DE3605461A1 - Verfahren zum automatischen generieren von pruefprogrammen - Google Patents
Verfahren zum automatischen generieren von pruefprogrammenInfo
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- DE3605461A1 DE3605461A1 DE19863605461 DE3605461A DE3605461A1 DE 3605461 A1 DE3605461 A1 DE 3605461A1 DE 19863605461 DE19863605461 DE 19863605461 DE 3605461 A DE3605461 A DE 3605461A DE 3605461 A1 DE3605461 A1 DE 3605461A1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3183—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
- G01R31/318371—Methodologies therefor, e.g. algorithms, procedures
Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum auto
matischen Generieren von Prüfprogrammen für dynamische
Funktionstests aus den Daten einer Echtzeitsimulation.
Unter dynamischer Prüfung wird hierbei das Anlegen aller
Eingangsmuster unter kritischen Zeitbedingungen und das
Bewerten der Ausgänge nach spezifizierten Zeiten ver
standen.
Bisherige Verfahren zur halb- oder vollautomatischen
Prüfprogrammgenerierung nach erfolgter Entwicklung mit
CAD-Verfahren (z.B. LASAR und VENUS) erzeugen Prüf
muster, die zyklenorientiert sind. Dies bedeutet, daß der
zeitliche Bezug der Eingangsmuster zueinander verloren
geht und dadurch keine Aussage über das dynamische Ver
halten eines Bausteins gemacht werden kann. Die Funktions
tests werden dabei also statisch durchfahren.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren
für eine dynamische Prüfung von komplexen digitalen Bau
steinen und Baugruppen zu schaffen.
Diese Aufgabe wird mit einem Verfahren der eingangs be
schriebenen Art gemäß der Erfindung in der Weise gelöst,
daß die Daten in Echtzeit generiert aus der Ergebnisdatei
der Echtzeitsimulation, an die Eingänge einer vorher simu
lierten, zu prüfenden Einheit (Baustein oder Baugruppe)
angelegt und die durch die Schaltung bedingten zeitlichen
Reaktionen der Ausgangssignale mit den ebenfalls aus der
Ergebnisdatei generierten Daten zu einem für die Schaltung
interessierenden Zeitpunkt verglichen werden.
In vorteilhafter Weiterbildung des Erfindungsgegenstandes
ist vorgesehen, daß direkt aus der Ergebnisdatei der Echt
zeitsimulation die Prüfdaten für einen zyklenorientierten
Prüfautomataten gewonnen werden, indem zur Nachbildung der
Echtzeit einzelne oder Gruppen von Ein- und Ausgängen mit
im Prüfautomaten vorhandenen, einstellbaren Taktgeneratoren
verbunden werden und zur Reduzierung der Anzahl der Prüf
muster zum einen solche Ausgänge, die zwar ständig ihre
Zustände ändern, deren interne Vorgänge aber immer die
gleichen sind, zu definierten Zeitpunkten von der Prüfung
ausgenommen werden und zum anderen Prüfzyklen, bei denen
sich mit Ausnahme der vorher definierten Takte weder Ein-
noch Ausgänge ändern oder die von der Prüfung ausgenommen
wurden, zu sog. Taktanweisungen zusammengefaßt werden, die
unabhängig von der Anzahl nur einen Speicherplatz benöti
gen, dabei jedoch in jedem Taktzyklus die Nichtänderung
der von der Prüfung nicht ausgenommenen Ausgangssignale
überprüft wird.
Nachstehend wird das an Bausteinen der Funkkanalsteuerung
im C-Netz der DBP erfolgreich getestete erfindungsge
mäße Verfahren näher erläutert.
Diese VLSI-Bausteine wurden mit Unterstützung des CAD-
Verfahrens SIMON entwickelt. Die Entwicklungsverifikation
erfolgt über Echtzeitsimulation. Dabei werden die Ein
gangsstimulierungen als Wert/Zeit-Parameter an die
Schaltung angelegt. Die durch die Schaltung bedingten
zeitlichen Reaktionen werden in einer Ergebnisdatei zu
sammengefaßt. Aus dieser Datei können definierte Signale
ausgewählt und zum Ausdrucken in einer Print-Datei abge
speichert werden.
Die Generierung der Prüfbitmuster aus den Daten der Echt
zeitsimulation anstatt aus einer Zyklensimulation bedeu
tet, daß man zu jedem Zeitpunkt die Zustände aller
Signale des Prüflings (Ein- und Ausgänge) kennt. Der
Abtastzeitpunkt ist dabei so zu wählen, daß die Eingangs
muster sich noch nicht geändert haben, aber die Ausgänge
schon stabil sind. In einem getakteten System hat dieser
Zeitpunkt dann einen festen Bezug zum Takt. Somit erhält
man pro Taktperiode die logischen Zustände aller Ein- und
Ausgänge. Diese Daten werden zur weiteren Verarbeitung in
der Print-Datei abgelegt.
Beim erfindungsgemäßen Verfahren werden nun die Daten aus
der Ergebnisliste der Echtzeitsimulation derart umgewan
delt, daß ein bestimmter Testautomat die Daten über seine
Taktgeneratoren genau zum gleichen Zeitpunkt anlegt bzw.
bewertet, wie sie auch in der Echtzeitsimulation vor
kommen.
Dabei gibt es nur die praktische Beschränkung durch die
endliche Anzahl der Taktgeneratoren im Testautomaten und
die Anzahl der Taktzyklen bzw. deren Wiederholung (Test
zeit). Die Speicher der Testautomaten, aus denen die Prüf
muster gelesen werden, haben nämlich meist nur eine ge
ringe Kapazität. Um ein ständiges Nachladen mit ent
sprechender Ladezeit zu verhindern, ist es sinnvoll, die
Anzahl der Prüfmuster zu reduzieren. Diese Einschränkung
wird schon bei der Simulation gemacht, denn die Daten
werden an den Prüfling nicht zu beliebigen, sondern nur
zu sinnvollen Zeiten (typische Werte, spezifizierte Grenz
werte) angelegt. Auch die Bewertung der Ausgänge inter
essiert nur zu den spezifizierten Zeiten, so daß es hier
eine automatische Beschränkung der zeitlichen Änderung
der Signalwechsel gibt.
Bei der Prüfprogrammentwicklung der vorstehend genannten
FSK-Bausteine geschah die Reduzierung der Anzahl der
Prüfmuster auf folgende Weise: zum einen werden Takt
zyklen, bei denen sich weder Ein- noch Ausgänge ändern,
zu sog. Taktanweisungen zusammengefaßt, die dann unab
hängig von der Anzahl nur noch einen Speicherplatz be
nötigen. Zum anderen hat sich herausgestellt, daß be
stimmte Ausgänge (z.B. abgeleitete Takte) ständig ihre
Zustände ändern, es aber genügt, sie nur einmal zu über
prüfen, da die internen Vorgänge immer die gleichen sind.
Zur Generierung der Taktanweisung wird das Programm KOBALT
(Komprimieren der BITA-Liste mit Taktanweisung) verwendet,
das die einzeln aufgeführten Zyklen, bei denen sich die
Information nicht ändert, in Taktanweisungen umwandelt.
Diese Taktanweisungen bewirken im Testautomaten (beispiels
weise SENTRY-Tester) das Setzen eines Zählers, der die
Anzahl der Testzyklen bestimmt.
Der Einschränkung der Bewertungszeiträume dient das Pro
gramm AMBER (Ausgangsmusterbewertungsreduzierung), das
die Möglichkeit bietet, die Ausgangszustände nur zu be
stimmten Zeitpunkten zu bewerten. Dadurch kann man die
Anzahl der Testmuster weiter reduzieren, wenn sich zu
den unbewerteten Zeiten keine anderen Signale ändern.
Die nicht interessierenden Ausgangssignaländerungen wer
den aus der Liste gestrichen. Dadurch kann man wiederum
mehrere Zyklen in eine Taktanweisung zusammenfassen.
Ein Beispiel für die Umsetzung der Echtzeitsimulations
daten in Prüfdaten ist in einer Figur gezeigt. Dabei
ist in Diagrammen das Timing für den Baustein (Diagramme
a bis d) und das Timing für den Tester (Diagramme e bis
i) dargestellt. Hierbei zeigt das Diagramm a den Verlauf
des Taktes am Takteingang, Diagramm b den Signalverlauf
an den Dateneingängen, Diagramm c den Signalverlauf an
den Datenausgängen und im Diagramm d sind durch die Kreu
ze die Abtastzeitpunkte für die Printliste markiert. Im
Diagramm e ist durch die Zeitpunkte TO jeweils der Zyklus
beginn gekennzeichnet, die Diagramme f und g zeigen den
Taktverlauf von zwei Taktgeneratoren TG 1 bzw. TG 7 des Test
automaten.Mit den Taktgeneratoren können innerhalb eines
Zyklus bestimmte Zeiten definiert werden. Der Verlauf des
Taktes des Taktgenerators TG 1 (f) entspricht dabei dem am
Takteingang (a). Diagramm h beinhaltet die Testdaten und
Diagramm i schließlich zeigt den Verlauf der Ausgangs
signale, wobei die nicht schraffierten Bereiche (Fenster
t 1, t 2) die bewerteten Zeiträume darstellen. Innerhalb
dieser Bereiche liegen auch die Abtastzeitpunkte für die
Printliste (Diagramm d).
Prinzipiell kann das erfindungsgemäße Verfahren auf jede
Ergebnisliste einer Echtzeitsimulation aufsetzen. Es muß
damit nur die Schnittstelle angepaßt werden. Dies gilt
auch, wenn die Daten auf andere Weise generiert werden,
z.B. durch Testen eines "Golden Device" mit anschließen
der Datenumsetzung. Weitere Verfahrensschritte werden da
durch nicht beeinflußt.
Claims (2)
1. Verfahren zum automatischen Generieren von Prüfpro
grammen für dnynamische Funktionstests aus den Daten einer
Echtzeitsimulation,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Daten in Echtzeit, generiert aus der Ergebnisda
tei der Echtzeitsimulation an die Eingänge einer vorher
simulierten und zu prüfenden Einheit (Baustein oder Bau
gruppe) angelegt und die durch die Schaltung bedingten
zeitlichen Reaktionen der Ausgangssignale mit den eben
falls aus der Ergebnisdatei generierten Daten zu einem
für die Schaltung interessierenden Zeitpunkt verglichen
werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß direkt aus der Ergebnisdatei der Echtzeitsimulation
die Prüfdaten für einen zyklenorientierten Prüfautomaten
gewonnen werden, indem zur Nachbildung der Echtzeit
einzelne oder Gruppen von Ein- und Ausgängen mit im
Prüfautomaten vorhandenen, einstellbaren Taktgeneratoren
verbunden werden und zur Reduzierung der Anzahl der
Prüfmuster zum einen solche Ausgänge, die zwar ständig
ihre Zustände anderen, deren interne Vorgänge aber immer
die gleichen sind, zu definierten Zeitpunkten von der
Prüfung ausgenommen werden, und zum anderen Prüfzyklen,
bei denen sich mit Ausnahme der vorher definierten Takte
weder Ein- noch Ausgänge ändern oder die von der Prüfung
ausgenommen wurden, zu sog. Taktanweisungen zusammen
gefaßt werden, die unabhängig von der Anzahl nur einen
Speicherplatz benötigen, dabei jedoch in jedem Taktzyklus
die Nichtänderung der von der Prüfung nicht ausgenomme
nen Ausgangssignale überprüft wird.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19863605461 DE3605461A1 (de) | 1986-02-20 | 1986-02-20 | Verfahren zum automatischen generieren von pruefprogrammen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19863605461 DE3605461A1 (de) | 1986-02-20 | 1986-02-20 | Verfahren zum automatischen generieren von pruefprogrammen |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3605461A1 true DE3605461A1 (de) | 1987-08-27 |
Family
ID=6294558
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19863605461 Withdrawn DE3605461A1 (de) | 1986-02-20 | 1986-02-20 | Verfahren zum automatischen generieren von pruefprogrammen |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3605461A1 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0360999A2 (de) * | 1988-09-29 | 1990-04-04 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur Erzeugung von Prüf-Bitmustern |
DE4421244A1 (de) * | 1994-06-17 | 1995-12-21 | Siemens Ag | Einrichtung und Verfahren zur Generierung und Verwaltung von virtuellen Meßdaten |
-
1986
- 1986-02-20 DE DE19863605461 patent/DE3605461A1/de not_active Withdrawn
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0360999A2 (de) * | 1988-09-29 | 1990-04-04 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur Erzeugung von Prüf-Bitmustern |
EP0360999A3 (de) * | 1988-09-29 | 1991-09-11 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur Erzeugung von Prüf-Bitmustern |
DE4421244A1 (de) * | 1994-06-17 | 1995-12-21 | Siemens Ag | Einrichtung und Verfahren zur Generierung und Verwaltung von virtuellen Meßdaten |
DE4421244C2 (de) * | 1994-06-17 | 1999-05-12 | Siemens Ag | Einrichtung und Verfahren zur Generierung von virtuellen Meßdaten |
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