DE3517114C2 - - Google Patents

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DE3517114C2
DE3517114C2 DE19853517114 DE3517114A DE3517114C2 DE 3517114 C2 DE3517114 C2 DE 3517114C2 DE 19853517114 DE19853517114 DE 19853517114 DE 3517114 A DE3517114 A DE 3517114A DE 3517114 C2 DE3517114 C2 DE 3517114C2
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Rainer Dipl.-Phys. Dr. 6676 Mandelbachtal De Becker
Norbert 6695 Theley De Both
Kurt Dipl.-Phys. 6630 Saarlouis De Betzold
Christoph Dipl.-Ing. 6603 Neuweiler De Rodner
Rolf 6625 Puettlingen De Ruediger
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    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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    • G01N27/72Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
    • G01N27/82Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
    • G01N27/90Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
    • G01N27/9046Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals
    • G01N27/9053Compensating for probe to workpiece spacing

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