DE3219664C2 - - Google Patents
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- DE3219664C2 DE3219664C2 DE19823219664 DE3219664A DE3219664C2 DE 3219664 C2 DE3219664 C2 DE 3219664C2 DE 19823219664 DE19823219664 DE 19823219664 DE 3219664 A DE3219664 A DE 3219664A DE 3219664 C2 DE3219664 C2 DE 3219664C2
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B03—SEPARATION OF SOLID MATERIALS USING LIQUIDS OR USING PNEUMATIC TABLES OR JIGS; MAGNETIC OR ELECTROSTATIC SEPARATION OF SOLID MATERIALS FROM SOLID MATERIALS OR FLUIDS; SEPARATION BY HIGH-VOLTAGE ELECTRIC FIELDS
- B03C—MAGNETIC OR ELECTROSTATIC SEPARATION OF SOLID MATERIALS FROM SOLID MATERIALS OR FLUIDS; SEPARATION BY HIGH-VOLTAGE ELECTRIC FIELDS
- B03C3/00—Separating dispersed particles from gases or vapour, e.g. air, by electrostatic effect
- B03C3/34—Constructional details or accessories or operation thereof
- B03C3/66—Applications of electricity supply techniques
- B03C3/68—Control systems therefor
Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Erfassung
von Durchschlägen bei einem Elektroabscheider, der über einen
Gleichrichter, einen Hochspannungstransformator und ein
Stellglied aus einem Wechselspannungsnetz gespeist wird,
durch Vergleich eines Spannungswertes mit einem Referenzwert,
wobei eine Abweichung vom Referenzwert zur Ansteuerung
des Stellgliedes benutzt wird.
Ein derartiges Verfahren ist aus der DE-OS 25 40 084 bekanntgeworden.
Dabei werden bestimmte phasengleiche Spannungswerte
aufeinanderfolgender Halbwellen miteinander
verglichen und Abweichungen, die ein fest vorgegebenes Maß
überschreiten, als Kriterium für einen Durchschlag benutzt.
Es wird also nach folgender Formel verfahren:
U i(n) - U i(n-1) Δ U R → Durchschlag.
U i(n) ist der Spannungswert zu einem bestimmen Zeitpunkt
i (Phasenlage) der Halbwelle n, während U i(n-1)
der Spannungswert zum entsprechenden Zeitpunkt i (gleiche
Phasenlage) der vorausgehenden Halbwelle (n-1)
ist. Δ U R ist ein fest vorgegebener Referenzwert.
Bei diesem Verfahren wird als nachteilig angesehen, daß es
nicht über den ganzen Spannungsbereich anwendbar ist, weil
es nicht möglich ist, einen gleichbleibenden, für den ganzen
Bereich geltenden Referenzwert Δ U R vorzugeben. In
der DE-OS 29 49 752 wird deshalb vorgeschlagen, daß als
Δ U R ein fester Teilbetrag der jeweils gemessenen Spannung
benutzt wird: Δ U R = x · U i(n), mit x im Bereich
von 0,05 bis 0,20, d. h. 5 bis 20% der durch die Phasenlage
i bestimmten Spannung der jeweils zu überwachenden
Halbwelle n. Das Verfahren läßt sich mit dem bereits angegebenen
System der Indizierung wie folgt als Formel
schreiben:
U i(n) - U i(n-1) x · U i(n) → Durchschlag.
Der Wert x wird bei der Inbetriebnahme einer Anlage bestimmt,
wobei sich bei einem ausgeführten Elektroabscheider
ein Wert von 0,125 als geeignet erwiesen hat.
Ähnliche Verfahren sind auch aus der DE-OS 23 20 112
und der DE-OS 30 07 364 bekanntgeworden.
Für eine differenzierte Erfassung von Durchschlägen und
eine entsprechend abgestimmte Ansteuerung des Stellgliedes
der Regeleinrichtung, wird diese Art der Vorgabe des Referenzwertes
aber als noch zu grob und unelastisch angesehen.
Insbesondere lassen sich auf diese Weise nicht alle
Veränderungen im Verlauf der Halbwellen berücksichtigen,
die beim Betrieb eines Elektroabscheiders durch verschiedene
Einflüsse hervorgerufen werden können.
Es besteht somit die Aufgabe, das zuletzt erwähnte Verfahren
weiter zu verbessern, d. h. die Erfassung von Durchschlägen
noch zu verfeinern und regeltechnisch noch empfindlicher
darauf zu reagieren. Insbesondere sollen auch
solche Spannungsänderungen, die nicht auf Durchschlägen
beruhen, besser identifiziert und ihr Einfluß auf die
Spannungsregelung ausgeschaltet werden.
Zur Lösung dieser Aufgabe wird ein Verfahren der eingangs
genannten Art vorgeschlagen, das dadurch gekennzeichnet
ist, daß als Spannungswert die Spannungsdifferenz
Δ U n = (U i + 1 - U i)n
zwischen zwei im Abstand Δ t
aufeinanderfolgenden Messungen und als Referenzwert die
phasengleiche Spannungsdifferenz
Δ U n-1 = (U i + 1 - U i)n-1
der vorausgehenden Halbwelle benutzt wird, daß die
Differenz der Absolutwerte von Δ U n und Δ U n-1
gebildet und der Absolutwert der Differenz mit einem die
Ansprechempfindlichkeit bestimmenden Wert x verglichen
wird.
Als Formel geschrieben, lautet das Durchschlagskriterium:
||U i + 1 - U i | n - |U i + 1 - U i | n-1| x → Durchschlag.
In weiterer Ausbildung des Erfindungsgedankens ist vorgesehen,
daß der Wert x aus einem fest vorgegebenen Toleranzwert
x₀, einem ersten, von der Anzahl i der Messungen
pro Halbwelle abhängigen Korrekturwert x₁ und einem
zweiten, von der Welligkeit (U max-U min)n der
Halbwelle abhängigen Korrekturwert x₂ gebildet und laufend
an die akutellen Betriebsverhältnisse des Elektroabscheiders
angepaßt wird. Die Ansprechempfindlichkeit wird dadurch
verfeinert und den verschiedenen Betriebszuständen
- z. B. kleine oder große Welligkeit der Spannung - besser
angepaßt.
Ferner ist vorgesehen, daß alle Referenzwerte
( Δ U n-1)i einer Halbwelle gespeichert werden und
- solange kein Durchschlag festgestellt wird - nach Durchführung
des Vergleichs nacheinander durch die Spannungsdifferenzen
( Δ U n)i ersetzt werden und das letztere
für den Vergleich mit den Spannungsdifferenzen
( Δ U n + 1)i der nachfolgenden Halbwelle als Referenzwert
benutzt werden.
Zur Ausscheidung von nicht auf Durchschläge zurückgehende
Änderungen der Spannungskurve, wird außerdem ein Vergleich
der Stromwerte durchgeführt, wobei analog zum Spannungsvergleich
als Stromwert die Stromdifferenz
Δ I n = (I i + 1 - I i)n
zwischen zwei im Abstand Δ t
aufeinanderfolgenden Messungen und als Referenzwert die
Stromdifferenz
Δ I n-1 = (I i + 1 - I i)n-1
der vorausgehenden
Halbwelle benutzt wird, daß die Differenz der
Absolutwerte von Δ I n und Δ I n-1 gebildet und der
Absolutwert der Differenz mit einem die Ansprechempfindlichkeit
bestimmenden Wert Y verglichen wird.
Auch hierbei soll der Wert Y aus einem fest vorgegebenen
Toleranzwert Y₀, einem ersten von der Anzahl i der
Messungen pro Halbwelle abhängigen Korrekturwert Y₁ und
einem zweiten von der Welligkeit (I max-Imin)n der
Halbwelle abhängigen Korrekturwert Y₂ gebildet werden
und laufend an die aktuellen Betriebsverhältnisse des
Elektroabscheiders angepaßt werden.
Ferner ist vorgesehen, daß alle Referenzwerte
( Δ I n-1) i einer Halbwelle gespeichert werden und
- solange kein Durchschlag festgestellt wird - nach Durchführung
des Vergleichs nacheinander durch die Stromdifferenzen
( Δ I n)i ersetzt werden und daß letztere
für den Vergleich mit den Stromdifferenzen ( Δ I n + 1) i
der nachfolgenden Halbwelle als Referenzwerte benutzt werden.
Schließlich wird besonders vorteilhaft der Vergleich der
Spannungswerte nach den Ansprüchen 1 bis 3 zusammen mit
dem Vergleich der Stromwerte nach den Ansprüchen 4 bis 6
in Kombination miteinander zur Erfassung der Durchschläge
benutzt.
Gegenüber dem bekannten Verfahren unterscheidet sich der
Erfindungsgedanke einmal dadurch, daß nicht phasengleiche
Spannungswerte verglichen werden, sondern phasengleiche
Spannungsdifferenzen zwischen jeweils aufeinanderfolgenden
Messungen, und zum anderen dadurch, daß die Ansprechempfindlichkeit
nicht als fester Wert vorgegeben wird,
sondern betriebsabhängig selbsttätig in gewissen Grenzen
korrigiert werden kann, was eine noch bessere Erfassung
von Durchschlägen und dementsprechend bessere Regelung der
Betriebsspannung erlaubt. Auf diese Weise kann die Abscheideleistung
eines Elektroabscheiders auch unter wechselnden
Betriebsbedingungen optimiert werden.
Weitere Einzelheiten werden anhand der Fig. 1 erläutert.
Dargestellt ist der Verlauf der Abscheiderspannung U
über der Zeit T. Da sich die Abscheiderspannung periodisch mit
doppelter Netzfrequenz ändert, wird eine volle Schwingung
der Abscheiderspannung auch als Halbwelle (der Netzspannung)
bezeichnet. Im vorliegenden Fall ist die Abscheiderspannung
vereinfacht als reine Sinusschwingung dargestellt. In der
Praxis weicht die Abscheiderspannung mehr oder weniger von einer
Sinusschwingung ab. Für die folgenden Erläuterungen
ist dies jedoch ohne Bedeutung.
Die Abscheiderspannung ändert sich periodisch zwischen U min
U max, d. h. mit der Amplitude A. Dargestellt sind
zwei Halbwellen mit den zugehörigen Zeitabschnitten bzw.
Perioden n-1 und n. Der Spannungsverlauf zwischen U min
und U max ist in aufeinanderfolgenden Perioden oder Halbwellen
nahezu identisch, wenn keine Durchschläge erfolgen.
Gemäß der Erfindung werden in der Halbwelle n-1 laufend
die Spannungsdifferenzen
U i-U i + 1; U i + 1-U i;
U i + 2-U i + 1
usw. gebildet und gespeichert.
Anschließend werden die entsprechenden Spannungsdifferenzen
der nachfolgenden Halbwelle n gebildet und es werden
die Differenzen der phasengleichen Spannungsdifferenzen
berechnet. Diese Differenzen werden mit einem Referenzwert
X verglichen und Abweichungen als Durchschlagskriterium
benutzt.
Es sei noch bemerkt, daß wechselnde Vorzeichen vermieden
werden, indem bei allen Differenzbildungen nur die jeweiligen
Absolutbeträge gespeichert und zum Vergleich herangezogen
werden. Außerdem ist noch darauf hinzuweisen, daß
im Speicher die Spannungsdifferenzen der Halbwelle n-1
nacheinander durch die Spannungsdifferenzen der Halbwelle
n und so fort ersetzt werden. Dies jedoch nur so
lange, wie kein Durchschlag festgestellt wird. Bei einem
Durchschlag bleiben die Spannungsdifferenzen der letzten
ungestörten Halbwelle gespeichert und stehen nach dem Ausregeln
des Durchschlags als Vergleichswerte wieder zur
Verfügung.
Claims (7)
1. Verfahren zur Erfassung von Durchschlägen bei einem
Elektroabscheider, der über einen Gleichrichter, einen
Hochspannungstransformator und ein Stellglied aus einem
Wechselspannungsnetz gespeist wird, durch Vergleichen
eines Spannungswertes mit einem Referenzwert, wobei
eine Abweichung vom Referenzwert zur Ansteuerung des
Stellgliedes benutzt wird, dadurch gekennzeichnet, daß
als Spannungswert die Spannungsdifferenz
Δ U n = (U i + 1-U i)nzwischen zwei im Abstand
Δ t aufeinanderfolgenden Messungen und als
Referenzwert die phasengleiche SpannungsdifferenzΔ U n-1 = (U i + 1-U i)n-1der vorausgehenden
Halbwelle benutzt wird, daß die Differenz der Absolutwerte
von Δ U n und Δ U n-1 gebildet und der Absolutwert
der Differenz mit einem die Ansprechempfindlichkeit
bestimmenden Wert X verglichen wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
der Wert X aus einem fest vorgegebenen Toleranzwert
X₀, einem ersten von der Anzahl i der Messungen
pro Halbwelle abhängigen Korrekturwert X₁ und einem
zweiten, von der Welligkeit (U max-U min)n der
Halbwelle abhängigen Korrekturwert X₂ gebildet und
laufend an die aktuellen Betriebsverhältnisse des
Elektrofilters angepaßt wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet,
daß alle Referenzwerte ( Δ U n-1) i einer
Halbwelle gespeichert werden und - solange kein Durchschlag
festgestellt wird - nach Durchführung des Vergleichs
nacheinander durch die Spannungsdifferenzen
( Δ U n)i ersetzt werden und daß letztere für den
Vergleich mit den Spannungsdifferenzen ( Δ U n + 1) i
der nachfolgenden Halbwelle als Referenzwert benutzt
werden.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß außerdem ein Vergleich der Stromwerte
durchgeführt wird, wobei analog zum Spannungsvergleich
als Stromwert die Stromdifferenz
Δ I = (I i + 1-I i)nzwischen zwei im Abstand
Δ t aufeinanderfolgenden Messungen und als Referenzwert
die StromdifferenzΔ I n-1 = (I i + 1-I i)n-1der vorausgehenden Halbwelle benutzt wird, daß die
Differenz der Absolutwerte von Δ I n und Δ I n-1
gebildet und der Absolutwert der Differenz mit einem
die Ansprechempfindlichkeit bestimmenden Wert Y
verglichen wird.
5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß
der Wert Y aus einem fest vorgegebenen Toleranzwert
Y₀, einem ersten von der Anzahl i der Messungen
pro Halbwelle abhängigen Korrekturwert Y₁ und einem
zweiten von der Welligkeit (I max-I min)n der
Halbwelle abhängigen Korrekturwert Y₂ gebildet und
laufend an die aktuellen Betriebsverhältnisse des
Elektroabscheiders angepaßt wird.
6. Verfahren nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet,
daß alle Referenzwerte ( Δ I n-1) i einer
Halbwelle gespeichert werden und - solange kein Durchschlag
festgestellt wird - nach Durchführung des Vergleichs
nacheinander durch die Stromdifferenzen
( Δ I n)i ersetzt werden und daß letztere für den
Vergleich mit den Stromdifferenzen ( Δ I n + 1) i der
nachfolgenden Halbwelle als Referenzwerte benutzt werden.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch
gekennzeichnet, daß der Vergleich der Spannungswerte
(nach den Ansprüchen 1 bis 3) zusammen mit dem Vergleich
der Stromwerte (nach den Ansprüchen 4 bis 6) in
Kombination miteinander zur Erfassung der Durchschläge
benutzt wird.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19823219664 DE3219664A1 (de) | 1982-05-26 | 1982-05-26 | Verfahren zur erfassung von durchschlaegen bei einem elektrofilter |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19823219664 DE3219664A1 (de) | 1982-05-26 | 1982-05-26 | Verfahren zur erfassung von durchschlaegen bei einem elektrofilter |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3219664A1 DE3219664A1 (de) | 1983-12-01 |
DE3219664C2 true DE3219664C2 (de) | 1989-11-02 |
Family
ID=6164470
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19823219664 Granted DE3219664A1 (de) | 1982-05-26 | 1982-05-26 | Verfahren zur erfassung von durchschlaegen bei einem elektrofilter |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3219664A1 (de) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3343563A1 (de) * | 1983-12-01 | 1985-06-13 | Metallgesellschaft Ag, 6000 Frankfurt | Verfahren zum erfassen von durchschlaegen bei einem elektrofilter |
DE4111673C1 (de) * | 1991-04-10 | 1992-07-02 | Metallgesellschaft Ag, 6000 Frankfurt, De |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
HU167880B (de) * | 1972-04-22 | 1975-12-25 | ||
DE2540084C2 (de) * | 1975-09-09 | 1983-08-25 | Metallgesellschaft Ag, 6000 Frankfurt | Einrichtung zum hochspannungsseitigen Erfassen von Überschlägen bei einem Elektroabscheider |
DE3007364A1 (de) * | 1980-02-27 | 1981-09-10 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Steuerung fuer ein elektrofilter |
-
1982
- 1982-05-26 DE DE19823219664 patent/DE3219664A1/de active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3219664A1 (de) | 1983-12-01 |
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