DE3610484C2 - Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen des Ortes von in Flachglas vorhandenen Fehlern - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren, wie es im Anspruch 1 angegeben ist, und eine Vorrichtung, wie sie in Anspruch 23 angegeben ist.

Besonders befaßt sich die Erfindung mit dem Ort oder der Position von Fehlern in einem laufenden Glasband, kann aber auch für die Lokalisierung von Fehlern in vororientierten Glasscheiben während deren Förderung längs eines bestimmten Weges herangezogen werden.

Heutzutage wird Flachglas fast ausschließlich als Band entweder in einer Zieh­ maschine oder in einer Floatkammer hergestellt; das Band wird durch einen Kühlofen zu einer Schneidstation gefördert, wo es in Scheiben zum Zwecke des Lagerns und der weiteren Verarbeitung geschnitten wird. Dieser Schneidvorgang wird manchmal automatisch unter Computerkontrolle durchgeführt, so daß Scheiben gewünschter Größen aus dem Band bei minimaler Vergeudung von Glas geschnitten werden können.

Der Qualitätsstandard von Scheiben aus Glas hängt ab von der Anzahl und der Schwere von Fehlern in den Scheiben. Wenn ein Band oder eine Scheibe aus Flachglas geschnitten werden soll, um Scheiben gewünschter Größe und von gewünschten Qualitätsstandards zu liefern, so ist es wünschenswert, das Vorhandensein und den Ort von merklichen zu bestimmenden Fehlern vorher zu ermitteln, so daß deren Orte bei der Bestimmung der Stellen, an denen das Glas geschnitten werden soll, berücksichtigt werden können.

In einer industriellen Anlage ist es äußerst wünschenswert, das Fehlerermitt­ lungsverfahren zu automatisieren, und automatische Ermittlungs- und Meß­ verfahren unter Verwendung der ablenkenden Wirkung von Fehlern auf einen Lichtstrahl oder ein Lichtbündel sind bereits bekannt. Beispielsweise wird hier Bezug auf die GB 1 526 930 genommen, die ein System beschreibt, bei dem eine Glasscheibe oder ein Glasband, die längs eines Förde­ rers sich bewegen, wiederholt von einem abtastenden Lichtstrahl überquert werden und wobei Ablenkungen des Lichtstrahls aufgrund des Vorhandenseins von Fehlern durch ein Photodetektorsystem überwacht werden, welches ge­ eignete Signale an einen Speicher weiterleitet. Der Ort der lichtablenkenden Fehler läßt sich aus dem Timing dieser Signale herleiten. Die Überquerungszahl oder die Abtastzeit ist eine Anzeige für den Ort des Fehlers längs des Glases; sein Ort längs einer Überquerungslinie wird hergeleitet durch Vergleich mit einer festgelegten Grundstellung.

Die DE 30 34 901 A1 beschreibt ein Fehlererfassungssystem für ein Gewebe oder Vlies. Das Gewebe bewegt sich auf einem Förderer. Unter Zuhilfenahme eines beweglichen Spiegels streicht ein Laserstrahl quer über das Gewebe, um dessen Breite zu prüfen. Ein unterhalb des Gewebes liegender Empfänger erlaubt die Erfassung von Fehlern in dem Gewebe bzw. Vlies. Ein Detektor ist auf dem Empfänger nahe der Kante des Gewebes angeordnet. Der Detektor ermöglicht die korrekte Positionierung des Strahls in Bewegungungsrichtung des Gewebes, so daß die Abtastlinie, entlang der sich der Laserstrahl bewegt, in einer optima­ len Position über dem Empfänger liegt. Das von dem Detektor abgegebene Signal wird einer elektronischen Schaltung zugeführt, die über eine Steuereinrichtung den Spiegel so orientiert, daß die Abtastlinie in ihrer optimalen Position über dem Empfänger gehalten oder zu dieser zurückgeführt wird.

Die US 38 71 773 beschreibt ein Verfahren zum Erfassen und Differenzieren zweier unterschiedlicher Fehlertypen in einer Glasscheibe, die sich bewegt. Weiterhin wird die Codierung der Strahlposition beschrieben.

Mit den bekannten Detektorverfahren unter Verwendung eines abtastenden Lichtbündels ist es nicht möglich, die Lage eines Fehlers in der Glasscheibe bezüglich der Glasscheibenkante zu bestimmen. Die bekannten Detektorverfah­ ren sind nur in der Lage, die Orte von Fehlern mit ausreichender Genauigkeit zu identifizieren, wenn sichergestellt ist, daß ein Seitenrand des untersuchten Glases immer einer konstanten Bewegungslinie während des Abtastens des Glases folgt; sonst ist das, was signalisiert wird, nicht der Ort eines Fehlers quer über dem Glas, sondern sein Ort relativ zur Breite des Förderers. Es gibt Um­ stände, bei denen die Positionierung des Werkstückes nicht zweckmäßig sicher­ gestellt werden kann. Und in einigen Anlagen ist die Veränderung in der Bewe­ gungslinie der seitlichen Ränder des vorwandernden Glases unvermeidlich. Ein sehr wichtiger Fall ist eine Floatglasproduktionsanlage. Die Position des Float­ glases relativ zur Breite des Förderers, durch den es aus der Floatwanne und dann durch den Kühlofen gefördert wird, ist abhängig von Veränderungen in der Laufzeit als Konsequenz von Änderungen in Kräften, die auf das Glasband ausgeübt werden, wenn von einer Floatglasdicke auf die andere übergegangen wird, und wenn das Band auf seinem Förderer "Schlangenbewegungen" macht. Die bekannten Detektorverfahren sind deswegen für eine automatische Signalga­ be für die Lokalisierung von Fehlern in einem frisch geformten Floatglasband nicht geeignet; es bleibt der Bedarf nach einem Verfahren, welches für diesen Zweck geeigneter ist.

Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren und eine Vorrichtung anzugeben, bei welcher der Ort eines in Flachglas vorhandenen Fehlers unabhängig davon bestimmt werden kann, ob das Flachglas seinem Förderweg genau folgt oder seitlich zur Förderrichtung Schwankbewegungen erfährt.

Die Aufgabe wird einerseits durch ein Verfahren zum Bestimmen des Ortes von in Flachglas vorhandenen Fehlern, wie es in Anspruch 1 angegeben ist, gelöst.

Ein wesentlicher Vorteil des erfindungsgemäßen Vefahrens besteht darin, daß die Bestimmung von Fehlerpositionen bezüglich einer Seitenkante des Flachglases erfolgt und damit unabhängig von Positionsschwankungen des Flachglases bei dessen Durchgang im Bereich des Abtaststrahls ist.

Das Verfahren ist daher besonders geeignet zur Verwendung bei der selbst­ ständigen Registrierung der Fehlerorte in einem wandernden Glasband aus frisch geformten Flachglas. Die Erfindung läßt sich aber auch anwenden bei der Be­ stimmung von Fehlerorten in wandernden vororientierten Scheiben aus Flach­ glas, deren seitliche Orte auf einem Förderer nicht genau geregelt werden.

Durch eine geeignete Anordnung der Photodetektoreinrichtung der weiter unten besonders beschriebenen Art können mit dem Verfahren nach der Erfindung die Positionen von Fehlern eines oder mehrerer unterschiedlicher Typen bestimmt werden. Diese umfassen Fehler oder Defekte, die einen einfallenden Strahl elektromagnetischer Strahlung aufgrund der Beugung oder Refraktion zur Ablen­ kung bringen. Diese Fehler umfassen Blasen, Körner (Steinchen) und Steine, die primär die Qualitätsstandards von Flachglasscheiben be­ stimmen. Mit dem Verfahren können auch Fehler in Form opaker Zonen ermittelt werden. Wird beispielsweise ein photoelektrischer Detektor verwendet, der so angeordnet ist, daß er normalerweise durch den Strahl bzw. das Strahlbündel bestrahlt ist, jedoch ein Fehlersignal für den Fall überträgt, daß die Bestrahlung aufhört, weil der Strahl mehr als um ein bestimmtes Ausmaß abgelenkt wird, so wird der Detektor notwendigerweise ein ähnliches Sig­ nal für den Fall übertragen, daß das Strahlbündel auf eine opake Zone im Glas auftrifft. Zusätzlich oder alternativ kann man mit diesem Verfahren Fehler ermitteln, welche zu einer merklichen Abschwächung des abtastenden Strahls führen. Solche Fehler umfassen z. B. gewisse Flecken, wie Zinnflecken, die aus einem Floatbad stammen.

Zweckmäßig werden die Positionen längs der abgetasteten Glaslänge der Querbahnen, in welchen Fehler ermittelt werden, im folgenden als Longitudinalpositionen der Fehler bezeichnet, während transversale Entfernungen zwischen er­ mittelten Fehlern und seitlichen Randbegrenzungen des Glases als Querordinaten der Defekte bezeichnet werden.

Die wichtigsten praktischen Verwendungen des Verfahrens nach der Erfindung sind in der selbsttätigen Regelung eines Markers (Richtpunkts) oder Glasschneiders zu sehen, die während der fortgesetzten Wanderung des Glases über die Detektorstation, wo das Glas abgetastet wird, hinaus das Glas an den Orten der Fehler entweder markiert oder das Glas an Stellen schneidet, die diese Fehlerorte berücksichtigten. Nach bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung erzeugt somit die Signaleinrichtung Ausgangs­ signale, die als Regelfaktor bei der selbsttätigen Regelung eines Glasrichtpunkts oder eines Glasschneiders verwendet werden, um das in Bewegung befindliche Glas an einer Stelle zu markieren oder zu schneiden, die in Bewe­ gungsrichtung hinter der Glasabtastungsstation liegt. Bei diesen Ausführungsformen der Erfindung kann man die Longitudinalpositionen der Fehler einfach durch die Auf­ trittszeiten der Fehlerermittlungssignale darstellen, weil die Ankunftszeit eines Defekts an dieser Markier- oder Schneidstation abhängig ist einerseits vom Augenblick der ersten Fehlerermittlung und andererseits von der Laufge­ schwindigkeit des Glases und der Entfernung zwischen der Markier- und Schneidstation und der Detektorstation, wo das Glas abgetastet wird.

Als eine Alternative für die Erzeugung von Ausgangssigna­ len, welche die Longitudinal- oder Längspositionen von Fehlern einfach durch die Zeiten angeben, bei denen solche auftreten, können die Signaleinrichtungen Ausgangssignale erzeugen, welche indikativ für die Longitudinalabstände zwischen den Querbahnen sind, in welchen Fehler ermittelt werden, und einer querliegenden Bezugslinie. Das Verfahren kann beispielsweise bei der Ermittlung von Fehlern in sich bewegenden Glasscheiben verwendet werden, indem die An­ kunft der Vorlaufquerkante jeder Scheibe an der Detektor­ station ermittelt wird und Ausgangssignale erzeugt werden, welche indikativ für die Längs- oder Longitudinalabstände der Fehler von dieser Kante sind, die als Bezugslinie dient. Diese Ausgangssignale können in ein Aufzeichnungs­ gerät eingespeist werden, welches die Information in Form einer statistischen Aufzeichnung für die Glasqualität­ klassifikation oder für irgendeinen anderen Zweck wieder­ gibt.

Die Transversalordinate eines Fehlers kann durch die Sig­ naleinrichtungen direkt aus dem Abtastabstand bestimmt werden, der vom Abtaststrahl zwischen dem Augenblick durchlaufen wird (angegeben durch das Auftreten eines Randfehlersignals aus der Photodetektoreinrichtung), bei dem der Strahl am Ort einer Seitenkantenbegrenzung des Glases ankommt, und dem Augenblick, während dieses Ab­ tastdurchgangs, bei dem ein Fehlersignal aus der Photo­ detektoreinrichtung das Aufeinandertreffen des Strahls mit dem Fehler anzeigt. Alternativ kann die Transversalordina­ te durch die Signaleinrichtungen als Funktion des Zeit­ intervalls zwischen den Augenblicken des Auftretens dieser Kantenablenkungs- und Fehlersignale bestimmt werden; für diesen Zweck jedoch sollte die Abtastgeschwindigkeit des Strahls quer über das Glas im wesentlichen konstant sein.

Es ist nicht notwendig, daß die Signaleinrichtung immer die Transversalordinate eines Fehlers auf der Basis eines bzw. mehrerer Glaskantenpositionssignal(e) bestimmt, die beim tatsächlichen Strahldurchgang oder bei den Strahl­ durchgängen, bei denen der Fehler angetroffen wird, über­ tragen werden. Die Inkremente an Glaslänge von Durchgang zu Durchgang sind wohl zu klein, als daß sich irgendeine merkliche Veränderung in der Lage der Glaskanten an der Detektorstation in der Periode zwischen zwei aufeinander­ folgenden Durchgängen oder tatsächlich während der Perio­ de einstellt, die durch viele aufeinanderfolgende Durch­ gänge abgedeckt ist. In einigen Verfahren nach der Erfin­ dung daher wird ein mittlerer Wert aus Glaskantenablen­ kungssignalen hergeleitet, die durch die Photodetektorein­ richtungen in einer Vielzahl von aufeinanderfolgenden Durchgängen des Strahls quer über das Glas in der einen Richtung übertragen wurden; dieser mittlere Kantenposi­ tionswert wird für die Ableitung der Ausgangssignale aus­ genutzt, die indikativ für die Transversalordinaten der Fehler sind.

Vorzugsweise werden diese Ausgangssignale für den Fehler­ ort nur für Fehler erzeugt, deren Transversalordinate(n) von jeder Seitenkantenbegrenzung des Glases oberhalb eines vorbestimmten Minimumwertes liegen. Randbereiche von Zieh- oder Floatglas haben oft sehr viel schlechtere Qualität und, wenn festgelegt wird, wo solch ein Glas geschnitten werden soll, um die geforderten Scheibengrößen für den Verkauf zu erzeugen, so ist es oft notwendig, solche Rand­ bereiche als Abfall zu behandeln. Im Falle von Floatglas werden Randstreifen des Bandes durch die Wirkung von Kopf­ walzen in der Floatwanne beschädigt; diese Randbereiche des Glases müssen fortgeworfen werden. Indem man bei der Durchführung nach der Maßnahme der Erfindung dieses bevor­ zugte Merkmal einhält, vernachlässigt man das Vorhanden­ sein von Fehlern in den Randbereichen des Glases in den Ausgangssignalen, die als Defektortungsidentifikations­ daten dienen. Die Breite der zu beseitigenden Randbereiche wird festgelegt; diese Abmessung steht daher als Regel­ parameter für die Signaleinrichtungen zur Verfügung. Die Signaleinrichtung kann so angeordnet sein, daß Randfehler oder -defekte nicht zur Erzeugung photoelektrischer Detek­ torsignale führen oder so angeordnet sein, daß solche Sig­ nale erzeugt werden, die Ausgangssignale jedoch nicht beeinflussen.

Vorzugsweise wird der Strahlverlauf durch Überwachungs­ einrichtungen überwacht, welche Signale liefern, die indikativ für die Strahlpositionen relativ zu einer festen Bezugsposition sind, die sich außerhalb der Grenzen der Strahlbewegung quer über das Glas befinden; diese Signale werden von den Signaleinrichtungen bei der Ableitung von Ausgangssignalen verwendet. Die Erzeugung von Ausgangs­ signalen, welche indikativ für die Transversalorte der Seitenränder und Fehler relativ zu einer festen Bezugslage sind, stellt einen Vorteil dar, weil die Ausgangssignale in diesen Fällen besonders nützlich für die selbsttätige Regelung von Vorgängen beim Durchlaufen des Glases durch Vorrichtungen sind, die an einer bestimmten festen Stelle in Bewegungsrichtung hinter dem Bereich angebracht sind, wo das Glas abgetastet wird.

Bei der Herstellung eines kontinuierlichen Glasbandes, bei dem Randbereiche als Abfall zu entfernen sind, bedeutet es einen Vorteil, daß die Ränder vom Band durch Schneidein­ richtungen geschnitten werden, die abhängig von Änderun­ gen in den Lagen der Seitenkantenbegrenzungen des Bandes sind, so daß diese Veränderungen nicht zu merklichen Ver­ änderungen in den Breiten der entfernten Ränder führen. Um diesen Vorteil zu erreichen, wird bei einigen Ausführungs­ formen der Erfindung - in der Anwendung auf die Erfassung von Fehlerorten in einem kontinuierlichen Glasband - diese Bezugsposition bezogen auf den Rahmen des Glasförderers festgelegt und Signale, die für die Entfernung wenigstens einer seitlichen Randbegrenzung des Bandes von dieser Be­ zugslage indikativ sind, werden verwendet, um selbsttätig die Schneideinrichtung zu regeln, die in Bewegungsrichtung dahinter längs des Weges des Glasbandes angeordnet ist und dazu dient, einen Randbereich einer bestimmten Breite von einer oder jeder Seite des Bandes abzuschneiden. Zwei Schneideinrichtungen zum Entfernen der gegenüberliegenden Ränder des Bandes können durch die gleichen Signale gere­ gelt werden, wenn die Breite des Bandes im wesentlichen unverändert bleibt. In den meisten Fällen wird es jedoch erforderlich sein, unabhängige Signale zu erzeugen, wel­ che die Transversal- oder Querentfernungen der verschiede­ nen Seitenkantenbegrenzungen von dieser festen Bezugslage darstellen.

Wenn die Strahlbewegungen relativ zu einer festen Bezugs­ lage - wie dies bevorzugt ist - überwacht werden, so kann es notwendig oder wünschenswert sein, daß die Überwa­ chungseinrichtungen periodisch nachgestellt werden, um die Verläßlichkeit der Überwachungssignale über eine Periode kontinuierlichen Arbeitens des Verfahrens aufrecht zu erhalten. Das Nachstellen kann von Hand oder selbsttätig abhängig von der Auslegung der verwendeten Überwachungs­ einrichtungen durchgeführt werden. Bei gewissen bevorzug­ ten Ausführungsformen der Erfindung stellen Signale, die von einem Photodetektor an dieser Bezugsposition oder in fester Beziehung hierzu übertragen werden und auf die Be­ strahlung eines solchen Photodetektors durch den Abtast­ strahl ansprechen, selbsttätig wiederholt die Strahl­ bewegungsüberwachungseinrichtung zurück, so daß diese korrekt die Lagen des Strahls relativ zu dieser Bezugs­ lage signalisiert.

Vorzugsweise gibt die genannte Signaleinrichtung Ausgangs­ signale ab, welche darstellen (a) die Entfernung, die vom Abtaststrahl in aufeinanderfolgenden Abtastzyklen aus dieser festen Bezugslage in die Lage durchlaufen werden, in der der Strahl auf die nähere Seitenkantenbegrenzung des Glases trifft, und (b) die Entfernung zwischen dieser Bezugslage und einem signalisierten Fehler. Die Transver­ salordinate eines signalisierten Fehlers wird dadurch an­ gezeigt, wobei sie gleich der Differenz zwischen diesen signal. Entfernungen ist. Das Signalisieren von Kantengrenz- und Fehlerpositionen, ausgedrückt als ihre Abstände von einer gemeinsamen Bezugslage, vereinfacht die Signalver­ arbeitungsvorgänge.

Vorzugsweise fällt bei jedem Abtastdurchgang des Strahls der Strahl auf einen Bezugsphotodetektor und sorgt für die Erzeugung eines Bezugssignals gerade bevor der Strahl die nähere Seitenkantenbegrenzung des Glases erreicht; das erste nachfolgende Strahlablenksignal wird durch die Sig­ naleinrichtungen als ein Signal verarbeitet, welches indi­ kativ für das Auftreffen des Strahls auf eine Seitenkan­ tenbegrenzung des Glases ist. Zufällig auftreffende Stör­ signale, die aus Strahlreflexionen von Teilen der Vorrich­ tung stammen können, auf welche der Strahl auftrifft, bevor er die unmittelbare Nachbarschaft des Glases er­ reicht, werden hierdurch abgezogen. Wenn der Strahl eine Seitenkantenbegrenzung des Glases erreicht, wird der Strahl abgelenkt, und diese Ablenkung kann von einem photoelektrischen Detektor in der gleichen Weise wie die Ablenkung aufgrund eines Fehlers registriert oder aufge­ zeichnet werden. Gewünschtenfalls kann ein und der glei­ che Detektor sowohl für Kantenbegrenzungs- wie Fehlerer­ mittlungszwecke Verwendung finden. Auf jeden Fall macht die Erzeugung dieses Bezugssignals es unnötig, daß die Kantenbegrenzungssignale von einer sich unterscheidenden Form sind, weil sie von Fehlersignalen aufgrund der Tat­ sache unterscheidbar sind, daß sie immer die ersten De­ tektorsignale darstellen, die nach einem Bezugssignal erzeugt werden.

Bezugsphotodetektoren der obengenannten Art können auch als Bezugslagen-Photodetektoren wie oben angegeben dienen. Es ist jedoch besser, diese Bezugsphotodetektoren und einen oder ein Paar dieser Bezugslagen-Photodetektoren vorzusehen, wobei die Bezugsphotodetektoren näher an dem Glasweg angebracht sind.

Vorteilhaft ist jede Abtastbewegung des Strahls als Reihe von Signalimpulsen codiert, so daß jede gegebenene augen­ blickliche Lage des Strahls einer gegebenen Impulszahl entspricht. Dieses Codieren kann leicht vorgenommen werden und führt zu Signalen, die sich leicht mit den Signalein­ richtungen in Zuordnung zu den Signalen verarbeiten las­ sen, welche für Glaskanten- oder Fehlerbestrahlung be­ zeichnend sind.

Bei besonders empfohlenen Verfahren nach der Erfindung gibt es Bezugsphotodetektoren der obengenannten Art; die Abtastbewegung des Strahls wird als eine Reihe von Signal­ impulsen codiert, die einem Impulszähler zugeführt werden, der in jeden Abtastzyklus Strahlpositionen in Impulszahlen übersetzt, die von Null bis zu irgendeiner anderen vorbe­ stimmten Bezugseinstellung zählen, welche eine bestimmte Lage des Strahls außerhalb der Grenzen der Strahlbewegung quer über das Glas entspricht; und in jeden der aufeinan­ derfolgenden Abtastdurchgänge des Strahls sorgt die Be­ strahlung der ersten der beiden Bezugsphotodetektoren, die vom Strahl getroffen werden, dafür, daß der Zähler auf einen Wert zurückgestellt wird, der den Strahlbewegungs­ abstand zwischen dieser Bezugslage und dem Bezugsphoto­ detektor darstellt. Diese Kombination von Merkmalen ver­ bessert die Verläßlichkeit von Fehlerpositionssignalen über Perioden fortgesetzter Anwendung des Verfahrens.

In gewissen Verfahren nach der Erfindung wird ein Strahl bzw. ein Strahlenbündel, das aus der gleichen Strahlungs­ quelle wie der Glasabtaststrahl kommt, veranlaßt, synchron mit der Abtastung des Glases einen Reflektor mit alter­ nierenden, reflektierenden und nicht-reflektierenden Streifen abzutasten; die Strahlungsquanta, die von dem Streifenreflektor reflektiert werden, fallen auf einen photoelektrischen Detektor und erzeugen hierdurch diese Signalimpulse. Dieses Verfahren zum Überwachen der Strahl­ bewegungen ruft die Erzeugung von ausreichend genauen Fehlerortungssignalen hervor, selbst wenn eine merkliche Veränderung in der Geschwindigkeit des Abtaststrahls wäh­ rend jedes Durchgangs quer über das Glas vorhanden sein sollte. Der Synchronismus zwischen der Abtastung des Glases und der Abtastung des Streifenreflektors wird vor­ zugsweise erreicht, indem ein gemeinsamer oszillierender Reflektor verwendet wird, um beiden Strahlen bzw. Strah­ lenbündeln die Abtastbewegungen zu erteilen.

Nach anderen Ausführungsformen der Erfindung werden die Lagen des Glasabtaststrahls während jedes Abtastdurch­ gangs auf der Basis der Durchgangszeit vom Beginn jedes Durchgangs überwacht. Diese Zeit kann mit einem Digital­ taktgeber oder einer Digitaluhr gemessen werden, die Impulse zur Verarbeitung in der gleichen Weise, wie sie Impulse liefert, die abhängig von den Strahlungsmengen geliefert werden, die von einem Streifenreflektor in der vorbeschriebenen Ausführungsform reflektiert werden. Wenn jedoch die Orte eines hinsichtlich des Winkels oszillie­ renden Strahls auf der Basis von Zeitintervallen überwacht werden, so ist es notwendig, daß die Amplitude der Strahl­ schwingungen ausreichend über der Querabmessung des Glases liegt, um sicherzustellen, daß die Veränderungen in der Geschwindigkeit des Strahls während seines Wegs oder seiner Verfolgung über das Glas klein genug sind, um die gewünschte Genauigkeit in der Bestimmung der Fehlerorte zu ermöglichen. Vorzugsweise ist der Glasabtaststrahl ein im Winkel oszillierender Strahl und die Amplitude der Strahl­ bewegung in der Ebene des Glases ist wenigstens gleich der doppelten Breite des Glases. Unter diesen Umständen wird die Geschwindigkeit des Strahls während seines Wegs oder der Verfolgung über das Glas im wesentlichen konstant, und die Geschwindigkeit von Wanderung oder Verfolgung kann genommen werden gleich der mittleren Geschwindigkeit des Strahls über den vollen Bogen seiner Bewegung. An oder nahe einer Grenze seines Bewegungsbogens kann der Abtast­ strahl auf einen Photodetektor auffallen, von welchem ein Antwortsignal auf den Überwachungstaktgeber übertragen wird und seine Rückstellung veranlaßt, so daß ein gege­ bener Standard der Überwachungsgenauigkeit eingehalten wird.

Die Amplitude der Schwingungen eines oszillierenden Ab­ taststrahls kann selbsttätig verstellt werden, wenn die Amplitude beginnt, einen vorbestimmten Bereich zu ver­ lassen. Für den Fall, daß die Strahlschwingungen durch einen Schwingungsreflektor der weiter unten beschriebe­ nen Art ausgeführt werden, kann dieses selbsttätige Ver­ stellen erreicht werden, indem Erregerimpulse auf einen Elektromagneten übertragen werden, der verantwortlich dafür ist, daß Schwingkräfte auf den Reflektor gegeben werden.

Das Verfahren nach der Erfindung kann so durchgeführt werden, daß die Ausgangssignale eine Anzeige der Längs­ abmessungen der ermittelten Fehler geben, d. h. deren Abmessung gemessen in Richtung der Förderung des Glases durch die Abtaststation. Um diesen Vorteil zu erreichen werden nach bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung die Anzahl der unmittelbar aufeinanderfolgenden Strahl­ durchgänge, in welchen fehlerinduzierte Signale erzeugt werden, wenn der Strahl sich in etwa unter der gleichen Entfernung von einer gegebenen Grenzkante des Glases befindet, aufgezeichnet und führen zu Ausgangssignalen, die eine Fehlergröße anzeigen. Im Falle von Bändern aus Scheiben- oder Floatglas haben alle Fehler üblicherweise eine größere Abmessung in der Längsrichtung des Bandes, und diese Abmessung eines Fehlers ist normalerweise ein Zeichen dafür, wie ernst der Fehler als Ganzes ist.

Nach bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung wird der Strahl immer während seiner Bestrahlung des Glases durch das Glas zurückreflektiert, bevor er den oder die Photo­ detektoren erreicht, von welchen Fehlersignale sich ab­ leiten. Dieses Vorgehen ermöglicht es, daß das Verfahren innerhalb einer kleineren Raumhülle als sonst erforder­ lich wäre, durchgeführt werden kann. Das optische System kann in noch zweckmäßigerer Weise in Beziehung zum Glas­ weg angeordnet werden. Wenn beispielsweise ein Band aus Scheiben- oder Floatglas untersucht wird, das längs eines in, wesentlichen horizontalen Weges läuft, so können die Strahlquelle und die Fehlerphotodetektoreinrichtungen auf Niveaus unterhalb des Weges des Glases angeordnet sein, und der Reflektor zum Reflektieren des abtastenden Strahls zurück durch das Glas kann oberhalb des Weges angeordnet sein. Vorzugsweise werden die Zonen des Glases, die zu irgendeinem Zeitpunkt durch die einfallenden und reflek­ tierenden Abtaststrahlen bestrahlt werden, nicht voneinan­ der getrennt oder werden nicht um mehr als 2 cm voneinan­ der getrennt. Unter diesen Umständen wird das Auftreten eines Doppelsignals für irgendeinen gegebenen Fehler ver­ mieden oder leicht in Ableitung von einem Fehler identi­ fizierbar gemacht.

Nach einem anderen wünschenswerten vorteilhaften Merkmal wird das das Glas verlassende Strahlungsbündel aufgespalten in einen Teil, der auf den Ort eines ersten Detektors übertragen wird, und einen Teil, der auf einen zweiten Detektor übertragen wird; und einer dieser Detek­ toren ist angeordnet, so daß er immer dann bestrahlt wird, wenn der Strahl abgelenkt wird, und der andere dieser Detektoren ist so angeordnet, daß er bestrahlt wird, es sei denn, der Strahl oder das Strahlenbündel wird durch einen opaken Fehler unterbrochen oder durch einen Fehler um mehr als ein bestimmtes Ausmaß (beispielsweise durch eine Seitenkante des Glases) abgelenkt. Diese gemeinsame Verwendung von Zwillingsdetektoren, die in unterschiedli­ chen Richtungen arbeiten, ermöglicht die Erzeugung von Photodetektorsignalen, die nicht nur das Vorhandensein eines strahlungsablenkenden Fehlers signalisieren, son­ dern ihn auch so charakterisieren, daß er gegebenenfalls von einem besonderen Typ ist. Insbesondere erleichtert diese Verwendung von Zwillingsdetektoren die Unterschei­ dung zwischen strahlungsübertragenen und opaken Fehlern.

Die Erfindung umfaßt ein Verfahren, wo die Photodetektor­ einrichtung nicht nur dazu dient, Ablenkungen des Abtast­ strahls zu ermitteln, wie sie durch Seitenkanten des Gla­ ses hervorgerufen werden, sondern auch Fehler zu ermit­ teln, die den Strahl, ohne ihn abzulenken, erfassen. Solch ein Verfahren läßt sich unter Verwendung eines einzigen Fehlerphotodetektors durchführen, der normalerweise bestrahlt wird durch den aus dem Glas austretenden Strahl und ein Signal nur dann gibt, wenn die einfallende Strahlung unter einen vorbestimmten Minimumwert fällt, entweder weil der Strahl soviel abgelenkt wird, daß der Photodetektor aufhört, bestrahlt zu werden oder weil das Glas einen bestimmten Minimumabschwächungseffekt auf den Strahl hat. Die Minimumstrahlablenkung, bei der der Photo­ detektor ein Anwortsignal gibt, kann durch die Größe der photoempfindlichen Fläche des Detektors bestimmt werden.

Es ist möglich, die Abtastung durchzuführen, indem der ab­ tastende Strahlsender bewegt wird; vorzugsweise jedoch ist dieser Sender stationär, und das Glas wird durch einen Strahl abgetastet, der auf das Glas durch einen Schwin­ gungsdeflektor, beispielsweise einen Reflektor, abgelenkt wird. Die Abtastbewegungen können leichter in dieser Weise erteilt werden.

Die Erfindung umfaßt Ausführungsformen, bei denen Abwei­ chungen der Abtastdurchgänge des Strahls um mehr als ein gewisses Ausmaß aus einer bestimmten Ebene eine Bestrah­ lung der Abweichungsphotodetektoren hervorrufen; der Ab­ tastweg wird automatisch abhängig von Signalen aus solchen Abweichungsdetektoren korrigiert. Diese Verfeinerung bringt eine brauchbare Sicherung gegen Falschbetrieb aufgrund Falschaus­ richtung des Abtaststrahls, wie er beispielsweise aus der Bewegung der Vor­ richtungskomponenten aus voreingestellten Lagen unter Umwelteinflüssen resultieren kann.

Nach einem anderen wünschenswerten, jedoch empfohlenen Merkmal wird das Glas bei einer Frequenz von wenigstens 20 Hz pro cm Glaslänge abgetastet. Diese Bedingung trägt dazu bei, sicherzustellen, daß alle möglichen unzulässigen Fehler in einer Vielzahl von aufeinanderfolgenden Querführungen ermittelt werden, wodurch die Verläßlichkeit gesteigert wird. Das nach dem Verfahren der Erfindung verwendete Strahlungsbündel ist vorzugsweise ein Laser. Das Laser­ bündel kann leicht sehr schmal ausgeführt werden, was zu einer Genauigkeit in der Fehlerortung führt.

Die Aufgabe wird ferner durch eine Vorrichtung zur Bestimmung von in Flachglas vorhandenen Fehlern, wie sie in Anspruch 23 angegeben ist, gelöst.

Die Vorrichtung ermöglicht nicht nur die Längsorte von Fehlern, sondern auch ihre Querordinaten (d. h. ihre Entfernungen von einer Seitenkantenbegrenzung des Glases) selbsttätig zu signalisieren, selbst wenn die Seitenkantenbegren­ zungslage relativ zur Breite des Glasförderers während der Förderung des Glases durch die Abtaststation variiert. Im Falle kontinuierlicher Glasbänder, die durch die Glasabtaststation transportiert werden, wird die Genauigkeit der signalisierten Daten nicht beeinflußt durch die Veränderung in der Glasbreite, nicht durch Wellungen auf beiden Seitenkantenbegrenzungen des Glases bezüglich seiner Förderrich­ tung oder durch "Schlangenbewegungen" des Glases auf seinem Förderer. Die Vorrichtung ist daher von besonderer Wichtigkeit bei ihrer Anwendung auf die Identifikation von Fehlerorten in Bändern frisch geformten Floatglases.

Die Fähigkeit der Vorrichtung, Querordinaten von Fehlerstellen zu bestimmen, selbst wenn die Seitenkantenbegrenzungen des Glases nicht einer konstanten Bewegungslinie folgen, ist auf die Tatsache zurückzuführen, daß die Vor­ richtung so ausgestaltet ist, daß sie den strahlungsab­ lenkenden Effekt ausnutzt, welcher eine Seitenkantenbe­ grenzung eines Flachglases hat, wenn ein Strahlenbündel veranlaßt wird, gegen und durch diese Begrenzung zu strei­ chen. Die Vorrichtung nach der Erfindung soll zur Bestim­ mung des Ortes von Fehlern in sich bewegendem Flachglas mit einer Breite Verwendung finden (gemessen quer zur För­ derrichtung), die geringer ist als die Länge der Bahn, die vom Strahl in der Ebene des Glases überstrichen wird. Vorausgesetzt, daß diese Bedingung eingehalten wird, so fällt das erste Signal, das für Strahlablenkung durch das Glas ein Anzeichen ist und welches durch die Photodetek­ toreinrichtung ausgesandt wurde, bei jedem Strahldurch­ gang mit dem Einfall des Strahls auf der näheren Seiten­ kantenbegrenzung des Glases zusammen. Wenn in ein und dem gleichen Durchgang des Strahls ein späteres Signal durch die Photodetektoreinrichtungen ausgesandt wird, das auf das Vorhandensein eines Fehlers zurückzuführen ist, der das Strahlungsbündel ablenkt oder abschwächt, wobei in diesem Fall die vom Strahl zwischen den Augenblicken des Auftretens dieser ersten und nachfolgenden Signale durch­ laufene Entfernung die Transversalordinate eines solchen Fehlers, d. h. ihr Abstand von einer Seitenkantenbegren­ zung des Glases ist. Wenn ein solches späteres Signal auf die Ablenkung des Strahls durch die weitere Seitenkanten­ begrenzung des Glases zurückführbar ist, so kann dies ab­ gezogen werden aufgrund der Tatsache, daß die vom Strahl im Zeitintervall zwischen den Wiederholungen dieses ersten und des späteren Signals durchlaufene Entfernung im we­ sentlichen der Breite des Glases entspricht.

Die Photodetektoreinrichtung der Vorrichtung nach der Erfindung kann so gewählt werden, daß sie auf die Erfassung unter­ schiedlicher Arten von Fehlern paßt, beispielsweise Blasen, Steinchen und Steine, die zu einer Ablenkung ein­ fallender Strahlung führen, Fehler, die opak gegen die verwendete Strahlung sind, und Fehler in Form von Flecken, wie beispielsweise Zinnflecken, die von einem Floatbad stammen, welches das Strahlungsbündel nur in abgeschwäch­ tem Zustand überträgt.

Vorzugsweise ist die Signalverarbeitungseinrichtung mit einem Regelmechanismus eines Glasrichtpunkts oder einer Glasmarkiereinrichtung oder Schneideinrichtung längs der Förderungsbahn des Glases in Bewegungsrichtung hinter der Abtaststation verbunden, so daß die Markier- oder Schneid­ einrichtung das Glas an den Stellen der Fehler markiert oder gegebenenfalls das Glas an Stellen schneidet, die die signalisierten Fehlerorte berücksichtigen. Auf diese Weise kann die Schneideinrichtung so geregelt werden, daß das untersuchte Glas in Scheiben geforderter Größe und von gewünschtem Qualitätsstandard geschnitten werden. Die Augenblicke, an denen die fehlerinduzierten Signale durch die Fotodetektoreinrichtungen erzeugt werden, gibt ein Anzeichen für die Longitudinallagen der Fehler, d. h. die Positionen der Strahlspuren, die quer über das Band gezo­ gen werden oder denen gefolgt wird, in welchen die Fehler zu finden sind; vom Zeitpunkt des Auftretens dieser Sig­ nale, der Entfernung zwischen der Abtaststation und der Markier- oder Schneidstation und der Geschwindigkeit des Glases lassen sich die Ankunftszeiten jener Fehler an der Markier- oder Schneidstation bestimmen.

Die Vorrichtung nach der Erfindung kann alternativ so ausgelegt werden, daß sie Ausgangssignale abgibt, welche die Längslagen von Fehlern, ausgedrückt als Entfernungen von einer transversalen Bezugslinie, anzeigen. Beispiels­ weise Vorrichtungen zur Erfassung der Orte von Fehlern in vorgeführten Glasscheiben können einen Photodetektor auf­ weisen, der auf Strahlablenkung anspricht, die durch die Ankunft der Förderkante einer Scheibe zwischen einem solchen Photodetektor und einer Strahlungsquelle hervor­ gerufen wird. In diesem Fall kann diese Förder- oder Anlaufkante als Bezugslinie dienen, und die Signalver­ arbeitungseinrichtung kann die Auftretungszeiten der Be­ zugs- und Fehlersignale vergleichen und Ausgangssignale übertragen, die die Longitudinalentfernungen der Fehler von den Anlaufkanten der Scheiben anzeigen.

Es ist nicht notwendig, daß die Transversalordinaten eines zu bestimmenden Fehlers in jedem Fall auf der Basis von (a) Glaskantenpositionssignalen bestimmt werden, welche von der Photodetektoreinrichtung tatsächlich beim Strahl­ durchgang oder bei den Strahldurchgängen übertragen werden, bei denen ein solcher signalisierter Fehler auftritt. Das Zeitintervall zwischen aufeinanderfolgenden Durchgängen des Strahls über das Glas ist so gering, daß wenigstens für den Fall, daß das untersuchte Glas ein frisch gebil­ detes kontinuierliches Glasband ist, keine merkliche Än­ derung in dem Kantenort des Glases an der Meßstation, selbst über die Periode eintritt, die von vielen Strahl­ durchgängen abgedeckt wird. Dies ist der Grund, daß es im Interesse der Vereinfachung einer Signalverarbeitungs­ einrichtung bei manchen Vorrichtungen nach der Erfindung so ist, daß die Verarbeitungseinrichtung eine Möglichkeit umfaßt, durch die periodisch das Mittel der Strahlorte be­ stimmt wird, an denen Photodetektorsignale, die für die Ablenkung des Abtaststrahls durch eine Seitenkantenbe­ grenzung des Glases indikativ sind, in einer Vielzahl von vorhergehenden Durchgängen des Strahls übertragen werden; die Transversalordinaten-Ausgangssignale werden auf der Basis dieses gemittelten Wertes abgeleitet.

Vorzugsweise umfaßt die Vorrichtung Discounting- oder Ab­ zugseinrichtungen, um zu verhindern, daß die Ausgangs­ signale aus der Signalverarbeitungseinheit den Ort von Fehlern anzeigen, die kleiner als eine vorbestimmte Entfernung von einer Seitenkantenbegrenzung des Glases sind. In vielen Fällen der potentiellen Verwendung der Vorrichtung ist es nicht von Interesse, den Ort von Fehlern nahe der Seitenkantenbegrenzungen des Glases zu identifizieren, weil eine geringere Qualität des Glases in den Seitenrandbereichen hiervon ein unvermeidliches Ergebnis des Glasbildungsverfahrens selbst ist und diese Randbereiche systematisch als Ausschuß behandelt werden. Die Breite der nicht verwendbaren Ränder hängt von der Art der Glasbildungsmaschine, durch welche das flache Glas erzeugt wird, von der Gesamtbreite des die Maschine ver­ lassenden Flachglases und anderen Faktoren ab. Im Falle der Erzeugung eines Floatglasbandes von etwa 3 bis 4 m Breite kann jeder der Seitenränder, die als Ausschuß behandelt werden müssen, beispielsweise in der Größen­ ordnung von 10 bis 20 cm Breite liegen. Obwohl die durch die Signalverarbeitungseinheit signalisierte Information Positionsdaten selbst für Defekte umfassen kann, die in den Teilen des Bandes, die ausgesondert werden sollen, auftreten, ist es zufriedenstellender, wenn solche Fehler abgezogen werden. Die signalisierten Ausgangsdaten werden dann auf die wichtigere Information begrenzt.

Solche Discounting- oder Abzieheinrichtungen können Teil der Signalverarbeitungseinrichtung bilden und so funktio­ nieren, daß sie Glasfehlersignale, die abgezogen werden sollen, blockieren. Alternativ kann die Fehlerphotodetek­ toreinrichtung Mitteln zugeordnet werden, die während irgendeines gegebenen Durchgangs des abtastenden Strahl­ bündels die Übertragung von abzuziehenden Signalen auf diese Signalverarbeitungseinrichtung ausschließt.

Die Erfindung umfaßt Vorrichtungen der vorbeschriebenen Art, bei denen die Strahlüberwachungseinrichtung so kon­ struiert ist, daß sie Signale erzeugt, welche die Strahl­ orte relativ zu einer festen Bezugslage darstellen, die sich außerhalb der Grenzen der Strahlbewegung quer über das Glas befindet. In solch einer Vorrichtung können die Signalverarbeitungseinrichtungen Ausgangssignale liefern, welche Seitenkantenbegrenzungs- und Fehlerorte längs des Abtastungswegs relativ zu einem festen Bezugsort anzeigen. Dies ist von Vorteil, weil solche Ausgangssignale beson­ ders brauchbar in der selbsttätigen Regelung von Vorgän­ gen bei Glas sind, welches aufgrund von Vorrichtungen sich bewegt, die in einer bestimmten festen Lage in Bewegungs­ richtung hinter dem Bereich, wo das Glas abgetastet wird, angebracht sind.

Vorteilhaft sind Glasschneideinrichtungen an einem Ort längs des Weges des Glases in Bewegungsrichtung hinter der Teststation angebracht; die Vorrichtung umfaßt Einrichtun­ gen, die in aufeinanderfolgenden Abtastzyklen Signale er­ zeugen, welche indikativ für die Entfernungen des Strahls von einer Bezugslage der vorgenannten Art sind, wenn der Strahl auf die Seitenkantenbegrenzungen des Glases auf­ trifft; Einrichtungen zum Regeln dieser Schneideinrichtun­ gen in Abhängigkeit von jenen Signalen sind vorgesehen, die veranlassen, daß die Schneideinrichtungen die Rand­ teile bestimmter Breite vom Glas während seiner Bewegung von der Teststation fortschneiden. Solch eine Vorrichtung bedeutet einen besonderen Vorteil in der Anlage zur Er­ zeugung eines kontinuierlichen Bandes flachen Glases, von welchem Randteile kontinuierlich wegen deren schlechter Qualität entfernt werden müssen. Durch Regeln der Rand­ schneideinrichtungen durch Signale, die die Strahlver­ schiebungsabstände aus einer Bezugslage anzeigen, die be­ züglich des Glasbandförderers fest ist, kann die Breite der entfernten Ränder im wesentlichen konstant trotz der Änderungen in den Bewegungslinien der seitlichen Begren­ zungskanten des Bandes aufgrund von schlangenartiger Aus­ bildung des Bandes oder aus irgendeinem anderen Grund gehalten werden. Die Schneideinrichtungen zum Entfernen gegenüberliegender Ränder des Bandes können mit den glei­ chen Signalen geregelt werden, wenn die Breite des Bandes im wesentlichen unverändert bleibt. In den meisten Fällen jedoch wird erforderlich sein, unabhängige Signale zu erzeugen, welche die Transversalentfernungen der unter­ schiedlichen Seitenkantenbegrenzungen aus dieser festen Bezugslage darstellen.

Bei einer Vorrichtung, bei der der Strahlüberwacher so angeordnet ist, daß er Strahlverschiebungen relativ zu einer festen Bezugslage der oben angegebenen Art über­ wacht, kann es notwendig oder wünschenswert sein, daß die Vorrichtung Mittel umfaßt, wodurch die Überwachungsein­ richtungen periodisch rückgestellt werden können, um die Verläßlichkeit der Überwachungssignale über eine Periode kontinuierlichen Arbeitens des Verfahrens beizubehalten. Solch eine Rückstelleinrichtung kann für Hand- oder Automatikbetrieb ausgelegt sein. Nach bevorzugten Aus­ führungsformen der Vorrichtung nach der Erfindung ist wenigstens ein im Abtastweg des Strahls an diese Bezugs­ lage oder in fester Beziehung dazu wirksam mit der Strahl­ überwachungseinrichtung verbunden, so daß sie veranlaßt wird, selbsttätig wiederholt durch Signale rückgestellt zu werden, die von solch einem Photodetektor übertragen werden, wodurch sichergestellt wird, daß die Überwachungs­ signale korrekt die Strahlorte relativ zu diesem Bezugsort darstellen.

Die Signalverarbeitungseinrichtung nach der Erfindung ist vorzugsweise so ausgelegt, daß sie Ausgangssignale lie­ fert, welche (a) die Entfernung darstellen, die vom abta­ stenden Strahl in aufeinanderfolgenden Abtastzyklen aus einer festen Bezugsstellung in die Stellung durchlaufen wird, in der der Strahl auf die nähergelegene Seitenkan­ tenbegrenzung des Glases trifft und (b) die Entfernung zwischen dieser Bezugslage und der Lage angibt, in der der Strahl auf einen Fehler im Glas trifft. Das Signalisieren von Kantenbegrenzungs- und Fehlerorten, ausgedrückt als deren Entfernung von einer gemeinsamen Bezugslage, ist vorteilhaft bei der Vereinfachung der Signalverarbeitung. Die die Entfernungen (a) und (b) repräsentierenden Signale geben eine Transversalordinatenanzeige eines signalisier­ ten Fehlers, wobei diese Ordinate die Differenz zwischen diesen signalisierten Entfernungen ist.

Vorzugsweise umfaßt die Vorrichtung ein Paar von Photo­ detektoren (im folgenden "Bezugsphotodetektoren" genannt), die nahe den gegenüberliegenden Enden der Bahn angeordnet sind, welche vom Strahl während des Wanderns über das Glas überstrichen werden, wobei diese Bezugsphotodetektoren mit der Signalverarbeitungseinrichtung verbunden sind, welche die Ausgangssignale überträgt, die eine Angabe der Strahl­ ablenkung durch das Glas gibt; diese Verarbeitungseinrich­ tung ist so aufgebaut, daß sie ein Photodetektorantwort­ signal nicht als indikativ für Strahlablenkung oder -ab­ schwächung durch einen Glasfehler behandelt, wenn ein sol­ ches Signal während eines ersten Teils eines Abtastdurch­ gangs des Strahls geliefert wird, bevor der Strahl einen Bezugsphotodetektor erreicht. Solche Bezugsphotodetektoren vorzusehen, ist günstig, wenn man Ausgangssignalfehler wegen zufälliger Reflexionen der Strahlung auf den Photo­ detektoren während der Bewegungen des Strahls über die Enden seiner Wege quer über das Glas hinaus vermeiden will.

Die Vorrichtung umfaßt vorteilhaft eine Einrichtung, die jede Abtastbewegung des Strahlenbündels als eine Reihe von Signalimpulsen codiert, so daß irgendeine gegebene Momen­ tanposition des Strahls einer gegebenen Impulszahl ent­ spricht. Diese Signalimpulse können ohne weiteres in Zu­ ordnung zu Photodetektorsignalen verarbeitet werden, um die geforderten Ausgangssignale, welche Fehlerorte dar­ stellen, hieraus abzuleiten.

Bei besonders bevorzugten Ausführungsformen der Vorrich­ tung nach der Erfindung ist ein Impulszähler vorgesehen, um Strahlorte in jedem Abtastzyklus in Impulszahlen zu übersetzen, die von Null oder irgendeiner anderen vorbe­ stimmten Bezugseinstellung entsprechend einer vorbestimm­ ten Bezugsstellung des Strahls aus zählen; Bezugsphotodetektoren der obengenannten Art sind wirksam mit diesem Zähler ver­ bunden, so daß bei jedem der aufeinanderfolgenden Abtast­ durchgänge des Strahls das Antwortsignal aus der Bestrah­ lung des ersten der beiden Bezugsphotodetektoren, die vom Strahl getroffen werden, zu einer Rückstellung des Zählers auf einen Wert führt, der die Strahlverschiebungsentfer­ nung zwischen dieser Bezugsstellung und dem Bezugsphoto­ detektor repräsentiert. Die Kombination von Merkmalen ist hilfreich, wenn man die Verläßlichkeit der Fehlerortsig­ nale über Zeiträume kontinuierlicher Verwendung der Vor­ richtung verbessern will, insbesondere, wenn die Bezugs­ photodetektoren in enger Nachbarschaft zu Orten angebracht sind, an denen der Strahl beginnt, über das Glas zu wan­ dern.

Bei manchen Vorrichtungen nach der Erfindung ist ein Re­ flektor mit alternierenden, reflektierenden und nicht- reflektierenden Streifen vorgesehen, Einrichtungen, die ein zweites Strahlungsbündel veranlassen (im folgenden "Überwachungsstrahl" genannt), der von den Abtaststrahl­ erzeugungseinrichtungen abgeleitet ist, um solch einen Reflektor synchron mit den Abtastbewegungen des Glasab­ taststrahls abzutasten; ein Photodetektor ist so ange­ ordnet, daß er durch Strahlungsquanten bestrahlt wird, die von dem Streifenreflektor reflektiert werden und der diese Impulssignale, abhängig von dieser Bestrahlung liefert. Die Form der Vorrichtung zum Codieren der Abtastbewegungen des Abtaststrahls hat den Vorteil, daß die Genauigkeit, mit der das gepulste Signal die Position dieses Strahls zu irgendeinem Zeitpunkt darstellt, nicht durch Fluktuationen in der Geschwindigkeit des Strahls während seiner Wande­ rungsbewegung über das Glas beeinflußt. Solche Geschwin­ digkeitsfluktuationen sind unvermeidlich für den Fall, daß der Abtaststrahl das Glas durch hin- und hergehende Winkelbewegung abtastet; sie sind von wesentlicher Größe, es sei denn, daß der Bewegungsbogen des Strahls wesentlich größer als die Breite des Glases wird. Genauigkeit und Verläßlichkeit werden durch die Ableitung des Überwa­ chungsstrahls von der gleichen Quelle wie der Abtaststrahl gefördert. Vorzugsweise wird der Synchronismus von Abtast- und Überwachungsstrahlen durch Verwendung eines gemeinsa­ men oszillierenden Deflektors (beispielsweise eines Reflektors) sichergestellt, um den beiden Strahlen Abtast­ schwingungen zu erteilen.

Bei anderen erfindungsgemäßen Ausführungsformen der Vor­ richtung ist ein Digitaltaktgeber vorgesehen, der die Ab­ taststrahlbewegung in Form von Durchgangszeiten vom Beginn jedes Abtastdurchgangs überwacht und Signalimpulse gibt, welche indikativ für die Strahllage sind. Diese Form von Strahlüberwachungseinrichtung läßt die Notwendigkeit in Fortfall kommen, einen zweiten Strahl vom Abtaststrahl­ generator abzuleiten und den Streifenreflektor und den zugeordneten Photodetektor der oben beschriebenen Art vor­ zusehen. Mittels eines Überwachungstaktgebers wird es mög­ lich, Ergebnisse ähnlicher Genauigkeit zu erhalten. Wenn jedoch die Abtaststrahlen im Winkel hin- und herbewegt werden (im Unterschied zur Drehung in einer Richtung, so daß wiederholt das Glas in der gleichen Richtung über­ strichen wird), ist es notwendig, daß die Amplitude der Strahlbewegungen beachtlich größer als die Breite des Glases wird. Vorzugsweise beträgt diese Amplitude wenig­ stens das Doppelte der Glasbreite. Wenn ein Photodetektor mit fester Bezugslage der vorbeschriebenen Art vorzugs­ weise angeordnet ist, wird dieser Photodetektor vorzugs­ weise mit dem Taktgeber so verbunden, daß dies eine Rück­ stellung in eine Bezugseinstellage jedesmal dann ist, wenn der Bezugslagenphotodetektor durch den Abtaststrahl be­ strahlt wird.

Bei bevorzugten Konstruktionsformen ist die Signalverar­ beitungseinrichtung so ausgelegt, daß sie im Betrieb Aus­ gangssignale abgibt, welche indikativ für die Anzahl der unmittelbar aufeinanderfolgenden Strahldurchgänge ist, wobei eine Strahlablenkung oder ein Abschwächungssignal übertragen wird, wenn der Strahl sich in etwa unter der gleichen Entfernung von einer Seitenkantenbegrenzung des Glases befindet. Diese Auslegung der Signalverarbeitungs­ einrichtung hat den Vorteil, daß die Ausgangssignale der Vorrichtung nicht nur die Informationen über die Orte der Strahlungsablenkungsfehler, sondern auch über die Größen der Fehler geben. Die für Fehlergrößen stehenden Signale können weiter durch einen Selektormechanismus verarbeitet werden, der die Qualität unterschiedlicher Bereiche des Flachglases auf der Basis von Zahl, Verteilung und Fehler­ größen hierin bestimmt.

Nach einem weiteren wünschenswerten, jedoch vorzugsweisen Merkmal umfaßt die Vorrichtung einen Reflektor, der so an­ geordnet ist, daß er den Abtaststrahl zurück durch das Glas reflektiert, und die Photodetektoreinrichtung zum Er­ mitteln der fehlerinduzierten Strahlablenkungen oder abschwächungen ist so angeordnet, daß sie auf Ablenkungen oder Abschwächungen dieses reflektierten Strahls an­ spricht, nachdem diese das zweite Mal vom Glas austritt. Die Vorrichtung so auszulegen, ist besonders günstig, was den Platzbedarf der Vorrichtung angeht. Nach einer mögli­ chen Anordnung lassen sich die Strahlbündelquelle sowie die Photodetektoreinrichtung zum Erfassen fehlerinduzier­ ter Strahlablenkungen oder -abschwächungen unterhalb des Förderweges des Glases einbauen; der Abtaststrahlreflektor kann oberhalb dieses Weges angeordnet sein. Die Strahl­ quelle kann so angeordnet sein, daß sie den Strahl direkt nach oben gegen den Weg des Glases aussendet, oder der Strahl kann in einer horizontalen oder fast horizontalen Richtung auf einen Reflektor ausgesandt werden, der den Strahl nach oben gegen diesen Weg reflektiert. Die letzt­ genannte Anordnung macht es der Vorrichtung möglich, unter Umständen zu arbeiten, unter denen die optische Länge des Abtastsystems größer ist als im verfügbaren vertikalen Raum untergebracht werden kann. Die Strahlquelle kann natür­ lich alternativ so angeordnet sein, daß sie den Abtast­ strahl nach unten auf das Glas richtet; diese Anordnung führt jedoch zu Schwierigkeiten und zu Aufwand bei der Anbringung der Vorrichtung in Arbeitsstellung.

Ein anderes wünschenswertes, sehr bevorzugtes Merkmal, liegt darin, einen Strahlbündelaufspalter zum Aufspalten des Abtaststrahls vorzusehen, nachdem dieser die Bewegungsbahn des Glases verläßt, und zwar in zwei abgeleitete Strahl(bündel) und zwei gesonderte Photode­ tektoren für diese Ableit- oder Abzweigstrahlen, wobei die Photodetektoren so angeordnet sind, daß dann, wenn die Vorrichtung in Betrieb ist, einer von diesen nur dann be­ strahlt wird, wenn der Abtaststrahl durch das Glas abge­ lenkt wird, während der andere bestrahlt wird, es sei denn, das Abtaststrahlbündel wird daran gehindert, durch das Glas übertragen zu werden oder wird um mehr als ein gewisses vorbestimmtes Ausmaß gelenkt. Von Vorteil für diese Zwillingsdetektoranordnung ist, daß hierdurch die Erzeugung von Informationssignalen möglich wird, die nicht nur den Ort eines Fehlers anzeigen, sondern auch angeben, ob der Fehler in einen besonderen Kategorietyp fällt oder nicht fällt. Wenn beispielsweise dieser eine Detektor eine Strahlablenkung erfaßt, der andere Detektor jedoch be­ strahlt bleibt, so ist dies eine Anzeige für einen Fehler­ typ der nur einen geringen Beugungseffekt auf die einfal­ lende Strahlung hat; und wenn zu irgendeinem Zeitpunkt keiner der Detektoren bestrahlt wird, so ist dies ein An­ zeichen einer Unterbrechung des Abtaststrahls durch eine opake Zone im Glas.

Die Erfindung umfaßt auch eine Vorrichtung, bei der die Photodetektoreinrichtungen einen Photodetektor umfassen, der so angeordnet ist, wenn die Vorrichtung im Betrieb ist, sie normalerweise durch den Strahl bzw. das Strahl­ bündel bestrahlt wird, der bzw. das aus dem Glas austritt und welche ein Signal gibt, wenn die einfallende Strahlung unter einen vorbestimmten Minimumschwellenwert fällt. Solch eine Photodetekoreinrichtung ist in der Lage, Fehler zu erfassen und zu signalisieren, welche den Abtaststrahl abschwächen, ohne ihn abzulenken. Die Photodetekoreinrich­ tung einer solchen Vorrichtung muß natürlich auch Strahl­ ablenkungen erfassen wie sie beispielsweise durch die Ränder oder Kanten den Glases hervorgerufen werden. Solche großen Strahlablenkungen erfassen, wie sie beispielsweise durch die Ränder oder Kanten des Glases hervorgerufen werden. Solche großen Strahlablenkungen sowie solche Strahlabschwächungen können nur durch ein und den gleichen Photodetektor mit einer empfindlichen Fläche einer Größe erfaßt werden, die bestrahlt bleibt, es sei denn, der Abtaststrahl wird um mehr als ein vorbestimmtes Minimum­ ausmaß abgelenkt.

Vorteilhaft wird die Strahlerzeugereinrichtung so gehalten, daß sie stationär verbleibt, wenn die Vorrich­ tung sich im Betrieb befindet, und die Vorrichtung umfaßt einen Deflektor, beispielsweise einen Reflektor, der mit Mitteln gekoppelt ist, um solch einen Deflektor oszillie­ ren zu lassen und die Abtastbewegungen des Strahls zu er­ zeugen. Ein besonders empfehlenswerten Oszillationsmecha­ nismus, um den Deflektor oszillieren oder hin- und her­ schwingen zu lassen, umfaßt ein am Deflektor befestigtes Torsionselement und Einrichtungen, beispielsweise elektro­ magnetische Mittel, um solch ein Element bei seiner Eigen­ frequenz schwingen zu lassen. Es hat sich herausgestellt, daß solch ein Schwingsystem in der Lage ist, genau und zuverlässig zu arbeiten. Die oszillierende Masse kann sehr gering sein. Der Elektromagnet kann durch Spannungsimpulse erregt werden, die durch die Deflektorbewegung selbst ge­ regelt werden, so daß die Impulsfrequenz mit der Resonanz­ grundfrequenz des Torsionselements zusammenfällt.

Bei manchen Vorrichtungen nach der Erfindung sind Abwei­ chungsphotodetektoren angeordnet, um ein Antwortsignal dann zu geben, wenn der Weg des Abtaststrahls um mehr als ein bestimmtes Ausmaß von einer vorbestimmten Ebene ab­ weicht; solche Abweichungsphotodetektoren sind wirksam mit Einstelleinrichtungen verbunden, welche für automatische Korrekturverstellungen dieses Weges sorgen. Dieses zusätz­ liche Merkmal bringt eine brauchbare Sicherung gegen ein Falscharbeiten aufgrund falscher Ausrichtung des Abtast­ strahls, die beispielsweise aus der Bewegung der Vorrich­ tungskomponenten aus Voreinstellagen unter Umwelteinflüs­ sen resultieren kann.

Nach einem anderen empfehlenswerten Merkmal werden die Einrichtungen zur Erzeugung des Abtaststrahls, die Fehler­ photodetektoren und die Einrichtungen, die dem Strahl Ab­ tastbewegungen erteilen, in eine einzige Anordnung inte­ griert. Die Installation der Vorrichtung in zweckmäßiger Beziehung zu einem gegebenen Glasförderer wird hierdurch erleichtert.

Vorzugsweise ist der Strahlungsbündelemitter oder Sender eine Laserkanone. Die Verwendung eines Lasers ist vorteil­ haft, um die momentan bestrahlte Zone des Glases so klein wie möglich werden zu lassen und dadurch der Vorrichtung ein sehr hohes Auflösungsvermögen zu geben.

Eine beispielsweise Ausführungsform der Erfindung, von Verfahren und Vorrichtung, soll nun mit Bezug auf die bei­ liegenden Zeichnungen näher erläutert werden. Diese zeigen in:

Fig. 1 eine schematische Darstellung eines Abtast- und Detektor- bzw. Ermittlungssystems in Betrieb und

Fig. 2 ein Blockschaltbild eines bei diesem System verwendeten Signalisierungssystems.

Fig. 1 zeigt das Abtast- und Detektorsystem, in Förder­ richtung eines Glasbandes 1 gesehen. Die aussendende Strahlungsquelle 2 sowie eine Anzahl von Photodetektoren zum Überwachen der Abtastbewegungen des Strahls sowie der Detektorstrahlablenkungen sind an einem Ort unterhalb des Weges des Glases oder des Glasbandes 1 angeordnet: oberhalb des Weges befin­ det sich ein konkaver Reflektor 3 zum Reflektiern der Strah­ lung zurück auf diese Detektoren.

Die Strahlungsqelle 2 ist vorzugsweise eine Laserkanone; das Strahlenbündel wird in der folgenden Beschreibung daher als Laserstrahl bezeichnet. Die sendende Strahlungsquelle 2 ist in einer festen Lage angebracht. Der Laserstrahl wird durch einen Halbspiegel 4 in einen über­ tragenen Strahl 5 und einen reflektierten Strahl 6 ge­ teilt. Dieser reflektierte Strahl 6 wird weiter durch Re­ flektoren 7 und 8 reflektiert. Der übertragene Strahl 5 und das Strahlenbün­ del bzw. der übertragene Strahl 9, der durch den Spiegel 8 reflektiert wurde, fallen beide auf einen Reflektor 10. Die Mitte des Reflektors 10 befindet sich in einer Ebene, welche die Krümmungsachse des Reflektors 3 halbiert und enthält.

Der Reflektor 10 ist auf einem Torsionsstab gelagert und wird durch einen Elektromagneten in Schwingungen versetzt, der in seinem Erregerkreis einen Schalter hat, der durch die Reflektorbewegungen betätigt wird, so daß der Reflek­ tor bei der Eigenfrequenz des Stabes in Schwingungen ver­ setzt wird. Die Schwingungsfrequenz des Reflektors 10 liegt bei 800 Hz. Die Schwingung oder Oszillation des Reflektors 10 sorgt dafür, daß der von diesem reflektierte Abtaststrahl 11 das Glasband 1 bei dieser Frequenz ab­ tastet. Nehmen wir beispielsweise an, daß die Geschwin­ digkeit des Glasbandes 1 20 cm pro Sekunde beträgt, so ist das Ergebnis das, daß das Glasband 1 40 Abtastzyklen des Strahls pro cm Bandlänge ausgesetzt wird.

Der Strahl 9 wird durch den oszillierenden Reflektor 10 in einen oszillierenden reflektierten Strahl 12 umgeformt, der genau synchron mit dem Abtaststrahl 11 eine hin- und so hergehende überstreichende Bewegung ausführt. Der Strahl 12 tastet einen konkaven gestreiften Reflektor 13 mit re­ flektierenden und nicht-reflektierenden Streifen ab, die alternierend längs des vom Strahl überstrichenen Weges ange­ ordnet sind. Der Reflektor 13 reflektiert daher intermit­ tierend einfallendes Licht, das Licht wird in einer Auf­ einanderfolge diskreter Quanten oder Impulse reflektiert, wie durch die gestrichelte Linie 14 angedeutet. Diese Lichtimpulse werden gegen den Ort eines Photodetektors 15 gerichtet. Die Mitte dieses Photodetektors 15 und die Mitte des oszillierenden Reflektors 10 sind symmetrisch bezüg­ lich der Ebene angeordnet, welche die Krümmungsachse des Reflektors 13 halbiert und enthält; so werden sämtliche Lichtimpulse vom Photodetektor 15 unabhängig von den Oszillations- oder Schwingbewegungen des Strahls 12 empfangen, von dem die Impulse erzeugt werden. Der syn­ chrone Strahl 12, der gestreifte Reflektor 13, sowie der Photodetektor 15 dienen zusammen zum Codieren der Abtast­ bewegungen des Abtaststrahls 11 als eine Reihe elek­ trischer Signalimpulse, die durch eine Signalverarbei­ tungseinrichtung der nachbeschriebenen Art verarbeitet werden.

Die Schwingungsamplitude des oszillierenden Reflektors 10 ist derart, daß der vom Abtaststrahl 11 in der Ebene des Glasbandes 1 überstrichene Weg sich merklich bis außerhalb der Grenzen des Weges des Band es erstreckt. Die Amplitude ist nämlich derart, daß der Abtaststrahl 11 aus einer durch die Linie X be­ zeichneten Bezugslage an einer Seite des Bandweges in eine durch die Linie Y bezeichnete Bezugslage auf der anderen Seite dieses Weges die überstreichende Bewegung durchführt. Somit geht der Abtaststrahl 11 beim Überstreichen durch beide seitliche Randbegrenzungen des Glasbandes während jeder Querabtastbewegung des Strahls hindurch. In der dargestellten Ausführungsform der Erfindung sind Bezugsphotodetektoren 16 und 17 benachbart den gegenüber­ liegenden Enden des Reflektors 3 für den zu beschreiben­ den Zweck installiert; der Abtaststrahl 11 streicht auch quer über diese Photodetektoren bei jeder seiner Abtast­ bewegungen. Während des Überstreichens des Glasbandes 1 wird so der Abtaststrahl 11 zurück durch das Band durch den Re­ flektor 3 als ein reflektierter Abtaststrahl 18 reflek­ tiert. Die optische Anordnung des Systems ist derart, daß die Orte, wo das Glas 1 momentan durch die einfallenden und reflektierten Abtaststrahlen 11, 18 bestrahlt wird, sehr eng zusammenliegen (vorzugsweise innerhalb 2 cm voneinander), vorteilhaft überlappen sie oder grenzen aneinander an.

Der reflektierte Abtaststrahl 18 fällt, nachdem er das Glasband 1 verlassen hat, auf einen halbtransparenten Reflektor 19 und wird hierdurch in einen übertragenen Anteil 20 und einen reflektierten Anteil 21 aufgespalten. In unver­ meidlicher Weise läßt die Zeichnung es klar werden, daß die einfallenden und reflektierten Abtaststrahlen 11 und 18 beide in der gleichen Ebene liegen; tatsächlich ist dies aber nicht der Fall; sonst würde der oszillierende Reflektor 10 und der gekrümmte Reflektor 13 den reflektier­ ten Abtaststrahl 18 stören oder behindern. Der übertragene Anteil 20 wandert gegen einen Photodetektor 22, während der reflektierte Anteil 21 gegen einen Photodetektor 23 geht. Eine störende Scheibe bzw. Maske 24 ist mittig vor der empfindlichen Fläche des Photodetektors 22 angeordnet und unterbindet den übertragenen Anteil 20 des reflektierten Abtaststrahls 18 immer dann und solange wie der Abtast­ strahl 11 und damit auch der reflektierte Abtaststrahl 18 nicht durch das Glasband 1 reflektiert werden. Eine Ablen­ kung dieser Strahlen tritt immer dann ein, wenn der Ab­ taststrahl 11 auf eine Seitenkantenbegrenzung des Bandes auftrifft und wird auch immer dann auftreten, wenn diese Strahlen auf einen Fehler im Glas 1 treffen. Jede merkliche Ablenkung des Abtaststrahls 11 führt zu einer Bestrahlung des Photodetektors 22 durch den übertragenen Teil 20 des re­ flektierten Abtaststrahls 18. Der reflektierte Teil 21 des reflektierten Abtaststrahls 18 fällt immer auf die photo­ empfindliche Oberfläche des Photodetektors 23, ausgenommen zu den Zeitpunkten, wenn der reflektierte Abtaststrahl 18 durch das Glasband 1 abgelenkt wird. Gewünschtenfalls kann der Photodetektor 23 von einer Empfindlichkeit derart sein, daß er auf ein Abfallen im einfallenden Strahlungsstrom unter einem gewissen Schwellenwert anspricht, so daß der Photodetektor 23 den Einfall des Abtaststrahls 11 auf Glasfehler signalisieren kann, welche den Strahl, ohne ihn abzulenken, abschwächen.

Die aufeinanderfolgenden Entfernunginkremente, die bei jedem gegebenen Abtastdurchgang von den Strahlen längs des Re­ flektors 3 und des gestreiften Reflektors 13 überstrichen werden, stehen nicht in konstanter Beziehung zu den Ent­ fernungsinkementen, die gleichzeitig quer über das Glas 1 überstrichen werden. Um den Signalisierungsfehler auf­ grund dieser Disparität so klein wie möglich zu halten, ist es wünschenswert, daß ein langer optischer Weg zwi­ schen dem oszillierenden Reflektor 10 auf der einen Seite und dem Glasband 1 und dem Reflektor 3 auf der anderen Seite ge­ geben ist. In einer verwirklichten, gute Ergebnisse lie­ fernden Vorrichtung beträgt die Entfernung zwischen dem oszillierenden Reflektor 10 und dem Reflektor 3 7 bis 8 m.

Es wird nun auf das Schaltbild der Signalisierungsein­ richtung (Fig. 2) Bezug genommen. Auf der linken Seite dieses Schaltbilds sind die Photodetektoren 15, 16, 17, 22 und 23 der Fig. 1 gezeigt. Die vom Photodetektor 15 gelie­ ferten strahlüberwachenden Impulse werden nach Verstärkung an einen Impulszähler bzw. Zähler 26 gegeben, genauso wie die Signale, die von den Bezugsphotodetektoren 16, 17, die nahe dem den Abtaststrahl 11 reflektierenden Reflektor 3 angeordnet sind, geliefert werden.

Vom Photodetektor 15 gelieferte Überwachungsimpulse während der Verschiebungen des Abtaststrahls 11 nach rechts in der Darstellung der Fig. 1 werden als aufeinanderfolgende Steigerungen des vom Zähler 26 aufgezeichneten Werts re­ gistriert, wogegen während der Abtastvorgänge nach links gelieferte Überwachungsimpulse als aufeinanderfolgende Verminderungen dieses Wertes registriert werden. Der Zähler 26 kann periodisch rückgestellt werden, so daß seine Pulszahl weiter die Strahllage relativ zur festen Bezugs­ lage X mit dem geforderten Genauigkeitsgrad darstellt. Solch eine Einstellung kann von Hand zu jedem gewünschten Intervall vorgenommen werden. Die Zählerleistung kann beispielsweise durch ein visuelles Display überwacht werden, welches klarmacht, wann eine Rückstellung erfor­ derlich wird. Der Zähler 26 wird jedoch vorteilhaft automa­ tisch eingestellt und rückgestellt. Nach bevozugten Aus­ führungsformen der Erfindung erfolgt das Rückstellen automatisch, bei jedem Abtaststrahlzyklus oder in Inter­ vallen von zwei oder mehr Zyklen, abhängig von dem Einfall des Abtaststrahls 11 auf einen oder mehrere Photodetektoren. Wenn beispielsweise ein Bezugslagen-Photodetektor bei X sich befindet, kann der Zähler 26 selbsttätig in eine Bezugs- bei­ spielsweise Null-Einstellung durch ein Signal rückgestellt werden, welches von einem solchen Photodetektor abhängig von seiner Bestrahlung übertragen wird. In diesem Fall ist es vorteilhaft, daß der Zähler 26 abhängig von der Bestrah­ lung des Bezugsphotodetektors 16 während der Bewegung des Abtast­ strahls 11 nach rechts rückgestellt wird, und erneut abhängig von der Bestrahlung des Bezugsphotodetektors 17 während eines Durchgangs des Abtaststrahls 11 nach links rückgestellt wird, so daß die registrierten Impulszahlen, wenn der Abtaststrahl 11 sich in Stellungen dieser Bezugsphotodetektoren 16, 17 befindet, korrekt die jeweiligen Entfernungen dieser Photodetektoren von der Bezugslage X darstellen. Als Alternative kann dieser Bezugslagenphotodetektor fortfallen, und die Rückstellung des Zählers 26 kann allein durch Signale von den Bezugs­ photodetektoren 16, 17 vorgenommen werden, diese Signale dienen dann dazu, den Zähler 26 auf Impulszahlen einzustellen, welche korrekt diese jeweiligen Entfernun­ gen wiedergeben. Als Konsequenz des Zählerrückstellvor­ gangs ist der vom Zähler 26 registrierte Wert immer eine Korrekte Darstellung der Lage des Abtast-Strahls 11 relativ zur festen Bezugslage X.

Überwachungsimpulse als Anzeichen für die variierende Abtaststrahllage werden vom Zähler 26 an einen Randlagen­ computer 27 gegeben, mit dem die Photodetektoren 22, 23 über einen ODER-Kreis 32 verbunden sind. Der Computer um­ faßt eine Torschaltung 28, eine sogenannte Tally-Ein­ richung bzw. eine Markiereinrichtung 29, einen Akkumula­ tor/Kalkulator 30 sowie ein Bandkantenpositionsregister 31.

Während jedes Abtastvorgangs des Abtaststrahls 11 tritt die erste Ablenkung des Abtast-Strahls 11 durch das Glasband 1 ein, wenn der Abtast-Strahl 11 zunächst auf eine Seitenkantenbegrenzung des Glases 1 trifft. Das Photodetektorsignal entsprechend der Strahlablenkung wird an die entsprechende Torschaltung 28 wie die Strahlpositionsüberwachungsimpulse vom Zähler 26 gegeben. Die Torschaltung 28 überträgt vom Zähler 26 an den Akkumulator/Kalkulator 30 ein Zählerausgangssignal, wel­ ches indikativ für die Strahlposition in dem Augenblick ist, zu dem dieses Strahlablenkungssignal an die Tor­ schaltung 28 über den ODER-Kreis 32 geliefert wird. Solch eine Signalübertragung über die Torschaltung 28 tritt in jeder einer Vielzahl von Abtastzyklen des Abtast-Strahls 11 ein; die Anzahl dieser Vielzahl wird bestimmt durch die Einstellung der oben erwähnten Tally-Einrichtung 29 (setting of the tally device 29). Die von der Torschaltung 28 in der vorein­ gestellten Anzahl von Abtastzyklen übertragenen Strahl­ positionssignale werden im Akkumulator/Kalkulator 30 gesammelt, und diese Einrichtung berechnet dann die Mittel der gesammel­ ten Strahlpositionen und überträgt die solche Mittel dar­ stellenden Signale auf das Bandkantenpositionsregister 31. Nach einer besonderen Ausführungsform beträgt die Tally- Einstellung 128 Zyklen, und die Akkumlation der 128 Über­ wachungsimpulszahlen welche den Ort einer Bandkante darstellt und die Berechnung des mittleren Werts beträgt 8 s.

Die mittleren Lagen der jeweiligen Glasränder über die durch die Einstellung der Tally-Einrichtung 29 bestimm­ ten Zeitintervalle werden an einen Komparatorkreis 33 gegeben. Sie werden auch an einen Mechanismus zum Regeln der Lage der Glasschneideinrichtungen gegeben, um das so Glasband 1 an einem Ort in Bewegungsrichtung hin hinter der Fehlerermittlungsstation mit Schneideinrichtungen zum Scheiden des Glasbandes 1 in Scheiben geforderter Größe und Qualitätstandard sowie Schneideinrichtungen zur kontinu­ ierlichen Entfernung der seitlichen Randbereiche des Glas­ bandes 1 gegeben. Unter Verwendung dieser Signale zur Re­ gelung der Bewegung der Randschneideinrichtungen in eine Richtung quer zur Bewegungsbahn des Glasbandes 1 kann die Breite der vom Glasband 1 geschnittenen Ränder konstant selbst über Perioden gehalten werden, während der eine Veränderung in den Lagen der Randkanten eintritt, dort wo sie durch die Schneidstation gehen. Diese Glaskantenpositionssignale können nach Wunsch auch einem Indikator oder einem Auf­ zeichner 34 zugeliefert werden, der von einem Operator abgelesen werden kann.

Die Strahllagen, die mit den Strahlablenkungen infolge von Fehlern im Glasband 1 zusammenfallen, werden durch ein Fehler­ register bzw. einen Fehleraufzeichner 35 aufgezeichnet. Hierzu werden Signale von den Photodetektoren 22 und 23 einem solchen Fehlerregister 35 über einen Inhibitor­ kreis 36 zugeführt, dessen einer Zweck darin besteht, Störungen oder Geräusche einschließlich Störsignalen ab­ zufiltern, die bei auftreffenden Lichtreflexionen von Teilen der Glasförder- und Testanlage herrühren. Das Fehler­ register 35 nimmt die Strahlungslagenüberwachungssignale vom Zähler 26 auf und überträgt an den Komparatorkreis 33 Signale, welche für die Lagen des Abtast-Strahls 11 in den Augen­ blicken indikativ sind, in denen Ablenkungssignale von den Photodetektoren 22 und 23 empfangen werden. Der Inhibitor­ kreis 36 empfängt Signale von den Bezugsphotodetektoren 16 und 17, die nahe den Enden des Re­ flektors 3 angeordnet sind und überträgt auf das Fehler­ register 35 nur Ablenkungssignale, die während der Bewe­ gung des Abtast-Strahls 11 zwischen diesen Detektoren auftreten.

Signale, die für die Strahlpositionen indikativ sind, die mit den von den Photodetektoren 22 und 23 signalisierten Fehlern zusammenfallen, wie beispielsweise die Randkanten­ positionssignale vom Randpositionsregister, werden dem Komparatorkreis 33 und einem Torkreis 37 zugeführt. Im Komparatorkreis 33 werden die Fehlerpositionssignale vom Fehlerregister 35 mit Kantenpositionssignalen vom Register 31 verglichen, um zu bestimmen, welche Fehler um mehr als einen gewisen vorbestimmten Abstand von jeder Kante des Glasbandes 1 entfernt sind. Abhängig von Fehlerpositionssigna­ len, die sich in dieser Kategorie befinden, überträgt der Komparatorkreis 33 ein Arbeitssignal an die Torschaltung 37. Dieses Signal öffnet die Torschaltung 37 und ermöglicht es, daß entsprechende Fehlerpositionssignale vom Fehlerregi­ ster 35 empfangen werden und zu einem Mikroprozessor 38 passieren. Der Mikroprozessor 38 ist auch über eine ODER- Schaltung 39 mit Bezugsphotodetektoren 16, 17 verbunden, so daß Signale empfangen werden, die indikativ für Augenblicke sind, wenn der Abtast-Strahl 11 mit einem neuen Durchgang quer über das Glasband 1 beginnt. Diese Signale sind natürlich wichtig bei der Bestimmung der Größen der einzelnen Fehler.

Der Mikroprozessor 38 hat drei Ausgangsleitungen 40-42. Die Leitung 40 überträgt Signale, die die Entfernung der Fehler in Querrichtung von der Bezugslage X darstellen. Die Leitung 41 überträgt Signale, welche indikativ für die Art eines signalisierten Fehlers sind. Fehler werden in unterschiedlichen Kategorien abhängig davon signalisiert, ob sie gegebenenfalls eine Strahlablenkung veranlassen, die ausreicht, um die Bestrahlung des Photodetektors 23 zu unterbrechen. Die Leitung 42 übeträgt Signale, die indikativ für die Länge eines signalisierten Fehlers sind, ein Faktor, der von der Zahl aufeinanderfolgender Abtast­ durchgänge des Abtast-Strahls 11 ableitbar ist, wobei die Strahlab­ lenkung näherungsweise in der gleichen Strahlposition sig­ nalisiert wird. In diesem Zusammenhang ist es oft zweck­ mäßig, kleine Fehler in sehr großer Nachbarschaft zueinan­ der, so als ob es sich um einen einzigen Fehler handeln würde, zu signalisieren. Treten beispielsweise Fehlersig­ nale am gleichen Strahlungsort mehr als einmal innerhalb eines Intervalls von bis zu 40 Abtastperioden auf, so können diese Signale so behandelt werden, als ob es sich um einen einzigen Fehler handelt.

Die über die Leitungen 40-42 übertragenen Signale werden mehr oder weniger 05220 00070 552 001000280000000200012000285910510900040 0002003610484 00004 05101 gleichzeitig mit dem Einfall des Abtast­ strahls 11 auf die Fehler übertragen, was zu eben diesen Signalen führt. Daher sind die Zeiträume, zu denen diese Signale übertragen werden, indikativ für die Längsorte oder Längspositionen der Fehler. Nimmt man dies zusammen mit der Laufgeschwindigkeit des Glasbandes 1, so ermöglichen diese Zeiten der Fehlersignalübertragung Ankunftszeiten der Fehler in irgendeiner zu bestimmenden Lage oder irgnd­ einem zu bestimmenden Ort in Bewegungsrichtung hinter der Abtaststation.

Für die Größenklassifizierungsfunktion sind in dem Mikro­ prozessor 38 eine Anzahl von mehrzelligen Registern einge­ baut. Fehlerortungssignale werden an die eine oder andere Zelle jedes Registers abhängig von der Querordinate des signalisierten Ortes übertragen. Fehlerortsignale, die entsprechende Querordinaten darstellen, werden auf die gleichen Registerzellen übertragen. Die Zellen jedes Re­ gisters haben zugeordnete Ausgangstorschaltungen, an wel­ chen ein Schwellenladungswert vorgesehen ist, der zweck­ mäßig für eine besondere Fehlerkategorie ist. Unterschied­ liche Schwellenladungswerte, einer für jedes Register, sind vorgesehen. Die Anzahl der Register entspricht der Anzahl der unterschiedlichen Größenkategorien, in welche die Fehler zu klassifizieren sind. Ortungs- oder Posi­ tionssignale, welche die gleiche Querordinate darstellen und in unmittelbar aufeinanderfolgenden Durchgängen des Abtastrahls 11 übertragen werden, haben einen kumulativen Ladungseinfluß auf die Zellen, auf die sie übertragen wer­ den. Die Anzahl der Ladungsinkremente, die sich in jeder gegebenen Zelle sammeln, ist somit indikativ für die Längsabmessung des Fehlers und sorgt für die Zellenladung. Die Addition eines Ladungsinkrements zu irgendeiner gege­ benen Zelle wird begleitet von einer Abnahme im Schwellen­ ladungswert, der der zugeordneten Zelle erteilt wurde. Wenn der Schwellenladungswert an irgendeinem Tor auf Null fällt, so wird ein Signal von der zugeordneten Zelle über­ tragen, wodurch angezeigt wird, daß die Längsabmessung des Feh­ lers, die die Querordinate hat, welche zu dieser Zelle gehört, wenigstens gleich dem Schwellenwert ist, der durch die voreingestellte Torladung dargestellt ist. Wird ein Ladungsinkrement nicht zu einer Zelle in irgendeinem gegebenen Strahlendurchgang addiert, dann wird jede vorher von der Zelle gesammelte Ladung und das Restladungsinkre­ ment auf der zugeordneten Zelle selbsttätig entleert.

Eine Verfeinerung der beschriebenen und dargestellten Vor­ richtung, die sich als günstig erwiesen hat, umfaßt den Einbau von Photodetektoren gegenüber dem korrekten Laufweg des Abtaststrahls 11 quer über den Reflektor 3 und die Ver­ bindung dieser Photodektoren mit einer Einstelleinrich­ tung für den oszillierenden Reflektor 10, so daß dieser Reflektor selbsttätig für den Fall eingestellt wird, daß eine Vibration oder ein anderer störender Einfluß den Abtaststrahl 11 veranlaßt, sich seitlich in der einen oder anderen Richtung von seinem korrekten Weg längs des Reflektors 3 fortzubewegen. Solche zusätzlichen Photodetektoren können beispielsweise nahe dem einen Ende des Reflektors 3, bei­ spielsweise in einer Ebene angeordet werden, welche normal zur Ebene der Fig. 1 und zwischen dem Bezugsphotodetektor 16 und dem entsprechenden Ende des Reflektors 3 ist.

Bei einer Modifikation der beschriebenen Vorrichtung kann auf den Photodetektor 22 verzichtet werden. Der Photo­ detektor 23 allein wird verwendet, um die Glasrandorte und die Orte der Fehler im Glasband 1 zu ermitteln. Der Photodetek­ tor 23 kann in diesem Falle wie vorher beschrieben arbei­ ten, oder er kann so ausgelegt sein, daß er auch ein Sig­ nal für den Fall liefert, daß der einfallende Strahlungs­ strom unter einen bestimmten Wert fällt, wodurch die Ab­ schwächung des reflektierten Abtaststrahls 18 angezeigt wird, die beispielsweise durch einen Flecken im Glasband 1 hervorgerufen wurde. In diesen Fällen signalisiert die Vorrichtung nicht die Position von Fehlern, die nur einen geringen ablenkenden Einfluß auf den Abtaststrahl 11 haben. Für den Fall, daß ein einziger Glaskanten- und -fehlerphotodetektor Verwendung fin­ det, besteht natürlich keine Notwendigkeit für den halb­ transparenten Reflektor 19. Der Photodetektor kann am Ort des Photodetektors 22 in der Zeichnung vorgesehen sein. Natürlich können verschiedene andere Photodetektoranord­ nungen innerhalb des Rahmens der Erfindung möglich sein. Beispielsweise kann der Photodetektor in seiner darge­ stellten Lage 23 für den Zweck der Ermittlung großer Strahlablenkungen beibehalten werden, der Photodetektor 22 kann ohne die Maske 24 zur Ermittlung von Strahlabschwä­ chungen ausgelegt und verwendet werden.

Claims (43)

1. Verfahren zum Bestimmen des Orts von in Flachglas vorhandenen Fehlern, während dieses sich längs einer Bahn bewegt, durch Abtasten des Glases mit einem Strahl elektromagnetischer Strahlung, der quer über die Bahn streicht, derart, daß der Strahl aufeinanderfolgenden Querspuren über das Glas folgt, und mittels Photodetektoreinrichtun­ gen, die Schwächungen oder Ablenkungen des Strahls durch Fehler im Glas ermitteln, dadurch gekennzeichnet, daß

• 1. bei jedem Abtastdurchgang der Strahl durch gegenüberliegende Seitenkantenbegrenzungen des Glases läuft,
• 2. daß Ablenkungen des Strahls aufgrund seines Einfalls auf eine oder jede Seitenkantenbegrenzung des Glases erfaßt werden,
• 3. daß Ausgangssignale gewonnen werden durch eine Signalisie­ rungseinrichtung, wobei die Ausgangssignale die Positionen von Querspuren längs der abgetasteten Länge des Glases, in wel­ chen Fehler ermittelt werden, und die Abstände, gemessen längs dieser Spuren, zwischen diesen Fehlern und einer Seitenkanten­ begrenzung des Glases angeben, und
• 4. daß die Ausgangssignale verwendet werden, um die signalisier­ ten Fehlerorte zu identifizieren.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Signalisierungseinrichtung Ausgangssignale erzeugt, die als Regelfaktor in der selbsttätigen Regelung einer Glasmarkiereinrichtung oder einer Schneideinrichtung verwendet werden, um das bewegte Glas an einer Stelle in Bewegungsrichtung hinter der Station, wo das Glas abgetastet wird, zu markieren oder zu schneiden.

3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeich­ net, daß ein mittlerer Wert aus den Glaskantenablen­ kungssignalen abgeleitet wird, die durch die Photode­ tektoreinrichtung in einer Vielzahl von aufeinanderfol­ genden Durchgängen des Strahls quer über das Glas in der einen Richtung übertragen werden und daß dieser mittlere Wert in der Ableitung der Ausgangssignale ver­ wendet wird, welche für Fehlerorte indikativ sind.

4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß diese Ausgangssignale nur für Fehler erzeugt werden, die mehr als ein bestimmtes Stück von jeder Seitenkantenbegrenzung des Glases ent­ fernt sind.

5. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Bewegung des Strahls durch Überwachungsmittel überwacht wird, welche Signale abgeben, die indikativ für die Strahlorte relativ zu einer festen Bezugslage oder einem festen Bezugsort sind, der sich außerhalb der Grenzen der Strahlbewegun­ gen quer über das Glas befindet und daß diese Signale, von der Signalisierungseinrichtung zur Ableitung der Ausgangssignale verwendet werden.

6. Verfahren nach Anspruch 5, in der Anwendung zum Erfassen von Fehlerorten in einem kontinuierlichen Glasband, dadurch gekennzeichnet, daß diese Bezugslage in fester Beziehung zum Rahmen des Glasförderers steht und Signale, die für die Ent­ fernung wenigstens einer Seitenkantenbegrenzung des Glas­ bandes von der Bezugslage indikativ sind, verwendet werden, um selbsttätig eine Schneideinrichtung zu regeln, die weiter stromabwärts längs des Bandverlaufs angebracht ist und dazu dient, einen Randteil vorbestimmter Breite von einer oder jeder Seite des Bandes zu schneiden.

7. Verfahren nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekenn­ zeichnet, daß Signale, die von einem Photodetektor übertragen werden, in dieser Bezugslage oder in fester Beziehung zu dieser Bezugslage abhängig von der Bestrahlung dieses Photodetektors durch den Abtast­ strahl, selbsttätig wiederholt die Überwachungsmittel nachstellen, um sicherzu­ stellen, daß fortlaufend korrekt die Orte des Strahls relativ zum Bezugsort dargestellt werden.

8. Verfahren nach einem der Ansprüche 5 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Signalisierungseinrichtung Ausgangssignale abgibt, welche die Entfernung dar­ stellen, die vom Abtaststrahl in aufeinanderfolgenden Abtastzyklen von diesem festen Bezugsort zu einem Ort durchlaufen werden, an dem der Strahl auf die nähere Seitenkantenbegrenzung des Glases trifft, und die Entfernung zwischen diesem Bezugsort und einem signa­ lisierten Fehler darstellen.

9. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß bei jedem Abtastdurchgang des Strahls der Strahl auf einen Bezugsphotodetektor fällt und die Erzeugung eines Bezugssignals hervor­ ruft, kurz bevor der Strahl die nähere Seitenkanten­ begrenzung des Glases erreicht und daß das erst nachfolgende Strahlablenkungssignal durch diese Signaleinrichtung als ein Signal verarbeitet wird, welches indikativ für den Einfall des Strahls auf eine Seitenkantenbegrenzung des Glases ist.

10. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß jede Abtastbewegung des Strahls als eine Reihe von Signalimpulsen codiert wird, so daß jeder gegebene Momentanort des Strahls einer gegebenen Impulszahl entspricht.

11. Verfahren nach Anspruch 10, dadurch ge­ kennzeichnet, daß diese Signalimpulse einem Impuls­ zähler eingegeben werden, der bei jedem Abtastzyklus Strahlorte in Impulszahlen umsetzt, die von Null oder von einer anderen vorbestimmten Bezugseinstellung zählen, die einen vorbestimmten Ort des Strahls außer­ halb der Begrenzungen der Strahlbewegung quer über das so Glas entspricht, und daß bei jedem von aufeinanderfol­ genden Abtastdurchgängen des Strahls eine Bestrahlung des ersten von zwei Bezugsphotodetektoren, auf die der Strahl trifft, dafür sorgt, daß der Zähler auf einen Wert rückgestellt wird, welcher die Strahlver­ schiebungs- oder -bewegungsentfernung zwischen diesem Bezugsort und dem Bezugsphotodetektor darstellt.

12. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 oder 11, dadurch gekennzeichnet, daß ein Strahl oder Strahlenbündel, der oder das aus der gleichen Strahlungsquelle wie der Ab­ taststrahl abgeleitet wird, veranlaßt wird, synchron mit dem Abtasten des Glases, einen Reflektor mit ab­ wechselnd reflektierenden und nicht-reflektiernden Streifen abzutasten und daß die von diesem Streifen­ reflektor reflektierten Quanten auf einen photoelek­ trischen Detektor fallen und hierdurch die Signalimpulse erzeugen.

13. Verfahren nach Anspruch 10 oder 11, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Orte des Abtaststrahls im Laufe jedes Abtastvorgangs auf der Basis der Durchgangszeit vom Beginn des Durchgangs an überwacht werden.

14. Verfahren nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß der Abtaststrahl ein im Winkel oszillierender Strahl ist und daß die Amplitude der Strahlbewegung in der Ebene des Glases wenigstens gleich der doppelten Breite des Glases ist.

15. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Zahl der unmittelbar folgenden Strahldurchgänge, in welchen fehlerinduzier­ te Signale erzeugt werden, wenn der Strahl sich annähernd in der gleichen Entfernung von einer gegebenen Begrenzungskante des Glases befindet, registriert wer­ den und zu für die Fehlergröße stehenden Ausgangssigna­ len führen.

16. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Strahl während seiner Bestrahlung des Glases zurück durch das Glas reflek­ tiert wird, bevor der oder die Photodetektoren, von welchen die Fehlersignale abgeleitet werden, erreicht sind.

17. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das das Glas verlassende Strahlenbündel aufgespalten wird in einen Teil, der bis zum Ort eines ersten Detektors durchgelassen wird sowie einen Teil, der an einen zweiten Detektor über­ tragen wird; und daß einer dieser Detektoren so an­ geordnet wird, daß er immer dann bestrahlt wird, wenn der Strahl abgelenkt wird und der andere dieser Detektoren so angeordnet wird, daß er bestrahlt wird es sei denn, der Strahl würde durch einen opaken Fehler unterbrochen oder durch einen Defekt um mehr als ein bestimmtes Ausmaß abgelenkt.

18. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Photodetektoreinrich­ tung nicht nur Ablenkungen des Abtaststrahls ermit­ telt, wie sie durch die Seitenkanten des Glases her­ vorgerufen werden, sondern auch Fehler ermittelt, welche den Strahl, ohne ihn abzulenken, abschwächen.

19. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Abtaststrahl von einem stationären Sender oder einer stationären Quelle abge­ geben wird und der Abtaststrahl auf dem Glas durch einen oszillierenden Deflektor abgelenkt wird.

20. Verfahren nach einem der vorherigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß Abweichungen der Abtastdurchgänge des Strahls um mehr als ein gegebenes Ausmaß von einer vor­ bestimmten Ebene zu einer Bestrahlung von Abweichungs­ detektoren führen und daß der Abtastweg selbsttätig durch Antwortsignale von Abweichungsdetektoren korrigiert wird.

21. Verfahren nach einem der vorherigen Ansprüchen, dadurch gekennzeichnet, daß das Glas bei einer Fre­ quenz von wenigstens 20 Hz pro cm Glaslänge abge­ tastet wird.

22. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Abtaststrahl ein Laserstrahl ist.

23. Vorrichtung zur Bestimmung des Orts von in Flachglas vorhandenen Fehlern, das sich längs einer Bahn bewegt, mit, einer Einrichtung zum Fördern des Flachglases durch eine Untersu­ chungsstation, einer Einrichtung (2) zur Erzeugung eines Strahls elek­ tromagnetischer Strahlung, der veranlaßt wird, wiederholt über die Bahn zu laufen und hierdurch aufeinanderfolgenden Querspuren über das Glas (1) an dieser Untersuchungsstation zu folgen, einem Strahlposi­ tionskodierer, bestehend aus einem Reflektor (13) und einem Photode­ tektor (15), zum Erzeugen von Signalen, die Strahlpositionen darstellen, sowie einer Photodetektoreinrichtung (22, 23) zum Ermitteln des Ein­ falls von Abtaststrahlen (11) auf Fehler im Glas (1), wobei die Photodetektor­ einrichtung (22, 23) Signale liefert, welche die Strahlablenkungen oder die Strahlschwächungen und die Strahlablenkungen durch das Glas (1) angeben, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung einen mit dem Photodetektor (15) des Strahlpositionskodierers verbundenen Randla­ gencomputer (27) aufweist, um bezüglich jedes Abtastdurchgangs des Abtaststrahls (11) in einer Richtung oder periodisch bezüglich einer Aufein­ anderfolge von Abtastdurchgängen die Position oder die mittlere vom Abtaststrahl (11) erreichte Position bei solch einem Durchgang oder solchen Durchgängen aufzuzeichnen, wenn ein erstes Signal, hervorgerufen durch eine Strahlablenkung durch das Glas (1), von der Photodetektorein­ richtung (22, 23) empfangen ist; und eine Signalverarbeitungseinrichtung (33, 35, 36, 37, 38), die im Betrieb Ausgangssignale überträgt, welche die Zeit angeben, während derer ein Strahldurchgang eintritt, wobei ein späteres die Strahlablenkung oder Strahlabschwächung durch das Glas (1) angebendes Signal von der Photodetektoreinrichtung (22, 23) empfangen wird, nachdem der Abtaststrahl (11) diese Position oder die mittlere Strahlpo­ sition verlassen hat, und welche auch den Abstand angeben, um wel­ chen sich der Abtaststrahl (11) im Zeitintervall zwischen dem Augenblick, in dem er diese Position oder die mittlere Position erreicht, und dem Augenblick dieses späteren Signalempfangs, bewegt hat.

24. Vorrichtung nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet, daß die Signalverarbeitungseinrichtung (33, 35, 36, 37, 38) mit einem Regelmechanismus einer Glasmarkier- oder Schneidein­ richtung verbunden ist, die längs des Förderweges des Glases (1) in Bewegungsrichtung hinter dieser Abtaststa­ tion angeordnet ist, so daß die Markier- oder Schneid­ einrichtung das Glas (1) an den Orten der Fehler markiert oder das Glas (1) gegebenenfalls an Stellen schneidet, welche die signalisierten Fehlerorte berücksichtigen.

25. Vorrichtung nach Anspruch 23 oder 24, dadurch gekenn­ zeichnet, daß Zähleinrichtungen (26) vorgesehen sind, um zu verhindern, daß die Ausganssignale von den Signalverarbeitungseinrichtungen (33, 35, 36, 37, 38) den Ort von Fehlern angeben, die geringer als eine gewisse vorbe­ stimmte Entfernung von einer Seitenkantenbegrenzung des Glases (1) sind.

26. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 23 bis 25, dadurch gekenn­ zeichnet, daß der Strahlpositionskodierer (13, 15) so aufgebaut ist, daß er Signale erzeugt, welche die Strahlpositionen relativ zu einer festen Bezugslage darstellen, die außerhalb der Grenzen der Strahlbewegung quer über dem Glas (1) liegt.

27. Vorrichtung nach Anspruch 26, dadurch gekennzeichnet, daß das Glas (1) Schneideinrichtungen, an einem Ort längs der Bewegungsbahn des Glases (1) in Bewegungsrichtung hinter dieser Untersuchungsstation angebracht sind und wobei mittel in aufeinanderfolgenden Abtastzyklen vor­ gesehen sind, die Signale erzeugen, welche indikativ für die Entfernungen des Abtaststrahls (11) von der Bezugslage sind, wenn der Abtaststrahl (11) auf die Seitenkantenbegrenzungen des Glases trifft und wobei Mittel vorgesehen sind, um die Schneideinrichtungen in Abhängigkeit von den Signalen zu regeln, die die Schneideinrichtungen ver­ anlassen, Randbereiche vorbestimmter Breite vom Glas (1) während seiner Bewegung von der Teststation fortzu­ schneiden.

28. Vorrichtung nach Anspruch 26 oder 27, dadurch gekenn­ zeichnet, daß wenigstens ein im Abtastweg des Abtaststrahls (11) angeordneter Photodetektor, an oder in fester Bezie­ hung zu dieser Bezugslager (X, Y), wirksam mit dem Strahlpositionskodierer (13, 15) verbunden ist und diesen veranlaßt, selbsttätig wiederholt durch Signale rückgestellt zu werden, welche von dem Photodetektor übertragen wurden, wo­ durch sichergestellt wird, daß die Überwachersignale korrekt die Strahllagen relativ zur Bezugslage (X, Y) dar­ stellen.

29. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 26 bis 28, dadurch gekennzeichnet, daß die Signalverarbeitungs­ einrichtung (33, 35, 36, 37, 38) so ausgebildet ist, daß sie Ausgangs­ signale erzeugt, welche die Entfernung darstellen, die vom Abtaststrahl (11) in aufeinanderfolgenden Abtast­ zyklen aus dieser festen Bezugslage (X, Y) in die Lage durchlaufen wurde, in der Abtaststrahl (11) auf die nähere Seitenkantenbegrenzung des Glases trifft, und die Entfernung zwischen dieser Bezugslage (X, Y) und der Lage, in der der Abtaststrahl (11) auf einen Fehler im Glas (1) trifft.

30. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 23 bis 29, da­ durch gekennzeichnet, daß ein Paar von Photodetekto­ ren (16, 17), im folgenden Bezugsphotodetektoren genannt, vor­ gesehen ist, die nahe sich gegenüberliegenden Enden des Weges angeordnet sind, der vom Abtaststrahl (11) während der Bewegung quer über das Glas (1) überstrichen wird, wobei diese Bezugsphotodetektoren (16, 17) mit der Signalverarbeitungseinrichtung (33, 35, 36, 37, 38) verbunden sind, welche Ausgangssignale überträgt, welche bezeichnend für die Strahlablenkung durch das Glas (1) sind und daß diese Signalverarbeitungseinrichtung (33, 35, 36, 37, 38) so konstituiert ist, daß sie nicht ein Photo­ detektoransprechsignal als indikativ für Strahlablen­ kung oder Schwächung durch einen Glasfehler behandelt, wenn dieses Signal während eines ersten Teils eines Abtastdurchgangs des Strahls geliefert wird, bevor der Strahl einen Bezugsphotodetektor (16, 17) erreicht.

31. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 23 bis 30, dadurch gekennzeichnet, daß Einrichtungen vorgesehen sind, die jede Abtastbewegung des Abtaststrahlenbündels (11) als eine Reihe von Signalimpulsen codiert, so daß jede gegebene Momentanposition des Abtaststrahlenbündels (11) einer gegebenen Impulszahl entspricht.

32. Vorrichtung nach den Ansprüchen 30 und 31, dadurch gekenn­ zeichnet, daß ein Impulszähler (26) vorgesehen ist, der Strahlpositionen in jedem Abtastzyklus in Impulszahlen umsetzt, die von Null oder einer anderen vorbestimmten Bezugseinstellung entsprechend einer vorbestimmten Bezugseinstellung des Abtaststrahls (11) zählen, und daß diese Bezugsphotodetektoren (16, 17) mit dem Impulszähler (26) derart ver­ bunden sind, daß bei jedem der aufeinanderfolgenden Abtastdurchgänge des Abtaststrahls (11) das Antwortsignal aus der Bestrahlung der ersten der beiden Bezugsphotodetek­ toren (16, 17) die vom Abtaststrahl (11) getroffen werden, eine Rück­ stellung des Zählers (26) auf einen Wert hervorruft, der die Strahlbewegungsentfernung zwischen der Bezugs­ position und dem Bezugsphotodetektor (16, 17) darstellt.

33. Vorrichtung nach Anspruch 31 oder 32, gekennzeichnet durch einen Reflektor (13) mit abwechselnd reflektierenden und nicht-reflektierenden Streifen, Einrichtungen, die veranlassen, daß ein zweites Strahlungsbündel (12), im fol­ genen Überwachungsstrahl genannt, von der Abtast­ strahlerzeugereinrichtung (2) abgeleitet wird, um diesen Reflektor synchron mit den Abtastbewegungen des Abtaststrahls (11) abzutasten; und durch einen Photo­ detektor (15), der so angeordnet ist, daß er von Strah­ lungsquanten bestrahlt wird, die von dem Streifen­ reflektor reflektiert werden und der diese Signalimpulse abhängig von der Bestrahlung abgibt.

34. Vorrichtung nach Anspruch 31 oder 32, gekennzeichnet durch einen Digital-Taktgeber, der die Abtaststrahl­ bewegung als von Durchgangszeit vom Beginn jedes Abtastdurchgangs abtastet und Signalimpulse, die be­ zeichnend für die Strahlposition sind, liefert.

35. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 23 bis 34, dadurch gekennzeichnet, daß die Signalverarbeitungs­ einrichtung (33, 35, 36, 37, 38) so ausgebildet ist, daß sie im Betrieb Aus­ gangssignale liefert, welche bezeichnend für die Zahl unmittelbar folgender Strahlbündeldurchgänge ist, bei der ein Strahlablenkungs- oder Abschwächungssignal übertragen wird, wenn das Strahlungsbündel sich in etwa unter der gleichen Entfernung von einer Seiten­ kantenbegrenzung des Glases (1) befindet.

36. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 23 bis 35, dadurch gekennzeichnet, daß ein Reflektor (3) vorgesehen ist, der so angeordnet ist, daß er den Abtaststrahl (11) zurück durch das Glas (1) reflektiert und daß die Photo­ detektoreinrichtung (22, 23) zum Ermitteln der fehlerindu­ zierten Strahlablenkungen oder -abschwächungen so angeordnet ist, daß sie auf Ablenkungen oder Ab­ schwächungen dieses reflektierten Strahls (18) nach dem zweiten Austreten aus dem Glas (1) anspricht.

37. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 23 bis 36, dadurch gekennzeichnet, daß ein Strahlteiler (19) zum Aufteilen oder Abspalten des Abtaststrahls (18), nachdem er die Bewegungsbahn des Glases (1) verlassen hat, in zwei abge­ leitete Strahlen (20, 21) und gesonderte Photodetektoren (22, 23) für diese abgeleiteten Strahlen (20, 21) vor­ gesehen sind, welche so angeordnet sind, daß dann, wenn die Vorrichtung in Betrieb ist, einer von diesen nur dann bestrahlt wird wenn der Abtaststrahl (11) durch das Glas (1) abgelenkt wird, während der andere be­ strahlt wird, wenn der Abtaststrahl (11) daran gehindert wird, durch das Glas (1) übertragen zu werden, oder um mehr als ein vorbestimmtes Ausmaß abgelenkt wird.

38. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 23 bis 37, dadurch gekennzeichnet, daß die Photodetektoreinrich­ tung (22, 23) einen Photodetektor umfaßt, der so angeordnet ist, daß dann, wenn die Vorrichtung sich im Betrieb befindet, sie normalerweise durch den aus dem Glas (1) austretenden Strahl (18) bestrahlt wird und ein Signal liefert, wenn die einfallende Strahlung unter einen vorbestimmten Minimumschwellenwert fällt.

39. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 23 bis 38, dadurch gekennzeichnet, daß die Strahlerzeugerein­ richtung (2) so gehalten wird, daß sie stationär ver­ bleibt, wenn die Vorrichtung sich im Betrieb befin­ det, und daß die Vorrichtung einen mit Mitteln zum Oszillieren desselben gekoppelten Deflektor (10) aufweist, wodurch die Abtastbewegungen des Strahls erzeugt werden.

40. Vorrichtung nach Anspruch 39, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtungen, die diesen Deflektor (10) in Schwin­ gungen versetzen, ein am Deflektor (10) befestigtes Torsionselement sowie elektromagnetische oder andere Einrichtungen umfassen, um dieses Element bei seiner Eigenfrequenz in Schwingungen zu versetzen.

41. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 23 bis 40, dadurch gekennzeichnet, daß Abweichungsphotodetektoren für die Abgabe eines Antwortsignals angeordnet sind, wenn der Weg des Abtaststrahls (11) um mehr als ein vorbestimmtes Ausmaß von einer vorbestimmten Ebene abweicht und daß diese Abweichungsphotodetektoren wirksam mit Stell­ einrichtungen verbunden sind, die selbsttätige korri­ gierende Verstellungen des Wegeverlaufs vornehmen.

42. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 23 bis 41, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtungen (2) zum Er­ zeugen des Abtaststrahls (11), die Photodetektoreinrichtung (22, 23) zum Ermitteln des Einfalls von Strahlen auf Fehler im Glas (1) und die Einrichtungen (10), die dem Strahl (5) Abtastbewegun­ gen ermöglichen, in eine einzige Einheit integriert sind.

43. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 23 bis 42, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung (2) zur Erzeu­ gung des Strahlungsbündels (5) eine Laserkanone ist.