DE3722425A1 - Gto-thyristor - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft einen Vollsteuergatterthyristor,
d.h. einen sogenannten GTO-Thyristor und befaßt sich ins
besondere mit einem Multiemitter-GTO-Thyristor, der zur
Steuerung eines hohen Stromes geeignet ist.
Ein GTO-Thyristor ist eine Halbleiterschaltsteuereinrich
tung, die aus einem Halbleitersubstrat mit einem PNPN-4-
Schichtaufbau mit Zwischenübergängen, zwei Hauptelektro
den, die in einem Ohmschen-Kontakt mit den äußeren Schich
ten des Substrates stehen,und einer Gatterelektrode aufge
baut ist, die in einem Ohmschen-Kontakt mit einer Innen
schicht des Substrates steht, wobei auf den Empfang eines
Steuersignals an der Gatterelektrode der Stromweg zwischen
den Hauptelektroden vom gesperrten (durchgeschalteten) Zu
stand in den durchgeschalteten (gesperrten) Zustand umge
schaltet wird. Das technische Hauptproblem von GTO-Thyristo
ren besteht darin, hohe Ströme mit hoher Geschwindigkeit
mit einem Steuergatterstrom abzuschalten, der so klein wie
möglich ist. Zur Lösung dieses Problems sind verschiedene
Prinzipien vorgeschlagen worden.
Ein bekanntes Beispiel ist der sogenannte Multiemitter-GTO-
Thyristor, der eine äußere N-leitende Schicht (Kathoden
emitterschicht) aufweist, die aus einer Vielzahl von strei
fenartigen Bereichen jeweils mit einer Breite von 0,2 bis
0,4 mm und einer Länge von einigen mm besteht, wie es in
der US PS 45 00 903 und der US PS 45 42 398 dargestellt
ist. Die Gatterelektrode eines derartigen GTO-Thyristors
ist so ausgebildet, daß sie jeden streifenartigen Bereich
mit einem konstanten Abstand davon umgibt. Bei einer der
artigen Ausbildung ist es während des Abschaltvorganges
möglich, Ladungsträger von der inneren P-Schicht (P-Basis-
Schicht) neben jedem streifenartigen Bereich gleichmäßig
über die gesamte Kathodenemitterschicht mit hoher Geschwin
digkeit zu entfernen.
Ein weiteres Beispiel ist ein GTO-Thyristor mit einer Anoden-
Emitter-Schicht, die einen sogenannten Kurzschlußemitterauf
bau hat, bei dem die innere N-Schicht (N-Basis-Schicht) und
die äußere P-Schicht (Anodenemitterschicht) mit der Anoden
elektrode in Kontakt stehen, wie es in der US PS 32 39 728
dargestellt ist. Bei einer derartigen Ausbildung kann die
Entfernung der Ladungsträger während des Abschaltvorganges
nicht nur von der Gatterelektrodenseite sondern auch von der
Anodenseite bewirkt werden, was die Geschwindigkeit des Ab
schaltvorganges erhöht. Bezüglich des kurzgeschlossenen Auf
baus der Anodenemitterschicht ist es aus der US PS 44 50 467
und der US-PS 45 00 903 gleichfalls bekannt, N⁺-Bereiche mit
einer höheren Störstellenkonzentration als die der N-Basis-
Schicht zwischen der N-Basis-Schicht und der Anodenelektrode
auszubilden. Diese N⁺-Bereiche unterstützen eine noch schnel
lere Entfernung der Ladungsträger von der N-Basis-Schicht.
Wie es in der US PS 45 00 903 dargestellt ist, verwendet ein
typischer GTO-Thyristor sowohl den Kathodenemitterschicht
aufbau aus einer Vielzahl von streifenartigen Bereichen als
auch den Kurzschlußemitteraufbau der Anodenemitterschicht,
um dadurch ein verbessertes Abschaltverhalten zu verwirklichen.
Eine Schwierigkeit bei einem derartigen GTO-Tyhristor be
steht darin, daß dann, wenn eine große Stromkapazität benö
tigt wird, eine große Anzahl von streifenartigen Bereichen,
die die Kathodenemitterschicht bilden, vorgesehen werden muß,
die in Mehrfachringform angeordnet sind, wie es in der US PS
45 00 903 dargestellt ist, so daß die Abschaltzeiten un
gleichmäßig werden können. Diese ungleichmäßigen Abschaltzei
ten werden im folgenden anhand der Fig. 1 bis 3 der zuge
hörigen Zeichnung erläutert.
Wie es in den Fig. 1 bis 3 dargestellt ist, umfaßt ein
scheibenförmiges Halbleitersubstrat 1 eine Kathodenemitter
schicht N E aus einer Vielzahl von streifenartigen Berei
chen 13 neben einer Hauptfläche 11, eine P-Basisschicht P B
neben der Kathodenemitterschicht N E und der Hauptfläche 11,
eine N-Basisschicht N B neben der P-Basisschicht P B, eine
Anodenemitterschicht P E neben der N-Basisschicht N B und der
anderen Hauptfläche 12 und eine N⁺-Schicht mit einer N-Stör
stellenkonzentration, die größer als die der N-Basisschicht
N B ist, und die neben der N-Basisschicht N B, der Anodenemitter
schicht und der Hauptfläche 12 vorgesehen ist. Jeder strei
fenartige Bereich 13 ist radial und konzentrisch im Halblei
tersubstrat so ausgebildet, daß insgesamt eine Doppelring
form gebildet ist. Die Anodenemitterschicht P E besteht aus
einer Vielzahl von streifenartigen Bereichen 14. Die strei
fenartige Bereiche 14 sind so angeordnet, daß dann, wenn je
der streifenartige Bereich 13 der Kathodenemitterschicht N E
auf die Hauptfläche 12 projiziert wird, der projizierte strei
fenartige Bereich 13 zwei streifenartige Bereiche 14 mit zu
einander in einer Linie ausgerichteter Längsrichtung überla
gert. Die N⁺-Schicht mit hoher N-Störstellenkonzentration
ist dicker als die Anodenemitterschicht P E und nimmt den ge
samten Bereich ein, an dem keine streifenartige Bereiche 14
an der Hauptfläche 12 vorhanden sind. Eine Kathodenelektro
de 2 steht in einem Ohmschen Kontakt mit dem streifenartigen
Bereich 13 an der Hauptfläche 11, während eine Anodenelektro
de 3 in einem Ohmschen Kontakt mit dem gesamten Bereich der
Hauptfläche 12 steht. Eine Gatterelektrode 4 steht im Ohm
schen Kontakt mit der freiliegenden Oberfläche der P-Basis-
Schicht P B an der Hauptfläche 11 derart, daß sie den streifen
artigen Bereich 13 mit einem konstanten Abstand davon umgibt.
Die Ebene der Gatterelektrode 4, die auf der Hauptfläche 11
ausgebildet ist, liegt näher an der Hauptfläche 12 als die
Ebene der Kathodenelektrode 2. Ein Gatteranschluß 5 bildet
einen Steuersignaleingabebereich.
Die Abmessungen der GTO-Thyristoreinheiten jeweils mit
einem streifenartigen Bereich 13 als äußerer Schicht sind
unabhängig von der inneren oder äußeren Position in den
beiden Ringen die gleichen. Unabhängig von der inneren
Position (Fig. 2) und der äußeren Position (Fig. 3) der
beiden Ringe sind insbesondere die Länge l, die Breite w
und der Abstand d zwischen zwei streifenartigen Bereichen
14 gleich.
Bei einem GTO-Thyristor mit dem oben beschriebenen Aufbau
unterscheiden sich die Abstände vom Steuersignaleingabebe
reich 5 zu den streifenartigen Bereichen 13 an den inneren
und äußeren Positionen der beiden Ringe um mehr als die
Länge des streifenartiges Bereiches 13. Der Querwiderstand
der Gatterelektrode 4 für eine GTO-Thyristoreinheit G 2 am
äußeren Ring ist somit größer als der einer GTO-Thyristor
einheit G 1 am inneren Ring. Die zwischen der Gatterelektro
de 4 und der Kathodenelektrode 2 der GTO-Thyristoreinheit
G 2 am äußeren Ring liegende Sperrvorspannung (Steuersignal
spannung) fällt daher stärker als die entsprechende Spannung
an der GTO-Thyristoreinheit G 1 am inneren Ring ab, was die
Sperrzeit des zuerst genannten Thyristors G 2 während eines
Sperr- oder Abschaltvorganges verlängert.
Während eines Sperrvorgangs des GTO-Thyristors sperrt folg
lich die GTO-Thyristoreinheit G 1 an der inneren Position der
beiden Ringe zuerst, so daß sich die Stromleitung auf die
GTO-Thyristoreinheit G 2 an der äußeren Position konzentriert,
die noch durchgeschaltet ist, was zu einem thermischen Durch
bruch der GTO-Thyristoreinheit G 2 führt.
Durch die Erfindung sollen die oben genannten Schwierigkeiten
beseitigt werden und soll ein GTO-Thyristor geschaffen wer
den, der GTO-Thyristoreinheiten mit gleichen Sperrzeiten auf
weist und einen großen Strom abschalten kann.
Dazu umfaßt der erfindungsgemäße GTO-Thyristor eine Viel
zahl von GTO-Thyristoreinheiten, wobei der Flächenbereich
der Anodenemitterschicht einer GTO-Thyristoreinheit mit
wachsendem Abstand vom Steuersignaleingabebereich immer
kleiner ausgebildet ist. Unter einer GTO-Thyristoreinheit
ist ein feiner GTO-Thyristor zu verstehen, der einen Mehr
schichtaufbau aus einer streifenartigen Kathodenemitter
schicht, einer P-Basisschicht, einer N-Basisschicht und
einer Anodenemitterschicht sowie Kathoden-, Anoden- und Gat
terelektroden umfaßt. Die Anodenemitterschicht hat einen
Kurzschlußemitteraufbau.
Der erfindungsgemäße GTO-Thyristor zeichnet sich weiterhin
dadurch aus, daß er eine Vielzahl von Thyristoreinheiten
umfaßt, wobei die Größe des Kurzschlusses der Anodenemitter
schicht der GTO-Thyristoreinheiten mit wachsendem Abstand
vom Steuersignaleingabebereich größer wird. Das heißt mit
anderen Worten, daß der Kontaktbereich zwischen der Anoden
elektrode und der N-Basisschicht der GTO-Thyristoreinheiten
mit wachsendem Abstand von dem Steuersignaleingabebereich
größer wird. Vorzugsweise sollte der Kontaktbereich der N-
Basisschicht mit der Anodenelektrode ein Bereich mit hoher
Störstellenkonzentration sein.
Im folgenden wird anhand der zugehörigen Zeichnung ein be
sonders bevorzugtes Ausführungsbeispiel der Erfindung be
schrieben. Es zeigen
Fig. 1 in einer schematischen Draufsicht einen herkömm
lichen GTO-Thyristor,
Fig. 2 eine schematische Schnittansicht längs der Linie
II-II in Fig. 1,
Fig. 3 eine schematische Schnittansicht längs der Linie
III-III in Fig. 1,
Fig. 4 eine schematische Draufsicht auf ein Ausführungs
beispiel des erfindungsgemäßen GTO-Thyristors,
Fig. 5 eine schematische Schnittansicht längs der Linie
V-V in Fig. 4 und
Fig. 6 eine schematische Schnittansicht längs der Linie
VI-VI in Fig. 4.
Das in den Fig. 4 bis 6 dargestellte scheibenförmige
Halbleitersubstrat umfaßt eine Kathodenemitterschicht N E mit
einer Vielzahl von streifenartigen Bereichen 13 neben einer
Hauptfläche 11, eine P-Basisschicht P B neben der Kathoden
emitterschicht N E und der Hauptfläche 11, eine Schicht P B,
die einen ersten PN-Übergang J 1 mit der Kathodenemitter
schicht N E bildet und eine Störstellenkonzentration hat,
die niedriger als die der Kathodenemitterschicht N E ist,
eine N-Basisschicht N B neben der P-Basisschicht P B, wobei
die Schicht N B einen zweiten PN-Übergang J 2 mit der P-Basis
schicht P B bildet und eine Störstellenkonzentration hat, die
niedriger als die der P-Basisschicht P B ist, eine Anodenemit
terschicht P E mit einer Vielzahl von streifenartigen Berei
chen 14 neben der N-Basisschicht N B und der anderen Hauptflä
che 12, wobei die Schicht P E einen dritten PN-Übergang J 3 mit
der N-Basisschicht N B bildet und eine Störstellenkonzentration
hat, die niedriger als die der N-Basisschicht N E ist, und eine
N⁺-Schicht neben der N-Basisschicht N B, der Anodenemitter
schicht P E und der Hauptfläche 12, wobei die N⁺-Schicht eine
Störstellenkonzentration hat, die größer als die der N-Basis
schicht N B ist. Jeder streifenartige Bereich 13 ist radial
und konzentrisch im Halbleitersubstrat so angeordnet, daß
sich insgesamt eine Doppelringform ergibt. Die streifenartigen
Bereiche 14 sind so angeordnet, daß dann, wenn jeder strei
fenartige Bereich 13 auf die Hauptfläche 12 projiziert wird,
die streifenartigen Bereiche 13 zwei streifenartige Bereiche
14 mit ihren zueinander in einer Linie ausgerichteten Längs
richtungen überlagert. Die N⁺-Schicht mit hoher N-Störstel
lenkonzentration ist dicker als die Anodenemitterschicht P E
und nimmt die gesamten Bereiche ein, an denen an der Hauptflä
che 12 keine streifenartigen Bereiche 14 vorhanden sind.
Die Abmessungen der GTO-Thyristoreinheiten jeweils mit
einem streifenartigen Bereich 13 als äußerer Schicht sind
in Abhängigkeit von der inneren und äußeren Position in
den beiden Ringen verschieden. Wenn w 1 die Breite des
streifenartigen Bereiches 14 und d 1 den Abstand zwischen
den streifenartigen Bereichen 14 jeweils einer GTO-Thyri
storeinheit G 1 an einer inneren Position der beiden Ringe
bezeichnet und wenn w2 die Breite des streifenartigen Be
reiches 14 und d 2 den Abstand zwischen den streifenartigen
Bereichen 14 jeweils einer GTO-Thyristoreinheit G 2 an einer
äußeren Position bezeichnen, dann sind die Abmessungen durch
die folgenden Gleichungen bestimmt:
w₁<w₂ (1)
d₁<d₂ (2)
w₁+d₁ = w₂+d₂ (3)
Das heißt, daß der freiliegende Bereich der Anodenemitter
schicht P E an der Hauptfläche 12 der GTO-Thyristoreinheit
G 2 an der inneren Position kleiner als der der GTO-Thyristor
einheit G 1 an der äußeren Position ist und daß der freilie
gende Bereich der N⁺-Schicht mit hoher N-Störstellenkonzen
tration entsprechend größer ist.
Eine Kathodenelektrode 2 steht in Ohmschem Kontakt mit je
dem streifenartigen Bereich 13 an der Hauptfläche 11, eine
Anodenelektrode 3 steht in Ohmschem Kontakt mit der gesamten
Hauptfläche 12 und eine Steuer- oder Gatterelektrode 4 steht
in Ohmschem Kontakt mit der freiliegenden P-Basisschicht P B
an der Hauptfläche 11, derart, daß sie den streifenartigen
Bereich 13 mit einem konstanten Abstand davon umgibt. Die
Ebene der Gatterelektrode 4 an der Hauptfläche 11 liegt näher
an der Hauptfläche 12 als die der Kathodenelektrode 2.
Ein Steueranschluß 5, der elektrisch mit der Gatterelek
trode im wesentlichen in der Mitte der Hauptfläche 11 ver
bunden ist, dient als Steuersignaleingabebereich.
Bei einem GTO-Thyristor mit dem oben beschriebenen Aufbau
sind die folgenden Beziehungen zwischen den GTO-Thyristor
einheiten an einer vom Steuersignaleingabebereich 5 entfern
ten Position und an einer nahe am Steuersignaleingabebe
reich 5 liegenden Position erfüllt:
- a) Aus der Ungleichung (1) ergibt sich, daß die Menge an Löchern, die nahe am zweiten Übergang J 2 im gewöhnlichen durchgeschalteten Zustand gespeichert ist, klein ist.
- b) Die Fähigkeit, Restladungsträger in der N-Basisschicht N B während eines Sperrvorganges zu entfernen, ist groß, was sich aus der Ungleichung (2) ergibt.
Folglich kann eine Sperrverzögerung der GTO-Thyristorein
heit G 2 am äußeren Ring bezüglich der GTO-Thyristoreinheit
G 1 am inneren Ring dadurch ausgeschlossen werden, daß die
Werte w 1, d1, w2 und d2, die die Ungleichungen (1) und (2)
erfüllen, konform mit den jeweiligen Abständen vom Steuer
anschluß 5 in geeigneter Weise gewählt werden. Alle GTO-
Thyristoreinheiten im Halbleitersubstrat können daher im we
sentlichen gleichzeitig sperren.
Bei dem obigen Ausführungsbeispiel war die erfindungsgemäße
Ausbildung bei einem GTO-Thyristor verwirklicht, der aus der
Vielzahl von GTO-Thyristoreinheiten aufgebaut ist, die so
angeordnet sind, daß sie die Form eines Doppelringes bilden,
und bei dem der Steuersignaleingabebereich in der Mitte des
Halbleitersubstrates vorgesehen ist. Die erfindungsgemäße
Ausbildung ist darauf nicht beschränkt, es sind vielmehr ver
schiedene Abwandlungsformen möglich. Beispielsweise können die
GTO-Thyristoreinheiten so angeordnet sein, daß sie eine Drei
fach- oder Mehrfachringform bilden, wobei der Steuersignal
eingabebereich in der Mitte, am Umfang, sowohl in der Mitte
als auch am Umfang oder an einem Zwischenbereich des Halb
leitersubstrates vorgesehen sein kann. Auch bei einer der
artigen Anordnung können dieselben Wirkungen wie bei dem
in den Fig. 4 bis 6 dargestellten GTO-Thyristor erzielt
werden, wenn die Ungleichungen (1) und (2) für jede GTO-
Thyristoreinheit angewandt werden. Es versteht sich weiter
hin, daß die erfindungsgemäße Ausbildung auch bei einem
GTO-Thyristor angewandt werden kann, bei dem zwar die GTO-
Thyristoreinheiten nicht in Form eines Ringes angeordnet
sind, bei dem diese jedoch unter Verwendung eines einzigen
Steuersignaleingabebereiches angesteuert werden.
Aus dem obigen ist ersichtlich, daß die GTO-Thyristoreinhei
ten eines GTO-Thyristors auf einem einzigen Plättchen bei
einem Sperrvorgang gleichzeitig sperren können, so daß sich
ein GTO-Thyristor ergibt, der wirksam einen großen Strom
abschalten kann.
Claims (2)
1. GTO-Thyristor mit einem Halbleitersubstrat (1), das
zwei gegenüberliegende Hauptflächen (11, 12) aufweist, wo
bei das Halbleitersubstrat zwischen den beiden Hauptflächen
eine erste Emitterschicht (N E) eines ersten Leitfähigkeits
typs neben einer der beiden Hauptflächen, eine erste Basis
schicht (P B) eines zweiten Leitfähigkeitstyps neben der ei
nen Hauptfläche und der ersten Emitterschicht, eine zweite
Basisschicht (N B) vom ersten Leitfähigkeitstyp neben der er
sten Basisschicht und der anderen Hauptfläche und eine zwei
te Emitterschicht (P E) vom zweiten Leitfähigkeitstyp neben
der zweiten Basisschicht und der anderen Hauptfläche umfaßt,
die erste Emitterschicht eine Vielzahl von streifenartigen
Bereichen (13) aufweist, die alle auf der ersten Basisschicht
voneinander getrennt sind, die zweite Emitterschicht eine
Vielzahl von streifenartigen Bereichen (14) aufweist, die
alle auf der zweiten Basisschicht voneinander getrennt sind,
und die streifenartigen Bereiche der ersten und der zweiten
Emitterschicht so angeordnet sind, daß beide Bereiche mit
ihren Längsrichtungen in einer Linie ausgerichtet übereinan
der liegen, wenn beide Bereiche auf die andere Hauptfläche
projiziert werden, mit einer ersten Hauptelektrode (2), die
in einem Ohmschen Kontakt mit der ersten Emitterschicht an
der einen Hauptfläche des Halbleitersubstrats steht, mit
einer zweiten Hauptelektrode (3), die in einem Ohmschen Kon
takt mit der zweiten Emitter- und der zweiten Basisschicht
auf der anderen Hauptfläche des Halbleitersubstrates steht,
mit einer Gatter- oder Steuerelektrode (4), die in einem
Ohmschen Kontakt mit der ersten Basisschicht an der einen
Hauptfläche des Halbleitersubstrates steht, so daß sie je
den streifenartigen Bereich der ersten Emitterschicht mit
einem konstanten Abstand dazu umgibt, und mit einem Steuer
anschluß (5), der mit der Steuer- oder Gatterelektrode an
einer gewünschten Stelle an der Gatterelektrode elektrisch
verbunden ist, dadurch gekennzeichnet, daß
der an der anderen Hauptfläche freiliegende Flächenbereich
des streifenartigen Bereiches einer zweiten Emitterschicht,
die vom Steueranschluß entfernt angeordnet ist, kleiner als
der entsprechende Bereich einer zweiten Emitterschicht ist,
die nahe am Steueranschluß angeordnet ist.
2. GTO-Thyristor nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß der streifenartige Bereich einer zwei
ten Emitterschicht, die vom Steueranschluß entfernt angeord
net ist, eine Breite senkrecht zur Längsrichtung hat, die
kleiner als die eines streifenartigen Bereiches ist, der nahe
am Steueranschluß angeordnet ist.
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