DE3436632C2 - Halbleiter-Fotosensor - Google Patents
Halbleiter-FotosensorInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf einen Halbleiter-Fotosensor
mit einem Halbleitersubstrat, in dem eine Vielzahl von Poten
tialmulden zur Aufnahme von durch fotoelektrische Umwandlung
erzeugter Ladungen ausbildbar ist, mit einer über dem Halb
leitersubstrat ausgebildeten Isolierschicht sowie Steuerelek
troden, die die Potentialmulden derart steuern, daß die La
dungen zur jeweils benachbarten Potentialmulde übertragen
werden.
Ein derartiger Halbleiter-Fotosensor ist bereits aus der Li
teraturstelle "Optoelektronik" von D. A. Ross, R. Oldenbourg
Verlag München 1982, S. 150-151, bekannt, nämlich ein ladungs
gekoppeltes Bauelement, das aus einer Reihe nahe beieinander
liegender Metall-Oxid-Halbleiter-Kondensatoren besteht, wobei
die jeweils dritten Elemente miteinander verbunden sind. Wird
an ein bestimmtes Element eine Spannung angelegt, so kann es
durch absorbierte Photonen erzeugte Ladungen speichern. Die
gespeicherte Ladung ist proportional zur Lichtintensität, die
während der Speicherzeit auf ein Element auftrifft. Eine
Folge von an jeweiligen Anschlüssen angelegten Spannungsim
pulsen bewirkt eine Ladungsverschiebung von einem Element zum
nächsten, so daß eine Spalte von eng aneinandergereihten Ele
menten ausgelesen werden kann. Ein Bildsensor besteht aus ei
ner Anzahl von Spalten, d. h. einer matrixförmigen Anordnung
dieser Elemente.
Bei derartigen Halbleiter-Bildsensoren wird wie bei anderen
Halbleiterschaltungen auch eine Steigerung der Packungsdichte
der einzelnen Elemente angestrebt, um eine höhere Auflösung
bei noch kleineren Abmessungen zu erhalten.
Andererseits ist bei solchen Sensoren zur Verbesserung des
Apertur- bzw. Öffnungsverhältnisses eine Gestaltung in der
Weise erforderlich, daß in der fotoempfindlichen Fläche die
Fläche eines Lichtabschirmbereichs so klein wie möglich ist.
In manchen Fällen werden zusätzlich als Steuerelektroden
lichtdurchlässige Elektroden aus polykristallinem bzw. Poly-
Silizium oder dergleichen verwendet, um den Lichteinfall auf
einen fotoelektrischen Wandlerteil merklich zu steigern.
Dieses Poly-Silizium hat eine verhältnismäßig geringe Leit
fähigkeit und es ist ferner erforderlich, das Silizium zum
Verbessern des Öffnungsverhältnisses dünner auszubilden, so
daß es parasitäre Widerstände bildet.
Wie in der Literaturstelle "Optoelektronik" von D. A. Ross, R.
Oldenbourg Verlag München 1982, S. 150-151, bereits erwähnt,
besteht ein wesentliches Problem in der geeigneten Ankopplung
der einzelnen Elemente an eine Fotodetektormatrix, damit die
Elemente zeilenweise abgetastet werden können. Die für eine
derartige Ankopplung erforderliche Packungsdichte führt
außerdem zu Problemen mit Parallelkapazitäten, die die hohen
Frequenzen eines angelegten Ansteuersignals herausfiltern und
dieses dadurch abrunden, wodurch die Größe (Auflösung) des
Bildsensors, die Einstreuung und vor allem die Auslesege
schwindigkeit (Ansteuerfrequenz) negativ beeinflußt werden.
Daher wird durch Widerstände der Steuerelektrode
selbst und Kapazitäten zwischen einem Halbleitersubstrat
und der Steuerelektrode eine in Fig. 1B gezeigte Ersatzschaltung
mit verteilten Parametern gebildet.
Fig. 1A zeigt ein Beispiel für das Muster einer
Steuerelektrode PE. In Fig. 1B sind mit R Widerstände
und mit C Kapazitäten bezeichnet. Daher wird gemäß Fig. 2
die Kurvenform eines Steuersignals an einem Eingangsan
schluß während der Übertragung allmählich gemäß der
Darstellung bei und abgerundet bzw. abgeflacht,
was verschiedenerlei Probleme hervorruft:
Da in dem Bereich nahe dem mittleren Bereich des
Steuerelektrodenmusters die Kurvenform des Steuersignals ab
geflacht wird, wird eine Potentialmulde unterhalb der Steuer
elektrode abgeflacht, wodurch die Übertragungswirkung ver
schlechtert wird. Wenn zum Verhindern einer derartigen
Verschlechterung der Übertragungswirkung an den Eingangs
anschluß eine hohe Spannung angelegt wird, werden die
Leistungsverluste übermäßig groß.
Da sich andererseits die jeweils an den mittleren und den
Randteilen des Steuerelektrodenmusters gebildeten
Formen der Potentialmulden voneinander unterscheiden, tritt
eine merkliche Abschaltung in Erscheinung. Insbesondere
wird dieses Problem schwerwiegender, sobald die Übertragungsgeschwindigkeit
des an die Steuerelektrode angelegten Steuersignals
höher wird.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, einen Halb
leiter-Fotosensor der eingangs genannten Art derart weiterzu
bilden, daß sowohl die Auflösung (Integrationsdichte) des
Fotosensors als auch die Übertragungsgeschwindigkeit der ge
speicherten Bildinformationen gesteigert werden kann.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die
Potentialmulden im Halbleitersubstrat durch Kanalsperren ge
trennt sind und daß auf den Steuerelektroden in einem Licht
empfangsteil des Halbleitersubstrats und in Kontakt mit den
Steuerelektroden zur Erzielung eines gleichförmigen Poten
tials längs der Steuerelektroden Leiter mit hoher Leitfähig
keit vorhanden sind, die Abschnitte der Steuerelektroden an
ihren jeweiligen Eckpunkten kurzschließen und deren Breite
kleiner als die der Steuerelektroden ist.
Erfindungsgemäß wird die erhöhte Integrationsdichte durch die
geschickte Anordnung von p⁺-dotierten Kanalsperren er
reicht, so daß der nötige Abstand von einer Potentialmulde
zur nächsten verringert werden kann und die Steuerelektroden
in Form von Balken und nicht mehr als Inseln ausgebildet
sind.
In Verbindung mit der erhöhten Auflösung wird durch Verwen
dung eines Leiters, der sich über den Steuerelektroden befin
det und mit diesen Kontakt hat, auch die Übertragungsge
schwindigkeit erhöht. Während herkömmliche Bildsensoren auf
grund des Aufbaus ihres RC-Ersatzschaltbildes bald auf Gren
zen hinsichtlich ihrer Ansteuerfrequenz stoßen, wird durch
die erfindungsgemäße Verwendung eines Leiters über der
Steuerelektrode der parasitäre Widerstand nahezu zu Null und
der unvermeidbare RC-Lade- bzw. Entladeeffekt beim Verschie
ben der Ladungen tritt erst bei sehr viel höheren Frequenzen
auf.
In den Unteransprüchen 2 bis 10 sind vorteilhafte Ausgestal
tungen der Erfindung gekennzeichnet.
Die Erfindung wird nachstehend anhand von Ausführungsbei
spielen unter Bezugnahme auf die Zeichnung näher beschrieben.
Es zeigt
Fig. 1A und 1B Darstellungen, die ein Beispiel für eine
herkömmliche Ladungsübertragungsvorrichtung zeigen,
wobei Fig. 1A ein Elektrodenmuster zeigt, während
Fig. 1B eine Ersatzschaltung zeigt,
Fig. 2 eine Darstellung der Kurvenformen von Signalen
an Schaltungspunkten , und in Fig. 1B,
Fig. 3A bis 3D Darstellungen zur Erläuterung eines
ersten Ausführungsbeispiels der
Halbleitervorrichtung, wobei Fig. 3A Elektroden
zeigt, Fig. 3B eine Ansicht eines Schnitts längs
einer Linie A-A′ in Fig. 3A ist, Fig. 3C eine
Ansicht eines Schnitts längs einer Linie B-B′ in
Fig. 3A ist und Fig. 3D eine Ansicht eines
Schnitts längs einer Linie C-C′ in Fig. 3A ist,
Fig. 4A bis 4D Darstellungen eines zweiten Ausführungs
beispiels, wobei Fig. 4A Elektroden zeigt,
Fig. 4B eine Ansicht eines Schnitts längs einer Linie
A-A′ in Fig. 4A ist, Fig. 4C eine Ansicht
eines Schnitts längs einer Linie B-B′ in Fig. 4A
ist und Fig. 4D eine Ansicht eines Schnitts längs
einer Linie C-C′ in Fig. 4A ist, und
Fig. 5A und 5B Darstellungen eines dritten Ausführungs
beispiels, wobei Fig. 5A Elektroden zeigt und
Fig. 5B eine Ansicht eines Schnitts längs einer
Linie E-E′ in Fig. 5A ist.
Die Fig. 3A bis 3D sind Darstellungen eines ersten Ausfüh
rungsbeispiels der Halbleitervorrichtung.
Bei diesem Ausführungsbeispiel wird die
Gestaltung bei einem Bildsensor mit einer Vollbildübertragungs-
Ladungskopplungsvorrichtung (CCD) angewandt. Fig. 3A
ist die Darstellung eines Elektrodenmusters, Fig. 3B
zeigt einen Schnitt längs einer Linie A-A′ in Fig. 3A,
Fig. 3C zeigt einen Schnitt längs einer Linie B-B′ in
Fig. 3A und Fig. 3D zeigt einen Schnitt längs einer
Linie C-C′ in Fig. 3A.
Diese Darstellungen zeigen einen Lichtempfangsteil 1, eine
Speichervorrichtung 2, eine Auslesevorrichtung bzw. ein Horizontalschieberegister 3, einen Aus
gangsverstärker 4, eine Steuerelektrode 5 für den
Lichtempfangsteil 1 und jeweilige Steuerelektroden
6 und 7 für die Speichervorrichtung bzw. das Horizontalschiebe
register 3. Die Steuerelektroden 5 bis 7 bestehen alle
aus einem lichtdurchlässigen Material mit einer verhältnis
mäßig geringen Leitfähigkeit wie beispielsweise polykristal
linem bzw. Poly-Silizium.
Jede Steuerelektrode 5 bis 7 ist über einer Isolierschicht 9
oberhalb eines Halbleitersubstrats 8 angeordnet.
Mit CS sind Kanalsperren bezeichent, die als Trennvorrichtungen
dienen. Falls beispielsweise das Halbleitersubstrat
8 aus p-Silizium besteht, werden diese Kanalsperren CS durch
Diffundierung zu einem p⁺-Halbleiter oder dergleichen ge
bildet. Diese Kanalsperren CS dienen dazu, jeweilige Elemente
in dem Halbleitersubstrat 8 voneinander zu trennen. Mit VE
sind virtuelle Elektroden bezeichnet, die beispielsweise
durch Ionenimplantation von Bor gebildet sind.
In einem durch die Kanalsperren CS abgesonderten Bereich
ist ein jeweiliges Element durch ein Paar aus der Steuer
elektrode und der virtuellen Elektrode VE gebildet.
Mit PI ist ein Übertragungstaktsignal zum Steuern der
Übertragung usw. über die Steuerelektrode 5,
mit PS ist ein Übertragungstaktsignal zum Steuern der
Übertragung usw. über die Steuerelektrode 6
und mit S ist ein Übertragungstaktsignal zum Steuern
der Übertragung usw. über die Steuerelektrode 7 be
zeichnet.
Mit 11 bis 13 sind Aluminium-Leitermuster bzw. Leiter bezeichnet, die
somit aus einem Material bestehen, das eine im Verhältnis
zu den Steuerelektroden 5 bis 7 höhere Leitfähigkeit hat. Diese
Aluminium-Leitermuster 11 bis 13 sind durch Aufdampfen
oder dergleichen auf den Oberflächen der jeweiligen
Steuerelektroden 5 bis 7 gebildet und dienen als Leiter
vorrichtung der Halbleitervorrichtung.
Bei diesem Ausführungsbeispiel sind die Aluminium-Leitermuster 11 bis
13 oberhalb der Kanalsperren CS und an den Steuer
elektroden an einem Außenumfang außerhalb eines Bildwinkels
angeordnet und schließen zumindest Teile der Steuer
elektroden kurz, um die Signalübertragungseigenschaften
der Steuerelektroden zu verbessern bzw. zu korrigieren.
Bei diesem Ausführungsbeispiel sind ferner diese Aluminium-
Leitermuster 11 und 12 durchgehend verbunden.
Mit 10 ist eine Isolierschicht aus Siliziumoxid oder der
gleichen für den Schutz der ganzen integrierten Schaltung
bezeichnet.
Wenn bei dieser Gestaltung beispielsweise als Signal PI ein
Signal niedrigen Pegels angelegt wird, werden jeweils die
entsprechend dem auf den Lichtempfangsteil 1 fallenden Bild
verteilten Ladungen in den Potentialmulden unter den jeweils
von den Kanalsperren CS und der Steuerelektrode 5 um
gebenen virtuellen Elektroden VE gesammelt.
Als nächstes werden durch das Zuführen von bei diesem Ausführungs
beispiel sechs Impulsen als Signal PI und PS die Ladungen unter
den virtuellen Elektroden VE des Lichtempfangsteils 1 in
den Potentialmulden unter den virtuellen Elektroden der
Speichervorrichtung 2 angehäuft. Die Ladungen aus dieser Speicher
vorrichtung 2 können zeilenweise durch das Zuführen der Signale PS
und S ausgelesen werden.
Bei diesem Ausführungsbeispiel werden zwar die Übertragungs
taktsignale PI und PS jeweils von beiden Enden der Steuer
elektroden 5 und 6 eingegeben, jedoch sind dabei zusätzlich die
Poly-Silizium-Steuerelektroden teilweise in der Richtung ihrer
Oberflächen durch das Aluminium-Leitermuster 11 kurzgeschlossen;
daher wird der verteilte Widerstand in dem Poly-Sili
zium-Elektrodenmuster im wesentlichen zu "0", so daß das
Ausmaß der Glättung bzw. Rundung der Kurvenform des Über
tragungstaktsignals auf ein Mindestmaß herabgesetzt werden
kann.
Da darüber hinaus bei diesem Ausführungsbeispiel die Aluminium-
Leitermuster 11 an Stellen angeordnet sind, an denen sie
nicht die Bildelemente im Lichtempfangsteil 1 beeinflussen,
nämlich an den äußeren Umfangsteilen der Steuerelektroden
5 und über den Kanalsperren CS, wird das Öffnungs-
bzw. Aperturverhältnis des Lichtempfangsteils 1 über
haupt nicht beeinträchtigt.
Da ferner bei diesem Ausführungsbeispiel die Aluminium-
Leitermuster 11 und 12 durchgehend verbunden sind, entstehen kaum
Abweichungen bei der Widerstandsverteilung in den
Steuerelektroden 5 und 6.
Da weiterhin bei diesem Ausführungsbeispiel die Steuer
elektrode 6 der Speichervorrichtung 2 aus dem gleichen Material
wie die Steuerelektrode 5 des Lichtempfangsteils
1 besteht, ist die Herstellung der integrierten Schaltung
vereinfacht.
Da ferner bei diesem Ausführungsbeispiel für die Steuer
elektroden 5 bis 7 ein Material geringer Leitfähigkeit wie
Poly-Silizium, nämlich ein Material mit geringer Ätzge
schwindigkeit benutzt wird, kann eine Feinätzung ausgeführt
werden, so daß die Vorrichtung gemäß dem Ausführungsbei
spiel für eine hohe Integration bzw. Integrationsdichte ge
eignet ist. Da die verteilten Widerstände in den Richtungen
der Oberflächen der Steuerelektroden 5 und 6 durch die Leiter
mit der verhältnismäßig hohen Leitfähigkeit verringert sind,
kann eine Übertragung mit hoher Geschwindigkeit ausgeführt
werden. Da aufgrund dessen das Poly-Silizium der Steuer
elektroden 5 und 6 dünn aufgebracht werden kann, kann damit
die Empfindlichkeit für "Blau" und daher die gesamte Emp
findlichkeit des Bildsensors gesteigert werden.
Bei diesem Ausführungsbeispiel wurde zwar als Leitervor
richtung das Aluminium-Leitermuster 11 bis 13 verwendet, jedoch ist
es auch möglich, ein Material mit einer verhältnismäßig
hohen Leitfähigkeit und einem hohen Schmelzpunkt wie bei
spielsweise Molybdänsilicid, Wolframsilicid, Tantalsilicid
oder Titansilicid zu verwenden.
Andererseits kann für die Steuerelektroden 5 bis 7 statt des
Poly-Siliziums irgendein anderes lichtdurchlässiges Material
mit geringer Leitfähigkeit wie Zinnoxid verwendet werden.
Als nächstes zeigen Fig. 4A bis 4D ein zweites Ausfüh
rungsbeispiel der Halbleitervorrichtung,
wobei Fig. 4A ein Elektrodenmuster, Fig. 4B
einen Schnitt längs einer Linie A-A′ in Fig. 4A,
Fig. 4C einen Schnitt längs einer Linie B-B′ in Fig. 4A
und Fig. 4D einen Schnitt längs einer Linie C-C′
in Fig. 4A zeigt; dabei sind gleiche Teile und Komponenten
wie die Fig. 3A bis 3D gezeigten mit den gleichen Be
zugszeichen bezeichnet. Bei diesem zweiten Ausführungsbeispiel
sind als Leitervorrichtungen Aluminium-Leitermuster
11′ und 12′ durch Aufdampfen oder dergleichen auf dem äußeren
Umfangsbereich außerhalb des Bildwinkels auf den
Steuerelektroden 5 und 6 sowie auf den Oberflächen in den
Horizontalrichtungen der Steuerelektroden 5 und 6 gebildet.
Da bei dieser Gestaltung die Aluminiumleiter Teile der Bild
elemente überdecken, kann zwar eine der Wirkung bei dem
ersten Ausführungsbeispiel nahezu gleiche Wirkung erzielt
werden, jedoch wird das Apertur- bzw. Öffnungsverhältnis
geringfügig verringert. Offensichtlich ist dabei anzustreben,
daß das horizontale Aluminium-Leitermuster 11′ im Bildfeld
des Lichtempfangsteils 1 dünn aufgebracht wird.
Fig. 5A und 5B zeigen ein drittes Ausführungsbeispiel
der Halbleitervorrichtung, wobei Fig. 5A
Elektroden zeigt, während Fig. 5B einen Schnitt längs
einer Linie E-E′ in Fig. 5A zeigt. Bei diesem Ausführungs
beispiel ist eine andere Ausführung der Leitervorrichtungen
für die Speichervorrichtung 2 und die Auslesevorrichtung bzw. das Horizontalschieberegister 3
gezeigt.
In den Darstellungen sind die gleichen Teile und Komponenten
wie die in Fig. 1 bis 4 gezeigten mit den gleichen Be
zugszeichen bezeichnet. Mit 15 ist eine Leiterschicht aus
Aluminium oder dergleichen als Leitervorrichtung bezeichnet.
Diese Leiterschicht 15 dient auch als Lichtabschirmschicht für
das Abschirmen der Speichervorrichtung 2 und des Horizontalschie
beregister 3 gegenüber Licht.
Die Leiterschicht 15 für die Speichervorrichtung 2 und eine Leiter
schicht 15′ für das Horizontalschieberegister 3 sind von
einander isoliert. Mit 14 und 14′ sind Verbindungsbereiche
für das jeweilige Verbinden und Leiterschichten 15 bzw. 15′
mit den Steuerelektroden 6 bzw. 7 an einer Vielzahl
von Stellen bezeichnet. Wenn nach dem Bilden der Steuer
elektrode 6 gemäß Fig. 5B ein isolierender Oxidfilm
10 gebildet wird, werden diese Verbindungsbereiche maskiert,
um an diesen die Entstehung des Oxidfilms 10 zu verhindern.
Wenn dann die Leiterschicht 15 aufgedampft wird, werden durch
diese Öffnungen hindurch die Leiterschicht 15 und die
Steuerelektroden 6 und 7 elektrisch verbunden.
Bei dieser Gestaltung liegt eine vorteilhafte Wirkung darin,
daß durch die Leiterschicht 15 auch die Lichtabschirmung er
zielt werden kann.
Ferner können das Material für die Steuerelektrode 6
und das Material für die Leiterschicht 15 als Leitervorrich
tung die gleichen wie bei dem vorstehend beschriebenen er
sten oder zweiten Ausführungsbeispiel sein.
Bei diesem dritten Ausführungsbeispiel sind mindestens drei
oder mehr Verbindungsbereiche vorgesehen, so daß durch die
Leiterschicht 15 die Bereiche in der Nähe der beiden Enden der
Steuerelektrode 6 und der Bereich in der Nähe des mittleren
Bereichs kurzgeschlossen werden können.
Gemäß der vorstehenden Beschreibung hat als
Halbleitervorrichtung die Ladungsübertragungsvorrichtung
die Steuerelektroden 5 bis 7 die über der Isolierschicht 9 auf
dem Halbleitersubstrat 8 angeordnet sind und aus einem Material
mit verhältnismäßig niedriger Leitfähigkeit bestehen,
um die Leitervorrichtungen, die längs der Oberfläche der
Steuerelektroden 5 bis 7 angeordnet sind und aus einem Material
mit verhältnismäßig hoher Leitfähigkeit bestehen, um
Teile der Steuerelektroden 5 bis 7 gegenseitig kurzzuschließen.
Daher kann eine Feinätzung der Steuerelektroden 5 bis 7 aus
geführt werden und damit auch eine hohe Integration bzw.
Integrationsdichte herbeigeführt werden. Zugleich ist es
möglich, damit das Glätten bzw. Abrunden der Kurvenformen
der Übertragungs- bzw. Steuersignale auszuschalten, so daß
die Übertragung mit hoher Geschwindigkeit vorgenommen
und ein "Verwischen" verhindert werden kann. Vielerlei
weitere Vorteile bestehen darin, daß die Übertragungslei
stung bzw. der Übertragungswirkungsgrad verbessert ist, daß
eine Abschattung verhindert werden kann usw.
Claims (9)
1. Halbleiter-Fotosensor mit einem Halbleitersubstrat
(8), in dem eine Vielzahl von Potentialmulden zur Aufnahme
von durch fotoelektrischer Umwandlung erzeugter Ladungen
ausbildbar ist, und mit einer über dem Halbleitersubstrat
ausgebildeten Isolierschicht (9) sowie Steuerelektroden
(5), die die Potentialmulden derart steuern, daß die Ladun
gen zur jeweils benachbarten Potentialmulde übertragen wer
den, dadurch gekennzeichnet, daß die Potentialmulden im
Halbleitersubstrat (8) durch Kanalsperren (CS) getrennt
sind und daß auf den Steuerelektroden (5) in einem Licht
empfangsteil (1) des Substrats (8) und in Kontakt mit den
Steuerelektroden (5) zur Erzielung eines gleichförmigen Po
tentials längs der Steuerelektroden (5) Leiter (11) mit ho
her Leitfähigkeit vorhanden sind, die Abschnitte der
Steuerelektroden (5) an ihren jeweiligen Eckpunkten kurz
schließen und deren Breite kleiner als die der Steuerelek
troden (5) ist.
2. Fotosensor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Leitfähigkeit der Leiter (11) höher als diejenige
der Steuerelektroden (5) ist.
3. Fotosensor nach Anspruch 1 oder 2, dadurch ge
kennzeichnet, daß die Steuerelektroden (5) lichtdurchlässig
sind.
4. Fotosensor nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß die Steuerelektroden (5) Poly-Silizium enthalten.
5. Fotosensor nach einem der Ansprüche 1 bis 4, da
durch gekennzeichnet, daß die Leiter (11) die Steuer
elektroden (5) zumindest nahe der Randteile und nahe der
Mittelteile kurzschließen.
6. Fotosensor nach einem der Ansprüche 1 bis 5, da
durch gekennzeichnet, daß er eine Speichervorrichtung (2)
und eine Auslesevorrichtung (3) mit weiteren Steuerelektro
den (6, 7) und Kanalsperren (13) aufweist, wobei zur Erzie
lung eines gleichförmigen Potentials längs der weiteren
Steuerelektroden (6, 7) weitere Leiter (12, 13) mit hoher
Leitfähigkeit vorhanden sind, die Abschnitte der weiteren
Steuerelektroden (6, 7) an ihren jeweiligen Eckpunkten
kurzschließen und deren Breite kleiner als die der weiteren
Steuerelektroden (6, 7) sind.
7. Fotosensor nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet,
daß die Leitfähigkeit der weiteren Leiter (12, 13) höher
als diejenige der weiteren Steuerelektroden (6, 7) ist.
8. Fotosensor nach Anspruch 6 oder 7, dadurch
gekennzeichnet, daß der Lichtempfangsteil (1), die Spei
chervorrichtung (2) und die Auslesevorrichtung (3) eine
Vollbildübertragungs-Ladungskopplungsvorrichtung (CCD) dar
stellen.
9. Fotosensor nach einem der vorhergehenden Ansprüche
1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Leiter (11) und
die weiteren Leiter (12, 13) über den Kanalsperren (CS)
ausgebildet sind
10. Fotosensor nach einem der vorhergehenden Ansprüche 6 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß die weiteren Leiter (15, 15′) als Lichtabschirmschicht über einer Isolier schicht (10) ausgebildet sind und mittels Verbindungsberei che (14, 14′) mit den weiteren Steuerelektroden (6, 7) ver bunden sind.
10. Fotosensor nach einem der vorhergehenden Ansprüche 6 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß die weiteren Leiter (15, 15′) als Lichtabschirmschicht über einer Isolier schicht (10) ausgebildet sind und mittels Verbindungsberei che (14, 14′) mit den weiteren Steuerelektroden (6, 7) ver bunden sind.
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---|---|---|---|
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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DE3436632C2 true DE3436632C2 (de) | 1995-06-29 |
Family
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Family Applications (1)
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JP (1) | JPS6080272A (de) |
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JPS607390B2 (ja) * | 1976-09-17 | 1985-02-23 | 三洋電機株式会社 | 電荷結合型半導体装置の駆動パルス給電方法 |
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- 1984-10-08 GB GB08425337A patent/GB2149963B/en not_active Expired
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