DE3136448A1 - "faseroptisches messgeraet" - Google Patents
"faseroptisches messgeraet"Info
- Publication number
- DE3136448A1 DE3136448A1 DE19813136448 DE3136448A DE3136448A1 DE 3136448 A1 DE3136448 A1 DE 3136448A1 DE 19813136448 DE19813136448 DE 19813136448 DE 3136448 A DE3136448 A DE 3136448A DE 3136448 A1 DE3136448 A1 DE 3136448A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- filter
- detector
- transmitter
- measuring device
- filters
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 239000000835 fiber Substances 0.000 title claims description 25
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 10
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 33
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 10
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 8
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 6
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 4
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 2
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 claims 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims 1
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 2
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 2
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 2
- 230000033228 biological regulation Effects 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 230000011514 reflex Effects 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
- G01D5/268—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light using optical fibres
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Optical Transform (AREA)
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
Description
3 1364 AS .ι—
•·*::'": ;"*;;"": -"· -· J NACHQEREIOHT
Patentanwalt und Rechtsanwalt · --i · !;---"-- m i ~~"
Dr.-Ing. Dipl.-lng. Joachim Bo ecke r * - "~ 6 Frankfurt'/Main 1 13. Juli 1981
"" Rathenauplatz2-8 20 998 P
Telefon: (0611) * 28 23 55
Die Erfindung betrifft ein faseroptisches Meßgerät gemäß dem
Oberbegriff des Anspruches 1.
In der DE-OS 29 20 489 wird ein Meßgerät zur Messung physikalischer
Größen beschrieben, das auf der Anwendung optischer Filter im Meßgeber zur Erzeugung von Meßsignalen und Stabilisierungssignalen
für die Faseroptik und die Optoelektronik beruht. Um eine veränderliche nicht bekannte Dämpfung in den
optischen Fasern zwischen Geber und elektronischer Auswertungseinheit zu kompensieren, muß ein Stabilisierungssignal
erzeugt werden. Hierzu ist es erforderlich, daß die spektralen Eigenschaften des Gebers bei zwei Wellenlängen gemessen werden,
wodurch man eine relativ komplexe Optoelektronik für die Meßelektronik erhält, und zwar insbesondere dann, wenn Leuchtdioden
und Filter zugleich temperaturstabilisiert werden müssen. ■ "
Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein
faseroptisches Meßgerät der eingangs genannten Art zu entwickeln, bei dem die eben genannten Nachteile sowie weitere
.31.3 6 kß 8 ~: —! 3.7.1981
20 998 P
• - 7 -
hiermit zusammenhängende Probleme im wesentlichen beseitigt sind.
Zur Lösung dieser Aufgabe wird ein faseroptisches Meßgerät gemäß dem Oberbegriff des Anspruches 1 vorgeschlagen, welches
erfindungsgemäß die im kennzeichnenden Teil des Anspruches 1 genannten Merkmale hat.
Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen
genannt.
Bei dem Meßgerät gemäß der Erfindung werden die durch die" Meßgröße verursachten Veränderungen des Spektrums des zum Geber
gehörenden Filters gemessen, wobei nichttemperaturstabilisierte Lichtquellen und Fotodetektoren verwendet werden können.
Das Meßgerät gemäß der Erfindung ist gegenüber sich ändernden, unterschiedlichen Dämpfungen und Reflexionen im
lichtleitenden Fasersystem unempfindlich und beruht auf der Kreuzkorrelation zwischen zwei Filtern.
Anhand der Figuren soll die Erfindung näher erläutert werden.
Es zeigen
Figur 1 eine Anordnung zur Erläuterung des Prinzips der Erfindung,
Figur 2a das Reflexionsspektruni des Filters in der Gebereinheit,
Figur 2b, die Transmissionskurve des Filters in der Auswertungseinheit
,
:: : ι ι: ι \s ~. 20 998 P
Figur 2c das Kreuzkorrelationssignal, Figur 3a das Drehen des Filters in der Auswertungseinheit
bei Verwendung von Interferenzfiltern, Figur 3b eine Ausführungsform der Lichtkopplung über das
Filter der Auswertungseinheit, Figur 4 ein Ausführungsbexspxel eines Meßgerätes gemäß
der Erfindung zur gleichzeitigen Messung von
zwei Meßgrößen,
Figur 5a und 5b Reflexionsspektren für zwei verschiedene
Figur 5a und 5b Reflexionsspektren für zwei verschiedene
Filter.
In einem Meßgerät nach Figur 1 wird eine Leuchtdiode 2 von einem Speiseglied 1 gespeist, wobei Licht durch eine lichtleitende optische Faser 3, eine Faserverzweigung 4 und eine
optische Faser 14 zu einem Filter 5 in der Gebereinheit G geleitet wird, dessen Reflexionsspektrum R(A) als vollausgezogene
Kurve in Figur 2a gezeigt ist. U in Figur 1 ist die Auswertungseinheit.
In Figur 2a ist auch das Spektrum I(λ) der Lichtquelle dargestellt. Das vom Filter 5 reflektierte Licht
wird durch die Faser 14 zur Verzweigung 4 geleitet, von der ein Teil des Lichtes über die Faser 6 zu einem Filter J der
Auswertungseinheit U weitergeleitet wird, dessen Transmissionskurve T(λ) in Figur 2b gezeigt wird. Das Spektrum des
Filters 7 stimmt im Großen und Ganzen mit dem Spektrum des Filters 5 überein. An dem Filter ist ein Detektor 9 angeordnet.
In Figur 2b ist auch das Empfindlichkeitsspektrum O(1X)
des Detektors 9 abgebildet. Die Größe d des Detektorsignals kann in 1(λ), R(A), T(X) und D(A) ausgedrückt werden, und
-MQC/ /O -NACHg
J M b 4 n β 13 .TTP=FET
: " · ·„,· -; 20 998 P
- 9 -
d = \ IQ) · R(A) · TCX) · D(>) · d>
Nun kann das Spektrum T(^) wellenlängenmäßig, also auf der
Abszisse, um den WertA>=T nach T(Vf) verschoben werden, in
dem die Temperatur eines Filterofens 8 für den Filter 7 von einem Glied 12 gesteuert oder geregelt wird. Gleichzeitig
wird die Filtertemperatur von einem Glied 11 gemessen, das auch das Signal d für verschiedene Werte vonf, d.h. das Sig
nal ά{χ) = J IU.) · DO) · RQ) · T(λ-T) · d>
analysiert, ο
Dieses ist die Kreuzkorrelation zwischen R und T, die ein Maximum hat, wenn R und T übereinstimmen, d.h. für T = -Δλ
gemäß Figur 2c. Dadurch, daß das Kreuzkorrelationssignal in dem Glied 11 gemäß Figur 2c analysiert wird, kann die Wellenlängenverschiebung
und Formveränderung von RQ) gemessen werden, wodurch man auch die Meßgröße erhält. R(λ) kann man direkt
als den Reflex von einem Interferenzfilter erhalten. Werden Absorptionsfilter benutzt, ist es zweckmäßig, einen
Spiegel auf deren Rückseite anzubringen, wenn nicht eine separate Faser benutzt wird, um das transmittierte Licht zum
Detektor zu leiten.
Bei der Verwendung von Interferenzfiltern kann das Filter 7 statt erwärmt entsprechend Figur 3a gedreht werden. Der Drehwinkel
cL bewirkt dabei eine Wellenlängenverschiebung X in dem
oben genannten Ausdruck für d(X) . Ist das Filter 5 ein Interferenzfilter,
so kann ein Teil des Filters mit garantiert
13.7. 20 998 P
- 10 -
demselben Reflexionsspektrum herausgeschnitten und als Referenzfilter
7 benutzt werden. Wie in Figur 3b gezeigt, wird das Licht vom Filter 5 des Gebers über die Verzweigung 16 und
die Faser 15 zum Filter 7 geleitet, während ein Teil des vom Filter 7 reflektierten Lichtes über die Faser 15, die Verzweigung
16 und die Faser 17 zum Detektor 9 zurückgeleitet wird. Hierdurch kann man für die Filter 5 und 7 identische optische
Verhältnisse erhalten, was scharfe Korrelationsspitzen ergibt.
Um eine möglichst große Korrelationsspitze zu erhalten (vgl. d(-&?U in Figur 2c), müssen die Filter 5 und 7 als Funktion
der Wellenlänge möglichst große und dicht beieinanderliegende Reflexions- und/oder Transmissionsvariationen in ihren Spektren
aufweisen. Eine angemessene Forderung ist es, daß mindestens zwei Reflexions- und/oder Transmissionsspitzen im
Emissionspektrum I(λ) der Lichtquelle Platz finden. Geeignete Filter zur Erzielung eines Spektrums mit "Feinstruktur" sind
Interferenzfilter, Fabry-Perrot-Resonatoren und Filter, die mit Substanzen dotiert sind, welche scharfe Absorptionsbänder
ergeben. Bei den Interferenzfiltern wird eine der Dünnfilmschichten im Verhältnis zu den übrigen Schichten zweckmäßigerweise
dick gewählt. Ein Fabry-Perrot-Resonator kann aus einer einige yum dicken Quarzplatte bestehen, die auf beiden Seiten
mit einer Metallschicht belegt ist. Als Absorptionsfilter kann dotiertes Glas benutzt werden.
Das Meßgerät nach Figur 1 kann mit kleineren Modifikationen
gemäß Figur 4 auch zur gleichzeitigen Messung von mehr als
NACHeEREICi-IT I
-: -. : . - ' 20 998 P
- 11 -
einer Meßgröße benutzt werden. Wie aus Figur 4 hervorgeht, enthält der Geber beim gleichzeitigen Messen von zwei Meßgrößen
zwei Filter 5 und 18. Die Meßgröße X, beeinflußt das
Filter 5 und die Meßgröße Xp das Filter 18. Der Spektralanalysator
enthält ebenfalls zwei Filter, 7 und 19, wobei das Spektrum des Filters 7 dem des Filters 5 möglichst gleich ist,
während das Spektrum des Filters 19 dem des Filters 18 möglichst gleich ist. Wenn sich die Meßgrößen X1 und X„ ändern,
so werden die Spektren von 7 und 5 bzw. 19 und 18 voneinander abweichen, und diese Abweichung wird durch das anfangs beschriebene
Korrelationsverfahren vom Detektor 9 erfaßt. Bei
ie- A
einer maximalen Korrelation ist X. '= X und X* = X„, wobei
X1 und X* die im Analysator simulierten Meßgrößen sind.
Wenn beispielsweise X1 die Temperatur abbildet und Xp die
Temperatur und einen Magnetfeldwert abbildet, so können sowohl X1 wie Xp"* eine Temperatur abbilden, wubei der Temperaturunterschied
zwischen dem Filter 19 und dem Filter 7 den Magnetfeldwert beschreibt. Durch geeignete Wahl der Filter 7
und 19 können X1 und ΧΓ auf andere Weise als durch Temperaturregelung
oder -steuerung erzeugt werden, beispielsweise durch Drehung des Interferenzfilters, Erzeugung eines elektrischen
Feldes über einem Fabry-Perrot-Resonator mit elektrooptischem "spacer" oder durch Erzeugung einer elektrischen
Spannung für einen piezoelektrisch gesteuerten Fabry-Perrot-Resonator.
Beispiele für Reflexionsspektren für die Filter 5 und-7 bzw.
18 und 19 sind in Figur 5a bzw. 5b gezeigt. Wenn man das
/12
20 998 P
τ * λ ir
- 12 -
Spektrum als ein sinusförmiges Signal d+ß · sinCA)^ betrachtet,
erkennt man, daßco für X. größer ist als ^2 für X2, und man
erhält, was man bei elektrischen Signalen Frequenzmultiplexierung nennt. Theoretisch kann eine unbegrenzte Anzahl von Meßgrößen
über dieselbe Faser 14 übertragen werden, indem ein Filter mit der Spektrumfrequenz CO. auf jede Meßgröße X. deduziert
wird. Das Ausfiltern der Meßgröße X. wird durch Korrelation mit einem Filter vorgenommen, das auch die Spektrumfrequenz
CO hat.
Die oben beschriebenen Ausführungsbeispiele können im Rahmen des offenbarten allgemeinen Erfindungsgedanke'ns in vielfacher
Weise variiert werden.
43
Leerseite
Leerseite
Claims (1)
- Patentansprüche:1.) Faseroptisches Meßgerät zum Messen physikalischer und chemischer Größen, bestehend aus einem Geberteil (G) und einer Auswertungseinheit (U), die über mindestens eine lichtleitende optische Faser (14) miteinander verbunden sind, wobei eine oder mehrere in der Auswertungseinheit vorhandene Lichtquellen (2) über den Lichtleiter (14) ein oder mehrere optische Spektfalfilter (5) im Geber (G) beleuchten, und mit einer in der Auswertungseinheit (U) befindlichen optischen Detektoranordnung zur Analyse des vom Geber (G) herrührenden Lichtes, dadurch gekennzeichnet, daß die Detektoranordnung aus einem oder mehreren Fotodetektoren (9) besteht, die das Licht vom Geber (G) erfassen, nachdem dieses durch bzw. an ein oder mehrere zu der Detektoranordnung gehörende optische spektrale Filter (7) transmittiert und/oder reflektiert wurde, daß Glieder vorhanden sind zur Wellenlängenverschiebung des Transmissions- und/oder Reflexionsspektrums des Detektorfilters/der Detektorfilter, welche Wellenlängenverschiebung ein Maß für die aktuelle Meßgröße ist, wodurch der genannte Detektor (9) die Korrelation zwischen dem Spektrum des Geberfilters (5) und dem des Detektorfilters (7) bei verschiedenen Spektren des Detektorfilters (7), d.h. d(Fn) = Fn(A) · F' dXmißt, wobeiunddie Spektren der Geber-bzw. Detektorfilter sind, und daß die Korrelationswerte (d(Fn)) bei einer oder mehreren Spektralverteilungen am Detektorfilter (Fn) als ein Maß für den Zustand des Geberfilters (5) und somit für die aktuelle Meßgröße benutzt werden.2. Faseroptisches Meßgerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Geber (G) und die Detektoranordnung paarweise einander angepaßte "gematchte" optische Filter enthalten, wobei ein Filter im Geber (G) einem Detektorfilter entspricht, das zumindest in einem spektralen Teilbereich eine mit dem Filter im Geber übereinstimmende Spektrumsstruktur hat, und daß beim Vorhandensein von zwei oder mehr Geberfiltern diese untereinander unterschiedliche Spektren haben.3. Faseroptisches Meßgerät nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die genannte(n) Meßgröße(n) eine Wellenlängenverschiebung des Spektrums (Fp) des Geberfilters (5)bzw. der Geberfilter (5, 18) verursachen, daß die Auswertungseinheit (U) Mittel zur Wellenlängenverschiebung des Detektorfilters (7) der Detektorfilter (7, 19) enthält, und daß das Detektorsignal vom Fotodetektor (9) als Funktion derbzw.Wellenlängenverschiebung des Detektorfilters (7) [Her Detektorfilter (7, 19) einem Berechnun^sglied zur Analyse der Korrelation (d(FD)) zwischen den Geber- und Detektorfilterspektren zugeführt wird.j NAOHgEREiQHTJ20 "8 p— 3 —A. Faseroptisches Meßgerät nach Anspruch 2, dadurch gekenn-· zeichnet, daß die Geberfilter (5, 18) als Funktion der Wellenlänge verschieden schnell variierende Spektralkurven haben, d.h. daß FG(A) = Fg{Ä + Ä* ) für verschiedene Werte von Δλ für die einzelnen Filter erfüllt wird (Figur 5), daß jedes Geberfilter von mindestens einer der Meßgrößen beeinflußt wird und daß eine Demultiplexierung der Meßgrößen durch das genannte Korrelationsverfahren mit je einem Detektorfilter für jedes Geberfilter erfolgt.5. Faseroptisches Meßgerät nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Filter Interferenzfilter und/oder einfache oder Mehrkavitations-Fabry-Perrot-Resonatoren und/oder induzierte Transmissionsfilter und/oder Bragg-Filter und/ oder Doppelbrechungsfilter und/oder Absorptionsfilter mit schmalen Absorptionsbändern handelt, welche den Transmissions- und/oder Reflexionsspektren eine möglichst feine Struktur geben und dadurch ein möglichst großes Korrelations signal verursachen.6. Faseroptisches Meßgerät nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Wellenlängenverschiebung des Geber- und/ oder Detektorfilterspektrums durch Temperatureinwirkung auf die optische Wellenlänge (n-d) in interferenzbasierten Filtern bewirkt wird.7. Faseroptisches Meßgerät nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Wellenlängenverschiebung durch Drehungvon interferenzbasierten Filtern bewirkt wird.8. Faseroptisches Meßgerät nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Wellenlängenverschiebung durch Einwirkung von elektrischen und/oder magnetischen Feldern auf die optische Wellenlänge in elektrooptischen bzw. magnetooptischen Schichten in Interferenzfiltern bewirkt wird.9. Faseroptisches Meßgerät nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Wellenlängenverschiebung durch mechanische Modulation der optischen Wellenlänge in Interferenzfiltern, beispielsweise mit Hilfe eines oder mehrerer piezoelektrischer Modulatoren, bewirkt wird.10. Faseroptisches Meßgerät nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Wellenlängenverschiebung durch Temperatur- oder Druckeinwirkung auf die wellenlängenmäßige Lage des Absorptionsspektrums des Absorptionsfilters bewirkt wird.11. Faseroptisches Meßgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Ausgangssignal des Detektors (9) als Funktion eines oder mehrerer Parameter, wie Wcllenlängenverschiebung, relative Größe und Lage von Transmissions- und/oder Reflexionsspitzen und der Periodizität als Funktion der Wellenlänge für das Spektrum (Fp) des Detektorfilters (7) gemessen wird, daß die Auswertungseinheit Glieder zur Berechnung verschiedener Para-13644820 998 Pmeter, wie Höhe, Breite und Lage der Korrelationsspitzen, Tiefe, Breite und Lage der Korrelationsminima und der relativen Abstände zwischen verschiedenen Korrelationsspitzen, zwischen verschiedenen Korrelationsminima und zwischen Korrelationsspitzen und Korrelationsminima enthält, und daß die ermittelten Parameterwerte der Korrelationssignale im Hinblick auf verschiedene Parameterwerte des Spektrums (Fp1) des Detektorfilters zur Berechnung des Spektrums (Fq) des Geberfilters und damit des Meßsignals/der Meßsignale benutzt werden.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SE8006679A SE8006679L (sv) | 1980-09-24 | 1980-09-24 | Korrelerande fiberoptiskt metdon |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3136448A1 true DE3136448A1 (de) | 1982-06-24 |
Family
ID=20341804
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19813136448 Withdrawn DE3136448A1 (de) | 1980-09-24 | 1981-09-14 | "faseroptisches messgeraet" |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4430565A (de) |
JP (1) | JPS5787000A (de) |
DE (1) | DE3136448A1 (de) |
SE (1) | SE8006679L (de) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0088972A1 (de) * | 1982-03-15 | 1983-09-21 | Asea Ab | Faseroptische Messanordnung |
EP0169664A1 (de) * | 1984-06-21 | 1986-01-29 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Vorrichtung zum Bestimmen des Oxydationsgrades einer Oxydbeschichtung |
DE3538626A1 (de) * | 1984-11-01 | 1986-04-30 | Doryokuro Kakunenryo Kaihatsu Jigyodan, Tokio/Tokyo | Spektralphotometer |
DE3627198A1 (de) * | 1986-08-11 | 1988-02-18 | Bbc Brown Boveri & Cie | Anordnung zur zeitlich aufgeloesten optischen rueckstreumessung an lichtwellenleitern |
DE3736673A1 (de) * | 1987-10-29 | 1989-05-11 | Fraunhofer Ges Forschung | Infrarot-analysengeraet |
DE4224299A1 (de) * | 1992-07-23 | 1994-02-10 | Ohle Klaus Michael | Spektrometer |
WO1995007446A1 (de) * | 1993-09-10 | 1995-03-16 | Kabelwerke Reinshagen Gmbh | Spektrometer |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4945230A (en) * | 1984-07-06 | 1990-07-31 | Metricor, Inc. | Optical measuring device using a spectral modulation sensor having an optically resonant structure |
US4678904A (en) * | 1984-07-06 | 1987-07-07 | Technology Dynamics, Inc. | Optical measuring device using a spectral modulation sensor having an optically resonant structure |
GB8610654D0 (en) * | 1986-05-01 | 1986-08-20 | Bicc Plc | Movement detection |
FR2632404B1 (fr) * | 1988-06-03 | 1990-09-21 | Elf Aquitaine | Capteur interferometrique et son utilisation dans un dispositif interferometrique |
DE4116431A1 (de) * | 1991-05-18 | 1992-11-19 | Standard Elektrik Lorenz Ag | Optische messeinrichtung und verfahren zum betreiben der optischen messeinrichtung |
AUPN297195A0 (en) * | 1995-05-15 | 1995-06-08 | University Of Sydney, The | Optical fibre filter sensor |
IT1280954B1 (it) * | 1995-10-05 | 1998-02-11 | Sorin Biomedica Cardio Spa | Procedimento e sistema per rilevare parametri chimico-fisici. |
US7876447B2 (en) * | 2008-01-23 | 2011-01-25 | Cranfield University | Monofibre optical meter for chemical measurement |
-
1980
- 1980-09-24 SE SE8006679A patent/SE8006679L/ not_active Application Discontinuation
-
1981
- 1981-09-14 DE DE19813136448 patent/DE3136448A1/de not_active Withdrawn
- 1981-09-21 JP JP56149296A patent/JPS5787000A/ja active Pending
- 1981-09-23 US US06/304,955 patent/US4430565A/en not_active Expired - Fee Related
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
NICHTS-ERMITTELT * |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0088972A1 (de) * | 1982-03-15 | 1983-09-21 | Asea Ab | Faseroptische Messanordnung |
EP0169664A1 (de) * | 1984-06-21 | 1986-01-29 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Vorrichtung zum Bestimmen des Oxydationsgrades einer Oxydbeschichtung |
DE3538626A1 (de) * | 1984-11-01 | 1986-04-30 | Doryokuro Kakunenryo Kaihatsu Jigyodan, Tokio/Tokyo | Spektralphotometer |
DE3627198A1 (de) * | 1986-08-11 | 1988-02-18 | Bbc Brown Boveri & Cie | Anordnung zur zeitlich aufgeloesten optischen rueckstreumessung an lichtwellenleitern |
DE3736673A1 (de) * | 1987-10-29 | 1989-05-11 | Fraunhofer Ges Forschung | Infrarot-analysengeraet |
DE4224299A1 (de) * | 1992-07-23 | 1994-02-10 | Ohle Klaus Michael | Spektrometer |
WO1995007446A1 (de) * | 1993-09-10 | 1995-03-16 | Kabelwerke Reinshagen Gmbh | Spektrometer |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
SE8006679L (sv) | 1982-03-25 |
JPS5787000A (en) | 1982-05-31 |
US4430565A (en) | 1984-02-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3136448A1 (de) | "faseroptisches messgeraet" | |
DE3326555C2 (de) | ||
DE2935716C2 (de) | ||
DE3587641T2 (de) | Verteilter, gemäss raumauflösung aufgestellter dehnungsmesser mit optischer faser. | |
EP0006530A1 (de) | Faseroptisches Temperaturmessgerät | |
DE2656520C3 (de) | Verfahren zur Ermittlung des Verhältnisses von Kernradius zu Mantelradius einer ummantelten optischen Faser | |
DE3020454A1 (de) | Optische messvorrichtung | |
DE1548488A1 (de) | Entfernungsmesseinrichtung | |
DE2552541A1 (de) | Gleichzeitige durchlaessigkeit periodischer spektralkomponenten durch vielfach interferometrische geraete | |
DE69828788T2 (de) | Integriertes optisches wellenleiterbauelement | |
DE3137387A1 (de) | Faseroptisches messgeraet zum messen physikalischer und chemischer groessen | |
DE3781122T2 (de) | Raeumlich verteilter temperatursensor mit einer optischen faser als messaufnehmer. | |
EP0174496A2 (de) | Verfahren zur Bestimmung der Strahlungswellenlänge und der wellenlängenkorrigierten Strahlungsleistung monochromatischer Lichtquellen, sowie Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens | |
DE3923831C2 (de) | ||
CH629603A5 (de) | Bilduebertragungseinrichtung zur untersuchung von unzugaenglichen partien eines objektes. | |
DE2903821C2 (de) | ||
DE2941618C2 (de) | ||
DE4400680A1 (de) | Vorrichtung zur Bestimmung von Abstandsänderungen eines Objekts | |
DE102009014478B4 (de) | Vorrichtung zum Umsetzen eines optischen Eingangssignals in ein elektrisches Ausgangssignal und Verfahren zur Herstellung der Vorrichtung | |
DE2948590C2 (de) | Vorrichtung zur Absorptionsmessung von Gasgemischen | |
EP0164599B1 (de) | Einrichtung zur Messung der Drehgeschwindigkeit | |
EP2735848B1 (de) | Optische Positionsmesseinrichtung | |
EP1255365A2 (de) | Anordnung und Verfahren zur Überwachung der Performance von DWDM Mehrwellenlängensystemen | |
DE3528294A1 (de) | Verfahren zur faseroptischen, spektral kodierten uebertragung des wertes einer veraenderlichen physikalischen messgroesse | |
EP0231538B1 (de) | Optischer Weg-Sensor mit einem Filter |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8130 | Withdrawal |