DE336308T1 - Verfahren und vorrichtung fuer die automatische frequenzregelung von halbleiterlasern. - Google Patents
Verfahren und vorrichtung fuer die automatische frequenzregelung von halbleiterlasern.Info
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Claims (7)
1. Verfahren zur .automatischen Frequenzregelung eines
Halbleiterlasers (1), bei dem man eine Spektralanalyse der vom Laser (1) emittierten Lichtsignale durchführt, die für das Spektrum
repräsentativen Signale in elektrische Signale umwandelt, das Differential (die Ableitung) dieser elektrischen Signale bildet,
ein Fehlersignal aus dem Differential erhält und es zu einer den Laser (1) speisenden Einrichtung gibt, dadurch gekennzeichnet, daß
man die Spektralanalyse mit einem periodischen Spannungsrampensignal steuert, und daß man: den Nulldurchgang des Differentials
während einer Rampenperiode feststellt, wobei dieser Nulldurchgang die tatsächliche Emissionsfrequenz des Lasers (1) identifziert; das
Rampensignal in Übereinstimmung mit dem Nulldurchgang des Differentials
abtastet; und den erhaltenen Abtastwert algebraisch zu einem Bezugssignal addiert, das von der Emissions-Nennfrequenz des Lasers
(1) abhängt, wobei das aus der algebraischen Addition resultierende Signal das Fehlersignal darstellt.
2. Verfahren zur automatischen Frequenzregelung einer Lichtsignalquelle mit einer Mehrzahl von Halbleiterlasern (la...
In), deren Emissionen frequenzmultiplext sind, bei dem man eine
Spektralanalyse der von der Lichtsignalquelle emittierten Lichtsignale durchführt, die für das Spektrum repräsentativen Signale in
elektrische Signale umwandelt, das Differential (die Ableitung) dieser elektrischen Signale bildet, ein Fehlersignal für jeden
Laser aus dem Differential erhält und es zu einer den betreffenden
Laser (la...In) speisenden Einrichtung gibt, dadurch gekennzeichnet,
daß man die Spektralanalyse mit einem periodischen Spannungsrampensignal steuert, und daß man: die Nulldurchgänge des Differentials
während einer Rampenperiode feststellt, wobei diese Nulldurchgänge jeweils die tatsächliche Emissionsfrequenz eines der
Laser (la...In) identifzieren; das Rampensignal in Übereinstimmung
mit jedem Nulldurchgang des Differentials abtastet; und jeden .erhaltenen Abtastwert algebraisch zu einem jeweiligen Bezugssignal
addiert, das von der Emissions-Nennfrequenz des betreffenden Lasers
(la, ..., in) abhängt, wobei die aus den algebraischen Additionen resultierenden Signale die Fehlersignale darstellen.
3. Vorrichtung zur automatischen Frequenzregelung eines
Halbleiterlasers (1), mit einer Einrichtung (6, 10, 11) für die Spektralanalyse der vom Laser emittierten Signale, einem Fotodetektor
(12), der die von der Einrichtung (6, 10, 11) zur Spektralanalyse ausgehenden Signale in elektrische Signale umwandelt, einer
Einrichtung (14), die das Differential dieser elektrischen Signale berechnet, und einer Einrichtung (15, 16, 17, 18, 19), die dieses
Differential zu einem Fehlersignal verarbeitet, das zu einer den Laser speisenden Einrichtung (3) gegeben wird, dadurch gekennzeichnet,
daß: die Einrichtung (6, 10, 11) zur Spektralanalyse von einem Spannungsrampensignalgenerator (11) gesteuert ist; die das
Differential berechnende Einrichtung (14) aus einer Differenzierschaltung besteht; und die das Fehlersignal ergebende Einrichtung
(15, 16, 17, 18, 19) eine Schaltung (15) zum Bestimmen des Nulldurchgangs des Differentialsignals in einer Periode des
Rampensignals, einen Impulsgenerator (16), der einen Impuls in Übereinstimmung mit der Feststellung des Nulldurchgangs des
Differentials erzeugt, einen vom Impulsgenerator gesteuerten Abtaster (17) zum Abtasten des Rampensignals in Übereinstimmung
mit dem Nulldurchgang des Differentials und eine Einrichtung (19)
zum algebraischen Addieren des Abtastwerts des Rampensignals und eines Bezugssignals (VR), das von der Emissions-Nennfrequenz des
Lasers abhängt, umfaßt, wobei das von der Einrichtung (19) zum
Addieren ausgehende Signal das Fehlersignal darstellt.
4. Vorrichtung zur automatischen Frequenzregelung einer Lichtsignalquelle mit einer Mehrzahl von Halbleiterlasern
(la...In), deren Emissionen frequenzmultipiext sind, mit einer
Einrichtung (6, 10, 11) für die Spektralanalyse der von der Quelle emittierten Signale, einem Fotodetektor (12), der die von der
Einrichtung (6, 10, 11) zur Spektralanalyse ausgehenden Signale in elektrische Signale umwandelt, einer Einrichtung (14), die das
Differential dieser elektrischen Signale berechnet; und einer Einrichtung (15, 16, 21, 22, 17a...17n, 18a...18n, 19a...19n), die
dieses Differential zu einem Fehlersignal für jeden Laser (la,...,In) verarbeitet, worauf diese Fehlersignale zu jeweiligen
Laserspeiseeinrichtungen (3a, 3b...3n) gegeben werden, dadurch gekennzeichnet, daß: die Einrichtung (6, 10, 11) zur Spektralanalyse
von einem Spannungsrampensignalgenerator (11) gesteuert ist; die das Differential berechnende Einrichtung (14) aus einer Differenzierschaltung
besteht; und die das Fehlersignal ergebende Einrichtung (15, 16, 21, 22, 17a...17n, 18a...18n, 19a...19n) eine
Schaltung (15) zum Bestimmen der Nulldurchgänge des Differentialsignals in einer Periode des Rampensignals, wobei diese Nulldurchgänge
jeweils die tatsächliche Emissionsfrequenz eines der Laser (la...In) identifizieren, einen Impulsgenerator (16), der einen
Impuls in Übereinstimmung mit der Feststellung jedes Nulldurchgangs des Differentials erzeugt, wobei jeder Impuls sich auf einen der
Laser bezieht, eine Mehrzahl von jeweils einem der Laser zugeordneten Abtastern (17a...l7n) zum Abtasten des Rampensignals in
Übereinstimmung mit dem auf den zugeordneten Laser bezogenen Nulldurchgang des Differentials und eine Mehrzahl von jeweils mit
einem der Abtaster (17a...l7n) verbundenen Addierschaltungen (19a ...19n) zum algebraischen Addieren der Abtastwerte des Rampensignals
und eines jeweiligen Bezugssignals (VRa.. .VRn) in Abhängigkeit von der Emissions-Nennfrequenz des zugeordneten Lasers umfaßt,
wobei das von jeder der Addierschaltungen (19a...l9n) ausgehende Signal das Fehlersignal für den zugeordneten Laser darstellt.
5. Vorrichtung nach Anspruch 4, gekennzeichnet durch eine
zwischen dem Impulsgenerator (16) und den Abtastern (17a...17n)
eingeschaltete Einrichtung (21, 22) zum Senden der vom Impulsgenerator (16) abgegebenen einzelnen Impulse zum demjenigen Laser
(la...In), auf den sich der Impuls bezieht, zugeordneten Abtaster (17a...17&eegr;).
6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 3 bis 5, dadurch
gekennzeichnet, daß der Rampensignalgenerator (11) eine Abtastung der Einrichtung zur Spektralanalyse gleich dem freien Spektralbereich
dieser Einrichtung bewirkt.
7. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 3 bis 6, dadurch
gekennzeichnet, daß die Abtaster Tast- und Halteschaltungen (17; 17a...17n) sind.
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