DE3729733C2 - - Google Patents

Info

Publication number
DE3729733C2
DE3729733C2 DE3729733A DE3729733A DE3729733C2 DE 3729733 C2 DE3729733 C2 DE 3729733C2 DE 3729733 A DE3729733 A DE 3729733A DE 3729733 A DE3729733 A DE 3729733A DE 3729733 C2 DE3729733 C2 DE 3729733C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
photoresist
process step
radiation
coating
lötabdecklack
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE3729733A
Other languages
English (en)
Other versions
DE3729733A1 (de
Inventor
Haruo Hitachi Jp Akahoshi
Kanji Mito Jp Murakami
Mineo Kawamoto
Akio Hitachi Jp Tadokoro
Toyofusa Ibaraki Jp Yoshimura
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Publication of DE3729733A1 publication Critical patent/DE3729733A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3729733C2 publication Critical patent/DE3729733C2/de
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/10Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
    • H05K3/18Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using precipitation techniques to apply the conductive material
    • H05K3/181Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using precipitation techniques to apply the conductive material by electroless plating
    • H05K3/182Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using precipitation techniques to apply the conductive material by electroless plating characterised by the patterning method
    • H05K3/184Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using precipitation techniques to apply the conductive material by electroless plating characterised by the patterning method using masks
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/14Related to the order of processing steps
    • H05K2203/1407Applying catalyst before applying plating resist
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/0011Working of insulating substrates or insulating layers
    • H05K3/0017Etching of the substrate by chemical or physical means
    • H05K3/0023Etching of the substrate by chemical or physical means by exposure and development of a photosensitive insulating layer
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/38Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal
    • H05K3/386Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal by the use of an organic polymeric bonding layer, e.g. adhesive
    • H05K3/387Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal by the use of an organic polymeric bonding layer, e.g. adhesive for electroless plating

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Circuit Boards (AREA)
  • Non-Metallic Protective Coatings For Printed Circuits (AREA)
  • Chemically Coating (AREA)

Description

Als kostengünstiges Verfahren zur Herstellung gedruckter Schaltungen oder Leiterplatten ist das sogenannte Additivverfahren bekannt, bei dem ein Negativmuster unter Verwendung eines Photolackes ausgebildet wird und durch stromloses Metallisieren mit Kupfer auf den nicht vom Photolack bedeckten Flächen eine Schaltung erzeugt wird. Für eine hohe Packungsdichte einer solchen gedruckten Schaltung nach dem Additivverfahren wird günstig ein Photolack verwendet, der ein lichtempfindliches Kunstharz enthält, und eine Abbildung durch Licht erzeugt. Im Falle des Additivverfahrens kann im Unterschied zur Folien-Ätzmethode oder zum galvanischen Verfahren in bezug auf die Verfahrensschritte der Lack als solcher nach der Vervollständigung der Beschichtung der Leiterbahnflächen verbleiben und daher der Schritt des Entfernens des Lacks weggelassen werden. Durch dieses Belassen des Lacks auf den Substratflächen, die keine Leitungsverdrahtung tragen, kann eine ebene Oberfläche ohne Unterschiede in den Höhen zwischen den Oberflächen der Leiterbahnflächen und der von anderen Flächen erhalten werden. Das vollständige Abdecken der Leiterbahnflächen durch Ausbildung einer dauerhaften Deckschicht zum Schutz der Leiterbahnoberflächen wird dadurch leichter. Um jedoch einen Photolack als dauerhaften Abdecklack anwenden zu können, ist es erforderlich, daß der Photolack zusätzlich zu den im allgemeinen für einen Photolack geforderten Abbildungseigenschaften noch thermisch, chemisch und mechanisch stabil ist und zum Beispiel lötfest, lösungsmittelfest und hitzeschockbeständig ist. Ein Verfahren zur Herstellung einer gedruckten Schaltung mit einem lichtempfindlichen Kunstharz, das die obigen Anforderungen erfüllt nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1 entspricht, ist in der JP-OS 100 490/83 beschrieben.
Bei der Ausbildung eines Lackmusters aus lichtempfindlichen Kunstharz ist die Belichtung zur Erzeugung der Abbildung nicht ausreichend, um ein vollständiges Aushärten des Harzes zu erhalten, und es ist damit schwierig, die Anforderungen an die thermische, chemische und mechanische Stabilität zu erfüllen. Folglich wurde es allgemein als vorteilhaft angesehen, daß nachdem das Lackmuster durch Entwicklung ausgebildet wurde, dieses weiteren Behandlungen wie einem Ausheizen, Nachbelichten und dergleichen unterworfen wurde, um das lichtempfindliche Kunstharz vollständig auszuhärten.
Wenn bei dem Additivverfahren ein Photolack verwendet wird, ist es allgemein üblich, die Nachbelichtung und die nachgeschaltete Wärmebehandlung nach Belichtung und der Entwicklung, also vor der chemischen Beschichtung mit Kupfer auszuführen. Dies ist notwendig, um durch die Nachbelichtung die chem. Resistenz, etc., des Photolackes noch vor der Metallisierung zu erhöhen. Es hat sich jedoch gezeigt, daß bei der Anwendung dieser Technik auf das vollständige Additivverfahren - Ausführen der Nachbelichtung vor der Metallisierung - Probleme daraus entstehen, daß zum einen Beschichtungslücken auftreten und zum anderen die Adhäsion zwischen der abgeschiedenen Metallschicht und dem Substrat verschlechtert wird.
Es ist bekannt, dem Photolack zum Zwecke der Sichtbarmachung der belichteten Abbildungsflächen durch Färben nach der Belichtung einen Leuko-Triphenylmethanfarbstoff und eine organische Polyhalogenverbindung zuzusetzen, wodurch der Vorgang der Belichtung verbessert werden kann. Leuko-Triphenylmethanfarbstoff enthält Kristallviolett-Lacton, Benzoyl-Leuko- Methylenblau und Leuko-Kristallviolett. Als Polyhalogenverbindungen werden Verbindungen verwendet, bei denen drei oder mehr Halogenatome (Br, I oder Cl) mit dem gleichen Kohlenstoffatom verbunden sind, wie zum Beispiel Pentabromethan, Tribrommethylphenylsulfon, Tribromacetamid und Tribromphenylsulfon. Wenn jedoch ein Photolack, dem diese Verbindungen zugesetzt sind, beim Additivverfahren verwendet wird und die Nachbelichtungsbehandlung vor der chemischen Beschichtung mit Kupfer ausgeführt wird, um die chemische und mechanische Stabilität des Lackes zu erhöhen, entsteht das Problem einer beträchtlichen Verunreinigung der Beschichtungslösung durch den Photolack. Dieses Problem tritt nicht nur beim vollständigen Additivverfahren auf, sondern auch bei einem Additivverfahren, bei dem Durchgangslöcher oder Schaltungen mit einem Photolack als Abdecklack mit Kupfer beschichet werden.
Aufgabe der Erfindung ist es daher, die thermische, chemische und mechanische Stabilität des Photolacks durch vollständiges Aushärten zu erhöhen, ohne daß Beschichtungslücken oder eine verringerte Adhäsion zwischen dem abgeschiedenen Metall und dem Substrat auftritt. Dabei soll keine durch den Photolack verursachte Verunreinigung des Metallisierungsbades erfolgen, auch wenn dem Photolack ein Leuko-Triphenylmethanfarbstoff und eine organische Polyhalogenverbindung zugesetzt sind.
Die erfindungsgemäße Lösung dieser Aufgabe ist im Anspruch 1 gekennzeichnet.
Beim Additivverfahren befindet sich zur besseren Abscheidung des Metalls auf dem Substrat ein Beschichtungskatalysator auf der Substratoberfläche, oder der Katalysator ist im Substratmaterial verteilt. Der Grund für das Auftreten von Beschichtungslücken bei der Ausführung der Nachbelichtung vor der Metallisierung scheint in einer Verringerung der Aktivität des Beschichtungskatalysators zu liegen, die durch die intensive UV-Strahlung beim Nachbelichtungsschritt verursacht wird.
Die Verringerung der Adhäsion scheint auf eine Verschlechterung in der Oberfläche der Adhäsionsschicht, die zur Verbesserung der Adhäsion zwischen der Kupferschicht und dem Substrat vorgesehen ist, zurückzuführen zu sein, wobei diese Verschlechterung ebenfalls auf die intensive UV-Strahlung bei der Nachbelichtung zurückzuführen ist. Diese Schwierigkeiten können dadurch vermieden werden, daß die Nachbelichtungsbehandlung nach der Ausführung der chemischen Beschichtung durchgeführt wird, wodurch es auch möglich wird, den Photolack als dauerhafte Beschichtung mit sicherer chemischer und mechanischer Stabilität zu verwenden.
Wenn ein Leuko-Triphenylmethanfarbstoff und eine Polyhalogenverbindung enthaltender Photolack der Nachbelichtungsbehandlung vor der Metallisierung unterzogen wird, tritt eine ausgeprägte Verunreinigung des Metallisierungsbades auf. Der Grund dafür scheint in einer hohen Verschmutzungswirkung der Photoreaktionsprodukte der vorstehenden Verbindungen auf das Bad zu liegen. Demnach kann das Problem der Verunreinigung dadurch vermieden werden, daß die Nachbelichtung nach der Metallisierung ausgeführt wird.
Bei der Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens entsteht aufgrund der Schrumpfung des ausgehärteten Lackes ein kleiner Zwischenraum zwischen dem Abdecklack und der Kupferschaltung, da die Abdeckschicht aus dem lichtempfindlichen Kunstharz erst nach der Ausbildung der Schaltung durch die Beschichtung mit Kupfer ausgehärtet wird. Dieser Zwischenraum hat jedoch in der Praxis keine Nachteile, da im allgemeinen gedruckte Schaltungen auf der Oberfläche noch mit einer dauerhaften Abdeckung, zum Beispiel einem Lötabdecklack, versehen werden. Als Lötabdecklack kann ebenfalls ein lichtempfindliches Kunstharz oder eine andere lichtempfindliche Schicht verwendet werden.
Im Falle der Herstellung einer gedruckten Schaltung durch einen vollständigen Additivprozeß erfolgen manchmal bei der Handhabung der Substrate mit aufgebrachtem Beschichtungskatalysator nach der Ausbildung des Lackmusters unbeabsichtige Kontakte von Teilen einer Spannvorrichtung oder anderen Werkzeugen mit den Flächen des Schaltungsmusters, die den Katalysator tragen. Wenn diese Vorrichtungsteile dann in Kontakt mit der Lackoberfläche kommen, wird der Katalysator auf die Lackoberfläche übertragen, wodurch während der Beschichtung mit Kupfer eine unerwünschte Ablagerung von Kupfer an diesen Stellen auftritt. Beim herkömmlichen Verfahren wird zum Beispiel das Substrat nach der Entwicklung durch ein Transportband zur Nachbelichtungsstelle befördert, wobei oft ein gleitender Kontakt der Substratoberfläche mit dem Transportband erfolgt, der eine Übertragung des Katalysators ergibt. Im vorliegenden Fall wird jedoch die Nachbelichtung erst nach der chemischen Beschichtung mit Kupfer ausgeführt und damit eine Übertragung des Beschichtungskatalysators vermieden.
Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren kann sowohl ein Trockenphotolack als auch ein flüssiger Photolack verwendet werden.
Das Verfahren zur Herstellung gedruckter Schaltungen wird anhand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigt
Fig. 1 ein Ablaufdiagramm der Verfahrensschritte bei einem Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäßen Herstellungsverfahrens; und
Fig. 2 ein Ablaufdiagramm, das die Verfahrensschritte bei dem bekannten Herstellungsverfahren darstellt.
Mit Bezug auf die Fig. 1 werden nun Beispiele für die Herstellung gedruckter Schaltungen mit einer Nachbelichtung nach der Kupferbeschichtung und mit Bezug auf die Fig. 2 Vergleichsbeispiele mit einer Nachbelichtung vor der Kupferbeschichtung bzw. ohne eine Nachbelichtung angegeben.
Beispiel 1
Eine Phenolharz-Schichtstoffplatte mit einer Dicke von 1,6 mm wurde beidseitig mit einer Haftschicht versehen, die als Hauptbestandteil ein mit Acrylnitril-Butadienkautschuk modifiziertes Phenolharz enthielt. Die Haftschicht wurde durch Ausheizen bei 160°C für 110 Minuten ausgehärtet. Es wurde eine Schichtstoffplatte mit Haftschichten in einer Dicke von jeweils etwa 30 µm erhalten. An vorgegebenen Positionen wurden Löcher durch die Platte gebohrt. Die Oberflächen der beiden Haftschichten wurden durch Eintauchen in eine Aufrauhlösung, die Chromsäure und Schwefelsäure enthielt, aufgerauht. Anschließend wurde die Platte für 3 Minuten in eine wäßrige Säurelösung getaucht, die als Katalysator für die chemische Abscheidung von Kupfer einen Sensibilisator (HS 101B der Hitachi Chemical Co.) enthielt. Die Platte wurde mit Wasser gespült, für 3 Minuten mit einer Beschleunigungslösung behandelt, die verdünnte Salzsäure als Hauptbestandteil enthielt, noch einmal mit Wasser gespült und bei 120°C für 20 Minuten getrocknet.
Die so behandelte Substrat-Platte wurde dann auf beiden Seiten mit einem Trockenphotolack (SR-3000-35 der Hitachi Chemical Co.) beschichtet und anschließend eng anliegend mit einer Test-Negativmaske bedeckt, mit 150 mJ/cm² in einem Belichtungsgerät (HMW-201 KBB der ORC Seisakusho Co.) belichtet und bei 80°C für 5 Minuten ausgeheizt.
Das sich ergebende Testsubstrat mit dem Lackmuster eines lichtempfindlichen Kunstharzes darauf wurde durch Eintauchen in eine Beschichtungslösung bei 70°C für 12 Stunden einer chemischen Beschichtung mit Kupfer unterworfen, wodurch Kupfer in einer Dicke von etwa 30 µm auf den Flächen des Musters abgeschieden wurde. Die Beschichtungslösung hatte die im folgenden angegebene Zusammensetzung. Nach Vervollständigung der Beschichtung wurde die Platte mit Wasser gespült und bei 80°C für 20 Minuten getrocknet.
Zusammensetzung der Beschichtungslösung
pro Liter
Kupfersulfat, Pentahydrat|10 g
Ethylendiamintetra-Essigsäure 30 g
37%-Formalin 3 ml
pH-Wert (mit NaOH eingestellt) 12,5
Polyethylenglykol (Molekulargewicht 600) 20 ml
2,2′-Dipyridil 30 mg
Unter Verwendung eines UV-Bestrahlungsgerätes mit einer Hochdruckquecksilberdampflampe als Lichtquelle wurde die Platte einer UV-Strahlung von 5 J/cm² ausgesetzt und anschließend einer Wärmebehandlung bei 165°C für 40 Minuten unterzogen. Die gemusterten Bereiche der so erhaltenen Leiterplatte wurden auf Beschichtungslücken untersucht. Das Haftvermögen (die Abziehfestigkeit) des abgeschiedenen Kupferfilms wurde an einem Testmuster mit 10 mm Breite und 100 mm Länge geprüft. Eine Probe wurde für 5 Sekunden in ein Lötbad von 260°C eingetaucht und dann einem Hitzeschocktest nach Kondition B des MIL-STD-202E 107D (-65°C, 30 min ⇄ Raumtemperatur, 5 min ⇄ +125°C, 30 min) unterworfen und auf ein Abheben des Lackfilmes und auf Risse untersucht.
Das Haftvermögen des chemisch abgeschiedenen Metallfilms hatte den guten Wert von 25 bis 27 N/cm, und es wurden keine Beschichtungslücken beobachtet. Der Lackfilm zeigte keine Risse oder Abhebungen. Es wurde somit bestätigt, daß durch das erfindungsgemäße Verfahren eine gedruckte Schaltung mit hoher Packungsdichte und hoher Zuverlässigkeit hergestellt werden kann.
Nach dem Aushärten wurde der Abdecklack weiter mit einem Lötabdecklack (UVRR-150G der Taiyo Ink Co.) mittels Siebdruck überdeckt und dieser durch Belichten mit UV-Strahlung von 0,52 J/cm² ausgehärtet. Danach wurde die Platte einem Hitzeschocktest unterworfen, der auf die gleiche Art wie oben beschrieben ausgeführt wurde. Nach 100 Testzyklen wurden weder Risse noch Abhebungen beobachtet.
Beispiel 2
Eine gedruckte Schaltung wurde wie im Beispiel 1 vorbereitet, mit der Ausnahme, daß anstelle des Trockenphotolacks des Beispiels 1 "Laminar GSI" der Dynachem Co. verwendet wurde. Die durch Beschichten aufgebrachte Schicht zeigte ein Haftvermögen von 26 bis 27 N/cm, und es wurden keine Beschichtungslücken beobachtet. Nach 50 Zyklen des Hitzeschocktestes waren weder Risse noch Abhebungen am Lack festzustellen.
Beispiel 3
Eine gedruckte Schaltung wurde wie im Beispiel 1 vorbereitet, mit der Ausnahme, daß anstelle des im Beispiel 1 verwendeten Trockenphotolacks ein Trockenphotolack verwendet wurde, der 0,9 Gewichtsteile Leuko-Kristallviolett und 1,5 Gewichtsteile Tribromphenylsulfon enthielt. Die chemisch abgeschiedene Schicht zeigte ein Haftvermögen von 26 bis 28 N/cm, und es wurden keine Beschichtungslücken beobachtet. Nachdem insgesamt 0,16 m² des Lackes für 10 Stunden und länger in einem Liter der Beschichtungslösung eingetaucht waren, wurde eine chemisch abgeschiedene Schicht mit einer Dehnung von 12% und mehr erhalten, was anzeigte, daß keine Verunreinigung der Beschichtungslösung erfolgte.
Vergleichsbeispiel 1
Ähnlich wie im Beispiel 1 wurde ein Photolack auf ein Substrat aufgebracht, das mit einer Haftschicht versehen war. Die Substrat-Platte wurde dann belichtet, entwickelt und der UV-Strahlung einer Hochdruckquecksilberdampflampe mit 5 J/cm² zur vollständigen Aushärtung ausgesetzt. Dann wurde die Platte einer chemischen Beschichtung wie im Beispiel 1 unterworfen, mit Wasser gespült, bei 80°C für 20 Minuten getrocknet und bei 165°C für 40 Minuten ausgeheizt. Bei der Untersuchung der gemusterten Flächen der sich ergebenden gedruckten Schaltung wurden lokal Beschichungslücken festgestellt. Die chemisch abgeschiedene Schicht zeigte ein niedriges Haftvermögen von 6 bis 15 N/cm.
Vergleichsbeispiel 2
Ähnlich wie im Beispiel 2 wurde ein Photolack auf ein Substrat aufgebracht, das mit einer Haftschicht versehen war. Die Substrat-Platte wurde dann belichtet, entwickelt und einer chemischen Kupferbeschichtung unterzogen. Die Platte wurde gespült, bei 80°C für 20 Minuten getrocknet und bei 165°C für 40 Minuten ausgeheizt, ohne daß eine Belichtung mit einer Hochdruckquecksilberdampflampe vorausgegangen wäre. Weder Beschichtungslücken noch eine Abnahme des Haftvermögens wurden beobachtet. Bei einer Untersuchung der Lackoberfläche nach 50 Zyklen des Hitzeschocktestes unter den in Beispiel 1 beschriebenen Bedingungen wurden jedoch Risse und lokale Abhebungen der Lackschicht festgestellt.
Vergleichsbeispiel 3
Ähnlich wie im Beispiel 2 wurde ein Photolack auf ein Substrat aufgebracht, das mit einer Haftschicht versehen war, dann belichtet und entwickelt. Danach wude vor der chemischen Beschichtung mit Kupfer die Substrat-Platte einer UV-Strahlung von 5 J/cm² in einem UV-Bestrahlungsgerät mit einer Hochdruckquecksilberdampflampe als Lichtquelle ausgesetzt. Die Platte wurde dann einer chemischen Beschichung mit Kupfer unterworfen, mit Wasser gespült, bei 80°C für 20 Minuten getrocknet und bei 165°C für 40 Minuten ausgeheizt.
Die so vorbereitete gedruckte Schaltung zeigte lokale Beschichtungslücken im Leiterbahnmuster. Die chemisch abgeschiedene Kupferschicht zeigte ein niedriges Haftvermögen von 7 bis 13 N/cm. Nachdem insgesamt 40 dm² des Lacks einer derart hergestellten Leiterplatte für 10 Stunden in einem Liter Beschichtungslösung eingetaucht waren, nahm die Dehnung der chemisch abgeschiedenen Kupferschicht auf 3% und weniger ab, was eine Verunreinigung der Beschichtungslösung anzeigte.
Die Ergebnisse der Untersuchung auf Beschichtungslücken, Risse im Lack nach Hitzeschocks, Verunreinigung der Beschichtungslösung und Haftvermögen nach den Beispielen 1 bis 3 und den Vergleichsbeispielen 1 bis 3 sind in der Tabelle 1 zusammengefaßt.
Tabelle 1
Wie aus den in der Tabelle 1 gezeigten Ergebnissen hervorgeht, ist es mit dem erfindungsgemäßen Verfahren möglich, die chemische und mechanische Stabilität des Photolacks zu verbessern, ohne daß Beschichtungslücken auftreten und ohne daß das Haftvermögen der chemisch abgeschiedenen Kupferschicht verschlechtert wird.

Claims (7)

1. Verfahren zur Herstellung von gedruckkten Schaltungen mittels Additiv-Technik mit folgenden Verfahrensschritten:
  • (a) Aufbringen eines Photolacks auf ein Isoliersubstrat, das mit einer Haftschift für eine stromlose Metallabscheidung versehen ist,
  • (b) partielles Belichten des Photolacks entsprechend einem gewünschten Letierbahnmuster und teilweise Härten des Negativmusters, um eine ausreichende chemische Beständigkeit im Metallisierungsbad zu gewährleisten,
  • (c) Entwickeln des Photolacks,
  • (d) stromloses Metallisieren der den Leiterbahnen entsprechenden lackfreien Flächen, und
  • (e) vollständiges Aushärten des Photolacks,
dadurch gekennzeichnet,
  • - daß als Photolack ein kommerziell erhältliches strahlenhärtbares, einen Leuko-Triphenylmethanfarbstoff und eine Polyhalogenverbindung als lichtempfindliche Substanzen enthaltendes Festresist verwendet wird,
  • - daß das teilweise Härten im Verfahrensschritt (b) ausschließlich thermisch erfolgt, und
  • - daß das vollständige Aushärten im Verfahrensschritt (e) durch Einwirken einer chemisch wirksamen Strahlung erfolgt.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das vollständige Aushärten im Verfahrensschritt (e) ein Ausheizen im Anschluß an das Einwirken der chemisch wirksamen Strahlung umfaßt.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Photolack UV-härtbar ist und die im Verfahrensschritt (e) wirksame Strahlung eine UV-Strahlung ist.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß auf dem Photolack und den Leiterbahnen zusätzlich ein Lötabdecklack aufgetragen wird.
5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Lötabdecklack eine lichtempfindliche Substanz enthält und durch Einwirken einer chemisch wirksamen Strahlung ausgehärtet wird.
6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Lötabdecklack nach dem Metallisieren im Verfahrensschritt (d) aufgetragen wird, und daß der Photolack und der Lötabdecklack im Verfahrensschritt (e) vollständig ausgehärtet werden.
DE19873729733 1986-09-05 1987-09-04 Verfahren zur herstellung gedruckter schaltungen Granted DE3729733A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61207788A JPS6364394A (ja) 1986-09-05 1986-09-05 プリント配線板の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3729733A1 DE3729733A1 (de) 1988-03-17
DE3729733C2 true DE3729733C2 (de) 1991-07-18

Family

ID=16545510

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19873729733 Granted DE3729733A1 (de) 1986-09-05 1987-09-04 Verfahren zur herstellung gedruckter schaltungen

Country Status (3)

Country Link
US (1) US4876177A (de)
JP (1) JPS6364394A (de)
DE (1) DE3729733A1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4113686A1 (de) * 1991-04-26 1992-10-29 Licentia Gmbh Verfahren zum herstellen eines leiterbahnenmusters, insbesondere einer fluessigkristallanzeigevorrichtung

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5648320A (en) * 1985-05-31 1997-07-15 Jacobs; Richard L. Method of manufacturing ceramic superconductor circuit board
US5250758A (en) * 1991-05-21 1993-10-05 Elf Technologies, Inc. Methods and systems of preparing extended length flexible harnesses
US5681441A (en) * 1992-12-22 1997-10-28 Elf Technologies, Inc. Method for electroplating a substrate containing an electroplateable pattern
US5919514A (en) * 1992-12-28 1999-07-06 Xerox Corporation Process for preparing electroded donor rolls
DE4316087A1 (de) * 1993-05-13 1994-11-17 Morton Int Inc Verfahren zum bildmäßigen Metallisieren von strukturierten Leiterplatten
US5427895A (en) * 1993-12-23 1995-06-27 International Business Machines Corporation Semi-subtractive circuitization
JP2775585B2 (ja) * 1994-03-25 1998-07-16 日本メクトロン株式会社 両面配線基板の製造法
US6403146B1 (en) 1994-08-26 2002-06-11 Gary B. Larson Process for the manufacture of printed circuit boards
US5789140A (en) * 1996-04-25 1998-08-04 Fujitsu Limited Method of forming a pattern or via structure utilizing supplemental electron beam exposure and development to remove image residue
US5660957A (en) * 1996-05-16 1997-08-26 Fujitsu Limited Electron-beam treatment procedure for patterned mask layers
US6044550A (en) * 1996-09-23 2000-04-04 Macdermid, Incorporated Process for the manufacture of printed circuit boards
US5747098A (en) * 1996-09-24 1998-05-05 Macdermid, Incorporated Process for the manufacture of printed circuit boards
US6023842A (en) * 1996-09-24 2000-02-15 Macdermid, Incorporated Process for the manufacture of printed circuit boards
US6027858A (en) * 1997-06-06 2000-02-22 International Business Machines Corporation Process for tenting PTH's with PID dry film
US6183937B1 (en) * 1998-05-06 2001-02-06 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Post photodevelopment isotropic radiation treatment method for forming patterned photoresist layer with attenuated linewidth
US8496159B2 (en) * 2011-06-06 2013-07-30 International Business Machines Corporation Injection molded solder process for forming solder bumps on substrates

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3930963A (en) * 1971-07-29 1976-01-06 Photocircuits Division Of Kollmorgen Corporation Method for the production of radiant energy imaged printed circuit boards
US3982045A (en) * 1974-10-11 1976-09-21 Macdermid Incorporated Method of manufacture of additive printed circuitboards using permanent resist mask
US4216246A (en) * 1977-05-14 1980-08-05 Hitachi Chemical Company, Ltd. Method of improving adhesion between insulating substrates and metal deposits electrolessly plated thereon, and method of making additive printed circuit boards
US4460427A (en) * 1981-09-21 1984-07-17 E. I. Dupont De Nemours And Company Process for the preparation of flexible circuits
JPS5912434A (ja) * 1982-07-13 1984-01-23 Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd プリント配線板の製造方法
DE3231147A1 (de) * 1982-08-21 1984-02-23 Basf Ag, 6700 Ludwigshafen Positiv arbeitendes verfahren zur herstellung von reliefbildern oder resistmustern
US4470883A (en) * 1983-05-02 1984-09-11 General Electric Company Additive printed circuit process
US4469777A (en) * 1983-12-01 1984-09-04 E. I. Du Pont De Nemours And Company Single exposure process for preparing printed circuits
US4567062A (en) * 1984-10-26 1986-01-28 E. I. Du Pont De Nemours And Company Process for photoformed plastic multistrate using two layer film
US4687730A (en) * 1985-10-30 1987-08-18 Rca Corporation Lift-off technique for producing metal pattern using single photoresist processing and oblique angle metal deposition
JPS62273226A (ja) * 1986-05-20 1987-11-27 Nippon Soda Co Ltd 無電解メッキ用光硬化性レジスト樹脂組成物
JPH1049033A (ja) * 1996-07-30 1998-02-20 Dainippon Printing Co Ltd 疑似動画ホログラム再生システム

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4113686A1 (de) * 1991-04-26 1992-10-29 Licentia Gmbh Verfahren zum herstellen eines leiterbahnenmusters, insbesondere einer fluessigkristallanzeigevorrichtung

Also Published As

Publication number Publication date
DE3729733A1 (de) 1988-03-17
JPS6364394A (ja) 1988-03-22
US4876177A (en) 1989-10-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3729733C2 (de)
DE2238002C3 (de) Verfahren zur additiven Herstellung von aus Metallabscheidungen bestehenden Mustern
EP0000702B1 (de) Verfahren zur Herstellung einer fliessbeständigen Resistmaske aus strahlungsempfindlichem Resistmaterial
DE3689659T2 (de) Bildaufzeichnungsverfahren für gedruckte schaltungen.
DE69031159T2 (de) Lichtempfindliche Harzzusammensetzung zur Herstellung von Leitermustern und mehrschichtige gedruckte Leiterplatten unter Verwendung dieser Zusammensetzung
DE2922746A1 (de) Positiv arbeitendes schichtuebertragungsmaterial
DE3717199A1 (de) Photohaertbare resist-harzmasse zum stromlosen plattieren und ihre verwendung zur herstellung von gedruckten schaltungen
DE3108080A1 (de) Verfahren zur herstellung einer gedruckten schaltung
DE2427610B2 (de) Gedruckte Schaltungsplatte und Verfahren zu ihrer Herstellung
EP0584386A1 (de) Leiterplatte und Herstellungsverfahren für Leiterplatten
WO2000018201A1 (de) Verfahren zur herstellung von mehrlagenschaltungen
EP0206159B1 (de) Verfahren zur Herstellung wärmebeständiger strukturierter Schichten und deren Verwendung
DE19628264A1 (de) Verfahren zum Bilden eines Leitermusters und Verfahren zum Herstellen einer Leiterplatte
EP0259723B1 (de) Verfahren zur Herstellung wärmebeständiger strukturierter Schichten
DE69116295T2 (de) Herstellung von lötmaskierten Leiterplatten
DE2515875A1 (de) Gedruckte schaltung und verfahren zu ihrer herstellung
DE2108327A1 (de) Verfahren zum Verbessern des Haftens eines Maskiermusters auf einer metallischen Oberfläche
DE3722749C2 (de) Verfahren zur Herstellung einer gedruckten Leiterplatte
DE69527896T2 (de) Verfahren und Zusammensetzung zur Herstellung einer mehrschichtigen Leiterplatte
EP0813618B1 (de) Verfahren zum stromlosen metallisieren von elektrisch nicht leitenden substraten
DE3324117A1 (de) Verfahren und herstellung gedruckter schaltungen und photolack zur durchfuehrung dieses verfahrens
DE4203781C1 (de)
DE3623505C2 (de)
DE2061942A1 (de) Stripperbadzusammensetzung
DE68904363T2 (de) Verfahren zur herstellung einer gedruckten leiterplatte.

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8128 New person/name/address of the agent

Representative=s name: STREHL, P., DIPL.-ING. DIPL.-WIRTSCH.-ING. SCHUEBE

D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee