DE3032564A1 - Einrichtung zur bestimmung geometrischer abmessung an prueflingen - Google Patents

Einrichtung zur bestimmung geometrischer abmessung an prueflingen

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DE3032564A1
DE3032564A1 DE19803032564 DE3032564A DE3032564A1 DE 3032564 A1 DE3032564 A1 DE 3032564A1 DE 19803032564 DE19803032564 DE 19803032564 DE 3032564 A DE3032564 A DE 3032564A DE 3032564 A1 DE3032564 A1 DE 3032564A1
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collimator
aperture
behind
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focal plane
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DE19803032564
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Dipl.-Phys. Alois DDR 6900 Jena Erben
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Jenoptik AG
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Jenoptik Jena GmbH
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/26Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
    • GPHYSICS
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    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/2425Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures of screw-threads

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  • Physics & Mathematics (AREA)
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  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

  • Einrichtung zur Bestimmung geometrischer Abmessungen
  • an Prüflingen Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zur Bestimmung geometrischer Abmessungen an Prüflingen mit Hilfe von Interferenzen, vorzugsweise zur Antastung winklig zueinanderstehender Prüflingskanten, wie z. B. Gewinde- oder Kegelfianken, mittels Xeinmeßgeräten.
  • Aus der DD-PS 30.682 ist die optische Antastung von Prüflingen mittels Zweistrahlinterferenzlinie und aus der DD-PS 93 641 mittels Mehrstrahlinterferenzlinie bekannt, bei welcher ein oder mehrere monochromatische Parallelstrahlbttndel unter vorgegebenen Winkeln zur optischen Achse eines Meßmikroskopes geneigt verlaufen und auf einen Prüfling treffen und dort in reflektierte und vorbeilaufende Lichtbündel geteilt werden, welche in der Nähe des Prüflings, in definiertem Abstand von diesem, interferieren und somit meßtechnisch nutzbare Zwei- o der oder Mehrstrahlinterferenzlinien bilden.
  • Diese Einrichtungen bestehen aus einer Aufnahmevorrichtung für den Prüfling, einem relativ zum Prüfling verschiebbaren Meßmikroskop oder fotoelektrischen Empfängern und einer zugeordneten Beleuchtungseinrichtung, welche einen Kollimator umfaßt, in dessen Brennebene eine transparente Schlitze besitzende Blende zur Erzeugung ron unterschiedlich zur Tangentialebene im Meßpunkt der Prüflingsoberfläche geneigten LichtbUndeln, von denen jeweils ein Teil an der Prüflingsoberfläche reflektiert wird, und der andere Teil direkt in das Meßmikroskop trifft. Es ist ferner vorgeschlagen worden (WP G 01 B/208 619), bei einer derartigen Einrichtung hinter einem Kollimator ein Beugungegitter im Beleuchtungsstrahlengang anzuordnen, um meßtechnisch nutzbare Mehrstrahlinterferenzen auch im farbigen Licht parallel zur Prüflingsoberfläche oder -kante zu erzeugen. Dabei werden Beim Antasten eines Prüflings die Schlitze der Blende bzw. linien des Beugungsgitters parallel zu jeweilig anzutastenden Prüflingskante eingestellt.
  • Es ist deshalb ein Nachteil des Standes der Technik, daß bein Übergang zu eier anders gerichteten Prüflingskante die Blende um die optische Achse soweit verdreht werden muß, bis die Schlitze bzw. linien parallel zu der anderen Kante eingestellt sind. Insbesondere tritt der Tangel der erforderlichen Spalt- bzw. Gitterdrehung bei der Antastung von Gewinden und Kegeln in Erscheinung, wenn nacheinander unterschiedlich gerichtete Gevrinde- oder Kegelfianken anzutasten sind. Damit treten ein erhöhter Bedienanfwand, längere eßzeiten und ein erhöhter konstruktiv technischer Aufwand auf.
  • Der Zweck der Erfindung besteht in einer Beseitigung der Nachteile des Standes der Technik, in einer Steigerung der Arbeitsproduktivität beim Messen und in einer Verminderung des gerätetechnischen Aufwandes.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, durch eine besondere Ausbildung der Blende oder des Beugungsgitters bei einer Einrichtung zur Bestimmung geometrischer Abmessungen an Prüflingen mittels Interferenzen ein Nachstellen der Blende oder des Beugungsgitters bei der Antastung unterschiedlich gerichteter Prüflingsflächen oder -kanten zu vermeiden.
  • Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe bei einer derartigen Einrichtung, die eine zu eine Beleuchtungseinrichtung mit einem Kollimator umfaßt, dadurch gelöst, daß eine in der Brennebene dieses Kollimators angeordnete Blende oder ein hinter dem Kollimator angeordnetes Beugungsgitter lichtdurchlässige Öffnungen besitzen, welche zwei verschieden gerichteten Spaltsystemen bzw. Gittern angehören.
  • Dabei ist es vorteilhaft, daß in der Brennebene des Kollimators zwei unmittelbar hintereinander angeordnete und gegeneinander um die optische Achse drehbare Teilblenden angeordnet sind, welche jeweils einen oder mehrere lichtdurchlässige Spalte besitzen.
  • Es ist ferner vorteilhaft, daß dem Kollimator zwei unniittelbar hintereinander angeordnete und gegeneinander un die optische Achse drehbare Gitter nachgeordnet sind.
  • Durch diese Anordnung der lichtdurchlässigen Öffnungen, die gegeneinander einstellbaren Blenden oder Beugungsgittern angehören, können unterschiedlich gerichtete Prüflingsflächen oder -kanten, wie z. B. unterschiedliche Gewindeflanken, angetastet werden, ohne daß ein Nachstellen der Blende oder des Beugungsgitters erforderlich ist.
  • Somit werden der manuelle Bedienungsaufwand und damIt die Meßzeiten vermindert. Konstruktiv technischer Aufwand für die Blenden- bzw. Gitterdrehung wird eingespart. Durch diese Anordnung zweier gegeneinander verdrehbarer Blenden oser Beugungsgitter ist eine winkelmäßige Einstellung des Verlaufes der lichtdurchlässigen Öffnungen und damit eine Anpassung an gewinkelte Prüflin,gsflächen oder -kanten mrglich.
  • Die Erfindung soll nachstehend an einer Ausführungsbeispiel näher erläutert werden.
  • In der zugehörigen Zeichnung zeigen: Fig. 1 als Applikationsbeispiel einen Prufling mit kegelförmiger Spitze, Fig. 2 eine Teilblende mit Spalten, Pig. 3 ein Beugungsgitter, Fig. 4 eine zusammengesetzte Blende oder ein Beugungsgitter mit Öffnungen, Fig. 5 eine Beleuchtungseinrichtung mit Blenden und Fig. 6 eine Beleuchtungseinrichtung mit Beugungsgitter.
  • Der in Fig. 1 dargestellte Prfling 1 besitzt z. B. einen zylindrischen Teil mit kegelförmiger Spitze, wobei der Kegelwinkel je mittels Interferenzlinien 2 und 3, die parallel zu den Flanken 4 und 5 verlaufen, zu messen ist.
  • mittels einer Spalte 6 aufweisenden Xeilblende 7 (Fig. 2) bzw. mittels eines linearen Beugungsgitters 8 (Fig. 3) können Interferenzlinien 2 oder 3 immer nur an einer der Planken 4 oder 5 mit optimalem Kontrast erzeugt werden, wozu die Spalte 6 der Teilblende 7 oder die Gitterspalte 9 des Beugungsgitters 8 nacheinander parallel zu diesen Flanken einzustellen sind.
  • Fig. 4 zeigt eine atlas zwei Teilblenden 1o und 11 (Fig. 5) zusmengesetzte Blende, welche Offnungen 12 besitzt, die den Spaltsystemen der beiden Teilblenden 1o und 11 gemeinsam angehören, wobei die Spalte dieser Teilblenden lo und 11, die im Strahlengang unmittelbar hintereiander angeordnet sind, parallel zu Flanke 4 und 5 verlaufen.
  • Da die Öffnungen 12 beiden Spaltsystemen angehören, erzeugen sie an beiden Flanken 4 und 5 des Prüflings 1 gleichzeitig Interferenzlinien 2 und 3 mit optimalem Kontrast.
  • Entsprechendes gilt auch für ein Beugungsgitter mit Öffnungen, die zwei Gittern gemeinsam angehören, wobei die Gitterspalte 9 des einen Gitters 13 parallel zur Flanke 4 und die Spalte des anderen Gitters 14 parallel zur Flanke 5 verlaufen. Beide Gitter 13 und 14 sind im Beleuchungsstrahlengang (Fig. 6) unmittelbar hintereinander angeordnet.
  • Fig. 5 zeigt eine Beleuchtungseinrichtung mit einer Lichtquelle 15 ursd mit in der vorderen Brennebene einer Kollimatorlinse 16 angeordneten Deilblenden 1o und 11, welche in der Überdeckung eine Blende mit Öffnungen 12 (Fig. 4) ergeben.
  • Fig. 6 zeigt eine Beleuchtungseinrichtung mit einer Lichtquelle 15 und einer kreisförmigen Aperturblende 17 in der Brennebene der Kollimatorlinse 16, welcher die beiden linearen Gitter 13 und 14, die Beugungsgitter darstellen und unmittelbar hintereinander liegen, nachgeordner sind.
  • Diese Einrichtung erzeugt ebenfalls Interferenzlinien 2 und 3 an den Flanken 4 und 5 des Prüflings 1 gleichzeitig mit optimalem Kontrast, wenn die Gitterspalte 9 des einen Gitters 13 parallel zur Plane 4 und die Gitterspalte des anderen Gitters 14 parallel zur Flanke 5 des Prüflings 1 verlaufen.
  • Wird vorgesehen, daß die Teilblenden 10 und 11 bzw. die Gitter 13 und 14 zueinander um die optische Achse der Beleuchtungseinrichtung drehbar sind, so ist eine Anpassung an unterschiedliche Meßaufgaben, z. B. bei der Messung an Gewindeflanken oder in Karthesischen Koordinaten möglich.
  • Entsprechend dem Winkel können somit die Teilblenden 10 und 11 bzw. die Gitter 13 und 14 winkelmäßig zueinander eingestellt werden.

Claims (3)

  1. Patentansprüche 1. Einrichtulg zur Bestimmung geometrischer Abmessungen an Prüfligen mittels Interferenzen, welche durch geneigt zur Tangentialebene im t£eßpunkt der PrüBlingsoberflache auffallendes Licht erzeugt werden, wobei ein Teil des Lichtes an der Prüflingsoberfläche reflektiert wird und der andere Teil am Prüfling vorbeiläuft und beide Teile miteinander interferleren, bestehend aus einer Aufnahmevorrichtung für den Prüfling, einem dazu relativ verschiebbaren Meßmikroskop mit einer ?Ießmarke oder fotoelektrischen Empfängern und einer dem Keßmikroskop zugeordneten Beleuchtungseinrichtung, die eine Blende in der Brennebene eines Kollimators oder ein Beugungsgitter hinter dem Kollimator besitzt, zur Erzeugnung zweier oder mehrerer unterschiedlich zur Tangentialebene im Meßpunkt der Prüflingsoberfläche geneigter Lichtbündel, wobei von jedem dieser Lichtbünden ein Teil an der Oberfläche des Prüflings reflektiert wird und der andere Teil direkt in-das Meßmikroskop trifft, dadurch gekennzeichnet, daß die in der Brennebene des Kollimators angeordnete Blende oder das hinter dem Kollimator angeordnete Beugungsgitter (8) lichtdurchlässige Öffnungen (12) besitzen, welche zwei verschieden gerichteten Spaltsystemen angehören.
  2. 2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß in der Brennebene des Kollimators zwei unmittelbar hintereinander angeordnete und gegeneinander um die optische Achse drehbare Deilblenden (io; ii) angeordnet sind, welche jeweils einen oder mehrere lichtdurchlässige Spalte (6) besitzen.
  3. 3. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß dem Kollimator zwei unmittelbar hintereinander angeordnete und gegeneinander um die optische Achse drehbare Gitter (13; 14) nachgeordnet sind.
DE19803032564 1979-09-26 1980-08-29 Einrichtung zur bestimmung geometrischer abmessung an prueflingen Withdrawn DE3032564A1 (de)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0105209A1 (de) * 1982-09-06 1984-04-11 Siemens Aktiengesellschaft Optische Anordnung zur Erkennung und Auswertung der Lage eines Objekts
DE4404154A1 (de) * 1994-02-10 1995-08-17 Fraunhofer Ges Forschung Verfahren und Vorrichtung zum optischen Untersuchen einer Oberfläche

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EP0105209A1 (de) * 1982-09-06 1984-04-11 Siemens Aktiengesellschaft Optische Anordnung zur Erkennung und Auswertung der Lage eines Objekts
DE4404154A1 (de) * 1994-02-10 1995-08-17 Fraunhofer Ges Forschung Verfahren und Vorrichtung zum optischen Untersuchen einer Oberfläche

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