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Beschreibunli
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Potential elektroden zur Potentialsteuerur Isolationsüberwachung und
zum Isolationsschutz von von optisch transparenten Isolationen in elektronischen
Bauteilen und B etriebsmitteln Die Erfindung betrifft Potentialelektrbden zur Potentialsteuerung,
zur Isolationsüberwachung und zum Isolationsschutz von optisch transparenten Isolatoren
in elektronischen Bauelementen und Betriebsmitteln.
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Optisch isolierte Verstärker, optisch isolierte Festkörperrelais,
optisch isolierte Halbleiterrelais und Solid-State-Relais, optisch isolierte Schaltergeräte
nach VDE 660 Entwurf 109, optisch isolierte Input-Output-Module, Optokoppler, Leistungsoptokoppler,
Hochspannungsoptokoppler Hybridoptokoppler, Höchstspannungsoptokopplerf optische
Koppelelemente nach VDE 0883 als auch Optokoppler und Vilfachoptokoppler und Halbleiterrelais
nach relevanten Spezifikationen von Betriebsmittelvorschriften, wie besonders VDE
700, VDE 0720, VDE 0730, VDE 0750, VDE 0804, VDE 0805, VDE 0806 und VDE 0860 sowie
einschlie8-lich die Stapelung aller genannten Bauelemente zu optisch isolierten
und parallelen und seriellen Leistungsschnittstellen als elektronisches Leistungsinterface-Betriebsmittel
als auch deren verkleinerter Aufbau auf Schichtschaltungen, Hybridschaltungen und
deren Integration auf einem gemeinsamen Halbleitersubstrat sowie Optokoppler und
Vielfachoptokoppier mit einem gemeinsamen Halbleitersubstrat beriutzer zur elektrischen
Trennung von Stromkreisen unterschiedlichen Potentiales einen optisch strahlungsdurchlässigen
Isolator.
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Die Informationsübertragung erfolgt mit optischer Strahlung durch
den optischen Isolator. Auf der einen Seite des Isolators ist ein optischer Sender,
der elektrische Signale in optische Signale unwandelt, angeordnet. Auf der anderen
Seite des Isolators ist ein optischer Detektor, der die auffallende Strahlung in
elektrische Signale umwandelt, angeordnet.
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Nachfolgend werden alle aufgezählten optisch isolierenden Bauelemente
und Betriebemittel kurz als Optokoppler bezeichnet.
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Optokoppler weisen zur sicheren elektrischen Trennung eine doppelte,
vorwiegend eine verstärkte Isolierung auf. Im Isolationsfehlerfall kann direkt ein
Durchschlag oder Überschlag zwischen Sender und Empfänger auftreten. Isolationsüberwachungen
auf der Hochspannungsseite erfordern einen sehr aufwendigen und kostenintensiven
Ankopplungsvierpol. Kostengünstigere Ausführungen mit Basisisolierung, besonders
bei Schutzklasse I - Anwendungen von kleiner 1000V bis zum Ende des Mittelspannungsbereiches
von ca. 35 KV, sind sicherheitstechnisch unzulässig, da ein Schutzleiteranschluß
fehlt.
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Die Gefährdung durch gefährliche Kriech- Leck- und Körperströme und
gefährliche Körperspannungen sowie Isolationsüberschläge und Isolationsdurchschläge
wäre erheblich geringer, wenn sie nicht zwischen Sender und Empfänger vorhanden
wäre, sondern wenn sie nur zwischen Sender und Schutzleiter oder nur zwischen Empfänger
und Schutzleiter vorhanden wäre. Hierbei muß die gesamte Ladung über den Schutzleiter
abführbar sein. Die Gefährdung wäre aber noch erheblich geringer, wenn die Entstehung
von Isolationsüberschlägen und Isolationsdurchschlägen frühzeitig erkannt würde.
Eine weitere Gefährdungsminderung würde eintreten, wenn die dominierenden Ursachen
der Isolationsminderung in neuen Konstruktionen optischer Isolationssysteme elliminiert
würden.
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Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die wesentlichen Ursachen
von Isolationsminderungen in Optokopplern zu analysieren und neue optische Isolationssysteme
mit geringer oder sehr geringer Isolationsminderung zu entwickeln.
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Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, eine Analyse der
bestehenden Isolationstechnologien mit den Grundlagen des elektrischen Feldes bis
hin zu neuesten physikalischen Meßmethoden für elektronische Bauelemente durchzuführen,
um bessere optische Isolationsprinzipien und Konstruktionen zu finden. In der Literatur
konnten keine Grundlagenuntersuchungen über elektrische Felder in Optokopplern ausfindig
gemacht werden. Ebenso konnten keine Literaturstellen über Teilentladungsmessungen
an Optokopplern gefunden werden.
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Analyse der Isolationstechnologien in Optokopplern Hierunter sind
alle optischen Isolatoren, optische Koppelelemente, optisch isolierende Halbleiterrelais,
Input-Output-Module, Vielfachkoppler, optische Leistungskoppler, optische Höchstspannungskoppler
und optische Isolierverstärker, optisch isolierende serielle und parallele Leistungsschnittstelle-Bauelemente-
oder Betriebsmittel eingeschlossen.
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Beim direkten Strahlungsprinzip steht der optische Sender dem optischen
Detektor oder Empfänger direkt gegenüber, sodaß die Senderstrahlung durch das dazwischenliegende
elektrisch isolierende Medium strahlt und direkt auf die strahlungsempfindliche
Fläche des optischen Detektors fällt.
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Beim indirekten Strahlungsprinzip fällt die Senderstrahlung nur über
den Umweg eines besonderen reflektierenden und elektrisch isolierenden Systems auf
die strahlungsempfindliche Fläche des optischen Detektors.
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Beim direkten als auch beim indirekten Strahlungsprinzip existiert
immer ein optischer Sender S, ein für die verwendete optische Strahlungswellenlänge
durchlässiges und/oder reflektierendes und elektrisch isolierendes System I sowie
ein optischer Detektor D, siehe Bild 1.
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Optokopplerisolationen Liegt zwischen Sender und Empfänger eine Isolationsspannung,
so erhält man ein elektrisches Feld nach.Bild 2.
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In der Praxis existieren aber nicht solche idealen elektrischen Feldverhältnisse.
Durch ungünstige Leiterformung steigt die Feldstärke an diesen Stellen mit kleiner
werdenden Radien enorm an. Mehrere Isolationsmedien oder Isolationsmaterialien befinden
sich im elektrischen Feld, die entsprechend mit der Kraft des elektrischen Feldes
an diesen Stellen beansprucht werden: Kraft Vektor = Feldstärke Vektor . Ladung
Die
sich berührenden Isolationsmaterialien werden an ihren Grenzflächen desto höher
belastet, je höher der Unterschied der Dielektrizitätskonstanten beider Materialien
ist.
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Dieser Epsilonsprung besagt, daß die Kraftlinien beim Eintritt in
einen Stoff mit größerer Dielektrizitätskonstante £ vom Grenzflächenlot weggebrochen
werden und sich beim Eintritt in einen Stoff mit kleinerer Dielektrizitätskonstante
dem Lot nähern.
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Tangens Alfa 1 Epsilon 1 Tangens Alfa 2 Epsilon 2 Die Grenzschichten
können Staubpartikelchen oder Gase oder leitfähige Teilchen aufweisen. Inhomogene
Isolationsmaterialien enthalten ebenfalls Epsilonsprünge. Hierbei werden sehr große
Epsilonsprünge durch Gas-, Luft-, Schmutz-, Metallspäne - oder leitfähigen Staub-
Einschlüsse erzeugt.
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Das Bild 3 zeigt die Kraftwirkungen auf Störstellen im Dielektrikum
im inhomogenen elektrostatischen Feld. Hierbei steht ED für elektrischer Dipol.
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Das Bild 3 a zeigt die Kraftlinienauswirkungen auf eine Gasblase G
im dielektrischen Medium im inhomogenen elektrischen Feld, die sich wie der Dipol
im Feld einer punktförmigen Ladung verhält.
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Das Bild 3 b zeigt die Kraftlinienauswirkungen auf eine dielektrische
Kugel im inhomogenen elektrischen Feld, die sich ebenfalls wie der Dipol im Feld
einer punktförmigen Ladung verhält.
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Das Bild 3 c zeigt influenzierte Ladungen auf einen ungeladenen Metallspan
M im elektrischen Feld mit der geänderten Kraftlinienauswirkung.
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Das Bild 4 zeigt das inhomogene elektrische Feld eines Optokopplers
mit verschiedenen Störstellen in den Isolationen. G sind hier Gaseinschlüsse zwischen
Isolationsgrenzschichten und M ein Metallspan.
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Durch eine potentialgesteuerte Isolation im Bild 5 gemäß Patentanspruch
1 wird die inhomogene Feldverteilung wesentlich verbessert.
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Gemäß Patentanspruch 1 sind hier parzielle leitfähige Zonen PLZ als.
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Potentialelektroden PE auf dem und/oder innen im optisch transparent
bleibenden Iolatcr angebracht. Die partiellen leitfähigen Zonen sind
mit
dem nahestliegenden Potentialen gemäß Patentanspruch 2 und 3 verbunden. Das inhomogene
elektrische Feld in den Gaseinschlüssen zwischen den Grenzschichten wurde elliminiert.
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Im Bild 6 sind weitere, zusätzliche, parzielle leitfähige Zonen im
mittleren Teil des optischen Isolators angeordnet, welche von einem beliebigen Potential
angesteuert werden können. Nach Patentanspruch 4 werden sie an Erde, wie im Bild
6, jedoch auch an Hilfserde, Masse, Betriebserde, gemeinsame Potentialausgleichsleitung
oder dem Schutzleiter verbunden.
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Gemäß Patentanspruch 2 läßt sich das elektrische Feld so ausbilden,
daß nahezu alle Kraftlinien in Potentialelektroden entspringen oder enden.
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Wenn, gemäß Patentanspruch 4, durch eine unzulässig hohe Überspannung
ein Durchschlag oder ein Überschlag stattfindet, so erfolgt er gemäß des elektrischen
Feldes nach Bild 6 vom hohen Potential auf der Potentialelektrode PE 1 zum niederen
Potential auf PE 2 als auch vom hohen Potential auf PE 4 zum niederen Potential
auf PE 3. Die Potentialelektroden PE 2 und PE 3 sind mit Erde verbunden, sodaß alle
Ladungen von Durchschlägen oder Überschlägen gegen Erde abgeführt werden.
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Ein Durchschlag oder Überschlag kann durch diese potentialgesteuerte
Isolation nicht mehr zwischen Sender und Empfänger erfolgen.
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Die elektrische Gefährdung und damit das Sicherheitsrisiko eines Optokopplers
werden durch die beschriebenen Potentialelektroden PE, insbesondere wenn sie wie
im Bild 6 dargestellten Prinzip aufgebaut sind und mit Erde oder dem Schutzleiter
eines Versorgungsnetzes verbunden sind, enorm herabgesetzt oder gemindert.
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Erfindungsgemäß ist das ein Optokoppler oder optischer Isolator mit
Schutzleiteranschluß gemäß Patentanspruch 4.
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Ob außen auf der Oberfläche und im Inneren des opti,t-hen Isolators
leitfähige Zonen angeordnet werden oder ob nur äußere oder innere leitfähige Zonen
angeordnet werden ist abhängig von den verwendeten
Testmethoden
während der Serienprüfung oder der Endkontrolle aber ebenso abhängig von der Berechnung
und Dimensionierung des Isolationssystems.
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Nachfolgend werden die leitfähigen Zonen auch Potentialelektroden
PE genannt, da sie die Potentialverteilung respektiv das elektrische Feld im optischen
Isolator steuern.
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Das Bild 7 zeigt einen Optokoppler mit Potentialelektroden, der mit
später beschriebenen Isolationsformteilen aufgebaut ist. Die Schaltung zeigt verschiedene
Potentiale auf den Potentialelektroden, welche das elektrische Feld in der Isolation
steuern. Besonders gefährdende Isolationsteile können durch einen optimalen, an
die gemäß Potentialelektrode gelegten Spannungswert, entlastet werden gemäß Patentanspruch
2. Nach Patentanspruch 5 kann eine infolge Teilentladung TE krank gewordene Isolationsstelle
durch Kurzschließen der benachbarten Potentialelektroden als Teilentladungsquelle
ausgeschaltet werden.
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Die TE kann hier nicht mehr weiterwachsen, sodaß der gesunde Isolationsteil
zuverlässig erhalten bleibt.
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Da alle elektrischen Kraftlinien an den Potentialelektroden PE enden,
werden die in der optisch transparenten Isolation entstehenden Ladungen, wie TE-Impulse,
TE-Impulsketten, TE-Impulsströme sowie Kriech-und Rest ströme gemäß Patentanspruch
4 über die Potentialelektrode abgeführt. Innen und auf der Isolation kann infolge
der Potentialelektroden niemals eine Kriechstrecke durch Teilentladung zwischen
Sender und Empfänger vollkommen durchwachsen.
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Die elektrische Messung von TE-Impulsen ist bisher die physikalisch
empfindlichste Methode um Isolationsschäden in einem sehr frühen Zeitpunkt zu erfassen.
Diese Methoden sind zur Beurteilung von Isolationsalterungen enorm wichtig, weil
hier die TE-Werte mit der Alterung ansteigen.
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Das Bild 8 analysiert einen Teilentladungsimpuls von ca. einem Picocoulomb,
der mit den heutigen Messmethoden (IEC 270/1981) gerade noch feststellbar ist.
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Die Ladungsberechnung eines in Optokopplern gemessenen scheinbaren
inneren
Teilentladungsimpulses TE wird vereinfacht eine Anstiegsflanke zugrunde gelegt mit
-t/# i (t) = ) max und eine Abfaliflanke zugrunde gelegt mit - t/f if (t) = imax
. e i e max Das Anstiegs- Abfallzeitenverhältnis beträgt: rr/ rf=0,2 Die Gesamtfläche
A 1 = 20 x 30 = 600 Einheiten.
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Die ausplanimetrierte Teilfläche beträgt: A 2 = 175 Einheiten Die
Impuisladung Q beträgt: Q = A2/A1 1max -6 -6 = 175/600 20 10 A 0,15 10 s = 0,875
pC Damit erzeugt ein Teilentladungsimpuls der Größenordnung ein Picocoulomb eine
Stromspitze von 20 µA.
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Das Bild 9 zeigt das Wachsen einzelner TE-Impulse zu tE-Impulsketten
undrschließlich zu einem Kriechstrom.
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Nach vielen VDE-Hochspannungsbetriebsmittelvorschriften sowie nach
IEC 270 wird Teil entladung TE über einen speziellen Ankopplungsvierpol AKV und
über spezielle (Funkstörmeß-) Empfänger am Oszillographen beobachtet oder elektronisch
ausgewertet.
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Bei Optokopplern können TE-Impulse schon über einen Ankopplungsvierpol
direkt am Oszillographen beobachtet werden gemäß Patentanspruch 7.
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Verbindet man den Ankopplungsvierpol AKV mit einer Potentialelektrode
PE des Optokopplers, so kann die optische Isolierung dauernd überwacht werden gemäß
Patentanspruch 10. Über einen Verstärker mit Anstiegszeiten von ca. 1 bis 10 ns
und einer TE-Erkennungs-, TE-Auswertungs-, TE-Überwachungs- und TE-Schutzschaltungen
kann Teilentladung erstmals auf einfache Weise während des Betriebszustandes dauernd
oszillographisch und elektronisch erkannt, überwacht und registriert werden.
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Vor allem erlaubt die Potentialelektrode PE während des Betriebszustandes
eine sehr einfache Ankopplung, gemäß Patentansprüche 8 und 9, da diese PE nicht
galvanisch leitend mit Hochspannungspotential oder anderen Versorgungs- und Netzspannungen
verbunden ist.
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Das Bild 10 zeigt mit einer Potentialelektrode eine im Betriebszustand
dauernd angeschlossene TE-Erkennungs- und TE-Uberwachung- und TE-Schutzschaltungen
in einem Blockschaltbild, gemäß Patentansprüche 6 und 7 und 8 und 9 und 10 und 11.
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Die Abschirmmaßnahmen sind auch im Dauerbetrieb relativ einfach, da
erstens es sich selbst bei Hochspannungsoptokopplern oder Leistungsoptokoppler oder
optischen Halbleiterrelais um relativ kleine Bauelemente handelt und zweitens die
Isolationsanordnung in sehr vielen Fällen einenl Plattenkondensator mit extrem kleiner
Kapazität nahezu handelt. Die sehr schwierigen TE-Messungen mit hohen Induktivitäten
oder hohen Kapazitäten oder sehr großen räumlichen Abmessungen mit teilweisen Messungen
im Freien fallen bei Optokopplern unter den Tisch.
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Optokoppler, Halbleiterrelais, I/O Module oder Isolierverstärker haben
Kapazitäten von 0,1 pf bis ca. 10 pf, in einigen Ausnahmefällen etwas größer. Berücksichtigt
man den kleinsten bisher meßbaren TE-Wert von ca. 1 pC (gemäß IEC 270-Meßverfahren)
den man ins Verhältnis zur durchschnittlichen Optokopplerkapazität von 1 pf setzt,
so erhält man auch noch sehr hohe Spannungsänderungen von = = Q/C = 1 pC/ 1 pF -
1 V Da aber ohne TE-Verstärker ein Oszillograph die Auswertung von 1 mV Signalen
noch ermcglicht, können auf diese Weise scheinbare TE-Impulse
von
10 - 2 pC bis 10 3 pC, je nach Dämpfung des AKV, erkannt werden.
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Mit einem TE-Verstärker kann die Empfindlichkeit nochmals um Faktor
100 gesteigert werden.
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Gemäß Patentanspruch 11 ist man in der Lage eine dauernde im Betriebszustand
des Optokopplers einfache aber bisher nicht gekannte empfindliche Messung der originalen
scheinbaren TE-Impulse oder Pulsfolgen durchzuführen.
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Konstruktionen von Isolationssystemen in Optokopplern Die bisherigen
Optokoppler-Konstruktionen sind nicht auf optimale Teilentladungsfreiheit ausgebildet.
Es müssen potential gesteuerte Isolationssysteme konstruiert und entwickelt werden,
um optimale elektrische Feldverhältnisse in Optokopplern zu erhalten. Hierzu gehören
auch Potentialelektroden zum Anschluß an Erde oder Schutzleiter und an eine elektronische
Isolationsüberwachung.
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Isolationsformteile gemäß Patentanspruch 7 Isolationsformteile mit
Lichtleitern und Lichtwellenleitern Es werden Materialien für Lichtleiter und Lichtwellenleitern
oder Fiberoptikfasern eingesetzt, die für die im optischen Wellenlängenbereich verwendeten
Strahlungen transparent oder durchlässig sind, andererseits aber gute Isolationseigenschaften
zeigen z.B. wie Glas, hochwertige Plastikarten, Silikon und Epoxidharze. Zu vergessen
sind nicht die Halbleiter als optisch transparente Isolatoren, deren Verwendung
jedoch später angegeben wird, wie für Ge, Si, GaAs, Se, GaAsP, GaP.
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Die Isolationsformteile als Lichtleiter oder Lichtwellenleiter beschränken
sich keinesfalls nur auf kreisförmige oder hohlkreisförmige Querschnittsflächen,
sondern es können quadratische, rechteckige, dreieckige oder vieleckige, ellipsenförmige
oder beliebige Querschnittskonfigurationen benutzt werden.
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Die Isolationsformteile können gerade, gebogene, gewankelte, (1eflltete
oder
beliebige Konfigurationen besitzen.
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Isolationsformteile mit Röhren, Röhrchen oder Schläuchen Bei Isolationsformteilen
mit Röhren, Röhrchen oder Schläuchen verbessert die innere Hohlraumfläche den optischen
Wirkungsgrad, wenn sie glänzend oder poliert ist und das Material und die Oberflächenfarbe
die verwendete Strahlung gut reflektiert.-Im sichtbaren- und nahen IR-Bereich erzielen
weiße Hohlraumflächen gute Reflexionsgrade.
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Metallisch spiegelnde Oberflächen mögen partiell als Potentialelektrode
berechtigt sein, ansonsten mindern sie das Isolationsvermögen zwischen Sender und
Empfänger. Als Materialien kommen in Frage Epoxidharze, Silikone, rauhe oder partiell
glasierte Keramik-Formteile, insbesondere weiße Porzellanformteile. Die Querschnittsfläche
des Hohlraumes kann kreisförmig, elliptisch oder beliebig vieleckig sein.
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Die Isolationsfähigkeit des Hohl raumes wird durch sein Ausfüllen
mit Gas, insbesondere Isoliergas wie SF6, oder mit flüssigen Isoliermedien wie Oel,
insbesondere Transformatorenoel, derart verbessert, daß die Isolationsdicken gegenüber
Luft zum Teil erheblich verringert werden.
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Hat das flüssige Isoliermedium einen größeren Brechungsindex als das
umgebende Material wie dem des Schlauches oder Röhrchens, so handelt es sich um
einen flüssigen Kern eines Lichtleiters oder Lichtwellenleiters.
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Gemäß Patentansprüche 12 und 17 sind Isoliergase, wie SF6, und Isolieröle,
wie Transformatorenöle, in Optokopplern, besonders für Hochspannungsanwendungen,
einsetzbar.
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Isolationsformteile mit partiellen Leitfähigkeitszonen Die vorher
diskutierten Potentialelektroden PE gemäß Patentanspruch 1, werden durch partielle
leitfähige Zonen innen oder auf der Oberfläche als auch innen und auf der Oberfläche
eines optisch durchlässig und transparent bleibenden Lichtwellenleiters oder Lichtleiters
sowie auf Hohlraumflächen oder äußeren Oberflächen von Röhrchen oder Schläuchen
erzeugt.
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Die Erzeuguny von leitfähigen inneren Zonen und leitfähigen Oberflähenzonen
kann durch partielle Gas-Diffussion von Fremdatomen in das Isolationsmaterial erfolgen.
Die partiellen
Isolationsmaterial erfolgen. Die partiellen Stellen
werden hierbei nicht mit Fotolack abgedeckt.
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Partielle leitfähige Schichten auf Oberflächen können durch partielles
Aufwachsen von leitfähigen Substanzen im Gas- oder Flüssigkeitsepitaxieprozess erfolgen.
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Die Hoch- oder Niederohmigkeit einer Zone ist abhängig von der Dotierund,
welche durch die Isolationsdimensionierung bestimnt wird.
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Partielle Metallisierung kann auch durch galvanische Prozesse erfolgen.
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Die Bilder 11 bis 13 zeigen Beispiele von Isolationsformteilen mit
partiellen Leitfähigkeitszonen jeweils an den Stirnflächen sowie Körper- oder Mantelanfangsflächen.
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Das Bild 11 zeigt Lichtleiter oder Lichtwellenleiterkerne, die von
Medien mit geringeren Brechungsindices oder hohen Reflexionsgraden, z.B. weißes
Silikon, umgeben sind.
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Das Bild 12 zeigt Lichtwellenleiter, die vorteilhaft auch von weißem
Material wie Silikon umgeben sind.
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Das Bild 13 zeigt Formteile mit inneren reflektierenden Hohlräumen,
wie Röhrchen, Rohre oder Schläuche.
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Die Bilder 14 und 15 zeigen Folienverbindungselemente von Isolationsformteilen,
welche für die verwendete Strahlung eine optisch transparente und leitfähige Folie
enthalten.
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Bild 14 zeigt eine nicht verstärkte Folien-, das Bild 15 zeigt verstärkte
Folienverbindungselemente.
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Die Isolationsformteile können miteinander optisch transparent verbunden
werden durch Kleben, Pressen, Schmelzen, Löten, Stecken, Aneinanderreihen oder zusätzlich
mit Folienverbindungselementen.
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Die Bilder 16 bis 30 zeigen Verbindungskonfigurationen.
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Die Bilder 16 bis 18 zeigen Verbindungen von Isolationsformteilen
mit nur leitfähigen Mantelanfangsflächen PLZM. Die Bilder 19 bis 21 zeigen Verbindungen
von Isolationsformteilen mit leitfähigen Stirn-und Mantelanfangs-Flächen PLZMS.
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Die Bilder 22 bis 24 It zeigen Verbindungen von Isolationsformteilen
mit leitfähigen Stirn- und Mantelanfangs-Flächen und mit Folienverbindungselementen
PLZMSF.
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Das Bild 25 enthält die gleiche Verbindung, jedoch ohne leitfähige
Stirnflächen PLZMF. Die Bilder 26 und 27 zeigen Verbindungen von Iso-
lationsformteilen
mit leitfähigen Stirn- und Mantelanfangs-Flächen und mit verstärkten ver Folienvorbindungselementen
PLZMSFV.
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Das Bild 28 zeigt die Verbindung eines Isolationsformteiles :;it leitchigen
Stirn- uni I; Mantelanfangs-Flächne und vorstärktem Folienrverbindungselement &oer
ohne Hülse PLZXFV Das Bild 29 zeigt Folienverbindungselemente mit leitfähigen äußeren
Mantelanfangsflächen und verstärktem Folienverbindungselement PLZMFV.
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Is Bild 30 eigt die Verbindung eines Isolationsformteiles mit leit-Fähigen
Stirn- und Mantelanfangsflächen, die nur in eine Hülse gesteckt sind PLLMS.
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Alle dargestellten und beschriebenen Leitfähigkeitszonen und Verbin--iungen
von Bild 11 bis Bild 32 für die Herstellung von optisch trans-"arenten Potentialelektroden
entsprechen den Patentansprüchen 1 und 12 aind 13 und 14.
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Das Bild 31 zeigt die Reihenanordnung mehrerer verbundener Isolationsformteile,
a) ohne Hülsen oder Schellen, b) mit Hülsen oder Schellen.
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Das Bild 32 zeigt die Erzeugung partieller Leitfähigkeitszonen an
beliebigen Isolitionsformteilen, durch Diffussions-, Epitaxie- und Metallisierung
verfahren.
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Durch bastförmige Diffussion erhält man an gezielten Zonen eine nn
- c an äubere Leitfählkeit lt.
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ebenfalls durch Flüssigkeitsepitaxie oder Gasepitaxie erhält man an
gezielten Stollen nur äußere Leitfahigkeitszonen aufgewachsen. Die außen leitfähigen
Zonen erhalten durch Metallisation eine Kontaktfiäche für c-len elefr. ri:hen Anschlup.
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Lt diesen Verfahren werden die nichtleitfähigen Zonen nur einmal mit
fotoresist oder Fctolack abgedeckt, um an allen nicht abgedeckten Zonen gezielte
Diffussions-Epitaxie- und Metallisierungsverfahren einwirken /u lassen.
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Anshluß- und Montagekonfiqurationen von~Isolationsformteilen sowie
die Anschluβkonfiguration als Potentialelektrode bei belieger Isolation
Anschluß-~und~Montagekonfigurationen
von~Isolationsformteilen sowie die Anschlußkonficiuration als Potentialelektrode
bei beliebiger Isolation Die Bilder 33 bis 37 zeigen das Umwickeln mit leitfähigem
Draht oder Folie oder Bändern sowie das Aufbringen von leitfähigen Schellen oder
Umhüllungen als Anschlußkontakte auf potentialgesteuerte Isolationsformteile.
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Die Kontakte können auch haften durch Druck, Federkraft, Löten, Kleben,
Schweißen oder Pressen.
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Das Bild 38 zeigt den Querschnitt eines Lichtleiters oder Lichtuellenleiters
mit Schellenbefestigung als Potentialelektrodenanschluß auf Keramiksubstraten oder
gedruckten Schaltungen.
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Die Bilder 39 und 40 zeigen Potentialelektroden-Anschlüsse von mehrfach
potentialgesteuerten optisch transparenten Isolationsformteilen am Beispiel von
Lichtleitern oder Lichtwellenleitern auf Keramik£ubstrat in Hybridschaltungen, auf
gedruckten Schaltungen und Leiter bändern (leadframe).
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Das Bild 39 zeigt Potentialanschlüsse mit gelöteten oder geschweiβten
Schellen. Das Bild 40 zeigt PE-Anschlüsse durch Löten, Schweiβen oder Kleben
mit leitfähigem Kleber.
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Wird auf Isolationen oder Isolatoren ohne jegliche partielle Leitfähigkeitszonen
ein leitfähiges Material aufgebracht oder umwickelt, z.B.
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mit leitfähigem Draht, Bändern, Folien oder Schellen oder Umhüllurgen,
so stellen diese Konfigurationen ebenfalls Isolationsformteile mit Potentialelektroden
dar.
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Optisch transparente Halbleiterisolatoren mit partiellen Leitfähigkeitszonen
Das Bild 41 zeigt einen optisch transparenten prcnt itlgur-teuc'rten Halbleiterisolator
mit den gewünschten Leitfähiukeitszonen durch flüssiges oder gasförmiges epitaktisches
Aufwachsen eine Halbleiter zum gesamten Isolationsformteil. Die Leitfähigkeitszonen
können auch durch gasförmige Diffussion von Fremdatomen in einem nicht verunreinigten
reinct0n Halbleiterkristall oder Halbiciterkristallen erzeugt erzeugt wc--i en.
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Die Oberflächen der Leitfähigkeitszonen erhalten durch Diffussions-oder
Epitaxie- oder Metallisierungsverfahren eine Metallschicht aufgewachsen, die als
Kontaktstelle oder Anschlußschweißstelle der jeweiligen Potentialelektrode dient.
Die Oberflächen der sehr reinen Halbleiterkristalle können durch Aufwachsen in einer
Gas- oder Flüssigkeitsepitaxie eine Glasschichtversiegelung oder SiO2-Schicht-Versiegelung
oder Siliziumnitritversiegelungen erhalten.
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Dieser potentialgesteuerte Halbleiterisolator kann in Epoxidharz oder
in Silikon oder zur Verbesserung des Reflexionsgrades in weißes Silikon eingebettet
werden. Der Halbleiterisolator kann aus einem monokristallinen oder einem polykristallinen
Halbleiter bestehen, wie Si, GaP, GaAs, GaAsP.
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Die verwendeten Bezugsgrößen im Bild 41 sind, Hochreinster Halbleiter
H, hoch- oder niederohmige p- oder n-Leitfähigkeit PLZ, Metallisationsschicht M,
Versiegelung mit Glas, SiOs oder Siliziumnitrit V, in Silikon eingebettet SO, in
weißes Silikon eingebettet WSO, Kontaktanschlußstreifen K und Ballbondung B und
PE-1/2-A-a/b sind Potentialelektrodenanschlüsse.
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Symmetrische und unsymmetrische Diffussionen von optischen Halbleiterisolatoren
Das Bild 42 zeigt symmetrische Diffussionen eines optisch transparenten, potentialgesteuerten
Halbleiterisolators. Hier wird ein hochreiner Halbleiter gezielt symmetrisch mit
Fremdatomen dotiert, um die gewünschten räumlichen- und Oberflächen-Leitfähigkeitszonen
zu erhalten.
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Der Halbleiter kann monokristallin oder polykristallin aufgebaut sein.
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Die hoch- oder niederohmigen p- oder n-leitfähigen Zonen sind mit
PLZ gekennzeichnet. Ihr Diffussionsprofil ist mit LDP gekennzeichnet.
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Das Bild 43 zeigt die unsymmetrische Diffussion eines optisch transparenten,
potentialgesteuerten Halbleiterisolators. Hier wird ein hochreiner Halbleiter gezielt
unsymmetrisch mit Fremdatomen dotiert um die gewünschten räumlichen- und Oberflächen-Leitfähigkeitszonen
zu erhalten.
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Integrierte Optokoppler Das Bild 44 zeigt einen Optokoppler aus einem
gemeinsamen Halbleitersubstrat mit dem potentialgesteuerten, optisch transparenten
Isolator und zusätzlich Sender und Detektor. Mit GaAs ist für Sender, optischer
Isolator und Detektor dieses Material als Basissubstrat besonders geeignet. Die
Isolationseigenschaften liegen mit dem Bandabstand des GaAs sehr günstig. Ebenfalls
sind optisch lumineszierende Sender und optische Detektoren in GaAs-Technologie
schon Stand der Technik.
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Dual-In-Line-Koppler mit gegenüberstehendem Sender und Detektor und
mit über Kreuz angeordneten Potentialelektroden (PE)-Anschlüssen Das Bild 45 zeigt
Potentialelektroden PE 1 und PE 2, die mit optimalem Neigungswinkel entsprechend
dem gewähiten Sender-Empfänger-Abstand gebogen sind.
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Die Formen der Elektroden kann halbringförmig, halbkreisförmig, ellipsenförmig
oder mehreckig ausgeführt sein.
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Bei sechsopligen, 8-, 10-, 12-, 14-, 16-, 20-, 40- oder noch mehrpoligen
Dual-In-Line-Kopplern können die Potentialelektrodenanschlüsse, PE-1 und PE-2, entweder
jeweils über Kreuz und dabei auch an den äußeren Anschlüssen der beiden Leiterbandseiten
angeordnet werden oder auch von beiden Seiten mit direkt gegenüberliegenden Leiterbandanschlüssen.
Beide Anschlüsse PE 1 und PE 2 können gemeinsam an eine TE-Erkennungs- und Schutzschaltung
als auch an Erde oder Hilfserde oder Schutzleiter gelegt werden. Alternativ kann
auch z.B. der PE 1-Anschluß direkt mit dem Schutzleiter oder Erde oder Hilfserde
oder Masse oder definierten Potentiales verbunden werden, während der PE 2-Anschluß
über einen Widerstand, Drossel, Transformator, Impulsüberträger oder Kondensator,
die zur Ankopplung an eine TE-Erkennungs-und Schutzschaltung dienen, mit dem Schutzleiter
oder Erde oder Hilfserde oder definierten Potentiales oder Masse verbunden ist.
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Das Bild 46 zeigt vielpoligen Dual-In-Line-Koppler in überlappender
Leiterbandkonstruktion mit zwei Potentialelektroden als durchgeschnittener Ring
zwischen Sender und Empfänger. Die PE-Anschlüsse sind hierbei über Kreuz nach beiden
Leiterbandseiten angeordnet.
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Oual-In-Line-Optokoppler mit gegenüberstehendem Sender und Detektor
und auf einer Leiterbandseite zwei angeordnete Potentialelektroden (PE)-Anschlüsse
Im Bild 47 kann die Potentialelektrode eine ringförmige, kreisrunde, elliptische,
sechskantige, mehreckige Konfiguration besitzen, um optimal das elektrische Feld
zwischen Sender und Empfänger auszublenden aber die beiden elektrischen Felder zwischen
Pptentialelektrode und Sender und Potentialelektrode und Empfänger optimal zu formen.
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Bei sechspoligen Dual-In-Line-Kopplern mu3 ein Bonddraht auf der PE-Leiterbandseite
mit einem der beiden PE-Anschlüsse verbunden sein.
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Hierbei muß ein Pol des gemäßen äußeren Stromkreises mit PE, z.B.
als Erde, Hilfserde, Masse, Nulleiter, Schutzleiter oder gemeinsamer Leiter, verbunden
sein.
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Bei mehr als sechspoligen Dual-In-Line-Kopplern, z.B. bei achtpoligen
schon, entfällt diese Einschränkung. Hierbei können Schutzleiter, Erden oder Hilfserden
oder Null einer unabhängig von der übrigen Verdrahtung alleine oder separat mit
den PE-Anschlüssen verbunden werden.
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Gemäß Patentanspruch 13 zeigt die Erfindung, daß die ringförmige Potentialelektrode
aus Sicherheitsgründen bei Isolationsdurchschlägen oder aus Langzeitzuverlässigkeits-
und Qualitätsgründen mit zwei Anschlüssen, hier PE 1- und PE 2 Anschluß, herausgeführt
ist.
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Bei Mehrfachkopplern kann ein PE-Anschluß jeweils für den benachbarten
Koppler mitverwendet werden.
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8ei Dual-In-Line-Kopplern mit vergrößerter Bauhöhe können mehrere
gegeneinander isolierte Potentialelektrodenringe gestapelt werden.
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Bild 48 zeigt überlappende Leiterbandkonstruktion vielpoliger Dual-In-Line-Optokoppler
- mit Potentialelektrode als Ring zwischen Sender und Empfänger. Die beiden Anschlüsse
der Potentialelektrode sind auf einer Seite heraueführt.
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Optokoppler mit Leiterbandaufbau in einer Ebene sowie mit vorgefertigtem
Reflektorteil Im Bild 49 wird die Potentialelektrode in der Leiterbandkonstruktion
dargestellt, wie sie ausgestanzt oder herausgeätzt wird. Sie bleibt mindestens mit
einem Leiterbandanschluß verbunden.
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Das Blech der Potentialelektrode wird unterhalb der Leiterbandebene
gebogen und anschließend wie eine Zelle senkrecht nach oben gebogen.
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Die Potentialelektrode PE steht somit in der Reflexionszone direkt
zwischen Sender und Empfänger.
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-Das Bild 50 zeigt das Leiterband mit gebogener Potentialelektrode
Das PE-Blech kann zusätzlich durch Bonddrähte mit anderen Leiterbandanschlüssen
verbunden werden.
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Das Bild 51 zeigt die Schnittzeichnung mit gebogener PE-Elekt-rode.
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Optokoppler mit Leiterbandaufbau in einer Ebene und mit gegossenen
oder gespritzten Lic htle itungsrefl exionssystemen Die Abbildung 52 zeigt das Leiterband
für Mehrfach-Optokoppler. Die Potentialelektrode wird nur partiell als Kelle gebogen,
sodaß sie in die Reflexionszone zwischen Sender und Empfänger plaziert ist. Die
Potentialelektrode kann mit mehreren Leiterbandanschlüssen verbunden werden, sodaß
die PE-Anschlüsse bei Vielfachkopplern gemeinsam mit dem benachbarten System benutzt
werden können. Die Kopplerdichte eines Vielfachkopplers wird erhöht, wenn die Potentialelektrode
entweder nur mit den zwei äußeren Leiterbandanschlüssen verbunden ist oder sogar
nur mit einem Leiterbandanschluß verbunden ist.
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Das Bild 53 zeigt den Schnitt durch solche Koppler.
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Optokoppler in einer Ebene auf Keramiksubstraten, Hvbridschaltungen
oder gedruckten Schaltungen Der Koppleraufbau in einer Ebene, der mit den beschriebenen
Isolationsformteilen und Anschluß- und Montagekonfiguration erfolgen kann, ist vorwiegend
für Hybride anwendbar.
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Die Bilder 54 und 55 zeigen eine weitere Konstruktion in einem Reflexionssystem
mit einem vorgefertigten Reflektor. Hier ist die neue Potentialelektrode aus einem
leitfähigen Material, das die beiden separaten PE-Anschlußleiterbahnen leitfähig
miteinander verbindet durch Kleben, Pressen, Löten, Schweißen, Stecken oder Druck.
Alternativ können die Leiterbahnen durchgehend miteinander verbunden sein oder nur
eine Leiterbahn ist an die Potentialelektrode angeschlossen.
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Bezugszeichen für Zeichnungen ED elektrischer Dipol S optischer Sender
I optischer Isolator D optischer Detektor G Gaseinschlüsse L elektrischer Leiter
M Metalleinschlüsse PLZ parzielle leitfähige Zonen PE Potential ei ekt rode PE 1A
Potentialelektrode 1 - Anschluß PE 1Aa Potentialelektrode 1 - Anschluß links PE
lAb Potential ei ekt rode 1 - Anschluß rechts HSP Hochspannung N Netzspannung SK
Sicherheitskleinspannung i Strompulse A Flächen t Zeit AKV Ankopplungsvierpol LL
Lichtleiter LWL Lichtwellenleiter Ep Epoxidharz WSO weißes Silikon SO Silikon V
Versiegelung mit Glas, Si 02, Siliziumnitrit K Kontakt, Kontaktstreifen MS Metallisationsschicht
B Ballbondung H Hochreinster Halbleiter LDP Leitfähigkeitszonen - Diffussionsprofil
R Reflektor keraamksubstrat cder gedruckte Schaltung leitfähige ptisrh transparente
Folie PLM PLZ-Mantelanfangsflächen
PLZMS PLZ- Stirn- und Mantelanfangs-Flächen
PLZZSF PLZMS-Flächen und Folienverbindungselemente PLZMSFV PLZMS-Flächen und verstärkte
Folienverbindungselemente PLZMF PLZM-Flächen und Folienverbindungselemente PLZMFV
PLZM-Flächen und verstärkte Folienverbindungselemente U Rohr, Röhrchen, Schlauch,
Hohlraum