DE3822905A1 - Josephson-tunnelelement mi metalloxidischem supraleitermaterial und verfahren zur herstellung des elements - Google Patents
Josephson-tunnelelement mi metalloxidischem supraleitermaterial und verfahren zur herstellung des elementsInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Josephson-Tunnelelement mit
sandwichartigem Schichtaufbau auf einer Flachseite eines Sub
strates, welches Element
- - eine als Basiselektrode dienende Schicht aus einem metall oxidischen Supraleitermaterial mit vorbestimmter Kristall struktur in einer ersten Ebene,
- - eine als Gegenelektrode dienende Schicht aus dem Supraleiter material mit der vorbestimmten Kristallstruktur in einer weiteren, zu der ersten Ebene parallelen Ebene
sowie
- - eine zwischen den Elektrodenschichten angeordnete, als Tunnelbarriere wirkende Sperrschicht, die aus einem metall oxidischen, nicht-supraleitenden Material mit einer an die Kristallstruktur des Supraleitermaterials angepaßten Kri stallstruktur besteht,
enthält.
Die Erfindung betrifft ferner ein Verfahren zur Herstellung
eines solchen Josephson-Tunnelelementes. Ein entsprechendes
Element mit den genannten Merkmalen sowie ein Verfahren zu
dessen Herstellung sind aus der US-PS 43 16 785 bekannt.
Josephson-Tunnelelemente mit sandwichartigem Aufbau stellen
einen besonderen Typ von Josephson-Elementen dar. Sie ent
halten im allgemeinen eine schichtförmige Basiselektrode aus
supraleitendem Material, auf der eine dünne Sperrschicht aus
einem isolierenden, halbleitenden oder normalleitenden Material
aufgebracht ist. Diese Sperrschicht bildet eine Tunnelbarriere
zwischen der Basiselektrode und einer auf der Sperrschicht
abgeschiedenen Gegenelektrode, die ebenfalls aus supraleitendem
Material besteht. Die Tunnelbarrierenschicht stellt dabei in
bekannter Weise ein sogenanntes "Weak Link", d. h. eine Zone
schwacher Kopplung zwischen den Elektrodenschichten dar (vgl.
z. B. "Proc. IEEE", Vol. 61, No. 1, Jan. 1973, Seiten 36 bis
45).
Einen entsprechenden Aufbau weist auch das aus der eingangs ge
nannten US-PS zu entnehmende Josephson-Tunnelelement auf. Als
Material der beiden Elektroden dieses Elementes dient das su
praleitende Material BaPb1 - x Bi x O3 (mit 0,05 × 0,3) mit
perowskitartiger Kristallstruktur und einer Sprungtemperatur T c
von etwa 13 K. Die Tunnelbarrierenschicht besteht dabei aus
einem nicht-supraleitenden Material, das ebenfalls eine ent
sprechende perowskitartige Kristallstruktur aufweist. Damit
sind in dem Element mechanische Spannungen bei Temperaturwech
seln zu unterbinden.
Seit supraleitende Metalloxidverbindungen mit hohen Sprung
temperaturen T c von insbesondere über 80 K bekannt sind, die
deshalb mit flüssigem Stickstoff gekühlt werden können, ist man
bestrebt, Josephson-Tunnelelemente aus entsprechenden Metall
oxidverbindungen herzustellen. Ein bekanntes Stoffsystem für
diese Metalloxidverbindung ist vom Typ Mel-Me2-Cu-O, wobei die
Komponenten Mel ein Seltenes Erdmetall oder Y und Me2 ein Erd
alkalimetall zumindest enthalten. Filme bzw. dünne Schichten
aus diesen Metalloxidverbindungen werden vielfach mit
speziellen Bedampfungs- oder Sputterprozessen hergestellt. Da
bei wird im allgemeinen auf einem geeigneten Substrat zunächst
ein polykristallines oder amorphes Vorprodukt mit den Kompo
nenten des gewählten Stoffsystems abgeschieden, wobei der
Sauerstoffgehalt und damit die gewünschte supraleitende Hoch-
T c -Phase noch nicht exakt eingestellt sind. Dieses Vorprodukt
wird anschließend mittels einer Wärme- und Sauerstoffbehand
lung in das Material mit der gewünschten supraleitenden Phase
überführt.
Die so zu erhaltenden supraleitenden Metalloxidphasen, deren
Kristallstrukturen ähnlich der eines Perowskites sein können,
haben im Falle von YBa2Cu3O7 - x (mit O< × <0,5) eine ortho
rhombische Struktur (vgl. z. B. "Europhysics Letters", Vol. 3,
No. 12, 15. 6. 1987, Seiten 1301 bis 1307). Ihre Sprungtempera
tur T c liegt bei etwa 90 K. Da die diese supraleitenden Phasen
aufweisenden Materialien den Oxidkeramiken zuzurechnen sind,
werden die entsprechenden Hoch-T c-Supraleiter vielfach auch als
oxidkeramische Supraleiter bezeichnet.
Ein Josephson-Tunnelelement unter Verwendung eines solchen
oxidkeramischen Hoch-T c-Supraleitermaterials geht aus der Ver
öffentlichung "Japanese Journal of Applied Physics", Vol. 26,
No. 9, September 1987, Part 2 - Letters, Seiten L1443 bis L1444
hervor. Dieses Element enthält auf einem gesinterten Substrat
des Stoffsystems Y-Ba-Cu-O eine Basiselektrodenschicht aus dem
selben Material. Auf dieser Schicht ist eine als Tunnelbarriere
wirkende Schicht aus Al2O3 ausgebildet, die von der Basiselek
trodenschicht durch eine wenige nm dicke Au-Schicht getrennt
ist. Als Gegenelektrode dient eine auf die Tunnelbarrieren
schicht aufgebrachte Nb-Schicht. Es zeigt sich jedoch, daß
dieses bekannte Josephson-Tunnelelement bei 77 K die für einen
Einsatz in aktiven elektronischen Schaltungen zu erhebenden
Forderungen hinsichtlich ausreichender kritischer Stromdichte
und geringem magnetischen Flußrauschen nicht erfüllen kann.
Filme aus oxidkeramischem Hoch-T c-Supraleitermaterial mit hohen
kritischen Stromdichten sind an sich bekannt. Diese Filme
müssen hierzu zumindest ein texturiertes Gefüge aufweisen. Sie
zeigen nämlich ein stark anisotropes Verhalten ihrer kritischen
Stromdichte (Stromtragfähigkeit) in Abhängigkeit von der Lage
der Kristallachsen. Die Herstellung entsprechender YBa2Cu3O7 - x -
Filme auf einem einkristallinen SrTiO3-Substrat ist z. B. in
"Physical Review Letters", Vol. 58, No. 25, 22. 6. 1987, Seiten
2684 bis 2686 beschrieben. Um dabei texturierte Schichten mit
orientierten Kristallen der gewünschten supraleitenden Hoch-
T c-Phase zu erhalten, ist jedoch eine Glühbehandlung bei hoher
Temperatur von etwa 900°C erforderlich. Entsprechend herge
stellte Filme können senkrecht zu den c-Achsen ihrer Kristalle
bei 77 K kritische Stromdichten von über 105A/cm2 haben,
während parallel zu den c-Achsen die kritische Stromdichte
mindestens eine 10er-Potenz kleiner ist.
Ein weiteres Verfahren zur Herstellung von einkristallinen
YBa2Cu3O7 - x -Filmen mittels Epitaxie ist aus der Veröffent
lichung "Applied Physics Letters", Vol. 51, No. 11, 14. 9. 1987,
Seiten 861 bis 863 bekannt. Hierzu wird zunächst ein Target
material des entsprechenden Stoffsystems mittels eines Lasers
verdampft und auf einem einkristallinen SrTiO3-Substrat abge
schieden. Der zu verwendende Laser kann ein KrF-Excimer-Laser
sein, dessen Wellenlänge im UV-Spektralbereich liegt und eine
Energiedichte am Targetmaterial von etwa 2 J/cm2 bei einer
Pulsfrequenz von 3 bis 6 Hz ermöglicht. Das Substrat soll hier
bei auf 450°C erhitzt sein (vgl. auch "Appl.Phys.Lett.", Vol.
51, No. 8, 24. 8. 1987, Seiten 619 bis 621). Auch hier ist eine
abschließende Wärmebehandlung bei etwa 900°C in einer Sauer
stoffatmosphäre und anschließende langsame Abkühlung erfor
derlich.
Bei diesem bekannten Verfahren werden die die gewünschte Kri
stallisation erst gewährleistenden Nachbehandlungsschritte
als notwendige Voraussetzung zur Erreichung der angestrebten
hohen kritischen Stromdichten angesehen. Der Aufwand zur Her
stellung entsprechender Schichten ist jedoch erheblich. Außer
dem ist die bei einem entsprechenden Hochtemperaturprozeß ab
laufende Kristallisation schwierig zu kontrollieren. Insbeson
dere ist eine Interdiffusion zwischen dem Filmmaterial und dem
Substrat in vielen Fällen nicht zu vermeiden.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es deshalb, ein
Josephson-Tunnelelement anzugeben, bei dem diese Probleme zu
mindest weitgehend vermieden sind. Insbesondere soll das
Element mit einem Verfahren herstellbar sein, mit dem kritische
Stromdichten in den supraleitenden Schichten von mindestens
104 A/cm2 reproduzierbar auszubilden sind.
Diese Aufgabe wird für das Josephson-Tunnelelement mit den
eingangs genannten Merkmalen erfindungsgemäß dadurch gelöst,
daß die Elektrodenschichten jeweils aus einem oxidkeramischen
Supraleitermaterial mit hoher Sprungtemperatur und mit geord
neter Kristallstruktur bestehen, so daß die Elektrodenschichten
eine hohe kritische Stromdichte in Richtung der Ebenen auf
weisen, und daß ein Substrat vorgesehen ist, welches eine an
die Kristallstrukturabmessungen der supraleitenden Phase des
oxidkeramischen Supraleitermaterials angepaßte Textur aufweist.
Bei der Erfindung wird also die besondere Kristallstruktur der
supraleitenden oxidkeramischen Hoch-T c-Phase zur Ausbildung
eines Josephson-Tunnelelementes berücksichtigt. Diese Kristall
struktur kann dabei vorteilhaft auf einem entsprechend
texturierten Substrat erhalten werden. Demgemäß sind die beiden
Elektrodenschichten hoher kritischer Stromdichte durch eine
dünne Sperrschicht beabstandet, die eine diese Schichten nur
schwach koppelnde Tunnelbarriere darstellt. Die vorbestimmte
Kristallstruktur dieser Tunnelbarriere erleichtert dabei die
Ausbildung der Gegenelektrodenschicht hoher kritischer Strom
dichte. Ein derartiges Josephson-Tunnelelement kann somit vor
teilhaft die angestrebten Forderungen hinsichtlich kritischer
Stromdichte und Rauscharmut erfüllen.
Besonders vorteilhaft läßt sich das erfindungsgemäße Josephson-
Tunnelelement dadurch herstellen, daß zunächst in einem Litho
graphieprozeß auf dem Substrat eine Lochmaske mit dem zu er
zeugenden Tunnelelement angepaßter Lochstruktur aufgebracht
wird und daß anschließend bei ununterbrochenen Unterdruckver
hältnissen die Schichten des Tunnelelementes durch schräges
Aufdampfen bei gleichzeitiger Wärmebehandlung und Sauerstoffbe
handlung abgeschieden werden, wobei die gewünschte supralei
tende Phase des Supraleitermaterials ausgebildet wird. Zum Auf
dampfen des Supraleitermaterials wird vorteilhaft ein Target
material aus einer Oxidkeramik dieses Materials mittels eines
gepulsten Lasers verdampft, dessen Wellenlänge im Ultraviolett-
Spektralbereich liegt.
Die mit diesen Verfahrensschritten verbundenen Vorteile sind
insbesondere darin zu sehen, daß quasi "in situ" eine Kri
stallisation der gewünschten supraleitenden Phase zu erreichen
ist und deshalb auf eine nachträgliche Ausbildung dieser Phase
mittels eines beonderen Glühschrittes bei sehr hohen Tempera
turen verzichtet werden kann. Dabei sind für die erfindungsge
mäße In-situ-Kristallisation höhere Substrattemperaturen und
aktivierter Sauerstoff am Substrat notwendig. Zur Aktivierung
des Sauerstoffs kann vorteilhaft ein Laser mit einer ver
hältnismäßig hohen Pulsenergie eingesetzt werden. Der moleku
lare Sauerstoff der vorgesehenen Atmosphäre wird dann durch
Wechselwirkung mit der UV-Laserstrahlung direkt an dem ge
heizten Substrat mit jedem Laserpuls aktiviert. Die dabei er
zeugte Menge an Sauerstoffradikalen und die höhere Substrat
temperatur reichen aus, um bei jedem Puls eine etwa 1 nm dicke
Schicht epitaktisch aufwachsen zu lassen. Die bei üblichen
Pulsfrequenzen so erreichbaren hohen Aufwachsraten gewähr
leisten eine geringe Bedampfungsdauer und eine geringe Ver
unreinigung der Schichten.
Vorteilhafte Ausgestaltungen des erfindungsgemäßen Josephson-
Tunnelelementes sowie des Verfahrens zu seiner Herstellung
gehen aus den jeweils abhängigen Ansprüchen hervor.
Zur weiteren Erläuterung der Erfindung wird nachfolgend auf die
Zeichnung Bezug genommen, in deren Fig. 1 schematisch die Her
stellung eines Josephson-Tunnelelementes veranschaulicht ist.
Fig. 2 zeigt schematisch eine Vorrichtung zur Durchführung
dieses Verfahrens. Dabei sind in den Figuren übereinstimmende
Teile mit denselben Bezugszeichen versehen.
Das erfindungsgemäße Josephson-Tunnelelement soll aus einem be
stimmten supraleitenden Hoch-T c-Material auf einem vorbe
stimmten Substrat ausgebildet sein. Als Ausführungsbeispiel sei
ein Material aus dem Stoffsystem Mel-Me2-Cu-O ausgewählt. Dabei
können Mel und Me2 insbesondere ein Element aus der Gruppe der
Seltenen Erdmetalle wie z. B. Y bzw. ein Element aus der Gruppe
der Erdalkalimetalle wie z. B. Ba sein. Neben Y und Ba für Mel
bzw. Me2 geeignete Materialien sind allgemein bekannt. Ge
gebenenfalls sind Mel und Me2 auch Legierungen oder Verbin
dungen oder sonstige Zusammensetzungen dieser Metalle mit Sub
stitutionsmaterialien; d. h., mindestens eines der genannten
Elemente kann in bekannter Weise partiell durch ein anderes
Element substituiert sein. Auch das Cu oder das O können zu
mindest parallel gegen andere Element ausgetauscht werden. Das
erfindungsgemäße Josephson-Tunnelelement und das Verfahren zu
seiner Herstellung sind jedoch nicht nur auf das genannte Stoff
system beschränkt; d. h., es sind ebensogut auch andere oxidkera
mische, metallische Komponenten und Sauerstoff enthaltende
Hoch-T c-Supraleitermaterialien geeignet, die dem genannten
System nicht zuzurechnen sind. Entsprechende Materialien sind
z. B. aus "Superconductivity News", Vol. 1, No. 9, 19. 3. 1988,
Seiten 1 bis 5 und 13 bis 16 bekannt. Die aus dem bestimmten
Hoch-T c-Supraleitermaterial herzustellenden Elektrodenschichten
des Josephson-Tunnelelementes sollen dabei eine hohe Stromtrag
fähigkeit (kritische Stromdichte) in der Größenordnung von
mindestens 104 A/cm2 in der Nähe der Sprungtemperatur T c des
Materials ermöglichen. Vorteilhaft sind außerdem insbeson
dere solche Materialien, deren Sprungtemperatur deutlich über
der Verdampfungstemperatur des flüssigen Stickstoffs von etwa
77 K liegen.
Für das Substrat zu wählende Materialien sind vorteilhaft
solche, die eine Struktur mit Abmessungen ihrer Einheitszellen
haben, die zumindest in etwa das Ein- oder Mehrfache der ent
sprechenden Abmessungen der Achsen der auf ihnen aufgewachsenen
Strukturen des supraleitenden Hoch-T c-Materials ausmachen. Aus
diesem Grunde ist im Falle von YBa2Cu3O7 - x ein einkristallines
oder zumindest texturiertes SrTiO3- oder (Ba,Sr)TiO3-Substrat
besonders vorteilhaft. Daneben sind ebenso auch andere Werk
stoffe wie z. B. MgO, Al2O3, Y-stabilisiertes ZrO2 oder Ta2O5
geeignet. Das erfindungsgemäße Josephson-Tunnelelement ist
jedoch nicht unbedingt auf derartige texturierte Substrate
beschränkt. So können gegebenenfalls auch polykristalline
Substrate wie z. B. polykristallines, auf einem geeigneten
Träger aufgebrachtes SrTiO3 vorgesehen werden.
Als ein konkretes Ausführungsbeispiel sei nachfolgend die er
findungsgemäße Ausbildung mindestens eines Josephson-Tunnel
elementes mit einem supraleitenden Material der bekannten Zu
sammensetzung YBa2Cu3O7 - x mit orthorhombischer Struktur auf
einem texturierten SrTiO3-Substrat zugrundegelegt. Hierzu
ist ein Aufbau vorgesehen, der in Fig. 1 schematisch als Quer
schnitt veranschaulicht ist.
Zur Herstellung des mindestens einen Josephson-Tunnelelementes
wird vorteilhaft eine spezielle Lochmasken-Technik angewandt,
die als Schwebemasken-Technik bezeichnet wird. Eine derartige
Schwebemasken-Technik ist allgemein bekannt (vgl. z. B. DE-PS
31 28 982 oder die Veröffentlichung "SQUID '80 - Supercon
ducting Quantum Interference Devices and their Applications",
Berlin 1980, Seiten 399 bis 415). Gemäß dieser bekannten Tech
nik wird auf dem Substrat 2, dessen Textur durch gestrichelte
Linien 2 a angedeutet sein soll, zunächst eine der angestrebten
Josephson-Tunnelelementstruktur angepaßte Schwebemaske 3 auf
gebracht. Diese Schwebemaske, die z. B. aus SiO besteht, weist
eine freitragende Filmbrücke 3 a auf, die in einer Höhe h von
wenigen Mikrometern über dem Substrat schwebt und eine Spann
weite w von etwa 1 µm hat. Zur Schaffung einer epitaxiefähigen
Substratfläche 5, insbesondere auch im Bereich unter der
Schwebebrücke 3 a, werden nun die unbedeckten Teile der Sub
stratfläche 5 z. B. durch Ionenbeschuß unter geeigneten Winkeln
von allen Rückständen befreit. Das Substrat einschließlich der
auf ihm aufgebrachten Schwebemaske 3 wird dann noch "in situ",
d. h. ohne Unterbrechung der für den Ionenbeschuß vorzusehenden
Vakuumbedingungen, in Sauerstoff geglüht.
Um die geforderten Eigenschaften des nun herzustellenden Jo
sephson-Tunnelelementes zu ermöglichen, müssen die als Elek
troden dienenden Schichten eine hohe kritische Stromdichte in
Richtung ihrer Schichtebenen gewährleisten. Wegen der Aniso
tropie der bekannten Hoch-T c-Supraleitermaterialien ist es
hierzu erforderlich, daß die supraleitenden Elektrodenschich
ten so texturiert ausgebildet werden, daß die c-Achsen ihrer
Kristallstrukturen senkrecht auf der Substratfläche 5 stehen.
In dieser Richtung ist die kritische Stromdichte wesentlich
kleiner als senkrecht dazu. Die c-Achsen sind in der Figur
durch einzelne gepfeilte Linien 6 angedeutet.
Um eine entsprechende epitaktische bzw. texturierte Deposition
des für das Ausführungsbeispiel ausgewählten oxidkeramischen
Hoch-T c-Supraleitermaterials zu ermöglichen, kann insbesondere
eine spezielle Laser-Verdampfungstechnik angewandt werden.
Dementsprechend wird auf das erhitzte Substrat 2 eine erste
Schicht 7 aus dem Supraleitermaterial schräg aufgedampft. Zur
Erzeugung eines entsprechenden Dampfstrahles 9 wird vorteilhaft
ein gepulster Excimer-Laser eingesetzt, der eine hinreichende
Energiedichte und Pulsenergie ermöglicht. Der Dampfstrahl 9
soll dabei unter einem Aufdampfwinkel α auftreffen, der um
etwa 45° gegenüber der Ebene der Substratfläche 5 geneigt ist.
Auf diese Weise wird auch der unter der Schwebebrücke 3 a lie
gende Bereich der Substratfläche 5 beschichtet. Die Schicht
dicke d der in einer ersten Ebene E 1 liegenden Schicht 7 kann
z. B. in der Größenordnung von etwa 100 nm liegen.
Die so erhaltene erste Schicht stellt die Basiselektrode BE des
herzustellenden Josephson-Tunnelelementes dar, auf die nun in
situ eine sehr dünne Sperrschicht 10 aufgebracht wird. Diese
als Tunnelbarriere wirkende Schicht mit einer für eine schwache
Kopplung typischen Schichtdicke δ von wenigen nm soll vor
teilhaft aus einem nicht-supraleitenden Material erstellt wer
den, dessen Kristallstruktur an die des Supraleitermaterials
angepaßt ist. So kommen im Fall des gewählten Ausführungsbei
spieles mit YBa2Cu3O7 - x als Supraleitermaterial Sperrschichten
10 insbesondere aus nicht-supraleitenden Oxidkeramiken in
Frage, bei denen das Element Y des genannten Stoffsystems des
Supraleitermaterials gegen ein anderes Seltenes Erdmetall aus
getauscht ist. Ein entsprechendes Material ist z. B. eine
Pr-Ba-Cu-Oxidkeramik. Diese Oxidkeramik wird mit derselben
Technik wie das supraleitende Material der Schicht 7 aus der
Gegenrichtung unter einem Aufdampfwinkel (180-β) aufge
dampft. Der entsprechende Dampfstrahl ist in der Figur mit 11
bezeichnet. Hierbei wird jedoch zweckmäßig ein geringfügig fla
cherer Aufdampfwinkel gewählt; d. h., es gilt: |a|<|β|.
Auf diese Weise bleibt einerseits ein Bereich der Basiselek
trode BE für eine spätere Kontaktierung frei; andererseits
wird auch eine saubere Abdeckung der Flanke 7′ der Basiselek
trode erreicht.
Auf diesen so erhaltenen, bis zu einer parallelen Ebene E 2 her
anreichenden Aufbau mit der Basiselektrode BE und der Sperr
schicht 10 wird anschließend eine als Gegenelektrode GE dienen
de zweite Schicht 12 aus dem Supraleitermaterial ebenfalls
durch epitaktische Laser-Deposition aufgebracht. Hierbei wird
zweckmäßig ein Aufdampfwinkel (180-α) für den entsprechenden
Dampfstrahl 13 vorgesehen. Die Dicke D der zweiten Schicht 12
sollte dabei deutlich (mindestens 1,5mal) größer als die Dicke
d der ersten Schicht 7 sein. Auf diese Weise ist auch im Be
reich der Flanke 7′ über die somit ausgebildete Stufe der
Schicht 12 die geforderte hohe kritische Stromdichte zu gewähr
leisten.
Die Elektroden des so hergestellten, allgemein mit 15 bezeich
neten Josephson-Tunnelelementes müssen mit Anschlußleitern
kontaktiert sein. Hierbei müssen auch im Kontaktbereich die
geforderten hohen kritischen Stromdichten gewährleistet sein.
Aus diesem Grunde wird auch für die Anschlußleiter eine
epitaktische Abscheidung wie für die supraleitenden Schichten
der Elektroden des Josephson-Tunnelelementes 15 vorgesehen.
Gemäß dem in der Figur dargestellten Ausführungsbeispiel wer
den aufgrund der gewählten Abmessungen der Schwebemaske und der
gewählten Aufdampfwinkel Teile der Anschlußleiter 16 und 17
gleichzeitig mit den Elektroden ausgebildet.
Um die gewünschte Epitaxie der einzelnen Schichten des
Josephson-Tunnelelementes auf der jeweils darunterliegenden
Fläche zu ermöglichen, wird vorteilhaft das erwähnte Laser-Ver
dampfen eingesetzt, das nachfolgend anhand von Fig. 2 prin
zipiell erläutert wird. In dieser Figur ist schematisch ein
Querschnitt durch eine entsprechende, allgemein mit 20 be
zeichnete Abscheidevorrichtung zum Zeitpunkt der Ausbildung der
Schicht der Basiselektrode veranschaulicht. Die Abscheidevor
richtung enthält eine Vakuumkammer 21, die an einem Pump
stutzen 22 mittels einer entsprechenden Pumpe auf einen End
druck zu evakuieren ist, der z. B. unter 10-6 mbar liegt. Durch
ein Quarzfenster 24 der Vakuumkammer 21 tritt ein Laserstrahl
25 in die Kammer ein und trifft dort unter einem Winkel γ von
beispielsweise von etwa 45° auf ein erstes Target 26 aus dem
gewünschten Hoch-T c-Supraleitermaterial. Das an einem Halter 27
befestigte Target befindet sich dabei im Zentrum der Kammer. Es
kann mit Hilfe eines drehbaren Gestänges 28 gegen ein entspre
chend gehaltertes Target 26′ aus dem nicht-supraleitenden Mate
rial der Tunnelbarriere ausgetauscht werden. Gegebenenfalls
kann das jeweils dem Laserstrahl ausgesetzte Target zusätzlich
noch bewegt werden, um so den Strahl nicht nur auf einen einzi
gen Fleck des Targets auftreffen zu lassen. Aus dem Target 26
wird das verdampfte Material als Dampfstrahl 9 senkrecht zur
Targetoberfläche emittiert. Es trifft auf das Substrat 2, das
sich dem Target gegenüber befindet. Das Substrat 2 soll dabei
mit einer Schwebemaske gemäß Fig. 1 versehen sein, ist jedoch
in Fig. 2 nicht näher ausgeführt. Es ist an einem Substrat
träger 30 befestigt, der heizbar ausgebildet ist. Auf diese
Weise läßt sich das Substrat während des Bedampfungsprozesses
vorteilhaft auf einem erhöhten Temperaturniveau halten. Außer
dem ist die Neigung des Substratträgers 30 und damit des Sub
strates gegenüber der Achse des Dampfstrahles 9 mittels eines
entsprechend ausgebildeten Gestänges einstellbar, um so die
verschiedenen Aufdampfwinkel zu erhalten. Gemäß der Darstellung
der Fig. 2 ist das Substrat um etwa 45° = 90-α geneigt
angeordnet. Darüber hinaus ermöglicht das Gestänge 31 eine
Variation des Abstandes a zwischen dem Target 26 und dem Sub
strat 2. Es läßt sich so z. B. ein Abstand a zwischen 20 mm
und 45 mm einstellen. Gegebenenfalls ist auch das Gestänge 31
drehbar ausgestaltet. Ferner läßt sich in der Kammer 21 ein be
liebiger Sauerstoff-Partialdruck p(O2) über einen Gaseinlaß 32
einregulieren.
Um während des Aufdampfschrittes in situ die gewünschte supra
leitende Hoch-T c-Phase aus dem oxidkeramischen Material zu er
zeugen, wird vorteilhaft ein gepulster Laser mit einer Wellen
länge λ seiner Strahlung 25 vorgesehen, die im UV-Spektralbe
reich liegt. Der dabei interessierende Wellenlängenbereich er
streckt sich von etwa 110 nm bis 400 nm. Außerdem muß der Laser
eine Energiedichte am Material des Targets 26 hervorrufen
können, die über 3 J/cm2 liegt. Darüber hinaus sollte die Puls
energie des Lasers mindestens 1,5 J/Puls betragen. Die genann
ten Forderungen können insbesondere mit einem an sich bekannten
XeCl-Excimer-Laser erfüllt werden, dessen Strahlung 25 eine
Wellenlänge λ = 308 nm hat (vgl. z. B. "Proc. of SPIE", Vol.
735, 1987, Seiten 50 bis 54). Seine Wiederholungsfrequenz kann
beispielsweise bei 5 Hz liegen. Durch eine Fokussierungsoptik,
von der in Fig. 2 lediglich eine Quarzlinse 33 veranschaulicht
ist, kann von einem derartigen Laser am Target 26 oder 26′ eine
Energiedichte erzeugt werden, die maximal 7,5 J/cm2 beträgt. Im
allgemeinen sind Energiedichten von 4 bis 5 J/cm2 ausreichend.
Während des Aufdampfprozesses muß das Substrat 2 auf einer
Temperatur zwischen 600°C und 800°C gehalten werden, wobei in
der Kammer eine Sauerstoffatmosphäre zwischen 0,02 mbar und
1 mbar eingestellt ist. Ein Sauerstoff-Partialdruck p(O2) zwi
schen 0,05 mbar und 0,5 mbar hat sich als besonders günstig er
wiesen.
Vielfach ist es noch vorteilhaft, wenn man den so gewonnenen
Aufbau einer zusätzlichen Sauerstoff-Behandlung unterzieht, um
hiermit eine Sauerstoff-Feineinstellung (-beladung) in dem Kri
stallgefüge der supraleitenden Schichten vorzunehmen. Dabei
kann der Sauerstoff als Gas- oder Ionenstrom zugeführt werden.
Diese Behandlung kann man vorteilhaft bei verhältnismäßig nied
rigen Temperaturen, insbesondere unterhalb von 600°C durchfüh
ren. Gegebenenfalls kann auf eine besondere Erwärmung sogar
verzichtet werden.
Gemäß dem Ausführungsbeispiel wurde davon ausgegangen, daß die
Herstellung der Schichten des erfindungsgemäßen Josephson-
Tunnelelementes mittels eines Verdampfungsschrittes unter Ein
satz eines Lasers durchgeführt wird, wobei die Wärmebehandlung
und die Sauerstoffbehandlung zur Ausbildung der gewünschten
supraleitenden Metalloxidphase gleichzeitig erfolgen. Ein der
artiges Verfahren ist als besonders vorteilhaft anzusehen. Ge
gebenenfalls können jedoch auch andere Verfahren zum Einsatz
kommen, die eine In-situ-Herstellung der einzelnen Schichten
ermöglichen, ohne daß dabei zu hohe Temperaturbehandlungen er
forderlich wären, die zu einer unerwünschten Wechselwirkung der
für die Maske vorzusehenden Materialien mit dem gewählten
Supraleitermaterial führen.
Claims (18)
1. Josephson-Tunnelelement mit sandwichartigem Aufbau auf einer
Flachseite eines Substrates, welches Element
- - eine als Basiselektrode dienende Schicht aus einem metall oxidischen Supraleitermaterial mit vorbestimmter Kristall struktur in einer ersten Ebene,
- - eine als Gegenelektrode dienende Schicht aus dem Supraleiter material mit der vorbestimmten Kristallstruktur in einer wei teren, zu der ersten Ebene parallelen Ebene
sowie
- - eine zwischen den Elektrodenschichten angeordnete, als Tunnelbarriere wirkende Schicht, die aus einem metalloxidi schen, nicht-supraleitenden Material mit einer an die Kri stallstruktur des Supraleitermaterials angepaßten Kristall struktur besteht,
enthält, dadurch gekennzeichnet,
- - daß die Elektrodenschichten (7, 12) jeweils aus einem oxid keramischen Supraleitermaterial mit hoher Sprungtemperatur und mit geordneter Kristallstruktur bestehen, so daß die Elektrodenschichten (7, 12) eine hohe kritische Stromdichte in Richtung der Ebenen (E 1, E 2) aufweisen,
und
- - daß ein Substrat (2) vorgesehen ist, welches eine an die Kristallstrukturabmessungen der supraleitenden Phase des oxidkeramischen Supraleitermaterials angepaßte Textur (2 a) aufweist.
2. Josephson-Tunnelelement nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß die Schicht (12) der Gegen
elektrode (GE) die Schicht (7) der Basiselektrode (BE) unter
Ausbildung einer Stufe überlappt und zumindest im Bereich der
Stufe eine Dicke (D) hat, die größer als die Dicke (d) der
Basiselektrodenschicht (7) ist.
3. Josephson-Tunnelelement nach Anspruch 1 oder 2, da
durch gekennzeichnet, daß die Elektro
denschichten (7, 12) mit Anschlußleitern (16, 17) aus dem oxid
keramischen Supraleitermaterial verbunden sind.
4. Josephson-Tunnelelement nach Anspruch 3, dadurch
gekennzeichnet, daß die Anschlußleiter (16, 17)
eine den Elektrodenschichten (7, 12) entsprechend geordnete
Kristallstruktur haben.
5. Josephson-Tunnelelement nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet, daß für das Sub
strat (2) ein Material aus der Gruppe SrTiO3, Al2O3, ZrO2 und
MgO vorgesehen st.
6. Josephson-Tunnelelement nach einem der Ansprüche 1 bis 5,
dadurch gekennzeichnet, daß ein oxid
keramisches Supraleitermaterial auf der Basis des Stoffsystems
Mel-Me2-Cu-O vorgesehen ist, wobei die metallischen Kompo
nenten Mel und Me2 ein Seltenes Erdmetall oder Yttrium bzw. ein
Erdalkalimetall zumindest enthalten.
7. Verfahren zur Herstellung mindestens eines Josephson-Tunnel
elementes nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch
gekennzeichnet, daß zunächst in einem Litho
graphieprozeß auf dem Substrat (2) eine Lochmaske (3) mit dem
zu erzeugenden Tunnelelement (15) angepaßter Lochstruktur auf
gebracht wird und daß anschließend bei ununterbrochenen Unter
druckverhältnissen die Schichten (7, 10, 12) des Tunnelelemen
tes (15) durch schräges Aufdampfen bei gleichzeitiger Wärmebe
handlung und Sauerstoffbehandlung abgeschieden werden, wobei
die gewünschte supraleitende Phase des Supraleitermaterials
ausgebildet wird.
8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekenn
zeichnet, daß zumindest das Material eines Targets
(26) aus einer Oxidkeramik des Supraleitermaterials mittels
eines gepulsten Lasers, dessen Wellenlänge (λ) im Ultra
violett-Bereich liegt, verdampft wird.
9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekenn
zeichnet, daß
- - eine Energiedichte der Laserstrahlung (25) am Target (26) von über 3 J/cm2,
- - eine Pulsenergie des Lasers von mindestens 1,5 J/Puls,
- - eine Aufheizung des Substrates (2) auf eine Temperatur zwi schen 600° und 800°C
sowie
- - eine Atmosphäre mit einem Sauerstoff-Partialdruck (p(O2)) zwischen 0,02 mbar und 1 mbar
vorgesehen werden.
10. Verfahren nach Anspruch 8 oder 9, dadurch ge
kennzeichnet, daß ein XeCl-Excimer-Laser vor
gesehen wird.
11. Verfahren nach einem der Ansprüche 8 bis 10, da
durch gekennzeichnet, daß eine Energie
dichte der Laserstrahlung (25) am Target (26) zwischen 4 und
5 J/cm2 vorgesehen wird.
12. Verfahren nach einem der Ansprüche 8 bis 11, da
durch gekennzeichnet, daß eine Sauer
stoffatmosphäre mit einem Sauerstoff-Partialdruck (p(O2))
zwischen 0,05 mbar und 0,5 mbar vorgesehen wird.
13. Verfahren nach einem der Ansprüche 8 bis 12, da
durch gekennzeichnet, daß nach dem Ver
dampfungsschritt eine zusätzliche Sauerstoffbehandlung bei
einer Temperatur unterhalb von 600°C vorgenommen wird.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3822905A DE3822905A1 (de) | 1988-07-06 | 1988-07-06 | Josephson-tunnelelement mi metalloxidischem supraleitermaterial und verfahren zur herstellung des elements |
EP89907697A EP0424422A1 (de) | 1988-07-06 | 1989-07-03 | Josephson-tunnelelement mit metalloxidischem supraleitermaterial und verfahren zur herstellung des elementes |
PCT/EP1989/000760 WO1990000815A1 (de) | 1988-07-06 | 1989-07-03 | Josephson-tunnelelement mit metalloxidischem supraleitermaterial und verfahren zur herstellung des elementes |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3822905A DE3822905A1 (de) | 1988-07-06 | 1988-07-06 | Josephson-tunnelelement mi metalloxidischem supraleitermaterial und verfahren zur herstellung des elements |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3822905A1 true DE3822905A1 (de) | 1990-01-11 |
DE3822905C2 DE3822905C2 (de) | 1992-12-17 |
Family
ID=6358100
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3822905A Granted DE3822905A1 (de) | 1988-07-06 | 1988-07-06 | Josephson-tunnelelement mi metalloxidischem supraleitermaterial und verfahren zur herstellung des elements |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0424422A1 (de) |
DE (1) | DE3822905A1 (de) |
WO (1) | WO1990000815A1 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4124773A1 (de) * | 1991-07-26 | 1993-01-28 | Forschungszentrum Juelich Gmbh | Verfahren zur herstellung eines josephson-elementes |
US5292717A (en) * | 1991-01-21 | 1994-03-08 | Siemens Aktiengesellschaft | Method for the production of a structured composite with high-temperature superconductor material |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4302769C2 (de) * | 1993-02-01 | 1995-11-02 | Daimler Benz Ag | Verfahren zur Herstellung von Josephson- und Tunnelkontakten aus Hochtemperatur-Supraleitern |
US11950516B2 (en) | 2018-03-23 | 2024-04-02 | University Of Copenhagen | Method and substrate for patterned growth on nanoscale structures |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4316785A (en) * | 1979-11-05 | 1982-02-23 | Nippon Telegraph & Telephone Public Corporation | Oxide superconductor Josephson junction and fabrication method therefor |
DE3128982C2 (de) * | 1981-07-22 | 1985-12-12 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren zur Herstellung mindestens eines Josephson-Tunnelelementes |
EP0280308A2 (de) * | 1987-02-27 | 1988-08-31 | Hitachi, Ltd. | Supraleiter-Bauelement |
EP0342039A2 (de) * | 1988-05-11 | 1989-11-15 | Canon Kabushiki Kaisha | Josephson-Einrichtung und Verfahren zu ihrer Herstellung |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2626715B1 (fr) * | 1988-02-02 | 1990-05-18 | Thomson Csf | Dispositif en couches minces de materiau supraconducteur et procede de realisation |
-
1988
- 1988-07-06 DE DE3822905A patent/DE3822905A1/de active Granted
-
1989
- 1989-07-03 WO PCT/EP1989/000760 patent/WO1990000815A1/de not_active Application Discontinuation
- 1989-07-03 EP EP89907697A patent/EP0424422A1/de not_active Withdrawn
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4316785A (en) * | 1979-11-05 | 1982-02-23 | Nippon Telegraph & Telephone Public Corporation | Oxide superconductor Josephson junction and fabrication method therefor |
DE3128982C2 (de) * | 1981-07-22 | 1985-12-12 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren zur Herstellung mindestens eines Josephson-Tunnelelementes |
EP0280308A2 (de) * | 1987-02-27 | 1988-08-31 | Hitachi, Ltd. | Supraleiter-Bauelement |
EP0342039A2 (de) * | 1988-05-11 | 1989-11-15 | Canon Kabushiki Kaisha | Josephson-Einrichtung und Verfahren zu ihrer Herstellung |
Non-Patent Citations (7)
Title |
---|
DE-B.: Squid 80-Superconducting Quantum Interference Devices and their Applications, Berlin 1980, S. 399-415 * |
JP-Z: Jap. J. Appl. Physics, Bd. 26, No. 9, Sept. 1987, Part 2-Letters S. L1443-L1444 * |
US-Z.: Appl. Phys. Letters, Bd. 51, No. 11, 1987, S. 861-863 * |
US-Z.: Appl. Phys. Letters, Bd. 51, No. 8, 1987, S. 619-621 * |
US-Z.: Phys. Rev. Letters, Bd. 58, No. 25, 1987, S. 2684-2686 * |
US-Z.: Proc. IEEE, Bd. 61, No. 1, Jan. 1973, S. 36-45 * |
US-Z.: Superconductivity News, Bd. 1, No. 9, 1988, S. 1-5 und 13-16 * |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5292717A (en) * | 1991-01-21 | 1994-03-08 | Siemens Aktiengesellschaft | Method for the production of a structured composite with high-temperature superconductor material |
DE4124773A1 (de) * | 1991-07-26 | 1993-01-28 | Forschungszentrum Juelich Gmbh | Verfahren zur herstellung eines josephson-elementes |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3822905C2 (de) | 1992-12-17 |
WO1990000815A1 (de) | 1990-01-25 |
EP0424422A1 (de) | 1991-05-02 |
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