DE3605461A1 - Verfahren zum automatischen generieren von pruefprogrammen - Google Patents

Verfahren zum automatischen generieren von pruefprogrammen

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DE3605461A1
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DE19863605461
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Hilmar Lesch
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Siemens AG
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Siemens AG
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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3183Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
    • G01R31/318371Methodologies therefor, e.g. algorithms, procedures

Description

Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum auto­ matischen Generieren von Prüfprogrammen für dynamische Funktionstests aus den Daten einer Echtzeitsimulation.
Unter dynamischer Prüfung wird hierbei das Anlegen aller Eingangsmuster unter kritischen Zeitbedingungen und das Bewerten der Ausgänge nach spezifizierten Zeiten ver­ standen.
Bisherige Verfahren zur halb- oder vollautomatischen Prüfprogrammgenerierung nach erfolgter Entwicklung mit CAD-Verfahren (z.B. LASAR und VENUS) erzeugen Prüf­ muster, die zyklenorientiert sind. Dies bedeutet, daß der zeitliche Bezug der Eingangsmuster zueinander verloren­ geht und dadurch keine Aussage über das dynamische Ver­ halten eines Bausteins gemacht werden kann. Die Funktions­ tests werden dabei also statisch durchfahren.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren für eine dynamische Prüfung von komplexen digitalen Bau­ steinen und Baugruppen zu schaffen.
Diese Aufgabe wird mit einem Verfahren der eingangs be­ schriebenen Art gemäß der Erfindung in der Weise gelöst, daß die Daten in Echtzeit generiert aus der Ergebnisdatei der Echtzeitsimulation, an die Eingänge einer vorher simu­ lierten, zu prüfenden Einheit (Baustein oder Baugruppe) angelegt und die durch die Schaltung bedingten zeitlichen Reaktionen der Ausgangssignale mit den ebenfalls aus der Ergebnisdatei generierten Daten zu einem für die Schaltung interessierenden Zeitpunkt verglichen werden.
In vorteilhafter Weiterbildung des Erfindungsgegenstandes ist vorgesehen, daß direkt aus der Ergebnisdatei der Echt­ zeitsimulation die Prüfdaten für einen zyklenorientierten Prüfautomataten gewonnen werden, indem zur Nachbildung der Echtzeit einzelne oder Gruppen von Ein- und Ausgängen mit im Prüfautomaten vorhandenen, einstellbaren Taktgeneratoren verbunden werden und zur Reduzierung der Anzahl der Prüf­ muster zum einen solche Ausgänge, die zwar ständig ihre Zustände ändern, deren interne Vorgänge aber immer die gleichen sind, zu definierten Zeitpunkten von der Prüfung ausgenommen werden und zum anderen Prüfzyklen, bei denen sich mit Ausnahme der vorher definierten Takte weder Ein- noch Ausgänge ändern oder die von der Prüfung ausgenommen wurden, zu sog. Taktanweisungen zusammengefaßt werden, die unabhängig von der Anzahl nur einen Speicherplatz benöti­ gen, dabei jedoch in jedem Taktzyklus die Nichtänderung der von der Prüfung nicht ausgenommenen Ausgangssignale überprüft wird.
Nachstehend wird das an Bausteinen der Funkkanalsteuerung im C-Netz der DBP erfolgreich getestete erfindungsge­ mäße Verfahren näher erläutert.
Diese VLSI-Bausteine wurden mit Unterstützung des CAD- Verfahrens SIMON entwickelt. Die Entwicklungsverifikation erfolgt über Echtzeitsimulation. Dabei werden die Ein­ gangsstimulierungen als Wert/Zeit-Parameter an die Schaltung angelegt. Die durch die Schaltung bedingten zeitlichen Reaktionen werden in einer Ergebnisdatei zu­ sammengefaßt. Aus dieser Datei können definierte Signale ausgewählt und zum Ausdrucken in einer Print-Datei abge­ speichert werden.
Die Generierung der Prüfbitmuster aus den Daten der Echt­ zeitsimulation anstatt aus einer Zyklensimulation bedeu­ tet, daß man zu jedem Zeitpunkt die Zustände aller Signale des Prüflings (Ein- und Ausgänge) kennt. Der Abtastzeitpunkt ist dabei so zu wählen, daß die Eingangs­ muster sich noch nicht geändert haben, aber die Ausgänge schon stabil sind. In einem getakteten System hat dieser Zeitpunkt dann einen festen Bezug zum Takt. Somit erhält man pro Taktperiode die logischen Zustände aller Ein- und Ausgänge. Diese Daten werden zur weiteren Verarbeitung in der Print-Datei abgelegt.
Beim erfindungsgemäßen Verfahren werden nun die Daten aus der Ergebnisliste der Echtzeitsimulation derart umgewan­ delt, daß ein bestimmter Testautomat die Daten über seine Taktgeneratoren genau zum gleichen Zeitpunkt anlegt bzw. bewertet, wie sie auch in der Echtzeitsimulation vor­ kommen.
Dabei gibt es nur die praktische Beschränkung durch die endliche Anzahl der Taktgeneratoren im Testautomaten und die Anzahl der Taktzyklen bzw. deren Wiederholung (Test­ zeit). Die Speicher der Testautomaten, aus denen die Prüf­ muster gelesen werden, haben nämlich meist nur eine ge­ ringe Kapazität. Um ein ständiges Nachladen mit ent­ sprechender Ladezeit zu verhindern, ist es sinnvoll, die Anzahl der Prüfmuster zu reduzieren. Diese Einschränkung wird schon bei der Simulation gemacht, denn die Daten werden an den Prüfling nicht zu beliebigen, sondern nur zu sinnvollen Zeiten (typische Werte, spezifizierte Grenz­ werte) angelegt. Auch die Bewertung der Ausgänge inter­ essiert nur zu den spezifizierten Zeiten, so daß es hier eine automatische Beschränkung der zeitlichen Änderung der Signalwechsel gibt.
Bei der Prüfprogrammentwicklung der vorstehend genannten FSK-Bausteine geschah die Reduzierung der Anzahl der Prüfmuster auf folgende Weise: zum einen werden Takt­ zyklen, bei denen sich weder Ein- noch Ausgänge ändern, zu sog. Taktanweisungen zusammengefaßt, die dann unab­ hängig von der Anzahl nur noch einen Speicherplatz be­ nötigen. Zum anderen hat sich herausgestellt, daß be­ stimmte Ausgänge (z.B. abgeleitete Takte) ständig ihre Zustände ändern, es aber genügt, sie nur einmal zu über­ prüfen, da die internen Vorgänge immer die gleichen sind.
Zur Generierung der Taktanweisung wird das Programm KOBALT (Komprimieren der BITA-Liste mit Taktanweisung) verwendet, das die einzeln aufgeführten Zyklen, bei denen sich die Information nicht ändert, in Taktanweisungen umwandelt. Diese Taktanweisungen bewirken im Testautomaten (beispiels­ weise SENTRY-Tester) das Setzen eines Zählers, der die Anzahl der Testzyklen bestimmt.
Der Einschränkung der Bewertungszeiträume dient das Pro­ gramm AMBER (Ausgangsmusterbewertungsreduzierung), das die Möglichkeit bietet, die Ausgangszustände nur zu be­ stimmten Zeitpunkten zu bewerten. Dadurch kann man die Anzahl der Testmuster weiter reduzieren, wenn sich zu den unbewerteten Zeiten keine anderen Signale ändern. Die nicht interessierenden Ausgangssignaländerungen wer­ den aus der Liste gestrichen. Dadurch kann man wiederum mehrere Zyklen in eine Taktanweisung zusammenfassen.
Ein Beispiel für die Umsetzung der Echtzeitsimulations­ daten in Prüfdaten ist in einer Figur gezeigt. Dabei ist in Diagrammen das Timing für den Baustein (Diagramme a bis d) und das Timing für den Tester (Diagramme e bis i) dargestellt. Hierbei zeigt das Diagramm a den Verlauf des Taktes am Takteingang, Diagramm b den Signalverlauf an den Dateneingängen, Diagramm c den Signalverlauf an den Datenausgängen und im Diagramm d sind durch die Kreu­ ze die Abtastzeitpunkte für die Printliste markiert. Im Diagramm e ist durch die Zeitpunkte TO jeweils der Zyklus­ beginn gekennzeichnet, die Diagramme f und g zeigen den Taktverlauf von zwei Taktgeneratoren TG 1 bzw. TG 7 des Test­ automaten.Mit den Taktgeneratoren können innerhalb eines Zyklus bestimmte Zeiten definiert werden. Der Verlauf des Taktes des Taktgenerators TG 1 (f) entspricht dabei dem am Takteingang (a). Diagramm h beinhaltet die Testdaten und Diagramm i schließlich zeigt den Verlauf der Ausgangs­ signale, wobei die nicht schraffierten Bereiche (Fenster t 1, t 2) die bewerteten Zeiträume darstellen. Innerhalb dieser Bereiche liegen auch die Abtastzeitpunkte für die Printliste (Diagramm d).
Prinzipiell kann das erfindungsgemäße Verfahren auf jede Ergebnisliste einer Echtzeitsimulation aufsetzen. Es muß damit nur die Schnittstelle angepaßt werden. Dies gilt auch, wenn die Daten auf andere Weise generiert werden, z.B. durch Testen eines "Golden Device" mit anschließen­ der Datenumsetzung. Weitere Verfahrensschritte werden da­ durch nicht beeinflußt.

Claims (2)

1. Verfahren zum automatischen Generieren von Prüfpro­ grammen für dnynamische Funktionstests aus den Daten einer Echtzeitsimulation, dadurch gekennzeichnet, daß die Daten in Echtzeit, generiert aus der Ergebnisda­ tei der Echtzeitsimulation an die Eingänge einer vorher simulierten und zu prüfenden Einheit (Baustein oder Bau­ gruppe) angelegt und die durch die Schaltung bedingten zeitlichen Reaktionen der Ausgangssignale mit den eben­ falls aus der Ergebnisdatei generierten Daten zu einem für die Schaltung interessierenden Zeitpunkt verglichen werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß direkt aus der Ergebnisdatei der Echtzeitsimulation die Prüfdaten für einen zyklenorientierten Prüfautomaten gewonnen werden, indem zur Nachbildung der Echtzeit einzelne oder Gruppen von Ein- und Ausgängen mit im Prüfautomaten vorhandenen, einstellbaren Taktgeneratoren verbunden werden und zur Reduzierung der Anzahl der Prüfmuster zum einen solche Ausgänge, die zwar ständig ihre Zustände anderen, deren interne Vorgänge aber immer die gleichen sind, zu definierten Zeitpunkten von der Prüfung ausgenommen werden, und zum anderen Prüfzyklen, bei denen sich mit Ausnahme der vorher definierten Takte weder Ein- noch Ausgänge ändern oder die von der Prüfung ausgenommen wurden, zu sog. Taktanweisungen zusammen­ gefaßt werden, die unabhängig von der Anzahl nur einen Speicherplatz benötigen, dabei jedoch in jedem Taktzyklus die Nichtänderung der von der Prüfung nicht ausgenomme­ nen Ausgangssignale überprüft wird.
DE19863605461 1986-02-20 1986-02-20 Verfahren zum automatischen generieren von pruefprogrammen Withdrawn DE3605461A1 (de)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0360999A2 (de) * 1988-09-29 1990-04-04 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zur Erzeugung von Prüf-Bitmustern
DE4421244A1 (de) * 1994-06-17 1995-12-21 Siemens Ag Einrichtung und Verfahren zur Generierung und Verwaltung von virtuellen Meßdaten

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