DE3200983A1 - Elektrisches netzwerk - Google Patents
Elektrisches netzwerkInfo
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
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- H01L27/01—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate comprising only passive thin-film or thick-film elements formed on a common insulating substrate
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Description
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT Unser Zeichen
Berlin und München
82 P 1 0 H DE
Elektrisches Netzwerk
Die Erfindung betrifft ein elektrisches Netzwerk, das zumindest einen elektrischen Dünnfilmwiderstand enthält,
und das aus metallischen Widerstandsschichten besteht, die auf einem Trägermaterial angeordnet sind.
Derartige Dünnfilmwiderstände, deren metallische Schichten beispielsweise aus NiCr, Ta~N, TaAl oder CrSi bestehen,
können im Vergleich zu Dickschichtwiderständen nur für einen relativ kleinen Widerstandsbereich hergestellt
werden. Hohe Widerstandswerte kann man im begrenzten Umfang nur durch Mäandrierung bzw. durch verschiedene
Flächenwiderstände auf einem Trägermaterial erreichen.
Aufgabe der Erfindung ist es, ein elektrisches Netzwerk der eingangs genannten Art anzugeben, bei dem sowohl hochals
auch niederohmige Widerstandswerte auf dem gleichen Trägermaterial angeordnet sind. .
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß auf dem Trägermaterial eine erste Metallschicht aus
CrSi angeordnet ist, daß auf dieser ersten Schicht zumindest teilweise eine zweite Schicht aus NiCr angeordnet
ist, und daß auf der NiCr-Schicht an den Kontaktierungsstellen eine Cu-Schicht angeordnet ist.
Der Vorteil des elektrischen Netzwerkes nach der Erfindung besteht darin, daß an den Stellen, wo nur die
erste Schicht aus CrSi zwischen Kontaktschichten angeordnet
ist, ein hochohraiger Widerstand vorhanden ist
Sac 1 Gae / 12.01.1952
VPA 82 P 1 Ο U GE
(Flächenwiderstand von CrSi im kühn Bereich), und daß an den Stellen wo auf der CrSi-Schicht noch die zweite
Schicht aus NiCr (Flächenwiderstand im 10 Ohm Bereich) ein niederohmiger 7/iderstand vorhanden ist. Damit erhält
man ein elektrisches Netzwerk, das sowohl hoch- als auch niederohmige Widerstände enthält, wobei durch geeignete
Mäandrierung im Vergleich zu bisherigen Dünnfilmnetzwerken ein um den Faktor 10 bis 100 größeres Widerstandsspektrum
lückenlos erhalten werden kann. So können statt der bisher erreichbaren Widerstandswerte von 10 bis
ungefähr 500 kOhm in Abhängigkeit von der zulässigen durch Ätzen herstellbaren minimalen Mäanderbreite, Flächenwiderstände
von 1 bis 5 MOhm realisiert werden.
Gemäß vorteilhafter Weiterbildungen der Erfindung besteht das Trägermaterial aus einer thermoplastischen
Kunststoffolie, wozu vorzugsweise Materialien wie PoIyimid, Polyolefine, Polysulfon, Polyester, Polyfluorethylenpropylen
oder Polytetrafluorethylen angewendet werden.
Damit ergibt sich der Vorteil, daß die verschiedenen metallischen Schichten in einem Arbeitsgang auf die
Folienbänder im Durchlauf aufgebracht werden können.
Sine weitere Ausgestaltung sieht vor, daß das Trägermaterial
aus Glas, glasierter oder unglasierter Keramik (z.B. Al2O^) besteht, wobei als Widerstandsmaterial
AlTa- oder Ta-Schichten dienen oder daß auf einer oxidierten Silicium-Oberfläche Widerstandsschichten (z.B.
NiCr) abgeschieden sind (z.B. SLIC-Bausteine).
Ein vorteilhaftes Verfahren zur Herstellung eines elektrischen Netzwerkes besteht darin, daß auf einem Trägermaterial
eine erste Schicht aus CrSi hergestellt wird,
COPY
VPA
82 P 1 0 1 k OE
daß auf dieser ersten Schicht eine zweite Schicht aus NiCr erzeugt wird, daß auf der zweiten Schicht eine
dritte Schicht aus Cu hergestellt wird, und daß die Dünnschicht -Widerstände durch, eine selektive Ätzung erzeugt
werden.
Vorzugsweise erfolgt das Aufbringen der metallischen Schichten durch aufeinanderfolgendes ganzflächiges Aufdampfen
oder durch Kathodenzerstäubung (Sputtern).
Es ist vorteilhaft, wenn die Cu-Schicht in einem galvanischen
Bad verstärkt wird.
Vorzugsweise erfolgt die selektive Ätzung dadurch, daß die Cu-Ätzung in einem Bad durchgeführt wird, das
FeCl^ + H2O oder Cu
+ NH3 + NH4Cl
enthält. Durch diese Ätzlösungen wird nur die Cu-Schicht angegriffen, wogegen die NiCr- und CrSi-Schicht nicht
angegriffen v/erden. Für die Ätzung der NiCr-Schicht wird * vorzugsweise eine Badlösung angewandt, die HCl + Ethylen- ■
glykol + K2S enthält. Diese Ätziösurig greift die Cu-Schicht
und CrSi-Schicht nicht an. Für die Ätzung der CrSi-Schicht kann eine Badlösung verwendet werden, die
HN03+HF enthält.
Der Gegenstand der Erfindung wird anhand von Ausführungsbeispielen
näher erläutert. In der dazugehörenden Zeichnung zeigen
Fig. 1 den schematischen Schichtaufbau vor der Herstellung des Netzwerkes
Fig.. 2 den schematischen Aufbau eines Netzwerkes mit zwei Widerständen.
In der Fig. 1 ist ein schematischer Schichtaufbau dargestellt, bei dem auf einem Trägermaterial 1 eine erste
-j< - VPA 82 P 1 G UDE
Schicht 2 aus CrSi angeordnet ist. Auf der CrSi-Schicht 2 befindet sich eine NiCr-Schicht 3. Auf der NiCr-Schicht
3 befindet sich eine erste Cu-Schicht 4. Diese drei Schichten 2 bis 4 sind beispielsweise durch aufeinanderfolgendes
ganzflächiges Aufdampfen oder Sputtern in einem Arbeitsgang auf ein vorzugsweise als Trägermaterial
1 dienendes Folienband 1 im Durchlaufverfahren aufgebracht. Auf der Cu-Schicht 4 (Flächenwiderstand im
Ohm-Bereich) befindet sich eine weitere Cu-Schicht 5> die in einem galvanischen Bad hergestellt wurde und einen
Flächenwiderstand im mOhm-Bereich besitzt.
Die Schichtstärke der einzelnen Schichten 2 bis 5 ist zur
besseren Erkennbarkeit nicht maßstabgerecht dargestellt. In Wirklichkeit sind die Metallschichten 2 bis 5 im Vergleich
zum Folienband 1 wesentlich dünner.
In der Fig. 2 ist ein elektrisches Netzwerk mit zwei Widerständen dargestellt, das durch selektive Ätzung des
in der Fig. 1 dargestellten Zwischenproduktes erzeugt wurde. Die Konfiguration der einzelnen Widerstände wird
dabei in bekannter Weise dadurch erzeugt, daß beispielsweise auf die oberste Schicht ein Photolack aufgetragen
wird, dem das gewünschte Muster durch Belichtung eingeprägt wird. Nach dem ersten Ätzvorgang wird dieser Vorgang
wiederholt, bis das fertige Netzwerk unter Verwendung der weiter oben angeführten Ätzlösungen hergestellt
ist.
Aus der Fig. 2 ist zu entnehmen, daß auf dem als Trägermaterial dienendes Folienband 1 nur noch die CrSi-Schicht
2 durchgehend angeordnet ist. Die NiCr-Schicht ist in zwei Teilbereiche 3a und 3b aufgeteilt.' Die Cu-Schichten
sind nur noch an den Stellen vorhanden, an denen elektrische Kontakte 5a bis 5c bzw. 4a bis 4c erforderlich
sind.
VPA
82 F ion ΟΞ
Somit ergibt sich bei dem in der Fig. 2 dargestellten
Schichtaufbau, daß zwischen den Kontakten 5b und 5c nur die hochohmige CrSi-Schicht 2 wirksam ist, so daß
zwischen diesen zwei Kontakten ein hochohmiger Widerstand besteht. Zwischen den beiden Kontakten 5a und 5b
ist die CrSi-Schicht 2 und die NiCr-Schicht 3a parallel geschaltet. Da die NiCr-Schicht 3a wesentlich niederohiniger
als die CrSi-Schicht 2 ist, ergibt sich somit !
zwischen den Kontakten 5a und 5b ein niederohmiger Widerstand.
Neben den in den Figuren dargestellten Ausführungsbeispielen
ist es auch möglich, auf beiden Seiten des Trägermaterials 1 die dargestellten metallischen Schichter
anzubringen. Bei Durchtrennung der metallischen Schichten bis auf das Trägermaterial 1 ist es dann möglich, auch
elektrische Kondensatoren dadurch zu erhalten, daß zwischen den auf beiden Seiten spiegelbildlich verbleibenden
Metallschichten das Trägermaterial 1 als Dielektrikum dient. Bei dieser Ausführungsform erhält
man RC-Netzwerke.
Weiterhin eignet sich der Gegenstand der Erfindung zur Erzeugung von Widerständen bei integrierten Schaltungen
(IC). ·
7 Patentansprüche
2 Figuren COPY
Leerseite
ORIGINAL INSPECTED
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Claims (8)
- VPA 82 P 1 0 1 h OEPatentansorücheElektrisches Netzwerk, das zumindest einen elektrischer. Dünnfilmwiderstand enthält, und das aus metallischen Widerstandsschichten besteht, die auf einem Trägermaterial angeordnet sind, dadurch gekennzeichnet, daß auf dem Trägermaterial (1) eine erste Metallschicht (2) aus CrSi angeordnet ist, daß auf dieser ersten Schicht zumindest teilweise eine zweite Schicht aus NiCr (3> 3a, 3b) angeordnet ist und daß auf der NiCr-Schicht (3, 3a, 3b) an den Kontaktierungsstellen eine Cu-Schicht (4, 5; 4a, 5a; 4b, 5b; 4c, 5c) angeordnet ist.
- 2. Elektrisches Netzwerk nach Anspruch 1, dadurch gekennze ichne t, "daß das Trägermaterial (1) eine thermoplastische Kunststoffolie ist.
- 3. Elektrisches Netzwerk nach Anspruch 2, dadurch gekennze ichnet, daß die Kunststoffolie (1) aus Polyimid, Polyolefinen, Polysulfon, Polyester, Polyfluorethy.lenpropylen oder Polytetrafluorethylen besteht.
- 4. Elektrisches Netzwerk nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Trägermaterial aus Glas, unglasierter oder glasierter Keramik oder einer oxidierten Siliciumoberflache besteht.
- 5. Verfahren zum Herstellen eines elektrischen Netzwerkes nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch g e -30- kennzeichnet, daß auf einem Trägermaterial (i) eine erste Schicht (2) aus CrSi hergestellt wird, daß auf dieser ersten Schicht (2) eine zweite Schicht (3) aus NiCr erzeugt wird, daß auf der zweiten Schicht (3) eine dritteBAD ORIGINAL"3 2 0ΌΊ9 8 3■ - Z - VPA 82Ρ 1 O 14 OESchicht (4) aus Cu hergestellt wird und daß die Dünnfilmwiderstände durch eine selektive Ätzung erzeugt werden.
- 6. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Cu-Schicht (4) in einem galvanischen Bad verstärkt wird.
- 7. Verfahren nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, daß als Cu-Ätzlö'sung*eCl3 + H2O oder Cu (NH3J4Cl2 + NH3 + NH4Cl + (NH4) 2C03> und als NiCr-Ätzlösung HCl + Ethylenglykol + K2S und als CrSi-Ätzlösung HNO3 + HF verwendet werden.
- 8. Verfahren nach einem der Ansprüche 6 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Widerstandsschichten (2;3;3a,Jb;4,4a4b,4c) durch Aufdampfen oder Kathodenzerstäubung hergestellt werden.Copy
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19823200983 DE3200983A1 (de) | 1982-01-14 | 1982-01-14 | Elektrisches netzwerk |
Applications Claiming Priority (1)
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DE19823200983 DE3200983A1 (de) | 1982-01-14 | 1982-01-14 | Elektrisches netzwerk |
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DE3200983A1 true DE3200983A1 (de) | 1983-07-21 |
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ID=6153072
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DE19823200983 Withdrawn DE3200983A1 (de) | 1982-01-14 | 1982-01-14 | Elektrisches netzwerk |
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DE (1) | DE3200983A1 (de) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0175654A2 (de) * | 1984-07-20 | 1986-03-26 | SELENIA INDUSTRIE ELETTRONICHE ASSOCIATE S.p.A. | Verfahren zum Herstellen integrierter Dünnfilmwiderstände aus einer Widerstands-Doppelschicht mittels Ionenerosion |
EP0256568A2 (de) * | 1986-07-15 | 1988-02-24 | Siemens Telecomunicazioni S.P.A. | Verfahren zum Herstellen einer Dünnschichtschaltung und nach diesem Verfahren hergestellte passive Schaltung |
EP0540820A1 (de) * | 1991-11-02 | 1993-05-12 | Daimler-Benz Aerospace Aktiengesellschaft | Verfahren zur Herstellung eines strukturierten Dünnfilm-Widerstandsschichtsystems sowie Schaltungsanordnung mit einem insbesondere nach diesem Verfahren hergestellten Dünnfilm Widerstandsschichtsystem |
US6297556B1 (en) * | 1994-08-05 | 2001-10-02 | U.S. Philips Corporation | Electrically resistive structure |
-
1982
- 1982-01-14 DE DE19823200983 patent/DE3200983A1/de not_active Withdrawn
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