DE3823928C2

DE3823928C2 -

Info

Publication number: DE3823928C2
Application number: DE19883823928
Authority: DE
Inventors: Dieter Dipl.-Ing. 7500 Karlsruhe De Laeuger
Original assignee: Siemens AG
Current assignee: Siemens AG
Priority date: 1987-07-15
Filing date: 1988-07-14
Publication date: 1990-06-13
Also published as: DE3823928A1

Description

Technisches Gebiet

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Feststellung von Geometriedaten bei der elektrischen Prüfung von Leiterplatten nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1 und eine Anordnung zur Durch führung des Verfahrens nach dem Oberbegriff des Anspruchs 2.

Stand der Technik

Bei der Feststellung und Verwertung von Geometriedaten (Null punkt, Abstand, Kontur) der Prüfpunkte auf einer Leiterplatte wird beispielsweise durch Antippen eines Prüfpunktes auf einem Grundadapter mit Hilfe einer Tastspitze zunächst ein Nullpunkt festgelegt. Das Ausmessen der Daten kann beispielsweise durch Lineale mit Rasterteilung erfolgen. Diese Daten werden dann in den Prüfrechner eingegeben, der somit einen Bezugspunkt für die Geometrie der Leiterplatte besitzt.

Es ist eine Anordnung aus der DE 29 20 226 A1 bekannt, die einen prüflingsspezifischen Zwischenadapter zwischen dem Prüf ling und dem Grundraster zur optimalen Kontaktierung der not wendigen Prüfpunkte aufweist.

Darstellung der Erfindung

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren der eingangs genannten Art so fortzubilden, daß eine einfache und schnelle Ermittlung der Geometriedaten der Prüfpunkte durchführbar ist sowie eine Anordnung zur Durch führung des Verfahrens zu schaffen.

Zur Lösung dieser Aufgabe weist ein Verfahren der eingangs angegebenen Art die Merkmale des Kennzeichens des Anspruchs 1 und eine Anordnung zur Durchführung des Verfahrens die Merk male des Kennzeichens des Anspruchs 2 auf.

Bei der erfindungsgemäßen Anordnung wird in vorteilhafter Weise eine einfache und trotzdem genaue Feststellung eines Nullpunkts im Prüfsystem durch die Anbringung einer Bohrung mit einer Adapternadel ermöglicht. Der Ort dieser Adapternadel kann mit einfachen Mitteln in einer Lernphase des Prüfsystems ermittelt werden.

Kurze Beschreibung der Figuren

Die Erfindung wird anhand der Figuren erläutert, wobei

Fig. 1 einen Querschnitt durch ein Adaptersystem eines Prüf automaten mit einem prüflingsspezifischen Zwischen adapter,

Fig. 2 eine Draufsicht auf einen Grundadapter,

Fig. 3 eine Draufsicht auf einen Grundadapter mit mehreren verschiedenen Prüflingen,

Fig. 4 eine weitere Draufsicht auf einen Grundadapter mit mehreren gleichen Prüflingen und

Fig. 5 ein Verdrahtungsschaubild des Adapters zeigt.

Bester Weg zur Ausführung der Erfindung

In der Fig. 1 ist ein Adaptersystem für einen Prüfling P dar gestellt, das eine Andruckeinheit AE, einen prüflingsspezifi schen Zwischenadapter ZA mit Prüfnadeln N und ein Grundraster GA mit Kontaktanschlüssen KA auf einer Kontaktfläche KF auf weist. Die Verbindungen von den Kontaktanschlüssen KA zu dem hier nicht dargestellten Prüfautomaten werden über Verbindungs leitungen V hergestellt.

Die Fig. 2 zeigt dieselbe Anordnung wie Fig. 1 in der Drauf sicht, es ist hier darüber hinaus eine Nullpunktnadel NO vor handen, die den Nullpunkt (Bezugspunkt) für die Geometriedaten des Prüflings P, bezogen auf den Nullpunkt des Grundrasters, definiert.

Der prüflingsspezifische Zwischenadapter ZA weist somit an der Prüflingskoordinate X = O/Y = O eine Bohrung für die Null punktnadel NO auf. Der Ort dieses Nullpunktes auf dem Grund adapter kann in einer Lernphase beim Abtasten (Lernen) der Prüflingsverdrahtung festgestellt werden.

Eine erste Möglichkeit besteht darin, daß außer der Nullpunkt nadel NO eine weitere Nadel vorhanden ist, die in einem Bereich liegt, der als Nullpunkt nicht in Frage kommt. Mit Hilfe einer Kurzschlußplatte werden die Punkte detektiert und somit gelernt und z. B. als Nullpunktkonstante in ein zu erzeugendes Prüf programm übernommen.

Eine weitere Möglichkeit besteht darin, daß statt der zusätz lichen Nadel eine Tastspitze verwendet wird, was nur bei einer besseren Zugänglichkeit des Prüflings möglich ist.

Außerdem besteht die Möglichkeit, daß die Nullpunktnadel NO durch eine elektrische Verbindung mit einem bestimmten bekann ten Punkt des Schaltfeldes verbunden und damit definiert ist. Dieser Schaltfeldpunkt kann beispielsweise durch eine Bediener eingabe am Rechner festgelegt werden.

Zum Feststellen des Nullpunktes ist bei allen Ausführungsbei spielen je eine separate Lernphase erforderlich. Bei der ersten Ausführungsform muß außerdem der Adapter in zwei Schritten be stückt werden, oder es muß eine prüflingsspezifische Isolier folie verwendet werden.

Bei der dritten Ausführungsform ist kein zusätzlicher Lernlauf erforderlich, da durch die Verbindung der Nullpunktnadel mit einem bekannten Schaltfeldpunkt der Nullpunktanschluß eindeutig im gelernten Prüfprogramm festliegt.

Der somit ermittelte Nullpunkt liegt in der Regel in prüfauto matenspezifischen Adressen vor. Bei bekannter Zuordnung der An schlüsse des Prüfautomaten zum Grundadapter GA, die eine Voraus setzung für eine Fehlerlokalisierung ist, können aus der X/Y- Koordinate des Prüflingsnullpunktes, bezogen auf den Nullpunkt des Grundadapters GA, durch Koordinatentransformation z. B. Fehleradressen, bezogen auf den Prüflingsnullpunkt, ermittelt werden.

Das Verfahren ist vorteilhaft anwendbar bei mehreren Prüflingen P 1, P 2, P 3 auf dem Grundadapter GA gemäß Fig. 3. Pro Prüfling P 1, P 2, P 3 muß eine Nullpunktnadel NO vorhanden sein. Bei mehreren gleichen oder verschiedenen Prüflingen P 1, P 2, P 3 auf dem Adaptersystem kann nach dem gleichen Verfahren die Kontur eines Prüflings, z. B. durch ein Polygon, mit Konturnadeln KN "abgesteckt" werden. Fehleradressen können so eindeutig dem jeweiligen Prüfling zugeordnet werden, ohne daß zusätzliche Angaben im Prüfprogramm zu machen sind. Die Kontur muß in der Regel für jeden Prüfling auf dem Adapter separat gelernt werden.

Bei einer Prüfung von mehreren gleichen Prüflingen P auf einer gemeinsamen Leiterplatte gemäß Fig. 4 kann vorausgesetzt wer den, daß die Prüflingsabstände gleich sind. Es können daher aus einer Vielzahl von Prüflingen nur einmal die Geometriedaten ge lernt und mit Hilfe eines Programmes auf die anderen Bilder um gerechnet werden. Voraussetzung ist hier weiterhin, daß der Zwischenadapter für jeden einzelnen Prüfling identisch aufge baut ist.

Durch die Reihenfolge der Nullpunktnadeln NO ergibt sich die Prüflingsreihenfolge, und aus der Lage der Nullpunktnadeln NO ergibt sich der Abstand der Prüflinge.

Liegt der Prüflingsnullpunkt auf der Zentrierbohrung der zu prüfenden Platte, so muß die Nullpunktnadel NO versetzt ange ordnet werden. Durch Eingabe eines Korrekturwertes kann der Nullpunktversatz berücksichtigt werden.

Eine vorteilhafte Anwendung ergibt sich hier bei hängendem Grundadapter, wo eine Kontaktierung mit Tastspitze praktisch nicht mehr möglich ist, sowie bei Prüfungen, bei denen eben falls die Zugänglichkeit mit einer Tastspitze stark einge schränkt ist (Prüflinge ohne Bohrungen und bei beidseitiger Kontaktierung).

Bei Nadeln NO mit elektrischer Verbindung zum Schaltfeld des Prüfautomaten kann eine separate Lernphase erfolgen, wenn diese Verbindungen in einem bestimmten Schaltfeldbereich zusammenge faßt werden. So ist es möglich, die Nullpunktverbindungen in einem separaten Prüfprogrammabschnitt zusammenzufassen, was die Auswertung erheblich erleichtert.

Bei der Prüfung von mehreren Prüflingen auf dem Adaptersystem kann durch die Reihenfolge der Anschlüsse die Reihenfolge der Prüflinge festgelegt werden. Die Nullpunktnadel NO sollte sinnvollerweise außerhalb des Prüflings P liegen, wobei zu beachten ist, daß sich für die Koordinaten des Prüflings posi tive Werte ergeben. Durch eine Angabe einer Lagekennung und Nullpunkt-Offset läßt sich hier auf einfache Weise eine Koordi natentransformation durchführen.

In der Fig. 5 ist eine schematische Darstellung der Zuordnung der Prüfautomatenadressen zum Schaltfeld des Prüfautomaten, zum Grundadapter GA im X-, Y-Koordinatensystem, bezogen auf den Nullpunkt des Grundadapters, sowie zum Zwischenadapter ZA an gegeben.

Technische Anwendung

Die Erfindung ist vor allem bei der Fertigung und Prüfung von Leiterplatten für elektronische Geräte anwendbar.

Claims

1. Verfahren zur Feststellung von Geometriedaten bei der elektrischen Prüfung von Leiterplatten, bei dem

- die Geometriedaten eines Prüflings (P) und/oder des Grund adapters (GA) eines Prüfautomaten mit Hilfe eines Bezugs punktes ermittelt und im Prüfautomaten ausgewertet werden,

dadurch gekennzeichnet, daß

- auf einem prüflingsspezifischen Zwischenadapter (ZA) Null punktnadeln (NO) zur Festlegung eines Nullpunktes, der als Bezugs punkt dient herangezogen werden und daß
- in einer Lernphase die Lage des Nullpunktes und die Geometrie daten ermittelt werden.

2. Anordnung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1 mit

- einer Andruckeinheit (AE), mit der der Prüfling (P) angedrückt wird,
- einem prüflingsspezifischen Zwischenadapter (ZA), der Prüf nadeln (N) zur Kontaktierung der Prüfpunkte auf dem Prüfling (P) trägt, und
- einem Grundadapter (GA), der Kontaktanschlüsse (KA) aufweist, über die eine elektrische Verbindung der Prüfnadeln (N) zur Verbindungsleitung (V) eines Prüfautomaten herstellbar ist,

dadurch gekennzeichnet, daß

- für jeden auf dem Grundadapter (GA) vorhandenen Prüfling (P) eine separate Nullpunktnadel (NO) und/oder Konturnadel vor handen ist.