) einfällt und in Form paralleler Strahlen an den Lichtleiter (2) angekoppelt wird.
7. Optische integrierte Schaltung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei das Aberrationskorrekturgitter (6) eine Gitterperiode besitzt, die die Bragg'sche Bedingung in bezug auf einen Strahl mit einer einzelnen Wellenlänge in einem Bereich von λ (0) bis λ (1) erfüllt, wobei der Halbleiterlaserstrahl eine Wellenlängenverteilung von λ (0) bis λ (1) aufweist.
8. Optische integrierte Schaltung nach Anspruch 7, bei der das Aberrationskorrekturgitter (6) eine Gitterperiode besitzt, die die Bragg'sche Bedingung in bezug auf einen Strahl mit einer Wellenlänge von [λ (0)+λ (1)]/2 erfüllt, wenn die Wellenlänge des vom Halbleiterlaser (4) ausgesandten Strahles über einen Bereich von λ (0) bis λ (1) verteilt ist.
9. Optische integrierte Schaltung nach Anspruch 1 bis 3, bei der der Gitterkoppler (3) gezackte Querschnittsformen besitzt.
10. Optische integrierte Schaltung gemäß Anspruch 9, bei der der Zackenwinkel des gezackten Gitterkopplers (3) folgende Beziehung näherungsweise erfüllt: Ncosα BA = ns(sinA₀sina BA + cosA₀cosα BA)darin ist:
α BA = der Zackenwinkel des Gitterkopplers (3)
A₀ = der Winkel zwischen dem Laserstrahl und dem Gitterkoppler (3)
N = der effektive Brechungsindex des Lichtleiters (2)
ns = der Brechungsindex des Substrates (1) der optischen integrierten Schaltung.
DE3921406A 1988-06-29 1989-06-29 Optische integrierte Schaltung zur Ein- und Auskopplung von Licht Expired - Fee Related DE3921406C2 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63159105A JP2624783B2 (ja) 1988-06-29 1988-06-29 光集積回路
JP1141015A JP2728502B2 (ja) 1989-06-05 1989-06-05 光集積回路及び光学装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3921406A1 DE3921406A1 (de) 1990-01-04
DE3921406C2 true DE3921406C2 (de) 1994-04-28

Family

ID=26473362

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE3921406A Expired - Fee Related DE3921406C2 (de) 1988-06-29 1989-06-29 Optische integrierte Schaltung zur Ein- und Auskopplung von Licht

Country Status (2)

Country Link
US (1) US5070488A (de)
DE (1) DE3921406C2 (de)

Families Citing this family (69)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5224082A (en) * 1988-02-26 1993-06-29 Fujitsu Limited Method for detecting tracking error in optical disk system and its optical system devices thereof
US5114513A (en) * 1988-10-27 1992-05-19 Omron Tateisi Electronics Co. Optical device and manufacturing method thereof
US5317551A (en) * 1990-07-16 1994-05-31 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optical disk head including a light path having a thickness and width greater than the light beam wavelength by a predetermined amount
US5164930A (en) * 1990-07-25 1992-11-17 Pioneer Electronic Corporation Optical pickup
US5247506A (en) * 1990-07-25 1993-09-21 Pioneer Electronic Corporation Optical pickup for reproducing information from an optical information storage medium
JPH04174404A (ja) * 1990-11-07 1992-06-22 Pioneer Electron Corp 偏光ビームスプリッタ
JP3131994B2 (ja) * 1990-11-07 2001-02-05 パイオニア株式会社 記録情報読取装置
TW198114B (de) * 1991-04-23 1993-01-11 Philips Nv
US5204516A (en) * 1991-04-23 1993-04-20 U.S. Philips Corporation Planar optical scanning head having deficiency-correcting grating
JP2807589B2 (ja) * 1992-02-13 1998-10-08 シャープ株式会社 光源ユニット及び該光源ユニットを使用した光学ヘッド
US5278812A (en) * 1992-02-18 1994-01-11 At&T Bell Laboratories Tracking and focussing functions in optical disk apparatus
JPH0667046A (ja) * 1992-08-21 1994-03-11 Sharp Corp 光集積回路
US5276745A (en) * 1992-10-15 1994-01-04 Eastman Kodak Company Integrated optic read/write head for optical data storage incorporating second harmonic generator, electro-optic tracking error actuator, and electro-optic modulator
KR0137125B1 (ko) * 1992-11-16 1998-06-15 모리시타 요이찌 광도파로소자와 그 제조방법
US5453961A (en) * 1993-01-15 1995-09-26 Eastman Kodak Company Pick-up device for optical disk readout using waveguide gratings
US6072607A (en) * 1993-10-15 2000-06-06 Sanyo Electric Co., Ltd. Optical pickup device
DE69409215T2 (de) * 1993-12-06 1998-07-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd Hybrid Magnetstruktur und deren Herstellungsverfahren
US6064783A (en) * 1994-05-25 2000-05-16 Congdon; Philip A. Integrated laser and coupled waveguide
IT1273563B (it) * 1995-04-14 1997-07-08 Pirelli Cavi Spa Dispositivo acusto-ottico in guida d'onda di selezione in lunghezza d'onda
JP2716000B2 (ja) * 1995-06-23 1998-02-18 日本電気株式会社 光ヘッド
KR0166232B1 (ko) * 1995-11-27 1999-03-20 배순훈 초소형 광 픽-업장치
KR0166233B1 (ko) * 1995-11-27 1999-03-20 배순훈 초소형 듀얼 포커스 광 픽-업장치
US5673208A (en) * 1996-04-11 1997-09-30 Micron Technology, Inc. Focus spot detection method and system
US6487016B1 (en) * 1997-08-26 2002-11-26 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optical head
US6236773B1 (en) 1998-12-15 2001-05-22 Texas Instruments Incorporated Single wavelength semiconductor laser with grating-assisted dielectric waveguide coupler
US6341118B1 (en) 1998-06-02 2002-01-22 Science Applications International Corporation Multiple channel scanning device using oversampling and image processing to increase throughput
US6584052B1 (en) 1998-06-02 2003-06-24 Science Applications International Corporation Method and apparatus for controlling the focus of a read/write head for an optical scanner
US6246658B1 (en) 1998-06-02 2001-06-12 Science Applications International Corporation Multiple channel scanning device using optoelectronic switching
US6091067A (en) * 1998-06-02 2000-07-18 Science Applications International Corporation Scanning device using fiber optic bimorph
US6137105A (en) 1998-06-02 2000-10-24 Science Applications International Corporation Multiple parallel source scanning device
US6166756A (en) * 1998-06-02 2000-12-26 Science Applications International Corporation Multiple channel data writing device
US6185355B1 (en) * 1998-09-01 2001-02-06 Henry H. Hung Process for making high yield, DC stable proton exchanged waveguide for active integrated optic devices
DE10039374A1 (de) * 2000-08-11 2002-02-21 Eml Europ Media Lab Gmbh Holographischer Datenspeicher
DE10039372C2 (de) * 2000-08-11 2003-05-15 Tesa Scribos Gmbh Holographischer Datenspeicher
US6490393B1 (en) * 2000-11-27 2002-12-03 Advanced Interfaces, Llc Integrated optical multiplexer and demultiplexer for wavelength division transmission of information
US7050675B2 (en) * 2000-11-27 2006-05-23 Advanced Interfaces, Llc Integrated optical multiplexer and demultiplexer for wavelength division transmission of information
US6596239B2 (en) * 2000-12-12 2003-07-22 Edc Biosystems, Inc. Acoustically mediated fluid transfer methods and uses thereof
DE20021834U1 (de) * 2000-12-22 2001-03-15 Schleifring Und App Bau Gmbh Vorrichtung zur Lichteinkopplung in eine lichtleitende Schicht innerhalb einer hybrid aufgebauten elektrisch-optischen Leiterplatte
WO2002078141A1 (en) * 2001-03-22 2002-10-03 Infinite Photonics, Inc. Shaped top terminal
DE10128902A1 (de) 2001-06-15 2003-10-16 Tesa Scribos Gmbh Holographischer Datenspeicher
US20030053753A1 (en) * 2001-09-19 2003-03-20 Agere Systems Inc. Optical device having a grated coupler and a method of manufacture therefor
WO2003026086A1 (en) * 2001-09-20 2003-03-27 University Of Alabama At Birmingham Research Foundation MID-IR MICROCHIP LASER: ZnS:Cr2+ LASER WITH SATURABLE ABSORBER MATERIAL
US6976639B2 (en) 2001-10-29 2005-12-20 Edc Biosystems, Inc. Apparatus and method for droplet steering
US6925856B1 (en) 2001-11-07 2005-08-09 Edc Biosystems, Inc. Non-contact techniques for measuring viscosity and surface tension information of a liquid
US20040114642A1 (en) * 2002-03-22 2004-06-17 Bullington Jeff A. Laser diode with output fiber feedback
US7194016B2 (en) 2002-03-22 2007-03-20 The Research Foundation Of The University Of Central Florida Laser-to-fiber coupling
US7189497B2 (en) * 2002-07-24 2007-03-13 Intel Corporation Method for writing a planar waveguide having gratings of different center wavelengths
KR100480786B1 (ko) * 2002-09-02 2005-04-07 삼성전자주식회사 커플러를 가지는 집적형 광 헤드
FR2844887B1 (fr) * 2002-09-20 2005-01-07 Groupe Ecoles Telecomm PROCEDE DE FABRICATION D'UN RESEAU DE BRAGG PAR ECHANGE PROTONIQUE SUR GUIDE D'ONDE Ti:LiNbO3
US20040112978A1 (en) 2002-12-19 2004-06-17 Reichel Charles A. Apparatus for high-throughput non-contact liquid transfer and uses thereof
US7275807B2 (en) 2002-11-27 2007-10-02 Edc Biosystems, Inc. Wave guide with isolated coupling interface
CN1902639A (zh) * 2003-11-10 2007-01-24 科技创新有限责任公司 数字成像组合件及其方法
US7580336B2 (en) 2004-12-08 2009-08-25 Electronics And Telecommunications Research Institute Optical head having a beam input/output coupler on a planar waveguide
US7672213B2 (en) * 2006-03-02 2010-03-02 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Optical print head using a glass arm waveguide
US7949217B2 (en) * 2008-05-01 2011-05-24 Fujitsu Limited Selectively enhancing angular beam deflection
JP4479860B2 (ja) * 2008-08-08 2010-06-09 コニカミノルタオプト株式会社 光記録ヘッド及び光記録装置
DE102009004117A1 (de) * 2009-01-08 2010-07-15 Osram Gesellschaft mit beschränkter Haftung Projektionsmodul
JP5710499B2 (ja) * 2009-01-09 2015-04-30 ヒューレット−パッカード デベロップメント カンパニー エル.ピー.Hewlett‐Packard Development Company, L.P. ポイントツーポイント通信用の光学エンジン
FR2948775B1 (fr) * 2009-07-31 2011-12-02 Horiba Jobin Yvon Sas Systeme optique planaire d'imagerie polychromatique a large champ de vision
US8577193B2 (en) * 2011-02-03 2013-11-05 Seagate Technology Llc Grating assisted surface emitter laser coupling for heat assisted magnetic recording
US10209445B2 (en) 2012-07-30 2019-02-19 Hewlett Packard Enterprise Development Lp Method of fabricating a compact photonics platform
KR20150037863A (ko) * 2012-07-30 2015-04-08 휴렛-팩커드 디벨롭먼트 컴퍼니, 엘.피. 소형 포토닉 플랫폼
TWI572912B (zh) * 2012-12-17 2017-03-01 鴻海精密工業股份有限公司 光調變器
TWI557454B (zh) * 2012-12-27 2016-11-11 鴻海精密工業股份有限公司 光調變器
TW201441721A (zh) * 2013-04-25 2014-11-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 電光調製器
US9791622B2 (en) * 2013-09-12 2017-10-17 Oclaro Japan, Inc. Optical semiconductor resonator, optical semiconductor device, and optical module
US10976508B2 (en) * 2015-01-30 2021-04-13 Hewlett Packard Enterprise Development Lp Optical modules
US10921525B2 (en) * 2018-11-30 2021-02-16 Mitsubishi Electric Research Laboratories, Inc. Grating coupler and integrated grating coupler system
US10788632B2 (en) 2019-01-29 2020-09-29 Google Llc Device and method for coupling laser to a photonic integrated circuit

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4435041A (en) * 1982-05-28 1984-03-06 Sperry Corporation Chromatic aberration correction in a multiwavelength light beam deflection system
JPS6129650A (ja) * 1984-07-23 1986-02-10 松下電器産業株式会社 浴室用ヒ−トポンプ
US4737946A (en) * 1984-09-03 1988-04-12 Omron Tateisi Electronics Co. Device for processing optical data with improved optical allignment means
JP2629168B2 (ja) * 1984-10-01 1997-07-09 三菱電機株式会社 光学式ヘツド装置
DE3534776A1 (de) * 1984-10-01 1986-04-10 Mitsubishi Denki K.K., Tokio/Tokyo Kopfanordnung fuer eine optische scheibe
US4779259A (en) * 1985-04-25 1988-10-18 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Optical head assembly with efficient light source coupling surface and method of construction
JPS6289250A (ja) * 1985-10-16 1987-04-23 Fuji Photo Film Co Ltd 光デイスク用ピツクアツプ
DE3625327C1 (de) * 1986-07-26 1988-02-18 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Lichtelektrische Positionsmesseinrichtung
EP0259832A3 (en) * 1986-09-09 1989-03-15 Hitachi, Ltd. Optical head
US4842969A (en) * 1986-12-06 1989-06-27 Kuraray Company, Ltd. Transmittance modulation photomask, process for producing the same, and process for producing diffraction gratings using the same
JPH01180504A (ja) * 1988-01-13 1989-07-18 Hitachi Ltd 光集積回路

Also Published As

Publication number Publication date
US5070488A (en) 1991-12-03
DE3921406A1 (de) 1990-01-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3921406C2 (de) Optische integrierte Schaltung zur Ein- und Auskopplung von Licht
DE69128045T2 (de) Vor Umwelteinflüssen geschützte integrierte optische Komponente und Verfahren zu ihrer Herstellung
DE68917785T2 (de) Laserlichtquelle für den sichtbaren Bereich.
DE68918764T2 (de) Wellenlängenmultiplexermodul.
DE69218386T2 (de) Optische Einrichtung und mit einer solchen optischen Einrichtung versehenes Gerät zum Abtasten einer Informationsebene
EP0188764B1 (de) Optische Anordnung mit einem Konkavspiegel oder Konkavgitter
DE69133431T2 (de) Verfahren zur herstellung eines brechungsindexgitters in einem optischen wellenleiter
DE60314706T2 (de) Drahtgitter-Polarisator
DE68905757T2 (de) Integrierte optikvorrichtung zur messung des brechungsindex einer fluessigkeit.
DE3855532T2 (de) Polarisierendes optisches Element und Einrichtung unter Benutzung desselben
DE3942385B4 (de) Beugungsgitter-Verschiebungsmeßgerät
WO1988009917A1 (fr) Procede de modulation optique et de mesure
DE19533591A1 (de) Optisches Beugungselement
EP0053324A2 (de) Optisches Verzweigungsglied
EP0212438A2 (de) Reflexionsbeugungsgitter mit hohem Wirkungsgrad
EP1262752A2 (de) Faser-Polarimeter, dessen Verwendung sowie polarimetrisches Verfahren
DE68925809T2 (de) Optische Wellenlängenkonverter-Einrichtung
DE102007033567A1 (de) Phasenschiebe-Einrichtung und Laserresonator zur Erzeugung radial oder azimutal polarisierter Laserstrahlung
DE68918072T2 (de) Eine Methode zum Betrieben eines optischen Wellenlängenkonverters.
DE69101393T2 (de) Kodierer.
DE69721150T2 (de) Optische abtasteinrichtung und optisches element dafür
DE69114769T2 (de) Polarisierendes Diffraktionselement und dieses Element verwendender Polarisationsdetektor.
DE10146006A1 (de) Verfahren zur Temperaturkompensation einer optischen WDM-Komponente sowie optische WDM-Komponente mit Temperaturkompensation
EP0773458B1 (de) Auflicht-Phasengitter
DE60115966T2 (de) Optische filter, ihre herstellungsverfahren und ihre anwendung für ein multiplexsystem

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee