JPS58109801A - 皮膜厚の測定方法 - Google Patents
皮膜厚の測定方法Info
- Publication number
- JPS58109801A JPS58109801A JP21575281A JP21575281A JPS58109801A JP S58109801 A JPS58109801 A JP S58109801A JP 21575281 A JP21575281 A JP 21575281A JP 21575281 A JP21575281 A JP 21575281A JP S58109801 A JPS58109801 A JP S58109801A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- film
- magnetic
- thickness
- painting
- film thickness
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/02—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
- G01B7/06—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は非磁性体の表面に被着された非磁性の皮膜の
皮膜厚を測定する方法に関するものである。
皮膜厚を測定する方法に関するものである。
従来、ステンレス板などの磁性体表面に被着された塗膜
層などの皮膜の皮膜厚は、電磁膜厚計を用いて電磁式の
手段にて測定される。この皮膜厚肯定の方法は皮膜の背
面が磁性体であれば、簡単に皮膜厚を測定することがで
き、至極好都合のものである。しかしながら、コンクリ
ート壁などの非磁性体の表面に形成された非磁性皮膜の
皮膜厚はこの方法では測定できないネ点があった。
層などの皮膜の皮膜厚は、電磁膜厚計を用いて電磁式の
手段にて測定される。この皮膜厚肯定の方法は皮膜の背
面が磁性体であれば、簡単に皮膜厚を測定することがで
き、至極好都合のものである。しかしながら、コンクリ
ート壁などの非磁性体の表面に形成された非磁性皮膜の
皮膜厚はこの方法では測定できないネ点があった。
そこで本発明者は研究の・結果、上記欠点を解消し得る
手段を見い出して、本発明を達成したものである。すな
わち、本発明の目的は非磁性体よりなる構造物の表面に
被着された非磁性の皮膜を電磁式手段にて測定し得る、
非磁性体に被着された非磁性皮膜、の皮膜厚測定方法を
提供することにある。
手段を見い出して、本発明を達成したものである。すな
わち、本発明の目的は非磁性体よりなる構造物の表面に
被着された非磁性の皮膜を電磁式手段にて測定し得る、
非磁性体に被着された非磁性皮膜、の皮膜厚測定方法を
提供することにある。
まず、本発明を得るための実験例について図面を参照し
て説明する。図において１は所定基板（図示しない）主
に載置されたぼり、エステルフィル五であり、その表面
１ｍには磁性膜２を形成する。
て説明する。図において１は所定基板（図示しない）主
に載置されたぼり、エステルフィル五であり、その表面
１ｍには磁性膜２を形成する。
この磁性膜２はウレタン系億料、３０重量部（以下、単
に部と略記する。）と、微粉状の鉄粉７０部とを混合し
てなる塗材を５０１７ｄの割合で塗布し硬化させて形成
した。しかる後、磁性膜２には環化ビニＩ４／系塗料を
２００１７Ｍ１−布し硬化させ非磁性の皮膜５を形成し
た（第１画−Ｍ）。形成した皮膜３上には電磁膜厚計２
０のコイル部２０ムを接触させ、皮膜３の皮膜厚を測定
した。なお、この電磁膜厚計２０は第３図に示すように
鉄芯２１入りの１４７Ｍ２２よりなるコイル部２０ムと
、電流計２５の指針２５ムを主体とし交流電源２４に接
続される本体部２０Ｂとよりなるものであり、コイに２
２の先端２１ムに鉄板２５を近づけると、コイに／２２
先端２１ムと鉄板２５とのわずかな変化に対応して、コ
イ１４／２２の自己インダクタンスが変化しこの変化を
電流計２５の指針２５ムの振れ、すなわち、皮膜２６の
厚さとして読みとる構造のものであり、本実験例の場合
はＫｘサンコウ電子研究所製造の電磁膜厚計（プローブ
３点接触。
に部と略記する。）と、微粉状の鉄粉７０部とを混合し
てなる塗材を５０１７ｄの割合で塗布し硬化させて形成
した。しかる後、磁性膜２には環化ビニＩ４／系塗料を
２００１７Ｍ１−布し硬化させ非磁性の皮膜５を形成し
た（第１画−Ｍ）。形成した皮膜３上には電磁膜厚計２
０のコイル部２０ムを接触させ、皮膜３の皮膜厚を測定
した。なお、この電磁膜厚計２０は第３図に示すように
鉄芯２１入りの１４７Ｍ２２よりなるコイル部２０ムと
、電流計２５の指針２５ムを主体とし交流電源２４に接
続される本体部２０Ｂとよりなるものであり、コイに２
２の先端２１ムに鉄板２５を近づけると、コイに／２２
先端２１ムと鉄板２５とのわずかな変化に対応して、コ
イ１４／２２の自己インダクタンスが変化しこの変化を
電流計２５の指針２５ムの振れ、すなわち、皮膜２６の
厚さとして読みとる構造のものであり、本実験例の場合
はＫｘサンコウ電子研究所製造の電磁膜厚計（プローブ
３点接触。
電離ムＣ１００マ、６０Ｈｔ、Ｍ＊型）を用いて測定し
た。かくして、前記皮膜６の所定個所１０点（８−リ〜
（１１−１０）を測定した測定値は第１表に示す通りで
あった。
た。かくして、前記皮膜６の所定個所１０点（８−リ〜
（１１−１０）を測定した測定値は第１表に示す通りで
あった。
一方、皮膜厚さの測定後において、ポリエステルフィル
ム１１及び磁性膜２を剥がし、皮膜６のみとなしく第２
ｔｊｌＡ！ｉＩ！線部分参照）、この皮膜５における前
記所定個所の１０点（８−１）〜（１３−１０）の皮膜
厚をマイクロメーター（図示せず）を用いて各々測定し
た。この測定値は＠１表に示した。
ム１１及び磁性膜２を剥がし、皮膜６のみとなしく第２
ｔｊｌＡ！ｉＩ！線部分参照）、この皮膜５における前
記所定個所の１０点（８−１）〜（１３−１０）の皮膜
厚をマイクロメーター（図示せず）を用いて各々測定し
た。この測定値は＠１表に示した。
第１表 （単位＃）第１表
より明らかなように電磁膜厚計の測定値（１）とマイク
ロメーターの測定値（―）との間には者干の差異はある
が、その差異は小さくかつほぼ一定であるので、電磁膜
厚計による測定値（１）は信頼できるものである。
より明らかなように電磁膜厚計の測定値（１）とマイク
ロメーターの測定値（―）との間には者干の差異はある
が、その差異は小さくかつほぼ一定であるので、電磁膜
厚計による測定値（１）は信頼できるものである。
しかして、本発明の実施例を以下に説明する。
第４１１及び第５１％ｉｌにおいて１１はコンクリート
。
。
モｓｙｐル、アスペスＦ９石膏１合成樹脂、木質などの
非磁性体であり、１１ムはその平滑面である。
非磁性体であり、１１ムはその平滑面である。
この平滑面１１ム上には磁性を有する金属粉などの磁性
体の粉末を属人せしめた塗材を一布し硬化させて所定厚
さの磁性１１１２を形成する。なお、本例の磁性膜１２
は前記した実験例と同じ組成のものを用い、５０１／ｄ
塗布し硬化させた０次いで磁性１１１２上には堆化ビニ
ｌ＆／系塗料を２００１７Ｉｄ−布し硬化させ皮膜１５
を形成した。かくして形成した皮１１１ ！ｉＥは電磁
膜厚計２０のコイル部２゜ムを当で皮膜厚を測定した。
体の粉末を属人せしめた塗材を一布し硬化させて所定厚
さの磁性１１１２を形成する。なお、本例の磁性膜１２
は前記した実験例と同じ組成のものを用い、５０１／ｄ
塗布し硬化させた０次いで磁性１１１２上には堆化ビニ
ｌ＆／系塗料を２００１７Ｉｄ−布し硬化させ皮膜１５
を形成した。かくして形成した皮１１１ ！ｉＥは電磁
膜厚計２０のコイル部２゜ムを当で皮膜厚を測定した。
皮膜厚の測定は良好に行なうことができた。なお、この
皮１１１５の１ｄ当りにおける所定の１０−所（８ム−
１２〜（Ｓム−１０）の測定値は第２表に示す通りであ
った。
皮１１１５の１ｄ当りにおける所定の１０−所（８ム−
１２〜（Ｓム−１０）の測定値は第２表に示す通りであ
った。
第２表 （単位μ）
なお、前記実施例による磁性膜は形成された膜体が磁性
を有するものであればどのような塗材であっても適用で
き、塗材に配合する磁性体粉末の量は形成される膜体が
磁性を有するものとなるように配合される。また、前記
実施例における皮膜は、塗料、合成樹脂、紙、布などの
非磁性の材質ヲ塗布、ライニングあるいは接着などによ
す形成することができる。
を有するものであればどのような塗材であっても適用で
き、塗材に配合する磁性体粉末の量は形成される膜体が
磁性を有するものとなるように配合される。また、前記
実施例における皮膜は、塗料、合成樹脂、紙、布などの
非磁性の材質ヲ塗布、ライニングあるいは接着などによ
す形成することができる。
以上説明したように本発明の皮膜厚の測定方法は、鉄粉
などの磁性体の粉末を混合せしめた塗材を、コンタリー
Ｆなどの非磁性体つ表面に塗布して磁性膜を形成し、次
いでこの磁性膜上に非磁性の塗材を塗布して所定の険膜
を形成し、しかる後、電磁式手段にて前記皮膜の皮膜厚
を測定するようにしたので、所期の目的が確実に達成さ
れるものである。すなわち、本発明においては非磁性体
の表面に磁性膜を形成し、この上に非磁性の皮膜を被着
せしめるため、非磁性体に形成した皮膜を電磁式手段に
て簡便に測定することができるものである。
などの磁性体の粉末を混合せしめた塗材を、コンタリー
Ｆなどの非磁性体つ表面に塗布して磁性膜を形成し、次
いでこの磁性膜上に非磁性の塗材を塗布して所定の険膜
を形成し、しかる後、電磁式手段にて前記皮膜の皮膜厚
を測定するようにしたので、所期の目的が確実に達成さ
れるものである。すなわち、本発明においては非磁性体
の表面に磁性膜を形成し、この上に非磁性の皮膜を被着
せしめるため、非磁性体に形成した皮膜を電磁式手段に
て簡便に測定することができるものである。
第１！ｉｉｌ及び第２図は本発明を得るための実験例を
示すものであり、第１図はポリエステルフィルムに磁性
膜及び皮膜を形成した状態の説明図、第２図は磁性膜及
び皮膜を剥離させ皮膜のみを得た状態の説明図である。 第３図は電ｉｉ１膜厚針の原理図、第４図及び第５図は
本発明の実施例の工程を示すものであり、第４図は非磁
性体に磁性膜を形成した状態の説明図、第５図は非磁性
体に磁性膜を介して非磁性の皮膜を形成した状態の説明
図である。 １１−・非磁性体 １２・・・磁性膜 １５・・・皮 膜 ２０・−・電磁膜厚計 ２０ム・−・コイル部 ２０Ｂ・・・本体部 出 願 人 日本高分子化学株式会社代 珊 人
弁理士 岡 １）英 彦第ｉｌｌ ］ 第２１１ 第３図 ｎ 箔４ 図 １フ ／ 第６図 ０ １１ １１Ａ
示すものであり、第１図はポリエステルフィルムに磁性
膜及び皮膜を形成した状態の説明図、第２図は磁性膜及
び皮膜を剥離させ皮膜のみを得た状態の説明図である。 第３図は電ｉｉ１膜厚針の原理図、第４図及び第５図は
本発明の実施例の工程を示すものであり、第４図は非磁
性体に磁性膜を形成した状態の説明図、第５図は非磁性
体に磁性膜を介して非磁性の皮膜を形成した状態の説明
図である。 １１−・非磁性体 １２・・・磁性膜 １５・・・皮 膜 ２０・−・電磁膜厚計 ２０ム・−・コイル部 ２０Ｂ・・・本体部 出 願 人 日本高分子化学株式会社代 珊 人
弁理士 岡 １）英 彦第ｉｌｌ ］ 第２１１ 第３図 ｎ 箔４ 図 １フ ／ 第６図 ０ １１ １１Ａ
Claims (1)
- 鉄粉などの磁性体の粉末を混合せしめた塗材を、コンク
リートなどの非磁性体の表面に塗布して磁性膜を形成し
、次いでこの磁性膜上に非磁性の塗材を塗布して所定の
皮膜を形成し、しかる後、電磁式手段にて前記皮膜の皮
膜厚を測定することを特徴とする、非磁性体に被着され
た皮膜の皮膜厚測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21575281A JPS58109801A (ja) | 1981-12-23 | 1981-12-23 | 皮膜厚の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21575281A JPS58109801A (ja) | 1981-12-23 | 1981-12-23 | 皮膜厚の測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58109801A true JPS58109801A (ja) | 1983-06-30 |
Family
ID=16677628
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21575281A Pending JPS58109801A (ja) | 1981-12-23 | 1981-12-23 | 皮膜厚の測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58109801A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2606881A1 (fr) * | 1985-10-18 | 1988-05-20 | Crostack Horst Artur | Procede et dispositif pour essais non destructifs de materiaux, notamment pour des mesures d'epaisseur |
| US6534975B2 (en) * | 2000-01-15 | 2003-03-18 | Alstom (Switzerland) Ltd | Nondestructive method for determining the thickness of a metallic protective layer on a metallic base material via a different type of layer between the metallic protective layer and the metallic base material |
| JP6661064B1 (ja) * | 2019-07-12 | 2020-03-11 | 三菱電機株式会社 | 下塗剤の検査方法、接着構造体、エレベータ、人工衛星および接着構造体の製造方法 |
-
1981
- 1981-12-23 JP JP21575281A patent/JPS58109801A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2606881A1 (fr) * | 1985-10-18 | 1988-05-20 | Crostack Horst Artur | Procede et dispositif pour essais non destructifs de materiaux, notamment pour des mesures d'epaisseur |
| US6534975B2 (en) * | 2000-01-15 | 2003-03-18 | Alstom (Switzerland) Ltd | Nondestructive method for determining the thickness of a metallic protective layer on a metallic base material via a different type of layer between the metallic protective layer and the metallic base material |
| JP6661064B1 (ja) * | 2019-07-12 | 2020-03-11 | 三菱電機株式会社 | 下塗剤の検査方法、接着構造体、エレベータ、人工衛星および接着構造体の製造方法 |
| WO2021009793A1 (ja) * | 2019-07-12 | 2021-01-21 | 三菱電機株式会社 | 下塗剤の検査方法、接着構造体、エレベータ、人工衛星および接着構造体の製造方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN110568263B (zh) | 带有金属涂层的导体多参数检测方法及装置 | |
| Koon et al. | Measurement of contact placement errors in the van der Pauw technique | |
| GB1317683A (en) | Process and apparatus for determining the porosity of a dielectric layer coating a metallic surface | |
| JPS58109801A (ja) | 皮膜厚の測定方法 | |
| JP2910552B2 (ja) | 塗膜形成工法 | |
| JPS61237052A (ja) | 亜鉛めつき鋼の腐食寿命診断器 | |
| SU615395A1 (ru) | Способ определени пористости немагнитных покрытий на ферромагнитной основе | |
| KR100381095B1 (ko) | 자기 유도방식에 의한 아연도금량 두께 측정방법 | |
| HK106888A (en) | Electromagnetic probe for measuring the thickness of thin coatings on magnetic substances | |
| Latter | Measurement of Coating Thickness: Part I: Eddy Current Techniques | |
| Dmitriev et al. | Subminiature eddy current transducers for thickness measurement | |
| JPS5664607A (en) | Measuring machine | |
| JPH04242109A (ja) | 超音波による膜厚測定方法 | |
| SU1657979A1 (ru) | Устройство дл измерени механических напр жений в объектах из ферромагнитных металлов | |
| RU2006851C1 (ru) | Накладной электромагнитный преобразователь | |
| Joffe | Three Ways to Test Thickness | |
| JPS643556A (en) | Phase transformation measuring instrument | |
| Fitches | Magnetic and electronic instruments for film thickness measurement | |
| JPH0697217B2 (ja) | 亜鉛めつき鋼の腐食寿命診断装置 | |
| JPS61237053A (ja) | 亜鉛めつき鋼の腐食寿命診断装置 | |
| Theiner | Nondestructive Determination of Surface Hardness, Residual Stress Values and Hardening Depth | |
| SU638839A1 (ru) | Магнитный способ измерени толщины немагнитных покрытий на ферромагнитных издели х | |
| JPS5690247A (en) | Preparation of sample for x-ray analysis | |
| Fletcher et al. | Measurment of Film Thickness | |
| Balakina | Non-Destructive Evaluation of the Boride-Layer Thickness With Combined Use of the Principal Harmonic and Combined Harmonics of the Signal of an Electromagnetic Transducer |