DE3537129A1 - Verfahren und vorrichtung zur zerstoerungsfreien werkstoffpruefung, insbesondere zur dickenbestimmung - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur zerstörungsfreien Werkstoffprüfung, insbesondere zur Dickenbestimmung an Kunststoffen sowie an Kleb- und Beschichtungswerkstoffen mittels hochfrequenter elektrischer bzw. magnetischer Wechselfelder. Hauptanwendungsgebiet der Erfindung ist die Prüfung von Kunststoffbauteilen, sowie die Bestimmung und Überwachung der Dicke von Beschichtungen und Klebstoffschichten. Die Erfindung ist jedoch nicht nur auf diesem Gebiet anwendbar, sondern auf jedem anderen Gebiet, auf dem die bekannten Dickenmeßverfahren aus den nachstehend angegebenen Gründen nicht zu zufriedenstellenden Ergebnissen führen können.

Zur Bestimmung der Dicke von Kunststoffteilen, Beschichtungen und Klebstoffschichten sind verschiedene Techniken bekannt, die je nach der Art des zu prüfenden Teiles bzw. Werkstoffes unterschiedlich sind und zu hinsichtlich des Prüfzieles unterschiedlichen Ergebnissen führen.

A. Prüfung von Kunststoffteilen.

Bei der Herstellung von Kunststoffteilen, insbesondere Endlosteilen, wie Rohren, Folien u. ä., treten häufig Schwankungen in der Dicke infolge von Ungleichmäßigkeiten im Fertigungsprozeß auf. Diese Dickenschwankungen lassen sich zerstörungsfrei nur unzulänglich erfassen, sodaß Kunststoff-Bauteile (z. B. Einkaufstüten) in ihrer Gesamtfestigkeit infolge der vorhandenen Schwachstellen wesentlich eingeschränkt sind.

B. Prüfung von Beschichtungen auf zugänglichen Seiten. 1. Optische Verfahren:

Diese können Anwendung finden für die Dickenprüfung von durchsichtigen Beschichtungen und Klebstoffschichten auf Werkstoffen auf Kunststoff- oder Metallbasis. Sie beruhen entweder auf der Erfassung und Auswertung der entstehenden Interferenzen oder auf einer Auswertung der optischen Wirkung einer Anreicherung des Beschichtungs- oder Kleber-Materials mit optisch sichtbaren Partikeln. Zwar kann mit diesen optischen Verfahren die Schichtdicke weitgehend bestimmt werden, jedoch ist ihr Anwendungsbereich sehr beschränkt, da sie nur für durchsichtige Werkstoffe bzw. sehr dünne Schichten anwendbar sind.

2. Prüfung mittels Meßsonden:

Diese Verfahren beruhen darauf, daß eine Meßsonde auf die Schicht aufgesetzt wird, deren Dicke bestimmt werden soll, und daß die Strom- bzw. Spannungsausbildung des Sondenfeldes gemessen und ausgewertet wird für die Erfassung des Abstandes Meßsonde/Grundwerkstoff, von dem auf die Schichtdicke der auf dem Grundwerkstoff befindlichen Schicht geschlossen werden kann. Diese Verfahren sind jedoch nur für Beschichtungsstoffe anwendbar, die nicht leitfähig sind bzw. keine magnetischen Eigenschaften aufweisen. Voraussetzung für die Anwendbarkeit dieser Verfahren ist weiterhin, daß die Beschichtungsmasse bereits ausgehärtet ist, weil sich anderenfalls die Sonden nicht aufsetzen lassen, und daß vor allem die Beschichtung an einer zugänglichen Seite bzw. Stelle erfolgt ist. Sofern dies nicht der Fall ist, was bei den heute vorwiegend verwendeten automatischen Beschichtungs- und Fertigungsverfahren nicht unbedingt gegeben ist, versagen diese Verfahren.

C. Prüfung von Beschichtungen auf unzugänglichen Seiten.

Erfolgt die Beschichtung auf einer abgewandten Seite, so lassen sich nach dem derzeitigen Stand der Erkenntnisse Informationen über die Dicke der Beschichtung nur über die Anreicherung des Klebers mit radioaktiven Partikeln bzw. schweren Metallen und eine anschließende Messung mit radioaktiven Strahlen erfassen. Diese Verfahren verlangen jedoch nicht nur einen großen Aufwand, sondern auch besondere Schutzmaßnahmen. Daher sind sie in vielen Fällen nicht anwendbar. Ähnliches gilt für die Messung mittels Neutronenstrahlen. Mittels dieser kann zwar die Dicke einer Beschichtung aus organischen Werkstoffen auf elektrisch und magnetisch leitenden Bauteilen bestimmt werden, doch sind die entsprechenden Maßnahmen (relativ hoher Neutronenfluß, Schutz) sehr aufwendig. Außerdem wird die Meßgenauigkeit auch dann noch eingeschränkt, wenn die Zusammensetzung (Werkstoffdicke) des über der Beschichtung befindlichen Grundmaterials nicht genau bekannt ist.

Der Erfindung hat die Aufgabe zugrunde gelegen, ein Verfahren und Vorrichtungen zu schaffen, mit welchen eine einfache Prüfung sowohl von Bauteilen als auch von Beschichtungen und Klebungen möglich ist, auch wenn das zu prüfende Kunststoffteil bzw. die zu prüfenden Beschichtungen oder Klebungen noch nicht ausgehärtet sind und die zu prüfenden Flächen verdeckt liegen oder schwer zugänglich sind. Ferner bezieht sich die Erfindung auf mittels dieses Verfahrens bzw. dieser Vorrichtung hergestellte Kunststoff-Bauteile bzw. beschichtete Bauteile.

Die Erfindung besteht darin, daß dem zu vermessenden Werkstoff elektrisch leitfähige oder ferromagnetische Partikel in einem relativ geringen Volumenanteil zugesetzt werden und sodann an dem fertig gestellten bzw. beschichteten Prüfling die elektrische Leitfähigkeit bzw. magnetische Permeabilität mittels hochfreqenter elektrischer und magnetischer Wechselfelder gemessen wird, deren zeitlicher und räumlicher Verlauf an die Meßaufgabe angepaßt ist.

Weitere Merkmale der Erfindung sind Gegenstand der Unteransprüche. Die Erfindung ist nachstehend anhand der Zeichnung beispielsweise erläutert.

Die Zeichnung ist ein Blockschaltbild einer Vorrichtung zur Dickenmessung einer Kunststoff-Klebbeschichtung auf einem Grundmaterial, wie z. B. einem elektrisch leitenden Blech, mittels des Verfahrens nach der Erfindung.

Bei Ausübung des Verfahrens nach der Erfindung wird zunächst der zu verwendende Kunststoff bzw. Kleb- oder Beschichtungswerkstoff mit elektrisch leitenden oder ferromagnetischen Partikeln angereichert, wobei allerdings der Volumenanteil dieser Partikel relativ gering gehalten wird. Diese Anreicherung wird je nach der Meßaufgabe unterschiedlich ausgeführt. Wenn reine Kunststoffe vermessen werden sollen, sei es als Material für reine Kunststoffteile oder als Grundwerkstoff für mit Kleb- oder Beschichtungsstoff zu beschichtende Kunststoffteile, oder Beschichtungen auf nicht-leitfähigen und nicht-ferromagnetischen Grundwerkstoffen werden die zugesetzten Partikel vorwiegend aus rein elektrisch leitenden, nicht ferromagnetischen Materialien bestehen, wie z. B. Aluminium, Kupfer oder austenitische Stähle. Auch Edelmetalle kommen je nach Verträglichkeit mit dem Beschichtungswerkstoff und insbesondere dem später zu beschichtenden Grundwerkstoff infrage. Wenn elektrisch leitfähige Metalle, wie z. B. Aluminium oder auch austenitische Stähle beschichtet werden sollen, werden dem zu vermessenden Stoff magnetische Partikel zugesetzt.

Die Größe und vor allem der Volumenanteil der zugesetzten Partikel richtet sich nach dem zu erwartenden Abstand zwischen Meßsonde und zu vermessender Schicht und wird vorher entsprechend der Meßaufgabe festgelegt. Übliche Partikelkonzentrationen werden deutlich unter 10% des Gesamtmaterials liegen.

Zum Zweck des Partikelzusatzes wird der Kunststoff bzw. das Beschichtungsmaterial aus einem Behälter 1 in einen Mischer 3 geleitet, wo ihm der aus einem anderen Behälter 2 zugeführte entsprechende Zusatzwerkstoff (gekennzeichnet durch elektrische Leitfähigkeit bzw. magnetische Permeabilität) beigemengt wird. Es schließt sich ein Mischvorgang im Mischer 3 an, der in der Regel durch mechanisches Rühren oder Schütteln unterstützt werden wird, um eine möglichst homogene Verteilung der Meßpartikel zu erreichen.

Nach dem Mischvorgang wird das Material durch eine erste Meßstelle M 1 hindurchgeleitet. An dieser Meßstelle M 1 wird die Homogenität des (Beschichtungs-)Werkstoffes und die Konzentration der Partikel in ihm bestimmt durch Messung der elektrischen Leitfähigkeit bzw. der magnetischen Permeabilität. Dieses geschieht durch Prüfung mittels eines in Amplitude und Phasenspektrum breitbandigen Impulses, der mit einer Sonde in das Material eingeleitet wird. Als Sonden können sowohl Tast- und Durchlauf- als auch Segmentspulen unterschiedlichster Geometrie eingesetzt werden. Die Strom- bzw. Spannungsausbildung in der Spule bzw. durch Sekundärspulen in der Nachbarschaft unter der Einwirkung der elektrischen Leitfähigkeit bzw. der magnetischen Permeabilität des zu vermessenden Materials wird erfaßt und ausgewertet für die Erzeugung eines Signals, dessen zeitlicher und räumlicher Verlauf die Homogenität bzw. Partikelkonzentration des zu vermessenden Materials wiedergibt.

Dieses von der Meßstelle M 1 gelieferte Signal wird als (erstes) Eichsignal für das zur Dickenmessung eingesetzte hochfrequente elektrische und magnetischen Wechselfeld verwertet, um dessen zeitlichen und räumlichen Verlauf bei der Dickenmessung am Prüfling der Homogenität und Partikelkonzentration im zu vermessenden Material anzupassen. Diese Anpassung erfolgt in einem Rechner 4, dem das von der Meßstelle M 1 erzeugte Eichsignal zugeleitet wird und der die Aufgabe hat, den später eingesetzten Dickenimpuls anhand der ihm zugeführten Daten zu optimieren.

Wenn Materialien beschichtet werden sollen, die metallischer Natur und ggf. leitfähig oder gar mit einem magnetischen Restfeld versehen sind, wird parallel zur Messung an der Meßstelle M 1 das zugeführte Grundmaterial, mittels einer Zufuhr 5, z. B. einer Blechzufuhr, in einer zweiten Meßstelle M 2 ebenfalls mit einem in Amplitude und Phasenspektrum breitbandigen Testimpuls geprüft. Bei derartigen Grundwerkstoffen werden als Zusatzwerkstoff im allgemeinen magnetische Partikelchen dienen. Da die magnetischen Partikelchen sowohl in ihrer Konzentration als auch in ihrem Abstand (Blechdicke) schwanken können, diese beiden Effekte aber durch Signalanalytik nicht trennbar sind, muß zunächst die Dicke des zu beschichtenden Teiles, z. B. Bleches erfaßt werden, was an der Meßstelle M 2 erfolgt, indem die Wirkung der elektrischen Leitfähigkeit bzw. magnetischen Permeabilität des Grundwerkstoffes auf die Strom- bzw. Spannungsausbildung des Testimpulses erfaßt und für die Erzeugung eines Signales verwertet wird, dessen zeitlicher und räumlicher Verlauf der Materialzusammensetzung bzw. Dicke des Grundwerkstoffes entspricht. Es wird somit von der Meßstelle M 2 ein weiteres Eichsignal erzeugt, das dazu benutzt wird, die später einzusetzenden Dickenmeßimpulse der Zusammensetzung und Dicke des Grundwerkstoffes anzupassen. Zu diesem Zweck wird auch das zweite Eichsignal dem Optimierungsrechner 4 zugeführt. Dieser ermittelt aus der vorgegebenen Homogenität bzw. Partikelkonzentration im zu vermessenden Werkstoff, bei dem Ausführungsbeispiel ein Beschichtungsmaterial, und ggf. der vorgegebenen Materialzusammensetzung bzw. Dicke des Grundwerkstoffes einen optimierten Dickenmeßimpuls, der insbesondere die Aufgabe hat, mögliche Abstandseffekte (lift off) sowie Störgrößen, die in der Fertigung auftreten können, zu reduzieren.

Wenn die Dickenmessung an reinen Kunststoffbauteilen oder an nichtleitfähigen und nichtmagnetischen Materialien als Grundwerkstoff erfolgen soll, kann die Erzeugung eines zweiten Eichsignales, das der Materialzusammensetzung bzw. Dicke des Grundwerkstoffes entspricht, unterbleiben, da eine diesbezügliche Anpassung des Dickenmeßimpulses nicht erforderlich ist. Die zweite Meßstelle M 2 kann somit bei Anlagen für die Messung der Dicke von reinen Kunststoffbauteilen oder von Beschichtungen auf nichtleitfähigen und nicht ferromagnetischen Materialien entfallen.

Die Messung an der Meßstelle M 2 kann ebenfalls mittels einer Sonde erfolgen, deren das zweite Eichsignal bildende Meßdaten zeitlich zugeordnet werden.

Die Testimpulse an den Meßstellen M 1 und M 2 sind zeitlich kurze Impulse, die in der Weise erzeugt werden, daß eine Spule mit einer oder mehreren rechnerisch vorgegebenen Schwingungen vorgebbarer Länge und Form mit jeweils ausgewähltem Amplituden- und Phasen-Spektrum erregt wird. Die Anregungsschwingungen für die Spule stammen aus einem von einem Rechner programmierten Speicher.

Im Optimierungsrechner 4 können die Eichsignale analysiert und mit einem vorgebbaren Sollwert für jede Eichkurve verglichen werden. Die Differenzwerte können benutzt werden, um die Parameter zeitlich kurzer Impulse mit vorgebbarem Frequenz-(Amplituden- und Phasen-) Spektrum einzustellen, die aus einem vom Rechner programmierten Speicher stammen und in Länge und Form veränderbar sind. Das so erhaltene Signal kann als Erregersignal für eine (Sonden-)Spule benutzt werden, um in dieser einen der Meßaufgabe angepaßten Meßimpuls zu erzeugen, durch dessen Wechselfeld der nach Material-Durchlauf durch die Meßstellen M 1 und M 2 in einer Fertigungs- bzw. Beschichtungseinrichtung 6 fertiggestellte bzw. beschichtete Prüfling an einer Meßstelle M 3 hindurchgeführt wird. Dabei wird die Einwirkung der elektrischen Leitfähigkeit bzw. der magnetischen Permeabilität des zu vermessenden Prüflings-Materials auf die Strom- bzw. Spannungsausbildung des Wirbelstrom-Meßimpulses erfaßt und ausgewertet für die Bestimmung der Dicke der zu messenden Prüflingsschicht bzw. - bei reinen Kunststoffbauteilen - Prüflingswandung und für die Feststellung etwaiger Fehlstellen in der Beschichtung. Der Meßwert wird in einer Anzeige 7 angezeigt und, je nach Fertigungsprozeß, einem Korrekturglied 8 zugeführt zwecks Einleitung von Korrekturmaßnahmen im Fertigungs- bzw. Beschichtungsprozeß.

Wesentliche Vorteile des Verfahrens gemäß der Erfindung bestehen, außer in der Schnelligkeit der Prüfung, noch darin, daß
-es universell anwendbar ist für die Bestimmung der Dicke sowohl von Kunststoffbauteilen als auch von Beschichtungen auf Grundwerkstoffen auf Metall- oder Kunststoff-Basis, -die Dicke von Kunststoffbeschichtungen auch an unzugänglichen Teilen von Bauteilen ermittelbar ist, -noch nicht ausgehärtete Werkstoffe geprüft werden können, -die Ermittlungen noch in flüssigem Zustand des Beschichtungswerkstoffes erfolgen können, so daß ggf. Korrekturmaßnahmen möglich sind, -aufgrund der speziell angepaßten Wirbelstromimpulse gleichzeitig Störgrößen mit berücksichtigt bzw. eliminiert werden können.

Der Meßwert kann für spätere Wiederholungsprüfungen in einer Registrierungs- und/oder Speicherungseinheit 9 registriert und gespeichert werden.

Claims (20)

1. Verfahren zur zerstörungsfreien Werkstoffprüfung, insbesondere zur Dickenbestimmung an Kunststoffen sowie an Kleb- und Beschichtungswerkstoffen mittels hochfrequenter elektrischer und magnetischer Wechselfelder, dadurch gekennzeichnet, daß dem zu vermessenden Werkstoff elektrisch leitfähige oder ferromagnetische Partikel in einem relativ geringen Volumenanteil zugesetzt werden und sodann an dem fertiggestellten bzw. beschichteten Prüfling die elektrische Leitfähigkeit bzw. magnetische Permeabilität mittels hochfrequenter elektrischer und magnetischer Wechselfelder gemessen wird, deren zeitlicher und räumlicher Verlauf an die Meßaufgabe angepaßt ist.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die elektrische Leitfähigkeit bzw. magnetische Permeabilität des mit Partikeln versetzten Werkstoffes vor dessen Verarbeitung gemessen wird und die dabei erhaltenen Meßwerte ausgenutzt werden für die Anpassung der für die Abschluß-Prüfung verwendeten Wechselfelder an die Meßaufgabe.

3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß für die Prüfung von Beschichtungen auf elektrisch leitfähigen oder magnetischen Grundwerkstoffen die Dicke und Zusammensetzung des Grundwerkstoffes durch Messung von dessen elektrischer Leitfähigkeit bzw. magnetischer Permeabilität bestimmt werden und daß die dabei erhaltenen Meßwerte ausgenutzt werden für die Anpassung der für die Abschluß-Prüfung verwendeten Wechselfelder an die Meßaufgabe.

4. Verfahren nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Bestimmung der elektrischen Leitfähigkeit bzw. magnetischen Permeabilität des Beschichtungswerkstoffes bzw. des Grundwerkstoffes vor der Fertigung bzw. Beschichtung durch Prüfung mittels eines in Amplitude und Phasenspektrum breitbandigen Testimpulses erfolgt, dessen Strom- bzw. Spannungsausbildung unter der Einwirkung der elektrischen Leitfähigkeit bzw. magnetischen Permeabilität und Geometrie des vermessenen Materials erfaßt und für die Erzeugung eines Eichsignals für die Anpassung der für die Abschluß- Prüfung verwendeten Wechselfelder an die Meßaufgabe verwertet wird, dessen zeitlicher und räumlicher Verlauf der Homogenität und Partikelkonzentration des vermessenen Materials bzw. der Zusammensetzung und Dicke des Grundwerkstoffes für die nachfolgende Beschichtung entspricht.

5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß das Eichsignal bzw. die Eichsignale zeitlich zugeordnet einem Rechner (4) für die Optimierung des Meßimpulses für die Abschluß-Prüfung anhand der ihm eingegebenen Daten zugeführt wird bzw. werden.

6. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Testimpulse als zeitlich kurze Impulse in der Weise erzeugt werden, daß eine Spule (Sondenspule) mit einer rechnerisch vorgegebenen Schwingung oder mit mehreren solcher Schwingungen vorgebbarer Länge und Form mit jeweils ausgewählten Amplituden- und Phasenspektren erregt wird.

7. Verfahren nach den Ansprüchen 4 und 5, dadurch gekennzeichnet, daß der optimierte Meßimpuls für die Dickenmessung bzw. Dickenüberwachung der fertiggestellten bzw. fertig beschichteten Teile in der Weise erzeugt wird, daß mittels der Eichkurve(n) die Parameter einer Impulsform oder mehrerer Impulsformen vorgebbarer Länge und Form eingestellt werden und daß mit dem so erhaltenen Signal eine (Sonden-)Spule an der Meßstelle (M 3) erregt wird.

8. Verfahren nach den Ansprüchen 4 und 5, dadurch gekennzeichnet, daß das Eichsignal bzw. die Eichsignale analysiert und mit einem vorgebbaren SOLL-Wert für jede Eichkurve verglichen werden und daß die hierbei erhaltenen Grenzwerte als Korrekturwerte für die Optimierung der an der Meßstelle (M 3) einzusetzenden Meßimpulse benutzt werden.

9. Verfahren nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die an der Meßstelle (M 3) erhaltenen Meßdaten in einer Korrektureinheit (8) in Korrektursignale für den Fertigungs- bzw. Beschichtungsprozeß umgewandelt werden.

10. Verfahren nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die von der Meßstelle (M 3) gelieferten Meßdaten registriert und gespeichert werden.

11. Vorrichtung zur Ausübung des Verfahrens nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch einen Vorratsbehälter (2) für elektrisch leitende oder ferromagnetische Partikel, der mit einem Mischer (3) verbunden ist, der in die (Beschichtungs-) Material-Zuführung (5) für eine Fertigungs- bzw. Beschichtungseinrichtung (6) eingebaut ist für den dosierbaren Zusatz von Partikeln zum zugeführten Material und durch eine der Fertigungs- bzw. Beschichtungseinrichtung (6) nachfolgende Meßstelle (M 3) für die Bestimmung der elektrischen Leitfähigkeit bzw. magnetischen Permeabilität der in ihr befindlichen Prüflinge mittels hochfrequenter elektrischer und magnetischer Wechselfelder, deren Erregerstrom in einer Optimierungseinheit (4) hinsichtlich seines zeitlichen und räumlichen Verlaufs an die Meßaufgabe angepaßt wird.

12. Vorrichtung nach Anspruch 11, gekennzeichnet durch eine im Materialfluß hinter dem Mischer (3) befindliche Meßstelle (M 1) für die Messung der elektrischen Leitfähigkeit und Dicke bzw. magnetischen Permeabilität des mit Partikeln versetzten Werkstoffes vor dessen Verarbeitung, deren Meßdaten einem Steuerungseingang der Optimierungseinheit (4) zugeleitet werden.

13. Vorrichtung nach Anspruch 11 oder 12, für die Prüfung oder Überwachung von Beschichtungen auf elektrisch leitfähigen oder magnetischen Grundwerkstoffen, gekennzeichnet durch eine in die Zufuhr des zu beschichtenden Grundwerkstoffes eingebaute Meßstelle (M 2) für die Messung der elektrischen Leitfähigkeit bzw. magnetischen Permeabilität des Grundwerkstoffes mittels hochfrequenter elektrischer oder magnetischer Wechselfelder, deren Meßdaten einem Steuerungseingang der Optimierungseinheit (4) zugeleitet werden.

14. Vorrichtung nach den Ansprüchen 11, 12 oder 13, dadurch gekennzeichnet, daß die Meßstellen (M 1, M 2, M 3) mit einer Meßspule ausgerüstet sind, deren Erregerstrom- Impulsgenerator aus einem von einem Rechner programmierten Speicher besteht, der zeitlich kurze Impulse mit vorgebbarem Frequenz-(Amplituden- und Phasen-) Spektrum erzeugt, welche in Länge und Form veränderlich sind.

15. Vorrichtung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Optimierungseinheit (4) einen Analysator für die empfangenen Signale aufweist und für deren Vergleich mit einem vorgebbaren SOLL-Wert sowie eine Korrektureinheit zum Verstellen der Parameter der Meßimpulse an der Meßstelle (M 3) mittels der als Analysenergebnis angefallenen Signale.

16. Vorrichtung nach mindestens einem der Ansprüche 11 bis 15, dadurch gekennzeichnet, daß die Optimierungseinheit (4) aus einem Rechner besteht.

17. Vorrichtung nach mindestens einem der Ansprüche 11 bis 16, gekennzeichnet durch eine der Meßstelle (M 3) nachgeschaltete Korrektureinheit (8) für die Auswertung der Maßdaten der Meßstelle (M 3) für die Erzeugung von Korrektursignalen für den Fertigungs- bzw. Beschichtungsprozeß.

18. Vorrichtung nach mindestens einem der Ansprüche 11 bis 17, gekennzeichnet durch eine der Meßstelle (M 3) nachgeschaltete Registrierungs- und/oder Speichereinheit (9).

19. Mittels des Verfahrens bzw. der Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche hergestellter Kunststoff-Bauteil, gekennzeichnet durch die Einlagerung elektrisch leitfähiger oder ferromagnetischer Partikel.

20. Mittels des Verfahrens bzw. der Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche hergestellter beschichteter Bauteil, gekennzeichnet durch die Einlagerung elektrisch leitfähiger oder ferromagnetischer Partikel in seine Beschichtung.