DE3536700A1 - Geraet zum ermitteln des lokalen abstandes einer pruefflaeche von einer referenzflaeche - Google Patents
Geraet zum ermitteln des lokalen abstandes einer pruefflaeche von einer referenzflaecheInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Gerät zum Ermitteln des Abstandes
einer Prüffläche von einer Referenzfläche gemäß dem Oberbe
griff des Anspruches 1.
Ein derartiges Gerät ist in der Zeitschrift "Applied Optics",
Band 22, Nummer 24, Seiten 3983-3987 beschrieben. Bei ihm
erfolgt die Messung kleiner Abstandsänderungen zwischen
Prüffläche und Referenzfläche, indem man direkt das Ausgangs
signal des Differenzverstärkers als Meßsignal verwendet.
Das Ausgangssignal dieses Differenzverstärkers ändert sich
aber nur in einem verhältnismäßig kleinen Bereich linear
mit Änderungen im Abstand zwischen Prüffläche und Meßfläche.
Bei dem bekannten Gerät wird deshalb bei größeren Änderungen
im zu messenden Abstand der gesamte Meßkopf bezüglich des
Referenzfläche verfahren, und der Abstand der Meßkopfes von
der Referenzfläche wird durch ein gesondertes Interferome
ter ermittelt. Die so erhaltenen Grobabstandsmessung wird
zu der durch das Ausgangssignal des Referenzverstärkers
gebildeten Feinabstandsmessung rechnerisch hinzugezählt.
Nun sind Interferometer verhältnismäßig teuer und müssen
sorgfältig auf die Referenzfläche einjustiert werden. Außer
dem ist der Meßvorgang dann, wenn ein Oberflächenpofil nur
unter zusätzlicher Verschiebung des Meßkopfes als ganzem
ausgemessen werden kann, sehr zeitraubend und ungenau.
Durch die vorliegende Erfindung soll daher ein Gerät zum
Ermitteln des Abstandes zwischen einer Prüffläche und einer
Referenzfläche gemäß dem Oberbegriff des Anspruches 1 ge
schaffen werden, bei welchem der Meßbereich, welcher ohne
Nachfahren des Meßkopfes als ganzem überstrichen werden
kann, vergrößert ist.
Diese Aufgabe ist erfindungsgemäß gelöst durch ein Gerät
gemäß Anspruch 1.
Bei dem erfindungsgemäßen Gerät wird das Ausgangssignal des
Differenzverstärkers nicht direkt als Meßsignal verwendet,
dient vielmehr nur zum Verstellen der Speiseschaltung eines
das Objektiv in Richtung der Geräteachse entgegen einer Vor
spannkraft bewegenden Elektromagneten. Die Wandleranordnung
und der Differenzverstärker werden somit nur für den Null-
Abgleich eines Regelkreises verwendet, während das eigentli
che Meßsignal ein der Größe des Magnetspeisestromes zugeord
netes Signal ist. Der Meßbereich des erfindungsgemäßen Ge
rätes ist somit nicht mehr durch den nutzbaren Arbeitsbe
reich der Wandleranordnung beschränkt, ergibt sich vielmehr
aus dem axialen Hub der Objektivverstellung. Letztere kann
aber mit verhältnismäßig kleinem Aufwand recht groß gewählt
werden.
Es sind zwar an sich Einrichtungen zur automatischen Fokus
sierung einer Lichtquelle auf eine Prüffläche bekannt, bei
denen von einem durch einen Magneten axial entgegen Vor
spannkraft verfahrbaren Objektiv Gebrauch gemacht wird,
wobei auch die Einstellung des Magnetspeisestromes unter
Verwendung eines Differenzverstärkers ausgehend von den
Ausgangssignalen zweier Wandler erfolgt, die mit zwei durch
ein Prisma hergestellten Teilstrahlen des von der Prüfflä
che zurückgeworfenen Lichtes derart beaufschlagt sind, daß
sich ihre Ausgangssignale bei Defokussierung gegensinnig
ändern. Eine derartige automatische Fokussierungseinrich
tung zur Verwendung an Compact-Disc-Plattenspielern oder
Bildplatten ist in der DE-OS 29 14 122 beschrieben. Eine
Entfernungsmessung findet dort aber nicht statt.
Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in Unteran
sprüchen angegeben.
Mit der Weiterbildung der Erfindung gemäß Anspruch 2 läßt
sich auf einfache Weise die Nicht-Linearität der zum Vor
spannen des Objektives in der einen Richtung verwendeten
Federanordnung kompensieren. Man kann so den axialen Ver
stellweg des Objektives größer wählen als den linearen Be
reich der Federcharakteristik der Vorspannfedern, was wie
derum im Hinblick auf einen möglichst großen Meßbereich des
Gerätes von Vorteil ist.
Mit der Weiterbildung der Erfindung gemäß Anspruch 3 wird
durch die das Objektiv vorspannende Feder zugleich ein Zen
trieren des Objektives auf die Geräteachse erhalten.
Die Weiterbildung der Erfindung gemäß Anspruch 4 ist im
Hinblick auf eine in weitem Bereich lineare Charakteristik
der Vorspannfeder von Vorteil.
Eine magnetische Radiallagerung des Objektives gemäß An
spruch 5 und eine magnetische Vorspannung des Objektives
in seine axiale Ruhelage gemäß Anspruch 6 sind im Hinblick
auf das Vermeiden temperaturbedingter Meßfehler und mecha
nischer Hemmungen von Vorteil.
Bei vielen auszumessenden Oberflächen steht der zu einem
betrachteten Zeitpunkt das Meßlicht reflektierende kleine
Oberflächenabschnitt der Prüffläche oft nicht senkrecht
auf der Geräteachse. Derartige stärker geneigte Oberflächen
abschnitte finden sich insbesondere an rauhen Oberflächen.
Wird das Licht von der Prüffläche unter starkem Winkel zur
Einfallsrichtung zurückgeworfen, gelangt es aber nicht mehr
auf die Wandleranordnung, so daß auch keine Abstandsmessung
mehr möglich wäre. Mit der Weiterbildung der Erfindung ge
mäß Anspruch 8 wird erreicht, daß derart unter starkem Win
kel zur Einfallsrichtung zurückgeworfene Lichtstrahlen von
der Reflektoreinrichtung im wesentlichen in sich selbst zum
gerade gemessenen Oberflächenabschnitt der Prüffläche zu
rückgeworfen werden, von welchem sie ein zweites Mal unter
zum ersten Mal im wesentlichen gleichen Bedingungen reflek
tiert werden, so daß das zurückgeworfene Licht insgesamt
im wesentlichen auf der Geräteachse zurückläuft. Mit einem
Gerät gemäß Anspruch 8 lassen sich somit auch stark geneig
te Oberflächenabschnitte der Prüffläche exakt ausmessen.
Ein Gerät gemäß Anspruch 8 eignet sich somit insbesondere
auch zum Ermitteln des Mikroprofiles rauher Oberflächen,
wobei das Gerät längs einer vorgegebenen Abtastlinie über
die Prüffläche hinwegbewegt wird und das Meßsignal aufge
zeichnet wird. Ein weiterer Vorteil des Gerätes gemäß An
spruch 8 ist der, daß abgesehen von der Reflektoreinrich
tung die übrigen optischen Elemente nur geringe Abmessung
im zum Lichtweg senkrechter Richtung zu haben brauchen.
Die im Anspruch 9 angegebene Reflektoreinrichtung hat zum
einen besonders einfachen mechanischen Aufbau, und dadurch,
daß Randstrahlen das Objektiv zweimal im wesentlichen in
der gleichen Ringzone durchsetzen, erfolgt auch ein weitge
hender Ausgleich der Verzeichnungsfehler des Objektives,
obwohl kleinere Verkippungen des zurückgeworfenen Licht
strahles hinter dem Objektiv gegenüber der exakt axialen
Ideal-Lage keinen gravierenden Einfluß auf das Meßergebnis
haben, da der Null-Durchgang des Ausgangssignales des Dif
ferenzverstärkers gegenüber Strahlverkippungen von größen
ordnungsmäßig bis zehn Grad unempfindlich ist. Nur die bei
Defokussierung maximal erhaltene Amplitude des Ausgangs
signales des Differenzverstärkers nimmt bei Verkippungen
ab. Da bei dem erfindungsgemäßen Gerät aber nur der Null-
Durchgang (Vorzeichenwechsel) des Ausgangssignales des Dif
ferenzverstärkers ausgewertet wird, bleiben kleine Strahl
verkippungen, wie sie sich aus Verzeichnungsfehlern des op
tischen Gesamtsystems ergeben, ohne Einfluß.
Da planparallele Platten von Hause aus eine Korrektur der
Verzeichnungsfehler von Sammellinsen bewerkstelligen können,
wird mit der Weiterbildung der Erfindung gemäß Anspruch 10
eine weitere Verbesserung in der Abstandsmessung stark ge
neigter Oberflächenabschnitte der Prüffläche erhalten.
Die Weiterbildung der Erfindung gemäß Anspruch 12 gestattet
die Verwendung kleinen Durchmesser aufweisender Standardob
jektive, wie sie zum Abtasten von Compact-Disks und Bild
platten verwendet werden. Derartige Objektive werde in gro
ßen Stückzahlen gefertigt und sind preisgünstig erhältlich.
Bei Verwendung starker Lichtquellen wie Lasern kann man als
zugleich die Randverzeichnung des Linsenobjektives korrigie
rende Reflektoreinrichtung ein Reflexionshologramm verwen
den, welches unter Verwendung einer entsprechend asphärisch
korrigierten Linse aufgenommen wurde. Während derartige
Linsen an sich teuer herzustellen sind, können unter Ver
wendung einer derartigen Musterlinse einmal hergestellte
Reflexionshologramme auf einfache Weise phototechnisch ver
vielfältigt werden.
Die Weiterbildung der Erfindung gemäß Anspruch 14 ist eben
falls im Hinblick auf die preiswerte Herstellung eines asphä
risch korrigierten, großen Durchmesser aufweisenden Objekti
ves von Vorteil. Da Hologramme auf sehr dünnen Substraten
hergestellt werden können, wird mit der Weiterbildung der
Erfindung gemäß Anspruch 14 auch eine Verkleinerung der
bewegten Masse des Objektives erhalten, was im Hinblick auf
die Regelkonstante bei der automatischen Brennpunktnachfüh
rung von Vorteil ist.
Werden zur Ausmessung der Lage des auf die Wandleranordnung
fallenden Lichtes Wandler verwendet, wie sie im Anspruch 15
angegeben sind, so ist das Ausgangssignal der Wandler und
damit auch des Differenzverstärkers weitgehend unabhängig
von der speziellen Geometrie der Strahlquerschnitte, da
diese Wandler im Effekt über die vom Licht beleuchtete Flä
che integrieren und ein der Lage des Intentsitätsschwerpunk
tes des Strahlquerschnittes zugeordnetes Signal bereitstel
len, welches von der speziellen Querschnittsform unabhängig
ist.
Die Weiterbildung der Erfindung gemäß Anspruch 16 ist im
Hinblick auf den Aufbau der Speiseschaltung aus preiswerten,
gängigen digitalen Bausteinen von Vorteil und ermöglicht
darüber hinaus eine einfache Anzeige des Meßergebnisses.
Mit der Weiterbildung der Erfindung gemäß Anspruch 17 wird
erreicht, daß nicht nur ein sehr kleiner Oberflächenabschnitt
der Prüffläche sondern gleichzeitig auch ein größerer um
diesen herum liegender ringförmiger Abschnitt der Prüfflä
che ausgemessen wird. Das Ausgangssignal des zweiten Dif
ferenzverstärkers entspricht dem mittleren Abstand von Prüf
fläche und Referenzfläche in der Nachbarschaft des eigent
lichen Meßpunktes. Durch die angegebene Geometrie der opti
schen Wege ist eine Entkopplung der beiden Meßkanäle gewähr
leistet.
Bei einem Gerät gemäß Anspruch 18 hat man eine gleichzei
tige absolut scharfe Abbildung beider Lichtquellen, wie sie
mit einer konventionellen Optik nur für sehr nah benachbarte
Wellenlängen realisierbar ist. Stark unterschiedliche Wel
lenlängen sind aber im Hinblick auf ein sauberes Trennen
der beiden reflektierten Lichtbündel unter Verwendung nicht
zu teurer Filter von Vorteil.
Auch die Weiterbildung der Erfindung gemäß Anspruch 19 er
folgt im Hinblick auf eine Entkopplung von Spotmessung und
integraler Messung.
Bei einem Gerät gemäß Anspruch 20 kann man wahlweise den
mittleren Abstand eines größeren Ausschnittes der Prüfflä
che und den Abstand eines kleinen Meßfleckes der Prüffläche
von der Referenzfläche messen.
Da ein erfindungsgemäßes Gerät auch für sehr kleine Abstands
änderungen zwischen Prüffläche und Referenzfläche große Aus
gangssignale erzeugt, spricht ein solches Gerät auch empfind
lich auf durch mechanischen Führungen nicht vollständig aus
räumbare erschütterungsbedingte Relativbewegungen zwischen
Meßkopf und Prüffläche an. Mit der Weiterbildung der Erfin
dung gemäß Anspruch 21 wird erreicht, daß derartige Erschüt
terungen bei der Abstandsbestimmung außer Betracht bleiben.
Dieser Effekt wird mit der Weiterbildung der Erfindung ge
mäß Anspruch 22 bzw. 23 ohne zusätzliche mechanische Maß
nahmen durch spezielle Auswertung der Ausgangssignale des
ersten oder vorzugsweise zweiten Differenzverstärkers er
halten.
Nachstehend wird die Erfindung anhand von Ausführungsbei
spielen unter Bezugnahme auf die Zeichnung näher erläutert.
In dieser zeigen:
Fig. 1: Ein Gerät zum mikroskopisch genauen Ausmessen ei
ner Prüffläche auf einem Werkstück;
Fig. 2: Einen axialen Schnitt durch den Meßkopf des in
Fig. 1 gezeigten Gerätes sowie ein Blockschalt
bild der zugehörigen Auswerteschaltung;
Fig. 3: Eine perspektivische Ansicht eines der im Meßkopf
nach Fig. 2 verwendeten optoelektrischen Wandler;
Fig. 4 bis 8: Schematische Schnittansichten von abgewan
delten Objektiv/Spiegeleinheiten zur alternativen
Verwendung im Meßkopf gemäß Fig. 2;
Fig. 9: Einen axialen Schnitt durch einen abgewandelten
Objektiv-Stellmotor für den in Fig. 2 gezeigten
Meßkopf; und
Fig. 10: Eine abgewandelte Erschütterungs-Detektorschaltung
für den Meßkopf nach Fig. 2.
Fig. 1 zeigt ein Werkstück 10 auf einer Anreißplatte 12.
Zum Ausmessen des Mikroprofiles der oberen Stirnfläche 14
des Werkstückes 10 ist über letzterer ein Meßkopf 16 vorge
sehen, welcher einen Lichtstrahl 18 in vertikaler Richtung
auf die Stirnfläche 14 schickt und einen von dieser reflek
tieren Lichtstrahl 20 wieder aufnimmt. Einzelheiten des
Meßkopfes 16 sowie einer elektronischen Auswerteschaltung
weiter unten unter Bezugnahme auf Fig. 2 erläutert.
Der Meßkopf 16 ist über ein Gleitstück 22 spielfrei auf
einer horizontalen Führungsstange 24 verschiebbar. Letztere
ist von einem weiteren Gleitstück 26 getragen, das spiel
frei auf einer vertikalen Führungsstange 28 verschiebbar
ist.
Zur Messung des Abstandes des Gleitstückes 22 von der Füh
rungsstange 28 ist ein erster Entfernungsmesser vorgesehen,
welcher einen vom Gleitstück 22 getragenen Spiegel 30 und
eine mit letzteren zusammenarbeitenden optische Fühlerein
heit 32 aufweist. Ähnlich ist zum Bestimmen des Abstandes
des Gleitstückes 26 über der Oberseite der Anreißplatte 12
ein vom Gleitstück 26 getragener Spiegel 34 und eine auf
der Anreißplatte 12 angeordnete Fühlereinheit 36 vorgesehen.
Die beiden den Gleitstücken zugeordneten Entfernungsmesser
können insgesamt wie Interferometer aufgebaut sein, wie an
sich bekannt. Auch kann für die dritte Koordinatenrichtung
eine senkrecht zur Zeichenebene wirksame Führungseinrich
tung zusammen mit einem dritten Entfernungsmesser vorgese
hen sein.
Der Meßkopf 16 ist über eine Leitung 38 mit einer Zentral
einheit 40 verbunden, Leitungen 42, 44 dienen zum Verbin
den der Fühlereinheiten 32 und 36 mit der Zentraleinheit.
Letztere hat ein erstes Anzeigefeld 46 für das dem Mikro
profil der Stirnfläche 14 zugeordnete Ausgangssignal des
Meßkopfes 16, ein zweites Anzeigefeld 48 für den lokalen
Gesamtabstand zwischen dem gerade ausgemessenen Bereich
der Stirnfläche 14 und der Oberseite der Anreißplatte 12
sowie ein drittes Anzeigefeld 50 für die der Fühlereinheit
32 zugeordnete horizontale Koordinate.
Ein Tastenfeld 52 dient zur Voreinstellung der Arbeitsweise
des Meßgerätes, zum Beispiel dessen, ob der Meßkopf 16 ei
nen sehr kleinen Bereich der Stirnfläche 14 erfassen soll
(Spotmessung) oder einen ausgedehnten Bereich der Stirnflä
che 14 erfassen soll (Integralmessung). Außerdem können
über das Tastenfeld 52 die Koordinatennullpunkte verschoben
werden. An die Zentraleinheit 40 ist ferner ein Schreiber
54 angeschlossen, mit dem das Ausgangssignal des Meßkopfes
16 in Abhängigkeit von der horizontalen Meßkopfstellung
aufgezeichnet werden kann.
Wie aus Fig. 2 ersichtlich, hat der Meßkopf 16 ein insge
samt mit 56 bezeichnetes becherförmiges Gehäuse, von dessen
Boden ein im wesentlichen quadratischen Querschnitt aufwei
sender Rohrstutzen 58 in Fig. 2 nach links läuft. Beim
Boden des Rohrstutzens ist eine Laserdiode 60 angeordnet,
welche einen Lichtstrahl 62 kleinen Durchmessers auf das
Werkstück richtet. Die Laserdiode 60 ist von einer ringför
migen zweiten Lichtquelle 64 umgeben, die zum Beispiel durch
eine zu einem Ring geschlossene Glühwendel oder durch eine
Gasentladungseinheit gebildet sein kann. Die Lichtquelle
64 erzeugt ein im wesentlichen ringförmigen Querschnitt
aufweisendes Lichtbündel 66, welches ebenfalls auf das Werk
stück 10 fällt. Die Wellenlänge des von der Laserdiode 60
abgegebenen Lichtes ist so gewählt, daß sie sich nicht mit
dem Spektrum des von der Lichtquelle 64 abgegebenen Licht
bündels überlappt.
Beim offenen Ende des Gehäuses 56 ist ein Objektiv 68 vorge
sehen, welches den Lichtstrahl 62 und das Lichtbündel 66
auf die Stirnfläche 14 des Werkstückes 10 abbildet. Das
Objektiv 68 sitzt in einer Fassung 70, die ihrerseits in
einer magnetischen Stellhülse 72 positioniert ist. Hierzu
hat die Innenfläche der Magnethülse 72 einen radial nach
innen stehenden Positionierbund 74, welcher zwei ringför
mige Anschlagschultern vorgibt.
An der in Fig. 2 rechts gelegenen Anschlagschulter des
Positionierbundes 74 ist ein kreisförmiger Spiegel 76 posi
tioniert, welcher einen lichtdurchlässigen, plattenförmigen
Grundkörper 78 aufweist, auf dessen vom Objektiv abgelege
ner Oberfläche eine Metallschicht 80 aufgebracht ist, wobei
die Metallschicht 80 eine kreisförmige mittige Öffnung 82
hat, deren Durchmesser dem Durchmesser der Lichtquelle 64
entspricht.
Die Stellhülse 72 ist bei ihren axialen Enden durch kegeli
ge ringförmige Federelemente 84, 86 gelagert, deren radial
innen liegende Enden in die Außenfläche der Stellhülse 72
eingreifen und deren außen liegende Ränder in der Umfangs
wand des Gehäuses 56 festgelegt sind. Die kegeligen Berei
che der Federelemente 84, 86 sind mit Schlitzen 88 versehen,
so daß man eine Mehrzahl in Umfangsrichtung verteilter Fe
derarme erhält, und die Federelemente eine besser lineare
Federcharakteristik bekommen. Die Federelemente 84, 86 zen
trieren so die Stellhülse 72 und damit auch das Objektiv
68 auf die Geräteachse, also die Achse des Rohrstutzens 58
und den auf dieser von der Laserdiode 60 abgegebenen Licht
strahl.
Im Rohrstutzen 58 sind hintereinander liegend zwei insge
samt mit 90 bzw. 92 bezeichnete Kombi-Prismen angeordnet.
Letztere bestehen jeweils aus einem der Laserdiode 60 zuge
wandten 90-Grad-Prisma 94, an dessen Basisfläche ein modi
fiziertes 90-Grad-Prisma 96 angesetzt ist, welches auf ei
ner seiner Kathetenflächen zwei zusammen ein Strahlteiler
prisma bildende, einen stumpfen Winkel einschließende Be
grenzungsflächen 98, 100 aufweist. Beim Kombi-Prisma 90
weisen die Begrenzungsflächen 98, 100 in Fig. 2 nach unten,
während diese Flächen beim Kombi-Prisma 92 in Fig. 2 nach
oben weisen.
An den Rohrstutzen 58 angeformte Zwischenwände 102, welche
senkrecht auf der Zeichenebene von Fig. 2 stehen, untertei
len den den Rohrstutzen 58 umgebenden Gehäuseinnenraum in
einen oberen Gehäuseraum 104 und einen unteren Gehäuseraum
106, die optisch entkoppelt sind.
Wie in Fig. 2 gezeigt, ist die auszumessende Stirnfläche
14 nicht exakt eben, sondern rauh. Die Normale desjenigen
Oberflächenabschnittes, auf welchen der Lichtstrahl 62 auf
fällt, ist in der Zeichnung mit 108 bezeichnet. Sie ist
gegen die Geräteachse stark verkippt, so daß der Lichtstrahl
62 von dem beleuchteten Oberflächenabschnitt in den Randbe
reich des Objektives 68 reflektiert wird. Da das Objektiv
68 so steht, daß der beleuchtete Oberflächenabschnitt der
Stirnfläche 14 im Brennpunkt liegt oder diesem benachbart
ist, wird der reflektierte Lichtstrahl 62 vom Objekiv 68
im wesentlichen parallel zur Geräteachse gebrochen und fällt
im wesentlichen senkrecht auf den senkrecht auf der Geräte
achse stehenden Spiegel 76. Von dort kehrt der Lichtstrahl
wie gestrichelt angedeutet zum Objektiv 68 zurück und wird
wieder auf denjenigen Oberflächenabschnitt der Stirnfläche
14 fokussiert, zu dem die Normale 108 gehört. Bei der nun
erfolgenden zweiten Reflexion des Lichtstrahles 62 an die
sem Oberflächenabschnitt wird der Lichtstrahl wieder im
wesentlichen in die Geräteachse zurückgelegt und läuft zum
Kombi-Prisma 90 zurück. Dort wird ein Teil des zurückkeh
renden Lichtstrahles von der Spiegelfläche des Kombi-Pris
mas in Fig. 2 nach unten umgelenkt und durch das angeformte
Dachkant-Prisma in zwei Teilstrahlen 110, 112 aufgespalten.
Diese gelangen über ein schmalbandiges Interferenz-Durchlaß
filter 114 auf zwei optoelektrische Wandler 116, 118, wel
che bei exakter Lage des reflektierenden Oberflächenabschnit
tes der Stirnfläche 14 im Brennpunkt des Objektives 68 sym
metrisch bezüglich der Teilstrahlen 110, 112 liegen und
damit gleiche Ausgangssignale bereitstellen. Wird der Ab
stand zwischen dem Objektiv 68 und dem reflektierenden Ober
flächenabschnitt der Stirnfläche 14 geändert, so wandern
die Teilstrahlen 110, 112 in entgegengesetztem Sinne in
seitlicher Richtung auf den Wandlern 116, 118, so das sich
deren Ausgangssignale gegensinnig ändern.
Die Ausgänge der Wandler 116, 118 sind mit den Eingängen
eines Differenzverstärkers 120 verbunden. Dessen Ausgang
ist über einen Umschalter 122 und ein Verzögerungsglied
124 mit den einen Eingängen eines UND-Gliedes 126 bzw. ei
nes NAND-Gliedes 128 verbunden, deren zweite Eingänge über
ein weiteres UND-Glied 130 mit dem Ausgang eines freilau
fenden Taktgebers 132 verbunden sind. Wie später noch ge
nauer beschrieben werden wird, erhält ein zweiter Eingang
des UND-Gliedes 130 immer dann ein Aufsteuersignal, wenn
der Meßkopf 16 keinen unzulässigen Erschütterungen ausge
setzt ist.
Der Ausgang des UND-Gliedes 126 ist mit der Aufwärtszähl
klemme eines Auf/Ab-Zählers 134 verbunden. Die Abwärts
zählklemme des letzteren ist mit dem Ausgang des NAND-Glie
des 128 verbunden. Das Ausgangssignal des Auf/Ab-Zählers
134 wird auf den Eingang eines Digital/Analog-Wandlers 136
gegeben, dessen Ausgangssignal durch einen Verstärker 138
verstärkt wird und zur Erregung einer ringförmigen Magnet
spule 140 dient. Letztere umgibt in enger Spielpassung die
magnetische Stellhülse 72 und ist an der Umfangswand des
Gehäuses 56 festgelegt.
Wie oben schon dargelegt, ist das Ausgangssignal des Diffe
renzsverstärkers 120 proportional zum Abstand des momentan
reflektierenden Oberflächenabschnittes der Stirnfläche 14
vom Brennpunkt des Objektives 68. Über die durch das UND-
Glied 126 und das NAND-Glied 128 gebildete elektronische
Weiche wird gemäß dem Vorzeichen des Ausgangssignales des
Differenzverstärkers 120 unter Verwendung der vom Taktgeber
132 bereitgestellten Impulse der Stand des Auf/Ab-Zählers
134 derart verändert, daß der Speisestrom für die Magnet
spule 140 so erhöht oder erniedrigt wird, daß durch axiale
Verstellung der mit der Magnetspule 140 zusammenarbeitenden
Stellhülse 72 der Brennpunkt des Objektives 68 exakt auf
den momentan reflektierenden Oberflächenabschnitt der Stirn
fläche 14 gelegt wird. Der Stand des Auf/Ab-Zählers 134 ist
somit ein Maß für den Abstand des momentan reflektierenden
Oberflächenabschnittes des Werkstückes von einer Referenz
fläche, zum Beispiel der vorderen oder hinteren Stirnfläche
des Gehäuses 56 des Meßkopfes 16.
Da die Federelemente 84, 86 für sehr große Auslenkungen der
Stellhülse 72 nicht mehr exakt lineare Federcharakteristik
haben, wird das Ausgangssignal des Auf/Ab-Zähles 134 auf
einen Kennlinienkreis 146 gegeben, welcher zum Beispiel in
durch das Ausgangssignal des Auf/Ab-Zählers 134 adressier
ten Speicherzellen die bezüglich der Nichtlinearität der
Federelemente 84, 86 korrigierten Objektiv-Verstellwege ent
hält.
Das Ausgangssignal des Kennlinienkreises 146 wird zur An
steuerung des Anzeigefeldes 46 verwendet und über eine Lei
tung 148 zur Ansteuerung des Schreibers 54 oder zu anderwei
tiger Datenverarbeitung bereitgestellt. Mit dem Ausgangssig
nal des Kennlinienkreises 146 ist ferner der eine Eingang
eines Summierkreises 150 verbunden, dessen zweiter Eingang
das Ausgangssignal eines Auf/Ab-Zählers 152 erhält, der ein
gangsseitig mit der Fühlereinheit 36 verbunden ist. Das Aus
gangssignal des Summierkreises 150 entspricht somit dem Ge
samtabstand des gerade ausgemessenen Oberflächenabschnittes
der Stirnfläche 14 von der Oberseite der Anreißplatte 12
und wird am Anzeigefeld 48 ausgegeben.
Durch das Kombi-Prisma 92 wird das durch Reflexion des Licht
bündels 66 erhaltene rücklaufende Lichtbündel in Fig. 2
nach oben umgelenkt und in zwei Teilbündel 154, 156 zerlegt.
Letztere gelangen auch zu wiederum symetrisch zu den Soll
achsen der Teilbündel angeordneten opto-elektrische Wand
lern 158, 160, vor denen jeweils ein Filter 162 angeordnet
ist, welches die Wellenlänge des Lichtstrahles 62 sperrt
und das Spektrum des Lichtbündel 66 teilweise oder ganz
durchläßt.
Die Ausgänge der Wandler 158, 160 sind mit den Eingängen
eines Differenzverstärkers 164 verbunden, dessen Ausgang
mit dem zweiten Kontakt des Umschalters 122 verbunden ist.
Durch Umlegen des Umschalters 122 kann man somit die Brenn
punktnachführung durch axiales Verstellen des Objektives
68 wahlweise auch in Abhängigkeit vom gemittelten Abstand
eines größeren ausgeleuchteten Oberflächenbereiches der
Stirnfläche 14 vom Brennpunkt des Objektives 68 durchführen.
Der Ausgang des Differenzverstärkers 164 ist ferner mit
einem Sperrsteuerkreis 166 verbunden. Letzterer überprüft
das Ausgangssignal des Differenzverstärkers 164 darauf hin,
ob in diesem Signal höherfrequente Anteile enthalten sind.
Ist dies nicht der Fall, so erzeugt der Sperrsteuerkreis
166 an seinem Ausgang ein hochpegeliges Signal; werden hoch
frequente Anteile im Ausgangssignal des Differenzverstär
kers 164 festgestellt, ist der Ausgang des Sperrsteuerkrei
ses 166 niederpegelig. Da die Wandler 158, 160 mit Licht
beaufschlagt sind, welches einer optischen Mittelung über
einen größeren Oberflächenbereich entspricht, bedeuten Wech
selanteile im Ausgangssignal des Differenzverstärkers 164,
daß der Abstand zwischen Objektiv und auszumessender Ober
fläche durch Störeinflüsse wie Erschütterungen verändert
worden ist. Da unter derartigen Bedingungen der zweite Ein
gang des UND-Gliedes 130 nicht mehr mit Signal beaufschlagt
ist, wird die automatische Brennpunktnachstellung so lange
unterbunden, wie mechanische Störeinflüsse vorliegen. Da
das Verzögerungsglied 124 vorgesehen ist, kann der Sperr
steuerkreis 166 das UND-Glied 130 sperren, bevor erschüt
terungsbedingte Änderungen des Ausgangssignales des Diffe
renzverstärkers 120 wirksam werden.
Der Sperrsteuerkreis 166 kann zusätzlich über eine Leitung
168 ein Signal erhalten, welches anzeigt, ob der Meßkopf 16
in einer zur Stirnfläche 14 pararllelen Ebene verschoben
wird, wobei dann für die Dauer der Verschiebung ein kleiner
Anteil von Wechselkomponenten im Ausgangssignal des Diffe
renzverstärkers 164 toleriert wird, wie er möglicherweise
übrig bleibt, wenn die ringförmige Fläche, über die das
Lichtbündel 66 mittelt, sehr große Unregelmäßigkeiten ent
hält. Der Sperrsteuerkreis 166 kann zum Beispiel aus einem
Hochpaßfilter mit nachgeschaltetem Gleichrichter und Inver
ter bestehen.
Das Ausgangssignal des Sperrsteuerkreises 166 wird auch auf
einer Leitung 169 bereitgestellt und kann so z.B. dazu ver
wendet werden, Motoren zum Verfahren des Meßkopfes 16 über
der Stirnfläche 14 solange anzuhalten, bis nach Abklingen
von Erschütterungen am jeweiligen Standpunkt des Meßkopfes
ein korrektes Meßsignal gewonnen wurde.
Steht vor dem in Fig. 2 gezeigten Meßkopf ein Oberflächen
abschnitt der Stirnfläche 14, dessen Normale zur Geräteachse
gar nicht oder nur wenig verkippt ist, so gelangt der re
flektierte Lichtstrahl durch das Objektiv und die Öffnung
82 in der Metallschicht 80 direkt zurück zum Detektionssy
stem.
In Fig. 2 sind von den durch Aufteilung des Lichtstrahles
62 bzw. des Lichtbündels 66 erhaltenen Teilstrahlen bzw.
Teilbündeln zur besseren Übersichtlichkeit nur diejenigen
eingezeichnet, welche für das Erhalten des Meßergebnisses
relevant sind. Für das ringförmigen Querschnitt aufweisende
Lichtbündel 66 sind auch nur die Strahlen für senkrecht auf
der Geräteachse stehende Reflexionsflächen des Werkstückes
eingezeichnet; es versteht sich, daß bei den sehr vielen,
unterschiedlich zur Geräteachse stärker verkippten vom Licht
bündel 66 beleuchteten Oberflächenabschnitten der Stirnflä
che 14 jeweils ähnliche Strahlengänge erhalten werden, die
nach Reflexion an der Metallschicht 80 wieder im wesentli
chen auf die Geräteachse zurückführen, wie dies im einzel
nen für den Lichtstrahl 62 eingezeichnet ist.
Wird bei einem gegenüber Fig. 2 vereinfachten Meßkopf 16
auf die Möglichkeit einer Integralmessung verzichtet, so
kann man den Eingang des Sperrsteuerkreises 166 auch an
den Ausgang des Differenzverstärkers 120 anschließen. In
weiterer Abwandlung des in Fig. 2 gezeigten Ausführungs
beispieles kann man den in Fig. 2 oberen Eingang des UND-
Gliedes 130 auch unter Verwendung eines am Gehäuse 56 be
festigten, Beschleunigungen in Richtung der Gehäuseachse
messenden Beschleunigungsfühlers beaufschlagen.
Fig. 3 zeigt eine perspektivische Darstellung eines der
im Meßkopf 16 gemäß Fig. 2 verwendeten Wandler 116, 118
bzw. 158, 160. Der dort wiedergegebene Wandler 116 hat stab
förmige Geometrie und besteht aus einer p-leitenden Schicht
170 sowie einer n-leitenden Schicht 172. Zwischen diesen
Schichten liegt ein mit 174 bezeichneter p-n-Übergang. Auf
die einen Stirnflächen der Schichten 170, 172 sind Elektro
den 176, 178 aufgesetzt. In Fig. 3 ist der durch das auf
fallende Lichtbündel 110 erzeugte Lichtfleck mit 180 bezei
chnet.
Fällt auf den Wandler 116 kein Licht, so muß durch den Wand
ler geschickter Strom die beiden Schichten 170 und 172 voll
ständig durchqueren und wird von einer auf die in Fig. 3
links gelegene Stirnfläche aufgebrachten Elektrode 182 von
der einen Schicht in die andere Schicht geleitet. Fällt
dagegen Licht auf den Wandler auf, so wird an der Auftreff
stelle über den p-n-Übergang ein Kurzschluß zwischen den
beiden Schichten 170, 172 hergestellt. Man erkennt, daß so
der zwischen den Elektroden 176, 178 gemessene Widerstand
des Wandlers direkt proportional zum mit L bezeichneten
Abstand des Lichtfleckes 180 vom in Fig. 3 rechts gelege
nen Ende des Wandlers 116 ist.
Man erkennt ferner, daß bei vorgegebener Gesamtintensität
des auffallenden Lichtes bei dem in Fig. 3 gezeigten Wand
ler der Widerstand zwischen den Elektroden 176, 178 durch
den geometrischen Schwerpunkt des Lichtfleckes 180 bestimmt
ist, auf die spezielle Form der Begrenzungskontur des Licht
fleckes 180 kommt es nicht an, da sich positive und negative
Mittenabweichungen der Fleckpunkte herausheben.
Fig. 4 zeigt schematisch eine abgewandelte Objektiv/Spie
geleinheit, bei welcher die verspiegelte Oberfläche des
Grundkörpers 78 des Spiegels 76 zusätzlich zur Kompensation
starker Randverzeichnung des Objektives 68 gewölbt ist. Wie
auch in Fig. 2 sind die Krümmungsverhältnisse der opti
schen Elemente nicht maßstäblich.
Fig. 5 zeigt eine weiter abgewandelte Objektiv/Spiegelein
heit, bei welcher ein Hohlspiegel 76′ verwendet wird. Die
ser hat eine mittige Öffnung 82′, in welche das kleinen
Durchmesser aufweisende Objektiv 68′ eingekittet ist. Der
Hohlspiegel 76′ hat einen Krümmungsradius, der der Brenn
weite des Objektives 68′ entspricht, so daß der Mittel
punkt M des Hohlspiegels 76′ und der Brennpunkt F des Ob
jektives 68′ zusammenfallen. Auch bei der Anordnung nach
Fig. 5 werden von der reflektierenden Prüffläche unter
starker Verkippung zur optischen Achse des Gerätes zurück
geworfene Strahlen durch den Hohlspiegel 76′ in sich zu
rückgeworfen, an der Prüffläche ein zweites Mal unter glei
chen Bedingungen reflektiert und im wesentlichen auf der
optischen Geräteachse dem Detektionssystem zugeführt.
In Abwandlung des in Fig. 5 gezeigten Ausführungsbeispie
les kann man den Hohlspiegel 76′ auch in Fig. 5 nach rechts
verschieben, bis sein Rand in der Ebene des Objektives 68′
liegt. Der Krümmungsradius des Hohlspiegels 76′ wird ent
sprechend angepaßt, das Objektiv 68′ über mehrere in Umfangs
richtung verteilte axiale Träger 184 am Hohlspiegel 76′
befestigt, wie in Fig. 8 gezeigt. Die Objektiv/ Spiegel
einheit nach Fig. 8 kann auch sehr nahe an die Prüffläche
heranbewegt werden.
Fig. 6 zeigt eine Objektiv/Spiegeleinheit, bei welcher der
zugleich Verzeichnungsfehler korrigierende Grundkörper 78
des Spiegels 76 nach Fig. 4 durch ein äquivalentes Korrek
tur-Reflexionshologramm 186 ersetzt ist, dessen unterschied
lich geschwärzte Bereiche schematisch als unterbrochene Be
schichtung eines transparenten Grundkörpers angedeutet ist.
Hinter dem Reflexionshologramm 186 liegt ein Spiegel 188,
welcher in der Mitte wieder mit einer einer Öffnung 82 ver
sehen ist.
Bei der in Fig. 7 gezeigten Objektiv/Spiegeleinheit ist
das Linsenobjektiv 68 von Fig. 2 durch ein Transmissions
hologramm 190 ersetzt, bei welchem wieder die unterschied
lichen Schwärzungsbereiche schematisch durch eine unterbro
chene Beschichtung eines transparenten Grundkörpers ange
deutet sind. Das Transmissionshologramm 190 ist eine repro
duktionstechnisch gewonnene Kopie eines Original-Hologram
mes, welches unter Verwendung eines als Einzelstück gefer
tigten hochkorrigierten, verzeichnungsfreien Objektives
aufgenommen wurde, dessen Brennweite derjenigen des Objek
tives 68 entspricht. Zusammen mit dem Transmissionsholo
gramm 190 kann der ebene Spiegel 76 unverändert verwendet
werden.
Für die kombinierte Spotmessung und Integralmessung mit
zwei verschiedenen monochromatischen Lichtquellen besteht
das Transmissionshologramm aus der Überlagerung von zwei
unterschiedlich gefärbten "Schwärzungs"-Mustern, von denen
das eine für die erste Wellenlänge, das andere für die an
dere Wellenlänge transparent ist. Diese "Schwärzungs"-Mus
ter sind jeweils unter exakten Fokussierungsbedingungen
unter Verwendung des oben erwähnten hochkorrigierten Objek
tives und jeweils einer der verwendeten Wellenlängen her
gestellt.
Alternativ kann man ein analoges Kombi-Transmissionsholo
gramm auch für Spotmessung und Integralmessung unter Ver
wendung unterschiedlich polarisierten Lichtes verwenden.
Fig. 9 zeigt einen abgewandelten Stellmotor zum axialen
Verstellen des Objektives, wobei oberhalb und unterhalb der
Geräteachse zwei geringfügig unterschiedliche Ausführungs
beispiele gezeigt sind.
Die Stellhülse 72 ist permanent in radialer Richtung mag
netisiert wie durch Pfeile angedeutet. Um sie herum ist
eine permanent radial magnetisierte Lagerhülse 190 angeord
net, die am Meßkopfgehäuse festgelegt ist. Wie gezeigt, sind
die Magnetisierungsrichtungen von Stellhülse 72 und Lager
hülse 190 entgegengesetzt, sodaß sich diese beiden Hülsen
in radialer Richtung abstoßen und damit die Stellhülse 72
im Inneren der Lagerhülse 190 reibungsfrei radial gelagert
ist.
Bezüglich der Vorspannung der Stellhülse 72 in eine mittlere
Ruhestellung unterscheiden sich der obere und unter Teil von
Fig. 9. Im oberen Ausführungsbeispiel ist die Lagerhülse
190 bei ihrer axialen Mitte stärker aufmagnetisiert, wie
durch einen dickeren Pfeil angedeutet. Die Stellhülse hat
bei ihrer Mitte eine Umfangsnut 194, welche dem Positionier
bund 74 folgt, und ist im übrigen homogen magnetisiert.
Damit sucht sich die Stellhülse 72 axial so einzustellen,
daß die Umfangsnut 194 dem stärker magnetisierten Bereich
der Lagerhülse 190 gegenüberliegt. Beim unteren Ausführungs
beispiel hat die Stellhülse 172 einen zugleich den Positio
nierbund 74 bildenden mittleren Hülsenabschnitt 196, der
gleich polarisiert ist wie die Lagerhülse 190, so daß wie
derum eine Ausrichtung der Stellhülse 72 auf die axiale
Mitte der Lagerhülse 190 erhalten wird.
Zum Auslenken der Stellhülse 72 aus ihrer axialen Mitten
stellung in der einen oder anderen Richtung ist wiederum
die Ringspule 140 vorgesehen.
Anders als bei Metallfedern ist bei Verwendung von magne
tischen Federn, wie sie soeben unter Bezugnahme auf Fig.
9 erläutert wurden, die Federcharakteristik praktisch tem
peraturunabhängig. Die Federcharakteristik läßt sich auch
durch unterschiedliche Wahl des Magnetisierungprofiles und/
oder der Geometrie der gegenüberliegenden Umfangsflächen
von Stellhülse 72 und Lagerhülse 190 in weiten Grenzen auf
einfache Weise variieren.
Sich axial ändernde Magnetisierungen aufweisende Hülsenkör
per, wie sie oben beschrieben wurden, können z.B. durch Ver
kleben in sich homogen magnetisierter Ringkörper erhalten
werden.
Anstelle des unter Bezugnahme auf Fig. 2 erläuterten Sperr
steuerkreises 166, welcher auf Frequenzbasis arbeitet, kann
man gemäß Fig. 10 auch die Ausgangssignale der beiden Dif
ferenzverstärker 120 und 164 auf die Eingänge eines Summier
verstärkers 198 geben, wobei zur Anpassung der Grundempfind
lichkeit der beiden Licht-Meßkanäle (z.B. bedingt durch
unterschiedliche Helligkeit der Lichtquellen) ein Anpas
sungsnetzwerk vorgesehen wird, das hier als an den Ausgang
des Differenzverstärkers 164 angeschlossener einstellbarer
Ableitwiderstand 200 gezeigt ist.
Bei erschütterungsbedingter Defokussierung ändern sich die
Ausgangssignale der Differenzverstärker 120 und 164 gleich
sinnig, so daß man ein Ausgangssignal des Summierverstärkers
198 erhält. Bei durch die Prüffläche bedingter Defokussie
rung ändern sich diese Ausgangssignale der Differenzverstär
ker dagegen in entgegengesetzter Richtung, so daß kein Aus
gangssignal am Summierverstärker 198 erhalten wird. Damit
kann dieses Ausgangssignal nach Umkehrung in einem Inverter
202 zur Ansteuerung des UND-Gliedes 130 von Fig. 2 dienen.
Claims (23)
1. Gerät zum Ermitteln des lokalen Abstandes einer Prüf
fläche von einer Referenzfläche, mit einer kleinen
Durchmesser aufweisenden Lichtquelle, mit einem Objektiv
zum Abbilden der Lichtquelle auf einen lokalen Bereich der
Prüffläche und zum Abbilden des dort von der Lichtquelle
erzeugten Lichtfleckes auf eine photoelektrische Wandler
anordnung, mit einer Umlenkeinrichtung zum räumlichen Tren
nen des von der Prüffläche zurückgeworfenen Lichtes vom auf
sie auffallenden Licht, die auf der optischen Achse des
Gerätes zwischen dem Objektiv und der Lichtquelle angeord
net ist, mit einem Strahlteiler, welcher im Lichtweg hinter
der Umlenkeinrichtung angeordnet ist und das zurückgewor
fene Licht in zwei Teilstrahlen aufspaltet, von denen je
weils einer auf einen zugeordneten Wandler der Wandleranord
nung fällt, und mit einem Differenzverstärker, der mit den
Ausgangssignalen der beiden Wandler beaufschlagt ist,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Objektiv (68) in eine axiale Stellung vorgespannt
ist und durch einen Elektromagneten (74, 140) entgegen der
Vorspannkraft axial verlagerbar ist; daß eine Speiseschal
tung (126 bis 138) den Speisestrom des Elektromagneten (74,
140) in Abhängigkeit vom Vorzeichen des Ausgangssignales
des Differenzverstärkers (120) erhöht oder erniedrigt; und
daß ein dem Speisestrom zugeordnetes Signal als dem zu mes
senden Abstand zugeordnetes Meßsignal bereitgestellt wird.
2. Gerät nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch einen Kenn
linienkreis (146), welcher eingangsseitig mit einem zum
Speisestrom proportionalen Signal beaufschlagt ist und
dies gemäß einer die Nichtlinearität der mechanischen Vor
spannkraft kompensierenden Kennlinie modifiziert, wobei das
Ausgangssignal des Kennlinienkreises (146) das Meßsignal
darstellt.
3. Gerät nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet,
daß das Objektiv (68) von mindestens einem auf die op
tische Geräteachse zentrierten ringförmigen Federele
ment (84, 86) gehalten ist.
4. Gerät nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß von
den inneren Rändern der ringförmigen Federelemente (84,
86) einzelne Federarme vorgebende Schlitze (88) ausge
hen.
5. Gerät nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß
das Objektiv (68) durch eine magnetisches Radiallager
(72, 190) auf die Geräteachse zentriert ist.
6. Gerät nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß das
magnetische Radiallager (72, 190) eine magnetische In
homogenität aufweist, durch welche das bewegliche Lager
teil in eine axiale Ruhestellung vorgespannt ist.
7. Gerät nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekenn
zeichnet, daß der Elektromagnet eine zur optischen Ge
räteachse koaxiale, außerhalb des Weges des Objektives
(68) angeordnete Ringspule (140) sowie ein mit dem Objektiv
(68) verbundenes rotationssymetrisches Magnetteil (74) auf
weist.
8. Gerät nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekenn
zeichnet, daß ein aktiver mittiger Bereich des Objekti
ves (68), welcher von der Prüffläche (14) zurückgewor
fenes Licht direkt auf die Wandler (116, 118) abbildet,
von einer rotationssymetrischen Reflektoreinrichtung (68,
76; 76′; 186, 188; 76) umgeben ist, welche von der Prüf
fläche (14) unter starker Neigung zur Geräteachse zurückge
worfene Lichtstrahlen jeweils im wesentlichen in sich zur
Prüffläche (14) zurückschickt.
9. Gerät nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die
Reflektoreinrichtung durch eine sich an den mittleren
Bereich des großen Durchmesser aufweisenden Objektives
(68) anschließenden Objektivrandbereich sowie einen hinter
diesem angeordneten, im wesentlichen ebenen und senkrecht
auf der Geräteachse stehenden Spiegel (76) gebildet ist.
10. Gerät nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß der
Spiegel (76) einen transparenten Grundkörper (78) und
eine vom Objektiv (68) abliegende Spiegelschicht (80)
aufweist, welche in der Mitte eine den direkt aktiven mitt
leren Bereich des Objektives (68) vorgebende Öffnung (82)
hat.
11. Gerät nach Anspruch 9 oder 10, dadurch gekennzeichnet,
daß die verspiegelte Oberfläche des Spiegelgrundkör
pers (78) zur Kompensation der Randverzeichnung des Ob
jektives (68) gewölbt ist.
12. Gerät nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die
Reflektoreinrichtung einen Hohlspiegel (76′) aufweist,
der auf seiner Achse eine Öffnung (82′) hat, deren
Durchmesser demjenigen des kleinen Durchmesser aufweisenden
Objektives (68′) entspricht, und daß der Krümmungsmittel
punkt (M) des Hohlspiegels (76′) mit dem prüfflächenseiti
gen Brennpunkt (F) des Objektives (68′) zusammenfällt.
13. Gerät nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die
Reflektoreinrichtung ein Reflexionshologramm (186), wel
ches Randverzeichnungen des Objektives (68) kompensiert,
sowie einen dahinter liegenden Spiegel (188) mit einer den
direkt aktiven mittleren Bereich des Objektives (68) vorge
benden Öffnung (82) aufweist.
14. Gerät nach einem der Ansprüche 1 bis 13, dadurch gekenn
zeichnet, daß das Objektiv durch ein Tranmissionsholo
gramm (190) gebildet ist.
15. Gerät nach einem der Ansprüche 1 bis 14, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Wandler (116, 118) jeweils durch eine
gestreckte, balkenförmige p-n-Struktur (170 bis 174) ge
bildet sind, wobei die Ebene des p-n-Überganges (174) im we
sentlichen senkrecht auf der Einfallsrichtung des Lichtes
steht und die Wandlerachse parallel zu derjenigen Richtung
verläuft, in welcher das auffallende Licht (110) bei Defo
kussierung des Objektives (68) wandert.
16. Gerät nach einem der Ansprüche 1 bis 15, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Speiseschaltung einen Auf/Ab-Zähler
(134) aufweist, dessen Zählklemmen über eine in Abhän
gigkeit vom Ausgangssignal des Differenzverstärkers (120)
geschaltete Weiche (126, 128) mit dem Ausgang eines frei
laufenden Taktgebers (132) verbindbar sind.
17. Gerät nach einem der Ansprüche 1 bis 16, gekennzeichnet
durch eine zweite, ringförmige Lichtquelle (64), welche
ein Lichtbündel (66) mit vom Licht der ersten Lichtquel
le (60) unterschiedlichem Spektrum bereitstellt und im we
sentlichen in der selben Ebene wie die erste Lichtquelle
angeordnet ist, so daß das Objektiv (68) auf der Prüffläche
(14) neben dem sehr kleinen Durchmesser aufweisenden Licht
fleck ersten Spektrums einen Lichtring unterschiedlichen,
zweiten Spektrums mit verglichen mit dem Lichtfleck großem
Durchmesser erzeugt; daß zwischen der Lichtquellenanordnung
(60, 64) und dem Objektiv (68) eine zweite Umlenkeinrich
tung (92 )vorgesehen ist, welche eine zweite Teilmenge des
zurückgeworfenen Lichtes über einen weiteren Strahlteiler
(96, 98) auf eine zweite Wandleranordnung (158, 160) wirft,
die von der ersten Wandleranordnung (116, 118) räumlich
getrennt ist, dieser vorzugsweise bezüglich der Geräteachse
gegenüberliegt; daß vor der ersten Wandleranordnung (116,
118) ein Durchlaßfilter (114) für die erste Lichtsorte und
vor der zweiten Wandleranordnung (158, 160) ein Durchlaßfil
ter (162) für die zweite Lichtsorte steht; daß die von der
zweiten Umlenkeinrichtung (92) umgelenkte Teilmenge des zu
rückgeworfenen Lichtes durch den zweiten Strahlteiler (96,
98) in zwei räumlich getrennte Teilbündel (154, 156) zer
legt wird, mit welchen zwei räumlich getrennte Wandler (158,
160) der zweiten Wandleranordnung beaufschlagt sind; und
daß diese beiden Wandler (158, 160) mit Eingängen eines
zweiten Differenzverstärker (164) verbunden sind.
18. Gerät nach Anspruch 17 in Verbindung mit Anspruch 14,
dadurch gekennzeichnet, daß die erste Lichtquelle (60)
und die zweite Lichtquelle (64) Licht mit zwei unter
schiedlichen Wellenlängen oder zwei unterschiedlichen Pola
risationen bereitstellen, und das Transmissionshologramm
(190) eine Überlagerung von zwei Teilhologrammen ist, wel
che jeweils für das Licht einer Lichtquelle aktiv und für
das Licht der anderen Lichtquelle inaktiv sind und jeweils
mit dem betrachteten Licht unter idealen Fokussierungsbe
dingungen unter Verwendung derselben Master-Optik herge
stellt sind.
19. Gerät nach Anspruch 17 oder 18, gekennzeichnet durch
eine Zwischenwand (102) des Gehäuses (56), welche die
Sichtverbindung zwischen den beiden Wandleranordnungen
unterbricht.
20. Gerät nach einem der Ansprüche 17 bis 19, gekennzeich
net durch einen Umschalter (122), über welchen wahlwei
se der Ausgang des ersten Differenzverstärkers (120)
bzw. der Ausgang des zweiten Differenzverstärkers (164) mit
der Steuerklemme der Speiseschaltung (130 bis 138) verbind
bar ist.
21. Gerät nach einem der Ansprüche 1 bis 20, gekennzeichnet
durch einen vom Gerätegehäuse (56) getragenen, in Rich
tung der Geräteachse wirksamen Beschleunigungsfühler
(64, 68, 158, 160, 164, 166 bzw. 198) und durch einen der
Steuerklemme der Speiseschaltung zugeordneten Sperrkreis
(130), welcher durch ein Beschleunigungen des Gerätes an
zeigendes Ausgangssignal des Beschleunigungsfühlers in den
Sperrzustand gestellt wird.
22. Gerät nach Anspruch 21, dadurch gekennzeichnet, daß der
Beschleunigungsfühler einen ein Frequenzfilter enthal
tenden Sperrsteuerkreis (166) aufweist, dessen Eingang
mit dem Ausgang des ersten Differenzverstärkers (120) oder
vorzugsweise mit dem Ausgang des zweiten Differenzverstär
kers (164) verbunden ist und dessen Ausgang mit der Steuer
klemme des Sperrkreises (130) verbunden ist.
23. Gerät nach Anspruch 21, dadurch gekennzeichnet, daß der
Beschleunigungsfühler einen mit den Ausgangssignalen
der beiden Differenzverstärker (120, 164) beaufschlagten
Summierverstärker (198) aufweist.
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DE3536700A1 true DE3536700A1 (de) | 1987-04-16 |
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DE3536700C3 DE3536700C3 (de) | 1994-07-07 |
Family
ID=6283598
Family Applications (1)
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DE3536700A Expired - Fee Related DE3536700C3 (de) | 1985-10-15 | 1985-10-15 | Gerät zum Ermitteln des lokalen Abstandes einer Prüffläche von einer Referenzfläche, deren geometrische Lage in bezug auf das Gerät bekannt ist |
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