DE3628178A1 - Verfahren zur linearisierung der kennlinie einer messgroesse und anordnung zur durchfuehrung des verfahrens - Google Patents
Verfahren zur linearisierung der kennlinie einer messgroesse und anordnung zur durchfuehrung des verfahrensInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Linearisierung der
Kennlinie einer Meßgröße nach Anspruch 1 und eine Anordnung
zur Durchführung des Verfahrens.
Um eine möglichst fehlerfreie Temperaturmessung mittels Quo
tientenpyrometer zu erreichen, müssen Geräteoffset und Fremd
lichteinflüsse durch "Kaltmessung" am Meßort ermittelt und
während der Messung subtrahiert werden. Eine zusätzliche
Sicherheit bietet eine interne Eichlampe, welche ggf. eine
Verschiebung der Eichkurve zur Folge hat.
Nichtlineare Kennlinienverläufe von Meßgrößen sind gar nicht
so ungewöhnlich, aber sehr störend. Bei Analoganzeigen hat
man sich mit Eichen der Skalen behelfen können. Bei numeri
scher Meßwertverarbeitung ist eine vorherige Linearisierung
geradezu unumgänglich.
Aus der Schaltungstechnik sind kombinierte Knickstufen be
kannt, welche für einen einzigen funktionalen Zusammenhang
die lineare Darstellung der Meßgröße erzeugt. Diese Art der
Linearisierung ist sehr aufwendig und läßt keine exakte Nä
herung zu.
Bekannt ist auch die Linearisierung durch Ablegen von Wert
zuweisungen in E-PROMs. Der Analogwert wird durch einen ADC
konvertiert. Das digitale Wort ist die Adresse, unter welcher
der der Linearisierung entsprechende Ausgangswert gespeichert
ist. Dieser Wert wird mit einem DAC in einen Analogwert
zurückgewandelt. Es lassen sich mit diesem Verfahren sehr
viel genauere Näherungen erreichen.
Bei einer Modifikation dieses Verfahrens wird nur der Korrek
turwert im E-PROM abgelegt und zum analogen Meßwert addiert.
Dadurch wird die benötigte Bit-Zahl am Ausgang des E-PROMs
vermindert. Diese Lösungen des Linearisierungsproblems eignen
sich nur für einen bleibenden funktionalen Zusammenhang.
Flexibler aber für die meisten Anwendungsfälle zu langsam ist
die mathematische Erfassung des Kurvenverlaufes und die stän
dige Berechnung der Meßgröße aus dem Meßsignal.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine an verschie
dene Arten von Meßobjekten anpaßbare Linearisierung des Aus
gangssignals eines Quotientenpyrometers zu realisieren.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß mittels der im kennzeich
nenden Teil des Anspruches 1 angegebenen Verfahrensschritte
gelöst.
Die übrigen Ansprüche geben vorteilhafte Weiterbildungen und
Ausführungsformen des erfindungsgemäßen Verfahrens und der
Anordnung desselben an.
Das erfindungsgemäße Verfahren verbindet in vorteilhafter
Weise die schnelle Konversion eines PROMs als direktes Über
tragungsglied mit dem flexiblen Austausch der Konversions
werte mittels Mikrokontroller als Rechenglied.
Für unterschiedliche Linearisierungsfunktionen müssen nicht
mehr die E-PROMs ausgewechselt werden. Es genügt die Konver
sionswerte der Linearisierungsfunktionen aufzurufen und in
die RAMs oder E2-PROMs abzulegen. Ebenso können mit dieser
Anordnung selbständig Eichprozeduren gesteuert und daraus
eigene Linearisierungsfunktionen gebildet werden.
Die Erfindung ist im folgenden anhand eines Ausführungsbei
spiels mittels der Fig. 1 bis 4 beschrieben. Dabei zeigt
Fig. 1 die Übertragungsglieder einer Meßkette,
Fig. 2 das Flußdiagramm für einen Meßablauf mit einem
Meßwert,
Fig. 3 das Blockschaltbild mit den Bauteilen der linearisie
renden Übertragungsglieder der Meßkette,
Fig. 4 das Flußdiagramm für einen Meßablauf mit zwei Meß
werten.
Zu Fig. 1
Die einfachste Anordnung zur Linearisierung besteht aus einem A/D-Umsetzer 6 für die Analogdigitalwandlung, einem RAM als linearisierendes Übertragungsglied 1 und einem D/A-Umsetzer 12 für den linearen Signalausgang. Ein Mikrokontroller 2 oder Mikrorechner mit einem E-PROM als Materialbibliothek 5, in dem die mathematischen Formeln und Parameter oder die Kon versionswerte gespeichert sind, der für die Programmierung des linearisierenden Übertragungsgliedes 1 RAM dient. Für eine bestimmte Meßaufgabe wird nun der passende Formalismus aufgerufen oder berechnet und in das RAM abgelegt.
Die einfachste Anordnung zur Linearisierung besteht aus einem A/D-Umsetzer 6 für die Analogdigitalwandlung, einem RAM als linearisierendes Übertragungsglied 1 und einem D/A-Umsetzer 12 für den linearen Signalausgang. Ein Mikrokontroller 2 oder Mikrorechner mit einem E-PROM als Materialbibliothek 5, in dem die mathematischen Formeln und Parameter oder die Kon versionswerte gespeichert sind, der für die Programmierung des linearisierenden Übertragungsgliedes 1 RAM dient. Für eine bestimmte Meßaufgabe wird nun der passende Formalismus aufgerufen oder berechnet und in das RAM abgelegt.
Zur Inbetriebnahme werden entweder die im E-PROM 5 des Mikro
kontrollers 2 abgelegten Parameter oder Werte der
Linearisierungsfunktion nach Berechnung oder direkt in das
RAM des Linearisierungsteils 1 übertragen. Damit ist das
System für den gewählten Anwendungsfall betriebsbereit.
Die nichtelektrische Meßgröße 3 wird mittels Aufnehmer 3 a in
ein elektrisches Meßsignal umgesetzt und in einer Anpaß
schaltung 3 b auf einen normierten Gleichspannungswert ge
bracht, damit der nachfolgende A/D-Umsetzer 6 optimal ausge
legt werden kann. Das digitalisierte Signal wird in Echtzeit
verarbeitung über ein diskretes Übertragungsglied 1 mit einer
linearisierenden Kennlinie geleitet und digital weiterverar
beitet oder mittels D/A-Umsetzer wieder in eine analoge Ziel
größe umgesetzt.
Das Flußdiagramm für einen solchen Meßablauf ist in Fig. 2
dargestellt.
Soll eine nicht im E-PROM vorhandene Linearisierungsfunktion
erstellt werden, so geschieht dies mit Hilfe des externen 16-
Bit-Anschlusses zur Steuerung der Strahlungsquelle und dem
Analogdigitalumsetzer als Meßwertverarbeitung.
Die anhand der Fig. 1 beschriebene Einrichtung ermöglicht
u.a. funktionelle Zusammenhänge vor der eigentlichen Messung
vorzubereiten und verkürzt durch die schnellen Zugriffs
zeiten zu den Speicherbauteilen die gesamte Rechenzeit erheb
lich. Dies wird bei einer Verknüpfung von zwei Meßwerten
ausgenutzt, bei welchem einerseits eine Linearisierung wie im
Beispiel nach Fig. 1 und 2 erforderlich ist, darüber hinaus
aber noch die gesamte Meßwertverarbeitung in einem begrenzten
Zeitraum erledigt werden muß. Dies bedeutet bei einer Ver
knüpfung zweier Meßsignale wie z.B. bei einer "Zwei-Farben-
Version" eines Quotientenpyrometers zwei 14-Bit Subtrak
tionen, zwei Mittelwertbildungen, eine Division und die an
schließende Linearisierung des Quotienten pro Meßzyklus. Bei
50 Hz Meßfrequenz sind dies 20 ms.
Eine solche Lösung war in der Vergangenheit mit dem Einsatz
nur eines Mikroprozessors nicht möglich.
Die Betriebszustände des Linearisierens können in drei
Gruppen unterteilt werden:
- 1) Ermitteln der Linearisierungsdaten und Ablegen der Daten im Schreib-Lesespeicher.
- 2) Meßbetrieb.
- 3) Ermitteln einer Linearisierungsfunktion.
Im folgenden soll zu jeder Gruppe ein möglicher Ablauf anhand
von Fig. 3 beschrieben werden:
- 1) Ermitteln und Ablegen der Linearisierungsdaten:
Über das Terminal 17 wird das entsprechende Programm auf gerufen und im Dialog mit Parametern versorgt.
Der Mikrokontroller 10 berechnet nun anhand der im EPROM 13 abgelegten Formel die Linearisierungsdaten.
Diese Daten werden dann über den zweiten E/A-Block 9 in den Schreib-Lesespeicher 7 transportiert.
Zuvor wird jedoch über den ersten E/A-Block 9 die zuge hörige Adresse an das RAM 7 ausgegeben.
Um bei diesem Vorgang undefinierte und verbotene Betriebs zustände der Umsetzer 6, 12 zu vermeiden, werden diese zuvor in einen inaktiven Zustand gebracht.
Nach Abschluß dieses Ladevorgangs werden die Umsetzer 6, 12 wieder aktiviert und die entsprechenden Signalleitungen der E/A-Blöcke 8, 9 in den inaktiven Zustand gebracht. - 2) Meßbetrieb: (Meßablauf ohne Mikrokontroller)
Der A/D-Umsetzer 6 wird zyklisch angestoßen, um die am
Eingang anliegende Spannung zu digitalisieren.
Nach Ablauf der Konversion liefert der A/D-Umsetzer 6 den
entsprechenden Digitalwert an den Schreib-Lesespeicher 7
und generiert ein Ready-Signal.
Das Ready-Signal bewirkt nun, daß der D/A-Umsetzer 12 den am Eingang anstehenden Digitalwert konvertiert.
(Die RAM-Zugriffszeit kann gegenüber den Konversionszeiten vernachlässigt werden.) - 3) Ermitteln einer Linearisierungsfunktion:
Zur Ermittlung einer neuen Linearisierungsfunktion muß
über den ersten Datenbus 11 schrittweise die Strahlungs
quelle angesteuert werden.
Der Mikrokontroller muß weiterhin bei jedem Schritt den vom A/D-Umsetzer 6 gelieferten Wert erfassen.
Nach dem Ermitteln der Stützwerte kann die Linearisierungsfunktion numerisch aus den Wertepaaren bestimmt werden.
Ist die Funktion bekannt, so können die Ausgabewerte für einen vorgegebenen Meßbereich bestimmt und im Schreib- Lesespeicher abgelegt werden.
Das Flußdiagramm für den Meßablauf mit zwei Meßwerten, die
aus einem ersten Filter 20 und einem zweiten Filter 21 eines
Quotientenpyrometers stammen könnten, zeigt Fig. 4.
- Bezugszeichenliste
1 diskretes Übertragungsglied
2 Rechenglied
3 a Aufnehmer
3 b Anpaßschaltung
4 Meßkette
5 Materialbibliothek
6 A/D-Umsetzer
7 Schreib-Lesespeicher
8 erster Ein-Ausgangs-Block
9 zweiter Ein-Ausgangs-Block
10 Mikrokontroller
11 erster Datenbus
12 D/A-Umsetzer
13 E-PROM
14 PAL-Dekoder
15 Drucker
16 zweiter Datenbus
17 Terminal
18 Display
19 Zielgröße
20 erstes Filter
21 zweites Filter
Claims (7)
1. Verfahren zur Linearisierung der Kennlinie einer Meßgröße
mittels eines diskreten Übertragungsgliedes in einer Meß
kette, dadurch gekennzeichnet, daß die Übertragungskenn
linie des diskreten Übertragungsgliedes (1) mittels eines
Rechengliedes (2) abhängig von der Meßgröße (3) unter
Berücksichtigung der während der Messung und von Messung
zu Messung sich ändernden Übertragungseigenschaften der
Meßkette (4) aktualisiert wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die
Kennlinien verschiedener Meßgrößen (3) in einer Material
bibliothek (5) des Rechengliedes (2) gespeichert werden,
vor dem Aktualisieren der Übertragungskennlinie des dis
kreten Übertragungsgliedes (1) eine Kennlinie der Meßkette
(4) ermittelt wird und die zur Aktualisierung der Übertra
gungskennlinie aus der Materialbibliothek (5) entnommene
Kennlinie der Meßgröße (3) mit der aktuellen Kennlinie der
Meßkette (4) verknüpft wird, wobei die resultierende Kenn
linie die aktuelle übertragungskennlinie darstellt.
3. Anordnung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1
und 2, bestehend aus einer Meßkette (4) mit einem Aufneh
mer (3 a), einer Anpaßschaltung (3 b), einem A/D-Umsetzer
(6) und einem diskreten Übertragungsglied (1), das eine
die Liniearisierung bewerkstelligende Übertragungskenn
linie aufweist, gekennzeichnet durch ein die Übertragungs
kennlinie des diskreten Übertragungsgliedes (1) bestimmen
des Rechenglied (2).
4. Anordnung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß das
diskrete Übertragungsglied (1) aus einem Schreiblese
speicher (7) besteht.
5. Anordnung nach Anspruch 3 und 4, dadurch gekennzeichnet,
daß das Rechenglied (2) aus einem Mikrokontroller,
Rechner, Mikrorechner, Prozeßrechner oder Funktions
bildner aus PALs oder programmierbaren Logikanordnung
besteht.
6. Anordnung nach den Ansprüchen 3 bis 5, dadurch gekenn
zeichnet, daß das diskrete Übertragungsglied (1) aus min
destens einem RAM-Block (7) besteht, dessen Eingänge mit
den Ausgängen des A/D-Umsetzers (6) der Meßkette (4) und
mit einem ersten Ein-Ausgangs-Block (8) eines Mikrokon
trollers verbunden ist und dessen Ausgänge mit einem zwei
ten Ein-Ausgangs-Block (9) des Mikrokontrollers (10),
einem ersten Datenbus (11) und bei Bedarf einem D/A-
Umsetzer (12) verbunden sind.
7. Anordnung nach den Ansprüchen 3 bis 6, dadurch gekenn
zeichnet, daß der Mikrokontroller (10) ein E-PROM (13)
als Programmspeicher und Materialbibliothek (5), einen PAL DEC
(14) als Adreßdekodierer für die "Chip Select"-Signale und
ein RAM als Arbeitsspeicher und Materialbibliothek (5)
aufweist und einen Drucker (15) und einen Terminalanschluß
(17) hat, dessen Datenbus (16) mit einem Display (18)
verbunden ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19863628178 DE3628178A1 (de) | 1986-08-20 | 1986-08-20 | Verfahren zur linearisierung der kennlinie einer messgroesse und anordnung zur durchfuehrung des verfahrens |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19863628178 DE3628178A1 (de) | 1986-08-20 | 1986-08-20 | Verfahren zur linearisierung der kennlinie einer messgroesse und anordnung zur durchfuehrung des verfahrens |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3628178A1 true DE3628178A1 (de) | 1988-02-25 |
Family
ID=6307754
Family Applications (1)
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DE19863628178 Ceased DE3628178A1 (de) | 1986-08-20 | 1986-08-20 | Verfahren zur linearisierung der kennlinie einer messgroesse und anordnung zur durchfuehrung des verfahrens |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3628178A1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4124191A1 (de) * | 1991-07-20 | 1993-01-21 | Dornier Gmbh | Sensorsystem mit quasidigitaler kalibrierung |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3047504A1 (de) * | 1980-12-17 | 1982-07-22 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt | Verfahren zur bestimmung einer messgroesse und eine anordnung zur durchfuehrung des verfahrens |
DE3218511A1 (de) * | 1981-05-19 | 1983-03-03 | Setra Systems Inc., 01760 Natick, Mass. | Temperaturkompensierte messanordnung |
EP0078592A2 (de) * | 1981-11-02 | 1983-05-11 | Kaye Instruments, Inc. | Automatisches Kompensationsverfahren und -vorrichtung für Ausgangscharakteristiken für Sensoren und dergleichen |
DE3242967A1 (de) * | 1982-11-20 | 1984-05-24 | Hans-Jörg Dipl.-Kfm. 4400 Münster Hübner | Verfahren und messgeraet zum messen und verarbeiten von kenngroessen der umgebungsatmosphaere, insbesondere unter tage |
DE3340207A1 (de) * | 1983-11-07 | 1985-05-15 | WTW Wissenschaftlich-technische Werkstätten GmbH, 8120 Weilheim | Verfahren zur automatischen erfassung der temperaturabhaengigkeit von messsignalen |
DE3444768A1 (de) * | 1983-12-13 | 1985-06-20 | Olympus Optical Co., Ltd., Tokio/Tokyo | Verfahren zum korrigieren kolorimetrischer messergebnisse |
DE3535642A1 (de) * | 1985-10-05 | 1986-07-03 | Mtu Motoren- Und Turbinen-Union Friedrichshafen Gmbh, 7990 Friedrichshafen | Einrichtung zur korrektur von messwerten |
-
1986
- 1986-08-20 DE DE19863628178 patent/DE3628178A1/de not_active Ceased
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3047504A1 (de) * | 1980-12-17 | 1982-07-22 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt | Verfahren zur bestimmung einer messgroesse und eine anordnung zur durchfuehrung des verfahrens |
DE3218511A1 (de) * | 1981-05-19 | 1983-03-03 | Setra Systems Inc., 01760 Natick, Mass. | Temperaturkompensierte messanordnung |
EP0078592A2 (de) * | 1981-11-02 | 1983-05-11 | Kaye Instruments, Inc. | Automatisches Kompensationsverfahren und -vorrichtung für Ausgangscharakteristiken für Sensoren und dergleichen |
DE3242967A1 (de) * | 1982-11-20 | 1984-05-24 | Hans-Jörg Dipl.-Kfm. 4400 Münster Hübner | Verfahren und messgeraet zum messen und verarbeiten von kenngroessen der umgebungsatmosphaere, insbesondere unter tage |
DE3340207A1 (de) * | 1983-11-07 | 1985-05-15 | WTW Wissenschaftlich-technische Werkstätten GmbH, 8120 Weilheim | Verfahren zur automatischen erfassung der temperaturabhaengigkeit von messsignalen |
DE3444768A1 (de) * | 1983-12-13 | 1985-06-20 | Olympus Optical Co., Ltd., Tokio/Tokyo | Verfahren zum korrigieren kolorimetrischer messergebnisse |
DE3535642A1 (de) * | 1985-10-05 | 1986-07-03 | Mtu Motoren- Und Turbinen-Union Friedrichshafen Gmbh, 7990 Friedrichshafen | Einrichtung zur korrektur von messwerten |
Non-Patent Citations (6)
Title |
---|
DE-Z.: messen prüfen automatisieren, Juni 1986, S. 332-339 * |
Elektronik, 1978, H. 7, S. 81-87 * |
Elektronik, 1982, H. 14, S. 53-58 * |
GB-Z.: J. Phys. E: Sci. Instrum., 1983, Vol. 16, S. 952-958 * |
JP-Abstracts: JP - A2 59-226818, 10.12.1984 * |
US-Firmenkatalog: Hewlett & Packard, Measurement -Computation - Systems, 1986, eingegangen im DPA 12(1985, S. 203-216 * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4124191A1 (de) * | 1991-07-20 | 1993-01-21 | Dornier Gmbh | Sensorsystem mit quasidigitaler kalibrierung |
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