DE3724966C3 - Sensor - Google Patents
SensorInfo
- Publication number
- DE3724966C3 DE3724966C3 DE3724966A DE3724966A DE3724966C3 DE 3724966 C3 DE3724966 C3 DE 3724966C3 DE 3724966 A DE3724966 A DE 3724966A DE 3724966 A DE3724966 A DE 3724966A DE 3724966 C3 DE3724966 C3 DE 3724966C3
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- sensor unit
- sensitive layer
- sensor
- substrate
- layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
- G01N27/04—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance
- G01N27/12—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance of a solid body in dependence upon absorption of a fluid; of a solid body in dependence upon reaction with a fluid, for detecting components in the fluid
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/0004—Gaseous mixtures, e.g. polluted air
- G01N33/0009—General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment
- G01N33/0027—General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment concerning the detector
- G01N33/0031—General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment concerning the detector comprising two or more sensors, e.g. a sensor array
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Pathology (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Combustion & Propulsion (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Fluid Adsorption Or Reactions (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft einen Feuchtigkeitssensor gemäß Oberbegriff des
Patentanspruchs 1.
Aus der GB-PS 11 35 097 ist ein Meßsensor für Verbrennungsrück
stände eines brennbaren Gases bekannt, bei dem ein Meßelement
und ein Bezugselement in einer Brückenschaltung angeordnet sind.
Das Meßelement wird dem zu messenden Gas ausgesetzt, während das
Bezugselement eingekapselt ist. Sowohl das Meßelement als auch
das Bezugselement sind schraubenförmig gewickelte Metalldrähte.
Aus der US-PS 43 81 922 ist ein Sensor für die Messung von
Verbrennungsgasprodukten und -effekten bekannt, der aus einem
organischen Halbleitermaterial hergestellt ist. Dabei sind zwei
Widerstandselemente unmittelbar auf einem isolierenden Substrat
aufgebracht, die beide mit der Umgebung in Verbindung stehen.
Aus DE-OS 30 28 249 ist ein Gassensor mit einer Heizeinrichtung
bekannt, der brennbare Gase entzündet und die durch die Verbrennung
bedingte Änderung des Widerstands an einem Leiter nachweist;
bestimmte nichtbrennbare Gase können durch chemische Reaktion mit
einer empfindlichen Schicht ebenfalls eine nachweisbare Widerstandsänderung
bewirken. Der flächige Leiter, dessen Widerstandsänderung
beobachtet wird, verläuft über einer Ausnehmung im
Träger und ist dort verengt ausgebildet. Nachteilig ist, daß die
Verbrennung bzw. chemische Reaktionen mit den nachzuweisenden
Gasen die Lebensdauer des Sensors verkürzen. Darüber hinaus ist
der Sensor zur Messung der Luftfeuchtigkeit auch deshalb nicht
geeignet, da der Leiter thermisch eng mit dem Träger gekoppelt
und aufgrund dessen großer Wärmekapazität zeitlich träge
reagiert.
Es sind ferner bereits Sensoren für die Ermittlung der relativen
Luftfeuchtigkeit bekannt, die auf dem Phänomen beruhen, daß sich
der elektrische Widerstand oder die elektrische Kapazität eines
feuchtigkeitsempfindlichen Materials in Abhängigkeit von
einer Veränderung der Feuchtigkeit oder des Wasserdampfes in
der Atmosphäre verändert. Als feuchtigkeitsempfindliches
Material sind beispielsweise ein Sinterkörper aus Metalloxiden
wie Eisenoxid (Fe2O3 oder Fe3O4), Zinnoxid (SnO2) usw.
oder ein Metalloxidfilm; ein hydrophiler Polymerfilm oder ein
Polyelektrolyt; ein Elektrolytsalz enthaltender Stoff wie
Lithiumchlorid (LiCl) und ein hygroskopisches Harz oder eine
Polymerfolie bekannt, in die leitfähige Teilchen oder Fasern
wie Kohlenstoffasern eingebettet sind. Diese Sensoren haben
jedoch Schwierigkeiten bei der Erkennung von geringen Schwankungen
des Wasserdampfes in der Atmosphäre beispielsweise
eines im Betrieb befindlichen Mikrowellenofens, also unter
erschwerten Bedingungen, bei denen die Temperatur der Atmosphäre
sich drastisch verändert.
Hierfür gibt es folgende
Gründe: Wenn der Wasserdampfgehalt der zu messenden
Atmosphäre auf einem festen Wert gehalten wird und lediglich
die Temperatur der Atmosphäre steigt, dann wird die relative
Luftfeuchtigkeit in Abhängigkeit von dem Sattdampfdruck
gesenkt. Wenn aber die Temperatur der Atmosphäre stark
ansteigt, dann wird selbst trotz einer geringfügigen Erhöhung
des Wasserdampfes die Zunahme der relativen Luftfeuchtigkeit
durch die Temperaturänderung ausgeglichen, oder es kommt
sogar zu einer Herabsetzung der relativen Luftfeuchtigkeit.
Aus diesem Grunde können wesentliche Änderungen des Wasserdampfgehalts
nicht festgestellt werden. Somit ist für die
Ermittlung der Luftfeuchtigkeit bestimmter Umgebungen die
Messung der absoluten Luftfeuchtigkeit, d. h. die Feststellung
der Wasserdampfmenge vorteilhafter als die Messung der
relativen Luftfeuchtigkeit.
Es ist auch bereits bekannt, die Messung der absoluten Luftfeuchtigkeit
mit Vorrichtungen vorzunehmen, die die Abschwächung
von Mikrowellen aufgrund von Wasserdampf oder die Absorption
von Infrarotstrahlen aufgrund von Wasserdampf einsetzen.
Obgleich diese Vorrichtungen deswegen sehr zweckmäßig sind,
weil mit ihnen geringe Schwankungen des Wasserdampfgehaltes
selbst unter erschwerten Bedingungen wie bei dem zuvor
erwähnten starken Temperaturanstieg möglich sind, ist ihr
Aufbau unverhältnismäßig groß und teuer. Es ist andererseits
auch bereits ein Feuchtigkeitssensor bekannt, bei dem die
Wärmeleitfähigkeit gemessen
wird und der hierzu ein Paar von
Thermistoren für die Messung der absoluten Luftfeuchtigkeit
aufweist, wobei die Differenz in der Wärmeleitfähigkeit von
feuchter Luft und trockener Luft gemessen wird. Dieser
Feuchtigkeitssensor ist kompakt und hat selbst unter erschwerten
Bedingungen wie bei starkem Temperaturanstieg die
Fähigkeit, den Feuchtigkeitsgehalt zu messen, er kann jedoch
bei geringen Schwankungen der Wasserdampfmenge nicht genug
Leistung abgeben, so daß er in seiner Meßempfindlichkeit und
Ansprechgeschwindigkeit nicht zufriedenstellend ist.
Es ist Aufgabe der Erfindung, einen gegenüber dem Stand der
Technik verbesserten Feuchtigkeitssensor,
zu schaffen, der die in
der Anmeldung beschriebenen Vorteile aufweist.
Zur Lösung dieser Aufgabe dient ein Feuchtigkeitssensor der eingangs
genannten Art, der die kennzeichnenden Merkmale des Patentanspruchs
1 aufweist.
Vorzugsweise ist die Dicke der dünnen Isolierschicht
100 µm oder weniger.
In einer bevorzugten Ausführungsform besteht die empfindliche
Schicht aus SiC, TaN, Ge, Si, BaTiO3 oder aus einem Stoff,
der hauptsächlich zumindest eine dieser Substanzen enthält.
In einer vorteilhaften Ausgestaltung ist die Oberfläche der
empfindlichen Schicht unregelmäßig gestaltet. Vorzugsweise
hat die empfindliche Schicht ein Mäandermuster. Insbesondere
ist die Oberfläche der empfindlichen Schicht als unregelmäßiges
Muster in die darunterliegende Schicht eingeätzt, so
daß die Oberfläche der empfindlichen Schicht ebenso wie die
darunterliegende unregelmäßige Schicht unregelmäßig strukturiert
wird.
Vorzugsweise werden das Substrat und der Behälter hauptsächlich
aus Silicium oder einem Halbleiter aus den Elementen der
Gruppen III-V hergestellt.
Insbesondere wird die Elektrode aus einem Metall hergestellt,
das eine Wärmeleitfähigkeit von 100 W/m·K oder weniger hat.
Vorteilhafterweise ist das Metall Titan.
In einer zweckmäßigen Ausgestaltung sind die Meßeinheit und
die Bezugseinheit voneinander getrennt.
Vorteilhafterweise sind der membranartige Meßsensor und der
membranartige Bezugssensor auf einem einzigen Körper vereinigt,
indem der Meßsensor und der Bezugssensor derart
aufgebracht sind, daß der Abschnitt der empfindlichen Folie
oder Schicht des Bezugssensors luftdicht in dem hohlen Teil
des Meßsensors eingeschlossen ist.
Vorzugsweise haben der Meßsensor und der Bezugssensor dasselbe
Substrat. Insbesondere sind zwei oder mehr empfindliche
Schichten auf dem Substrat angeordnet.
Mit der Erfindung ist es möglich, (1) einen kompakten und
miniaturisierten Sensor zu schaffen, der in Chargenverfahren
hergestellt werden kann, wie sie bei der Herstellung von
konventionellen Halbleitern üblich sind, oder er läßt sich
durch andere konventionelle Halbleiterherstellungsprozesse
herstellen, wobei das Chargenverfahren für die Massenherstellung
äußerst zweckmäßig ist und austauschbare, billige
Sensoren liefert; (2) einen Sensor zu schaffen, der als
Feuchtigkeitssensor des Wärmeleitfähigkeits-Typs direkt die
Wasserdampfmenge messen kann und der bekannten, zur Messung
der relativen Luftfeuchtigkeit dienenden Feuchtigkeitssensoren
dann überlegen ist, wenn sich die Temperatur der zu
messenden Atmosphäre dramatisch verändert; (3) einen Sensor
zu schaffen, bei dem eine Struktur in Form einer Mikrobrücke,
eines Kragarms oder einer Membran derart verwendet wird, daß
die Wärmeaufnahmefähigkeit des Sensors abgesenkt wird, und
wobei ferner die feuchtigkeitsempfindlichen Schichten aus
einem Material bestehen, das eine große Thermistorkonstante
besitzt, wie dies für Ge, SiC, TaN o. ä. der Fall ist, wodurch
eine hohe Empfindlichkeit, ein schnelles Ansprechen und eine
geringere Leistungsaufnahme bei der Messung von Wasserdampf
erzielt werden; (4) einen Sensor zu schaffen, der zusätzlich
zu der zuvor erwähnten Brücke, dem Kragarm oder der Membran
eine empfindliche Schicht besitzt, die auf ihrer Oberfläche
ein großes Wärmestrahlungsgebiet besitzt, so daß die Wärmeaufnahmefähigkeit
wirkungsvoll herabgesetzt wird; (5) einen
Sensor zu schaffen, der selbst bei einer Verunreinigung der
Sensoroberfläche durch äußere Substanzen wie Öl, Staub usw.
eine stabile Messung erreicht, da die zu messende physikalische
Größe durch ein physikalisches Verfahren gemessen
wird; und (6) einen Sensor zu schaffen, der gegenüber Licht
und Wärme äußerst widerstandsfähig ist und eine lange
Lebensdauer besitzt.
Die Erfindung wird im folgenden anhand von Figuren näher
erläutert; es zeigt
Fig. 1a + 1b eine perspektivische Ansicht und einen Schnitt
durch ein Sensormikroplättchen;
Fig. 1c + 1d eine perspektivische Ansicht und einen Schnitt
durch einen Feuchtigkeitssensor mit Brücke, der aus
dem Sensormikroplättchen gemäß Fig. 1a und 1b
gebildet ist;
Fig. 2a eine perspektivische Ansicht eines Feuchtigkeitssensors
mit einem Kragarm;
Fig. 2b + 2c Schnitte entlang der Linien X-X und Y-Y in
Fig. 2a;
Fig. 3a-3c schematische Darstellungen des Ätzvorganges für
ein Sensormikroplättchen;
Fig. 4 eine Feuchtigkeits-Empfindlichkeitskurve für den
Feuchtigkeitssensor;
Fig. 5a eine perspektivische Darstellung eines Feuchtigkeitssensors
mit Membran;
Fig. 5b + 5c Schnitte durch den Feuchtigkeitssensor aus
Fig. 5a;
Fig. 6 eine perspektivische Darstellung eines Feuchtigkeitssensors
mit Membran, bei dem ein Meßsensor
und ein Bezugssensor auf einem Körper vereinigt
sind;
Fig. 7a + 7b, 8a + 8b sowie Fig. 9 perspektivische
Darstellungen eines Teils der empfindlichen
Schicht des Sensors aus Fig. 1a;
Fig. 10 eine perspektivische Darstellung der mäanderförmigen
empfindlichen Schicht des Ausführungsbeispiels;
Fig. 11a eine perspektivische Darstellung einer Sensoreinheit
mit Kragarm;
Fig. 11b + 11c Schnitte entlang der Linien X-X und Y-Y von
Fig. 11a;
Fig. 12a eine perspektivische Darstellung eines Sensors,
bei dem das Substrat der Meßsensoreinheit das
gleiche wie für die Bezugssensoreinheit ist; und
Fig. 12b einen Schnitt entlang der Linie A-A in Fig. 12a.
Ein erfindungsgemäßer Sensor besitzt zwei Sensoreinheiten,
die auf eine bestimmte Temperatur selbst erwärmt werden, von
denen eine erste Sensoreinheit der zu messenden Atmosphäre
ausgesetzt ist und eine zweite Sensoreinheit in einem
abgeschirmten Gehäuse eingeschlossen ist, welches eine bestimmte
Feuchtigkeit einschließt. Die Wärmeleitfähigkeit der
zu messenden Atmosphäre schwankt mit der Veränderung des
Wasserdampfgehalts in der Atmosphäre, was zu einem Temperaturunterschied
an der ersten Sensoreinheit gegenüber der
zweiten Sensoreinheit führt. Durch die auf dieser Temperaturdifferenz
basierenden Leistungsausgabe läßt sich der Wasserdampf
in der Atmosphäre genau messen, ohne daß er von der
Temperatur der Atmosphäre beeinflußt wird.
Die Fig. 1c und 1d zeigen einen Feuchtigkeitssensor mit
einem Si-Substrat 1, das einen hohlen Abschnitt 10 aufweist
und eine dünne Isolierschicht 2 mit einem brückenförmigen
Abschnitt besitzt, der auf dem Substrat 1 als Mikrobrücke 3
aufgebracht ist. Eine empfindliche Schicht 4 ist auf der
Mikrobrücke 3 aufgebracht, und Elektroden 5 dienen zur Messung
des elektrischen Widerstandes der empfindlichen
Schicht 4; sie sind daher an die empfindliche Schicht 4
angeschlossen. Die Herstellung der Mikrobrücke 3 erfolgt
folgendermaßen: Auf ein Si-Substrat 1, bei dem die chemische
Ätzgeschwindigkeit je nach Ausrichtung der Kristallachse
veränderlich ist, wird eine dünne Isolierschicht 2 aufgebracht,
von der letztlich ein Teil die Mikrobrücke 3 bildet
und die während des Ätzens des Substrats 1 als Maskensubstanz
dient. Sie wird durch thermische Oxidation, Vakuumdampfablagerung,
Aufsprühen oder durch chemische Dampfablagerung
gefolgt von photolithographischen, chemischen oder trockenen
Ätzverfahren gebildet. Zur mechanischen Verfestigung der
Mikrobrücke 3 ist es zweckmäßig, daß der Brückenteil sowohl
aus der Isolierschicht als auch aus der Si-Schicht gebildet
wird, wobei der Si-Substratabschnitt von der gleichen Breite
wie der Brückenabschnitt und mit einer vorgegebenen Dicke im
Bereich der Rückseite der Isolierschicht 2 belassen wird, der
der Mikrobrücke 3 entspricht. Zu diesem Zweck wird vorher ein
Dotiermittel mit Bor in die Oberfläche des Si-Substrats mit
hoher Konzentration in den Bereich der Mikrobrücke 3 derart
eindiffundiert, daß das dotierte Gebiet während eines
anisotropen Ätzens, d. h. während des chemischen Ätzens als
Schutzschicht wirkt. Auf diese Weise wird die Mikrobrücke 3
gemäß den Fig. 1a und 1b gebildet. Danach werden die
empfindliche Schicht 4 und die Elektroden 5 auf die Mikrobrücke
3 aufgebracht. Als Isolierstoff wird SiO2, Si3N4,
Al₂O₃, ZrO₂ usw. verwendet, die eine geringe Wärmeaufnahmefähigkeit
und eine Wärmeleitfähigkeit haben, die ähnlich der
des Si-Substrats ist. Die daraus hergestellte Isolierschicht
hat zweckmäßigerweise eine Dicke von 100 µm oder weniger.
Diese Isolierschicht kann auch als Kragarm oder einseitig
eingespannter Träger hergestellt werden.
Die Fig. 2a, 2b und 2c zeigen einen weiteren Feuchtigkeitssensor
mit einem Si-Substrat 1, das einen hohlen Abschnitt
10 und eine dünne Isolierschicht 2 mit einem Kragarmteil
6 aufweist, der sich über den hohlen Abschnitt 10
erstreckt. Eine empfindliche Schicht 4 liegt auf dem Kragarmteil
6 der Isolierschicht 2, und zwei Elektroden 5 sind an
die empfindliche Schicht 4 angeschlossen und dienen zur
Messung des elektrischen Widerstandes der empfindlichen
Schicht 4. Jede der Elektroden
5 ist rechteckförmig, kammartig
oder wellenförmig geformt. Der Kragarmteil 6 kann eine
Doppelschichtstruktur sein, die aus der Isolierschicht 2 und
dem Si-Substrat ähnlich wie die Mikrobrücke von Beispiel 1
besteht.
Die empfindliche Schicht 4 wird auf der Mikrobrücke 3 oder
dem Kragarmteil 6 durch Vakuumdampfablagerung, chemische
Dampfablagerung o. ä. gebildet, worauf ein photolithographischer
Prozeß und ein Ätzverfahren folgen, um die gewünschte
feine Struktur darin zu bilden. Das Gebiet der
dünnen Isolierschicht 2, auf der die empfindliche Schicht 4
angeordnet wird, kann anstelle der Brücken- oder Kragarmstruktur
auch eine Membran-Struktur sein.
Danach werden die dünnen Metallschichtelektroden 5 auf der
empfindlichen Schicht 4 durch Vakuumdampfablagerung, durch
Sprühen, durch chemische Dampfablagerung oder ähnlich gebildet.
Andererseits können die Elektroden 5 auch zuerst auf
der Isolierschicht 2 angeordnet werden, worauf dann die
empfindliche Schicht 4 auf der Isolierschicht 2 einschließlich
der Elektroden 5 gebildet wird, so daß sie mit den
Elektroden 5 in Kontakt gelangt. In diesem Fall wird der
Oberflächenbereich der empfindlichen Schicht 4, der mit der
Atmosphäre in Kontakt kommt, nicht durch die Elektroden 5
verringert, so daß die Wasserdampfmessung mit hoher Empfindlichkeit
durchführbar ist. Als Material für die empfindliche
Schicht kommen Ge, SiC, TaN, Si, BaTiO3 usw. in Frage, die
eine hohe Thermistorkonstante haben. Im vorliegenden Beispiel
wird Ge als Material für die empfindliche Schicht 4 verwendet.
Die Elektroden 5 sind nicht notwendigerweise so angeordnet,
daß sie auf der empfindlichen Schicht 4 einander
zugewandt sind, sondern sie können auch über und unter der
empfindlichen Schicht 4 angeordnet sein, so daß diese dazwischenliegt,
wenn der spezifische elektrische Widerstand
der empfindlichen Schicht 4 innerhalb eines bestimmten Bereichs
liegt. Die dünne Isolierschicht 21, welche die Unterseite
des Si-Substrats 1 überdeckt, verhindert, daß die
Unterseite geätzt wird. Die erwähnten Flächen des Si-Substrats
1 werden zu dem gleichen Zweck ebenfalls von einer
dünnen Isolierschicht überdeckt.
Anschließend wird das Si-Substrat einer anisotropen Ätzbehandlung
mit einem Ätzmittel unterworfen, beispielsweise
einer Lösung mit Ethylendiamin, Pyrocatechol und Wasser, und
das Ätzen des Si-Kristalls erfolgt in Richtung der bevorzugten
Kristallachse im Gebiet des Si-Substrats 1, das nicht mit
der Isolierschicht überdeckt ist, so daß die Entfernung des
Teils des Si-Substrats, der unter der Brückenstruktur der
Isolierschicht 2 erreicht wird, wie dies in den Fig. 3 bis
3c dargestellt ist. Dies führt zu einem Feuchtigkeitssensor-
Chip mit einer Mikrobrückenstruktur.
Ein Sensor mit einem Paar von Feuchtigkeitssensoreinheiten,
die nach den obigen Beispielen gebildet sind, kann als
Feuchtigkeitssensor für die direkte Messung von Wasserdampf
in einer Atmosphäre eingesetzt werden, wobei er folgendermaßen
funktioniert: Wie bereits erwähnt, ist der Sensor ein
Feuchtigkeitssensor des Wärmeleitfähigkeits-Typs, der aus
einem Paar von Feuchtigkeitssensoreinheiten aufgebaut ist und
der das Phänomen auswertet, daß die Wärmeleitfähigkeit in der
Atmosphäre, in der der Wasserdampf gemessen werden soll, in
Abhängigkeit von der Wasserdampfmenge schwankt. Eine dieser
Sensoreinheiten, nämlich eine erste Sensoreinheit, ist der zu
messenden Atmosphäre ausgesetzt, so daß eine Schwankung in
der Wasserdampfmenge der zu messenden Atmosphäre als Schwankung
der Wärmeleitfähigkeit der Atmosphäre an die Sensoreinheit
übertragen wird. Die andere Sensoreinheit, nämlich die
zweite Sensoreinheit ist in einem Behälter luftdicht eingeschlossen,
der beispielsweise trockenen Stickstoff in Gasform
enthält, so daß diese Sensoreinheit, insbesondere die empfindliche
Schicht, nicht mit dem Wasserdampf von außerhalb
des Behälters in Berührung kommt. Danach werden beide
Sensoreinheiten auf die gleiche Temperatur erwärmt. Wenn die
Wasserdampfmenge der zu messenden Atmosphäre auf einem festen
Wert gehalten wird, dann verändern sich die Temperaturen der
beiden ersten und zweiten Sensoreinheiten bei Schwankungen
der Atmosphärentemperatur in gleicher Weise. In Wirklichkeit
unterscheidet sich jedoch die Wärmeleitfähigkeit der Umgebung,
in der die erste Sensoreinheit angeordnet ist, von der
Wärmeleitfähigkeit der Umgebung, in der die zweite Sensoreinheit
liegt, und zwar in Abhängigkeit von der Wasserdampfmenge
in jeder der Umgebungen. Demnach ist die Temperaturänderung
an der ersten Sensoreinheit anders als an der zweiten
Sensoreinheit. Ferner ist die Einwirkung der Temperatur der
Umgebung der ersten Sensoreinheit auf diese erste Sensoreinheit
die gleiche wie die Einwirkung der Temperatur der
Umgebung der ersten Sensoreinheit auf die zweite Sensoreinheit,
so daß der Unterschied in der Temperaturschwankung
zwischen der ersten und zweiten Sensoreinheit von der
Wasserdampfmenge in der Atmosphäre abhängt, und auf diese
Weise kann aus der Differenz der beiden Ausgaben der zwei
Sensoreinheiten die Wasserdampfmenge festgestellt werden. Die
Ausgangssignale von den Sensoreinheiten werden als Veränderung
des elektrischen Widerstandes der empfindlichen Schicht
erhalten, die von den Temperaturschwankungen in den Sensoreinheiten
abgeleitet werden.
Da der erfindungsgemäße Sensor nach dem zuvor erwähnten
Funktionsprinzip arbeitet, muß die empfindliche Schicht auf
einem Substrat gebildet werden, das ausgezeichnete Wärmeisolierung
besitzt, damit der Sensor eine hohe Empfindlichkeit,
ein schnelles Ansprechverhalten und eine geringe
Leistungsaufnahme erreicht. Aus diesem Grund muß die Wärmeaufnahmefähigkeit
des Sensors minimiert werden, und außerdem
muß die empfindliche Schicht aus einem Material gebildet
werden, das eine hohe Thermistorkonstante besitzt. Zu diesem
Zweck wird ein feiner Verarbeitungsprozeß wie Mikrobearbeitung,
Photolithographie usw. verwendet, damit der Sensor nach
diesem Beispiel mit einer Struktur versehen werden kann, die
eine geringere Wärmeaufnahmefähigkeit besitzt, welche durch
bekannte Sensorstrukturen nicht erreichbar ist. Ferner wird
eine dünne Schicht aus Ge, SiC usw., die die gleiche
Thermistorkonstante wie Thermistoren für Tieftemperaturen
hat, die allgemein erhältlich sind, als empfindliches
Schichtmaterial verwendet, so daß eine überraschende Verbesserung
in der Meßempfindlichkeit, in der Ansprechgeschwindigkeit
und in der verringerten Leistungsaufnahme erzielt
wird. Fig. 4 zeigt als geschlossene Linie eine charakteristische
Kurve, welche die Beziehung der Empfindlichkeit und
der Dicke der Mikrobrücke für einen absoluten Feuchtigkeitssensor
darstellt, der eine Mikrobrückenstruktur besitzt, bei
der die empfindliche Schicht aus Ge besteht. Die Empfindlichkeit
wird durch A/B dargestellt, wobei A das Verhältnis der
Widerstandsschwankung in der ersten Sensoreinheit gegenüber
der zweiten Sensoreinheit in einer Umgebung mit bekannter
Feuchtigkeit und B das Verhältnis der Widerstandsschwankung
in einer der Sensoreinheiten, welche
einen absoluten Feuchtigkeitssensor
des bekannten Wärmeleitfähigkeits-Typs darstellt,
gegenüber der anderen Sensoreinheit in der Umgebung
unter den gleichen Bedingungen wie zuvor erwähnt bedeutet.
Die Kennlinie eines bekannten Feuchtigkeitssensors ist als
strichpunktierte Linie angegeben. Fig. 4 deutet an, daß die
Wärmeaufnahmefähigkeit des Sensors nach diesem Beispiel mit
abnehmender Dicke der Mikrobrücke sinkt und daß die Empfindlichkeit
des Sensors in diesem Beispiel mehr als 10mal höher
als für einen bekannten Sensor ist, bei dem die Dicke der
Mikrobrücke d 10 µm beträgt.
Wie oben erwähnt, kann der Feuchtigkeitssensor nach diesem
Beispiel als ein absoluter Feuchtigkeitssensor des Wärmeleitfähigkeits-
Typs verwendet werden, der die direkte Messung des
Wasserdampfes bei hoher Meßempfindlichkeit und schnellem
Ansprechen ermöglicht. Ferner mißt dieser Sensor Wasserdampf
auf physikalische Weise, so daß diese mit Genauigkeit ohne
Beeinflussung durch Licht, Wärme, ölartige Substanzen, Staub
usw. durchgeführt werden kann, die von außen auf den Sensor
einwirken. Der Sensor ist daher in einem Mikrowellenofen
einsetzbar, in dem der Kochzustand der darin befindlichen
Lebensmittel ermittelt werden kann.
Die Fig. 5a bis 5c zeigen einen weiteren Feuchtigkeitssensor
mit einer Membranstruktur. Er wird folgendermaßen
hergestellt: Dünne Isolierschichten 2 und 21 werden auf der
Oberfläche und der Unterfläche eines Si-Substrats 1 gebildet.
Außerdem werden ähnlich dünne Isolierschichten auf den
Seitenflächen des Si-Substrats 1 gebildet. Die Isolierschicht 21
wird einer Ätzbehandlung unterworfen, um eine bestimmt
geformte und bemessene Maske für den nachfolgenden anisotropen
Ätzprozeß zu bilden. Danach wird das Si-Substrat 1 einer
anisotropen Ätzbehandlung unterworfen, um den Mittelbereich
im Boden des Si-Substrats 1 zu entfernen, der nicht mit der
Isolierschicht 21 überdeckt ist, was zu einem doppelschichtigen
Membranteil 7 führt, der aus einem Teil der Isolierschicht
2, die die Oberseite des Si-Substrats 1 überdeckt,
und dem zentralen dünnen Teil des Si-Substrats 1 besteht. Auf
den Membranteil 7 wird eine empfindliche Schicht 4 aufgebracht,
die mit bestimmter Form und Abmessung strukturiert
ist. Danach werden die kammförmigen Elektroden 5 an die
empfindliche Schicht 4 angeschlossen, was eine Feuchtigkeitssensoreinheit
ergibt.
Ein Dotiermittel wie Bor wird vorher in den Teil des
Si-Substrats 1 eindiffundiert, der dem Membranteil 7 entspricht.
Dieser bordotierte Teil des Si-Substrats wirkt als
Ätzschutzschicht für den anisotropen Ätzprozeß. Demgemäß
setzt sich der entstehende Membranteil 7 aus dem bordotierten
Teil des Si-Substrats 1 und der Isolierschicht 2 zusammen.
Die Dicke des Si-Substrats 1, die dem Membranteil 7 entspricht,
wird durch die Regulierung der Diffusion eines
Dotiermittels wie Bor usw. in das Si-Substrat 1 gesteuert, es
ist jedoch auch möglich, sie durch die Länge des anisotropen
Ätzverfahrens zu regulieren. Der Teil des Si-Substrats 1, der
dem Membranteil 7 entspricht, kann natürlich beim Ätzen
vollständig entfernt werden, um einen einschichtigen Membranteil
zu bilden, der lediglich aus der Isolierschicht 2
besteht. In diesem Fall wird kein Dotiermittel verwendet.
Dadurch läßt sich ein Feuchtigkeitssensor mit einer Membranstruktur
bilden, der eine überraschend geringere Wärmeaufnahmefähigkeit
besitzt, die bei bekannten Feuchtigkeitssensoren
des Wärmeleitfähigkeits-Typs nicht erreichbar ist.
Obgleich die Ansprecheigenschaften dieses Sensors etwas
geringer als die anderer Sensoren mit Brücken- oder Kragarmstruktur
sind, wird der Membransensor unter harten Einsatzbedingungen,
bei denen hohe Empfindlichkeit, schnelles Ansprechen,
verminderte Leistungsaufnahme und ausreichende
mechanische Festigkeit gefordert werden, deswegen bevorzugt,
weil der Membran-Typ der Brücken- und Kragarmstruktur im
Hinblick auf mechanische Festigkeit überlegen ist.
Fig. 6 zeigt einen anderen Feuchtigkeitssensor mit einer
Membranstruktur, bei dem eine erste Sensoreinheit 8, nämlich
ein Meßsensor auf einer zweiten Sensoreinheit, nämlich einem
Bezugssensor derart angeordnet ist, daß der Bereich der
empfindlichen Schicht des Bezugssensors 9 innerhalb des
Membranbereichs des Meßsensors 8 liegt, um dazwischen ein
luftdichtes System zu bilden, so daß die Atmosphäre um den
Bereich der empfindlichen Schicht des Bezugssensors 9 in einem
Hohlraum luftdicht abgeschlossen werden kann, der zwischen
dem Meßsensor 8 und dem Bezugssensor 9 liegt. Auf diese Weise
sind der Meßsensor 8 und der Bezugssensor 9 in einem Körper
untergebracht, was zu einem absoluten Feuchtigkeitssensor-
Chip führt. Dieser Aufbau eines Feuchtigkeitssensors ermöglicht
die Miniaturisierung des Sensor-Chips. Ein Vereinigungsprozeß
zum Verbinden der Sensoreinheiten 8 und 9 in
einem Körper läßt sich durch eine Chargenbehandlung für jedes
Mikroplättchen durchführen. Ferner ist dieses Verbindungsverfahren,
bei dem der empfindliche Schichtabschnitt des Bezugssensors
9 in dem zwischen dem Meßsensor 8 und dem Bezugssensor
9 gebildeten Hohlraum eingeschlossen ist, gegenüber einem
Verfahren vereinfacht, bei dem der empfindliche Schichtbereich
durch ein getrenntes Teil wie ein Behältergehäuse dichtend
eingeschlossen wird. Das Verbindungsverfahren erfordert kein
solch getrenntes Teil, so daß der erfindungsgemäße Feuchtigkeitssensor
wirtschaftlicher herstellbar ist. Die Sensoreinheiten,
die den Sensor nach diesem Beispiel bilden, werden
auf die gleiche Weise wie die Sensoren der zuvor erwähnten
Beispiele hergestellt, jedoch mit folgender Ausnahme: Bei der
Herstellung der Meßsensoreinheit 8 wird das Si-Substrat einer
anisotropen Ätzbehandlung unterworfen, um nicht nur den
Membranteil 7, sondern auch Fenster 10 für die Unterlagen der
Bezugssensoreinheit 9 zu bilden, von denen Anschlußdrähte der
Bezugssensoreinheit 9 gezogen werden. Bei der Herstellung der
Bezugssensoreinheit 9 wird ein Verbindungsmittel auf die
Oberfläche der Isolierschicht 2 der Bezugssensoreinheit 9
aufgebracht, auf der die empfindliche Schicht 4 durch
Sprühen, Vakuumdampfablagerung, chemische Dampfablagerung
oder ähnlich gebildet wird, worauf eine Ätzbehandlung zur
Entfernung des Teils des Verbindungsmittels erfolgt, der
nicht für die Verbindung der Bezugssensoreinheit 9 mit der
Meßsensoreinheit 8 benötigt wird, was zu einem strukturierten
Verbindungsmittel 11 führt. Durch das Strukturierungsverfahren
für das Verbindungsmittel wird andererseits der Teil der
Isolierschicht 2, der nicht für die Verbindung der Bezugssensoreinheit
9 mit der Meßsensoreinheit 8 benötigt wird,
durch einen Photolack oder ein ähnliches Mittel maskiert, und
dann wird
das Verbindungsmittel auf die Isolierschicht 2
aufgebracht, worauf das Maskierungsmaterial entfernt wird.
Dies führt zu einem strukturierten Verbindungsmittel 11. Es
ist auch möglich, das Verbindungsmittel auf dem gesamten
Gebiet der Isolierschicht 2 aufzubringen und dann nur die
Teile des Verbindungsmittels zu entfernen, die den Trägerbereichen
der Bezugssensoreinheit 9 entsprechen. Das Verbindungsmittel
11 ist eine dünne Schicht, die aus einem verhältnismäßig
tiefschmelzenden Material wie Glas mit einem tiefen
Schmelzpunkt besteht, beispielsweise PbO usw.
Das sich ergebende Meßsensor-Mikroplättchen wird auf das
Mikroplättchen mit dem Bezugssensor gelegt, so daß die beiden
einander zugewandt sind. Sie werden durch ein Befestigungsmittel
aneinander gehalten und bei einer bestimmten Temperatur
über eine bestimmte Zeit in einer Spülgasatmosphäre aus
N2, Ar usw. gesintert, was zu einer vereinigten Hohlraumstruktur
führt, in der das Spülgas eingeschlossen ist. Danach
wird der aus den zwei Mikroplättchen gebildete, vereinigte
Körper gestanzt, um einen absoluten Feuchtigkeitssensor-Chip
zu bilden. Der nach diesem Beispiel erhaltene Feuchtigkeitssensor
ist ein superkompakter und miniaturisierter absoluter
Feuchtigkeitssensor. Ferner wird nur eine geringe Anzahl von
Sensorteilen verwendet, und das Herstellungsverfahren ist
wesentlich vereinfacht, so daß die Herstellungskosten in
überraschendem Maße gesenkt werden können.
Um einen Sensor mit hoher Empfindlichkeit, schnellem Ansprechverhalten
und minimaler Leistungsaufnahme zu erhalten,
ist die Herstellung eines Sensors mit geringerer Wärmeaufnahmefähigkeit
und hervorragender Wärmeabstrahlung erforderlich.
Hierfür liefern die obigen Beispiele Sensoren mit
Brücken-, Kragarm- oder Membranstrukturen.
Das vorliegende Beispiel beschreibt einen Sensor, dessen
empfindliche Schicht eine rauhe Oberfläche hat oder dessen
Substrat eine rauhe Oberfläche besitzt, auf der die empfindliche
Schicht gebildet ist, so daß das Wärmeabstrahlungsgebiet
des Sensors vergrößert wird und dadurch eine hervorragende
Wärmeabstrahlung erreicht ist.
Jede den zuvor erwähnten Sensor bildende Sensoreinheit ist
mit Ausnahme der Bildung der empfindlichen Schicht 4 auf die
gleiche Weise wie in Beispiel 1 hergestellt. Die empfindliche
Schicht 4 wird auf der Isolierschicht 2 durch Aufdampfen im
Vakuum, durch Aufsprühen, durch chemisches Aufdampfen usw.
gebildet und einer Feinbehandlung unterworfen, um die gewünschte
Struktur von gegebener Größe und Form gemäß Beispiel
1 zu ergeben. Anschließend wird die empfindliche
Schicht 4 photolithographisch bearbeitet und einem chemischen
oder Plasmaätzverfahren derart unterworfen, daß die Oberfläche
der empfindlichen Schicht 4 gemäß den Fig. 7 bis 9
wellenförmig wird. Diese Wellenform wird von einer Vielzahl
von trapezförmigen Vorsprüngen 41 gebildet, die gemäß Fig. 7a
unregelmäßig angeordnet sind, sowie von einer Vielzahl
von nicht dargestellten Pyramidenvorsprüngen, einer Vielzahl
von nicht dargestellten Kegelvorsprüngen oder einer Vielzahl
von ebenfalls nicht dargestellten Halbkugel-Vorsprüngen. Es
kann auch eine Wellenform 43 gemäß Fig. 8a gebildet werden,
wobei jede Welle ein flaches Dach hat. Die unregelmäßige
Form 42 oder 44 kann auch gemäß den Fig. 7b oder 8b eine
gleichmäßige Teilung haben. Anstelle der zuvor erwähnten
Verarbeitung der empfindlichen Schicht kann die Oberfläche
der Isolierschicht 2 oder, wenn die Brückenstruktur von dem
Substratteil und der Isolierschicht 2 gebildet wird, die
Oberfläche des Substrats 1 bearbeitet und dann die empfindliche
Schicht 4 darauf aufgebracht werden, so daß die
empfindliche Schicht 4 zu einem ungleichmäßigen Muster mit
gleichförmiger Teilung gemäß Fig. 9 geformt wird. Die
empfindliche Schicht 4 kann auch photolithographisch oder
chemisch oder durch physikalisches Ätzen zu einem Zickzackmuster
oder einem Mäandermuster von gegebener Reihenbreite
und Reihenabstand gemäß Fig. 10 verarbeitet werden. Die
Fig. 11a bis 11c zeigen eine Sensoreinheit, bei der die
empfindliche Schicht 4 ein Mäandermuster auf dem von einem
Teil der Isolierschicht 2 gebildeten Kragarm 15 aufweist. Um
die empfindliche Schicht 4 zu einem Mäandermuster zu formen,
ist auch möglich, zuerst die Oberfläche des Teils des
Substrats 1, auf dem die empfindliche Schicht 4 letztlich
geformt wird, zu einem unregelmäßigem Muster zu verformen und
danach die empfindliche Schicht 4 darauf aufzubringen, was zu
einer mäanderförmigen empfindlichen Schicht führt. Die empfindliche
Schicht kann aus Stoffen mit großer Thermistorkonstanten
wie Ge, SiC, TaN usw. hergestellt werden. Die
empfindliche Schicht dieses Beispiels besteht aus Ge. Dünnschichtelektroden
5 sind so angeordnet, daß sie mit der
empfindlichen Schicht 4 in der gleichen Weise wie beim
Beispiel 2 in Kontakt stehen.
Danach wird das Si-Substrat einer anisotropen Ätzbehandlung
mit einem Ätzmittel unterworfen, das beispielsweise eine
Lösung mit Ethylendiamin, Pyrocatechol und Wasser ist, und
das Ätzen des Si-Kristalls erfolgt in Richtung der bevorzugten
Kristallachse in dem Bereich des Si-Substrats 1, der
nicht mit der Isolierschicht bedeckt ist, so daß der Teil des
Si-Substrats unter der Brückenstruktur der Isolierschicht 2
entfernt wird, was zu einem Chip mit Feuchtigkeitssensoreinheiten
führt, der eine Mikrobrückenstruktur aufweist, bei der
die Unregelmäßigkeit der Oberfläche der empfindlichen
Schicht den Wärmeableitbereich groß macht.
Dieses Beispiel schafft eine weitere Feuchtigkeitssensoreinheit,
welche die gleiche Struktur wie die von Beispiel 3 hat,
jedoch mit der Ausnahme, daß die Oberfläche der empfindlichen
Schicht 4 durch ein Präzisionsbearbeitungsverfahren zu einer
unregelmäßigen Form gestaltet wird. Die unregelmäßige Form
der empfindlichen Schicht 4 und ihre Bildung entsprechen
denen der empfindlichen Schicht des Beispiels 5.
Dieses Beispiel nennt Stoffe für die Elektroden der Feuchtigkeitssensoreinheit
beispielsweise nach Beispiel 1. Die Elektroden
5, die beispielsweise kammförmig hergestellt sind,
werden aus Metallen gemacht, die eine geringe Wärmeleitfähigkeit
wie Titan usw. besitzen, und zwar beispielsweise durch
Elektronenstrahl-Dampfablagerung, Vakuumdampfablagerung,
Sprühen usw.
Die Wärmeleitfähigkeit von SiO₂, das ein typisches
Isolierschichtmaterial ist, beträgt 1,4 W/m·K und die Wärmeleitfähigkeiten
von Ag, Cu, Au und Al, die typische Stoffe für
die auf der Isolierschicht gebildeten Elektroden sind,
betragen 428, 403, 319 bzw. 236 W/m·K. Wenn ein Stoff mit
geringer Wärmeleitfähigkeit, d. h. Titan o. ä., dessen Wärmeleitfähigkeit
20 W/m·K beträgt, für die Elektroden der
Sensoreinheit verwendet wird, dann ist die Wärmeaufnahmefähigkeit
reduziert, und dadurch wird die Einheit optimal zur
Verwendung in einer Sensoreinheit mit Brücke, Kragarm oder
Membran.
Die elektrische Leitfähigkeit eines Metalls ist im allgemeinen
proportional zur Wärmeleitfähigkeit des Metalls. Die
elektrische Leitfähigkeit von Titan o. ä., dessen Wärmeleitfähigkeit
extrem gering ist, ist ebenfalls extrem gering, und
daher ist der elektrische Widerstand von Elektroden aus Titan
o. ä. höher als von Elektroden aus Aluminium o. ä. Da jedoch
der elektrische Widerstand einer empfindlichen Schicht aus
Germanium usw. bemerkenswert groß ist, ist der Widerstand für
Titan o. ä. vernachlässigbar. Da ferner Titan einen hohen
Schmelzpunkt hat und bei Wärme stabil ist und da die
Hafteigenschaften von Titan an der Isolierschicht aus SiO
o. ä. hervorragend sind, kann der Sensor nach diesem Beispiel
mit Elektroden aus Titan oder ähnlich eine außergewöhnliche
Zuverlässigkeit erreichen.
Die Fig. 12a und 12b zeigen ein weiteres Ausführungsbeispiel
für einen Sensor, bei dem zwei empfindliche Schichten 4
auf dem gleichen Substrat 1 angeordnet sind. Eine empfindliche
Schicht 4 gehört zu der Meßsensoreinheit 8 und die
andere empfindliche Schicht 4 zu der Bezugssensoreinheit 9.
Der empfindliche Schichtabschnitt der Bezugssensoreinheit 9
ist in einem Gehäuse 60 luftdicht eingeschlossen. Die Oberseite
des Substrats 1 ist geätzt, um einen Hohlraum zu
bilden, in den das Gehäuse 60 eingesetzt und mit dem
Substrat 1 durch Glas mit geringem Schmelzpunkt oder durch
ein Bindemittel verbunden wird. Das Verbinden des Gehäuses 60
mit dem Substrat 1 läßt sich auch durch das Anlegen eines
elektrischen Feldes (Hochfrequenz) erreichen. Das Herstellungsverfahren
für diesen Sensor entspricht den zuvor erwähnten
Beispielen.
Obgleich das Substrat und/oder das Gehäuse aus Silicium
hergestellt sind, können sie auch aus einer Halbleiterverbindung
gemacht sein, die aus Elementen der Gruppen III-V wie
GaAs bestehen.
Claims (14)
1. Feuchtigkeitssensor vom Wärmeleitfähigkeitstyp mit einem Paar von Sensoreinheiten,
von denen eine eine Meßsensoreinheit (8) und die andere eine
Bezugssensoreinheit (9) ist;
von denen die Meßsensoreinheit (8) eine dünne Isolierschicht (2), eine empfindliche Schicht (4) sowie ein Paar mit der empfindlichen Schicht (4) in Kontakt stehende Elektroden (5) besitzt, wobei die empfindliche Schicht (4) einer zu messenden Atmosphäre derart ausgesetzt ist, daß sich der elektrische Widerstand der empfindlichen Schicht mit einer Änderung des Wasserdampfgehaltes der zu messenden Atmosphäre verändert;
und von denen die Bezugssensoreinheit (9) eine dünne Isolierschicht (2), eine empfindliche Schicht (4) sowie ein Paar mit der empfindlichen Schicht (4) in Kontakt stehende Elektroden (5) besitzt, wobei die Bezugssensoreinheit (9) derart in einem einen Hohlraum bildenden Gehäuse (60) eingeschlossen ist, daß der elektrische Widerstand der empfindlichen Schicht nicht durch eine Veränderung des Wasserdampfgehaltes der Atmosphäre außerhalb des Gehäuses (60) beeinflußt wird, so daß der absolute Wasserdampfgehalt der zu messenden Atmosphäre von der Ausgabeleistung des Sensors basierend auf einer Differenz zwischen dem elektrischen Widerstand der Meßsensoreinheit (8) und der Bezugssensoreinheit (9) bestimmbar ist; und
wobei sowohl die Meßsensoreinheit (8) als auch die Bezugssensoreinheit (9) ein Substrat (1) mit je einem hohlen Teil (10) aufweisen und die empfindliche Schicht (4) auf und ausschließlich im Bereich von einer Brücke (3), einem Kragarm (6) oder einem Membranteil (7) der dünnen Isolierschicht (2), die sich jeweils über dem hohlen Teil (10) des Substrats (1) erstrecken, aufgebracht ist.
von denen die Meßsensoreinheit (8) eine dünne Isolierschicht (2), eine empfindliche Schicht (4) sowie ein Paar mit der empfindlichen Schicht (4) in Kontakt stehende Elektroden (5) besitzt, wobei die empfindliche Schicht (4) einer zu messenden Atmosphäre derart ausgesetzt ist, daß sich der elektrische Widerstand der empfindlichen Schicht mit einer Änderung des Wasserdampfgehaltes der zu messenden Atmosphäre verändert;
und von denen die Bezugssensoreinheit (9) eine dünne Isolierschicht (2), eine empfindliche Schicht (4) sowie ein Paar mit der empfindlichen Schicht (4) in Kontakt stehende Elektroden (5) besitzt, wobei die Bezugssensoreinheit (9) derart in einem einen Hohlraum bildenden Gehäuse (60) eingeschlossen ist, daß der elektrische Widerstand der empfindlichen Schicht nicht durch eine Veränderung des Wasserdampfgehaltes der Atmosphäre außerhalb des Gehäuses (60) beeinflußt wird, so daß der absolute Wasserdampfgehalt der zu messenden Atmosphäre von der Ausgabeleistung des Sensors basierend auf einer Differenz zwischen dem elektrischen Widerstand der Meßsensoreinheit (8) und der Bezugssensoreinheit (9) bestimmbar ist; und
wobei sowohl die Meßsensoreinheit (8) als auch die Bezugssensoreinheit (9) ein Substrat (1) mit je einem hohlen Teil (10) aufweisen und die empfindliche Schicht (4) auf und ausschließlich im Bereich von einer Brücke (3), einem Kragarm (6) oder einem Membranteil (7) der dünnen Isolierschicht (2), die sich jeweils über dem hohlen Teil (10) des Substrats (1) erstrecken, aufgebracht ist.
2. Feuchtigkeitssensor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die
Dicke der dünnen Isolierschicht (2) 100 µm oder weniger ist.
3. Feuchtigkeitssensor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die
empfindliche Schicht (4) aus SiC, TaN, Ge, Si, BaTiO3 oder
einem Stoff gebildet ist, der im wesentlichen zumindest
einen dieser Stoffe enthält.
4. Feuchtigkeitssensor nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Oberfläche der empfindlichen Schicht (4) zu
einer unregelmäßigen Struktur geformt ist.
5. Feuchtigkeitssensor nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die
empfindliche Schicht (4) eine Mäanderform hat.
6. Feuchtigkeitssensor nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet,
daß die Oberfläche der empfindlichen Schicht (4) zu einer
unregelmäßigen Form geätzt ist.
7. Feuchtigkeitssensor nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet,
daß die Oberfläche der Schicht, über der die empfindliche
Schicht (4) aufgebracht ist, eine unregelmäßige Form (41-44) derart
aufweist, daß die Oberfläche der empfindlichen Schicht (4),
die auf der unregelmäßig geformten Oberfläche der
darunterliegenden Schicht aufgebracht ist, eine un
regelmäßige Form hat.
8. Feuchtigkeitssensor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß das Substrat (1) und das Gehäuse hauptsächlich
aus Silicium oder einer Halbleiterverbindung aus Elementen
der Gruppen III-V bestehen.
9. Feuchtigkeitssensor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Elektrode (5) aus einem Metall besteht, das
eine Wärmeleitfähigkeit von 100 W/m · K oder weniger hat.
10. Feuchtigkeitssensor nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß das
Metall Titan ist.
11. Feuchtigkeitssensor nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß die Meßsensoreinheit (8) und die Bezugs
sensoreinheit (9) voneinander getrennt sind.
12. Feuchtigkeitssensor nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß die Meßsensoreinheit (8) des Membran-
Typs und die Bezugssensoreinheit (9) des Membran-Typs auf
einem Substrat dadurch gebildet sind, daß die Meßsensoreinheit (8)
auf die Bezugssensoreinheit (9) derart aufgebracht
ist, daß der Bereich der empfindlichen Schicht (4) der
Bezugssensoreinheit (9) in dem Hohlraum der Meßsensoreinheit (8)
abgedichtet eingeschlossen ist (Fig. 6).
13. Feuchtigkeitssensor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die
Meßsensoreinheit (8) und die Bezugssensoreinheit (9) das gleiche
Substrat (1) haben.
14. Feuchtigkeitssensor nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß zwei
oder mehrere empfindliche Schichten (4) auf dem Substrat (1)
angeordnet sind.
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17962586 | 1986-07-29 | ||
JP62099323A JPH0795002B2 (ja) | 1987-04-22 | 1987-04-22 | センサ素子 |
JP12616487A JPS63289443A (ja) | 1987-05-21 | 1987-05-21 | 感湿素子 |
JP13060787A JPS63293459A (ja) | 1987-05-27 | 1987-05-27 | 検知素子 |
JP14349687A JPS63145954A (ja) | 1986-07-29 | 1987-06-08 | 感湿素子 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3724966A1 DE3724966A1 (de) | 1988-02-04 |
DE3724966C2 DE3724966C2 (de) | 1989-10-26 |
DE3724966C3 true DE3724966C3 (de) | 1996-03-21 |
Family
ID=27525957
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3724966A Expired - Fee Related DE3724966C3 (de) | 1986-07-29 | 1987-07-28 | Sensor |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4928513A (de) |
DE (1) | DE3724966C3 (de) |
GB (1) | GB2194845B (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10339403B3 (de) * | 2003-08-27 | 2004-12-09 | M.U.T Aviation-Technology Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der relativen Feuchte |
Families Citing this family (72)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02150754A (ja) * | 1988-11-30 | 1990-06-11 | Toshiba Corp | 感応素子の製造方法 |
EP0376721B1 (de) * | 1988-12-29 | 1998-07-15 | Sharp Kabushiki Kaisha | Détecteur d'humidité |
JP2829416B2 (ja) * | 1989-07-28 | 1998-11-25 | 株式会社クラベ | 感ガス素子 |
DE3932880A1 (de) * | 1989-10-02 | 1991-04-11 | Fraunhofer Ges Forschung | Katalytischer gassensor und verfahren zum herstellen desselben |
EP0448681B1 (de) * | 1989-10-17 | 1997-02-26 | I.T.V.I. International Techno Venture Invest Ag | Gas-sensor-anordnung |
DE3941837C2 (de) * | 1989-12-19 | 1994-01-13 | Bosch Gmbh Robert | Widerstandsmeßfühler zur Erfassung des Sauerstoffgehaltes in Gasgemischen und Verfahren zu seiner Herstellung |
US5079944A (en) * | 1990-04-27 | 1992-01-14 | Westinghouse Electric Corp. | Hydrocarbon vapor sensor and system |
US5150603A (en) * | 1991-12-13 | 1992-09-29 | Westinghouse Electric Corp. | Hydrocarbon vapor sensor and system |
US5382341A (en) * | 1992-09-10 | 1995-01-17 | Aroutiounian; Vladimir M. | Method of making smoke detector |
US5345213A (en) * | 1992-10-26 | 1994-09-06 | The United States Of America, As Represented By The Secretary Of Commerce | Temperature-controlled, micromachined arrays for chemical sensor fabrication and operation |
US5466605A (en) * | 1993-03-15 | 1995-11-14 | Arizona Board Of Regents | Method for detection of chemical components |
WO1994028372A1 (en) * | 1993-05-25 | 1994-12-08 | Rosemount Inc. | Organic chemical sensor |
US5423212A (en) * | 1993-06-18 | 1995-06-13 | Ricoh Seiki Company, Ltd. | Flow sensor |
US5388443A (en) * | 1993-06-24 | 1995-02-14 | Manaka; Junji | Atmosphere sensor and method for manufacturing the sensor |
FR2720161B1 (fr) * | 1994-05-20 | 1996-08-02 | Isen Rech | Procédé de fabrication d'un capteur de mesure de vapeur, capteur de mesure obtenu par le procédé et procédé d'utilisation de ce capteur. |
DE4423289C1 (de) * | 1994-07-02 | 1995-11-02 | Karlsruhe Forschzent | Gassensor für reduzierende oder oxidierende Gase |
US5985673A (en) * | 1994-12-22 | 1999-11-16 | Arizona Baord Of Regents | Method for regeneration of a sensor |
WO1996019724A1 (en) * | 1994-12-22 | 1996-06-27 | Senova Corporation | Apparatus for detecting selected chemical components of fluid streams |
US5533393A (en) * | 1995-01-13 | 1996-07-09 | Honeywell Inc. | Determination of dew point or absolute humidity |
US5533390A (en) * | 1995-03-15 | 1996-07-09 | Jones; Thaddeus M. | Anti-perch attachment for a sensor |
DE19610293C1 (de) * | 1996-03-15 | 1997-07-31 | Fraunhofer Ges Forschung | Vorrichtung zur gekapselten Aufnahme eines Materials |
US5795545A (en) * | 1996-05-20 | 1998-08-18 | Motorola Inc. | Integrated ceramic exhaust gas sensors |
US5659127A (en) * | 1996-08-26 | 1997-08-19 | Opto Tech Corporation | Substrate structure of monolithic gas sensor |
RU2137117C1 (ru) * | 1996-10-10 | 1999-09-10 | Самсунг Электроникс Ко., Лтд. | Гибридная интегральная схема газового сенсора |
US5880354A (en) * | 1997-06-11 | 1999-03-09 | Cts Corporation | Gas sensor with orientation insensitivity |
US6298710B1 (en) | 1998-02-20 | 2001-10-09 | Ford Global Technologies, Inc. | Combustible gas diode sensor |
US6876785B1 (en) * | 1999-06-30 | 2005-04-05 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Embedded sensor, method for producing, and temperature/strain fiber optic sensing system |
US6455000B1 (en) * | 1999-07-12 | 2002-09-24 | Fantom Technologies Inc. | Method and apparatus for measuring the concentration of a gas |
US6318151B1 (en) * | 1999-07-26 | 2001-11-20 | Abbott Laboratories | Self-contained sterilant monitoring assembly and method of using same |
US6257049B1 (en) * | 1999-08-31 | 2001-07-10 | Lucent Technologies, Inc. | Ambient humidity measurement using microwaves |
US6418784B1 (en) * | 1999-10-08 | 2002-07-16 | Ford Global Technologies, Inc. | Combined combustible gas sensor and temperature detector |
KR100351810B1 (ko) * | 1999-12-13 | 2002-09-11 | 엘지전자 주식회사 | 절대습도센서 |
KR100379471B1 (ko) * | 2000-07-19 | 2003-04-10 | 엘지전자 주식회사 | 절대습도센서 및 이를 이용한 온/습도 검출 회로 |
US6599362B2 (en) * | 2001-01-03 | 2003-07-29 | Sandia Corporation | Cantilever epitaxial process |
FR2825649B1 (fr) * | 2001-06-08 | 2003-10-17 | Francois Paul Geli | Support pour analyse comparatives d'echantillons sur micro-colonnes de fractionnement avec gradients de longueur, phases stationnaires alternees, et elutions digitalisees |
SE0102426D0 (sv) * | 2001-07-06 | 2001-07-06 | Bioett Ab | Fuktsensor |
DE10133013C2 (de) * | 2001-07-06 | 2003-07-03 | Karlsruhe Forschzent | Verschluss für Hohlräume oder Durchführungen |
DE10144343A1 (de) * | 2001-09-10 | 2003-03-27 | Perkinelmer Optoelectronics | Sensor zum berührugslosen Messen einer Temperatur |
DE10144873A1 (de) * | 2001-09-12 | 2003-03-27 | Bosch Gmbh Robert | Mikromechanischer Wärmeleitfähigkeitssensor mit poröser Abdeckung |
DE10146321B4 (de) * | 2001-09-20 | 2008-08-14 | Robert Bosch Gmbh | Sensorbaustein mit einem Sensorelement, das von einem Heizelement umgeben ist |
JP4016813B2 (ja) * | 2002-11-21 | 2007-12-05 | 松下電器産業株式会社 | ガス検出器とそれを用いた燃料電池システムおよび自動車 |
US6763699B1 (en) | 2003-02-06 | 2004-07-20 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of Natural Aeronautics And Space Administration | Gas sensors using SiC semiconductors and method of fabrication thereof |
JP3855950B2 (ja) * | 2003-03-19 | 2006-12-13 | 株式会社デンソー | 容量式湿度センサ |
US20060257286A1 (en) | 2003-10-17 | 2006-11-16 | Adams Jesse D | Self-sensing array of microcantilevers for chemical detection |
US7104113B2 (en) * | 2003-11-21 | 2006-09-12 | General Electric Company | Miniaturized multi-gas and vapor sensor devices and associated methods of fabrication |
US7413706B2 (en) * | 2003-12-19 | 2008-08-19 | Palo Alto Research Center Incorporated | Replaceable parylene membranes for nanocalorimeter |
US7021821B2 (en) * | 2004-05-28 | 2006-04-04 | Honeywell International Inc. | Differential thermal sensors |
WO2006039506A2 (en) | 2004-10-01 | 2006-04-13 | Board Of Regents Of The Nevada System Of Higher Education, On Behalf Of The University Of Nevada, Reno | Cantilevered probe detector with piezoelectric element |
JP2006138737A (ja) * | 2004-11-12 | 2006-06-01 | Fanuc Ltd | 比抵抗検出器及び比抵抗検出装置 |
TWI279536B (en) * | 2006-02-24 | 2007-04-21 | Ind Tech Res Inst | Cantilever resistive humidity detection structure and method for manufacturing the same |
CN101034076B (zh) * | 2006-03-10 | 2010-10-06 | 财团法人工业技术研究院 | 悬臂式电阻湿度感测结构及其制法 |
TWI314989B (en) * | 2006-06-23 | 2009-09-21 | Fego Prec Ind Co Ltd | Humidity sensor having temperature compensation self-comparing and manufacturing method therefore |
TWI319479B (en) * | 2006-10-18 | 2010-01-11 | Ind Tech Res Inst | A resistive-type humidity sensing structure with micro-bridge format and a method therefor |
US7886575B2 (en) * | 2006-11-01 | 2011-02-15 | Delaware Capital Formation, Inc. | High sensitivity acoustic wave microsensors based on stress effects |
CN101183085B (zh) * | 2006-11-14 | 2010-08-25 | 财团法人工业技术研究院 | 电阻式微桥湿度感测结构及其制造方法 |
US8393785B2 (en) * | 2009-05-14 | 2013-03-12 | Palo Alto Research Center Incorporated | Nanocalorimeter based on thermal probes |
US8130072B2 (en) * | 2009-05-14 | 2012-03-06 | Palo Alto Research Center Incorporated | Vanadium oxide thermal microprobes |
DE102009045302A1 (de) * | 2009-10-02 | 2011-04-07 | Robert Bosch Gmbh | Mikrostrukturierter Sensor zur Detektion von IR-Strahlung |
JP4896198B2 (ja) * | 2009-10-14 | 2012-03-14 | 国立大学法人東北大学 | 触覚センサシステム |
US8383048B2 (en) * | 2010-07-21 | 2013-02-26 | Schlumberger Technology Corporation | Microsensor for mercury |
US9588073B2 (en) * | 2012-12-19 | 2017-03-07 | Robert Bosch Gmbh | Resistive MEMS humidity sensor |
JP6069174B2 (ja) * | 2013-05-31 | 2017-02-01 | 東洋自動機株式会社 | 袋詰め包装機における超音波シール装置 |
US10634579B1 (en) | 2013-07-12 | 2020-04-28 | Hill-Rom Services, Inc. | Methods and apparatus for detecting position of a liquid |
US11313757B2 (en) | 2013-07-12 | 2022-04-26 | Hill-Rom Services, Inc. | Methods and apparatus for detecting a position of liquid |
US9719951B1 (en) | 2013-07-12 | 2017-08-01 | Helvetia Wireless Llc | Method and apparatus for moisture detection |
JP6256690B2 (ja) * | 2014-02-26 | 2018-01-10 | 三菱マテリアル株式会社 | 非接触温度センサ |
US9910003B1 (en) | 2014-12-18 | 2018-03-06 | Helvetia Wireless, Llc | Methods and apparatus for a moisture detector |
EP3241019B1 (de) * | 2014-12-29 | 2019-08-07 | Robert Bosch GmbH | Herstellungsverfahren für einen nanostrukturierten lanthanoxidfeuchtigkeitssensor und dazugehöriger feuchtigkeitssensor |
EP3153851B1 (de) * | 2015-10-06 | 2024-05-01 | Carrier Corporation | Mems-chip mit messstrukturen |
CN106841285B (zh) * | 2017-02-17 | 2019-12-24 | 电子科技大学 | 一种简易新颖的薄膜热学性能测试结构 |
JP7346374B2 (ja) * | 2020-09-23 | 2023-09-19 | 株式会社東芝 | 半導体基板及び半導体装置の製造方法 |
US20230375182A1 (en) * | 2022-05-20 | 2023-11-23 | Whirlpool Corporation | System and method for moisture and ambient humidity level prediction for food doneness |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL104894C (de) * | 1959-06-08 | |||
GB1135097A (en) * | 1965-07-14 | 1968-11-27 | Komyo Rikagaku Kogyo Kabushiki | Improvements relating to the measurement of combustible gas concentrations |
LU76937A1 (de) * | 1977-03-11 | 1978-10-18 | ||
US4177667A (en) * | 1978-03-03 | 1979-12-11 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Quick response humidity chamber |
US4299126A (en) * | 1978-09-26 | 1981-11-10 | Siemens Aktiengesellschaft | Device for measuring the level of a liquid in a container |
US4419888A (en) * | 1979-06-14 | 1983-12-13 | Kabushikikaisha Shibaura Denshi Seisakusho | Humidity measuring method |
JPS5618750A (en) * | 1979-07-25 | 1981-02-21 | Ricoh Co Ltd | Gas detector |
US4337658A (en) * | 1980-10-14 | 1982-07-06 | Honeywell Inc. | Humidity sensor |
CA1216330A (en) * | 1983-02-07 | 1987-01-06 | Junji Manaka | Low power gas detector |
US4497701A (en) * | 1983-02-22 | 1985-02-05 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Humidity sensitive device |
CH662421A5 (de) * | 1983-07-13 | 1987-09-30 | Suisse Horlogerie Rech Lab | Piezoelektrischer kontaminationsdetektor. |
US4542650A (en) * | 1983-08-26 | 1985-09-24 | Innovus | Thermal mass flow meter |
DE3437397A1 (de) * | 1984-10-12 | 1986-04-17 | Drägerwerk AG, 2400 Lübeck | Infrarot-strahler |
DE3504498A1 (de) * | 1985-02-09 | 1986-08-14 | Drägerwerk AG, 2400 Lübeck | Gassensor mit mehreren sensorelementen |
GB2172999A (en) * | 1985-03-25 | 1986-10-01 | Protimeter Plc | A humidity measurement or control instrument |
US4635467A (en) * | 1985-05-22 | 1987-01-13 | American Hospital Supply Corporation | Calibration cell for the calibration of gaseous or non-gaseous fluid constituent sensors |
JPS6283641A (ja) * | 1985-10-08 | 1987-04-17 | Sharp Corp | 電界効果型半導体センサ |
-
1987
- 1987-07-28 US US07/078,741 patent/US4928513A/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-07-28 DE DE3724966A patent/DE3724966C3/de not_active Expired - Fee Related
- 1987-07-29 GB GB8717919A patent/GB2194845B/en not_active Expired
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10339403B3 (de) * | 2003-08-27 | 2004-12-09 | M.U.T Aviation-Technology Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der relativen Feuchte |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2194845B (en) | 1990-10-24 |
DE3724966A1 (de) | 1988-02-04 |
US4928513A (en) | 1990-05-29 |
GB8717919D0 (en) | 1987-09-03 |
DE3724966C2 (de) | 1989-10-26 |
GB2194845A (en) | 1988-03-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3724966C3 (de) | Sensor | |
DE68928739T2 (de) | Detecteur d'humidite | |
DE69529477T2 (de) | Verfahren zur herstellung eines kapazitiven absolutdrucksensors | |
DE4244450C3 (de) | Verfahren zur Herstellung eines kapazitiven Drucksensors | |
DE3028249C2 (de) | Elektrische Heizeinrichtung für einen Gasdetektor | |
DE3780560T2 (de) | Fuehler und verfahren zu dessen herstellung. | |
DE3535904C2 (de) | Kapazitiver Absolutdruck-Sensor | |
DE3741941C2 (de) | ||
DE69727001T2 (de) | Verfahren zur Herstellung eines Sensors | |
DE69117374T2 (de) | SiC-Dünnschichtthermistor und Verfahren und Herstellungsverfahren. | |
DE69412769T2 (de) | Kapazitiver Sensor und Verfahren zur Herstellung | |
WO2001042776A1 (de) | Kapazitiver sensor | |
DE2709945A1 (de) | Kapazitiver druckwandler und verfahren zu dessen herstellung | |
DE3628017A1 (de) | Thermischer durchflusssensor | |
EP1440322A1 (de) | Mikrosensor | |
DE19753642C2 (de) | Verfahren zur Herstellung eines elektrischen Widerstands | |
DE2824609C2 (de) | Vorrichtung zur Feuchtigkeitsmessung durch elektrostatische Kapazitätsänderung | |
DE4036109C2 (de) | Widerstandstemperaturfühler | |
DE4300084C2 (de) | Widerstandsthermometer mit einem Meßwiderstand | |
EP1430293A2 (de) | Sensorbaustein mit einem sensorelement, das von einem heizelement umgeben ist | |
EP1115649B1 (de) | Mikromechanisches bauelement mit verschlossenen membranöffnungen | |
DE3519576C2 (de) | ||
DE69419570T2 (de) | Vorrichtung und Verfahren zum Nachweis einer Flüssigkeit und/oder einer Phasenveränderung | |
DE3853432T2 (de) | Verfahren zur Herstellung von Sensoren auf Siliziumgrundlage. | |
DE3034070C2 (de) | Feuchtigkeitsmeßfühler |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8363 | Opposition against the patent | ||
8328 | Change in the person/name/address of the agent |
Free format text: STOLBERG-WERNIGERODE, GRAF ZU, U., DIPL.-CHEM. DR.RER.NAT. SUCHANTKE, J., DIPL.-ING. HUBER, A., DIPL.-ING. KAMEKE, VON, A., DIPL.-CHEM. DR.RER.NAT. VOELKER, I., DIPL.-BIOL., PAT.-ANWAELTE, 2000 HAMBURG |
|
8366 | Restricted maintained after opposition proceedings | ||
8305 | Restricted maintenance of patent after opposition | ||
D4 | Patent maintained restricted | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |