DE3827959A1 - Testgeraet zur funktionspruefung von elektroischen bausteinen - Google Patents
Testgeraet zur funktionspruefung von elektroischen bausteinenInfo
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4108594A1 (de) * | 1990-03-16 | 1991-10-10 | Teradyne Inc | Einrichtung zur schnellen verarbeitung von fehlerinformation fuer ein schaltungspruefgeraet |
DE4101950A1 (de) * | 1991-01-21 | 1992-07-23 | Bally Wulff Automaten Gmbh | Anordnung zur pfadansteuerung in einem service-baum bei muenzspielautomaten |
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