DE3425568A1 - Vorrichtung zum pruefen elektronischer flachbaugruppen - Google Patents

Vorrichtung zum pruefen elektronischer flachbaugruppen

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999041621A3 (en) * 1998-02-13 1999-11-11 Scient Generics Ltd Circuit board assembly inspection

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1256452B (de) * 1964-11-02 1967-12-14 Ibm Anordnung zur wahlweisen Aufhellung von Zeichen, die mit einer Kathodenstrahlroehre dargestellt werden
US3387084A (en) * 1964-11-23 1968-06-04 Mc Donnell Douglas Corp Color television data display system
DE2138238A1 (de) * 1971-07-30 1973-02-08 Siemens Ag Verfahren und einrichtung zum pruefen von objekten bestimmter flaechenhafter oder raeumlicher konfiguration bei vorzugsweise gedruckten schaltungstraegern, elektrischen baugruppen oder dergleichen
DE1914764B2 (de) * 1969-03-22 1973-11-15 Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg Schaltungsanordnung zur Formatge staltung der Darstellung von Symbolen auf lichtausstrahlenden Flachen
DE2929123A1 (de) * 1979-07-18 1981-02-05 Siemens Ag Fehlerermittlung von elektrischen flachbaugruppen

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1256452B (de) * 1964-11-02 1967-12-14 Ibm Anordnung zur wahlweisen Aufhellung von Zeichen, die mit einer Kathodenstrahlroehre dargestellt werden
US3387084A (en) * 1964-11-23 1968-06-04 Mc Donnell Douglas Corp Color television data display system
DE1914764B2 (de) * 1969-03-22 1973-11-15 Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg Schaltungsanordnung zur Formatge staltung der Darstellung von Symbolen auf lichtausstrahlenden Flachen
DE2138238A1 (de) * 1971-07-30 1973-02-08 Siemens Ag Verfahren und einrichtung zum pruefen von objekten bestimmter flaechenhafter oder raeumlicher konfiguration bei vorzugsweise gedruckten schaltungstraegern, elektrischen baugruppen oder dergleichen
DE2929123A1 (de) * 1979-07-18 1981-02-05 Siemens Ag Fehlerermittlung von elektrischen flachbaugruppen

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999041621A3 (en) * 1998-02-13 1999-11-11 Scient Generics Ltd Circuit board assembly inspection

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