DE3348056C2 - - Google Patents

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DE3348056C2 DE3348056A DE3348056A DE3348056C2 DE 3348056 C2 DE3348056 C2 DE 3348056C2 DE 3348056 A DE3348056 A DE 3348056A DE 3348056 A DE3348056 A DE 3348056A DE 3348056 C2 DE3348056 C2 DE 3348056C2
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DE3348056A
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Inventor
Mishio Saitama Jp Hayashi
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Advantest Corp
Original Assignee
Takeda Riken Industries Co Ltd
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Priority claimed from JP17690182A external-priority patent/JPS5965265A/ja
Priority claimed from DE3300635A external-priority patent/DE3300635C2/de
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Application filed by Takeda Riken Industries Co Ltd filed Critical Takeda Riken Industries Co Ltd
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R25/00—Arrangements for measuring phase angle between a voltage and a current or between voltages or currents
DE3348056A 1982-10-06 1983-10-06 Expired DE3348056C2 (un)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17690182A JPS5965265A (ja) 1982-10-06 1982-10-06 位相測定装置
DE3300635A DE3300635C2 (de) 1983-01-11 1983-01-11 Zentrische Absperrklappe
JP2605183A JPS59151066A (ja) 1983-02-17 1983-02-17 位相測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE3348056C2 true DE3348056C2 (un) 1987-10-29

Family

ID=27190676

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DE3348056A Expired DE3348056C2 (un) 1982-10-06 1983-10-06

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DE (1) DE3348056C2 (un)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4435905A1 (de) * 1994-10-07 1996-04-11 Werner Hachmann Phasenvergleicher
DE19604968A1 (de) * 1996-02-02 1997-08-07 Christian Moderow Verfahren zum Prüfen von inkrementalen Meßsystemen und Prüfgerät zur Durchführung des Verfahrens

Cited By (3)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4435905A1 (de) * 1994-10-07 1996-04-11 Werner Hachmann Phasenvergleicher
DE19604968A1 (de) * 1996-02-02 1997-08-07 Christian Moderow Verfahren zum Prüfen von inkrementalen Meßsystemen und Prüfgerät zur Durchführung des Verfahrens
DE19604968C2 (de) * 1996-02-02 1999-08-12 Christian Moderow Verfahren zum Prüfen von inkrementalen Meßsystemen und Prüfgerät zur Durchführung des Verfahrens

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