DE304092C - - Google Patents

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DE304092C
DE304092C DENDAT304092D DE304092DA DE304092C DE 304092 C DE304092 C DE 304092C DE NDAT304092 D DENDAT304092 D DE NDAT304092D DE 304092D A DE304092D A DE 304092DA DE 304092 C DE304092 C DE 304092C
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36—Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/385—Arrangements for measuring battery or accumulator variables
    • G01R31/386—Arrangements for measuring battery or accumulator variables using test-loads

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  • Physics & Mathematics (AREA)
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1088614B (de) * 1958-01-13 1960-09-08 Cipel Schaltungsanordnung zur UEberpruefung des Ladungszustandes einer elektrischen Batterie zur Speisung einer Entladungslampe
US6128091A (en) * 1997-08-26 2000-10-03 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Element and apparatus for attenuated total reflection measurement, and method for measuring specific component using the same

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1088614B (de) * 1958-01-13 1960-09-08 Cipel Schaltungsanordnung zur UEberpruefung des Ladungszustandes einer elektrischen Batterie zur Speisung einer Entladungslampe
US6128091A (en) * 1997-08-26 2000-10-03 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Element and apparatus for attenuated total reflection measurement, and method for measuring specific component using the same

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