DE3402341C2 - - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft eine Schutzvorrichtung für einen Leistungsendstufentransistor
gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs.
Speziell geht es um eine Schutzvorrichtung
für Leistungsendstufentransistoren mit integrierten Schaltungen,
um beispielsweise einen Schutz vor durch Kurzschluß verursachten
Überströmen und Überspannungen am Ausgang von Endstufentransistoren
in monolithischen integrierten Verstärkerschaltungen zu erreichen.
Derartige Schutzvorrichtungen werden zusammen mit der
Schaltung, die das zu schützende Leistungselement aufweist,
integriert, so daß sie technisch einfach und
wirtschaftlich herstellbar sein müssen und vor allem
keine Nutzleistungsverluste verursachen dürfen, die die
dynamische Funktion des Leistungselements begrenzen.
Außerdem müssen sie eine hohe Zuverlässigkeit aufweisen,
um mit Sicherheit den Schutz zu gewährleisten.
Eine bekannte Schutzvorrichtung, die diesen Anforderungen
genügt, hat ein Schaltungsschema mit wenigstens einem
aktiven Element, das thermisch mit dem zu schützenden
Leistungselement gekoppelt ist. Dieses aktive Element ist
mit einem Steuerschaltungsmittel verbunden, das die integrierte
Schaltung, zu dem das Leistungselement gehört,
abschaltet, wenn das aktive Element einen gefährlichen
Temperaturwert erreicht, der auf eine übermäßige Leistungsdissipation
bzw. Verlustleistung bei Überspannung
oder Überstrom hinweist.
Wenn auch ein derartiger Schutz wirksam und zuverlässig
ist, so ist er doch ungünstig, wenn die anomalen Betriebsbedingungen
nur vorübergehend vorhanden sind, denn auf
jeden Fall bleibt die Vorrichtung ohne einen Eingriff von
außen abgeschaltet.
Aus diesem Grund werden, auch wenn sie schaltungstechnisch
komplizierter sind, häufiger Schutzvorrichtungen verwendet,
deren Ansprechschwelle nicht mit dem Wert der thermischen
Dissipation gekoppelt ist, sondern mit dem Wert der elektrischen
Größen Strom und Spannung des zu schützenden
Elements; aufgrund ihres Werts werden diese Größen in
geeigneter Weise geregelt, ohne die integrierte Schaltung
ausschalten zu müssen.
Derartige Schutzschaltungen haben im allgemeinen Schaltungsmittel
zum Erfassen und Verarbeiten des Werts des
durch das Leistungselement fließenden Stroms und der
an den Anschlüssen des Leistungselements auftretenden
Spannung, um oberhalb einer bestimmten Schwelle für diese
Werte eine Schwellenschaltung zu aktivieren, die die Größe
des Stroms in dem Leistungselement auf den der Schwelle
entsprechenden maximalen Wert reduziert, der von dem Wert
der Spannung an den Anschlüssen abhängt.
Fig. 1 zeigt das Schaltbild einer derartigen Schutzschaltung
(DE-OS 26 42 146), die normalerweise in monolithisch integrierten
Verstärkerschaltungen verwendet wird.
Die Schaltung schützt einen bipolaren NPN-Leistungsendstufentransistor
T₁, der zu einer in Fig. 1 nicht weiter
dargestellten, integrierten Schaltung gehört.
Der Emitter dieses Transistors ist mit dem Ausgangsanschluß
U zum Anschließen einer Last über einen elektrischen
Leiter verbunden, der einen genau bestimmten verteilten Widerstand
der Gesamtgröße R₁ hat, welcher physisch
beispielsweise durch einen Gold-"Faden" verwirklicht sein
kann, dessen Abmessungstoleranzen sehr eng sind.
Zur besseren Verdeutlichung ist der Gesamtwiderstand R₁
dieses Leiters in der Figur als ein konzentrierter Widerstand
dargestellt.
Der Kollektor des Transistors T₁ ist mit dem positiven
Pol +Vcc eines Speisespannungsgenerators verbunden, während
die Basis des Transistors mit dem Emitter eines zweiten
bipolaren NPN-Transistors T₂ verbunden ist, dessen
Kollektor ebenfalls an +Vcc angeschlossen ist.
Das in der Leistung zu verstärkende Stromsignal wird
einem Eingangsanschluß IN zugeführt, der mit der Basis
des Transistors T₂ verbunden ist, welcher T₁ steuert.
Der Emitter des Transistors T₁ ist über eine Diode D₁
auch mit der Basis eines bipolaren NPN-Transistors T₃
verbunden, dessen Emitter ebenfalls mit dem Ausgangsanschluß
U verbunden ist, und zwar über einen elektrischen
Leiter mit einem verteilten Widerstand R₂, dessen Gesamtwert
sehr klein ist und der in der Figur zur besseren
Darstellung als konzentrierter Widerstand eingezeichnet
ist.
Die Basis des Transistors T₃ ist über einen Vorspannwiderstand
R₃ an +Vcc angeschlossen.
Der Kollektor des Transistors T₃ ist mit der Basis eines
bipolaren PNP-Transistors T₅ verbunden, welche über eine
Konstantstromquelle A₁ außerdem an +Vcc angeschlossen ist.
Der Emitter und der Kollektor des Transistors T₅ sind an
den Eingangsanschluß IN bzw. an den negativen Pol -Vcc
des Speisespannungsgenerators angeschlossen.
Die Diode D₁, der Transistor T₃ und der Widerstand R₃
haben die Aufgabe, den Strom, der durch den Widerstand R₁
fließt, und die Spannung zwischen dem Kollektor und dem
Emitter des Leistungsendstufentransistors T₁ zu verarbeiten.
Jeder Anstieg der Spannung und des Ausgangsstroms des
Transistors T₁ erzeugt einen Anstieg des Basisstroms und
damit des Kollektorstroms des Transistors T₃.
Der Transistor T₅ und die Konstantstromquelle A₁ bilden
zusammen eine Schwellenschaltung; solange der Wert des
Kollektorstroms des Transistors T₃ geringer bleibt als
der Wert des von A₁ erzeugten Konstantstroms, ist der
Transistor T₅ gesperrt und wird das Stromsignal am Eingang
IN ohne Veränderungen verstärkt und zum Ausgang U
weitergeleitet; aber sobald aufgrund eines starken Anstiegs
der Spannung oder des Ausgangsstroms des Transistors
T₁ der Kollektorstrom des Transistors T₃ einen
größeren Wert erreicht als denjenigen des von A₁ erzeugten
Bezugsstroms, beginnt der Transistor T₅ zu leiten.
Dieser Transistor wird an der Basis durch den Strom gesteuert,
der sich aus der Differenz zwischen dem Bezugsstrom
und dem Kollektorstrom des Transistors T₃ ergibt,
so daß ein Teil des Signalstroms am Eingang IN vom
Transistor T₅ aufgenommen wird; damit verringert der
Transistor T₁, der ja an der Basis von einem niedrigeren
resultierenden Strom gesteuert wird, die Stärke seines
eigenen Leitens im Verhältnis zur Spannung an seinen
Anschlüssen bis auf den Wert, bei dem der Kollektorstrom
des Transistors T₃ auf den Grenzwert der Schwelle des von
A₁ erzeugten Stroms absinkt.
Auf diese Weise übersteigt der Ausgangsstrom in bezug auf
die Spannung an den Anschlüssen des Transistors T₁ nicht
den Maximalwert, der automatisch gesteuert wird und der
den Schutzeingriff bestimmt.
Die soeben beschriebene Schutzschaltung ist so aufgebaut,
daß das genannte Verhältnis zwischen dem Strom, der durch
den Leistungsendstufentransistor fließt, und der Spannung
an den Anschlüssen des Transistors, das von der Versorgungsspannung
und den Lastbedingungen abhängt, aufgrund
der Diode in der Schaltung für Verarbeitung der unter
der Steuerung stehenden Größen einen exponentiellen Verlauf
hat, was analytisch leicht festgestellt werden kann.
Durch geeignete Wahl der Werte der Komponenten der Schaltung
kann dieses Verhältnis in dem Kennlinienfeld des
Leistungstransistors als eine Kurve dargestellt werden,
die sich teilweise der Kurve der maximalen Verlustleistung
nähert, welche von diesem Transistor verkraftet werden
kann, und die sich teilweise der Kurve des zweiten Durchbruchs
("second breakdown") des Transistors nähert, wobei
sie jedoch an allen Stellen unter diesen Kurven bleibt.
Bekanntlich ist die Kurve der maximal zulässigen Verlustleistung
ein Hyperbelzweig, dessen Asymptoten die Koordinatenachsen
des Kennlinienfelds sind, d. h. eine Ortskurve der
Punkte, bei der
V · I = const.,
während die Kurve des zweiten Durchbruchs einen für jede
Leistungstransistorbauart typischen Verlauf hat.
Selbstverständlich kann ein Fachmann durch geeignete Ausbildung
der Schutzschaltung, von der lediglich ein Beispiel
angegeben worden ist, in dem Kennlinienfeld das
Verhältnis herstellen, das für die Bauart des Endtransistors
und den Anwendungsfall besser angepaßt ist.
Im Fall des Kurzschlusses am Ausgang ist die maximale
Spannung an den Anschlüssen des Leistungstransistors,
d. h. die Kollektor-Emitter-Vorspannung, unter Außerachtlassung
der vernachlässigbaren Spannungsabfälle an den
Widerstandselementen der Schaltung gleich der Speisespannung,
auch wenn die Spannung an den Anschlüssen des
Transistors bei induktiven Lasten während eines kurzen
Anfangsübergangs die Speisespannung überschreiten kann.
Deshalb ist nach diesem möglichen Übergangszustand die
maximale elektrische Leistung im Transistor gleich dem
Produkt aus der Speisespannung und dem in dem Transistor
bei dem Wert dieser Spannung von der Schutzschaltung
maximal erlaubten Strom.
Der Maximalwert des Stroms, der ohne Nachteile durch den
Leistungstransistor fließen kann und von dem die Dimensionierung
der Schutzschaltung abhängt, wird durch dessen
physikalische Eigenschaften bestimmt.
Im allgemeinen dimensionieren die Verwender der integrierten
Schaltungen mit Leistungselementen aus ökonomischen
Gründen die externen Wärmeableiter für die von
diesen Elementen erzeugte Wärme aufgrund von Anforderungen
normaler Betriebsbedingungen, weil kurze Perioden erhöhter
Verlustleistungswärme hingenommen werden können.
Jedoch besteht unter den Bedingungen eines längeren Kurzschlusses
die Gefahr sowohl der Beschädigung der integrierten
Schaltung als auch der Überhitzung und damit
eines möglichen Brands des umgebenden Materials aufgrund
der erzeugten Wärme, die nicht ordnungsgemäß nach außen
abgegeben worden ist.
Andererseits ist es ungünstig, den Maximalwert für den
Strom in dem Leistungselement durch Absenken der Schutzeingriffsschwelle
zu verringern, weil auf diese Weise die
dynamischen Leistungen der Schaltung unter normalen Betriebsbedingungen
unnötig begrenzt würden.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Schutzvorrichtung
für einen Leistungsendstufentransistor
zu schaffen, die im Vergleich zu den bekannten
Schutzvorrichtungen auch bei längeren Betriebszuständen
eines Überstroms und einer Überspannung dem geschützten
Element ohne jeden Nutzleistungsverlust eine höhere Zuverlässigkeit
sichert und eine sicherere Verwendung der
integrierten Schaltung erlaubt.
Diese Aufgabe wird bei der gattungsgemäßen Schutzvorrichtung
durch das Kennzeichen des Patentanspruchs gelöst.
Vorteilhafte Weiterbildungen ergeben sich aus den Unteransprüchen
und aus der nachfolgenden Beschreibung eines
Ausführungsbeispiels, das in der Zeichnung dargestellt
ist.
Es zeigt
Fig. 1 das Schaltungsschema der Schutzvorrichtung für
ein Leistungselement einer integrierten Schaltung
nach dem bereits beschriebenen Stand der
Technik, und
Fig. 2 das Schaltungsschema einer Schutzvorrichtung
gemäß der Erfindung.
In den Figuren werden für übereinstimmende Teile dieselben
Bezugszeichen verwendet.
Das Schaltungsschema der Fig. 2 weist einen bipolaren
NPN-Transistor T₁ auf, der das Endleistungselement einer
monolithisch integrierten Verstärkerschaltung bildet und
an dessen Basis der Emitter eines zweiten bipolaren NPN-
Transistors T₂ angeschlossen ist.
Die Basis des Transistors T₂ ist an einen Eingangsanschluß
IN für das Stromsignal angeschlossen, das zur Basis
des Transistors T₁ geleitet wird, um diesen in den leitenden
Zustand zu steueren; der Kollektor von T₂ ist an den
positiven Pol +Vcc einer Versorgungsspannungsquelle angeschlossen.
Der Kollektor des Transistors T₁ ist an die Anode einer
Diode D₁ und über einen Widerstand R₁ an +Vcc angeschlossen;
der Emitter ist an einen Ausgangsanschluß U, mit dem
eine äußere Last verbunden werden kann, und über einen
Widerstand R₂ an die Anode einer Zener-Diode DZ angeschlossen.
Die Kathode der Diode D₁ sowie die Kathode der Zener-
Diode DZ sind beide an die Basis eines dritten bipolaren
PNP-Transistors T₃ sowie an den Kollektor eines vierten
bipolaren NPN-Transistors T₄ angeschlossen.
Die Basis des Transistors T₄ ist mit einer Spannungsreferenz
VR verbunden (deren Besonderheit darin liegt, daß
sie doppelt so groß ist wie die normale Basis-Emitter-
Spannung eines NPN-Transistors), während der Emitter über
zwei in Reihe geschaltete Widerstände R₃ und R₄ an den
negativen Pol -Vcc der Versorgungsspannungsquelle angeschlossen
ist.
Der Emitter des Transistors T₃ ist an +Vcc angeschlossen,
während sein Kollektor über eine Kostantstromquelle A₁
mit -Vcc und über einen Widerstand R₅ mit der Basis eines
fünften NPN-Transistors T₅ sowie über einen Widerstand R₆
mit der Basis eines sechsten NPN-Transistors T₆ verbunden
ist.
Der Emitter und der Kollektor des Transistors T₅ sind an
-Vcc bzw. an den Eingangsanschluß IN angeschlossen. Der
Emitter und der Kollektor des Transistors T₆ sind mit
-Vcc bzw. dem Verbindungspunkt zwischen den beiden in
Reihe geschalteten Widerständen R₃ und R₄ verbunden.
Nachstehend soll die Funktion der Schaltung gemäß Fig. 2
im einzelnen untersucht werden.
Der Strom im Widerstand R₁ ist gleich der Summe aus dem
Strom ID, der durch die Diode D₁ fließt, und aus dem
Kollektorstrom IC des Leistungsendtransistors T₁. Bei
Werten für die Kollektor-Emitter-Spannung VCE1 von T₁,
die nicht ausreichend groß sind, um das Leiten der Zener-
Diode DZ zu erlauben, ist der Strom ID gleich dem Kollektorstrom
des Transistors T₄, wobei der vernachlässigbare
Basisstrom des Transistors T₃ unberücksichtigt ist.
Da die Basis des Transistors T₄ auf einem bezüglich -Vcc
festen Potential gehalten wird, das doppelt so groß ist
wie die Basis-Emitter-Spannung VBE eines normalen NPN-
Transistors, ergibt sich:
Für Werte der Kollektor-Emitter-Spannung von T₁, die ein
Leiten der Diode DZ gestatten, ergibt sich jedoch ohne
Berücksichtigung des vernachlässigbaren Basisstroms von
T₃:
wobei VD und VZ die Spannungen über dem Halbleiterübergang
der Diode D₁ bzw. der Diode DZ bezeichnen.
Zwischen dem Kollektorstrom I₃ des Transistors T₃ und dem
Kollektorstrom ID, der in die Diode D₁ fließt, die durch
Verbinden von Kollektor und Basis eines normalen Transistors
erhalten worden ist, besteht die folgende Beziehung:
wobei VBE₃ die Basis-Emitter-Spannung des Transistors T₃
und A₃ sowie AD die Emitterflächen des Transistors T₃ bzw.
des Transistors, dessen Basis mit seinem Kollektor kurzgeschlossen
ist und der nach den üblichen Integrationstechniken
die Diode D₁ bildet, bedeuten.
K ist die Boltzmann-Konstante, T ist die absolute Temperatur
der Halbleiterübergänge, und q ist die Ladung des
Elektrons.
Da
VBE₃ - VD = VR₁ = R₁ · IC + R₁ · ID,
ergibt sich, daß Zunahmen des Stroms IC im Leistungselement
T₁ gemäß der vorstehenden Beziehung (3) entsprechende
Anstiege des Kollektorstroms I₃ des Transistors T₃ bestimmen,
wobei nach den Beziehungen (1) und (2) jedoch auch
eine Abhängigkeit vom Spannungspegel VCE₁ an den Anschlüssen
dieses Elements besteht.
Solange der Wert des Stroms I₃ nicht denjenigen des vom
Generator A₁ aufgeprägten Stroms IT überschreitet, können
die Transistoren T₅ und T₆ nicht leiten, da sie an
der Basis keine Versorgung haben.
Die Transistoren T₅ und T₆ sowie deren Basiswiderstände
R₅ und R₆ sind so dimensioniert, daß unmittelbar, nachdem
der Wert von I₃ größer als derjenige von IT geworden ist,
der Transistor T₆ als erster sofort im Sättigungszustand
zu leiten beginnt, unmittelbar gefolgt vom Transistor T₅,
der jedoch beim Leiten in der aktiven Zone seines Funktionsfelds
bleibt.
Da ein gesättigter Transistor praktisch einen Kurzschluß
zwischen Kollektor und Emitter darstellt, ist der Widerstand
R₄ an seinen Anschlüssen kurzgeschlossen, so daß die
möglichen Stromwerte ID für solche Werte der Spannung VCE₁,
bei denen die Zener-Diode abgeschaltet bleibt, bzw. für
Werte der Spannung VCE₁, die ein Leiten gestatten, auf die
folgenden Werte ansteigen:
Der resultierende Stromanstieg wird damit durch die Größe
des Widerstands R₄, der in geeigneter Weise dimensioniert
werden kann, bestimmt. Er erzeugt einen Anstieg des
Spannungsabfalls am Widerstand R₁, weshalb wegen
auch der Kollektorstrom I₃ des Transistors T₃ um einen
vorbestimmten Wert ansteigt.
Damit wird der Transistor T₅, der unmittelbar nach dem
Transistor T₆ zu leiten beginnt, wenn I₃ die "Stromschwelle"
IT überschreitet, sofort auf einen hohen Wert
des Leitens gesteuert, da I₃ schlagartig über den Wert
des Schwellenstroms umgeschaltet wird.
Der Transistor T₅, dessen Kollektor mit dem Eingang IN
verbunden ist, nimmt in diesem Fall einen erheblichen
Teil des Signalstroms am Eingang auf. Deshalb ist der
resultierende Steuerstrom, der über den Transistor T₂
das Leiten von T₁ steuert, bei gleichbleibendem Pegel
der Schutzeingriffsschwelle kleiner als derjenige in der
zuvor beschriebenen, bekannten Schutzschaltung, weshalb
auch der Stromwert im Leistungselement nach dem Schutzeingriff
entsprechend kleiner ist.
Ohne jeden Nutzleistungsverlust bei normalen Betriebsbedingungen
bleibt im Fall von Überstromzuständen im
Leistungselement aufgrund einer beliebigen Ursache die
Größe dieses Stroms nicht fest auf einem Maximalwert,
der gleich demjenigen ist, welcher den Schutzeingriff
bestimmt und der von der Höhe der Spannung an den Anschlüssen
dieses Elements abhängt, sondern der Strom
sinkt auf einen Wert, der um eine vorbestimmte Größe
kleiner ist als dieser Maximalwert.
Die mathematische Beziehung zwischen dem Wert der Spannung
VCE₁ an den Anschlüssen des Leistungselements T₁, welche
durch die Last, die Versorgungsspannung und die Spannungsabfälle
an den Widerstandselementen der Schaltung, die in
Reihe mit dem Leistungselement geschaltet sind, aufgeprägt
wird, und dem Wert des Maximalstroms, der bei einer
solchen Spannung in das Leistungselement fließen kann,
wenn dieses durch die beschriebene Schutzvorrichtung geschützt
ist, kann leicht durch die Beziehungen (1), (2), (3)
und (4) erhalten werden, wobei dann zu berücksichtigen ist,
daß die Schaltung so dimensioniert ist, daß der Strom ID
im Vergleich mit IC immer vernachlässigbar ist, und daß
daher VR₁≅R₁IC ist.
Da der Schutz nur für Werte von I₃ eintritt, die größer
sind als der Schwellenstrom IT, fließt im Transistor T₁
der Maximalstrom, wenn I₃=IT ist.
Damit ist die Beziehung zwischen Spannung und resultierendem
Maximalstrom:
für VCE₁ < VD + VZ, und
für VCE₁VD+VZ, wobei der Wert des Maximalstroms mit
Zunahme der Spannung VCE₁ logarithmisch abnimmt. Wenn
aus einem beliebigen Grund, beispielsweise bei Kurzschluß,
der Strom IC dazu neigt, diese Maximalwerte zu überschreiten,
überschreitet der Wert von I₃ den Wert der Schwelle
IT, wodurch der Schutz eingreift, der über die gesamte
Zeit, in der der Grund für den Überstrom besteht, IC auf
einem geringeren Wert hält als den Maximalwert, d. h.
auf dem Wert
für VCE₁ < VD + VZ, und auf dem Wert
für VCE₁ VD + VZ.
Im Kennlinienfeld des Leistungsendstufentransistors können
die beiden obigen Beziehungen (5) und (6) zwischen den
möglichen Werten für die Kollektor-Emitter-Spannung und
den entsprechenden maximalen Stromwerten mit einer einzigen
Kurve dargestellt werden, die sich ebenfalls an die
"Kurve der maximalen Verlustleistung" annähert und aufgrund
der bereits ein wirksamer Schutz gesichert wäre,
der bei Überspannungs- oder Überstrombedingungen während
nicht zu langer Zeiträume wenigstens gleich dem Schutz
ist, der von den bekannten Schutzvorrichtungen gewährleistet
wird.
Es ist jedoch eine Eigenschaft der Schutzvorrichtung gemäß
der Erfindung, daß die Möglichkeit besteht, den Endstufentransistor,
sobald dessen Leistungsbedingungen den
Schutz aktiviert haben, nach einer Kurve betreiben zu
lassen, die sich aus den mathematischen Beziehungen (7)
und (8) ergibt und im Kennlinienfeld etwa parallel zu der
zuvor genannten verläuft, jedoch weiter innen bezüglich
der "Kurve maximal zulässiger Verlustleistung", so daß
sogar zeitlich unbegrenzte Kurzschlußbedingungen mit
externen Wärmeableitern, die nur für einen normalen Betrieb
dimensioniert sind, ohne jeden Schaden sicher ertragen
werden können.
Wie die obigen Ausführungen zeigen, hat eine Schutzvorrichtung
gemäß der Erfindung außer den Schaltungsmitteln
zur Erfassung und Verarbeitung der elektrischen Größen
bezüglich des zu schützenden Leistungselements und der
Schwellenschaltung für die Aktivierung des Schutzes nur
für den Fall, daß das von diesen Schaltungsmitteln gelieferte
Meßsignal einen vorbestimmten Wert erreicht,
auch Schaltungsmittel zur Verfügung, die in der Lage sind,
dieses Meßsignal zu verstärken, sobald es den Schwellenwert
erreicht hat. Auf diese Weise bleibt über die gesamte
Zeit, während der die anomalen Bedingungen bestehen,
der Strom im Leistungselement auf einem konstanten Wert,
der um einen vorbestimmten Wert kleiner ist als die Größe
des Stroms, der den Schutz aktiviert hat.
Obwohl lediglich ein Ausführungsbeispiel der Erfindung
beschrieben und dargestellt worden ist, sind zahlreiche
Abänderungen möglich.
So kann beispielsweise eine Schutzvorrichtung
gemäß der Erfindung außer den Schaltungsmitteln zum Verstärken
des Meßsignals oder statt dieser Schaltungsmittel
Schaltungsmittel aufweisen, die geeignet sind, den vorbestimmten
Schwellenwert abzusenken, sobald das Meßsignal
diesen erreicht.
Claims (1)
- Schutzvorrichtung für einen Leistungsendstufentransistor (T₁), der zu einer monolithisch integrierten Verstärkerschaltung gehört und von einem ersten Leitfähigkeitstyp ist, dessen Basis mit dem Kollektor eines Steuertransistors (T₂) verbunden ist, an dessen Basis das zu verstärkende Signal anliegt, mit einer Diode (D₁), deren Kathode mit dem Kollektor des Leistungsendstufentransistors (T₁) und deren Anode über einen ersten Widerstand (R₁) mit einem ersten Pol (+Vcc) einer Speisespannungsquelle verbunden ist, mit einer Zener-Diode (DZ), deren Anode über einen zweiten Widerstand (R₂) an den Emitter des Leistungsendstufentransistors (T₁) angeschlossen ist, der einen Ausgangsanschluß (U) der Verstärkerschaltung darstellt, sowie einen dritten Transistor (T₃) und einen vierten Transistor (T₄) aufweist, die beide von einem zum ersten Leitfähigkeitstyp entgegengesetzten, zweiten Leitfähigkeitstyp sind, wobei die Basis des dritten Transistors (T₃) und der Kollektor des vierten Transistors (T₄) beide mit der Kathode der Diode (D₁) und der Kathode der Zener-Diode (DZ) verbunden sind und der Emitter und der Kollektor des dritten Transistors (T₃) mit dem ersten Pol (+Vcc) der Speisespannungsquelle verbunden ist bzw. mit dem Kollektor des vierten Transistors (T₄) und die Basis des vierten Transistors (T₄) an eine Konstantspannungsreferenz (VR) angeschlossen ist, und wobei die Schwellenschaltung einen fünften Transistor (T₅) vom ersten Leitfähigkeitstyp hat, wobei ferner eines Konstantstromquelle (A₁) vorgesehen ist und der Kollektor des dritten Transistors (T₃) über die Konstantstromquelle (A₁) an den zweiten Pol (-Vcc) der Speisespannungsquelle sowie über einen vierten Widerstand (R₅) an die Basis des fünften Transistors (T₅) angeschlossen ist, dessen Emitter und Kollektor an den zweiten Pol (-Vcc) der Speisespannungsquelle bzw. an den Eingangsanschluß (IN) angeschlossen ist, dadurch gekennzeichnet, daß das Schaltungsmittel zum Verstärken des Meßsignals einen sechsten Transistor (T₆) vom ersten Leitfähigkeitstyp hat, dessen Basis über einen fünften Widerstand (R₆) mit dem Kollektor des dritten Transistors (T₃) und dessen Emitter mit dem zweiten Pol (-Vcc) der Speisespannungsquelle verbunden ist, und daß ein Widerstandselement, über welches der Kollektor des vierten Transistors (T₄) mit dem zweiten Pol (-Vcc) der Speisespannungsquelle verbunden ist, aus zwei Widerständen (R₃, R₄) besteht, die in Reihe miteinander verbunden sind und deren Verbindungspunkt mit dem Kollektor des sechsten Transistors (T₆) verbunden ist.
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US4691262A (en) * | 1985-04-03 | 1987-09-01 | Sprague Electric Company | Circuit for protecting a power transistor against a short-circuited load |
US4667265A (en) * | 1985-12-20 | 1987-05-19 | National Semiconductor Corporation | Adaptive thermal shutdown circuit |
US4945445A (en) * | 1988-09-29 | 1990-07-31 | Gentron Corporation | Current sense circuit |
US5485341A (en) * | 1992-09-21 | 1996-01-16 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Power transistor overcurrent protection circuit |
EP0590221B1 (de) * | 1992-09-30 | 1997-12-29 | STMicroelectronics S.r.l. | Strommessanordnung zum Testen von integrierten Schaltungen |
US5272392A (en) * | 1992-12-04 | 1993-12-21 | North American Philips Corporation | Current limited power semiconductor device |
NZ260129A (en) * | 1993-04-08 | 1996-08-27 | Alcatel Australia | Controlling power dissipation in telephone semiconductor line switch |
DE69522454D1 (de) | 1995-10-31 | 2001-10-04 | St Microelectronics Srl | Sofortleistungsverlustmesser in einem Leistungstransistor |
US6487507B1 (en) * | 1999-10-15 | 2002-11-26 | Micro Motion, Inc. | Remote signal conditioner for a Coriolis flowmeter |
US8558553B2 (en) * | 2008-12-16 | 2013-10-15 | Infineon Technologies Austria Ag | Methods and apparatus for selecting settings for circuits |
US10785016B2 (en) | 2018-07-25 | 2020-09-22 | Silicon Laboratories, Inc. | Countermeasure for power injection security attack |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3866136A (en) * | 1973-04-23 | 1975-02-11 | Motorola Inc | Amplifier protection circuit |
FR2320635A1 (fr) * | 1975-08-05 | 1977-03-04 | Thomson Csf | Dispositif de protection pour transistor, notamment pour transistor de circuit integre monolithique, et transistor pourvu d'un tel dispositif |
IT1049596B (it) * | 1975-09-18 | 1981-02-10 | Ates Componenti Elettron | Dispositivo di protezione per un elemento di potenza di un circuito integrato |
US4021701A (en) * | 1975-12-08 | 1977-05-03 | Motorola, Inc. | Transistor protection circuit |
DE2637270C2 (de) * | 1976-08-19 | 1978-05-03 | Standard Elektrik Lorenz Ag, 7000 Stuttgart | Überlastungsschutzeinrichtung |
JPS55144411U (de) * | 1979-04-05 | 1980-10-16 | ||
JPS5656208U (de) * | 1979-10-03 | 1981-05-15 |
-
1983
- 1983-01-31 IT IT8319341A patent/IT1212808B/it active
-
1984
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IT8319341A0 (it) | 1983-01-31 |
GB2136232A (en) | 1984-09-12 |
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FR2540304A1 (fr) | 1984-08-03 |
GB2136232B (en) | 1986-04-30 |
US4623950A (en) | 1986-11-18 |
JPS59144208A (ja) | 1984-08-18 |
GB8402499D0 (en) | 1984-03-07 |
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