DE3110074A1 - Einrichtung zum pruefen von elektronische schaltungen enthaltenden baueinheiten - Google Patents

Einrichtung zum pruefen von elektronische schaltungen enthaltenden baueinheiten

Info

Publication number
DE3110074A1
DE3110074A1 DE19813110074 DE3110074A DE3110074A1 DE 3110074 A1 DE3110074 A1 DE 3110074A1 DE 19813110074 DE19813110074 DE 19813110074 DE 3110074 A DE3110074 A DE 3110074A DE 3110074 A1 DE3110074 A1 DE 3110074A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
test
contacts
current
signals
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE19813110074
Other languages
English (en)
Inventor
Bernd 7521 Hambrücken Hartmann
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DE19813110074 priority Critical patent/DE3110074A1/de
Publication of DE3110074A1 publication Critical patent/DE3110074A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836Fault-finding or characterising
    • G01R31/2844Fault-finding or characterising using test interfaces, e.g. adapters, test boxes, switches, PIN drivers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Description

  • Einrichtung zum Prüfen von elektronische Schaltungen ent-
  • haltenden Baueinheiten Prüfeinrichtungen für elektronische Schaltungen enthaltende Baueinheiten, z. B. für integrierte Schaltungen, Leiterplatten, Module oder komplette Geräte, werden im allgemeinen mit den Prüflingen über Klemm- oder Steckkontakte verbunden. Deren Übergangswiderstände können infolge Oxydation so groß sein, daß ein Fehler des Prüflings gemeldet wird. In Zweifelsfällen muß sich gegebenenfalls vor jeder Prüfung die Bedienungsperson in einem zeitraubenden Verfahren vergewissern, daß die Kontaktgabe einwandfrei ist.
  • Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die bei der Prüfung von elektronische Schaltungen enthaltenden Baueinheiten auftretenden Schwierigkeiten dadurch zu vermindern, daß unzulässig große Ubergangswiderstände in den Kontakten zwischen Prüfling und Prüfeinrichtung selbsttätig festgestellt und gemeldet werden. Es soll also nicht versucht werden, mit Hilfe neuartiger Kontakte eine bessere Kontaktgabe zu erzielen.
  • Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe mit den im kennzeichnenden Teil des Anspruchs 1 angegebenen Maßnahmen gelöst.
  • Mit dem Meldesignal kann eine Anzeigevorrichtung, z. B.
  • eine Leuchtanzeige, angesteuert werden. Vorteilhaft wird nur ein einziger Prüfstrom erzeugt, der mittels eines Analog-Multiplexers nacheinander auf die einzelnen Kot takte geschaltet wird. Der Analog-Multiplexer kann von einen Taktimpulse aufsummierenden Zähler gesteuert sein, der dem Stromdiskriminator derart nachgeschaltet ist, daß das Meldesignal den Zählvorgang unterbricht. Ist an den Zähler eine digitale Anzeigevorrichtung angeschlossen, so zeigt diese im Falle der Unterbrechung des Zählvorganges die Nummer des fehlerhaften Kontaktes an. Nach Beseitigung des Kontaktfehlers verschwindet das Meldesignal. Wird der Zählvorgang dann, z. B. von Hand, wieder freigegeben, surnmiert der Zähler die Taktimpulse weiter auf, bis der Analog-Multiplexer den Prüfstrom auf den nächsten fehlerhaften Kontakt schaltet. Sind alle Kontakte einwandfrei und ist keine Leitung unterbrochen, kann ein vollständiger Zählvorgang durchgeführt werden, ohne daß ein Meldesignal abgegeben und der Zähler gestoppt wird. Danach kann die angeschlossene Baueinheit geprüft werden.
  • Anhand der Zeichnung, in der das Schaltbild eines Ausführungsbeispiels der Erfindung dargestellt ist, werden im folgenden die Erfindung sowie weitere Ausgestaltungen und Ergänzungen näher beschrieben und erläutert.
  • Mit K1, K2, K3 ... Kn sind Kontakte bezeichnet, an die ein Prüfling PR angeschlossen ist. Die vom Prüfling auf diese Kontakte gegebenen binären Signale werden einem Logikanalysator LAN zugeführt, der sie gegebenenfalls nach vorgegebenen Kriterien, wie Amplitude, Signalübergang, bewertet und als Oszillogramm auf einen Bildschrim darstellt. Die Kontakte sind ferner über einen Analog-Multiplexer AMX und einen Stromdiskriminator DIS mit einem Prüfsignalgeber PSG verbunden. Der Pegel des von diesem abgegebenen Prüfsignals liegt zweckmäßig zwischen den vom Prüfling PR abgegebenen Spannungspegeln, die den beiden Signalen log. "1" und "0" entsprechen. Aus der Stromrichtung ist dann erkennbar, ob an einem Kontakt log. "1" oder log. "0" liegt. Der Analog-Multiplexer AhlX ist von einem Adressenzähler ADZ gesteuert, der Taktimpulse eines Taktgebers TG zyklisch aufsummiert.
  • Für jede Schaltstellung des Analog-Multiplexers AMX sind drei Fälle zu unterscheiden: a) Es fließt kein Strom; dies bedeutet, daß der zugehörige Kontakt nicht beschaltet ist oder ein Leitungsbruch vorliegt. Der Diskriminator DIS gibt ein Meldesignal auf den einen Eingang eiiies UND-Gliedes U1, dessen anderem Eingang log. "1"-Signal zugeführt sein soll. Eine an das UND-Glied U1 angeschlossene Lumineszenzdiode LED leuchtet auf.
  • b) Es fließt ein kleiner Strom über den Diskriminator DIS, der kleiner ist als der eingestellte Schwellwert. Dies bedeutet, daß der angewählte Kontakt zwar beschaltet ist, daß aber der Übergangswiderstand unzulässig groß ist. Der Diskriminator gibt auch in diesem Fall ein Meldesignal ab und bringt die Lumineszenzdiode LED zum Aufleuchten.
  • c) Es fließt ein Strom, der wesentlich größer ist als der im Fall b) vom Prüfsignalgeber PSG zum angewählten Kontakt oder in entgegengesetzter Richtung fließende Strom.
  • Dies bedeutet, die Kontaktgabe ist einwandfrei, ein Meldesignal wirti nicht abgegeben.
  • Ein Aufleuchten der Lumineszenzdiode LED bedeutet daher immer, daß eine Prüfung der angeschlossenen Baueinheit noch nicht sinnvoll ist und stellt daher eine Anweisung an die Bedienungsperson dar, für eine bessere Kontaktgabe zu sorgen oder festzustellen, ob der Kontakt nicht beschaltet ist.
  • Nach Schließen eines Schalters S13 gelangen die Meldesignale auf eine bistabile Kippstufe FF, die dadurch gesetzt wird und an ihren Ausgang Q ein Signal abgibt, das den Taktgeber TG oder den Adressenzähler ADZ sperrt. Der Zählvorgang wird daher bei Auftreten eines Meldesignals gestoppt, und eine an den Adressenzähler ADZ angeschlossene Digitalanzeige DGZ zeigt die Nummer des fehlerhaften Kontaktes an. Durch Betätigen einer Taste T wird die Kippstufe FF zurückgesetzt, und der Zählvorgang wird bis zum Auftreten des nächsten Meldesignas weitergeführt.
  • Häufig werden von Prüflingen nicht alle Kontakte belegt bzw. es sind Kontakte des Prüflings mit Absicht nicht angeschlossen. Um zu vermeiden, daß auch beim Abtasten solcher Kontakte Meldesignale abgegeben werden, ist ein Digital-Multiplexer DMX vorgesehen, dem mittels Schalter S1, S2, S3 ... Sn Auswahlsignale zugeführt sind, die jeweils einem der Kontakte K1, K2 ... Kn zugeordnet sind. Durch Betätigen der Schalter S1, S2 ... können die Kontakte ausgewählt werden, die von der Prüfung auf Kontaktgabe ausgeschlossen werden sollen. Ist dies z. B. für den Kontakt K1 der Fall, wird der Schalter S1 geschlossen, so daß, wenn das Prüfsignal auf den Kontakt K1 gegeben wird, der Digital-Multiplexer DMX "O"-Signal auf den zweiten Eingang des UND-Gliedes U1 schaltet, so daß das Aufleuchten der Lumineszenzdiode LED verhindert ist. Die Schalter S1, S2, S3 ... Sn können auch von einem Codierstecker gebildet sein, der dem jeweiligen Prüfling angepaßt ist und demgemäß mit "O"-Signal die Eingänge des Digital-Multiplexers belegt, die nicht angeschlossenen Kontakten des Prüflings entsprechen. Die Bedienungsperson braucht daher keine Schalter zu betätigen, um von der Prüfung auszuschließende Kontakte anzuwählen.
  • Die Codierstecker können zusätzliche Kontakte aufweisen, die beim Aufstecken auf die Prüfeinrichtung in Buchsen BC eingreifen, wobei eine für jeden Codierstecker charakteristische Signalkombination eingegeben wird. Diese gelangt über ein Adressenregister AR auf den Adresseneingang eines Speichers SPE, worauf dieser eine Sequenz von Signalen abgibt, die über eine Decodier- und Torschaltung DCT zum Logikanalysator LAN gelangen. In dessen Videosignalgeber werden sie in Videosignale umgesetzt und erscheinen auf dein Bildschirm als eine alphanumerische Signalkombination, z. B. IC7388, welche die Bezeichnung des Prüflings ist. Die Bedienungsperson kann daher sofort erkennen, welcher Prüfling an die Kontakt K1, K2 ... Kn angeschlosen ist bzw. ob d d<ri angeschlossenen Prüfling zugeordnete Codierstecker eingesteckt ist Im einfachsten Fall genügt für den Diskriminator DIS ein einziger konstanter Schwellwert, der so eingestellt ist, daß bei offenem Kontakt oder unzulässig großem Übergangswiderstand der Schwellwert unterschritten, bei guter Kontaktgabe überschritten ist. Sind dagegen die Eingangswiderstände des Prüflings PR bezüglich der Kontakte K1, K2 ... Kn sehr unterschiedlich, kann der Fall eintreten, daß man mit einem einzigen Schwellwert oder einem einzigen Prüfsignalpegel nicht mehr auskommt. An den Andressenzähler ADZ ist daher ferner über das Adressenregister AR der Adresseneingang des Speichers SPE angeschlossen, der für jeden Stand des Adressenzählers ADZ, das ist für jeden angewählten Kontakt, einen eigenen Schwellwert bzw. Prüfsignalpegel als Digitalwert ausgibt, der in einem Digital-Analog-Umsetzer umgesetzt und dem Diskriminator bzw. dem Prüfsignalgeber zugeführt wird. Der Speicher SPE kann mehrere Speicherbereiche aufweisen, die für je eine Prüflingsart bestimmt sind und deren Grundadresse über die Buchsen BC eingegeben sind. Bei Verwenden der oben erwähnten Codierstecker werden daher die für die Prüflinge bestimmten Speicherbereiche ausgewählt. Die Decodier- und Torschaltung DCT dient dazu, vom Speicher SPE nur die Signale zum Logikanalysator LAN durchzulassen; welche die Bezeichnung des Prüflings beinhalten. Hierzu gibt sie den Signalweg vorn Speicher SPE zum Logikanalysator LAN nur dann frei, wenn der Adressenzähler ADZ die Adresse ausgibt, unter der die Bezeichnung des Prüflings PR steht.
  • Bei dieser Adresse sollte in den Multiplexern AMX, DMX keine Verbindung zwischen einem Eingang und dem Ausgang bestehen.
  • Eine andere Ausgestaltung des Ausführungsbeispiels besteht darin, daß die Lumineszenzdiode LED nicht unmittelbar an das UND-Glied U1 angeschlossen ist, sondern an die Kipp- stufe FF, wobei deren Eingang am UND-Glied U1 liegt und der Schalter SB zwischen der Kippstufe FF und dem Taktgeber TG angeordnet ist.
  • 8 Patentansprüche 1 Figur

Claims (8)

  1. Patentansprüche Einrichtung zum Prüfen von elektrische Schaltungen enthaltenden Baueinheiten mit Kontakten, an welche die Baueinheiten anschließbar sind, und mit einer Anordnung zum Ausgeben von Prüfsignalen über die Kontakte und zum Auswerten von über die Kontakte eingegebenen Signalen, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß an die Kontakte (K1, K2 ... Kn) ein Prüfsignalgeber (PSG) über einen Stromdiskriminator (DIS) anschließbar ist, der ein Meldesignal abgibt, wenn der zwischen Prüfsignalgeber und dem jeweils an diesen angeschlossenen Kontakt fließende Prüfstrom einen Wert unterschreitet, der dem größten für die Prüfung zulässigen Kontakt-Ubergangswiderstand entspricht.
  2. 2. Einrichtung nach Anspruch 1, d a d u r c h g e -k e n n z e i c h n e t , daß der Prüfstrom über einen Analog-Multiplexer (AMX) auf die einzelnen Kontakte (K1, K2 ... Kn) geschaltet ist.
  3. 3. Einrichtung nach Anspruch 2, d a d u r c h g e -k e n n z e i c h n e t , daß der Analog-Multiplexer (AMX) von eine, Taktimpulse aufsummierenden Adressenzühler (ADZ) gesteuert ist, der dem Stromdiskriminator (DIS) derart nachtgeschaltet ist, daß das Meldesignal den Zählvorgang unterbricht.
  4. 4. Einrichtung nach Anspruch 3, d a d u r c h g e -k e n n z e i c h n e t , daß an den Adressenzähler (ADZ) eine digitale Anzeigevorrichtung (DGZ) angeschlossen ist.
  5. 5. Einrichtung nach einem der Ansprüche 2 bis 4, d a -d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß ein synchron mit dem Analog-Multiplexer (AIX) betriebener Digital-Multiplexer (DMX) verhanden ist, dessen Eingängen den Kontakten (K1, K2 ... Kn) zugeordnete Auswahlsignale zugeführt sind und an dessen Ausgang der Steuereingang einer Torschaltung (U1) angeschlossen ist, über welche die Meldesignale geführt sind.
  6. 6. Einrichtung nach Anspruch 5, d a d u r c h g e -k e n n z e i c h n e t , daß die Auswahlsignale mittels Schalter (S1, S2, S3 ... Sn) erzeugt sind.
  7. 7. Einrichtung nach Anspruch 5, d a d u r c h g e -k e n n z e i c h n e t , daß die Auswahlsignale mittels eines Codiersteckers gebildet sind.
  8. 8. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 7, d a -d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß der Schwellwert des Diskriminators und/oder der Pegel des vom Prüfsignalgeber abgegebenen Signals in Abhängigkeit des Schaltzustandes des Analog-Multiplexers (AMX) umschaltbar sind.
DE19813110074 1981-03-16 1981-03-16 Einrichtung zum pruefen von elektronische schaltungen enthaltenden baueinheiten Withdrawn DE3110074A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19813110074 DE3110074A1 (de) 1981-03-16 1981-03-16 Einrichtung zum pruefen von elektronische schaltungen enthaltenden baueinheiten

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19813110074 DE3110074A1 (de) 1981-03-16 1981-03-16 Einrichtung zum pruefen von elektronische schaltungen enthaltenden baueinheiten

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE3110074A1 true DE3110074A1 (de) 1982-09-30

Family

ID=6127394

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19813110074 Withdrawn DE3110074A1 (de) 1981-03-16 1981-03-16 Einrichtung zum pruefen von elektronische schaltungen enthaltenden baueinheiten

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE3110074A1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109541387A (zh) * 2018-12-21 2019-03-29 深圳市泰比特科技有限公司 一种sim卡热插拔测试装置及系统

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109541387A (zh) * 2018-12-21 2019-03-29 深圳市泰比特科技有限公司 一种sim卡热插拔测试装置及系统
CN109541387B (zh) * 2018-12-21 2024-05-14 深圳市泰比特科技有限公司 一种sim卡热插拔测试装置及系统

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2538651A1 (de) Verfahren und vorrichtung zum testen digitaler schaltungen
CH661137A5 (de) Messergebnis darstellende einrichtung.
EP0024045A1 (de) Prüfeinrichtung zur Fehldiagnose in Mehrrechner-Systemen, insbesondere in Multimikrocomputer-Systemen
DE2634792B1 (de) Verfahren zur systematischen pruefung von koppelpunkten in mehrstufigen koppelfeldern in zentral gesteuerten fernmelde-, insbesondere fernsprechanlagen, mit hilfe von zentralen steuer- und speichereinrichtungen
DE2534454A1 (de) Schaltungspruefgeraet
DE3110074A1 (de) Einrichtung zum pruefen von elektronische schaltungen enthaltenden baueinheiten
DE2354582B1 (de) Anzeigevorrichtung mit Meldelampen
DE1085925B (de) Schaltungsanordnung zum Anzeigen von Fehlern in Geraeten von Fernmeldeanlagen unter Verwendung von Gleichrichtern
DE2903383C2 (de) Separates Testgerät für adressierbare Schaltungen
EP0037965A2 (de) Einrichtung zum Prüfen einer digitalen Schaltung mittels in diese Schaltung eingebauter Prüfschaltungen
DE10048144A1 (de) Anordnung zur Überwachung eines Bussystems
EP0471935B1 (de) Schaltungsanordnung zum Überwachen einer Matrix aus bistabilen Matrixpunkten
EP0481222B1 (de) Vorrichtung zum Prüfen eines Kraftfahrzeugtestsystems
DE4313602A1 (de) Vorrichtung zur Diagnose, Wartung und Reparatur von insbesondere Personalcomputern
DE2633986C3 (de) Verfahren zum Prüfen von Leitungsvielfachen in zentral gesteuerten Fernmelde-, insbesondere Fernsprechvermittlungsanlagen
DE3639851A1 (de) Verfahren und schaltungsanordnung zur ueberwachung eines digitalen uebertragungssystems
DE968158C (de) Schaltungsanordnung zur Auswertung von Kennziffern in Fernmelde-, insbesondere Fernsprechanlagen
DE2441195C3 (de) Prüfgerät für digitale Schaltungsanlagen
DD160016A1 (de) Anordnung zur fehlerermittlung in kabeln und verdrahtungen
DE2640929B1 (de) Anordnung zur pruefung der kabelverdrahtungen von foerderanlagen mit peripheren einrichtungen
DE2401555A1 (de) Vorrichtung zur ueberwachung industrieller anlagen
DE2501452A1 (de) Kennzeichenumsetzer, traegerfrequenzuebertragung oder wechselstromuebertragung fuer ankommenden verkehr in fernmeldeanlagen
DE2118413A1 (de) Schaltungsanordnung zum pruefen einer datenfernuebertragungseinrichtung
DD236808A1 (de) Anordnung zur pruefung digitaler schaltungen
DE2309994B2 (de) Schaltungsanordnung zum Festlegen einer bestimmten Wertekombination der Ausgangssignale einer Schaltung mit Speicherfunktion

Legal Events

Date Code Title Description
8139 Disposal/non-payment of the annual fee