DE3443816A1 - Anordnung zur ueberpruefung der durch eine glasscheibe hervorgerufenen verzerrung - Google Patents

Anordnung zur ueberpruefung der durch eine glasscheibe hervorgerufenen verzerrung

Info

Publication number
DE3443816A1
DE3443816A1 DE19843443816 DE3443816A DE3443816A1 DE 3443816 A1 DE3443816 A1 DE 3443816A1 DE 19843443816 DE19843443816 DE 19843443816 DE 3443816 A DE3443816 A DE 3443816A DE 3443816 A1 DE3443816 A1 DE 3443816A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
glass
arrangement according
image data
bits
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
DE19843443816
Other languages
English (en)
Inventor
Nagayoshi Fukui Ichise
Katsuhiko Tokio/Tokyo Kitaya
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Sheet Glass Co Ltd
Original Assignee
Nippon Sheet Glass Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Sheet Glass Co Ltd filed Critical Nippon Sheet Glass Co Ltd
Publication of DE3443816A1 publication Critical patent/DE3443816A1/de
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/958—Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • G01B11/303—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces using photoelectric detection means
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • G01N2021/8829—Shadow projection or structured background, e.g. for deflectometry
    • G01N2021/8832—Structured background, e.g. for transparent objects
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/958—Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
    • G01N2021/9586—Windscreens

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

- 6 Beschreibung
Anordnung zur Überprüfung der durch eine Glasscheibe hervorgerufenen Verzerrung
Die Erfindung bezieht sich auf eine Anordnung zur Überprüfung der Verzerrung bzw. Verzeichnung einer Glasplatte bzw. Glasscheibe und insbesondere auf eine Anordnung zur optischen Verzerrungs- bzw. Verzeichnungsüberprüfung von verstärktem gekrümmten Glas oder laminiertem gekrümmten Glas, wie einer Glas-Windschutzscheibe eines Fahrzeugs.
Ein sogenanntes verstärktes gekrümmtes Glas oder ein laminiertes gekrümmtes Glas, in welchem eine Vielzahl von Glasschichten mittels Harzschichten, wie Polyvinylbutyral, aneinander haften, wird als. Glas-Windschutzscheibe eines Autos verwendet. Bei derartigen Glas-Windschutzscheiben können optische Verzeichnungen oder unebene Oberflächen auftreten. Wenn die Verzeichnung oder die Abnutzung der Oberfläche beträchtlich ist, kann das Betrachtungsfeld in Übereinstimmung mit dem jeweiligen Sichtwinkel in unerwünschter Weise verzerrt sein.
In herkömmlicher Weise überprüft ein Prüfer unter Verwendung eines helle und dunkle Streifen umfassenden Streifenmusters (z. B. ein zebraartiges Muster) aus einer Entfernung visuell eine komplette laminierte Glas-Windschutzscheibe und führt somit eine organoleptische Überprüfung der Streifenmusterverzeichnung durch, während der Betrachtungswinkel (Azimut) der Windschutzscheibe geändert wird. Dadurch wird die Qualität des laminierten Glases überprüft, oder es wird eine Unterscheidung getroffen.
Bei einer derartigen visuellen Überprüfung kann jedoch eine quantitative Standardisierung nicht erzielt werden, und Unterschiede zwischen den Prüfern verhindern eine gleichmäßige Überprüfungsqualität. 5
Mit Rücksicht auf den vorstehend aufgezeigten Sachverhalt liegt der Erfindung demgemäß die Aufgabe zugrunde, eine Prüfanordnung zu schaffen, in der eine quantitative Standardisierung und eine automatische Bestimmung vorgenommen werden können und durch die die Qualität einer Glasscheibe verbessert werden kann, indem eine Verzerrungs- bzw. Verzeichnungsprüfung mit hoher Präzision durchgeführt wird.
.15 Gelöst wird die vorstehend aufgezeigte Aufgabe durch die in den Patentansprüchen erfaßte Erfindung.
Bei einer Anordnung gemäß der Erfindung zur Überprüfung der Verzeichnung einer Glasplatte bzw. Glasscheibe wird ein Hell-Dunkel-Kontrastmuster mittels eines Bildsensors durch die Glasscheibe bzw. Glasplatte hindurch ermittelt. Die Anzahl von Bits entsprechend einem hellen oder dunklen Bereich wird aus den Bilddaten ermittelt, die in eine Vielzahl von Bits längs paralleler Abtastzeilen unterteilt sind, welche auf einer Oberfläche der betreffenden Glasscheibe angenommen sind. Sodann wird ein Verzerrungsbzw. Verzeichnungszustand der Oberfläche der betreffenden Glasscheibe in Übereinstimmung mit den Differenzen unter der so ermittelten Anzahl von Bits und einem Bezugswert dieser Bits diskriminiert. Mit Hilfe einer solchen Anordnung kann eine quantitative Verzerrungs- bzw. Verzeichnungs-Diskriminierung vorgenommen werden.
Anhand von Zeichnungen wird die Erfindung nachstehend beispielsweise näher erläutert.
Fig. 1 zeigt in einer schematischen Darstellung eine Anordnung gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zur Überprüfung der Verzeichnung einer Glasscheibe.
5
Fig. 2 zeigt in einem Blockdiagramm eine Systemsteuereinrichtung sowie einen Datenprozessor der in Fig. 1 dargestellten Anordnung.
Fig. 3A und 4A zeigen schematisch Ansichten von Glas-Windschutzscheiben bzw. der durch diese übertragenen Bilder aus Hell-Dunkel-Mustern.
Fig. 3B und 4B zeigen Signalverläufe entsprechend den in Fig. 3A bzw. 4A dargestellten übertragenen Bildern.
Fig. 5A und 5B zeigen Flußdiagramme zur Erläuterung der Prozeduren der Datenverarbeitung bzw. der Verzeichnungs-Diskriminierung.
. ·
Fig. 6 zeigt schematisch einen Datenspeicherbereich.
Nunmehr wird die bevorzugte Ausführungsform der Erfindung im einzelnen erläutert.
Fig. 1 zeigt in einer schematischen Darstellung eine Anordnung gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zur Überprüfung der durch eine Glas-Windschutzscheibe eines Fahrzeugs hervorgerufenen Verzeichnung. In Fig. 1 ist eine Glas-Windschutzscheibe 1 am vorderen Ende einer rotierenden Welle 3 eines Tisches 2 derart angebracht, daß sie weitgehend die gleiche Neigung hat wie in dem Fall, daß sie in einem Fahrzeug untergebracht ist. Die betreffende Windschutzscheibe ist dabei gegenüber einer Zebramuster-Platte 4 angeordnet, die ein aus schwarzen und weißen Streifen bestehendes Streifenmuster
enthalt, und zwar entsprechend einem äußeren Betrachtungsfeld. Die schraffierten Bereiche des Zebramusters 4 gemäß Fig. 1 entsprechen den schwarzen Bereichen, und die anderen Bereiche entsprechen den weißen Bereichen. Die rotierende Welle 3 wird von einem Motor 5 her angetrieben.. Eine horizontale Dreheinstellung der rotierenden Welle 3 wird so gesteuert, daß eine Oberfläche der Glas-Windschutzscheibe 1 einen bestimmten Winkel in Bezug auf einen.optischen Prüfweg 6 bildet. Lichtquellen 7 und 8 sind an der Vorderseite der Zebramuster-Platte 4 angeordnet. Der optische Weg 6 ist so gebildet, daß von der Muster-Platte 4 reflektiertes Licht durch die Glas-Windschutzscheibe 1 hindurch in eine CCD-Kamera 9 (das ist eine eine ladungsgekoppelte Einrichtung verwendende Kamera) geworfen wird.
Der Tisch 2 wird von zwei parallelen Führungsstangen 10 und 11 getragen, die längs einer rechtwinklig zu der optischen Bahn bzw. dem optischem Weg 6 verlaufenden Richtung verschiebbar sind, wodurch die Glas-Windschutzscheibe 1 parallel zu der Muster-Platte 4 bewegt wird. Auf einer der Führungsstangen 10 und 11 ist ein Förderer-Gewindeteil 12 gebildet. Wenn die Führungsstange 11 mit dem Gewindeteil 12 mittels eines Motors 13 gedreht wird, wird die Glas-Windschutzscheibe 1 zusammen mit dem Tisch 2 in einer horizontalen Richtung bewegt. Die horizontale Bewegungsstrecke wird in Übereinstimmung mit einem Ausgangsimpuls bzw. Ausgangsimpulsen von einem Impulsgenerator 14 her gemessen, der koaxial auf einer Welle des Motors 13 angebracht ist. Um die Start- und Endpunkte der horizontalen Bewegung des Tisches 2 zu ermitteln, sind Positionssensoren 15 und 16 längs einer Bewegungsbahn des Tisches 2 vorgesehen.
Die Sensor-Ausgangssignale der Positionssensoren 15 und 16 und die Ausgangsimpulse des Impulsgenerators 14 werden
einer Systemsteuereinrichtung 17 zugeführt. Die Steuerung der horizontalen Bewegung und des Rotationswinkels der Glas-Windschutzscheibe 1 sowie der Antrieb bzw. die Steuerung der CCD-Kamera 9 erfolgen in Übereinstimmung mit diesen Sensor-Ausgangssignalen und einem Programm der Systemsteuereinrichtung 17. Ein Ausgangssignal der CCD-Kamera 9 wird einem Datenprozessor 18 zugeführt. Die Diskriminierung eines optischen Verzeichnungszustandes der Glas-Windschutzscheibe 1 wird in Übereinstimmung mit einer Datenverarbeitungsprozedur vorgenommen, auf die ■ weiter unten noch näher eingegangen werden wird. Das Diskriminierungsergebnis wird mittels eines Druckers 19 in einem Datenformat ausgedruckt, welches die Verzerrungsverteilung der Glasoberfläche zeigt. Wenn eine defekte Glas-Windschutzscheibe 1 ermittelt ist, wird ein Alarm (20) gegeben. Bezugs-Diskriminierungsdaten sind in einer Magnetplatteneinheit 21 für jeden Typ von Glas-Windschutzscheiben 1 gespeichert; diese Daten werden ausgelesen, wenn die Verzeichnungs-Diskriminierung durchgeführt wird. Das Betriebs- bzw. Arbeitsprogramm der in Fig. 1 dargestellten Anlage sowie die Daten für die Überwachung der Arbeitsweise werden auf einer mit einer Kathodenstrahlröhre arbeitenden Anzeigeeinrichtung 22 angezeigt.
25
Fig. 2 veranschaulicht in einem Blockdiagramm die Systemsteuereinrichtung 17 sowie den Datenprozessor 18 (Fig. 1) in weiteren Einzelheiten. Die Verarbeitung und die Diskriminierung der Überprüfungs- bzw. Inspektionsdaten werden hauptsächlich mittels eines Mikrocomputers ausgeführt, der eine Zentraleinheit CPUf24, einen ROM-Festwertspeicher 25 und einen RAM-Schreib/Lesespeicher 26 sowie einen Datenbus 27 umfaßt. Die Steuerung der Komponenten dieses Systems (z. B. einer Glas-Bewegungsmotor-Steuereinrichtung 35, einer Glas-Winkeleinstellmotor-Steuereinrichtung 36, des Druckers 19, der Magnetplatten-Einheit 21, der
Kathodenstrahlrohren-Anzeigeeinrichtung 22 und dergl.) wird mittels eines zweiten Mikrocomputers ausgeführt, der eine Zentraleinheit CPUJ28, einen RAM-Schreib/Lesespeicher 29 und einen Datenbus 30 umfaßt. Die Mikro-
"5 computer sind über einen Ausgangsanschluß 31, einen Eingangsanschluß 32, einen Ausgangsanschluß 33 und einen Eingangsanschluß 34 miteinander gekoppelt,· die Datenübertragung zwischen den beiden Computern erfolgt über diese Anschlüsse.
·
In Fig. 3A und 4A ist ein Verzeichnungszustand, eines■Bildes für den Fall gezeigt, daß die Zebramusterplatte 4 durch die Glas-Windschutzscheibe 1 hindurch betrachtet wird. Die aus schwarzen und weißen Streifen bestehenden Streifenmuster der Zebramusterplatte 4 weisen eine Breite von beispielsweise 25 mm, eine Teilung von 50 mm und einen Neigungswinkel von 45° auf. Wenn dieses Muster von der Vorderseite der Glas-Windschutzscheibe 1 hindurch betrachtet wird, kann ein normal übertragenes Bild, wie es in Fig. 3A gezeigt ist, erhalten werden. Wenn jedoch die Glas-Windschutzscheibe 1 um einen bestimmten Winkel gedreht wird (z. B. um einen Standard-Inspektionswinkel von 45°), und zwar mittels des Motors 5 gemäß Fig. 1, dann werden Charakteristiken aufgrund jeglicher Verzeichnung der Glasoberfläche offensichtlich, und es wird ein übertragenes Bild mit einem gestörten Verlauf erhalten, wie dies in Fig. 4A gezeigt ist. Es sei darauf hingewiesen, daß eine Drehung der Glas-Windschutzscheibe 1 in der horizontalen Ebene einer Sicht für einen Fahrer eines Fahrzeugs entspricht, wenn dieser zu seiner rechten oder linken Vorderseite hinschaut (d. h. zur Bürgersteigseite hin).
Die CCD-Kamera 9 dient als Zeilensensor; sie wandelt die längs einer Vielzahl von Abtastzeilen S - welche für die vertikale Richtung angenommen sind, wie dies in Fig. 3A
und 4A gezeigt ist - abgetasteten hellen und dunklen Bilddaten in ein elektrisches Signal um. Die Auflösungsleistung, der CCD-Kamera 9 liegt bei 2048 Bits pro Abtastzeile. Der Abstand zwischen zwei benachbarten Abtastzeilen beträgt 10 mm auf der Oberfläche der Glas-Windschutzscheibe 1. Diese Strecke wird durch die horizontale Bewegung der Glas-Windschutzscheibe 1 mittels des Motors erreicht. Der Impulsgenerator 14, der mit dem Motor 13 gekoppelt ist, erzeugt einen Impuls bei einer Abgaberate von 1 mm. Dieses Impuls-Ausgangssignal wird einem PG-Zähler -38 (Fig. 2) zugeführt, und eine horizontale Bewegungsposition der Glas-Windschutzscheibe 1 wird gemessen. Die Ausgangsdaten des Zählers 38 werden der Zentraleinheit 28 über eine Schnittstellenschaltung 37 zugeführt. Die Bild-Ausgangssignale der entsprechenden Abtastzeilen für jede 10-mm-Horizontalbewegung werden von dem Mikrocomputer abgerufen.
Das Bild-Ausgangssignal der CCD-Kamera 9 ist ein Signal, dessen Pegel (bei hellem Bereich tritt ein hoher Pegel auf) einem übertragenen Muster entspricht, wie dies in Fig. 3B oder 4B veranschaulicht ist. Ein Auslesetakt von 2048 Bits wird von dem Ausgangsanschluß 39 an die CCD-Kamera 9 für jede 10 mm der horizontalen Bewegung abgegeben. Wenn die CCD-Kamera 9 das in Fig. 3A dargestellte normale übertragene Bild ermittelt, wird ein Signal, in welchem hohe und niedrige Pegel abwechselnd miteinander alle 56 Bits auftreten, entsprechend den hellen und dunklen Bereichen des Musters erhalten, wie dies in Fig. 3B gezeigt ist. Dieses Signal koinzidiert mit einem theoretischen Wert: 25 mm (Musterbreite) i sin 45° (Musterwinkel) χ 2048 Bits ■; 1300 mm (Länge der Musterplatte in Längsrichtung) = 56 Bits.
Wenn jedoch das übertragene Bild -mit einer ziemlichen Verzeichnung, wie sie in Fig. 4A veranschaulicht ist, mit-
tels der CCD-Kamera 9 aufgenommen wird, dann werden die entsprechenden Musterbreiten längs der Abtastzeilen vergrößert oder vermindert sein, und zwar in Übereinstimmung mit der Verzeichnung. Die Grenze zwischen benachbarten hellen und dunklen Bereichen wird undeutlich, womit ein Signal erhalten wird, wie es in Fig. 3B veranschaulicht ist.
Das Ausgangssignal der CCD-Kamera 9 wird einer Begrenzer- bzw. Doppelbegrenzerschaltung 40 zugeführt. Wenn das Ausgangssignal der CCD-Kamera 9 höher ist als ein konstanter Schwellwertpegel TL, wie er in Fig. 3B und 4B angedeutet ist, dann erfolgt eine Diskriminierung des Signals durch die Schaltung 40 als Verknüpfungswert "1".
Wenn das Ausgangssignal indessen niedriger ist als der Schwellwertpegel TL, erfolgt eine Diskriminierung entsprechend dem Verknüpfungswert "0". Diese Daten werden in dem RAM-Speicher 26 kurzzeitig zwischengespeichert und dann von der Zentraleinheit 24 in Übereinstimmung mit den weiter unten noch zu beschreibenden Datenverarbeitungsprozeduren verarbeitet. Auf diese Art und Weise wird eine optische Verzeichnung oder Verzerrung oder eine ungleichmäßige Oberfläche der Glasfläche diskriminiert. Die Zentraleinheit 24 bestimmt, ob die Anzahl der Bits mit dem "1"- oder "O"-Wert innerhalb des Bereiches des Bezugswertes von 56 Bits -<\( (X = eine Spezifikationstoleranz) für jeden schwarzen oder weißen Streifen fällt, womit die Diskriminierungsoperation ausgeführt wird. .
In Fig. 5A und 5B sind Flußdiagramme dargestellt, welche die Datenverarbeitungsprozeduren veranschaulichen. Ein zu einer Linksbewegung des Tisches 2 durch den Motor 13 führender Befehl wird für die Motor-Steuereinrichtung 35 solange erzeugt, bis der Positionssensor 15 eingeschaltet ist. Sodann werden die Toleranz * und ein spezifizierter Glaswinkel 0 (z. B. 45") eingestellt bzw. festgelegt. Die
Toleranz ist in der Magnetplatteneinheit 21 für jede Art von Windschutzscheibe 1 gespeichert. Ein Drehkommando für die Ausführung einer Drehung der Glas-Windschutzscheibe durch den Motor 5 wird der Motor-Steuereinrichtung 36 zugeführt, und ein zu einer Rechtsbewegung führendes Kommando wird der Motor-Steuereinrichtung 35 zugeführt. Damit beginnt die horizontale Bewegung der Glas-Windschutzscheibe nach rechts. Gleichzeitig wird in dem RAM-Speicher .26 ein Speicherbereich D mit 2048 Bits χ 52 Zeilen initialisiert.
Die Position der Glas-Windschutzscheibe 1 im Zuge der Bewegung nach rechts wird durch eine Zählung mittels des PG-Zählers 38 gemessen. Jedesmal dann, wenn die Zählung PG des Zählers 38 einen Wert von 10 erreicht (Bewegungslänge 10 mm), wird ein Befehl bzw. ein Kommando zum Abrufen der Bilddaten von der CCD-Kamera 9 erzeugt. Die Bilddaten, die 2048 Bits umfassen, werden zu einer I-ten Zeile des Speicherbereiches D hin übertragen, die einer Abtastzeile S1 entspricht, wie dies in Fig. 3A oder 4A veranschaulicht ist. Dieselbe Datenabrufoperation, wie sie oben beschrieben ist, wird für die nächste Abtast- . zeile S1-J ausgeführt. Wenn der Positionssensor 16 am rechten Ende eingeschaltet wird, steht somit der Speicherbereich D mit 2048 Bits χ der Gesamtanzahl der Abtastzeilen zur Verfügung. Dabei wird ein Maximalwert "I" von 52 Zeilen erhalten.
Wenn die Bilddaten-Abrufoperation bezüglich der gesamten Glasoberfläche abgeschlossen ist, wird die Diskriminierungsoperation bezüglich des Verzerrungs- bzw. Verzeichnungszustands ausgeführt. Um zu den in dem Speicherbereich D gemäß Fig. 6 gespeicherten Daten zuzugreifen, werden Adressen i (Bitadressen längs der Abtastzeile) und j (Zeilenadressen, welche die Abtastzeilennummer angeben) auf einen Ausgangswert "1" zurückgesetzt. Es sei darauf
hingewiesen, daß die CCD-Kamera 9 stets eine bestimmte Stelle der Musterplatte 4 abtastet und daß eine erste Vorderflanke des Bild-Signals der jeweiligen Abtastzeile mit dem Ausgangsweft "1" der Bitadresse koinzidiert. Ein weiterer Speicherbereich R (b Block χ I Zeilen) zur Speicherung des Diskriminierungsergebnisses wird dann vorbereitet. Wie in Fig. 3B und 4B veranschaulicht, besteht ein Datenblock aus 56 Bits. Die Bilddaten, die keine Verzerrung bzw. Verzeichnung aufweisen, umfassen Daten entsprechend.dem hohen Pegel "1" bzw. entsprechend dem niedrigen Pegel "0" für 56 Bits in jedem Block.
Während die Adresse bis zu i+56 geändert wird, werden 56 Bilddaten aus dem Speicherbereich D gemäß Fig. 6 abgerufen, und es wird eine Überprüfung dahingehend vorgenommen, ob die Gesamtanzahl der Daten "1" oder "0" in den Bereich von 56 (Standardwert) i«(Toleranz) fällt. Wenn die betreffende Zahl außerhalb dieses Bereiches fällt, wird ein NG-Vorzeichen "1", welches für ein defektes Produkt kennzeichnend ist, unter einer entsprechenden Adresse des Speicherbereiches R zur Speicherung des Diskriminierungsergebnisses gespeichert. Die Diskriminierungsdatenverarbeitung wird für jeden Block durchgeführt, bis· die Bitadresse i durch eine Zeilenadresse j den Wert 2049 erreicht. Während die Zeilenadresse j um 1 aktualisiert wird, wird überdies die Diskriminierungsoperation sequentiell für sämtliche Blöcke in dem Speicherbereich D ausgeführt.
Wenn die Zeilenadresse j die Gesamtzahl I der Abtastzeilen erreicht, hört die Diskriminierungsoperation auf, und das Diskriminierungsergebnis wird erzeugt. Um die 'Überprüfungsdaten festzuhalten, werden sämtliche in dem Speicherbereich D gespeicherten Daten der Magnetplatteneinheit 21 zugeführt. Zu dem Speicherbereich R (b Block χ I Zeilen) wird zugegriffen. Wenn die Daten "1" (defekter
Bereich) ermittelt werden, wird ein Ausgangssignal für das den defekten Bereich anzeigende Muster für den Drucker 19 und die Kathodenstrahlröhren-Anzeigeeinrichtung 22 erzeugt. Ferner wird die Alarmeinrichtung 20 in Betrieb gesetzt.
Die vorliegende Erfindung ist vorstehend unter Bezugnahme auf eine Ausführungsform beschrieben worden. Es dürfte jedoch einzusehen sein, daß verschiedene Abänderungen und Modifikationen im Rahmen der vorliegenden Erfindung vorgenommen werden können. So werden beispielsweise die Bilddaten eines übertragenen Bildes der Glas-Windschutzscheibe, die gewünschten Spezifikationen genügen,, als Bezugsdaten gespeichert, und diese Daten werden mit den Bilddaten eines zu überprüfenden Gegenstands verglichen. Demgemäß wird die Anzahl der Koinzidenzen oder. Abweichungen zwischen den Überprüfungsdaten und den Bezugsdaten an jeder entsprechenden Bitstelle ermittelt, und das Ausmaß der Verzerrung bzw. Verzeichnung kann in Übereinstimmung mit dieser Zahl diskriminiert werden. Die betreffende Diskriminierungsoperation kann für jeden Block oder jede Abtastzeile durchgeführt werden. Im übrigen kann bei der Anordnung gemäß Fig. 1 die Glas-Windschutzscheibe 1 festliegen, und die CCD-Kamera 9 kann horizontal bewegt werden. Bei der CCD-Kamera 9 kann ein Zeilensensor vom MOSFET-Typ. oder eine sogenannte Fotodioden-Array verwendet werden. Wird ein Oberflächensensor vom Matrixtyp stattdessen verwendet, so kann auf die Relativbewegung zwischen der Glas-Windschutzscheibe 1 und der CCD-Kamera 9 verzichtet werden.
Wie oben beschrieben, wird- die Anzahl der einem hellen oder dunklen Bereich entsprechenden Bits für jeden der in einer Vielzahl vorhandenen Bereiche ermittelt, die durch Unterteilung eines Hell-Dunkel-Musters längs vertikaler Abtastzeilen festgelegt sind, welche auf einer Glas-
scheibe in Übereinstimmung mit den Bilddaten eines HeIl-Dunkel-Musters angenommen sind, das durch die betreffende Glasscheibe hindurch ermittelt wird. Dabei wird ein Verzerrungs-bzw. Verzeichnungszustand der Glasscheibe in Übereinstimmung mit einer Differenz zwischen der so erhaltenen Anzahl von Bits und einem Bezugswert diskriminiert. Aus diesem Grunde kann eine quantitative Diskriminierung des Verzeichnungszustands oder der Oberflächen-Unebenheit vorgenommen werden, und die Qualität der Glasscheibe kann durch eine stabile, hochgenaue Überprüfung verbessert werden.
-Ag-
- Leerseite -

Claims (15)

PATENTANWÄLTE 3443816 Telefon (089) 29 66 84-86 DipL-lng. H. MITSCHERLICH . * SSS^pSSÜ-p Dipl.- Ing. K. GUNSCHMANN Telecopier (089) 29 39 63 DipL-lng.Dr.rer.nat W. KÖRBER Dipl.-Ing. J. SCHMIDT-EVERS Dipl.-Ing. W. MELZER _ . · ■ . _ Steinsdorfstraße 10 EUROPEAN PATENT ATTORNEYS D-8000 München 22 i; ; 30. November 1984 NIPPON SHEET GLASS CO., LTD. 8, 4-chome, Doshomachi Higashi-ku Osaka / JAPAN Patentansprüche
1. Anordnung zur Prüfung der Verzerrung einer Glasscheibe unter Verwendung eines aus hellen und dunklen Streifen bestehenden Streifenmusters, bei dem die hellen und dunklen Bereiche abwechselnd miteinander angeordnet sind, dadurch gekennzeichnet, daß eine Bildfeststelleinrichtung (9, 2, 10, 11, 12, 13, 40) vorgesehen ist, welche Bilder des durch die Glasscheibe hindurch betrachteten Musters derart feststellt, daß dem aus hellen und dunklen Streifen bestehenden Streifenmuster entsprechende Bilddaten für jede der in einer Vielzahl auftretenden parallelen Abtastlinien (S1) erhalten werden, die auf einer Oberfläche der Glasscheibe
(1) angenommen werden,
daß eine Detektoreinrichtung (24, 25, 26, 40) vorgesehen ist, welche die Anzahl der Bits entsprechend den hellen
und dunklen Bereichen in Übereinstimmung mit den Bilddaten ermittelt, die in eine Vielzahl von Bits längs der jeweiligen Abtastzeile unterteilt werden, und daß eine Diskriminatoreinrichtung (24, 26) vorgesehen ist, welche einen Verzerrungszustand der Glasplatte in Bezug auf eine Differenz zwischen der Anzahl der Bits und einem Bezugswert diskriminiert.
2. Anordnung nach Anspruch 1,dadurch g e -
kennzeichnet, daS die Bildfeststelleinrichtung einen Zeilensensor (9), mit dessen Hilfe die einer Abtastzeile der Abtastzeilen (S,) entsprechenden Bilddaten erhalten werden, und eine Bewegungseinrichtung (2, 12, 13) umfaßt, mit deren Hilfe die Glasscheibe (1) oder der Zeilensensor (9) längs einer rechtwinklig zu den Abtastzeilen verlaufenden Richtung bewegt wird.
3. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch g e -
.kennzeichnet , daß die Bilddaten bipolare Daten sind, in denen einer der hellen und dunklen Bereiche dem Verknüpfungspegel "1" entspricht und in denen der andere der hellen und dunklen Bereiche dem Verknüpfungspegel "0" entspricht.
4. Anordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet , daß die Bildfeststelleinrichtung eine Begrenzerschaltung (40) aufweist, welche eine Amplitude eines Ausgangssignals von dem Zeilensensor (9) bei einem bestimmten Schwellwertpegel (TL) derart diskriminiert, daß bipolare Bilddaten mit den Verknüpfungspegeln "1" und "0" erhalten werden.
5. Anordnung nach Anspruch 2 oder 4, dadurch gekennzeichnet , daß der Zeilensensor (9) eine ladungsgekoppelte Einrichtung ist und daß die Bilddaten für jedes Bit einer bestimmten Anzahl von Bits er-
halten werden, die einer Übertragungs-Taktimpulsfolge der betreffenden ladungsgekoppelten Einrichtung entsprechen.
6. Anordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß die Bildfeststelleinrichtung eine Rotationseinrichtung (3, 5) umfaßt, welche einen Winkel (0) einer Oberfläche der Glasscheibe in Bezug auf einen optischen Überprüfungsweg (6) ändert, der die hellen und dunklen Streifenmuster (4) mit einem BiIdsensor (9) koppelt.
7. Anordnung nach Anspruch 2, d a d u r c h gekennzeichnet, daß die Bewegungseinrichtung einen Schlitten (2) enthält, der so angeordnet ist, daß .er die Glasscheibe längs einer horizontalen Richtung bewegt,
daß ein Vorschub-Gewindeteil (12) vorgesehen ist, der mit dem Schlitten und einem Vorschubmotor (13) gekoppelt ist, und daß die Abtastzeilen (S,.) weitgehend längs einer vertikalen Richtung angenommen sind.
8. Anordnung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet , daß der Schlitten (2) eine rotierende Welle (3) umfaßt, welche die Glasscheibe (1) trägt und welche längs der vertikalen Richtung und der Rotations-Antriebseinrichtung (5) der betreffenden rotierenden Welle angeordnet ist, derart, daß der Winkel (0) der Oberfläche der Glasscheibe in Bezug auf den optischen Prüfweg (6) geändert wird, der die hellen und dunklen Streifenmuster (4) und den Zeilensensor (9) koppelt.
9. Anordnung nach Anspruch 2, d a d u r c h gekennzeichnet , daß die Bewegungseinrichtung eine Impulserzeugungseinrichtung (14, 38) enthält, die einen Zeitimpuls erzeugt, der eine Position der jeweiligen Abtastzeile (S,) auf der Oberfläche der Glasscheibe
(1) im Zuge der Ausführung des Vorschubbetriebs der betreffenden Glasplatte festlegt, derart, daß parallele Abtastzeilen in bestimmten Intervallen auf der Oberfläche der Glasscheibe (1) gebildet sind.
. . ■
10. Anordnung nach Anspruch 1, 2 oder 3, d a d u r c h gekennzeichnet , daß die Detektoreinrichtung eine Speichereinrichtung (26, D) umfaßt, welche die Bilddaten je Abtastzeile (Sj) durch eine bestimmte Anzahl von Bits speichert.
11. Anordnung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet , daß die Detektoreinrichtung ferner eine Adressierungseinrichtung (24) umfaßt, mit dereh Hilfe die Bilddaten aus der Speichereinrichtung (26) je Einheitsblock ausgelesen werden, der eine Bezugsbitanzahl in Übereinstimmung mit dem hellen und dunklen Bereich von Bezugsbilddaten umfaßt,
daß eine Zähleinrichtung (24) vorgesehen ist, welche die Anzahl der Bits zählt, die dem hellen oder dunklen Bereich in den für den jeweiligen Einheitsblock ausgelesenen Bilddaten entsprechen,
und daß die Diskriminierungseinrichtung eine Vergleichereinrichtung (24) umfaßt, welche die Bezugsbitanzahl und die gezählte Bitanzahl vergleicht.
12. Anordnung nach Anspruch 11,dadurch gekennzeichnet., daß die Vergleichereinrichtung (24) eine Einrichtung umfaßt, welche die gezählte Bitanzahl und einen Spezifikations-Toleranzbereich vergleicht, der durch die Bezugsbitzahl -<<( Ü. = eine Toleranz) bestimmt ist, und die ein "NC'-Vorzeichen in dem Fall erzeugt, daß ein Vergleichsergebnis außerhalb des Toleranzbereiches fällt.
13. Anordnung nach Anspruch 12, dadurch ge-
kennzeichnet, daß eine Speichereinrichtung • (26, R) vorgesehen ist, die das "NC'-Vorzeichen für jeden Einheitsblock der Abtastzeilen (S1) speichert, und daß eine Anzeigeeinrichtung (22) für eine Musteranzeige eines Inhalts der Speichereinrichtung entsprechend der Oberfläche der Glasscheibe (1) oder eine Druckeinrichtung (19) für einen Muster-Ausdruck des Inhalts der Speichereinrichtung entsprechend der Oberfläche der betreffenden Glasscheibe (1) vorgesehen ist.
10
14. Anordnung nach Anspruch 1, d ad u r c h gekennzeichnet , daß die Glasscheibe (1) eine Glas-Windschutzscheibe eines Fahrzeugs ist.
15. Anordnung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet , daß die Glas-Windschutzscheibe (1) eine laminierte gekrümmte Glasscheibe ist, die dadurch gebildet ist, daß eine Vielzahl von Glasschichten mittels Harzschichten verbunden ist. · . ■ '
DE19843443816 1983-12-01 1984-11-30 Anordnung zur ueberpruefung der durch eine glasscheibe hervorgerufenen verzerrung Ceased DE3443816A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58227598A JPS60119404A (ja) 1983-12-01 1983-12-01 板ガラスの歪検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE3443816A1 true DE3443816A1 (de) 1985-06-13

Family

ID=16863436

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19843443816 Ceased DE3443816A1 (de) 1983-12-01 1984-11-30 Anordnung zur ueberpruefung der durch eine glasscheibe hervorgerufenen verzerrung

Country Status (7)

Country Link
US (1) US4647197A (de)
JP (1) JPS60119404A (de)
CA (1) CA1227276A (de)
DE (1) DE3443816A1 (de)
FR (1) FR2556097B1 (de)
GB (1) GB2152210B (de)
MY (1) MY100429A (de)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19741384A1 (de) * 1997-09-19 1999-03-25 Heuft Systemtechnik Gmbh Verfahren zum Erkennen von diffus streuenden Materialien, Verunreinigungen und sonstigen Fehlern bei transparenten Gegenständen
DE19813073A1 (de) * 1998-03-25 1999-09-30 Laser Sorter Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der optischen Qualität und zur Detektion von Fehlern von Flachglas und anderen optisch transparenten Materialien, insbesondere von Drips, Fäden und Linien
DE102006025312A1 (de) * 2006-05-31 2007-12-06 GM Global Technology Operations, Inc., Detroit Verfahren und Anordnung zur Erfassung der optischen Qualität einer transparenten Scheibe
DE102017123243A1 (de) * 2017-10-06 2019-04-11 Webasto SE Verfahren zur Ausbildung eines Glaselements mit einem Trägerelement

Families Citing this family (55)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB8424074D0 (en) * 1984-09-24 1984-10-31 British Aerospace Testing light transmitting articles
US4748330A (en) * 1986-12-22 1988-05-31 Rca Licensing Corporation Method and apparatus for measuring periodic matrix spaces
US4853777A (en) * 1987-07-07 1989-08-01 Ashland Oil, Inc. Method for evaluating smooth surfaces
JPH01173809A (ja) * 1987-12-28 1989-07-10 Toyota Motor Corp ウインドシールドガラスの歪み測定方法及び装置
DE3816392A1 (de) * 1988-05-13 1989-11-23 Ver Glaswerke Gmbh Verfahren zur bestimmung der optischen qualitaet von flachglas oder flachglasprodukten
FR2637067B1 (fr) * 1988-09-23 1991-07-05 Sgn Soc Gen Tech Nouvelle Dispositif de determination de la forme du bord d'un objet galbe
NL192484C (nl) * 1989-08-08 1997-08-04 Samsung Electronics Co Ltd Schakeling voor het opwekken van een door een zebrasignaal gestuurd videozoekersignaal voor een videocamera.
JPH0726833B2 (ja) * 1989-08-11 1995-03-29 旭硝子株式会社 湾曲板状体の形状検査装置
DE3937559A1 (de) * 1989-09-02 1991-03-14 Flachglas Ag Verfahren zum ermitteln von optischen fehlern in scheiben aus einem transparenten material, insbesondere aus glas
FR2663744B1 (fr) * 1990-06-25 1993-05-28 Saint Gobain Vitrage Int Procede et dispositif de mesure de la qualite optique d'un vitrage.
US5142648A (en) * 1990-08-02 1992-08-25 General Motors Corporation Method and apparatus for paint inspection
USH999H (en) 1990-09-13 1991-12-03 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Transparency distortion measurement process
FR2668599B1 (fr) * 1990-10-31 1992-12-31 Saint Gobain Vitrage Int Procede et dispositif de mesure de la qualite optique d'un vitrage.
US5184190A (en) * 1991-05-28 1993-02-02 Winzen International, Inc. Method and apparatus for detecting flaws and defects in heat seals
FR2688310A1 (fr) * 1992-03-03 1993-09-10 Saint Gobain Vitrage Int Procede et dispositif de controle de la transparence d'un vitrage feuillete.
US5446536A (en) * 1992-05-06 1995-08-29 Nippon Sheet Glass Co., Ltd. System of detecting optical distortion of a light-transmitting plate-like member
JP2795595B2 (ja) * 1992-06-26 1998-09-10 セントラル硝子株式会社 透明板状体の欠点検出方法
US5343288A (en) * 1992-11-23 1994-08-30 Libbey-Owens-Ford Co. Optical evaluation of automotive glass
US5471297A (en) * 1993-08-31 1995-11-28 Asahi Glass Company Ltd. Method of and apparatus for measuring optical distortion
US5445787A (en) * 1993-11-02 1995-08-29 Friedman; Ira Method of extruding refractory metals and alloys and an extruded product made thereby
FR2720831B3 (fr) * 1994-06-02 1996-07-12 Saint Gobain Vitrage Procédé de mesure de la qualité optique d'un vitrage.
US5642198A (en) * 1995-04-03 1997-06-24 Long; William R. Method of inspecting moving material
US5812260A (en) * 1995-10-16 1998-09-22 Corning Incorporated Method and system for measuring optical distortion
US5726749A (en) * 1996-09-20 1998-03-10 Libbey-Owens-Ford Co. Method and apparatus for inspection and evaluation of angular deviation and distortion defects for transparent sheets
US6509967B1 (en) * 1996-10-18 2003-01-21 Innomess Gelsellschaft Fur Messtechnik Mbh Method for detecting optical errors in large surface panels
DE29724139U1 (de) * 1996-10-18 2000-02-24 Innomess Ges Fuer Messtechnik Vorrichtung für die Ermittlung von optischen Fehlern in grossflächigen Scheiben
JP4108829B2 (ja) * 1998-07-02 2008-06-25 東芝ソリューション株式会社 厚み欠陥検査装置及びその検査方法
US6100990A (en) * 1999-06-14 2000-08-08 Ford Motor Company Method and apparatus for determining reflective optical quality using gray-scale patterns
US6208412B1 (en) 1999-06-14 2001-03-27 Visteon Global Technologies, Inc. Method and apparatus for determining optical quality
AU2001288641A1 (en) * 2000-09-01 2002-03-13 Mark M. Abbott Optical system for imaging distortions in moving reflective sheets
GB0307345D0 (en) * 2003-03-29 2003-05-07 Pilkington Plc Glazing inspection
GB2408572A (en) * 2003-11-27 2005-06-01 Isis Innovation Method and apparatus for measuring surface configuration
US7365838B2 (en) * 2004-04-02 2008-04-29 Lockheed Martin Corporation System and method for the measurement of optical distortions
GB2415776B (en) * 2004-06-28 2009-01-28 Carglass Luxembourg Sarl Zug Investigation of vehicle glazing panels
GB0415916D0 (en) 2004-07-16 2004-08-18 Pilkington Plc Glazing inspection
JPWO2006095519A1 (ja) * 2005-03-07 2008-08-14 日本板硝子株式会社 光透過性パネルの透視歪検査装置および検査方法
JP4730836B2 (ja) 2005-09-15 2011-07-20 Ｊｆｅスチール株式会社 面歪の測定装置及び方法
GB0520251D0 (en) * 2005-10-05 2005-11-16 Isis Innovation Apparatus and method for measuring surface configuration
KR100749829B1 (ko) * 2006-05-26 2007-08-16 장민준 3차원 광측정장치
JP2008116470A (ja) * 2007-12-25 2008-05-22 Olympus Corp 基板検査装置
CN101963586B (zh) * 2009-07-23 2014-05-07 林嘉宏 浮法玻璃在线波纹检测设备
JP2012150079A (ja) * 2011-01-21 2012-08-09 Canon Chemicals Inc 透明部材の欠陥検出装置及び欠陥検出方法
FR2971588B1 (fr) * 2011-02-11 2013-03-08 Peugeot Citroen Automobiles Sa Procede de detection de defaut optique dans un pare-brise
JP5594697B2 (ja) * 2012-02-22 2014-09-24 中日本高速道路株式会社 透視歪の測定方法
CN102706899B (zh) * 2012-06-05 2014-03-26 福耀玻璃工业集团股份有限公司 一种汽车玻璃副像检测系统及方法
DE102013105570A1 (de) 2013-05-29 2014-12-04 Isra Surface Vision Gmbh Verfahren zur Bestimmung der Brechkraft eines transparenten Objekts sowie entsprechende Vorrichtung
DE102013216571A1 (de) * 2013-08-21 2015-02-26 Bayerische Motoren Werke Aktiengesellschaft Verfahren zum Detektieren von Flüssigkeiten auf einer Scheibe eines Fahrzeugs
US9799949B2 (en) * 2014-09-30 2017-10-24 Nidec Corporation On-vehicle radar device and vehicle
FR3078161B1 (fr) 2018-02-22 2020-03-27 Saint-Gobain Glass France Methode de simulation de la puissance optique d'un verre feuillete
JP7180177B2 (ja) * 2018-07-31 2022-11-30 株式会社リコー ステレオカメラシステム、移動体及びステレオカメラ装置の形成方法
FR3090088B1 (fr) 2018-12-12 2021-06-18 Saint Gobain Procédé de mesure des écarts géométriques entre les surfaces incurvées d'une pluralité de matériaux à évaluer et une surface incurvée d’un matériau de référence
FR3101420A1 (fr) 2019-09-30 2021-04-02 Saint-Gobain Glass France Méthode d’évaluation de la qualité optique d’une zone délimitée d’un vitrage
EP4092409A1 (de) 2021-05-20 2022-11-23 Saint-Gobain Glass France Verfahren zur erkennung von optischen defekten in einer windschutzscheibe
EP4170327A1 (de) 2021-10-22 2023-04-26 Saint-Gobain Glass France Verfahren und system zur erkennung von optischen defekten in einer glaswindschutzscheibe
EP4231001A1 (de) * 2022-02-16 2023-08-23 Carl Zeiss Vision International GmbH Testvorrichtung und testverfahren

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2902898A (en) * 1954-07-28 1959-09-08 Gen Dynamics Corp Optical inspection device for transparent sheet material
DE3111728A1 (de) * 1981-03-25 1982-10-07 Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg "pruefverfahren fuer werkstuecke"
DE3203984A1 (de) * 1982-02-05 1983-08-18 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Verfahren und anordnung zur darstellung der abbildungsguete von optischen systemen
DE3237511A1 (de) * 1982-10-09 1984-04-12 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V., 8000 München Verfahren zur pruefung von glaserzeugnissen

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2871756A (en) * 1953-12-28 1959-02-03 Northrop Aircraft Inc Mechano-optical method for inspecting transparent flat or contoured panels
FR1308013A (fr) * 1961-09-20 1962-11-03 Saint Gobain Procédé et dispositif pour le contrôle des propriétés optiques des feuilles de verre et particulièrement des pare-brise
US3688235A (en) * 1965-03-31 1972-08-29 Inst Nat Du Verre Apparatus for detecting the angular deflection imparted to a beam passing through a transparent sheet
US4076426A (en) * 1976-06-29 1978-02-28 Rca Corporation Method for inspecting cathode-ray-tube window for objectionable cord
GB1574423A (en) * 1977-03-16 1980-09-10 Sira Institute Optical test apparatus and method for examining an object
GB1598648A (en) * 1978-05-26 1981-09-23 Sira Institute Method of determining a characteristic of an optical component
JPS5676004A (en) * 1979-11-26 1981-06-23 Toyota Central Res & Dev Lab Inc Measuring device of flatness
US4310242A (en) * 1980-04-01 1982-01-12 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Field test unit for windscreen optical evaluation
JPS56166452A (en) * 1980-05-27 1981-12-21 Nippon Sheet Glass Co Ltd Detecting method for distortion defect of transparent plate
US4377341A (en) * 1981-03-11 1983-03-22 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force System for measuring angular deviation in a transparency
US4461570A (en) * 1982-06-09 1984-07-24 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Method for dynamically recording distortion in a transparency

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2902898A (en) * 1954-07-28 1959-09-08 Gen Dynamics Corp Optical inspection device for transparent sheet material
DE3111728A1 (de) * 1981-03-25 1982-10-07 Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg "pruefverfahren fuer werkstuecke"
DE3203984A1 (de) * 1982-02-05 1983-08-18 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Verfahren und anordnung zur darstellung der abbildungsguete von optischen systemen
DE3237511A1 (de) * 1982-10-09 1984-04-12 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V., 8000 München Verfahren zur pruefung von glaserzeugnissen

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
ABC der Optik, K.Mütze et al *
Hrsg., Hanau/ Main 1961, S. 606-607 *

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19741384A1 (de) * 1997-09-19 1999-03-25 Heuft Systemtechnik Gmbh Verfahren zum Erkennen von diffus streuenden Materialien, Verunreinigungen und sonstigen Fehlern bei transparenten Gegenständen
US6239870B1 (en) 1997-09-19 2001-05-29 Heuft Systemtechnik Gmbh Method for identifying materials, impurities and related defects with diffuse dispersion transparent objects
DE19813073A1 (de) * 1998-03-25 1999-09-30 Laser Sorter Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der optischen Qualität und zur Detektion von Fehlern von Flachglas und anderen optisch transparenten Materialien, insbesondere von Drips, Fäden und Linien
DE102006025312A1 (de) * 2006-05-31 2007-12-06 GM Global Technology Operations, Inc., Detroit Verfahren und Anordnung zur Erfassung der optischen Qualität einer transparenten Scheibe
DE102017123243A1 (de) * 2017-10-06 2019-04-11 Webasto SE Verfahren zur Ausbildung eines Glaselements mit einem Trägerelement
DE102017123243B4 (de) 2017-10-06 2022-09-29 Webasto SE Verfahren zur Ausbildung eines Glaselements mit einem Trägerelement

Also Published As

Publication number Publication date
CA1227276A (en) 1987-09-22
GB2152210B (en) 1987-04-23
JPS60119404A (ja) 1985-06-26
GB8430351D0 (en) 1985-01-09
US4647197A (en) 1987-03-03
FR2556097B1 (fr) 1988-12-02
FR2556097A1 (fr) 1985-06-07
JPH0314122B2 (de) 1991-02-26
GB2152210A (en) 1985-07-31
MY100429A (en) 1990-09-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3443816A1 (de) Anordnung zur ueberpruefung der durch eine glasscheibe hervorgerufenen verzerrung
EP0295433B1 (de) Registermesssystem, wie es im Offsetbereich zur Kontrolle der Lage der Druckplatten Anwendung findet
DE3816392C2 (de)
DE3830732C2 (de) Verfahren zur Feuchtmittelführung bei einer Offset-Druckmaschine
DE3422120C2 (de) Bildlesegerät
EP0233970A1 (de) Schnittholz-Prüfvorrichtung
DE2830846A1 (de) Vorrichtung zum ermitteln von fehlern in flaechenhaften mustern, insbesondere in photomasken
DE3611536A1 (de) Vorrichtung zur automatischen ueberpruefung von transparenten objekten, insbesondere von glasflaschen
DE112008000723T5 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Prüfen der Kante eines Halbleiterwafers
CH652506A5 (de) Verfahren und inspektionsgeraet zum inspizieren eines gegenstandes, insbesondere einer flasche.
DE19926120C2 (de) Bilderkennungsvorrichtung
DE3519465A1 (de) Verfahren zum beurteilen der position eines filmeinzelbildes
DE19617122C2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Kalibrieren eines horizontalen Startpunktes eines Dokumentes auf einem Flachbettscanner
DE2410306B2 (de) Anordnung zur Einstellung eines Abtastrasters oder einer Erkennungslogik auf die Schräglage von abzutastenden bzw. zu erkennenden Zeichen
DE2605705C2 (de) Vorrichtung zum Speichern von auf dem Schirm eines Kathodenstrahloszillografen dargestellten Signalen
DE3213299C2 (de) Mustererkennungs-Schaltungsanordnung zur Unterscheidung zwischen vorgegebenen Rasterkonfigurationen eines optischen Testrasters
DE2146497B2 (de) Segmentierungs-Vorrichtung für optische Zeichenleser
DE69812490T2 (de) Korrektur der fehlerhaften Ausrichting eines Abtastkopfes
DE4105456C2 (de) Vorrichtung zur optischen Überwachung von Druckprodukten
DE3009907C2 (de) Speicheradressensignalgenerator für eine automatische Justiereinrichtung einer Fernsehkamera
EP0222079B1 (de) Verfahren zur optischen Prüfung von Leiterplatten
DE3139365C2 (de) Verfahren zur Überprüfung des Randbereichs von Banknoten und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
EP0129768B1 (de) Farbdichtemessgerät
EP0440847B1 (de) Vorrichtung zur Röntgenprüfung eines Kraftfahrzeugreifens
EP3628489B1 (de) Registermessung ohne registermarken

Legal Events

Date Code Title Description
8110 Request for examination paragraph 44
8131 Rejection