DE3116233C2 - - Google Patents

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DE3116233C2
DE3116233C2 DE19813116233 DE3116233A DE3116233C2 DE 3116233 C2 DE3116233 C2 DE 3116233C2 DE 19813116233 DE19813116233 DE 19813116233 DE 3116233 A DE3116233 A DE 3116233A DE 3116233 C2 DE3116233 C2 DE 3116233C2
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DE
Germany
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detectors
heating device
detector system
arrangement
radiation
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DE19813116233
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German (de)
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DE3116233A1 (de
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Peter Dipl.-Phys. 8520 Erlangen De Glasow
Paul Prof. Dr. Strasbourg Fr Siffert
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Siemens AG
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Siemens AG
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/24Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
    • G01T1/249Measuring radiation intensity with semiconductor detectors specially adapted for use in SPECT or PET
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/02Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
    • A61B6/03Computed tomography [CT]
    • A61B6/032Transmission computed tomography [CT]

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DE2644168C3 (de) * 1976-09-30 1981-06-11 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Verwendung einer kristallinen Wismutoxid-Verbindung der Zusammensetzung Bi↓10↓-14X↓1↓O↓n↓, sowie Vorrichtungen hierzu und Verfahren zu deren Herstellung
US4255659A (en) * 1978-03-27 1981-03-10 The Regents Of The University Of California Semiconductor radiation detector

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