DE3631497A1 - Automatisches justierverfahren fuer lichtwellenleiterkomponenten - Google Patents
Automatisches justierverfahren fuer lichtwellenleiterkomponentenInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren gemäß dem Oberbe
griff des Patentanspruchs 1.
Bei der Herstellung von insbesondere aktiven Lichtwellen
leiterkomponenten muß eine lichtleitende Anschlußfaser
sehr genau in Bezug zum elektro-optischen Wandlerelement,
das heißt einem Lichtwellenleitersender bzw. -empfänger,
justiert werden.
Ein Verfahren zur automatischen Montage und Justierung
optischer Bausteine ist aus der Zeitschrift ntz, Band
39 (1986), Heft 5, Seiten 318 bis 323 bekannt. Hierbei
wird das elektro-optische Wandlerelement bei der Montage
zunächst im Gehäuse auf die Mitte der Gehäusedurchführung
ausgerichtet. Von dieser Position aus beginnt die aktive
Justierung. Dabei wird die Faser zyklisch in der X, Y
und Z-Richtung bewegt, wobei jeweils das zwischen Faser
und elektro-optischem-Wandlerelement übergekoppelte
Licht gemessen wird. Die Bewegung in jeder Koordinaten
richtung wird dabei solange fortgesetzt, bis die Mitte
des Fern- bzw. Nahfeldprofils und/oder ein Maximum der
eingekoppelten Lichtleistung erreicht wird. Ein solches
Verfahren ist relativ zeitaufwendig.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein automatisches
Justierverfahren der eingangs genannten Art anzugeben, bei
dem der Zeitaufwand und die Anzahl der Messungen möglichst
gering gehalten werden kann.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die im Patentan
spruch 1 angegebenen Merkmale gelöst.
Im folgenden wird die Erfindung anhand eines in der
Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispieles er
läutert. Dabei zeigt
Fig. 1 eine an sich bekannte Anordnung zur Durchführung
des erfindungsgemäßen Verfahrens, und die
Fig. 2 und 3 jeweils ein Diagramm zur Erläuterung
der einzelnen Verfahrensschritte.
Bei der in Fig. 1 dargestellten Anordnung soll bei
spielsweise eine Sendediode 1 bezüglich der in einer
Lichtwellenleiterkupplung 2 angeordneten Lichtwellen
leitfaser auf maximalen Koppelwirkungsgrad justiert
werden. Die Sendediode 1 ist dazu über einen Haltearm
6 mit Schrittmotortischen 3, 4, 5 mechanisch verbunden.
Über die Schrittmotortische 3 und 5 ist die Sende
diode 1 bezüglich der Lichtwellenleiterfaser in den
drei Koordinatenachsen bewegbar. Die justierte Sende
diode 1 wird dann beispielsweise durch Verkleben mit
der Kupplung 2 verbunden.
Die Sendediode 1 wird von einer Stromquelle 7 gespeist,
und die in die Kupplung 2 bzw. in die darin enthaltene
Lichtwellenleiterfaser eingekoppelte Lichtintensität
von einen Lichtwellenleiterempfänger 8 in ein elek
trisches Signal umgewandelt. Dieses wird von einem
Verstärker 9 verstärkt an ein Meßgerät 10 gegeben,
das dieses elektrische Signal digitalisiert und bei
spielsweise auch anzeigt. Vom Meßgerät 10 wird dieses
digitalisierte Signal an einen Personalcomputer 11
weitergegeben, der beispielsweise mit einem das Steuer
programm enthaltenden Floppy-Laufwerk 12 und einem
Drucker 13 zum Ausdrucken von Meßwerten und Steuer
befehlen in Verbindung steht. Diese können auch auf
einem Bildschirm 14 dargestellt werden.
Vom Personalcomputer 11 werden über Motorsteuergeräte
15 bis 17 Schrittmotore 18 bis 20 für die Positionierung
der Schrittmotortische 3 bis 5 angesteuert.
Im folgenden werden die einzelnen Schritte des erfin
dungsgemäßen Verfahrens anhand der Fig. 2 und 3
erläutert.
Die Strahlungsintensität wird z. B. in drei nahe beieinan
derliegenden Meßpunkten x 1 bis x 3 auf der x-Koordinate
gemessen. Es ist hierbei von untergeordneter Bedeutung,
mit welcher der drei Raumachsen begonnen wird. Der Ab
stand zwischen den einzigen Meßpunkten x 1 bis x 3 dieses
ersten Meßpunkttripels T 1 beträgt etwa einen Mikrometer.
Aus den gemessenen Werten der Strahlungsintensität, die
auf einer Strahlungsintensitätskurve f(x) liegen, werden
durch Interpolationsformeln Stützwerte für die erste und
zweite Ableitung f′(x), f′′(x) berechnet. Die zugehörigen
Formeln sind in den Fig. 2 und 3 angegeben.
Durch einen sich hieraus ergebenden positiven Wert für
die zweite Ableitung f′′(x 2), wird ein Grobsuchbereich
definiert, d. h. über einen der Schrittmotortische 3 bis
5 wird die zugehörige x-Koordinate um eine konstante Weg
strecke ds verändert. Die Wegstrecke ds wird dabei so ge
wählt, daß sie etwa 75% des Abstandes zwischen einem er
sten und einem zweiten Wendepunkt WP 1, WP 2 der Strahlungs
intensitätskurve f(x) entspricht.
Durch das Vorzeichen des jeweils zugeordneten Wertes der
ersten Ableitung f′(x) ist die Richtung gegeben, in der
die Wegstrecke ds zurückgelegt wird.
Das jeweils nächste Meßpunkttripel wird in diesem Grob
suchbereich solange mit Wegstrecken ds aufgesucht, bis
der Wert der zweiten Ableitung f′′(x) der Strahlungsin
tensitätskurve f(x) als negativer Wert festgestellt
wird.
Bei dem in Fig. 2 dargestellten Beispiel ist der Wert von
f′′(x) des Meßpunkttripels T 2 negativ. Dadurch wird ein
Feinsuchbereich definiert, in dem die zweite Ableitung
f′′(x) negativ ist. In diesem Feinsuchbereich wird, ausge
hend von den zum zweiten Meßpunkttripel T 2 gehörenden
Werten der ersten und zweiten Ableitung f′(x), f′′(x),
mit Hilfe des Newtonschen Näherungsverfahrens iterativ
die Nullstelle der ersten Ableitung f′(x) der Strahlungs
intensitätskurve f(x), und damit die Lage von deren Maxi
mum ermittelt.
Hierzu werden für den ersten Iterationsschritt beispiels
weise der Meßpunkt x 2 des zweiten Meßpunkttripels T 2 als
Startwert xn, und der zugehörige, durch Interpolation
gewonnene Funktionswert f′(xn) der ersten Ableitung
f′(x), sowie der Wert f′′(x) am Ort des Tripels T 2
verwendet. Die zugehörigen Formeln sind in Fig. 2 an
gegeben. Aus diesen Werten wird ein erster Schätzwert
x (n + 1) ermittelt. Über einen der Schrittmotortische
3-5 wird dieser Schätzwert x (n + 1) als mittlerer Meß
punkt x 2 eines nächsten Meßpunkttripels T (n + 1) ein
gestellt.
Die zu diesem Meßpunkttripel T (n + 1) gehörenden Werte der
Strahlungsintensitätskurve f(x) werden gemessen, und
daraus wiederum die zu den Ableitungen f′(x) und f′′(x)
gehörenden Werte berechnet. Analog zum ersten Iterations
schritt wird in einem zweiten Iterationsschritt ein zwei
ter, verbesserter Schätzwert x (n + 2) ermittelt.
Die Iterationsschritte werden solange ausgeführt, bis ein
Abbruchkriterium erfüllt ist. Als Abbruchkriterium kann
beispielsweise das Unterschreiten einer vorgegebenen
Minimaldifferenz zwischen zwei aufeinanderfolgenden
Schätzwerten, oder auch das Unterschreiten eines vorge
gebenen Minimalwertes für den Wert f′(xn i ) der zweiten
Ableitung f′(x) verwendet werden. Wenn das Abbruchkri
terium erfüllt ist, werden die Iterationsschritte für
diese Raumkoordinate, d. h. die x-Koordinate abgebrochen.
Das Justierverfahren wird mit der nächsten Raumko
ordinate festgesetzt, wobei wiederum auf dieser Raum
koordinate, beispielsweise der y-Koordinate die Strah
lungsintensität für ein erstes Meßpunkttripel T 1 ge
messen wird.
Das Justierverfahren wird für alle drei Raumkoordinaten
abgebrochen, d. h. die Sendediode 1 ist gegenüber der
Lichtwellenleiterfaser auf maximale Lichtüberkopplung
justiert, wenn beispielsweise die Strahlungsintensitäten
zu den jeweils letzten Meßpunkttripels auf den drei Raum
koordinaten sich um weniger als eine vorgegebene Mini
maldifferenz unterscheiden.
Für die Ermittlung des Nullpunktes der ersten Ableitung
f′(X) der Strahlungsintensitätskurve f(x) im Feinsuch
bereich wird noch eine zweite Methode vorgeschlagen.
Auch bei dem in Fig. 3 dargestellten Beispiel wird im
Grobsuchbereich eine konstante Wegdifferenz ds zwischen
zwei aufeinanderfolgenden Meßpunkttripeln eingestellt.
Auch hier ist der Wert f′′(x 2 (T 2)) der zweiten Ableitung
f′′(x) des zweiten Meßpunkttripels T 2 negativ.
Ausgehend von der Wegdifferenz ds im Grobsuchbereich
wird im Feinsuchbereich, d. h. ab dem zweiten Meßpunkt
tripel T 2, die Wegdifferenz ds fortlaufend halbiert.
Das heißt zwischen dem Meßpunkt x 1 des zweiten Meßpunkttripels
T 2 und dem nachfolgenden Meßpunkt x 1, der einen der bei
den Meßpunkte eines ersten Meßpunktdupels D 1 darstellt,
wird ein Abstand durch Verschieben eines der Schrittmotor
tische 3-5 entsprechend der Wegdifferenz 0,5 ds einge
stellt. Der Abstand zwischen dem ersten Meßpunktdupel D 1
und dem darauf folgenden zweiten Meßpunktdupel D 2 beträgt
0,25 ds, usw. Die Richtung, in der auf der x-Koordinate
des nächsten Meßpunktdupels eingestellt wird, wird analog
wie bei der Grobsuche durch das Vorzeichen der ersten
Ableitung f′(x) bestimmt.
Auch bei dieser zweiten Methode im Feinsuchbereich können
die gleichen Abbruchkriterien wie bei der vorstehend an
hand von Fig. 2 beschriebenen Methode verwendet werden.
Claims (2)
1. Verfahren zur Justierung einer Lichtwellenleiter
faser bezüglich eines elektro-optischen Wandlerelements,
wobei die in der jeweiligen Position übergekoppelte
Strahlungsintensität gemessen wird, und wobei zyklisch
die Faser und/oder das Wandlerelement in den drei Raum
koordinaten bewegt wird,
dadurch gekennzeichnet,
daß jeweils in einer Koordinatenrichtung die Strahlungs intensitäten zu jeweils einem aus drei nahe beieinander liegenden Meßpunkten (x 1, x 2, x 3) bestehenden Meßpunkt tripel gemessen, und daraus Werte für die erste und die zweite Ableitung (f′(x), f′′(x)) der Strahlungsinten sitätskurve (f(x)) errechnet werden,
daß in einem durch positive Werte der zweiten Ableitung definierten Grobsuchbereich jeweils ein nächstes Meß punkttripel in einem vorgegebenen, konstanten Abstand (ds) auf der Koordinate angefahren und durch das Vor zeichen der ersten Ableitung (f′(x)) die Richtung für das nächste Meßpunkttripel auf der Koordinate bestimmt wird, und
daß in einem durch negative Werte der zweiten Ablei tung definierten Feinsuchbereich entweder jeweils ein nächstes Meßpunkttripel mit dem Newtonschen Näherungs verfahren unter Verwendung der ersten Ableitung (f′(x)) oder jeweils ein aus zwei Meßpunkten (x 1, x 2) bestehendes Meßpunktdupel unter fortlaufender Halbierung der Abstände (ds) auf der Koordinate mit Richtungsbestimmung wie im Grobsuchbereich angefahren werden.
daß jeweils in einer Koordinatenrichtung die Strahlungs intensitäten zu jeweils einem aus drei nahe beieinander liegenden Meßpunkten (x 1, x 2, x 3) bestehenden Meßpunkt tripel gemessen, und daraus Werte für die erste und die zweite Ableitung (f′(x), f′′(x)) der Strahlungsinten sitätskurve (f(x)) errechnet werden,
daß in einem durch positive Werte der zweiten Ableitung definierten Grobsuchbereich jeweils ein nächstes Meß punkttripel in einem vorgegebenen, konstanten Abstand (ds) auf der Koordinate angefahren und durch das Vor zeichen der ersten Ableitung (f′(x)) die Richtung für das nächste Meßpunkttripel auf der Koordinate bestimmt wird, und
daß in einem durch negative Werte der zweiten Ablei tung definierten Feinsuchbereich entweder jeweils ein nächstes Meßpunkttripel mit dem Newtonschen Näherungs verfahren unter Verwendung der ersten Ableitung (f′(x)) oder jeweils ein aus zwei Meßpunkten (x 1, x 2) bestehendes Meßpunktdupel unter fortlaufender Halbierung der Abstände (ds) auf der Koordinate mit Richtungsbestimmung wie im Grobsuchbereich angefahren werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Abstand (ds) der im Grobbereich liegenden Meß
punkte etwa 75% des Abstandes zwischen den Wendepunkten
(WP 1, WP 2) der Strahlungsintensitätskurve (f(x)) beträgt.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19863631497 DE3631497A1 (de) | 1986-09-16 | 1986-09-16 | Automatisches justierverfahren fuer lichtwellenleiterkomponenten |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19863631497 DE3631497A1 (de) | 1986-09-16 | 1986-09-16 | Automatisches justierverfahren fuer lichtwellenleiterkomponenten |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3631497A1 true DE3631497A1 (de) | 1988-03-17 |
Family
ID=6309692
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19863631497 Withdrawn DE3631497A1 (de) | 1986-09-16 | 1986-09-16 | Automatisches justierverfahren fuer lichtwellenleiterkomponenten |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3631497A1 (de) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0356988A2 (de) * | 1988-08-31 | 1990-03-07 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Eine Vorrichtung für die Herstellung eines optischen Übertragungsmoduls |
DE3932458A1 (de) * | 1988-09-29 | 1990-04-05 | Fuller Research Corp | Verfahren zum gegenseitigen ausrichten einer optischen energiequelle und eines lichtleiters sowie vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens |
EP0602476A2 (de) * | 1992-12-15 | 1994-06-22 | International Business Machines Corporation | Verfahren und Vorrichtung für das aktive gruppenweise Ausrichten von Lasern und optischen Fibern |
DE10302752A1 (de) * | 2003-01-24 | 2004-08-05 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Vorrichtung und Verfahren zur automatischen Ausrichtung von Messapparaturen zu Punkstrahlern |
CN102231415A (zh) * | 2011-06-09 | 2011-11-02 | 北京工业大学 | 一种多led立体封装设备 |
CN104779428A (zh) * | 2014-12-31 | 2015-07-15 | 江苏安德信超导加速器科技有限公司 | 一种可水平移动的波导功分器 |
-
1986
- 1986-09-16 DE DE19863631497 patent/DE3631497A1/de not_active Withdrawn
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0356988A2 (de) * | 1988-08-31 | 1990-03-07 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Eine Vorrichtung für die Herstellung eines optischen Übertragungsmoduls |
EP0356988A3 (de) * | 1988-08-31 | 1991-03-20 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Eine Vorrichtung für die Herstellung eines optischen Übertragungsmoduls |
DE3932458A1 (de) * | 1988-09-29 | 1990-04-05 | Fuller Research Corp | Verfahren zum gegenseitigen ausrichten einer optischen energiequelle und eines lichtleiters sowie vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens |
EP0602476A2 (de) * | 1992-12-15 | 1994-06-22 | International Business Machines Corporation | Verfahren und Vorrichtung für das aktive gruppenweise Ausrichten von Lasern und optischen Fibern |
EP0602476A3 (de) * | 1992-12-15 | 1995-05-24 | Ibm | Verfahren und Vorrichtung für das aktive gruppenweise Ausrichten von Lasern und optischen Fibern. |
US5604832A (en) * | 1992-12-15 | 1997-02-18 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for batch, active alignment of laser arrays to fiber arrays |
DE10302752A1 (de) * | 2003-01-24 | 2004-08-05 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Vorrichtung und Verfahren zur automatischen Ausrichtung von Messapparaturen zu Punkstrahlern |
CN102231415A (zh) * | 2011-06-09 | 2011-11-02 | 北京工业大学 | 一种多led立体封装设备 |
CN102231415B (zh) * | 2011-06-09 | 2012-11-14 | 北京工业大学 | 一种多led立体封装设备 |
CN104779428A (zh) * | 2014-12-31 | 2015-07-15 | 江苏安德信超导加速器科技有限公司 | 一种可水平移动的波导功分器 |
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Legal Events
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