DE3624653A1 - Optische pruefeinrichtung fuer eine vielzahl von lichtwellenleitern - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft eine optische Prüfeinrichtung für eine Vielzahl von Lichtwellenleitern.

Aus der DE-OS 33 47 621 ist ein Verteilergestell für Lichtwellenleiter bekannt, bei dem eine der Anzahl der Glasfasern entsprechende Zahl von für Meßzwecke hin­ sichtlich jeder Glasfaser getrennt lösbaren einzeln zu­ gänglichen Glasfaserkupplungen vorgesehen ist. Im einzelnen wird hierzu ein Aufnahmebereich, vorzugsweise in Form eines oder mehrerer Magazine zur Aufnahme der Spleißverbindungen zwischen den einzelnen Glasfasern des Kabels und den ersten flexiblen Anschlußleitungen (soge­ nannten pigtails) vorgesehen. Weiterhin ist ein eigener Raum zur Aufnahme der Glasfaserkupplungen vorhanden und die in den Kupplungen mündenden freien Enden der An­ schlußleitungen sind in Klemmen gehalten.

Das bekannte Verteilergestell erfordert es, daß für Prüfzwecke die jeweilige Verbindung eigens gelöst werden muß, um an die zu untersuchende Lichtwellenleiterader herankommen zu können. Außerdem ergibt sich, da die ver­ schiedenen Anschlußstellen für Meßzwecke zugänglich sein müssen, ein großer Raumbedarf und dennoch ist für die Bedienungsperson die Zugänglichkeit wegen der geforder­ ten gedrängten Bauweise erschwert. Außerdem ist das Umklemmen beim Ändern eines Teilnehmeranschlusses durch Abzwicken der ins Gestell eingefädelten Leitung und durch Draufpacken einer neuen Leitung schon wegen der hohen Biege- und Zugbeanspruchung mit LWL-Kabeln nicht ohne weiteres möglich. Auch können mehrmalige Trennvor­ gänge zu einer Beschädigung führen.

Bei optischen Netzen der Zukunft wird davon auszugehen sein, daß diese von Vermittlungsrechnern geführt werden. Dies bedeutet, daß die Vermittlungsrechner dem Teilneh­ mer eine Telefonnummer zuordnen. Wenn der Teilnehmer innerhalb seines Amtsbereichs umzieht, dann behält er seine Telefonnummer bei. Das Umrangieren selbst erfolgt softwaremäßig durch den Vermittlungsrechner. Infolge des Wegfalls des Rangierens im Hauptverteiler kann dieser gänzlich anders aufgebaut werden als bisher.

Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein optisches Prüffeld zu schaffen, das als Prüfeinrich­ tung insbesondere im Bereich von Hauptverteilern univer­ sell einsetzbar ist. Gemäß der Erfindung wird diese Auf­ gabe bei einer optischen Prüfeinrichtung für eine Viel­ zahl von Lichtwellenleitern dadurch gelöst, daß die Lichtwellenleiter zu einem eingangsseitig mit ankommen­ den und ausgangsseitig mit abgehenden Lichtwellenleitern bestückten optischen Prüffeld zusammengefaßt sind und daß bei dem Prüffeld für jeden Lichtwellenleiter eine mittels eines Prüfstiftes zugängliche Prüfbuchse vorge­ sehen ist.

Das optische Prüffeld nach der Erfindung erlaubt somit mit Hilfe eines Prüfstiftes das Anzapfen der Lichtwel­ lenleiterverbindung und das Einkoppeln z. B. eines opti­ schen Meßsignals. Das optische Prüffeld gemäß der Erfin­ dung ist vorteilhaft so aufgebaut, daß ein mechanisches Auftrennen der Lichtwellenleiterverbindung nicht erfor­ derlich ist, obwohl alle beteiligten Lichtwellenleiter für Prüfzwecke mittels der Prüfbuchsen und der Prüf­ stifte zugänglich sind.

Weiterbildungen der Erfindung sind in Unteransprüchen wiedergegeben.

Die Erfindung und ihre Weiterbildungen werden nachfol­ gend anhand von Zeichnungen näher erläutert. Es zeigt

Fig. 1 in schematischer Darstellung den Aufbau eines Hauptverteilers für ein optisches Netz,

Fig. 2 in perspektivischer Darstellung ein optisches Prüffeld nach der Erfindung,

Fig. 3 eine Baueinheit für die Zusammenstellung eines optischen Prüffeldes nach Fig. 2,

Fig. 4 den Anschluß eines optischen Prüffeldes an ein optisches Hauptkabel mittels mehrerer Prüffelder,

Fig. 5 ein Anschlußschema für den Anschluß der elektrisch/optischen Rechnerschnittstelle an ein optisches Prüffeld,

Fig. 6 den Anschluß eines optischen Prüffeldes im Bereich eines Kabelverzweigers,

Fig. 7 den Einsatz eines optischen Prüffeldes im Bereich eines Endverzweigers,

Fig. 8 Einzelheiten des Aufbaus innerhalb eines optischen Prüffeldes,

Fig. 9 die Führung der Lichtwellenleiter im Bereich der Prüfbuchse,

Fig. 10 in schematischer Darstellung einen Prüfstift samt angeschlossener Auswerteelektronik,

Fig. 11 die Ankopplung mittels eines Prüfstiftes an eine Lichtwellenleiterader bei fest mit dem Prüffeld verbundener Koppeleinrichtung,

Fig. 12 in Seitenansicht und

Fig. 13 in gegenüber Fig. 12 um 90° gedrehter Ansicht eine Ausbildung eines Prüfstiftes, der selbst mit einer Koppeleinrichtung versehen ist, und zwar im geöffneten Zustand,

Fig. 14 in Seitenansicht und

Fig. 15 um 90° gedreht hierzu den Prüfstift nach Fig. 12 und 13 in angekoppelter Position und

Fig. 16 ein optisches Prüffeld mit einer Überbrückungs­ leitung.

In Fig. 1 ist das viele Lichtwellenleiteradern LW 1 bis LWn enthaltene Hauptkabel HK in einen Hauptverteiler HVT eingeführt, wobei die Lichtwellenleiteradern zu­ nächst einem optischen Prüffeld OP zugeleitet werden. Dieses optische Prüffeld hat die Aufgabe, jede einzelne Lichtwellenleiterader für Prüfvorgänge (z. B. Einkopp­ lung eines Prüfsignals, Auskopplung eines Prüfsignals oder Überprüfung durchlaufender Signale) zugänglich zu machen.

Am Ausgang des optischen Prüffeldes OP sind ebenso viele Lichtwellenleiter LW 1 bis LWn vorgesehen wie am Eingang, d. h. im Inneren des optischen Prüffeldes sind die Licht­ wellenleiter praktisch durchverbunden. Die ausgangssei­ tigen Lichtwellenleiter LW 1 bis LWn sind zu einer elektrisch/optischen Schnittstelle EO geführt, wo die optischen Signale in elektrische Signale umgewandelt werden, die dann zu einem Vermittlungsrechner CP gelan­ gen. In diesem Vermittlungsrechner CP wird das eigentli­ che Rangieren vorgenommen, d. h. der rufende Teilnehmer wird mit dem gerufenen Teilnehmer verbunden. Nach der Durchschaltung wird das zunächst elektrisch vorhandene Signal wieder in ein optisches Signal umgewandelt und dem dem jeweiligen Teilnehmeranschluß entsprechenden Lichtwellenleiter aus der Anzahl von LW 1 bis LWn zuge­ führt.

Die Einzelheiten des Aufbaus des optischen Prüffeldes OP sind in Fig. 2 dargestellt. Dabei ist angenommen, daß jeweils 10 Lichtwellenleiter 10 in einer Reihe angeord­ neten Prüfbuchsen zugeordnet werden, wobei die oberste Prüfbuchsenreihe mit PB 11 bis PB 110 bezeichnet ist. Zu ihr gehört ein ankommendes Lichtwellenleiterbündel BE 1 mit den Lichtwellenleitern LW 11 bis LW 110 und das (aus­ gangsseitige) abgehende Lichtwellenleiterbündel BA 1 ebenfalls mit den Lichtwellenleitern LW 11 bis LW 110. Die Organisation ist so getroffen, daß jede der Prüfbuchsen PB 11 bis PB 110 genau einem der Lichtwellenleiter LW 11 bis LW 110 zugeordnet ist.

Um einen an die jeweiligen Bedürfnisse der einzelnen Verteilerstellen angepaßten Aufbau zu ermöglichen, ist es zweckmäßig, das optische Prüffeld aus einzelnen Baueinheiten aufzubauen, wie dies aus Fig. 3 ersicht­ lich ist, wo eine derartige optische Baueinheit OPU 1 gezeichnet ist. Jede derartige optische Baueinheit OP 1, OP 2 hat somit im vorliegenden Beispiel genau 10 Prüf­ buchsen PB 11 bis PB 110 und entsprechend viele ange­ schlossene Lichtwellenleiter. Durch Aufstapeln derarti­ ger optischer Baueinheiten läßt sich ein optisches Prüffeld OP des jeweils gewünschten Anschlußwertes zu­ sammenstellen.

Im unteren Teil und zwar im Bereich der optischen Bau­ einheit OPU 8 ist eine andere Zuführung der Lichtwellen­ leiter LW 81 bis LW 810 gezeigt, die hier als Einzeladern eingeführt sind, also nicht in Form eines Bündels wie bei der oberen optischen Baueinheit OPU 1.

In dem dargestellten Prüffeld kann somit jede einzelne Lichtwellenleiterader zur Einkopplung oder Auskopplung von Lichtsignalen mittels eines Prüfstiftes erreicht werden, dessen näherer Aufbau anhand der Fig. 10 bis 15 erläutert wird.

Im Bereich der optischen Prüffelder OP werden besonders strapazierfähige Lichtwellenleiteradern verwendet, damit diese durch die verschiedenen Koppelvorgänge keine unzu­ lässigen mechanischen Beeinträchtigungen erfahren. Be­ sonders vorteilhaft ist es in diesem Zusammenhang ein hochelastisches und festes Coating zu verwenden, wobei insbesondere ein zweifaches Coating, z. B. eine CPC 3 Pri­ märbeschichtung mit einem zusätzlichen Nylonüberzug ge­ eignet ist (Außendurchmesser ca. 500 µm). Die optische Prüfeinheit wird werksseitig fertiggestellt, mit den Prüfbuchsen und den jeweiligen Lichtwellenleiteradern bestückt, diese Lichtwellenleiteradern weisen auch werksseitig bereits die fertigen Anschlußeinrichtungen auf (z. B. in Form von pigtails oder Steckeinrichtungen, wie sie etwa näher in Fig. 5 erläutert sind). Diese fertige Vorbestückung wird sowohl auf der Ausgangsseite als auch auf der Eingangsseite der optischen Prüffelder vorgenommen, so daß mit einem derartigen optischen Prüf­ feld ein universell einsetzbares, an die jeweiligen An­ wendungsfälle anpaßbares und auch weitgehend standardi­ siertes Bauteil zur Verfügung steht, das einen relativ geringen Raumbedarf aufweist, leicht und zuverlässig bedient werden kann, für die Bedienungsperson übersicht­ lich gestaltet ist und eine gute Zugänglichkeit zu allen zu prüfenden Lichtwellenleiteradern ermöglicht.

In Fig. 4 ist die Einführung z. B. eines Hauptkabels HK in den Keller KL eines Gebäudes dargestellt. Die einzel­ nen Bündel BD 1 bis BD 3 des Hauptkabels werden nach der Eintrittsstelle nicht gespleißt, so daß in dem mit SFA bezeichneten Bereich keine Spleißvorgänge durchzuführen sind. Die einzelnen Bündel BD 1 bis BD 3 gelangen zu ent­ sprechenden optischen Prüffeldern OP 1 bis OP 3, wobei diese optischen Prüffelder, wie bereits erwähnt, vorbe­ reitete Anschlüsse aufweisen, die in den Spleißmodulen SM 1 bis SM 3 angeschlossen werden können.

Einzelheiten des Aufbaus dieser Spleißmodule SM 1 bis SM 3 sind aus Fig. 5 entnehmbar, wo die am Ausgang eines op­ tischen Prüffeldes OP vorhandenen Anschlußmöglichkeiten nebeneinander dargestellt sind. So kann beispielsweise, wie in der oberen Reihe dargestellt, eine Bündelader BA 1 * mit einem Mehrfachstecker SMS 1 (z. B. eine durch Ätzen von Siliziumplatten hergestellte Mehrfach-Steck­ vorrichtung) angeschlossen werden, deren Gegenstück mit SME 1 bezeichnet ist und fest in der elektrisch/optischen Schnittstelle EO angebracht ist.

Es besteht aber auch die Möglichkeit, wie bei dem Ader­ bündel BA 6* gezeigt, mittels Einzelsteckern SMF 1 bis SMFn die einzelnen Lichtwellenleiteradern zu einer Steckerleiste zu führen, die mit SE 6 bezeichnet ist und ebenfalls in der elektrisch/optischen Schnittstelle EO liegt.

Schließlich besteht auch die Möglichkeit, im Bereich der elektrisch/optischen Schnittstelle EO eine Bündelader BA 10** vorzusehen, welche der vom optischen Prüffeld OP kommenden Bündelader BA 10* entspricht. Beide Bündel­ adern BA 10* und BA 10** sind zu einem zwischen der elektrisch/optischen Schnittstelle EO und dem optischen Prüffeld OP liegenden Spleißeinrichtung SMM 10 geführt und dort in bekannter Weise miteinander optisch leitend verbunden.

Das optische Prüffeld ist nicht nur im Bereich von Ver­ mittlungsrechnern einsetzbar, vielmehr kann es wegen seiner universellen Eigenschaften z. B. auch im Bereich von Kabelverzweigern KVZ eingesetzt werden, wie in Fig. 6 dargestellt ist. Dort ist ein Hauptkabel mit HK be­ zeichnet, das auf verschiedene Verzweigungskabel aufge­ trennt werden soll. Aus dem Hauptkabel selbst werden verschiedene Bündelgruppen gebildet, wobei die verwen­ deten Zahlenindizes jeweils die Anzahl der im jeweiligen Bündel vorhandenen Lichtwellenleiteradern angeben. Im einzelnen werden aus dem Hauptkabel HK die Bündelgruppen BD 100, BDE 20 und BDE 10 abgezweigt. Durch die Modulbau­ weise ist es möglich, das optische Prüffeld entsprechend zu gestalten, wobei die optischen Prüffelder OP 1, OP 2 und OP 3 jeweils 100 Prüfbuchsen enthalten und mit den Bündelgruppen BD 100 verbunden sind. Dagegen enthält die optische Prüfeinheit OPE 1 nur 10 Prüfbuchsen entspre­ chend den angeschlossenen 10 Lichtwellenleiteradern bei BDE 10. Für das Bündel BDE 20 mit den optischen Prüffeld­ einheiten OPE 2 und OPE 3 sind jeweils 10 Prüfbuchsen vor­ gesehen. Insgesamt enthält somit das optische Prüffeld OP 330 Prüfbuchsen, die in unterschiedlicher Weise auf die verschiedenen Verzweigungskabel VK 100 (mit 100 Lichtwellenleiteradern), VK 70 (mit 70 Lichtwellenlei­ teradern), VK 60 (mit 60 Lichtwellenleiteradern) und VK 40 (mit 40 Lichtwellenleiteradern) verzweigt werden. Im Kabelverzweiger KVZ selbst wird nicht rangiert.

Bei vielen Teilnehmeranschlüssen in einem oder in be­ nachbarten Gebäuden wird allerdings zweckmäßig das Hauptkabel ohne einen Kabelverzweiger entsprechend Fig. 6 direkt zu einem Endverzweiger entsprechend Fig. 7 geführt. Dort ist das als Verzweigungskabel oder als Hauptkabel eingesetzte optische Kabel mit HVK bezeich­ net. Der Endverzweiger EVZ enthält einen Spleißmodul SMU in dem die ankommenden Lichtwellenleiteradern mit den zum optischen Prüffeld OP gehörenden Lichtwellenleiter­ adern verbunden werden. Am Ausgang des optischen Prüf­ feldes OP sind Einzel-Spleißmodule SM 11, SM 12 und SM 13 vorgesehen, zu denen die vom optischen Prüffeld OP kom­ menden Einzeladern geführt sind. Dabei sind jedoch Ver­ zweigungen und Überkreuzungen möglich, d. h. in diesem Bereich findet das Rangieren statt. Obwohl somit am Ausgang des optischen Prüffeldes OP eine Rangiermöglich­ keit für die vom Prüffeld OP kommenden Lichtwellenlei­ teradern existiert, kann dennoch deren Einheitsbauweise beibehalten werden, wobei lediglich hier Einzelstecker oder Einzelspleißmodule im Bereich von SM 11 bis SM 13 vorzusehen sind, also Anordnungen z. B. wie bei SM 1 in Fig. 5. Ein Teil der Lichtwellenleiteradern, nämlich die vom Ausgang der Spleißmodule SM 11 und SM 12 sind zu den Teilnehmern innerhalb des jeweiligen Hauses geführt, andere, die keine Rangierung aufweisen, z. B. die des Ausgangs des Spleißmoduls SM 13) werden zu einem Nach­ barhaus NH weitergeleitet.

In Fig. 8 ist der Verlauf der einzelnen Lichtwellenlei­ teradern LW 11, LW 12, LW 13 usw. innerhalb eines optischen Prüffeldes OP im einzelnen dargestellt. Die zunächst als Bündel ankommenden Lichtwellenleiteradern werden ge­ trennt und als Einzeladern LW 11, LW 12, LW 13 an der je­ weiligen Prüfbuchse PB 11, PB 12, PB 13 vorbeigeführt. Da­ durch ist über jede Prüfbuchse definiert jeweils eine Lichtwellenleiterader des der jeweiligen Reihe zugeord­ neten Bündels ankoppelbar.

Fig. 9 ist in vergrößerter Darstellung die Führung einer Lichtwellenleiterader, z. B. LW 11 im Bereich der Prüfbuchse PB 11 gezeichnet. Die Lichtwellenleiterader selbst ist beiderseits der Prüfbuchse PB 11 mit ent­ sprechenden Faserspannvorrichtungen so fixiert, daß sie für den Koppelvorgang einer Biegung unterworfen werden kann, ohne daß es zu einem Abreißen der Lichtwellenlei­ terader kommt. Dieser Biegevorgang ist notwendig, um in die Lichtwellenleiterfaser Licht ein- oder auskoppeln zu können. Im einzelnen kann die Federspannvorrichtung so ausgebildet sein, wie sie im linken Teil der Fig. 9 ge­ zeichnet ist. Dort ist eine Rückstellfeder SP 1 vorgese­ hen, welche einen im Drehpunkt DP 1 gelagerten Rückstell­ keil RK 1 elastisch gegen die Lichtwellenleiterader LW 11 drückt. Im Fixpunkt FX 1 erfolgt eine Fixierung z. B. durch Einlegen oder Einkleben der Faser LW 11 in eine Nut, die längs des Rückstellkeils RK 1 eingebracht ist. Die Fixierung wird nur im hinteren, geraden Abschnitt des Rückstellkeils RK 1 vorgenommen. Nach dem Ziehen des Prüfstiftes, der im gesteckten Zustand eine zusätzliche Faserlänge wegen der Koppelbiegung erfordert, muß die Prüffaser LW 11 wieder in die Ausgangsposition zurückge­ bracht werden. Deshalb darf beim Fixpunkt FX 1 nichts rutschen. Während im linken Teil der Fig. 9 die Elasti­ zität des Rückstellkeils RK 1 durch die Feder SP 1 er­ reicht wird, ist im rechten Teil ein in sich federnder Rückstellkeil RK 2 angenommen.

Dieser Federkeil kann also aus elastischem Material bestehen, beispielsweise aus einem federnden Plastik­ plättchen oder einer dünnen Metallzunge. Im Punkt FX 2 erfolgt die Fixierung der Lichtwellenleiterader LW 11; dort ist auch der in sich elastische Rückstellkeil RK 2 an dem Gehäuse des optischen Prüffeldes OP gehalten. Wird beim Einbringen eines Prüfstiftes auf die Lichtwel­ lenleiterader LW 11 eine zur Bildung eines bogenförmigen Koppelbereiches notwendige Zugkraft ausgeübt, so geht der elastische Rückstellkeil RK 2 entsprechend der Pfeil­ richtung nach unten (und RK 1 nach oben) und gibt dadurch eine gewisse Länge der Lichtwellenleiterader LW 11 frei, welche zur Bildung des gebogenen Koppelbereiches benutzt wird. Außerhalb der Faserfixierung FX 2 erfolgt keine Be­ wegung der Lichtwellenleiterader LW 11. Der Längsaus­ gleich selbst erfolgt also zwischen den Fixierpunkten FX 1 und FX 2, d. h. beiderseits der Prüfbuchse PB 11. Die Lichtwellenleiterader braucht zum Zweck der Ankopplung nicht vom Coating befreit zu werden; es wird durch die (lichtdurchlässige) Beschichtung hindurch ausgekoppelt.

Einzelheiten des Aufbaus eines Prüfstiftes samt der zu­ gehörigen Einrichtungen sind in schematischer Darstel­ lung in Fig. 10 gezeigt. Der Prüfstift PS weist einen Griff GP und eine eigentliche Prüfspitze PSP auf, mit welcher er in die Prüfbuchse des optischen Prüffeldes OP eingeführt werden kann. Über ein hochflexibles Lichtwel­ lenleiterkabel LWK werden die optischen Signale einer elektronisch/optischen Einrichtung ELO zugeführt, welche entweder die Bereitstellung von optischen Signalen er­ möglicht (z. B. mittels LED) oder eine entsprechende Empfangseinrichtung für optische Signale enthält, um ausgekoppelte Signale aus dem optischen Prüffeld auswer­ ten und/oder anzeigen zu können.

In Fig. 11 ist ein Prüfstift PS in vergrößerter Dar­ stellung gezeichnet. Am stirnseitigen Ende der Prüf­ spitze PSP ist eine wannenförmige Einbuchtung PKT vorge­ sehen, deren Größe so gewählt ist, daß sie zu einem an der Wand PW der optischen Prüfeinrichtung befestigten Bolzen BP paßt. An dem Bolzen BP ist die Lichtwellenlei­ terader LW 11 vorbeigeführt, wobei die Prüfspitze PSP die Lichtwellenleiterader LW 11 im Endzustand so gegen den Bolzen BP drückt, daß Licht aus der Lichtwellenleiter­ ader im Biegebereich ausgekoppelt und von den optisch leitfähigen Materialien der Prüfspitze PSP aufgenommen und zu den Auswerteeinrichtungen im Bereich der elektro- optischen Baueinheit ELO nach Fig. 10 gelangen kann. In analoger Weise erfolgt die Einkopplung von Signalen in den Lichtwellenleiter LW 11. Die Prüfspitze PSP muß lichtleitendes Material enthalten, bevorzugt in Form einer Lichtwellenleiterader, deren Kernbereich einen besonders großen Durchmesser aufweist (ca. 100 µm - vgl. z. B. DE-OS 34 29 947).

Die Krümmung der Kontur PKT am stirnseitigen Ende der Prüfspitze PSP muß so gewählt werden (und ebenso der Durchmesser des Bolzens BP), daß die Lichtwellenleiter­ ader LW 11 keine Schädigung erfährt. Zweckmäßige Durch­ messer für den Bolzen BP liegen in der Größenordnung von etwa 3 bis 8 mm.

Damit die Prüfspitze PSP mit ihrem stirnseitigen Ende den Bolzen BP in der richtigen Position erreicht, muß die Einführung des Prüfstiftes in genau definierter Weise erfolgen. Hierzu ist an der Prüfspitze PSP eine Führungsleiste FPS angebracht, welche in eine korrespon­ dierende Nut FPB (vergleiche Fig. 9) der Prüfbuchse PB 11 eingreift. Durch diese Nut- und Federführung ist die genaue Ausrichtung des stirnseitigen Endes der Prüfspitze PSP und damit der Kontur PKT auf den Bolzen BP gewährleistet.

Wenn der Aufwand für jeweils jede einzelne Lichtwellen­ leiterader mittels eines Bolzens BP vermieden werden soll, dann besteht die Möglichkeit, den Prüfstift PS so auszubilden, daß er die notwendige Verformung der Lichtwellenleiterader im Bereich seiner Stirnseite selbst vornehmen kann. Einzelheiten hierzu sind in den Fig. 12 bis 15 dargestellt. Fig. 12 zeigt, daß im Bereich der Prüfspitze PSP mittels eines Drehpunktes DPK ein Bolzen BS am stirnseitigen Ende schwenkbar gelagert angebracht ist. Das stirnseitige Ende des Prüfstiftes PSP weist die gleiche Kontur PKT wie beim Ausführungs­ beispiel nach Fig. 11 auf. In der Seitenansicht nach Fig. 12 ist diese Kontur nur gestrichelt zu sehen, wäh­ rend ihre Form selbst aus der um 90° gegenüber Fig. 12 gedrehten Anordnung nach Fig. 13 deutlich ersichtlich ist. Im Bereich des Griffes GP des Prüfstiftes PS ist ein Ring RG angebracht, der durch eine Feder RF von dem stirnseitigen Ende des Griffes GP weggedrückt wird. Mit diesem Ring RG ist eine Zugeinrichtung ZE verbunden, welche außerhalb des Drehpunktes DPK an das Ende des schwenkbaren Bolzens BS angreift. Wenn der Prüfstift PS in die Prüfbuchse PB 11 in der Wandung GP des optischen Prüffeldes OP eingeführt wird, dann stößt der Ring RG an die Außenfläche in der Wandung GP des optischen Prüffel­ des an. Bei weiterem Einschieben des Prüfstiftes PS wird der Ring entgegen der Kraft der Federn RF nach hinten bewegt und übt dadurch einen Zug auf den schwenkbaren Bolzen BS aus. Dieser bewegt sich, wie durch den gestri­ chelten Pfeil in Fig. 12 angedeutet, nach innen und drückt dadurch die an der Stirnseite der Prüfspitze an­ liegende Lichtwellenleiterader LW 11 nach innen in die Kontur PKT der Prüfspitze. Im Endzustand ist die Licht­ wellenleiterader LW 11 durch den beweglichen Bolzen BS vollständig nach innen in die Kontur eingedrückt, wie dies in Fig. 14 gezeigt ist, wo der bewegliche Bolzen BS vollständig in der Kontur PKT zu liegen kommt. Fig. 15 zeigt die entsprechende Anordnung nach Fig. 14 in einer um 90° gedrehten Darstellung, woraus die zur Kopp­ lung notwendige bogenförmige Führung der Lichtwellenlei­ terader LWL deutlich hervorgeht.

In manchen Fällen ist es zweckmäßig, nicht nur eine Ein- oder Auskopplung bzw. Ankopplung durchzuführen, sondern eine Trennung bei den Lichtwellenleiteradern vorzusehen. Ein Anwendungsfall kann z. B. darin bestehen, daß für Testzwecke ein (nur hardwaremäßiger) Wechsel der Teil­ nehmernummer ermöglicht werden soll. Beispielsweise kann es vorteilhaft sein, eine Testnummer vorzusehen und den Teilnehmer bei Bedarf auf diese Testnummer zu schalten. Ein Beispiel für eine derartige Anordnung ist in Fig. 16 dargestellt, wobei ein Aufbau ähnlich der Fig. 1 ge­ wählt ist und von dort auch die Bezugszeichen übernommen sind. Innerhalb des optischen Prüffeldes OP soll bei­ spielsweise die Lichtwellenleiterader LW 1 mit der Licht­ wellenleiterader LWn verbunden werden und dabei eine Abkopplung (Trennung) an den mit X bezeichneten Stellen erfolgen. Im einzelnen wird hierzu ein Überbrückungska­ bel UBK verwendet, das an beiden Enden mit jeweils einem Prüfstift versehen ist, der in die zugehörige Prüfbuchse der jeweiligen Lichtwellenleiterader eingesteckt wird. Innerhalb des Überbrückungskabels UBK ist jeweils an bei­ den Enden im Bereich der Prüfstifte eine Ansteuerelektro­ nik vorgesehen und beide Steuerelektroniken sind durch eine Verbindungsleitung miteinander verbunden. Auf diese Weise ist es möglich, eine völlige Entkopplung (Tren­ nung) bestimmter Lichtwellenleiteradern durchzuführen. Im einzelnen erfolgt dies so, daß die Krümmung der Lichtwellenleiterader an der Koppelstelle so stark verändert wird, daß praktisch das gesamte Licht aus der jeweiligen Lichtwellenleiterader in den Prüfstift einge­ koppelt wird bzw. daß das gesamte Licht aus dem Prüf­ stift in die Lichtwellenleiterader eingekoppelt wird. Durch diese praktisch 100%ige Übertragung des Lichtes entspricht eine derartige Koppelstelle einer mechani­ schen Trennstelle, ohne daß es notwendig ist, die Lichtwellenleiter mechanisch zu unterbrechen oder aufzu­ trennen.

Ein weiterer Anwendungsfall für den Einsatz einer Über­ brückung im Bereich des optischen Prüffeldes OP besteht dann, wenn es zu einer Unterbrechung der Lichtwellenlei­ terader, z. B. im Teilnehmerbereich gekommen ist und ohne Eingriff in den Vermittlungsrechner CP eine Ersatzschal­ tung durchgeführt werden soll. Somit ist die Anlage z. B. auch bei einer Störung des Vermittlungsrechners mittels Überbrückungsleitungen UBK im Bereich des optischen Prüffeldes OP in vielfältiger Weise trennbar, verbindbar und verschaltbar. Auch lassen sich mittels derartiger Trennungen mit Hilfe entsprechend angepaßter Prüfstifte oder Einführungstiefen derselben Dämpfungsmessungen oder Durchgangsprüfungen oder dergl. in einfacher Weise im Bereich des optischen Prüffelds OP durchführen.

Im einzelnen hat der Prüfstift also folgende Aufgaben:

• 1. Einkopplung von Licht in die ankommende oder abgehende Faser,
• 2. Auskopplung von Licht aus der ankommenden oder abgehenden Lichtwellenleiterader,
• 3. Aufbau einer Sprechleitung für z. B. das Montage- und Überwachungspersonal,
• 4. zeitweises Brücken einer defekten Leitung im Prüffeld,
• 5. Auftrennen der Verbindung.

An Meßmöglichkeiten bietet sich an, daß der Verbindungs­ rechner ein z. B. kalibriertes oder genormtes Prüfsignal aussendet, welches im Hauptverteiler, in der Kabelver­ zweigung (Fig. 6) oder im Endverzweiger (Fig. 7) mit dem Empfangsteil des Prüfsteckers PS empfangen werden kann. In gleicher Weise kann ein vom anderen Ende der Strecke von einem zweiten Prüfstift gesendetes Meßsignal oder ein Rückstreusignal empfangen werden. Mit dem Prüf­ stift PS läßt somit jedes Teilstück der Strecke einzeln auf seine Funktionsfähigkeit überprüfen. Mittels eines zweiten Satzes von Prüfstiften kann über eine Dienstlei­ tung ein Sprechkreis aufgebaut werden.

Claims (21)

1. Optische Prüfeinrichtung für eine Vielzahl von Licht­ wellenleitern (LW 11 bis LW 110), dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtwellenleiter (LW 11 bis LW 110) zu einem ein­ gangsseitig mit ankommenden und ausgangsseitig mit abge­ henden Lichtwellenleitern bestückten optischen Prüffeld (OP) zusammengefaßt sind und daß bei einem Prüffeld (OP) für jeden Lichtwellenleiter (LW 11 bis LW 110) eine mittels eines Prüfstiftes (PS) zugängliche Prüfbuchse (PB 11 bis PB 110) vorgesehen ist.

2. Optische Prüfeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Prüffeld (OP) die Prüfbuchsen (z. B. PB 11, PB 12) in geraden Reihen und Spalten enthält.

3. Optische Prüfeinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß jedes Prüffeld (OP) aus mehreren einheitlich aufgebau­ ten Einzelfeldern (OPU 1, OPU 2) zusammengesetzt ist.

4. Optische Prüfeinrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß jedes Einzelfeld (OPU 1, OPU 2) die gleiche Zahl von Prüfbuchsen (z. B. PB 11, PB 12) und die gleiche Zahl von zu- und abgehenden Lichtwellenleitern aufweist.

5. Optische Prüfeinrichtung nach einem der vorhergehen­ den Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß in die Prüfbuchsen (z. B. PB 11, PB 12) der Prüfstift (PS) in definierter Lage (z. B. durch Führungen FPS, FPB) einführbar ist.

6. Optische Prüfeinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß ein Prüfstift (PS) vorgesehen ist, der eine Unterbre­ chung zwischen den zu- und abgehenden Lichtwellenleitern bewirkt.

7. Optische Prüfeinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtwellenleiter im Prüffeld (OP) überbrückbar ausgebildet sind.

8. Optische Prüfeinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtwellenleiter (z. B. LW 11, LW 12) im Bereich des Prüffeldes (OP) besonders elastisch und oder besonders widerstandsfähig ausgebildet sind.

9. Optische Prüfeinrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtwellenleiter (z. B. LW 11, LW 12) im Bereich des Prüffeldes (OP) eine besonders kräftige/elastische Beschichtung (Coating) aufweisen.

10. Optische Prüfeinrichtung nach einem der vorhergehen­ den Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Prüfstift (PS) im Bereich der Prüfbuchse (PB) eine Verformung des jeweiligen Lichtwellenleiters (z. B. LW 11) derart vornimmt, daß es zu einer Lichteinkopplung und/oder Lichtauskopplung führt.

11. Optische Prüfeinrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß der Prüfstift (PS) am stirnseitigen Ende eine eine Kopplung bewirkende Kontur (PKT) aufweist, in die der zu verformende Lichtwellenleiter (LW 11) einpreßbar ist.

12. Optische Prüfeinrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß der Lichtwellenleiter (LW 11) gegen ein der Kontur (PKT) angepaßtes Andruckteil (BP, BS) preßbar ist.

13. Optische Prüfeinrichtung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß das Andruckteil fest mit dem Gehäuse (PW) des Prüffel­ des (PO) verbunden und jedem Lichtwellenleiter ein derar­ tiges Andruckteil (BP) zugeordnet ist.

14. Optische Prüfeinrichtung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß das Andruckteil (BS) am Prüfstift (PS), insbesondere schwenkbar, angebracht ist.

15. Optische Prüfeinrichtung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß das Andruckteil (BS) durch eine Betätigungseinrichtung (ZE, RG) beim Einführen des Prüfstiftes (PS) in die Prüfpo­ sition in die gewünschte Stellung bringbar ist (Fig. 14, 15).

16. Optische Prüfeinrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß der Prüfstift (PS) seinerseits lichtleitende Einrich­ tungen aufweist.

17. Optische Prüfeinrichtung nach einem der vorhergehen­ den Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß jedem Lichtwellenleiter (z. B. LW 11, LW 12) des Prüffel­ des (OP) eingangsseitig zum ankommenden Kabel hin eine Spleißverbindung zugeordnet ist.

18. Optische Prüfeinrichtung nach einem der vorhergehen­ den Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß jedem Lichtwellenleiter (z. B. LW 11, LW 12) des opti­ schen Prüffeldes (OP) eingangs- und ausgangsseitig jeweils eine Spleißverbindung zugeordnet ist, insbesondere in Form vorbereiteter, lösbarer Steckverbindungen.

19. Optische Prüfeinrichtung nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, daß die Spleißverbindung in Form von Mehrfachsteckern (SMS 1, Fig. 5) ausgebildet sind.

20. Optische Prüfeinrichtung nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, daß die Spleißverbindungen in Form von Einfachsteckern (SMF 1 bis SMFn, Fig. 5) ausgebildet sind.

21. Optische Prüfeinrichtung nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, daß die Spleißverbindungen unlösbar, insbesondere als Schweißverbindungen ausgebildet sind.