DE3313449C2 - Vorrichtung zum Prüfen von Flachbaugruppen - Google Patents

Vorrichtung zum Prüfen von Flachbaugruppen

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102721835A (zh) * 2012-07-03 2012-10-10 航天科工防御技术研究试验中心 测试适配器

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61141022A (ja) * 1984-12-14 1986-06-28 インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション キ−ボ−ド・インタ−フエ−ス回路の試験装置
DE3544137A1 (de) * 1985-12-13 1987-06-19 Siemens Ag Anordnung zum unmittelbaren zurueckfuehren von sendedaten als empfangsdaten in einem nachrichtentechnischen geraet
DE4124708A1 (de) * 1991-07-25 1993-01-28 Siemens Ag Einrichtung zum pruefen von entsprechend dem anwendungsfall miteinander verbundenen elektronischen komponenten einer baugruppe
DE4213905A1 (de) * 1992-04-28 1993-11-04 Siemens Nixdorf Inf Syst Verfahren zum pruefen von mit einer vielzahl von unterschiedlichen bauelementen bestueckten baugruppen
DE4442531A1 (de) * 1994-11-30 1996-06-05 Alcatel Mobile Comm Deutsch Verfahren zum Testen einer Funkeinrichtung

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2511923C3 (de) * 1975-03-19 1981-11-12 Telefonbau Und Normalzeit Gmbh, 6000 Frankfurt Schaltungsanordnung zur Funktionsprüfung und Fehlerlokalisierung von Flachbangruppen

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102721835A (zh) * 2012-07-03 2012-10-10 航天科工防御技术研究试验中心 测试适配器
CN102721835B (zh) * 2012-07-03 2014-06-04 航天科工防御技术研究试验中心 测试适配器

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