DE3235660C2 - - Google Patents

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DE3235660C2
DE3235660C2 DE3235660A DE3235660A DE3235660C2 DE 3235660 C2 DE3235660 C2 DE 3235660C2 DE 3235660 A DE3235660 A DE 3235660A DE 3235660 A DE3235660 A DE 3235660A DE 3235660 C2 DE3235660 C2 DE 3235660C2
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Germany
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Klaus 8520 Erlangen De Hantke
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Siemens AG
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
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JPS5979862A (ja) 1984-05-09
DE3235660A1 (de) 1984-03-29

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